JPH07135230A - Electronic device resin sealing method and lead frame provided therefor - Google Patents

Electronic device resin sealing method and lead frame provided therefor

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JPH07135230A
JPH07135230A JP27926493A JP27926493A JPH07135230A JP H07135230 A JPH07135230 A JP H07135230A JP 27926493 A JP27926493 A JP 27926493A JP 27926493 A JP27926493 A JP 27926493A JP H07135230 A JPH07135230 A JP H07135230A
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JP
Japan
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resin
lead frame
pot
hole
semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP27926493A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Higuchi
顕 樋口
Toshinori Hirashima
利宣 平島
Hajime Murakami
村上  元
Kazuo Shimizu
一男 清水
Katsuo Arai
克夫 新井
Takumi Soba
匠 曽場
Yasuhiro Koyama
泰弘 小山
Mitsuo Togawa
光生 戸川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP27926493A priority Critical patent/JPH07135230A/en
Publication of JPH07135230A publication Critical patent/JPH07135230A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To lessen resin wasted in a throwaway part such as a cull or a runner in quantity so as to reduce the amount of resin used to an irreducible minimum and to enhance resin material in use yield in a resin sealed-type semiconductor package of an electronic device. CONSTITUTION:A lead frame 1 is equipped with a resin tablet hole 5 at its center where a resin tablet of molding material is located, the resin tablet hole 5 is regarded as a cull (pot), and four gates 12 are provided around the resin tablet hole 5 in a radial manner, and also the lead frame 1 is provided with semiconductor device forming region ICs where semiconductor devices are mounted and which are provided corresponding to the gates 12. Resin is directly poured into a cavity from a pot through the gates 12 connected to the cavity without using a runner. By this setup, a pot is disposed at the center of a lead frame, so that a distance between the pot and a cavity is short, and resin wasted in a throwaway part such as a cull or a runner used in a conventional molding structure can be lessened in amount.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電子装置の封止技術
(パッケージング技術)に関し、特に半導体の樹脂モー
ルド技術に有効な発明である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sealing technology (packaging technology) for electronic devices, and is particularly effective for semiconductor resin molding technology.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体技術分野においては、封止技術と
して安価で量産性の高いトランスファモールド法と称さ
れる樹脂モールド技術が主流である。そして、近年その
高密度実装とパッケージ本体の薄型化が望まれている。
特にパッケージ本体の薄型化にともなう一つの問題は、
モールド樹脂(レジン)の吸湿性による信頼度の低下が
挙げられる。耐湿性向上のために、低吸湿性のレジンの
採用が考えられているが、この低吸湿レジンはパッケー
ジの薄型化に適しているが、一般に採用されているエポ
キシ系レジンに比べコストが高いといった問題がある。
このため、廃棄するレジン量を極力少なくし、レジンの
有効利用が課題となっている。
2. Description of the Related Art In the field of semiconductor technology, resin molding technology called transfer molding method, which is inexpensive and has high mass productivity, is the mainstream as a sealing technology. In recent years, there has been a demand for high-density packaging and a thinner package body.
In particular, one problem with the thinning of the package body is
The decrease in reliability due to the hygroscopicity of the molding resin (resin) can be mentioned. In order to improve the moisture resistance, it is considered to use a resin with low hygroscopicity.This low hygroscopic resin is suitable for making the package thin, but the cost is higher than the epoxy resin that is generally used. There's a problem.
For this reason, the amount of resin to be discarded is reduced as much as possible, and effective use of the resin has become a problem.

【0003】レジン材料の有効利用のためのトランスフ
ァモールド法として、ポットからキャビティまでの距離
が長くならないように、ポットを複数個設け各ランナの
長さを均一に成形したマルチポット式のものが提案され
ている。
As a transfer molding method for effectively utilizing a resin material, a multi-pot type method is proposed in which a plurality of pots are provided and each runner is uniformly formed so that the distance from the pot to the cavity does not become long. Has been done.

【0004】このマルチポット式あるいはマルチプラン
ジャ式と称する金型を用いたトランスファモールド法
は、例えば特開平1−196319号公報、特開平3−
278923号公報によって知られている。
A transfer molding method using a die called a multi-pot type or a multi-plunger type is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open Nos. 1-196319 and 3-1993.
It is known from JP-A-278923.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記した従来のモール
ド方法でも、半導体装置本来に使用するレジン量に比較
してみれば、カル、ランナなどの捨てる部分に費やすレ
ジン量がまだ多く、レジン材料の使用歩留を低くしてい
た。
Even in the conventional molding method described above, the amount of resin to be discarded is still large in comparison with the amount of resin originally used in the semiconductor device. The yield used was low.

【0006】前述したように、パッケージの薄型化にと
もない信頼度の高い低吸湿レジンが主流となりつつあ
る。しかしながら、この低吸湿レジン(例えばビフェニ
ルレジン)は従来一般的に使用されているエポキシ系レ
ジンに比べコストが高い。したがって、さらなるレジン
の有効利用が必要とされた。
As described above, a highly reliable low moisture absorption resin is becoming the mainstream as the package becomes thinner. However, this low hygroscopic resin (for example, biphenyl resin) is higher in cost than the epoxy resin which is generally used in the past. Therefore, more effective use of resin was needed.

