JP3143293B2 - X-ray analyzer - Google Patents

X-ray analyzer

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JP3143293B2
JP3143293B2 JP05290502A JP29050293A JP3143293B2 JP 3143293 B2 JP3143293 B2 JP 3143293B2 JP 05290502 A JP05290502 A JP 05290502A JP 29050293 A JP29050293 A JP 29050293A JP 3143293 B2 JP3143293 B2 JP 3143293B2
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、分光結晶の位置の調整
と、X線検出器の位置の調整をそれぞれ機構的に独立し
て行い、試料と前記分光結晶と前記X線検出器とをロー
ランド円の円周上に配置し試料から発生した特性X線を
分光測定するX線分析装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for adjusting the position of a spectral crystal and the position of an X-ray detector mechanically independently of each other. The present invention relates to an X-ray analyzer that is arranged on the circumference of a Roland circle and performs spectroscopic measurement of characteristic X-rays generated from a sample.

【0002】[0002]

【従来の技術】X線分析装置では、試料と分光結晶との
距離が分光結晶とX線検出器との距離と等距離で、しか
も試料と分光結晶とX線検出器とをローランド円の円周
上になるように配置して試料にX線をあて、そこから発
生した特性X線を原子間距離のわかっている単結晶で反
射させ、ブラッグの法則を満足する特性X線を分光して
測定している。そのため、従来のX線分析装置のゴニオ
メータでは、試料位置に対して分光結晶とX線検出器の
各位置関係が所定の条件を満たすように機構部全体が機
械的に動作するように構成され、すべての部品は、機械
的に連接した構成となっている。
2. Description of the Related Art In an X-ray analyzer, the distance between a sample and a spectral crystal is equal to the distance between the spectral crystal and the X-ray detector, and the sample, the spectral crystal and the X-ray detector are defined by a Rowland circle. X-rays are applied to the sample placed on the circumference, and the characteristic X-rays generated therefrom are reflected by a single crystal with a known interatomic distance, and the characteristic X-rays satisfying Bragg's law are spectrally separated. Measuring. Therefore, in the goniometer of the conventional X-ray analyzer, the entire mechanical unit is configured to operate mechanically so that each positional relationship between the spectral crystal and the X-ray detector with respect to the sample position satisfies a predetermined condition, All parts are mechanically connected.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の如き従
来のX線分析装置のゴニオメータでは、特にX線検出器
の支持機構が2ヵ所にあり、しかも、複雑に予圧荷重機
構が連接されていて、機械的に問題点が多く、動きが不
安定で高精度な動きには不向きであった。
However, in the goniometer of the conventional X-ray analyzer as described above, the support mechanism for the X-ray detector is particularly provided at two places, and the preloading mechanism is complicatedly connected. However, there are many mechanical problems, the movement is unstable, and it is not suitable for high-precision movement.

【0004】本発明は、上記の課題を解決するものであ
って、簡単な構成、制御で分光結晶及びX線検出器をロ
ーランド円の円周上で移動させることができるX線分析
装置を提供することを目的とするものである。
The present invention has been made to solve the above problems, and provides an X-ray analyzer capable of moving a spectral crystal and an X-ray detector on the circumference of a Rowland circle with a simple configuration and control. It is intended to do so.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】そのために本発明は、分
光結晶の位置の調整と、X線検出器の位置の調整をそれ
ぞれ機構的に独立して行い、試料と前記分光結晶と前記
X線検出器とをローランド円の円周上に配置し試料から
発生した特性X線を分光測定するX線分析装置におい
て、前記X線検出器を一端に取り付け他端を支持部とす
るロッドと、前記ロッドの他端の支持部をガイドレール
上で移動させ位置を調整する位置調整手段と、前記ロッ
ドの他端の支持部を回転駆動し傾き角度を調整する角度
調整手段と、前記分光結晶の位置に対応して前記X線検
出器が前記ローランド円の円周上に配置されるように前
記位置調整手段及び角度調整手段を制御する制御手段と
を備えたことを特徴とするものである。
To this end, the present invention provides a method of adjusting the position of a spectral crystal and the position of an X-ray detector mechanically independently of each other, so that a sample, the spectral crystal and the X-ray An X-ray analysis apparatus for spectroscopically measuring characteristic X-rays generated from a sample by disposing a detector on the circumference of a Rowland circle, a rod having the X-ray detector attached to one end and the other end serving as a support, Position adjusting means for adjusting the position by moving the support at the other end of the rod on the guide rail; angle adjusting means for rotating and driving the support at the other end of the rod to adjust the tilt angle; and the position of the spectral crystal. And control means for controlling the position adjusting means and the angle adjusting means such that the X-ray detector is arranged on the circumference of the Rowland circle.

