JPH07119724B2 - 乾燥装置における水分測定方法 - Google Patents

乾燥装置における水分測定方法

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JPH07119724B2
JPH07119724B2 JP61033376A JP3337686A JPH07119724B2 JP H07119724 B2 JPH07119724 B2 JP H07119724B2 JP 61033376 A JP61033376 A JP 61033376A JP 3337686 A JP3337686 A JP 3337686A JP H07119724 B2 JPH07119724 B2 JP H07119724B2
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grain
moisture
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measurement
measured
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泰一 森
清明 水津
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Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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  • Drying Of Solid Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、乾燥装置における水分測定方法に係るもので
ある。
(従来技術) 従来公知の、特開昭58−106445号公報には、多数回連続
して含水率データの異常値が検出されないときは正常と
してデータを取込み、予測値とする技術について記載さ
れている。
また、従来公知の、特公昭58−56109号公報には、乾燥
装置に取付けられている水分測定装置の電極ロール間に
穀物を供給しこれを圧砕して水分測定を行なうにあた
り、供給初期には、前回測定資料分が電極ロールに付着
していることもあるから、これを排除して計測するよう
にすることが記載されている。
(発明が解決しようとする課題) しかし、前者の特開昭58−106445号公報に記載されたも
のは、多数回連続して含水率データの異常値が検出され
ないときは正常としてデータを取込んで予測値とする技
術であるが、多数回も含水率データを取ると、必ず異常
値が検出されるので、いつまでも予測値が得られない問
題がある。また、外部の穀物の水分も測定しようとする
ようなときは、30粒〜50粒も容器に取って、これを一度
に圧砕して計測するから、多数回連続して含水率データ
の異常値が検出されないまでデータを採る技術では、計
測はできない。
また、従来公知の、特公昭58−56109号公報には、供給
初期のデータを除外する考えが記載されているが、これ
は、単に、前回測定資料分が電極ロールに付着している
から、除外するというものである。
(課題を解決するための手段) よって、本発明は、乾燥装置に取付けられている水分測
定装置の電極ロール間に穀物の多粒を一時に供給しこれ
を圧砕して水分測定を行なうにあたり、測定初期の立上
り時間t1は除き、該立上り時間t1に続く一定測定時間t2
の水分を測定し、これを平均して仮平均値(イ)とし、
該仮平均値(イ)を基準に上限カットレベル(ロ)と下
限カットレベル(ハ)を定め、その後、その範囲より外
れるものは除外し範囲内のもののみをサンプリングタイ
ムt3の間隔で所望回数計測して穀物の水分値を求める乾
燥装置における水分測定方法としたものである。
(実施例) 本発明の方法に用いる装置の一実施例を図面により説明
すると、1は乾燥機などに取付けられている水分計本体
ケースで、該水分計本体ケース1内には、横軸2により
軸装されている一粒送りの送穀ロール3を設ける。送穀
ロール3は一定の長さに形成され、その前半部4は円筒
部5の表面に螺旋送り溝6を刻設した構造で、螺旋送り
溝6、6の間は平坦な円筒部5に形成されている。
送穀ロール3の前半部4に対する後半部7には送穀螺旋
翼8を形成し、送穀螺旋翼8以外の部分は小径円筒9に
形成される。送穀螺旋翼8は翼面で送穀するのではな
く、その外周縁に前記螺旋送り溝6を形成し、該螺旋送
り溝6により送穀する。
送穀ロール3の側部には板10が開閉自在に当接される。
板10は上部が横軸11に軸着され、バネ12により弾力的に
送穀ロール3に当接する。板10は、送穀ロール3の前半
部4が当接する部分は上下方向に長く形成されるが、送
