JPH07129773A - 画像処理方法および装置 - Google Patents
画像処理方法および装置Info
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- JPH07129773A JPH07129773A JP5274222A JP27422293A JPH07129773A JP H07129773 A JPH07129773 A JP H07129773A JP 5274222 A JP5274222 A JP 5274222A JP 27422293 A JP27422293 A JP 27422293A JP H07129773 A JPH07129773 A JP H07129773A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 画像中の直線成分の検出を行う画像処理方法
及び装置において、検出した直線成分の画像上での位置
や形状を、画像を再走査することなしに知ることのでき
る画像処理方法及び装置を提供する。 【構成】 位置−幾何多次元分布生成手段１は、画像中
の直線成分の検出を行う画像処理装置において、直線成
分構成候補点を通過する直線のパラメータと前記候補点
の位置パラメータで多次元分布を生成し出力する。直線
決定手段２は、前記多次元分布より直線成分を検出し、
前記直線成分のパラメータを出力する。分布解析手段３
は、前記多次元分布と前記直線成分のパラメータを入力
とし、前記多次元分布から前記直線成分に対応する部分
分布を抽出し、前記部分分布を解析し、直線の位置及び
形状情報を出力する。
及び装置において、検出した直線成分の画像上での位置
や形状を、画像を再走査することなしに知ることのでき
る画像処理方法及び装置を提供する。 【構成】 位置−幾何多次元分布生成手段１は、画像中
の直線成分の検出を行う画像処理装置において、直線成
分構成候補点を通過する直線のパラメータと前記候補点
の位置パラメータで多次元分布を生成し出力する。直線
決定手段２は、前記多次元分布より直線成分を検出し、
前記直線成分のパラメータを出力する。分布解析手段３
は、前記多次元分布と前記直線成分のパラメータを入力
とし、前記多次元分布から前記直線成分に対応する部分
分布を抽出し、前記部分分布を解析し、直線の位置及び
形状情報を出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画像中の直線成分を検出
し、同時に前記直線成分の位置及び形状に関する情報を
検出する画像処理方法及び装置に関するものである。
し、同時に前記直線成分の位置及び形状に関する情報を
検出する画像処理方法及び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】画像中の直線成分の検出を行う方法にお
いて、例えば特開平3-142576号公報の従来技術で説明さ
れているように、ハフ（Hough ）変換という方法があ
る。［森俊二、板倉栂子：画像認識の基礎II、オーム
社、pp.3-19 、1990］。以下、ハフ変換で直線を検出す
る方法を説明する。画像中のある抽出点を通る直線をそ
の抽出点を中心として回転させ、単位回転角度毎にその
抽出点を通る直線に画面上のｘ−ｙ座標原点から垂線を
引く。この垂線の長さをρ、垂線のｘ軸からの傾き角を
θとし、ρ−θ平面上に抽出点を通る全ての直線に対応
する点をプロットし、ρ−θ平面上にハフ曲線を得る。
以後、ρ−θ平面上にプロットすることをパラメータ空
間への投票と呼ぶ。なお、ρ、θと抽出点の座標ｘ、ｙ
の間にはρ＝ｘｃｏｓθ＋ｙｓｉｎθなる関係があり、
ρは計算により求めることができる。
いて、例えば特開平3-142576号公報の従来技術で説明さ
れているように、ハフ（Hough ）変換という方法があ
る。［森俊二、板倉栂子：画像認識の基礎II、オーム
社、pp.3-19 、1990］。以下、ハフ変換で直線を検出す
る方法を説明する。画像中のある抽出点を通る直線をそ
の抽出点を中心として回転させ、単位回転角度毎にその
抽出点を通る直線に画面上のｘ−ｙ座標原点から垂線を
引く。この垂線の長さをρ、垂線のｘ軸からの傾き角を