【0006】[0006]

【作用】本発明のX線分析装置では、X線検出器を一端
に取り付け該取り付け角度の調整機構を有するロッド
と、該ロッドの他端で支持し該支持傾き角度の調整機構
を有する支持部と、該支持部が移動するガイドレール
と、支持部のガイドレールにおける位置とロッドの傾き
角度を制御する制御手段とを備え、分光結晶の位置に応
じて制御手段により支持部のガイドレールにおける位置
とロッドの傾き角度を制御するように構成したので、分
光結晶の位置を移動させたときに変化するローランド円
の中心の軌跡にガイドレールを設けることによって、分
光結晶の動きからX線検出器を機械的に分離することが
できる。
In the X-ray analysis apparatus of the present invention, a rod having an X-ray detector attached to one end and having a mechanism for adjusting the mounting angle, and a supporting portion supported at the other end of the rod and having a mechanism for adjusting the support tilt angle are provided. A guide rail on which the support moves, and control means for controlling the position of the support in the guide rail and the tilt angle of the rod, and the control means controls the position of the support in the guide rail in accordance with the position of the dispersive crystal. And the tilt angle of the rod are controlled. By providing a guide rail on the locus of the center of the Rowland circle that changes when the position of the spectral crystal is moved, the X-ray detector can be used based on the movement of the spectral crystal. Can be separated mechanically.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説
明する。図1は本発明に係るX線分析装置の1実施例を
示す図であり、1はX線検出器、2は分光結晶、3は試
料、4は原点センサ、5は結晶直線移動部、6はリニア
エンコーダ、7〜8は回転ポテンショメータ、9は位置
センサ、10は光センサ、11はガイドレール、12〜
16はモータ、17は支持部、18はロッド、21は演
算制御部、22は入出力制御部、23はメモリ、24は
条件設定部、25はドライバ、Rはローランド円、Gは
中心軌跡を示す。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a view showing one embodiment of the X-ray analyzer according to the present invention, wherein 1 is an X-ray detector, 2 is a spectral crystal, 3 is a sample, 4 is an origin sensor, 5 is a crystal linear moving section, 6 Is a linear encoder, 7 to 8 are rotary potentiometers, 9 is a position sensor, 10 is an optical sensor, 11 is a guide rail, 12 to
16 is a motor, 17 is a support part, 18 is a rod, 21 is a calculation control part, 22 is an input / output control part, 23 is a memory, 24 is a condition setting part, 25 is a driver, R is a Roland circle, and G is a center locus. Show.

