JPH0712676A - テープファイバのスキュー測定方法 - Google Patents
テープファイバのスキュー測定方法Info
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- JPH0712676A JPH0712676A JP14894793A JP14894793A JPH0712676A JP H0712676 A JPH0712676 A JP H0712676A JP 14894793 A JP14894793 A JP 14894793A JP 14894793 A JP14894793 A JP 14894793A JP H0712676 A JPH0712676 A JP H0712676A
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- 239000000835 fiber Substances 0.000 title claims abstract description 67
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 40
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 11
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 テープファイバの各ファイバ中での光伝搬時
間そのものを測定し、そのばらつきであるスキューを精
度良く求める方法を提供する。 【構成】 パルスＬＤ光源１から発振されたパルス光
を、３dBカプラ３に入射させて分岐し、一方を光コネク
タ５を経てサンプルテープファイバ６の１心に入射させ
る。入射したパルス光はファイバ８の開放端で反射した
後、カプラ３を経て光サンプリングオシロスコープ２に
入射する。これに対し、他方の分岐パルス光は、カプラ
３の開放端９で反射した後、同様にオシロスコープ２に
入射する。こうしてカプラ３で合波された反射パルス光
の時間間隔を測定することで、各ファイバ８中での光伝
搬時間が測定され、テープファイバ６のスキューが求め
られる。
間そのものを測定し、そのばらつきであるスキューを精
度良く求める方法を提供する。 【構成】 パルスＬＤ光源１から発振されたパルス光
を、３dBカプラ３に入射させて分岐し、一方を光コネク
タ５を経てサンプルテープファイバ６の１心に入射させ
る。入射したパルス光はファイバ８の開放端で反射した
後、カプラ３を経て光サンプリングオシロスコープ２に
入射する。これに対し、他方の分岐パルス光は、カプラ
３の開放端９で反射した後、同様にオシロスコープ２に
入射する。こうしてカプラ３で合波された反射パルス光
の時間間隔を測定することで、各ファイバ８中での光伝
搬時間が測定され、テープファイバ６のスキューが求め
られる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テープファイバにおい
て各光ファイバ間の光伝搬時間のばらつきであるスキュ
ーを精度良く測定する方法に関する。
て各光ファイバ間の光伝搬時間のばらつきであるスキュ
ーを精度良く測定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、装置やボード間の高速、高密度配
線を軽量小型、高信頼、低価格で実現する手段として、
テープ状の光ファイバを用いた並列光伝送方式が有望視
されている。そして、このようなテープファイバの信頼
性は、各光ファイバ間の光伝搬時間のばらつきであるス
キューにより評価されることが多い。
線を軽量小型、高信頼、低価格で実現する手段として、
テープ状の光ファイバを用いた並列光伝送方式が有望視
されている。そして、このようなテープファイバの信頼
性は、各光ファイバ間の光伝搬時間のばらつきであるス
キューにより評価されることが多い。
【０００３】従来から、テープファイバのスキューは、
図３に示すように、レーザーダイオードを用いたパルス
光源（パルスＬＤ光源）１と光サンプリングオシロスコ
ープ２、および３dBカプラ（光分岐器）３、タイミング
ジェネレータ４等から構成される測定系で測定されてい
る。すなわち、この測定系では、パルスＬＤ光源１から
発振されたピコ秒（psec）オーダーのパルス光が、３dB
カプラ３で２つに分岐された後、一方のパルス光が光コ
ネクタ５を経てテープファイバ６の１心に、また他方の
パルス光が基準ファイバ７にそれぞれ入射する。そし
て、入射したこれらのパルス光はそれぞれのファイバの
開放端で反射した後、再び前記した３dBカプラ３に入射
して合波され、光サンプリングオシロスコープ２に入射
する。そして、この光サンプリングオシロスコープ２に
より、これらの反射パルス光の時間間隔（時間の差）を
測定することで、各ファイバ８間の光伝搬時間のばらつ
きすなわちスキューが求められる。なお、測定結果につ
いては、テープファイバ６および基準ファイバ７を、い
ずれも測定校正点（図中Ａで示す）から先に装着しない
状態で測定し校正を行う。
図３に示すように、レーザーダイオードを用いたパルス
光源（パルスＬＤ光源）１と光サンプリングオシロスコ
