JPH07140097A - X-ray analyzer - Google Patents

X-ray analyzer

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JPH07140097A
JPH07140097A JP5290502A JP29050293A JPH07140097A JP H07140097 A JPH07140097 A JP H07140097A JP 5290502 A JP5290502 A JP 5290502A JP 29050293 A JP29050293 A JP 29050293A JP H07140097 A JPH07140097 A JP H07140097A
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crystal
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tilt angle
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Akira Yoshizawa
明 吉澤
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

PURPOSE:To move spectral crystal and X-ray detector along the circumference of Rowland circle through a simple structure and easy controlling. CONSTITUTION:An X-ray analyzer is provided with a rod 18, in which an X-ray detector 1 is mounted on its one end and an adjusting mechanism for its fitting angle is prepared, a supporting part 17 which supports the rod 18 by other end and has an adjusting mechanism for supporting tilt angle, a guide rail on which the part 17 is moved, and controlling means 21 to 25 which control the position of the part 17 on the rail 11 and the tilt angle of the rod 18, and according to the position of spectral crystal 2 the position of the part 17 on the rail 11 and the tilt angle of the rod 18 are controlled by the means 21 to 25. Therefore, the rail 11 is set along a trace G that the center of Rowland circle R is traced as the position of the crystal 2 is moved, thereby separating the detector 1 mechanically from the movement of the crystal 2.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、試料と分光結晶とX線
検出器とをローランド円の円周上に配置し試料にX線を
照射して試料から発生した特性X線を分光測定するX線
分析装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention arranges a sample, a dispersive crystal and an X-ray detector on the circumference of a Rowland circle and irradiates the sample with X-rays to spectroscopically measure characteristic X-rays generated from the sample. The present invention relates to an X-ray analyzer.

【0002】[0002]

【従来の技術】X線分析装置では、試料と分光結晶との
距離が分光結晶とX線検出器との距離と等距離で、しか
も試料と分光結晶とX線検出器とをローランド円の円周
上になるように配置して試料にX線をあて、そこから発
生した特性X線を原子間距離のわかっている単結晶で反
射させ、ブラッグの法則を満足する特性X線を分光して
測定している。そのため、従来のX線分析装置のゴニオ
メータでは、試料位置に対して分光結晶とX線検出器の
各位置関係が所定の条件を満たすように機構部全体が機
械的に動作するように構成され、すべての部品は、機械
的に連接した構成となっている。
2. Description of the Related Art In an X-ray analyzer, the distance between the sample and the dispersive crystal is equal to the distance between the dispersive crystal and the X-ray detector, and the sample, the dispersive crystal and the X-ray detector are circled in a Roland circle. The sample is irradiated with X-rays arranged on the circumference, and the characteristic X-rays generated from the sample are reflected by a single crystal with a known interatomic distance, and the characteristic X-rays that satisfy Bragg's law are dispersed. I'm measuring. Therefore, in the goniometer of the conventional X-ray analyzer, the entire mechanical unit is mechanically operated so that each positional relationship of the dispersive crystal and the X-ray detector with respect to the sample position satisfies a predetermined condition. All parts are mechanically connected.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の如き従
来のX線分析装置のゴニオメータでは、特にX線検出器
の支持機構が2ヵ所にあり、しかも、複雑に予圧荷重機
構が連接されていて、機械的に問題点が多く、動きが不
安定で高精度な動きには不向きであった。
However, in the goniometer of the conventional X-ray analysis apparatus as described above, especially the support mechanism for the X-ray detector is provided at two places, and the preload mechanism is complicatedly connected. However, there were many mechanical problems, the movement was unstable, and it was not suitable for high precision movement.