【0007】すなわち、本発明の目的は、樹脂モールド
工程で費やすレジン使用量を必要最少限にすることにあ
る。
That is, it is an object of the present invention to minimize the amount of resin used in the resin molding process to the necessary minimum.

【0008】本発明の前記並びにその他の目的と、新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかにな
るであろう。
The above and other objects and novel characteristics of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。
The outline of the representative one of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0010】すなわち、本発明は中央に成形材料のレジ
ンタブレットが位置する穴を有し、その周辺に放射状に
位置して半導体装置形成領域を複数個有するリードフレ
ームを用意し、その穴に対応して金型のポットならびに
その半導体装置形成領域の樹脂封止区画領域に対応して
金型のキャビティを位置させ、レジンをポットから直接
ポットに連接するゲートを通してキャビティに流し込む
ことを特徴とする。
That is, according to the present invention, a lead frame having a hole in which a resin tablet of a molding material is located at the center and a plurality of semiconductor device forming regions radially located around the hole is prepared. The cavity of the mold is positioned corresponding to the mold pot and the resin-sealed partitioning region of the semiconductor device formation region, and the resin is poured into the cavity from the pot through a gate directly connected to the pot.

【0011】[0011]

【作用】上記した手段によれば、ポットからランナを介
してゲートそしてキャビティへレジンを流し込む従来の
マルチポット式のモールド方法に比べ、ポット部からキ
ャビティ部までの距離が短いため、カル、ランナなど捨
てる部分に費やすレジン量を少なくでき、レジン材料の
使用料が低減できる。
According to the above-mentioned means, the distance from the pot to the cavity is shorter than that of the conventional multi-pot molding method in which the resin is poured from the pot through the runner into the gate and then into the cavity. The amount of resin spent in the discarded portion can be reduced, and the usage fee of the resin material can be reduced.

【0012】また、従来の金型ではポット、ランナ部は
リードフレームから離間した位置に構成されていたが、
本発明によればポット部がリードフレーム内に位置され
るので、金型のスペース効率が良く生産性の向上が図れ
る。
Further, in the conventional mold, the pot and the runner portion are formed at positions separated from the lead frame.
According to the present invention, since the pot portion is located within the lead frame, space efficiency of the mold is improved and productivity can be improved.

【0013】そしてまた、本発明によればポット部から
の放射状に配置した半導体装置形成領域へのレジン注入
であるため、それぞれの半導体装置形成領域へのレジン
注入量が均一になり、薄型パッケージの歩留り向上が図
れる。
Further, according to the present invention, since the resin is injected from the pot portion into the semiconductor device forming regions radially arranged, the resin injection amount into each semiconductor device forming region becomes uniform, and the thin package can be manufactured. Yield can be improved.

【0014】[0014]

【実施例】【Example】

(実施例1)本発明について図面を参照して具体的実施
例に基づいて説明する。
(Embodiment 1) The present invention will be described based on a specific embodiment with reference to the drawings.

【0015】図1は本発明によるレジンモールド型半導
体装置の組立に適用されるリードフレームの部分上面
図、図2は図1における一点鎖線枠内の一つの半導体装
置形成領域を示す拡大上面図、図3はモールド後の製品
において図1のA−A断面に対応する切断断面図、図4
乃至図6は本実施例で用いる成形装置の正面断面図、図
7は本実施例で用いる金型のレイアウトを示す上面図、
図8はモールド完了後の製品の側面図、図9はモールド
完了後の製品を積み上げた形態を示す側面図、図10は
図1のB部の拡大上面図、図11はモールド後の図10
に示すC−C断面に対応する切断断面図、図12はモー
ルド後の図10に示すD−D断面に対応する切断断面図
である。
FIG. 1 is a partial top view of a lead frame applied to the assembly of a resin mold type semiconductor device according to the present invention, and FIG. 2 is an enlarged top view showing one semiconductor device forming region in the one-dot chain line frame in FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 1 in the molded product, FIG.
6 is a front cross-sectional view of the molding apparatus used in this embodiment, FIG. 7 is a top view showing the layout of the mold used in this embodiment,
8 is a side view of the product after completion of the molding, FIG. 9 is a side view showing a form in which the products after the completion of molding are stacked, FIG. 10 is an enlarged top view of a portion B in FIG. 1, and FIG.
12 is a sectional view corresponding to the section C-C shown in FIG. 12, and FIG. 12 is a sectional view corresponding to the section D-D shown in FIG. 10 after molding.

【0016】図1において、リードフレーム1は中央に
円柱形の形をしたレジンタブレットが位置されるべきレ
ジンタブレット用穴5が、レジンタブレットの直径より
一回り大きく設けられている。
In FIG. 1, a lead frame 1 is provided with a resin tablet hole 5 in the center thereof, in which a cylindrical resin tablet is to be positioned, which is slightly larger than the diameter of the resin tablet.