【0008】図1において、X線検出器1、分光結晶
2、試料3は、それぞれローランド円Rの円周上に設置
され、X線検出器1の位置や角度の調整、分光結晶2の
位置や角度の調整は、それぞれ機構的に独立しているも
のである。モータ12は、分光結晶2を取り付けた結晶
直線移動部5を駆動し分光結晶2の位置を変えるもので
あり、結晶直線移動部5は、例えばモータ12により回
転駆動される送りネジで原点センサ4と試料3とを結ぶ
線上に沿って分光結晶2を直線移動させるものである。
モータ13は、分光結晶2を回転駆動しX線入射角度を
変える角度調整機構を構成し、モータ14は、X線検出
器1を回転駆動しX線入射角度を変える角度調整機構を
構成するものである。支持部17は、先端に分光結晶2
を取り付けたロッド18を支持して円弧状の固定用ガイ
ドレール11上を移動するものであり、この支持部17
をガイドレール11上で駆動して位置決めする機構を構
成するのがモータ15であり、ロッド18を回転駆動し
て角度を変える角度調整機構を構成するのがモータ16
である。ロッド18は、分光結晶2と支持部17との距
離をローランド円Rの半径長で支持するものであり、分
光結晶2を結晶直線移動部5で移動させたとき、X線検
出器1、分光結晶2、試料3がそれぞれローランド円R
の円周上に設置され、しかも、X線検出器1と分光結晶
2との距離が分光結晶2と試料3との距離に等しくなる
ようにガイドレール11上における支持部17の位置及
びロッド18の角度が制御される。したがって、中心軌
跡Gは、分光結晶の位置を移動させたときに変化するロ
ーランド円の中心の軌跡であり、この軌跡上を支持部1
7は移動する。
In FIG. 1, an X-ray detector 1, a spectral crystal 2, and a sample 3 are respectively set on the circumference of a Rowland circle R, and the position and angle of the X-ray detector 1 are adjusted, and the position of the spectral crystal 2 is adjusted. The adjustment of the angle and the angle are mechanically independent of each other. The motor 12 drives the crystal linear moving unit 5 on which the spectral crystal 2 is mounted to change the position of the spectral crystal 2. The crystal linear moving unit 5 is, for example, a feed screw that is rotationally driven by the motor 12 and has an origin sensor 4. This is to move the spectral crystal 2 linearly along the line connecting the sample and the sample 3.
The motor 13 constitutes an angle adjusting mechanism for rotating the spectral crystal 2 to change the X-ray incident angle, and the motor 14 constitutes an angle adjusting mechanism for rotating the X-ray detector 1 to change the X-ray incident angle. It is. The supporting part 17 is provided with
The supporting member 17 supports the rod 18 to which it is attached and moves on the arc-shaped fixing guide rail 11.
The motor 15 constitutes a mechanism for driving and positioning the guide rail 11 on the guide rail 11, and the motor 16 constitutes an angle adjusting mechanism for rotating the rod 18 to change the angle.
It is. The rod 18 supports the distance between the spectral crystal 2 and the support 17 by the radius of the Rowland circle R. When the spectral crystal 2 is moved by the crystal linear moving unit 5, the X-ray detector 1 Crystal 2 and Sample 3 are each a Roland circle R
And the position of the support portion 17 on the guide rail 11 and the rod 18 so that the distance between the X-ray detector 1 and the dispersive crystal 2 is equal to the distance between the dispersive crystal 2 and the sample 3. Is controlled. Therefore, the center locus G is a locus of the center of the Rowland circle that changes when the position of the spectral crystal is moved, and the support portion 1
7 moves.

【0009】リニアエンコーダ6は、原点センサ4とに
より試料3から分光結晶2までの距離Lを検出し、回転
ポテンショメータ7は、分光結晶2におけるX線入射角
度を検出するものである。また、光センサ10は、分光
結晶2からX線検出器1までの距離を検出し、回転ポテ
ンショメータ8は、X線検出器1におけるX線入射角度
を検出するものである。位置センサ9は、ガイドレール
11上における支持部17の位置を検出するものであ
る。
The linear encoder 6 detects a distance L from the sample 3 to the spectral crystal 2 by the origin sensor 4, and the rotary potentiometer 7 detects an X-ray incident angle on the spectral crystal 2. The optical sensor 10 detects the distance from the spectral crystal 2 to the X-ray detector 1, and the rotary potentiometer 8 detects the X-ray incident angle on the X-ray detector 1. The position sensor 9 detects the position of the support 17 on the guide rail 11.

【0010】メモリ23は、リニアエンコーダ6、回転
ポテンショメータ7、8、位置センサ9、光センサ10
の各検出値を記憶するものであり、条件設定制御部24
は、各モータ12〜16の動作条件をドライバ25に設
定するものである。演算制御部21は、メモリ23に記
憶された各検出値を参照して条件設定制御部24を通し
てドライバ25に設定制御を行うものであり、メモリ2
3及び条件設定制御部24と演算制御部21との間の情
報の入出力制御を行うのが入出力制御部22である。ド
ライバ25は、設定された動作条件に応じてモータ12
〜16を駆動するものである。
The memory 23 includes a linear encoder 6, rotary potentiometers 7, 8, a position sensor 9, and an optical sensor 10.
Are stored in the condition setting control unit 24.
Sets the operating conditions of the motors 12 to 16 in the driver 25. The arithmetic control unit 21 performs setting control on the driver 25 through the condition setting control unit 24 with reference to each detection value stored in the memory 23.
The input / output control unit 22 controls input / output of information between the control unit 3 and the condition setting control unit 24 and the arithmetic control unit 21. The driver 25 controls the motor 12 according to the set operating conditions.
To 16 are driven.