θとし、ρ−θ平面上に抽出点を通る全ての直線に対応
する点をプロットし、ρ−θ平面上にハフ曲線を得る。
以後、ρ−θ平面上にプロットすることをパラメータ空
間への投票と呼ぶ。なお、ρ、θと抽出点の座標ｘ、ｙ
の間にはρ＝ｘｃｏｓθ＋ｙｓｉｎθなる関係があり、
ρは計算により求めることができる。
【０００３】ある直線上に存在する複数の抽出点につい
てのハフ曲線は、ρ−θ平面上において一点で交わるか
ら、この交点からその直線を検出することができる。す
なわち、一直線上に複数の抽出点が存在する場合、各抽
出点に対応するハフ曲線は一点で交わり、その交差回数
はその抽出点の数に対応する。したがって、ハフ曲線の
交差回数について、ρ−θ平面上で局所的にピークとな
る点を求めればそのθ、ρから直線が特定される。
てのハフ曲線は、ρ−θ平面上において一点で交わるか
ら、この交点からその直線を検出することができる。す
なわち、一直線上に複数の抽出点が存在する場合、各抽
出点に対応するハフ曲線は一点で交わり、その交差回数
はその抽出点の数に対応する。したがって、ハフ曲線の
交差回数について、ρ−θ平面上で局所的にピークとな
る点を求めればそのθ、ρから直線が特定される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ハフ変換において、出
力されるのは直線成分のパラメータであり、検出した直
線成分が画像上のどの位置にあるか、どのような形状
（直線、点線、etc ）なのかは不明である。直線成分の
位置及び形状を知るためには、直線成分を検出した後
で、再び画像を直線成分の方向に走査する必要がある
が、一般にその処理は複雑であり、必ずしも望ましい結
果が得られないという問題がある。
力されるのは直線成分のパラメータであり、検出した直
線成分が画像上のどの位置にあるか、どのような形状
（直線、点線、etc ）なのかは不明である。直線成分の
位置及び形状を知るためには、直線成分を検出した後
で、再び画像を直線成分の方向に走査する必要がある
が、一般にその処理は複雑であり、必ずしも望ましい結
果が得られないという問題がある。
【０００５】本発明は、以上の問題を解決するものであ
り、あらかじめ直線成分を表すパラメータと直線成分を
構成する点の位置情報により多次元分布（以後、位置−
幾何多次元分布と呼ぶ）を生成し、検出した直線成分に
対応する部分分布を解析することにより、再度画像を走
査することなしに、検出した直線成分の位置及び形状に
関する情報を得るものである。
り、あらかじめ直線成分を表すパラメータと直線成分を
構成する点の位置情報により多次元分布（以後、位置−
幾何多次元分布と呼ぶ）を生成し、検出した直線成分に
対応する部分分布を解析することにより、再度画像を走
査することなしに、検出した直線成分の位置及び形状に
関する情報を得るものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１の発明の画像処理方
法は、直線成分構成候補点を抽出し、前記候補点を通過
する直線のパラメータと前記候補点の位置で多次元分布
を生成し、前記多次元分布より直線成分のパラメータを
検出し、検出した前記パラメータの位置に関する分布を
前記多次元分布より抽出して解析することにより、前記
直線成分を検出すると共に前記直線成分の画像上での位
置及び形状も検出することを特徴とする。
法は、直線成分構成候補点を抽出し、前記候補点を通過
する直線のパラメータと前記候補点の位置で多次元分布
を生成し、前記多次元分布より直線成分のパラメータを
検出し、検出した前記パラメータの位置に関する分布を
前記多次元分布より抽出して解析することにより、前記
直線成分を検出すると共に前記直線成分の画像上での位
置及び形状も検出することを特徴とする。
【０００７】第２の発明の画像処理装置は、直線成分構
成候補点を通過する直線のパラメータと前記候補点の位
置で多次元分布を生成し出力する、位置−幾何多次元分
布生成手段と、前記多次元分布より直線成分を検出し、
前記直線成分のパラメータを出力する、直線決定手段
と、前記多次元分布と前記直線成分のパラメータを入力
とし、前記多次元分布から前記直線成分に対応する部分