【0017】ここで、前述したようにリードフレームの
ポットにあたる部分にレジンタブレットの直径より一回
り大きな穴を設けることで、モールド工程時においてレ
ジンタブレットを所定の位置に配置しやすくできる。
Here, as described above, by providing a hole slightly larger than the diameter of the resin tablet in the portion corresponding to the pot of the lead frame, the resin tablet can be easily arranged at a predetermined position during the molding process.

【0018】このレジンタブレット用穴5には相対的に
突出穴5a、5bが設けられている。この突出穴5a、
5bについては後で説明する。そして、レジンタブレッ
ト用穴5の周辺には一点鎖線枠内を一単位とする四個の
半導体装置形成領域ICが放射状に設けられ、それぞれ
の単位の半導体装置形成領域内におけるリードフレーム
パターンは、後述する構成をなしている。
The resin tablet hole 5 is provided with relatively projecting holes 5a and 5b. This protruding hole 5a,
5b will be described later. Then, four semiconductor device forming regions IC, each unit of which is defined by a one-dot chain line frame, are radially provided around the resin tablet hole 5, and the lead frame pattern in each unit of the semiconductor device forming region will be described later. It is configured to

【0019】また図1において、応力吸収孔19は、リ
ードフレーム1の熱膨張によるリードの変形を防ぐため
に設けられている。スリット15およびスリット6は、
それぞれモールド時にカル部9および連通路11からの
レジンの漏れを防ぐためのものである。ここで、図1に
おいてモールド後、レジンが充填される範囲は破線のモ
ールドライン13によって示されている。このリードフ
レーム1は例えば鉄・ニッケル(Fe・Ni)系合金ま
たは銅(Cu)系合金からなる薄板(厚さ:0.15m
m)が用いられ、打ち抜きプレス加工またはエッチング
加工の手段により成形されている。
Further, in FIG. 1, the stress absorbing holes 19 are provided to prevent deformation of the leads due to thermal expansion of the lead frame 1. The slit 15 and the slit 6 are
These are for preventing the resin from leaking from the cull portion 9 and the communication passage 11 during molding. Here, in FIG. 1, the range in which the resin is filled after molding is indicated by a broken mold line 13. The lead frame 1 is a thin plate (thickness: 0.15 m, for example, made of an iron-nickel (Fe-Ni) alloy or a copper (Cu) alloy.
m) is used and is formed by means of punching press work or etching work.

【0020】図2は、図1におけるIC(単位半導体装
置形成領域)を示しているが、ここでICは半導体ペレ
ット31を取り付ける(固着する)タブ30を有してお
り、このタブ30はタブ吊りリード32によりリードフ
レームに保持され、インナリード2、アウタリード3、
ダム4とで構成されている。すなわち、図2においてイ
ンナリード2の先端とボンディングパッド33とは、ボ
ンディングワイヤ34により電気的に接続されており、
アウタリード3により外部または半導体素子からの電気
信号の入出力を可能としている。また、アウタリード3
のリード間にはモールド時のレジン漏れを防ぐためのダ
ム4が設けられており、モールド後このダム4は打ち抜
きにより取り去られる。ここで、図2を用いてモールド
時のレジンの流れを説明すると、プランジャにより加圧
されたレジンタブレットは、矢印に示すようにカル9か
ら金型に設けられたゲート12に直接流れ込み、半導体
ペレット31およびインナリード2などをモールドする
ことになる。
FIG. 2 shows the IC (unit semiconductor device forming region) in FIG. 1. Here, the IC has a tab 30 for mounting (fixing) a semiconductor pellet 31, and this tab 30 is a tab. The inner leads 2, the outer leads 3, are held on the lead frame by the suspension leads 32.
It is composed of a dam 4. That is, in FIG. 2, the tip of the inner lead 2 and the bonding pad 33 are electrically connected by the bonding wire 34,
The outer lead 3 enables input / output of an electric signal from the outside or a semiconductor element. Also, the outer lead 3
A dam 4 is provided between the leads for preventing the resin from leaking during molding, and the dam 4 is punched out after molding. Here, the flow of the resin at the time of molding will be described with reference to FIG. 31 and the inner lead 2 will be molded.

【0021】次に本実施例における金型とリードフレー
ムとの関係について説明する。
Next, the relationship between the mold and the lead frame in this embodiment will be described.

【0022】連結された複数のプランジャー(図示せ
ず)により複数のレジンタブレットを同時に加圧しモー
ルドするため、ポット内に投入されたレジンタブレット
の量がばらつくと各ポットに加わる圧力に差が生じ、均
一な成形ができない問題が生じる。これを防ぐために本
実施例では図1に示すように隣会うポット間に連通路1
1に相当する部分が金型に設けられ、各ポット内のレジ
ンタブレットの量が異なると、レジンが連通路11を通
り各ポット内のレジン量の均一化を図っており、すなわ
ち各ポットに加わる圧力が均一になるようにしている。
Since a plurality of plungers (not shown) connected to each other simultaneously pressurize and mold a plurality of resin tablets, if the amount of the resin tablets put in the pot varies, a difference in pressure is applied to each pot. However, there arises a problem that uniform molding cannot be performed. In order to prevent this, in this embodiment, as shown in FIG. 1, a communication passage 1 is provided between adjacent pots.
A portion corresponding to 1 is provided in the mold, and when the amount of the resin tablet in each pot is different, the resin passes through the communication passage 11 to make the amount of resin in each pot uniform, that is, it is added to each pot. The pressure is made uniform.