【0011】次に、動作を説明する。まず、分析条件に
したがって分析結晶2の位置が決まり、分析者によって
演算制御部21にその位置情報が入力されると、演算制
御部21から指示にしたがって入出力制御部22、ドラ
イバ25を通してモータ12が駆動される。分光結晶2
が直線移動し、その位置がリニアエンコーダ6で検出さ
れメモリ23に記憶されて演算制御部21に入力され、
分光結晶2が指示された所定の位置で停止すると、試料
3から分光結晶2までの距離がリニアエンコーダ6によ
って検出されるので、その距離にしたがって、ローラン
ド円の円周上に試料3、分光結晶2、X線検出器1がく
るように、分光結晶2の傾き角度、X線検出器1の位
置、その傾き角度及び支持部17の位置、ロッド18の
傾き角度が求められ、演算制御部21から入出力制御部
22、ドライバ25を通してモータ13〜16が駆動さ
れる。その制御結果は、回転ポテンショメータ7、8、
位置センサ9、光センサ10で検出されメモリ23に記
憶されて演算制御部21に入力される。
Next, the operation will be described. First, the position of the analysis crystal 2 is determined according to the analysis conditions, and when the position information is input to the operation control unit 21 by the analyst, the motor 12 is transmitted through the input / output control unit 22 and the driver 25 according to the instruction from the operation control unit 21. Is driven. Dispersion crystal 2
Moves linearly, the position of which is detected by the linear encoder 6 and stored in the memory 23 and input to the arithmetic and control unit 21;
When the dispersive crystal 2 stops at the designated predetermined position, the distance between the sample 3 and the dispersive crystal 2 is detected by the linear encoder 6, and the sample 3 and the dispersive crystal are arranged on the circumference of the Rowland circle according to the distance. 2. The inclination angle of the spectral crystal 2, the position of the X-ray detector 1, the inclination angle, the position of the support part 17, and the inclination angle of the rod 18 are obtained so that the X-ray detector 1 comes. Then, the motors 13 to 16 are driven through the input / output control unit 22 and the driver 25. The control result is obtained by rotating potentiometers 7, 8,
The position is detected by the position sensor 9 and the optical sensor 10, stored in the memory 23, and input to the arithmetic and control unit 21.

【0012】なお、本発明は、上記の実施例に限定され
るものではなく、種々の変形が可能である。例えば上記
の実施例では、光センサ10でX線検出器1と分光結晶
2との距離を検出してロッド18の傾き角度を制御した
が、光センサ10に代えて支持部17に回転ポテンショ
メータを設けて直接ロッド18の傾き角度を制御してX
線検出器1と分光結晶2との距離が所定の値になるよう
に制御してもよい。また、分光結晶2の位置が決まると
各制御値は一義的に決まるので、分光結晶2の位置に対
応する各制御値を演算制御部21でテーブルにして設定
記憶し、それぞれの分光結晶2の位置をアドレスとして
テーブルを読み出し各モータを制御するように構成して
もよい。さらには、ロッドをローランド円の半径長にし
ガイドレールをローランド円の中心の軌跡に合わせた形
状にしたが、分光結晶の位置に応じてX線検出器をロー
ランド円の円周上で移動させることができれば、ロッド
の長さやガイドレールの形状を変えてもよいことははい
うまでもない。
It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, in the above embodiment, the tilt angle of the rod 18 is controlled by detecting the distance between the X-ray detector 1 and the spectral crystal 2 by the optical sensor 10, but a rotary potentiometer is provided on the support 17 instead of the optical sensor 10. To directly control the tilt angle of the rod 18
Control may be performed such that the distance between the line detector 1 and the spectral crystal 2 becomes a predetermined value. When the position of the spectral crystal 2 is determined, each control value is uniquely determined. Therefore, each control value corresponding to the position of the spectral crystal 2 is set and stored in a table by the arithmetic and control unit 21, and the control value of each spectral crystal 2 is stored. The table may be read using the position as an address to control each motor. Furthermore, the rod was made the radius of the Roland circle and the guide rail was shaped to match the center locus of the Roland circle, but the X-ray detector was moved on the circumference of the Roland circle according to the position of the spectral crystal. Needless to say, if possible, the length of the rod and the shape of the guide rail may be changed.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、分光結晶の位置に応じて支持部のガイドレー
ルにおける位置とロッドの傾き角度を制御するので、分
光結晶の動きからX線検出器を機械的に分離することが
でき、構成を簡素化することができる。しかも、ガイド
レールの形状は、ローランド円の中心の軌跡に合わせた
円弧状のものを用い、ローランド円の半径長のロッドで
その位置に応じた回転でX線検出器を位置決めすること
ができるので、制御値も簡単に設定することができる。
As is apparent from the above description, according to the present invention, since the position of the supporting portion on the guide rail and the inclination angle of the rod are controlled in accordance with the position of the spectral crystal, the X-axis is determined from the movement of the spectral crystal. The line detector can be separated mechanically, and the configuration can be simplified. In addition, since the shape of the guide rail is an arc shape that matches the locus of the center of the Rowland circle, the X-ray detector can be positioned by rotating the rod according to the position with a rod having a radius of the Rowland circle. , Control values can be easily set.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明に係るX線分析装置の1実施例を示す
図である。
FIG. 1 is a view showing one embodiment of an X-ray analyzer according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…X線検出器、2…分光結晶、3…試料、4…原点セ
ンサ、5…結晶直線移動部、6…リニアエンコーダ、7
〜8…回転ポテンショメータ、9…位置センサ、10…
光センサ、11…ガイドレール、12〜16…モータ、
17…支持部、18…ロッド、21…演算制御部、22
…入出力制御部、23…メモリ、24…条件設定部、2
5…ドライバ、R…ローランド円、G…ガイドレール円
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... X-ray detector, 2 ... Dispersion crystal, 3 ... Sample, 4 ... Origin sensor, 5 ... Crystal linear moving part, 6 ... Linear encoder, 7
-8: rotary potentiometer, 9: position sensor, 10 ...
Optical sensor, 11: guide rail, 12 to 16: motor,
17: Supporting part, 18: Rod, 21: Operation control part, 22
... I / O control unit, 23 ... Memory, 24 ... Condition setting unit, 2
5: Driver, R: Roland circle, G: Guide rail circle