ープ２、および３dBカプラ（光分岐器）３、タイミング
ジェネレータ４等から構成される測定系で測定されてい
る。すなわち、この測定系では、パルスＬＤ光源１から
発振されたピコ秒（psec）オーダーのパルス光が、３dB
カプラ３で２つに分岐された後、一方のパルス光が光コ
ネクタ５を経てテープファイバ６の１心に、また他方の
パルス光が基準ファイバ７にそれぞれ入射する。そし
て、入射したこれらのパルス光はそれぞれのファイバの
開放端で反射した後、再び前記した３dBカプラ３に入射
して合波され、光サンプリングオシロスコープ２に入射
する。そして、この光サンプリングオシロスコープ２に
より、これらの反射パルス光の時間間隔（時間の差）を
測定することで、各ファイバ８間の光伝搬時間のばらつ
きすなわちスキューが求められる。なお、測定結果につ
いては、テープファイバ６および基準ファイバ７を、い
ずれも測定校正点（図中Ａで示す）から先に装着しない
状態で測定し校正を行う。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来からのスキュー測定方法においては、テープフ
ァイバ６のスキューは測定されるが、各ファイバ８中で
の光伝搬時間そのものは測定されなかった。また、基準
ファイバ７の条長を、測定すべきテープファイバ６の条
長とcmのオーダーで同じにしなければならず、測定の準
備が面倒であるという問題があった。
うな従来からのスキュー測定方法においては、テープフ
ァイバ６のスキューは測定されるが、各ファイバ８中で
の光伝搬時間そのものは測定されなかった。また、基準
ファイバ７の条長を、測定すべきテープファイバ６の条
長とcmのオーダーで同じにしなければならず、測定の準
備が面倒であるという問題があった。
【０００５】本発明はこれらの問題を解決するためにな
されたもので、テープファイバの各ファイバ中での光伝
搬時間そのものを測定し、そのばらつきであるスキュー
を精度良く求める方法を提供することを目的とする。
されたもので、テープファイバの各ファイバ中での光伝
搬時間そのものを測定し、そのばらつきであるスキュー
を精度良く求める方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のテープファイバ
のスキュー測定方法は、パルス光源から発振され光分岐
器により２つに分岐されたパルス光の一方を、テープフ
ァイバの１心に入射させ、その開放端で反射させるとと
もに、他方のパルス光を前記光分岐器の開放端で反射さ
せ、これらの反射パルス光を前記光分岐器により合波し
た後、時間間隔を測定することを特徴とする。
のスキュー測定方法は、パルス光源から発振され光分岐
器により２つに分岐されたパルス光の一方を、テープフ
ァイバの１心に入射させ、その開放端で反射させるとと
もに、他方のパルス光を前記光分岐器の開放端で反射さ
せ、これらの反射パルス光を前記光分岐器により合波し
た後、時間間隔を測定することを特徴とする。
【０００７】また、パルス光源から発振されたパルス光
を、一方の出力端子が無反射端とされた光分岐器に入射
させて分岐し、分岐されたパルス光の一方を、コネクタ
を経てテープファイバの１心に入射させてその開放端で
反射させ、この反射パルス光を前記コネクタでの反射パ
ルス光と前記光分岐器により合波した後、これらの反射
パルス光の時間間隔を測定することを特徴とする。
を、一方の出力端子が無反射端とされた光分岐器に入射
させて分岐し、分岐されたパルス光の一方を、コネクタ
を経てテープファイバの１心に入射させてその開放端で
反射させ、この反射パルス光を前記コネクタでの反射パ
ルス光と前記光分岐器により合波した後、これらの反射
パルス光の時間間隔を測定することを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明の測定方法においては、パルス光源から
発振され光分岐器により２つに分岐されたパルス光の一
方が、コネクタを経由して測定すべきテープファイバの
１つのファイバ心に入射し、その反対側の開放端で反射
した後、再び光分岐器に入射する。そして第１の発明に
おいては、分岐された他方のパルス光が光分岐器の開放
端で反射した後、再び光分岐器に入射し、ここで前記し
たファイバ開放端での反射光と合波される。また、第２
の発明においては、光分岐器の他方の出力端子が無反射
端となっており、前記ファイバ心に入射するパルス光の
一部が、コネクタで反射した後再び光分岐器に入射し、
ここで前記ファイバ反射光と合波される。そして、これ
ら２つの反射パルス光の時間間隔が、オシロスコープ等
により測定され、その測定結果から、テープファイバの
各ファイバ中での光伝搬時間がそれぞれ測定され、さら
にファイバ間の光伝搬時間のばらつきであるスキューが
求められる。このように、本発明の測定方法によれば、
基準ファイバを必要とすることなく、テープファイバの
各ファイバ中での光伝搬時間を個別に測定し、スキュー
を精度良く測定することができる。
発振され光分岐器により２つに分岐されたパルス光の一
方が、コネクタを経由して測定すべきテープファイバの
１つのファイバ心に入射し、その反対側の開放端で反射
した後、再び光分岐器に入射する。そして第１の発明に
