JPH0714931Y2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Ｉｃ試験装置

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JPH0714931Y2
JPH0714931Y2 JP13318688U JP13318688U JPH0714931Y2 JP H0714931 Y2 JPH0714931 Y2 JP H0714931Y2 JP 13318688 U JP13318688 U JP 13318688U JP 13318688 U JP13318688 U JP 13318688U JP H0714931 Y2 JPH0714931 Y2 JP H0714931Y2
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健司 稲葉
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Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は任意関数発生器からのデータをアナログ信号
に変換して被測定IC素子へ印加すると共にデジタルパタ
ーン発生器からのデジタルパターンデータを上記被測定
IC素子へ印加し、その被測定IC素子の出力と比較パター
ンとを比較し、それが一致すると、任意関数発生器の波
形データの発生を切替えると共にデジタルパターン発生
器のデジタルパターンデータの発生を切替えるIC試験装
置に関する。
「従来の技術」 従来のこの種のIC試験装置を第２図に示す。制御装置11
により任意関数発生器12及びデジタルパターン発生器13
がスタートさせられる。任意関数発生器12から発生され
る波形データはDA変換器14でアナログ信号に変換され、
そのアナログ信号は被測定IC素子15に印加される。デジ
タルパターン発生器13より発生されたデジタルパターン
も被測定IC素子15へ印加される。被測定IC素子15の出力
と比較パターン発生器16からの比較パターンとがデータ
比較器17で比較され、両者が一致すると、つまり被測定
IC素子15の出力データがある状態になると、デジタルパ
ターン発生器13の発生デジタルパターンデータが切替え
られると共に任意関数発生器12の発生波形データも切替
えられる。
「考案が解決しようとする課題」 デジタルパターン発生器13の出力デジタルパターンデー
タはデータ比較器17の出力によって直接切替えられる
が、任意関数発生器12の出力波形データは制御装置11を
介して切替えられるため、任意関数発生器12の出力波形
データの切替えが、デジタルパターンデータの切替えに
対して遅れる欠点があった。
「課題を解決するための手段」 この考案によれば任意関数発生器はデジタルパターン発
生器によりスタート、ストップが制御されると共に波形
データの切替えも制御される。従って任意関数発生器の
出力波形データの切替えはデジタルパターンデータの切
替えと同期して遅れることなく行われる。
「実施例」 第１図はこの考案の実施例を示し、第２図と対応する部
分には同一符号を付けてある。デジタルパターン発生器
13のスタートは従来と同様に制御装置11により制御され
るが、任意関数発生器12のスタート、ストップの制御は
デジタルパターン発生器13により行われ、また出力波形
データの切替えもデジタルパターン発生器13により行わ
れる。
制御装置11からスタート信号がデジタルパターン発生器
13へ送られ、デジタルパターンデータの発生が始まる
と、被測定IC素子15へ印加されるデジタルパターンデー
タと同期して任意関数発生器12へのスタート信号がデジ
タルパターン発生器13より送出され、DA変換器14からの
アナログ信号も同時に被測定IC素子15に印加される。被
測定IC素子15の出力データが比較パターンと一致する
と、デジタルパターン発生器13の出力デジタルパターン
データが切替えられると共に任意関数発生器12にも波形
切替え信号が送られてデジタルパターンデータの切替え
と同期してアナログ信号の切替えが行われる。
つまりデジタルパターン発生器13のパターン発生メモリ
にパターンデータと共に任意関数発生器12のスタートビ
ット、ストップビット更に発生すべき波形番号が記憶さ
れている。従って比較器17の出力でデジタルパターン発
生器13のパターン発生メモリがジャンプすると、そのジ
ャンプ先には任意関数発生器12で切替え発生すべき波形
番号が記憶されている。
なお、この考案は任意関数発生器12の出力波形データを
DA変換器14を通さず、デジタルパターンとして直接被測
定IC素子15へ印加する場合にも適用される。
「考案の効果」 以上述べたようにこの考案によればデジタルパターン発
生器13の出力により任意関数発生器12の出力波形データ
の切替えを行うようにしたから、デジタルパターンデー
タの切替えと同期して遅れることなく波形データの切替
えを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案によるIC試験装置の一例を示すブロッ
ク図、第２図は従来のIC試験装置を示すブロック図であ
る。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】デジタルパターン発生器の出力によって波
    形の発生、切替えが行われる任意関数発生器と、 その任意関数発生器の出力波形データをアナログ信号に
    変換して被測定IC素子へ印加するDA変換器と、 上記被測定IC素子の出力を比較パターンと比較する比較
    器と、 上記任意関数発生器へのスタート、ストップ信号、波形
    切替信号と上記被測定IC素子に印加するデジタルパター
    ンデータとを発生し、上記比較器の出力状態に応じてデ
    ジタルパターンデータの発生が切替えられる上記デジタ
    ルパターン発生器と、 そのデジタルパターン発生器をスタートさせる制御装置
    とを具備するIC試験装置。
JP13318688U 1988-10-11 1988-10-11 Ｉｃ試験装置 Expired - Lifetime JPH0714931Y2 (ja)

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JP13318688U JPH0714931Y2 (ja) 1988-10-11 1988-10-11 Ｉｃ試験装置

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JPH0252170U JPH0252170U (ja) 1990-04-13
JPH0714931Y2 true JPH0714931Y2 (ja) 1995-04-10

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