【0004】本発明は、上記の課題を解決するものであ
って、簡単な構成、制御で分光結晶及びX線検出器をロ
ーランド円の円周上で移動させることができるX線分析
装置を提供することを目的とするものである。
The present invention is to solve the above problems and provides an X-ray analyzer capable of moving a dispersive crystal and an X-ray detector on the circumference of a Rowland circle with a simple configuration and control. The purpose is to do.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】そのために本発明は、試
料と分光結晶とX線検出器とをローランド円の円周上に
配置し試料にX線を照射して試料から発生した特性X線
を分光測定するX線分析装置において、X線検出器を一
端に取り付け該取り付け角度の調整機構を有するロッド
と、該ロッドの他端で支持し該支持傾き角度の調整機構
を有する支持部と、該支持部が移動するガイドレール
と、支持部のガイドレールにおける位置とロッドの傾き
角度を制御する制御手段とを備え、分光結晶の位置に応
じて制御手段により支持部のガイドレールにおける位置
とロッドの傾き角度を制御するように構成したことを特
徴とするものである。
To this end, the present invention provides a characteristic X-ray generated from a sample by arranging the sample, a dispersive crystal and an X-ray detector on the circumference of a Rowland circle and irradiating the sample with X-rays. In an X-ray analyzer for spectroscopically measuring, a rod having an X-ray detector attached at one end and a mechanism for adjusting the attachment angle, and a support portion supported at the other end of the rod and having a mechanism for adjusting the support tilt angle, The guide rail includes a guide rail on which the support unit moves, and a control unit that controls the position of the support unit on the guide rail and the tilt angle of the rod. The control unit controls the position of the support unit on the guide rail and the rod according to the position of the dispersive crystal. It is characterized in that it is configured to control the inclination angle of the.

【0006】[0006]

【作用】本発明のX線分析装置では、X線検出器を一端
に取り付け該取り付け角度の調整機構を有するロッド
と、該ロッドの他端で支持し該支持傾き角度の調整機構
を有する支持部と、該支持部が移動するガイドレール
と、支持部のガイドレールにおける位置とロッドの傾き
角度を制御する制御手段とを備え、分光結晶の位置に応
じて制御手段により支持部のガイドレールにおける位置
とロッドの傾き角度を制御するように構成したので、分
光結晶の位置を移動させたときに変化するローランド円
の中心の軌跡にガイドレールを設けることによって、分
光結晶の動きからX線検出器を機械的に分離することが
できる。
In the X-ray analysis apparatus of the present invention, the X-ray detector is attached to one end of the rod and has a mechanism for adjusting the attachment angle, and the support portion is supported at the other end of the rod and has a mechanism for adjusting the support inclination angle. And a guide rail on which the support moves, and a control means for controlling the position of the support on the guide rail and the tilt angle of the rod, and the position of the support on the guide rail by the control means according to the position of the dispersive crystal. Since it is configured to control the tilt angle of the rod and the rod, by providing a guide rail on the locus of the center of the Rowland circle that changes when the position of the analyzing crystal is moved, the X-ray detector can be detected from the movement of the analyzing crystal. It can be mechanically separated.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説
明する。図1は本発明に係るX線分析装置の1実施例を
示す図であり、1はX線検出器、2は分光結晶、3は試
料、4は原点センサ、5は結晶直線移動部、6はリニア
エンコーダ、7〜8は回転ポテンショメータ、9は位置
センサ、10は光センサ、11はガイドレール、12〜
16はモータ、17は支持部、18はロッド、21は演
算制御部、22は入出力制御部、23はメモリ、24は
条件設定部、25はドライバ、Rはローランド円、Gは
中心軌跡を示す。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of an X-ray analysis apparatus according to the present invention. 1 is an X-ray detector, 2 is a dispersive crystal, 3 is a sample, 4 is an origin sensor, 5 is a crystal linear moving unit, 6 Is a linear encoder, 7 to 8 are rotary potentiometers, 9 is a position sensor, 10 is an optical sensor, 11 is a guide rail, and 12 to.
16 is a motor, 17 is a support part, 18 is a rod, 21 is a calculation control part, 22 is an input / output control part, 23 is a memory, 24 is a condition setting part, 25 is a driver, R is a Roland circle, G is a center locus. Show.