分布を抽出し、前記部分分布を解析し、直線の位置及び
形状情報を出力する、分布解析手段とからなることを特
徴とする。
成候補点を通過する直線のパラメータと前記候補点の位
置で多次元分布を生成し出力する、位置−幾何多次元分
布生成手段と、前記多次元分布より直線成分を検出し、
前記直線成分のパラメータを出力する、直線決定手段
と、前記多次元分布と前記直線成分のパラメータを入力
とし、前記多次元分布から前記直線成分に対応する部分
分布を抽出し、前記部分分布を解析し、直線の位置及び
形状情報を出力する、分布解析手段とからなることを特
徴とする。
【０００８】
【作用】本発明の画像処理方法では、直線成分を表すパ
ラメータと直線成分を構成する点の位置情報を対応づけ
て記憶することにより、再走査することなしに直線成分
の位置及び形状情報が計算できる。以下、直線成分を表
すパラメータを従来技術の例と同様にρ、θとし、直線
成分を構成する点の位置情報を前記点のｘ座標の値とし
て、本発明の原理を説明する。
ラメータと直線成分を構成する点の位置情報を対応づけ
て記憶することにより、再走査することなしに直線成分
の位置及び形状情報が計算できる。以下、直線成分を表
すパラメータを従来技術の例と同様にρ、θとし、直線
成分を構成する点の位置情報を前記点のｘ座標の値とし
て、本発明の原理を説明する。
【０００９】画像中のある抽出点を通る直線を前記抽出
点を中心として回転させ、単位回転角度毎に前記抽出点
を通る直線に画面上のｘ−ｙ座標原点から垂線を引く。
前記垂線の長さをρ、前記垂線のｘ軸からの傾き角をθ
とし、ρ−θ平面上に前記抽出点を通り単位回転角度毎
に引いた全ての直線に対応する点をプロットし、前記抽
出点のｘ座標値をρ−θ平面上にプロットされた各点に
対応させて、ρ、θ、ｘの３次元分布として記憶する。
この操作を画像中のすべての抽出点に対して行う。
点を中心として回転させ、単位回転角度毎に前記抽出点
を通る直線に画面上のｘ−ｙ座標原点から垂線を引く。
前記垂線の長さをρ、前記垂線のｘ軸からの傾き角をθ
とし、ρ−θ平面上に前記抽出点を通り単位回転角度毎
に引いた全ての直線に対応する点をプロットし、前記抽
出点のｘ座標値をρ−θ平面上にプロットされた各点に
対応させて、ρ、θ、ｘの３次元分布として記憶する。
この操作を画像中のすべての抽出点に対して行う。
【００１０】前記３次元分布をρ−θ平面に射影した２
次元分布は、従来技術で得られるρ−θ平面上の分布と
同一であり、従って、前記２次元分布上で局所的にピー
クとなる点を求めることにより、直線成分を決定するこ
とができる。
次元分布は、従来技術で得られるρ−θ平面上の分布と
同一であり、従って、前記２次元分布上で局所的にピー
クとなる点を求めることにより、直線成分を決定するこ
とができる。
【００１１】前記３次元分布から、決定された前記直線
成分のρ、θに対応する部分分布を抽出する。前記部分
分布は前記直線成分を構成する点のｘ座標値の分布であ
る。従って、前記部分分布を解析することにより、前記
直線成分のｘ軸方向に関する位置及び形状情報を得るこ
とができる。
成分のρ、θに対応する部分分布を抽出する。前記部分
分布は前記直線成分を構成する点のｘ座標値の分布であ
る。従って、前記部分分布を解析することにより、前記
直線成分のｘ軸方向に関する位置及び形状情報を得るこ
とができる。
【００１２】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【００１３】図１は本発明の画像処理装置の一実施例の
構成を示すブロック図である。この実施例は、点線を検
出するものであり、位置−幾何多次元分布生成手段１
と、直線決定手段２と、分布解析手段３を有しており、
位置−幾何多次元分布を構成し、この位置−幾何多次元
分布を解析して直線を決定し、位置−幾何多次元分布か
ら、決定した直線に対応する部分分布を抽出し、その分
布の周期性を調べて点線であるかどうかを判定すること
により、画像を再走査することなく点線を検出するもの
である。
構成を示すブロック図である。この実施例は、点線を検
出するものであり、位置−幾何多次元分布生成手段１