【0023】図1乃至図3に示されるフローキャビティ
10は、モールド時にキャビティ内に存在する空気を抜
けるようにした補助キャビティで、ボイドの低減を図る
ために金型に設けられ、一つのキャビティには角部にそ
れぞれ対応し三ヵ所設けてある。
The flow cavity 10 shown in FIGS. 1 to 3 is an auxiliary cavity that allows the air existing in the cavity to escape during molding, and is provided in the mold to reduce voids. Are provided in three places corresponding to the corners.

【0024】リードフレーム1はフローキャビティ10
内に位置するところに穴7が設けられている。この穴7
は金型を離型した後フローキャビティ10に対応して残
ったレジンが容易に脱落しないようにレジン食いつきの
穴として作用する。図3に示されたように、モールドの
際にフローキャビティ10内にレジン注入されたレジン
は穴7を介してリードフレーム1の表と裏にまわり込
み、リードフレーム1の表裏から支持される。また、図
1に示すように連通路11に対応した位置にも穴8が設
けられているが、これも前記穴7と同様に脱落防止を意
図としている。すなわち、レジン一部が穴8に填め込ま
れることによって連通路11に注入されたレジンは保持
される。図3におけるカル部9にも穴8と同様にレジン
がレジンタブレット用穴5に、填め込まれる形になりカ
ル部のレジンの脱落が防止できる。
The lead frame 1 is a flow cavity 10
A hole 7 is provided at a position located inside. This hole 7
Acts as a hole for the resin to bite so that the resin remaining in the flow cavity 10 after the mold is released does not easily fall off. As shown in FIG. 3, the resin injected into the flow cavity 10 at the time of molding flows into the front and back of the lead frame 1 through the holes 7 and is supported from the front and back of the lead frame 1. Further, as shown in FIG. 1, a hole 8 is also provided at a position corresponding to the communication passage 11, but this is also intended to prevent falling off, like the hole 7. That is, the resin injected into the communication passage 11 is retained by fitting a part of the resin into the hole 8. Similar to the hole 8, the resin is also inserted into the resin tablet hole 5 in the cull portion 9 in FIG. 3, so that the resin in the cull portion can be prevented from falling off.

【0025】次に、図4乃至図6を用いて、本実施例の
モールド方法を順を追って説明する。なお、図4乃至図
6は図3におけるフローキャビティ部分は省略してあ
る。
Next, the molding method of this embodiment will be described step by step with reference to FIGS. 4 to 6, the flow cavity portion in FIG. 3 is omitted.

【0026】まず、図4に示すように半導体ペレット3
1が固着され、インナリード2の先端とボンディングパ
ッド33とが、ボンディングワイヤ34により接続され
た組立完リードフレーム21を、レジンタブレット25
が投入されている下金型23の上に搬送位置させる。そ
して、その下金型23上に上金型22がセットされる。
次の段階では、図5に示すように両金型を型締めし、そ
して図6に示すようにプランジャー24によりレジンタ
ブレット25を加圧しゲート12を介して、図6に示す
ようにキャビティ20にレジンを充填させる。この後、
レジンの硬化を待ってモールドされたリードフレーム
(製品)が取り出されることになる。図7は本実施例で
用いられる下金型のレイアウトを示す概略上面図であ
る。この下金型はリードフレームが位置されるリードフ
レーム搭載部36と、そのリードフレーム搭載部内に位
置してレジンタブレット25が投入されるポット26が
形成された構造である。
First, as shown in FIG. 4, the semiconductor pellet 3
1 is fixed, and the assembly lead frame 21 in which the tips of the inner leads 2 and the bonding pads 33 are connected by the bonding wires 34 is attached to the resin tablet 25.
The transfer position is set on the lower mold 23 in which the is charged. Then, the upper die 22 is set on the lower die 23.
In the next step, the molds are clamped as shown in FIG. 5, and the resin tablet 25 is pressed by the plunger 24 as shown in FIG. Fill the resin with. After this,
The molded lead frame (product) is taken out after the resin is cured. FIG. 7 is a schematic top view showing the layout of the lower mold used in this embodiment. This lower mold has a structure in which a lead frame mounting portion 36 in which the lead frame is positioned and a pot 26 into which the resin tablet 25 is placed are formed in the lead frame mounting portion.