おいては、分岐された他方のパルス光が光分岐器の開放
端で反射した後、再び光分岐器に入射し、ここで前記し
たファイバ開放端での反射光と合波される。また、第２
の発明においては、光分岐器の他方の出力端子が無反射
端となっており、前記ファイバ心に入射するパルス光の
一部が、コネクタで反射した後再び光分岐器に入射し、
ここで前記ファイバ反射光と合波される。そして、これ
ら２つの反射パルス光の時間間隔が、オシロスコープ等
により測定され、その測定結果から、テープファイバの
各ファイバ中での光伝搬時間がそれぞれ測定され、さら
にファイバ間の光伝搬時間のばらつきであるスキューが
求められる。このように、本発明の測定方法によれば、
基準ファイバを必要とすることなく、テープファイバの
各ファイバ中での光伝搬時間を個別に測定し、スキュー
を精度良く測定することができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
【００１０】実施例においては、図１に示すように、条
長１００m で片端に４心コネクタ５が装着された４心シ
ングルモード（ＳＭ）テープファイバ６（各心はＳＭ１
０／１２５ファイバ）のスキューを測定し評価するにあ
たり、タイミングジェネレータ４からの信号によりパル
スＬＤ光源１から発振されたピコ秒パルス光を、光分岐
器である３dBカプラ３に入射させて２つのパルス光に分
岐する。そして、一方のパルス光を、光コネクタ５を経
て前記したサンプルテープファイバ６の所定の１心に入
射させる。テープファイバ６の１心に入射したパルス光
は、そのファイバ８の反対側の開放端で反射した後、前
記３dBカプラ３を経由して光サンプリングオシロスコー
プ２に入射する。これに対して分岐された他方のパルス
光は、３dBカプラ３の開放端９で反射した後、同様に光
サンプリングオシロスコープ２に入射する。こうして３
dBカプラ３で合波された２つの反射パルス光の時間間隔
を、光サンプリングオシロスコープ２により各ファイバ
８ごとに測定することで、ファイバ８中での光伝搬時間
が測定される。そして、こうして測定された光伝搬時間
のばらつきを調べることにより、サンプルテープファイ
バ６のスキューが求められる。なお、０点の調整（測定
校正）は、テープファイバ６を光コネクタ５に装着せず
に同様な測定を行い、２つの反射パルス光の時間間隔を
測定することにより行われる。
長１００m で片端に４心コネクタ５が装着された４心シ
ングルモード（ＳＭ）テープファイバ６（各心はＳＭ１
０／１２５ファイバ）のスキューを測定し評価するにあ
たり、タイミングジェネレータ４からの信号によりパル
スＬＤ光源１から発振されたピコ秒パルス光を、光分岐
器である３dBカプラ３に入射させて２つのパルス光に分
岐する。そして、一方のパルス光を、光コネクタ５を経
て前記したサンプルテープファイバ６の所定の１心に入
射させる。テープファイバ６の１心に入射したパルス光
は、そのファイバ８の反対側の開放端で反射した後、前
記３dBカプラ３を経由して光サンプリングオシロスコー
プ２に入射する。これに対して分岐された他方のパルス
光は、３dBカプラ３の開放端９で反射した後、同様に光
サンプリングオシロスコープ２に入射する。こうして３
dBカプラ３で合波された２つの反射パルス光の時間間隔
を、光サンプリングオシロスコープ２により各ファイバ
８ごとに測定することで、ファイバ８中での光伝搬時間
が測定される。そして、こうして測定された光伝搬時間
のばらつきを調べることにより、サンプルテープファイ
バ６のスキューが求められる。なお、０点の調整（測定
校正）は、テープファイバ６を光コネクタ５に装着せず
に同様な測定を行い、２つの反射パルス光の時間間隔を
測定することにより行われる。
【００１１】次に、本発明の別の実施例について説明す
る。この実施例においては、図２に示すように、パルス
ＬＤ光源１から発振されたピコ秒パルス光を、３dBカプ
ラ３に入射させて分岐する。ここで、３dBカプラ３の出
力端子の一方には、４心ＳＭテープファイバ６を光コネ
クタ５を介して接続し、もう一方の出力端子は光が全く
反射しない無反射端１０とする。そして、分岐されたパ
ルス光を、光コネクタ５を経てサンプルテープファイバ
６の所定の１心に入射させる。このとき、光コネクタ５
での反射パルス光が、３dBカプラ３を通り光サンプリン
グオシロスコープ２に入射する。テープファイバ６の１
心に入射したパルス光は、そのファイバ８の開放端で反
射した後、前記３dBカプラ３を経由して光サンプリング
オシロスコープ２に入射する。こうして３dBカプラ３で
合波された２つの反射パルス光の時間間隔を、光サンプ
リングオシロスコープ２により各ファイバ８ごとに測定
することで、ファイバ８中での光伝搬時間が測定され、
測定された光伝搬時間のばらつきを調べることにより、
テープファイバ６のスキューが求められる。
る。この実施例においては、図２に示すように、パルス
ＬＤ光源１から発振されたピコ秒パルス光を、３dBカプ
ラ３に入射させて分岐する。ここで、３dBカプラ３の出
力端子の一方には、４心ＳＭテープファイバ６を光コネ
クタ５を介して接続し、もう一方の出力端子は光が全く
反射しない無反射端１０とする。そして、分岐されたパ
ルス光を、光コネクタ５を経てサンプルテープファイバ