と、直線決定手段２と、分布解析手段３を有しており、
位置−幾何多次元分布を構成し、この位置−幾何多次元
分布を解析して直線を決定し、位置−幾何多次元分布か
ら、決定した直線に対応する部分分布を抽出し、その分
布の周期性を調べて点線であるかどうかを判定すること
により、画像を再走査することなく点線を検出するもの
である。
【００１４】入力画像として、図２に例示するような点
線１０１を含む２値画像があり、これを入力画像２１と
する。入力画像２１としては、１画素分の画像を複数の
画素に分割し、これらの画素のそれぞれについて０か１
の値をとる２値画像であることを想定して以後の説明を
行うが、通常の２値化の手法で前記濃淡画像を２値化し
て２値画像とすれば良い。入力画像２１の画素の位置を
座標（ｘ，ｙ）で表し、前記座標（ｘ，ｙ）の画素の値
をｆ0 （ｘ，ｙ）で表す。
線１０１を含む２値画像があり、これを入力画像２１と
する。入力画像２１としては、１画素分の画像を複数の
画素に分割し、これらの画素のそれぞれについて０か１
の値をとる２値画像であることを想定して以後の説明を
行うが、通常の２値化の手法で前記濃淡画像を２値化し
て２値画像とすれば良い。入力画像２１の画素の位置を
座標（ｘ，ｙ）で表し、前記座標（ｘ，ｙ）の画素の値
をｆ0 （ｘ，ｙ）で表す。
【００１５】位置−幾何多次元分布生成手段１は、入力
画像２１を入力とする。まず、直線ρ＝ｘｃｏｓθ＋ｙ
ｓｉｎθのパラメータ（ρ，θ）で構成されるρ−θ平
面をメッシュ状に分割する。メッシュの大きさは、例え
ばρ方向には１画素、θ方向には１°とし、図３のよう
に行う。
画像２１を入力とする。まず、直線ρ＝ｘｃｏｓθ＋ｙ
ｓｉｎθのパラメータ（ρ，θ）で構成されるρ−θ平
面をメッシュ状に分割する。メッシュの大きさは、例え
ばρ方向には１画素、θ方向には１°とし、図３のよう
に行う。
【００１６】次に（ｒ，ｓ，ｘ）及び（ｒ，ｓ，ｙ）を
引き数とする３次元配列Ｈｘ２２とＨｙ２３を用意す
る。配列Ｈｘ２２とＨｙ２３の大きさは、例えば、引き
数ｒに関しては入力画像２１の対角線の画素数、引き数
ｓに関しては１８０、引き数ｘに関しては入力画像２１
のｘ軸方向の大きさ、引き数ｙに関しては入力画像２１
のｙ軸方向の大きさとする。
引き数とする３次元配列Ｈｘ２２とＨｙ２３を用意す
る。配列Ｈｘ２２とＨｙ２３の大きさは、例えば、引き
数ｒに関しては入力画像２１の対角線の画素数、引き数
ｓに関しては１８０、引き数ｘに関しては入力画像２１
のｘ軸方向の大きさ、引き数ｙに関しては入力画像２１
のｙ軸方向の大きさとする。
【００１７】ここで配列Ｈｘ，Ｈｙの引き数ｒ、ｓを、
（ｒ，ｓ）＝（０，０）はメッシュ１０２に、（ｒ，
ｓ）＝（０，１）はメッシュ１０３に、（ｒ，ｓ）＝
（１，０）はメッシュ１０４に、というように前記ρ−
θ平面上のメッシュに１対１に対応させておく。
（ｒ，ｓ）＝（０，０）はメッシュ１０２に、（ｒ，
ｓ）＝（０，１）はメッシュ１０３に、（ｒ，ｓ）＝
（１，０）はメッシュ１０４に、というように前記ρ−
θ平面上のメッシュに１対１に対応させておく。
【００１８】ｆ（ｘ，ｙ）＝１となる点を直線成分構成
候補点とし、前記点を通る直線を、前記点を中心とし、
先に定めたメッシュのθ方向の大きさを単位回転角度と
して回転させ、各直線に対応するパラメータの値を前記
ρ−θ平面にプロットする。プロットされた点を含むメ
ッシュに対応する（ｒ，ｓ）を（ｒj ，ｓj ）とすると
き、配列Ｈｘ２２の要素（ｒj ，ｓj ，ｘj ）と配列Ｈ
ｙ２３の要素（ｒj ，ｓj ，ｙj ）の値を１インクリメ
ントする。全てのｆ（ｘ，ｙ）＝１となる点に関して同
様に処理した後、得られた配列Ｈｘ２２とＨｙ２３を出
力する。
候補点とし、前記点を通る直線を、前記点を中心とし、
先に定めたメッシュのθ方向の大きさを単位回転角度と
して回転させ、各直線に対応するパラメータの値を前記
ρ−θ平面にプロットする。プロットされた点を含むメ
ッシュに対応する（ｒ，ｓ）を（ｒj ，ｓj ）とすると
き、配列Ｈｘ２２の要素（ｒj ，ｓj ，ｘj ）と配列Ｈ
ｙ２３の要素（ｒj ，ｓj ，ｙj ）の値を１インクリメ
ントする。全てのｆ（ｘ，ｙ）＝１となる点に関して同