【0027】モールドされたリードフレームは図8に示
すように、カル部9のレジン厚さh1とパッケージ下部
厚h2およびパッケージ上部厚h3との関係をh2<h
1<h2+h3とすることで、図9に示すように最下段
にカル9の当たる部分に穴を開けたスペーサ26の上に
パッケージ本体16を直接に積み重ねることが可能とな
り、なおかつカル部9のレジンが横ずれ防止のストッパ
ーの役目をなし、積み重ね専用の搬送治具を使わずに積
み重ね搬送ができ、しかも搬送収納スペースの効率も向
上する。
In the molded lead frame, as shown in FIG. 8, the relationship between the resin thickness h1 of the cull portion 9 and the package lower thickness h2 and the package upper thickness h3 is h2 <h.
By setting 1 <h2 + h3, as shown in FIG. 9, the package body 16 can be directly stacked on the spacer 26 having a hole at the lowest portion where the cull 9 abuts, and the resin of the cull portion 9 can be stacked. Serves as a stopper to prevent lateral slippage, and stacking and transporting can be performed without using a dedicated transporting jig, and the efficiency of transporting and storing space is improved.

【0028】モールド完了後、不要となるカル9を除去
しなければならないが、この除去のために工夫されたリ
ードフレームの一部構成を図10乃至図12を用いて説
明する。
After the molding is completed, the unnecessary cull 9 must be removed. A partial structure of the lead frame devised for this removal will be described with reference to FIGS. 10 to 12.

【0029】まず、図10は図1のB部分の拡大図であ
る。図11はレジンモールド後の図10のC−C断面に
対応する切断断面図を示す。そして、図12はレジンモ
ールド後の図10のD−D断面に対応する切断断面図を
示す。
First, FIG. 10 is an enlarged view of portion B in FIG. FIG. 11 shows a cross sectional view corresponding to the CC cross section of FIG. 10 after the resin molding. Then, FIG. 12 shows a cross-sectional view corresponding to the DD cross section of FIG. 10 after the resin molding.

【0030】モールド後、リードフレーム1からカル部
9のレジンは、図10に示すC−Cのラインに沿って切
断除去される。リードフレームの一部と連通路11のレ
ジンとが重ならないように、C−C切断線上よりも右側
に突出した突出穴5aを延在させたことにより、このた
め、C−C切断断面は図11に示すようにリードフレー
ム1(金属)面とレジン17面とに分かれることにな
る。すなわち、金属は剪断そしてレジンはクラッキング
と切断性が異なるので同一切断面に金属のみの部分と、
金属とレジンとの重ね部分とが存在すると、特にその重
ね部分の切断が難しくなる。このため、図11に示すよ
うにリードフレーム1とレジン17との重ね部分をなく
し、リードフレーム1はリードフレームを切断する仕
様、レジン17はレジンを切断する仕様という様に分
け、点線図示したように切断刃Sを矢印のように下降さ
せることにより切断できる。さらに、より切断をしやす
くするために、図12に示すように山型をなした溝18
を設け得るような金型を用意し、モールドの際に溝18
を設けることで、切断刃Sを矢印のように下降させての
切断時にはこの溝18に応力が集中してカル部9の切断
(クラッキング)が容易になる。
After molding, the resin from the lead frame 1 to the cull portion 9 is cut and removed along the line C--C shown in FIG. Since the protruding hole 5a protruding to the right side of the CC cutting line is extended so that a part of the lead frame and the resin of the communication passage 11 do not overlap with each other, the CC cutting cross section is shown in FIG. As shown in FIG. 11, it is divided into a lead frame 1 (metal) surface and a resin 17 surface. That is, since the metal is sheared and the resin has different cutting properties from cracking, a metal-only part on the same cutting surface,
The presence of the metal and the resin overlapping portion makes it particularly difficult to cut the overlapping portion. Therefore, as shown in FIG. 11, the overlapping portion of the lead frame 1 and the resin 17 is eliminated, and the lead frame 1 is divided into specifications for cutting the lead frame, and the resin 17 is divided into specifications for cutting the resin. It is possible to cut by lowering the cutting blade S as shown by the arrow. Furthermore, in order to make it easier to cut, the groove 18 having a chevron shape as shown in FIG.
Prepare a mold that can be provided with a groove 18 at the time of molding.
By providing the above, the stress concentrates on the groove 18 at the time of cutting by lowering the cutting blade S as shown by an arrow, and thus the cull portion 9 can be easily cut (cracked).

【0031】(実施例2)実施例1は組立完リードフレ
ーム21を一段でモールドする実施例であるが、次に組
立完リードフレーム21を上下二段に配置しモールドす
る他の実施例を、図13乃至図16を用いて説明する。
(Embodiment 2) Although Embodiment 1 is an embodiment in which the assembly-completed lead frame 21 is molded in one step, another embodiment in which the assembly-completed lead frames 21 are arranged in upper and lower two tiers and molded, This will be described with reference to FIGS. 13 to 16.

【0032】図13乃至図16は、二段モールド成形装
置を用いた二段モールドステップを示す正面断面図であ
る。
13 to 16 are front sectional views showing a two-step molding step using the two-step molding apparatus.