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 分光結晶の位置の調整と、X線検出器の
位置の調整をそれぞれ機構的に独立して行い、試料と前
記分光結晶と前記X線検出器とをローランド円の円周上
に配置し試料から発生した特性X線を分光測定するX線
分析装置において、 前記X線検出器を一端に取り付け他端を支持部とするロ
ッドと、 前記ロッドの他端の支持部をガイドレール上で移動させ
位置を調整する位置調整手段と、 前記ロッドの他端の支持部を回転駆動し傾き角度を調整
する角度調整手段と、 前記分光結晶の位置に対応して前記X線検出器が前記ロ
ーランド円の円周上に配置されるように前記位置調整手
段及び角度調整手段を制御する制御手段とを備えたこと
を特徴とするX線検出器。
An adjustment of a position of a spectral crystal and a position of an X-ray detector are mechanically and independently performed, and a sample, the spectral crystal and the X-ray detector are positioned on a circumference of a Rowland circle. An X-ray analyzer for spectroscopically measuring characteristic X-rays generated from a sample, wherein the rod has the X-ray detector attached to one end and the other end is a support, and the support at the other end of the rod is a guide rail. Position adjusting means for adjusting the position by moving the X-ray detector on the X-ray detector corresponding to the position of the spectral crystal; An X-ray detector comprising: a control unit that controls the position adjustment unit and the angle adjustment unit so as to be arranged on the circumference of the Rowland circle.
【請求項2】 前記ロッドは、前記ローランド円の半径
長を有し、前記ガイドレールは、前記ローランド円の中
心の軌跡に合わせた形状であることを特徴とする請求項
1記載のX線分析装置。
2. The X-ray analysis according to claim 1, wherein the rod has a radius of the Rowland circle, and the guide rail has a shape conforming to a locus of the center of the Rowland circle. apparatus.
【請求項3】 前記制御手段は、前記分光結晶の各位置
に対応する前記支持部の前記ガイドレールにおける位置
と前記傾き角度を制御値として記憶したメモリを有する
ことを特徴とする請求項1記載のX線分析装置。
3. The control device according to claim 1, wherein the control unit includes a memory that stores, as control values, a position on the guide rail of the support portion corresponding to each position of the dispersive crystal and the tilt angle. X-ray analyzer.
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