穀ロール3の後半部7に当接する部分は切欠れて切欠部
13を形成し、したがって、送穀螺旋翼8の外縁の螺旋送
り溝6で送られた穀粒は、切欠部13のところまで来ると
一粒ずつ下方に落下する。
前記送穀ロール3と板10の下方に左右一対の電極ロール
14、15を設ける。送穀ロール3と板10の間より落下した
ものは、電極ロール14、15に誘導されるように穀粒案内
ガイド16を設ける。
しかして、水分計本体ケース1の板10の近傍位置には窓
孔17を設け、窓孔17にシェル18を回動自在に軸着19す
る。シェル18は直立すると窓孔17を閉塞して、水分計本
体ケース1より穀粒が外部に飛散することを防止する。
シェル18は上方よりみるとコの字型で両側に側壁20、21
を設ける。シェル18にはこれに嵌合するサンプルカップ
22を着脱自在に嵌合させる。
サンプルカップ22は、サンプルを30乃至50粒ぐらい掬え
るスプーンであり、シェル18の上縁に係合する押板23を
有する。すなわち、シェル18を外側に開き、サンプルカ
ップ22をシェル18に嵌め込み、サンプルカップ22とシェ
ル18とを一緒に閉じると、サンプルは落下して穀粒案内
ガイド16で案内され、電極ロール14、15により水分が測
定される。
シェル18の側壁20の先端には係合部24を設ける。係合部
24はシェル18を開くと、板10をイ方向に回動させる役割
を有し、前記板10の所望位置には係合部24に当接する係
合板25を突設させる。26は穀粒である。
第9図は前記装置を自動化させたときのブロック図であ
り、27は抵抗電圧変換器、28はアナログデジタル変換
機、29はCPU、30は出力インターフェース、31はデジタ
ル表示部、32は入力インターフェースである。
(作用) 次に作用を述べる。
通常の乾燥作業中は、板10はバネ12の弾力で送穀ロール
3に当接している。したがって、乾燥装置の穀物のうち
の一部が、板10と前半部4の間に誘導供給されると、送
穀ロール3が回転していることにより穀粒26は一粒ずつ
ロ方向に移動し、前半部4の螺旋送り溝6から、後半部
7の送穀螺旋翼8の螺旋送り溝6に移動する。この位置
では切欠部13があるので、切欠部13では自由になり落下
し、電極ロール14、15で砕穀されて水分の測定がされ
る。
しかして、電極ロール14、15の間で電気抵抗が測定され
ると、該抵抗値は抵抗電圧変換器27によりアナログ電圧
に変換され、これをアナログデジタル変換機(A/Dコン
バーター)28によりデジタルに変換してCPU29に入力
し、出力インターフェース30より出力させる。このと
き、測定初期の立上り時間t1のところは不安定値なので
カットし、前記時間t1に続く例えば2秒間の測定時間t2
の水分を測定して仮平均値(イ)とし、該仮平均値
(イ)より2割の範囲で上限カットレベル(ロ)と下限
カットレベル(ハ)とを定める。その後、前記上限カッ
トレベル(ロ)と下限カットレベル(ハ)の範囲から外
れるところは第8図のように測定せず、範囲内だけを測
定時間T1、T2、T3のようにサンプリングタイムt3の間隔
で所望回数計測し、その結果から穀物の水分値を求め
る。
第8図では、T1のときはサンプリングタイムt3が約8回
測定され、T2ではサンプリングタイムt3の間隔が約12回
測定され、T3ではサンプリングタイムt3の間隔が約17回
測定されている。
しかして、機外の穀物を測定しようとするときは、サン
プルカップ22を第6図のハ方向に引張ると、シェル18は
回動し、サンプルカップ22は水分計本体ケース1外に露
出し、シェル18より外すことができる。この状態では、
シェル18の側壁20の係合部24が、板10の係合板25に当っ
て、係合板25を回動させるから、板10は第2図のイ方向
に移動し、板10と送穀ロール3との間に隙間を作る。そ
のため、螺旋送り溝6により送穀は行なわれず、機内の
水分測定はされない。
そこで、サンプルカップ22により機外の穀物26を30粒〜
50粒ほど掬い、サンプルカップ22をシェル18に嵌め込
み、窓孔17を蓋するように押し込むと一度に流下して、
電極ロール14、15に供給され、多数が一度に砕穀されて
水分の測定がされるが、このときも、前記上限カットレ
ベル(ロ)と下限カットレベル(ハ)とを越える数値は
カットされ、所望回数計測された結果が穀物の水分値と
して表示される。
同時に係合板25と係合部24の当接は解除されるので、板
10は元どおり送穀ロール3に当接し、螺旋送り溝6によ
り穀粒26をロ方向に移動させるが、ロ方向の移動は一定
時間必要とするから、サンプルの計測に支障は来たさな
い。
(効果) 前者の特開昭58−106445号公報に記載されたものは、多
数回連続して含水率データの異常値が検出されないとき
は正常としてデータを取込んで予測値とする技術である