【0033】まず、図13に示すように、下金型23の
ポット26内にタブレット25がセットされ、なおかつ
一段目のキャビティに対応して組立完リードフレーム2
1がセットされる。次に、上下キャビティを構成する中
金型27をセットし、二段目のキャビティに対応して組
立完リードフレーム21をセットする。そして、その中
金型27上に上金型22をセットする。次に、図14に
示すように各金型を型締めし、プランジャー24により
タブレット25を加圧し、図15に示すようにレジンが
ゲートを通してそれぞれのキャビティ20内に充填され
ることになる。この後、レジンの硬化を待って上金型2
2をはずしカル9をゲートブレイクさせることで、図1
6に示すようにパッケージ29を取り出すことができ
る。なお、各段における金型の平面構造は図7に示す構
成であり、したがって適用されるリードフレームは図1
の構造となっている。
First, as shown in FIG. 13, the tablet 25 is set in the pot 26 of the lower mold 23, and the assembled lead frame 2 corresponding to the cavity of the first stage is completed.
1 is set. Next, the middle mold 27 constituting the upper and lower cavities is set, and the assembly completed lead frame 21 is set in correspondence with the second-stage cavity. Then, the upper mold 22 is set on the middle mold 27. Next, as shown in FIG. 14, each mold is clamped, the tablet 25 is pressed by the plunger 24, and the resin is filled into each cavity 20 through the gate as shown in FIG. After this, wait for the resin to cure and then press the upper mold 2
By removing 2 and making Cull 9 break the gate,
The package 29 can be taken out as shown in FIG. The planar structure of the mold in each stage has the structure shown in FIG. 7, and therefore the applicable lead frame is shown in FIG.
It has a structure of.

【0034】このように二段モールド構造にすることに
より、レジンの有効利用率が一層向上する。
By using the two-stage mold structure in this way, the effective utilization rate of the resin is further improved.

【0035】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例
に限定されるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々可能であることはいうまでもない。
The invention made by the inventor of the present invention has been specifically described above based on the embodiments. However, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.

【0036】例えば、図17乃至図18に示すように、
図17はポット26の周りに円弧形状にキャビティを配
置した構造図を示しており、それぞれのゲートはキャビ
ティの各部に位置される。また、図18は図1で示した
四個のキャビティに対して一つのポット配列を基本パタ
ーンとしたリードフレーム1を一つのフレーム上にマト
リクス形状に配置した構造図を示し、このようなリード
フレーム、金型を用いてモールドを行えばレジン材料の
低減および生産性の向上が達成できる。
For example, as shown in FIGS.
FIG. 17 shows a structural diagram in which cavities are arranged in an arc shape around the pot 26, and each gate is located at each part of the cavity. FIG. 18 is a structural diagram in which the lead frame 1 having one pot array as a basic pattern for the four cavities shown in FIG. 1 is arranged in a matrix on one frame. If the molding is performed using a mold, the resin material can be reduced and the productivity can be improved.

【0037】[0037]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
の通りである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0038】(1)ポットをリードフレーム内に配置す
ることで、ポットからキャビティまでの距離が短いた
め、従来のモールド構造で無駄だったカル、ランナなど
の捨てる部分に費やすレジン量の低減が可能となる。
(1) By arranging the pot in the lead frame, the distance from the pot to the cavity is short, so it is possible to reduce the amount of resin that is wasted in the conventional mold structure, such as culls and runners. Becomes

【0039】(2)従来のモールド構造では、ポット、
ランナはリードフレームから独立した構成であったが、
本発明のようにランナを設けずリードフレーム1の内に
ポットを構成することでスペース効率が良く、生産性の
向上が図れる。
(2) In the conventional mold structure, the pot,
The runner was independent from the lead frame,
By constructing the pot inside the lead frame 1 without providing a runner as in the present invention, space efficiency is improved and productivity can be improved.

【0040】(3)ポットから放射状に配置した複数キ
ャビティへのレジン注入であるため、それぞれのキャビ
ティへのレジン注入圧ならびにレジン注入量が均一にな
り、薄型パッケージの歩留り向上が図れる。
(3) Since the resin is injected from the pot into a plurality of cavities arranged radially, the resin injection pressure and the resin injection amount into the respective cavities are made uniform, and the yield of thin packages can be improved.

【0041】(4)本発明のリードフレームによれば、
カル部レジンの切断箇所にフレームの一部が重ならない
ようにカル部近傍のフレームに突出穴を設けたことでリ
ードフレームの切断とカル部レジンとの切断が容易とな
る。
(4) According to the lead frame of the present invention,
By providing a projecting hole in the frame in the vicinity of the cull portion so that a part of the frame does not overlap the cut portion of the cull portion resin, the lead frame and the cull portion resin can be easily cut.

【0042】(5)図8乃至図9に示すようにカル9の
厚さをパッケージ本体16の厚さより薄くすることで、
専用の治具を使わずにモールド後の製品(パッケージ本
体16)を直接に積み重ねることができるので、積み重
ねが容易になる。
(5) By making the thickness of the cull 9 thinner than that of the package body 16 as shown in FIGS. 8 to 9,
Since the molded products (package body 16) can be directly stacked without using a dedicated jig, the stacking becomes easy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるレジンモールド型半導体装置の組
立に適用されるリードフレームの上面図である。
FIG. 1 is a top view of a lead frame applied to an assembly of a resin mold type semiconductor device according to the present invention.