様に処理した後、得られた配列Ｈｘ２２とＨｙ２３を出
力する。
【００１９】直線決定手段２は配列Ｈｘ２２を入力と
し、配列Ｈｘ２２に対して引き数ｘに関して式(1) のよ
うにサーメーションをとり、２次元配列Ｈ（ｒ，ｓ）を
計算する。ただし、XSIZE は入力画像２１のｘ方向の大
きさとする。
し、配列Ｈｘ２２に対して引き数ｘに関して式(1) のよ
うにサーメーションをとり、２次元配列Ｈ（ｒ，ｓ）を
計算する。ただし、XSIZE は入力画像２１のｘ方向の大
きさとする。
【００２０】 配列Ｈは通常のハフ変換で得られる２次元配列と同一で
あり、ハフ変換と同様にして、配列Ｈの要素値の中から
極大値をとるピークを検出し、直線成分のパラメータ群
（ｒp 、ｓp ）｛p=1,・・,P｝２４として、分布解析手段
３へ出力する。ただしP は検出されたピークの数であ
る。なお、入力として配列Ｈｙ２３でも良く、その場合
は引き数ｙに関してサーメーションとり、配列Ｈを得
る。
あり、ハフ変換と同様にして、配列Ｈの要素値の中から
極大値をとるピークを検出し、直線成分のパラメータ群
（ｒp 、ｓp ）｛p=1,・・,P｝２４として、分布解析手段
３へ出力する。ただしP は検出されたピークの数であ
る。なお、入力として配列Ｈｙ２３でも良く、その場合
は引き数ｙに関してサーメーションとり、配列Ｈを得
る。
【００２１】ここで、位置−幾何多次元分布生成手段１
は配列Ｈｘ２２及びＨｙ２３を出力し、直線決定手段２
は配列Ｈｘ２２もしくはＨｙ２３を入力とするように構
成したが、位置−幾何多次元分布生成手段１で配列Ｈｘ
２２とＨｙ２３を生成する時に、同時に配列Ｈも生成し
て出力し、直線決定手段２では配列Ｈを入力とすること
によって、サーメーションをとる処理を省略する構成も
考えられる。
は配列Ｈｘ２２及びＨｙ２３を出力し、直線決定手段２
は配列Ｈｘ２２もしくはＨｙ２３を入力とするように構
成したが、位置−幾何多次元分布生成手段１で配列Ｈｘ
２２とＨｙ２３を生成する時に、同時に配列Ｈも生成し
て出力し、直線決定手段２では配列Ｈを入力とすること
によって、サーメーションをとる処理を省略する構成も
考えられる。
【００２２】分布解析手段３は配列Ｈｘ２２とＨｙ２３
と前記直線成分のパラメータ群（ｒp 、ｓp ）｛p=1,・
・,P｝２４を入力とする。配列Ｈｘ２２及びＨｙ２３か
ら前記直線成分のパラメータ群（ｒp 、ｓp ）｛p=1,・
・,P｝に対応する１次元配列Ｇｘ（ｒp 、ｓp 、ｘ）｛p
=1,・・,P｝及びＧｙ（ｒp 、ｓp 、ｙ）｛p=1,・・,P｝を
抽出して、その周期性を解析し、直線成分が点線である
かどうかを判定して、点線であると判定されたパラメー
タ群だけを点線信号２５として出力する。図４に、点線
１０１に対応するＧｘ及びＧｙのグラフを示す。判定の
方法としては、例えば、Ｇｘ及びＧｙに対して、Ｆｘ及
びＦｙを次式で計算する。
と前記直線成分のパラメータ群（ｒp 、ｓp ）｛p=1,・
・,P｝２４を入力とする。配列Ｈｘ２２及びＨｙ２３か
ら前記直線成分のパラメータ群（ｒp 、ｓp ）｛p=1,・
・,P｝に対応する１次元配列Ｇｘ（ｒp 、ｓp 、ｘ）｛p
=1,・・,P｝及びＧｙ（ｒp 、ｓp 、ｙ）｛p=1,・・,P｝を
抽出して、その周期性を解析し、直線成分が点線である
かどうかを判定して、点線であると判定されたパラメー
タ群だけを点線信号２５として出力する。図４に、点線
１０１に対応するＧｘ及びＧｙのグラフを示す。判定の
方法としては、例えば、Ｇｘ及びＧｙに対して、Ｆｘ及
びＦｙを次式で計算する。
【００２３】 Ｆｘ（ｘ）＝１ ｉｆ Ｇｘ（ｒp ，ｓp ，ｘ）＝１ ＝−１ ｏｔｈｅｒ （２） Ｆｙ（ｙ）＝１ ｉｆ Ｇｙ（ｒp ，ｓp ，ｙ）＝１ ＝−１ ｏｔｈｅｒ （３） Ｆｘ、Ｆｙに対して、（４）式、（５）式で自己共分散
関数Ｒｘ（ｋ）｛k=1,・・,K｝、Ｒｙ（ｈ）｛l=1,・・,H｝
を計算する。ただし、K=XSIZE ×0.2 、H=YSIZE ×0.2
とし、YSIZE は入力画像２１のｙ方向の大きさとする。 Ｒｘ，Ｒｙに対して、（６）式、（７）式でパワースペ
クトル密度Ｓｘ（ｆ）、Ｓｙ（ｆ）｛0<f<=0.5｝を計算
する。