が、多数回も含水率データを取ると、必ず異常値が検出
されるので、いつまでも予測値が得られない問題があ
る。また、外部の穀物の水分も測定しようとするような
ときは、30粒〜50粒も容器に取って、これを一度に圧砕
して計測するから、多数回連続して含水率データの異常
値が検出されないまでデータを採る技術では、計測はで
きない。
また、従来公知の、特公昭58−56109号公報には、供給
初期のデータを除外する考えが記載されているが、これ
は、単に、前回測定資料分が電極ロールに付着している
から、除外するというものである。
しかるに、本発明は、乾燥装置に取付けられている水分
測定装置の電極ロール間に穀物の多粒を一時に供給しこ
れを圧砕して水分測定を行なうにあたり、測定初期の立
上り時間t1は除き、該立上り時間t1に続く一定測定時間
t2の水分を測定し、これを平均して仮平均値(イ)と
し、該仮平均値(イ)を基準に上限カットレベル(ロ)
と下限カットレベル(ハ)を定め、その後、その範囲よ
り外れるものは除外し範囲内のもののみをサンプリング
タイムt3の間隔で所望回数計測して穀物の水分値を求め
る乾燥装置における水分測定方法としたから、 イ、電極ロール間に一粒だけ供給するものでなく、穀物
の多粒を一時に供給しこれを圧砕して水分測定を行なう
から、一粒に比し平均化できる。
ロ、測定初期の立上り時間t1は除き、該立上り時間t1に
続く測定時間t2の水分を例えば約2秒間測定してこれを
仮平均値(イ)とするものであるから、公知例のように
多数回連続して含水率データの異常値が検出されなくな
るまで含水率データを採る方法に比し、仮平均値(イ)
は、瞬時に得られる。
ハ、上記の仮平均値(イ)を基準に上限カットレベル
(ロ)と下限カットレベル(ハ)を定めて範囲を定め、
該範囲より外れるところはカットし、該範囲内の値だけ
をサンプリングタイムt3の間隔で所望回数計測するか
ら、前記範囲より外れるところはカットすることによ
り、第8図のような突然の乱れ数値(藁屑を測定した
り、その他の異物を測定したときの数値)は除外し、前
記範囲内だけをしかもサンプリングタイムt3の間隔で所
望回数計測するから、穀物の正確な水分値の測定ができ
る効果がある。
という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は測定部の斜視図、第2図は同側面図、第3図は
全体の正面図、第4図は同一部切欠図、第5図は板の斜
視図、第6図は要部分解図、第7図はサンプルカップと
シェルの分解図、第8図は計測状態図、第9図はブロッ
ク図である。 符号の説明 1……水分計本体ケース、2……横軸、3……送穀ロー
ル、4……前半部、5……円筒部、6……螺旋送り溝、
7……後半部、8……送穀螺旋翼、9……小径円筒、10
……板、11……横軸、12……バネ、13……切欠部、14、
15……電極ロール、16……穀粒案内ガイド、17……窓
孔、18……シェル、19……軸着、20……側壁、21……側
壁、22……サンプルカップ、23……押板、24……係合
部、25……係合板、26……穀粒、27……抵抗電圧変換
器、28……アナログデジタル変換機、29……CPU、30…
…出力インターフェース、31……デジタル表示部、32…
…入力インターフェース。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】乾燥装置に取付けられている水分測定装置
    の電極ロール間に穀物の多粒を一時に供給しこれを圧砕
    して水分測定を行なうにあたり、測定初期の立上り時間
    t1は除き、該立上り時間t1に続く一定測定時間t2の水分
    を測定し、これを平均して仮平均値(イ)とし、該仮平
    均値(イ)を基準に上限カットレベル(ロ)と下限カッ
    トレベル(ハ)を定め、その後、その範囲より外れるも
    のは除外し範囲内のもののみをサンプリングタイムt3の
    間隔で所望回数計測して穀物の水分値を求める乾燥装置
    における水分測定方法。
JP61033376A 1986-02-18 1986-02-18 乾燥装置における水分測定方法 Expired - Lifetime JPH07119724B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5856109A (ja) * 1981-09-30 1983-04-02 Toshiba Corp 主幹制御装置
JPS58106445A (ja) * 1981-12-18 1983-06-24 Tatsumoto Akihiro 穀物自動水分計のデ−タ取込方法

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