【図2】図1の一点破線枠内の半導体装置形成領域を示
す上面図である。
FIG. 2 is a top view showing a semiconductor device formation region within a dashed-dotted line frame in FIG.

【図3】本発明によるモールド後の製品における図1の
A−A断面に対応する切断断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view corresponding to the section AA of FIG. 1 in the molded product according to the present invention.

【図4】本発明の実施例で用いる成形装置の正面断面図
である。
FIG. 4 is a front sectional view of a molding apparatus used in an example of the present invention.

【図5】本発明の実施例で用いる成形装置の正面断面図
である。
FIG. 5 is a front sectional view of a molding apparatus used in an example of the present invention.

【図6】本発明の実施例で用いる成形装置の正面断面図
である。
FIG. 6 is a front sectional view of a molding apparatus used in an example of the present invention.

【図7】本発明の実施例で用いる金型のレイアウトを示
す上面図である。
FIG. 7 is a top view showing a layout of a mold used in an example of the present invention.

【図8】本発明によるモールド完了後の製品の側面図で
ある。
FIG. 8 is a side view of a product after completion of molding according to the present invention.

【図9】本発明によるモールド完了後の製品を積み上げ
た形態を示す側面図である。
FIG. 9 is a side view showing a stacked form of products after completion of molding according to the present invention.

【図10】図1のB部の拡大上面図である。FIG. 10 is an enlarged top view of a B part in FIG.

【図11】本発明によるモールド後の製品における図1
0のC−C断面に対応する切断断面図である。
FIG. 11 FIG. 1 in a product after molding according to the present invention.
It is a cut sectional view corresponding to CC cross section of 0.

【図12】本発明によるモールド後の製品における図1
0のD−D断面に対応する切断断面図である。
FIG. 12 FIG. 1 of the molded product according to the present invention.
It is a cutting cross section corresponding to DD cross section of 0.

【図13】本発明の他の実施例で用いる成形装置の正面
断面図である。
FIG. 13 is a front sectional view of a molding apparatus used in another embodiment of the present invention.

【図14】本発明の他の実施例で用いる成形装置の正面
断面図である。
FIG. 14 is a front sectional view of a molding apparatus used in another embodiment of the present invention.

【図15】本発明の他の実施例で用いる成形装置の正面
断面図である。
FIG. 15 is a front sectional view of a molding apparatus used in another embodiment of the present invention.

【図16】本発明の他の実施例で用いる成形装置の正面
断面図である。
FIG. 16 is a front sectional view of a molding apparatus used in another embodiment of the present invention.

【図17】本発明による他の実施例の構造を示す略上面
図である。
FIG. 17 is a schematic top view showing the structure of another embodiment according to the present invention.

【図18】本発明による他の実施例の構造を示す略上面
図である。
FIG. 18 is a schematic top view showing the structure of another embodiment according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・・リードフレーム 2・・・・インナリード 3・・・・アウタリード 4・・・・ダム 5・・・・レジンタブレット用穴 5a、5b・・・・突出穴 6・・・・スリット 7、8・・・・穴 9・・・・カル部 10・・・・フローキャビティ部 11・・・・連通路部 12・・・・ゲート 13・・・・モールドライン 14・・・・ガイド孔 15・・・・スリット 16・・・・パッケージ本体 17・・・・レジン 18・・・・溝 19・・・・応力吸収孔 20・・・・キャビティ 21・・・・組立完リードフレーム 22・・・・上金型 23・・・・下金型 24・・・・プランジャー 25・・・・レジンタブレット 26・・・・ポット 27・・・・中金型 28・・・・リードフレーム 29・・・・モールド完パッケージ 30・・・・タブ 31・・・・半導体ペレット 32・・・・タブ吊りリード 33・・・・ボンディングパッド 34・・・・ボンディングワイヤ 35・・・・クラック(ひび) 36・・・・リードフレーム搭載部 1 ... Lead frame 2 ... Inner lead 3 ... Outer lead 4 ... Dam 5 ... Resin tablet hole 5a, 5b ... Projection hole 6 ... Slit 7, 8 ... Hole 9 ... Cull portion 10 ... Flow cavity portion 11 ... Communication passage portion 12 ... Gate 13 ... Mold line 14 ... Guide Hole 15 ... Slit 16 ... Package body 17 ... Resin 18 ... Groove 19 ... Stress absorption hole 20 ... Cavity 21 ... Assembly complete lead frame 22・ ・ ・ Upper mold 23 ・ ・ ・ Lower mold 24 ・ ・ ・ Plunger 25 ・ ・ ・ ・ Resin tablet 26 ・ ・ ・ ・ Pot 27 ・ ・ ・ ・ ・ ・ Medium dies 28 ・ ・ ・ ・ ・ ・ Lead frame 29 ... Mold complete package 30 ... Tab 31 .... semiconductor pellet 32 ... tab suspension leads 33 .... bonding pads 34 ... bonding wire 35 ... crack (crack) 36 ... lead frame mounting portion