関数Ｒｘ（ｋ）｛k=1,・・,K｝、Ｒｙ（ｈ）｛l=1,・・,H｝
を計算する。ただし、K=XSIZE ×0.2 、H=YSIZE ×0.2
とし、YSIZE は入力画像２１のｙ方向の大きさとする。 Ｒｘ，Ｒｙに対して、（６）式、（７）式でパワースペ
クトル密度Ｓｘ（ｆ）、Ｓｙ（ｆ）｛0<f<=0.5｝を計算
する。
【００２４】 ただし、λk 及びκh は、例えば、Tukey のウインドウ
［中溝高好：信号解析とシステム同定、コロナ社、pp.3
8 、1988］とし、（８）式で与えるとする。 λk ＝（１＋ｃｏｓ（πｋ／Ｋ））／２ 、ｋ＝０，１，・・、Ｋ （８） κh ＝（１＋ｃｏｓ（πｈ／Ｈ））／２ 、ｈ＝０，１，・・、Ｈ （９） 次の（条件１）か（条件２）が満たされるとき、点線で
あると判定する。ただし、Ｔは点線と判定される直線成
分が持つべき最低の周期成分の強さで、あらかじめ設定
しておく。
［中溝高好：信号解析とシステム同定、コロナ社、pp.3
8 、1988］とし、（８）式で与えるとする。 λk ＝（１＋ｃｏｓ（πｋ／Ｋ））／２ 、ｋ＝０，１，・・、Ｋ （８） κh ＝（１＋ｃｏｓ（πｈ／Ｈ））／２ 、ｈ＝０，１，・・、Ｈ （９） 次の（条件１）か（条件２）が満たされるとき、点線で
あると判定する。ただし、Ｔは点線と判定される直線成
分が持つべき最低の周期成分の強さで、あらかじめ設定
しておく。
【００２５】（条件１） ｍａｘ Ｓｘ（ｆ） ＞ Ｔ 0<f<=0.5 （条件２） ｍａｘ Ｓｙ（ｆ） ＞ Ｔ 0<f<=0.5 以上、実施例をもって本発明を詳細に説明したが、本発
明はこの実施例に限定されるものではなく、例えば、直
線成分を構成する点の位置情報として、直線成分を含む
直線に原点から下ろした垂線と前記直線との交点から前
記点までの距離を用いることによって、実施例では２つ
必要であった多次元分布の配列を１つ生成するだけで、
同様の効果が得られる実施例を構成できる。
明はこの実施例に限定されるものではなく、例えば、直
線成分を構成する点の位置情報として、直線成分を含む
直線に原点から下ろした垂線と前記直線との交点から前
記点までの距離を用いることによって、実施例では２つ
必要であった多次元分布の配列を１つ生成するだけで、
同様の効果が得られる実施例を構成できる。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
あらかじめ位置−幾何多次元分布を生成し、位置−幾何
多次元分布から、検出した直線成分に対応する部分分布
を抽出し解析することにより、再度画像を走査すること
なしに、検出した直線成分の位置及び形状情報を得るこ
とができる。
あらかじめ位置−幾何多次元分布を生成し、位置−幾何
多次元分布から、検出した直線成分に対応する部分分布
を抽出し解析することにより、再度画像を走査すること
なしに、検出した直線成分の位置及び形状情報を得るこ
とができる。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】入力に用いる画像の１例を表す図である。
【図３】図１中の位置−幾何多次元分布生成手段におけ
るρ−θ平面の分割の仕方の１例を表す図である。
るρ−θ平面の分割の仕方の１例を表す図である。
【図４】図２の点線に対応する部分分布をグラフ化した
図である。
図である。
１ 位置−幾何多次元分布生成手段 ２ 直線決定手段 ３ 分布解析手段 ２１ 入力画像 ２２ 配列Ｈｘ ２３ 配列Ｈｙ ２４ 直線成分のパラメータ群 ２５ 点線信号 １０１ 点線 １０２，１０３，１０４ 分割されたρ−θ平面にお
けるメッシュ
けるメッシュ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 9061−5Ｌ ３５０ Ｊ
Claims (4)
- 【請求項１】 画像中の直線成分の検出を行う画像処理
方法において、直線成分構成候補点を抽出し、前記候補
点を通過する直線のパラメータと前記候補点の位置パラ
メータで多次元分布を生成し、前記多次元分布より直線
成分のパラメータを検出し、前記パラメータの位置に関
する分布を前記多次元分布より抽出して解析することに
より、前記直線成分を検出すると共に前記直線成分の画