６の所定の１心に入射させる。このとき、光コネクタ５
での反射パルス光が、３dBカプラ３を通り光サンプリン
グオシロスコープ２に入射する。テープファイバ６の１
心に入射したパルス光は、そのファイバ８の開放端で反
射した後、前記３dBカプラ３を経由して光サンプリング
オシロスコープ２に入射する。こうして３dBカプラ３で
合波された２つの反射パルス光の時間間隔を、光サンプ
リングオシロスコープ２により各ファイバ８ごとに測定
することで、ファイバ８中での光伝搬時間が測定され、
測定された光伝搬時間のばらつきを調べることにより、
テープファイバ６のスキューが求められる。
【００１２】このように、実施例の測定方法によれば、
基準ファイバを必要とすることなく、各ファイバ８中で
の光伝搬時間を個別に測定し、テープファイバ６のスキ
ューを精度良く測定することができる。
基準ファイバを必要とすることなく、各ファイバ８中で
の光伝搬時間を個別に測定し、テープファイバ６のスキ
ューを精度良く測定することができる。
【００１３】なお、実施例においては、パルス光源とし
て波長が極めて良く揃ったＬＤ光源（半導体レーザー光
源）を使用しているが、これに限定されず、波長可変光
源を用いことも可能である。波長可変光源を用いた場合
には、テープファイバ中での光伝搬時間の波長依存性を
測定することができ、それによりスキューの波長依存性
を調べることができる。
て波長が極めて良く揃ったＬＤ光源（半導体レーザー光
源）を使用しているが、これに限定されず、波長可変光
源を用いことも可能である。波長可変光源を用いた場合
には、テープファイバ中での光伝搬時間の波長依存性を
測定することができ、それによりスキューの波長依存性
を調べることができる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明の測定方法に
よれば、テープファイバの各ファイバ中での光伝搬時間
そのものを測定することができ、そのファイバ間のばら
つきであるスキューを精度良く求めることができる。
よれば、テープファイバの各ファイバ中での光伝搬時間
そのものを測定することができ、そのファイバ間のばら
つきであるスキューを精度良く求めることができる。
【図１】本発明のテープファイバのスキュー測定方法の
一実施例を説明するための図。
一実施例を説明するための図。
【図２】本発明の別の実施例を説明するための図。
【図３】従来からのテープファイバのスキュー測定方法
を説明するための図。
を説明するための図。
１………パルスＬＤ光源 ２………光サンプリングオシロスコープ ３………３dBカプラ ４………タイミングジェネレータ ５………光コネクタ ６………テープファイバ ７………基準ファイバ ８………ファイバ ９………カプラ開放端 １０………無反射端
Claims (2)
- 【請求項１】 パルス光源から発振され光分岐器により
２つに分岐されたパルス光の一方を、テープファイバの
１心に入射させ、その開放端で反射させるとともに、他
方のパルス光を前記光分岐器の開放端で反射させ、これ
らの反射パルス光を前記光分岐器により合波した後、時
間間隔を測定することを特徴とするテープファイバのス
キュー測定方法。 - 【請求項２】 パルス光源から発振されたパルス光を、
一方の出力端子が無反射端とされた光分岐器に入射させ
て分岐し、分岐されたパルス光の一方を、コネクタを経
てテープファイバの１心に入射させてその開放端で反射
させ、この反射パルス光を前記コネクタでの反射パルス
光と前記光分岐器により合波した後、これらの反射パル
ス光の時間間隔を測定することを特徴とするテープファ
イバのスキュー測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14894793A JPH0712676A (ja) | 1993-06-21 | 1993-06-21 | テープファイバのスキュー測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14894793A JPH0712676A (ja) | 1993-06-21 | 1993-06-21 | テープファイバのスキュー測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0712676A true JPH0712676A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=15464220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14894793A Withdrawn JPH0712676A (ja) | 1993-06-21 | 1993-06-21 | テープファイバのスキュー測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0712676A (ja) |
-
1993
- 1993-06-21 JP JP14894793A patent/JPH0712676A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000905 |