【0008】図1において、X線検出器1、分光結晶
2、試料3は、それぞれローランド円Rの円周上に設置
され、X線検出器1の位置や角度の調整、分光結晶2の
位置や角度の調整は、それぞれ機構的に独立しているも
のである。モータ12は、分光結晶2を取り付けた結晶
直線移動部5を駆動し分光結晶2の位置を変えるもので
あり、結晶直線移動部5は、例えばモータ12により回
転駆動される送りネジで原点センサ4と試料3とを結ぶ
線上に沿って分光結晶2を直線移動させるものである。
モータ13は、分光結晶2を回転駆動しX線入射角度を
変える角度調整機構を構成し、モータ14は、X線検出
器1を回転駆動しX線入射角度を変える角度調整機構を
構成するものである。支持部17は、先端に分光結晶2
を取り付けたロッド18を支持して円弧状の固定用ガイ
ドレール11上を移動するものであり、この支持部17
をガイドレール11上で駆動して位置決めする機構を構
成するのがモータ15であり、ロッド18を回転駆動し
て角度を変える角度調整機構を構成するのがモータ16
である。ロッド18は、分光結晶2と支持部17との距
離をローランド円Rの半径長で支持するものであり、分
光結晶2を結晶直線移動部5で移動させたとき、X線検
出器1、分光結晶2、試料3がそれぞれローランド円R
の円周上に設置され、しかも、X線検出器1と分光結晶
2との距離が分光結晶2と試料3との距離に等しくなる
ようにガイドレール11上における支持部17の位置及
びロッド18の角度が制御される。したがって、中心軌
跡Gは、分光結晶の位置を移動させたときに変化するロ
ーランド円の中心の軌跡であり、この軌跡上を支持部1
7は移動する。
In FIG. 1, an X-ray detector 1, a dispersive crystal 2 and a sample 3 are respectively installed on the circumference of a Rowland circle R, and the position and angle of the X-ray detector 1 are adjusted and the dispersive crystal 2 is positioned. The adjustment of angles and angles are mechanically independent. The motor 12 drives the crystal linear moving unit 5 to which the dispersive crystal 2 is attached to change the position of the dispersive crystal 2. The crystal linear moving unit 5 is, for example, a feed screw rotationally driven by the motor 12 and is used as the origin sensor 4 The dispersive crystal 2 is linearly moved along the line connecting the sample 3 and the sample 3.
The motor 13 constitutes an angle adjusting mechanism that rotationally drives the dispersive crystal 2 to change the X-ray incident angle, and the motor 14 constitutes an angle adjusting mechanism that rotationally drives the X-ray detector 1 to change the X-ray incident angle. Is. The supporting part 17 has a dispersive crystal 2 at the tip.
It supports the rod 18 to which it is attached and moves on the arc-shaped fixing guide rail 11.
The motor 15 constitutes a mechanism for driving and positioning the rod on the guide rail 11, and the motor 16 constitutes an angle adjusting mechanism for rotationally driving the rod 18 to change the angle.
Is. The rod 18 supports the distance between the dispersive crystal 2 and the support portion 17 by the radius length of the Rowland circle R, and when the dispersive crystal 2 is moved by the crystal linear movement unit 5, the X-ray detector 1 and the spectroscopic Crystal 2 and sample 3 are Roland circle R respectively
Of the support portion 17 and the rod 18 on the guide rail 11 so that the distance between the X-ray detector 1 and the dispersive crystal 2 is equal to the distance between the dispersive crystal 2 and the sample 3. The angle of is controlled. Therefore, the center locus G is the locus of the center of the Rowland circle that changes when the position of the dispersive crystal is moved, and the support portion 1 moves on this locus.
7 moves.

【0009】リニアエンコーダ6は、原点センサ4とに
より試料3から分光結晶2までの距離Lを検出し、回転
ポテンショメータ7は、分光結晶2におけるX線入射角
度を検出するものである。また、光センサ10は、分光
結晶2からX線検出器1までの距離を検出し、回転ポテ
ンショメータ8は、X線検出器1におけるX線入射角度
を検出するものである。位置センサ9は、ガイドレール
11上における支持部17の位置を検出するものであ
る。
The linear encoder 6 detects the distance L from the sample 3 to the dispersive crystal 2 by the origin sensor 4, and the rotary potentiometer 7 detects the X-ray incident angle on the dispersive crystal 2. The optical sensor 10 detects the distance from the dispersive crystal 2 to the X-ray detector 1, and the rotary potentiometer 8 detects the X-ray incident angle on the X-ray detector 1. The position sensor 9 detects the position of the support portion 17 on the guide rail 11.

【0010】メモリ23は、リニアエンコーダ6、回転
ポテンショメータ7、8、位置センサ9、光センサ10
の各検出値を記憶するものであり、条件設定制御部24
は、各モータ12〜16の動作条件をドライバ25に設
定するものである。演算制御部21は、メモリ23に記
憶された各検出値を参照して条件設定制御部24を通し
てドライバ25に設定制御を行うものであり、メモリ2
3及び条件設定制御部24と演算制御部21との間の情
報の入出力制御を行うのが入出力制御部22である。ド
ライバ25は、設定された動作条件に応じてモータ12
〜16を駆動するものである。
The memory 23 includes a linear encoder 6, rotary potentiometers 7, 8, a position sensor 9, and an optical sensor 10.
Is stored in the condition setting control unit 24.
Is for setting the operating conditions of the motors 12 to 16 in the driver 25. The arithmetic control unit 21 refers to each detection value stored in the memory 23 and controls the setting of the driver 25 through the condition setting control unit 24.
3, the input / output control unit 22 controls input / output of information between the condition setting control unit 24 and the calculation control unit 21. The driver 25 uses the motor 12 according to the set operating conditions.
˜16 are driven.