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 23/50 K // B29L 31:34 (72)発明者 清水 一男 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 新井 克夫 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 曽場 匠 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 小山 泰弘 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 戸川 光生 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Reference number within the agency FI Technical display location H01L 23/50 K // B29L 31:34 (72) Inventor Kazuo Shimizu Kamimizumoto-cho, Kodaira-shi, Tokyo 5-20-1 Incorporated company Hitachi Ltd. Semiconductor Division (72) Inventor Katsuo Arai 5-201-1 Kamimizuhonmachi, Kodaira-shi, Tokyo Incorporated Hitachi Ltd Semiconductor Division (72) Inventor Takumi Soba 5-20-1 Kamimizuhonmachi, Kodaira-shi, Tokyo Inside the Semiconductor Division, Hitachi, Ltd. (72) Inventor Yasuhiro Koyama 5-20-1 Kamimizuhoncho, Kodaira-shi, Tokyo Within Hitachi Semiconductor Division ( 72) Inventor Mitsuo Togawa 5-20-1 Kamimizuhoncho, Kodaira-shi, Tokyo Incorporated company Hitachi Ltd. Semiconductor Division

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体支持部、端部がその半導体支持部に
近接して設けられた複数のインナリード、前記インナリ
ードに連接した複数のアウタリードを一単位とした半導
体装置形成領域が複数個設けられ、それら前記半導体装
置形成領域に近接して設けられたレジンタブレットが位
置される穴を有するリードフレームを用意する工程と、 前記半導体支持部にボンディングパッドを有する半導体
素子を取り付ける工程と、 前記ボンディングパッドと前記インナリードとをワイヤ
で電気的接続する工程と、しかる後、 前記リードフレームの半導体装置形成領域のそれぞれに
対応した複数のキャビティを構成し、前記リードフレー
ムのレジンタブレットが位置される穴にポットの空間が
位置づけられる金型で型締めする工程と、 前記ポットにレジンタブレットを挿入し、前記キャビテ
ィ内に樹脂を注入し、前記半導体装置形成領域における
前記半導体素子、前記インナリードおよび前記ワイヤを
封止することを特徴とする電子装置の樹脂封止方法。
1. A plurality of semiconductor device forming regions, each including a semiconductor supporting portion, a plurality of inner leads whose ends are provided in the vicinity of the semiconductor supporting portion, and a plurality of outer leads connected to the inner leads, are provided. And a step of preparing a lead frame having a hole in which a resin tablet provided in the vicinity of the semiconductor device forming region is located; a step of attaching a semiconductor element having a bonding pad to the semiconductor supporting portion; A step of electrically connecting the pad and the inner lead with a wire, and thereafter forming a plurality of cavities corresponding to each of the semiconductor device forming regions of the lead frame, and a hole in which the resin tablet of the lead frame is located A step of clamping with a mold in which the pot space is positioned in the pot, and A resin encapsulation method for an electronic device, comprising inserting a tablet, injecting a resin into the cavity, and encapsulating the semiconductor element, the inner lead and the wire in the semiconductor device formation region.
【請求項2】前記リードフレームを用い、レジンを前記
ポットに連接するゲートを通して前記半導体装置形成領
域に流し込み樹脂封止することを特徴とする請求項1に
記載の電子装置の樹脂封止方法。
2. The method for resin encapsulation of an electronic device according to claim 1, wherein the lead frame is used and resin is poured into the semiconductor device formation region through a gate connected to the pot and resin encapsulation is performed.
【請求項3】前記レジンは、低吸湿レジンであることを
特徴とする請求項1に記載の電子装置の樹脂封止方法。
3. The resin sealing method for an electronic device according to claim 1, wherein the resin is a low hygroscopic resin.
【請求項4】前記穴は複数配列され、それぞれの穴の周
辺に位置して複数の前記半導体装置形成領域を有する前
記リードフレームを用いて樹脂封止することを特徴とす
る請求項1に記載の電子装置の樹脂封止方法。
4. The hole is arranged in a plurality, and is resin-sealed by using the lead frame having a plurality of semiconductor device formation regions located around each hole. Method for resin encapsulation of electronic device of.
【請求項5】半導体支持部、端部がその半導体支持部に
近接して設けられた複数のインナリード、前記インナリ
ードに連接した複数のアウタリードを一単位とした半導
体装置形成領域が複数個設けられ、それら前記半導体装
置形成領域に近接して設けられたレジンタブレットが位
置される穴を有することを特徴とするリードフレーム。
5. A semiconductor device forming region having a semiconductor supporting portion, a plurality of inner leads whose ends are provided in the vicinity of the semiconductor supporting portion, and a plurality of outer leads connected to the inner leads as one unit. And a hole in which a resin tablet provided in the vicinity of the semiconductor device forming region is located.
【請求項6】前記リードフレームは、Fe・Ni系合金
またはCu系合金から選択された材料で構成されること
を特徴とする請求項5に記載のリードフレーム。
6. The lead frame according to claim 5, wherein the lead frame is made of a material selected from a Fe.Ni-based alloy or a Cu-based alloy.
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