像上での位置及び形状も検出することを特徴とする画像
処理方法。 - 【請求項２】 画像中の直線成分の検出を行う画像処理
装置において、直線成分構成候補点を通過する直線のパ
ラメータと前記候補点の位置パラメータで多次元分布を
生成し出力する位置−幾何多次元分布生成手段と、前記
多次元分布より直線成分を検出し、前記直線成分のパラ
メータを出力する直線決定手段と、前記多次元分布と前
記直線成分のパラメータを入力とし、前記多次元分布か
ら前記直線成分に対応する部分分布を抽出し、前記部分
分布を解析し、直線の位置及び形状情報を出力する分布
解析手段とからなることを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項３】 直線成分を構成する点の位置情報とし
て、直線成分を含む直線に原点から下ろした垂線と前記
直線との交点から前記点までの距離を用いることを特徴
とする請求項１記載の画像処理方法。 - 【請求項４】 直線成分を構成する点の位置情報とし
て、直線成分を含む直線に原点から下ろした垂線と前記
直線との交点から前記点までの距離を用いることを特徴
とする請求項２記載の画像処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5274222A JPH07129773A (ja) | 1993-11-02 | 1993-11-02 | 画像処理方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5274222A JPH07129773A (ja) | 1993-11-02 | 1993-11-02 | 画像処理方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07129773A true JPH07129773A (ja) | 1995-05-19 |
Family
ID=17538730
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5274222A Pending JPH07129773A (ja) | 1993-11-02 | 1993-11-02 | 画像処理方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07129773A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010009501A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Fujitsu Ltd | 画像処理装置およびその方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61121183A (ja) * | 1984-11-19 | 1986-06-09 | Fujitsu Ltd | 不連続線分図形識別方式 |
| JPH04205681A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 線分抽出装置 |
-
1993
- 1993-11-02 JP JP5274222A patent/JPH07129773A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61121183A (ja) * | 1984-11-19 | 1986-06-09 | Fujitsu Ltd | 不連続線分図形識別方式 |
| JPH04205681A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 線分抽出装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010009501A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Fujitsu Ltd | 画像処理装置およびその方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19970204 |