【0011】次に、動作を説明する。まず、分析条件に
したがって分析結晶2の位置が決まり、分析者によって
演算制御部21にその位置情報が入力されると、演算制
御部21から指示にしたがって入出力制御部22、ドラ
イバ25を通してモータ12が駆動される。分光結晶2
が直線移動し、その位置がリニアエンコーダ6で検出さ
れメモリ23に記憶されて演算制御部21に入力され、
分光結晶2が指示された所定の位置で停止すると、試料
3から分光結晶2までの距離がリニアエンコーダ6によ
って検出されるので、その距離にしたがって、ローラン
ド円の円周上に試料3、分光結晶2、X線検出器1がく
るように、分光結晶2の傾き角度、X線検出器1の位
置、その傾き角度及び支持部17の位置、ロッド18の
傾き角度が求められ、演算制御部21から入出力制御部
22、ドライバ25を通してモータ13〜16が駆動さ
れる。その制御結果は、回転ポテンショメータ7、8、
位置センサ9、光センサ10で検出されメモリ23に記
憶されて演算制御部21に入力される。
Next, the operation will be described. First, the position of the analysis crystal 2 is determined according to the analysis conditions, and when the position information is input to the arithmetic control unit 21 by the analyst, the motor 12 is input through the input / output control unit 22 and the driver 25 according to the instruction from the arithmetic control unit 21. Is driven. Dispersive crystal 2
Moves linearly, its position is detected by the linear encoder 6, stored in the memory 23, and input to the arithmetic control unit 21,
When the dispersive crystal 2 stops at the designated predetermined position, the distance from the sample 3 to the dispersive crystal 2 is detected by the linear encoder 6. Therefore, according to the distance, the sample 3, the dispersive crystal and the dispersive crystal are arranged on the circumference of the Rowland circle. 2. The tilt angle of the dispersive crystal 2, the position of the X-ray detector 1, the tilt angle of the X-ray detector 1, the position of the support portion 17, and the tilt angle of the rod 18 are obtained so that the X-ray detector 1 comes, and the calculation control portion 21 is obtained. The motors 13 to 16 are driven through the input / output control unit 22 and the driver 25. The control result is the rotary potentiometers 7, 8,
It is detected by the position sensor 9 and the optical sensor 10, stored in the memory 23, and input to the arithmetic control unit 21.

【0012】なお、本発明は、上記の実施例に限定され
るものではなく、種々の変形が可能である。例えば上記
の実施例では、光センサ10でX線検出器1と分光結晶
2との距離を検出してロッド18の傾き角度を制御した
が、光センサ10に代えて支持部17に回転ポテンショ
メータを設けて直接ロッド18の傾き角度を制御してX
線検出器1と分光結晶2との距離が所定の値になるよう
に制御してもよい。また、分光結晶2の位置が決まると
各制御値は一義的に決まるので、分光結晶2の位置に対
応する各制御値を演算制御部21でテーブルにして設定
記憶し、それぞれの分光結晶2の位置をアドレスとして
テーブルを読み出し各モータを制御するように構成して
もよい。さらには、ロッドをローランド円の半径長にし
ガイドレールをローランド円の中心の軌跡に合わせた形
状にしたが、分光結晶の位置に応じてX線検出器をロー
ランド円の円周上で移動させることができれば、ロッド
の長さやガイドレールの形状を変えてもよいことははい
うまでもない。
The present invention is not limited to the above embodiment, but various modifications can be made. For example, in the above-described embodiment, the optical sensor 10 detects the distance between the X-ray detector 1 and the dispersive crystal 2 to control the tilt angle of the rod 18, but instead of the optical sensor 10, a rotary potentiometer is provided on the support portion 17. X is provided by directly controlling the tilt angle of the rod 18.
The distance between the line detector 1 and the dispersive crystal 2 may be controlled to be a predetermined value. Further, since each control value is uniquely determined when the position of the dispersive crystal 2 is determined, each control value corresponding to the position of the dispersive crystal 2 is set and stored as a table in the calculation control unit 21, and each control value of each dispersive crystal 2 is stored. A table may be read using the position as an address to control each motor. Furthermore, although the rod has a radius of the Roland circle and the guide rail has a shape matching the locus of the center of the Roland circle, the X-ray detector should be moved on the circumference of the Roland circle according to the position of the dispersive crystal. Needless to say, the length of the rod and the shape of the guide rail may be changed as long as it is possible.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、分光結晶の位置に応じて支持部のガイドレー
ルにおける位置とロッドの傾き角度を制御するので、分
光結晶の動きからX線検出器を機械的に分離することが
でき、構成を簡素化することができる。しかも、ガイド
レールの形状は、ローランド円の中心の軌跡に合わせた
円弧状のものを用い、ローランド円の半径長のロッドで
その位置に応じた回転でX線検出器を位置決めすること
ができるので、制御値も簡単に設定することができる。
As is apparent from the above description, according to the present invention, since the position of the support portion on the guide rail and the tilt angle of the rod are controlled according to the position of the dispersive crystal, the movement of the dispersive crystal causes X The line detector can be mechanically separated, and the configuration can be simplified. Moreover, the shape of the guide rail is an arc that matches the locus of the center of the Rowland circle, and the X-ray detector can be positioned by the rotation corresponding to the position of the rod having the radius of the Rowland circle. The control value can also be set easily.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明に係るX線分析装置の1実施例を示す
図である。
FIG. 1 is a diagram showing one embodiment of an X-ray analysis apparatus according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…X線検出器、2…分光結晶、3…試料、4…原点セ
ンサ、5…結晶直線移動部、6…リニアエンコーダ、7
〜8…回転ポテンショメータ、9…位置センサ、10…
光センサ、11…ガイドレール、12〜16…モータ、
17…支持部、18…ロッド、21…演算制御部、22
…入出力制御部、23…メモリ、24…条件設定部、2
5…ドライバ、R…ローランド円、G…ガイドレール円
1 ... X-ray detector, 2 ... Spectroscopic crystal, 3 ... Sample, 4 ... Origin sensor, 5 ... Crystal linear moving part, 6 ... Linear encoder, 7
~ 8 ... Rotation potentiometer, 9 ... Position sensor, 10 ...
Optical sensor, 11 ... Guide rail, 12-16 ... Motor,
17 ... Supporting part, 18 ... Rod, 21 ... Arithmetic control part, 22
Input / output control unit, 23 ... Memory, 24 ... Condition setting unit, 2
5 ... Driver, R ... Roland circle, G ... Guide rail circle

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 試料と分光結晶とX線検出器とをローラ
ンド円の円周上に配置し試料にX線を照射して試料から
発生した特性X線を分光測定するX線分析装置におい
て、X線検出器を一端に取り付け該取り付け角度の調整
機構を有するロッドと、該ロッドの他端で支持し該支持
傾き角度の調整機構を有する支持部と、該支持部が移動
するガイドレールと、支持部のガイドレールにおける位
置とロッドの傾き角度を制御する制御手段とを備え、分
光結晶の位置に応じて制御手段により支持部のガイドレ
ールにおける位置とロッドの傾き角度を制御するように
構成したことを特徴とするX線分析装置。
1. An X-ray analyzer for arranging a sample, a dispersive crystal, and an X-ray detector on the circumference of a Rowland circle and irradiating the sample with X-rays to spectroscopically measure characteristic X-rays generated from the sample, A rod having an X-ray detector attached to one end thereof and having a mechanism for adjusting the attachment angle; a support portion having the other end of the rod and having a mechanism for adjusting the support tilt angle; and a guide rail on which the support portion moves, A control unit for controlling the position of the support unit on the guide rail and the tilt angle of the rod is provided, and the control unit controls the position of the support unit on the guide rail and the tilt angle of the rod according to the position of the dispersive crystal. An X-ray analyzer characterized by the above.
【請求項2】 ロッドは、ローランド円の半径長を有
し、ガイドレールは、ローランド円の中心の軌跡に合わ
せた形状であることを特徴とする請求項1記載のX線分
析装置。
2. The X-ray analysis apparatus according to claim 1, wherein the rod has a radius length of a Rowland circle, and the guide rail has a shape conforming to the locus of the center of the Rowland circle.
【請求項3】 制御手段は、分光結晶の各位置に対応す
る支持部のガイドレールにおける位置とロッドの傾き角
度を制御値として記憶したメモリを有することを特徴と
する請求項1記載のX線分析装置。
3. The X-ray according to claim 1, wherein the control means has a memory which stores a position on the guide rail of the support portion corresponding to each position of the dispersive crystal and a tilt angle of the rod as control values. Analysis equipment.
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