JPH07110305A - 光沢のある金属面の画像処理検査方法 - Google Patents
光沢のある金属面の画像処理検査方法Info
- Publication number
- JPH07110305A JPH07110305A JP5277517A JP27751793A JPH07110305A JP H07110305 A JPH07110305 A JP H07110305A JP 5277517 A JP5277517 A JP 5277517A JP 27751793 A JP27751793 A JP 27751793A JP H07110305 A JPH07110305 A JP H07110305A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- work
- camera
- image processing
- ccd camera
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光沢のある金属面を外観検査するに於いて、
ワークを傾けたり、照明の角度を制御したりすることな
く、またワークのエッヂ部分と欠陥部分の乱反射を選択
して欠陥部分をとらえ、人間の目による検査と同等の検
査をできるようにする。 【構成】 ワークを水平に置き、同軸落射による照明方
法により光とＣＣＤカメラの線を同軸にして、ワーク全
面に均等な光量を与え、ＣＣＤカメラでとらえた画面を
グレースケールの画像処理装置で解析し、ワークのエッ
ヂ部分をマスキングして除外した上、表面欠陥部を周り
よりも暗くとらえるようにして外観検査することを特徴
とする光沢のある金属面の画像処理検査方法。
ワークを傾けたり、照明の角度を制御したりすることな
く、またワークのエッヂ部分と欠陥部分の乱反射を選択
して欠陥部分をとらえ、人間の目による検査と同等の検
査をできるようにする。 【構成】 ワークを水平に置き、同軸落射による照明方
法により光とＣＣＤカメラの線を同軸にして、ワーク全
面に均等な光量を与え、ＣＣＤカメラでとらえた画面を
グレースケールの画像処理装置で解析し、ワークのエッ
ヂ部分をマスキングして除外した上、表面欠陥部を周り
よりも暗くとらえるようにして外観検査することを特徴
とする光沢のある金属面の画像処理検査方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、金属面の外観検査にお
いて、特にＡｕ等の光沢めっき、コイン等のメダル光沢
部の外観への傷、異物等の付着有無の検査を画像処理装
置を用いて自動的に行う方法に関する。
いて、特にＡｕ等の光沢めっき、コイン等のメダル光沢
部の外観への傷、異物等の付着有無の検査を画像処理装
置を用いて自動的に行う方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より金属面の外観検査は、一般に照
明法で行われる。照明法は、スポット、平板、リング等
の方法があるが、反射率の高い金属光沢面を画面でとら
えようとすると、一部又は全面が反射したりして光って
しまい、鮮明な画面をとらえられない。また、欠陥部の
み乱反射を利用し、とらえようとすると、ワークの傾
き、照明の角度に微妙な制御が必要で、実用的ではな
い。例えば、図２に示すようにワーク１が平面10mm×10
mm程度と小さい場合、カメラレンズ２に照明３の反射光
４を導入させる為には、ワーク１及び照明３に微妙な調
整を要す。また、リング照明では、ワーク１のエッヂ部
等での乱反射光と欠陥部での乱反射光の見分けがつかな
い。
明法で行われる。照明法は、スポット、平板、リング等
の方法があるが、反射率の高い金属光沢面を画面でとら
えようとすると、一部又は全面が反射したりして光って
しまい、鮮明な画面をとらえられない。また、欠陥部の
み乱反射を利用し、とらえようとすると、ワークの傾
き、照明の角度に微妙な制御が必要で、実用的ではな
い。例えば、図２に示すようにワーク１が平面10mm×10
mm程度と小さい場合、カメラレンズ２に照明３の反射光
４を導入させる為には、ワーク１及び照明３に微妙な調
整を要す。また、リング照明では、ワーク１のエッヂ部
等での乱反射光と欠陥部での乱反射光の見分けがつかな
い。
【０００３】また画像処理装置は、２値化式、カラー式
等があるが、前者は僅かな乱反射欠陥として認識してし
まい、ノイズカットのレベル設定が難しく、後者は装置
が高価であり、経済効果が薄くなる。
等があるが、前者は僅かな乱反射欠陥として認識してし
まい、ノイズカットのレベル設定が難しく、後者は装置
が高価であり、経済効果が薄くなる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明は、光沢
のある金属面を外観検査するに於いて、ワークを傾けた
り、照明の角度を制御したりすることなく、またワーク
のエッヂ部分と欠陥部分の乱反射を選択して、欠陥部分
をとらえ、人間の目による検査と同等の検査ができるよ
うにした光沢のある金属面の画像処理方法を提供しよう
とするものである。
のある金属面を外観検査するに於いて、ワークを傾けた
り、照明の角度を制御したりすることなく、またワーク
のエッヂ部分と欠陥部分の乱反射を選択して、欠陥部分
をとらえ、人間の目による検査と同等の検査ができるよ
うにした光沢のある金属面の画像処理方法を提供しよう
とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の光沢のある金属面の画像処理検査方法は、ワ
ークを水平に置き、同軸落射による照明方法により光と
ＣＣＤカメラの線を同軸にして、ワーク全面に均等な光
量を与え、ＣＣＤカメラでとらえた画面をグレースケー
ルの画像処理装置で解析し、ワークのエッヂ部分をマス
キングして除外した上、表面欠陥部を周りよりも暗くと
らえるようにして外観検査することを特徴とするもので
ある。
の本発明の光沢のある金属面の画像処理検査方法は、ワ
ークを水平に置き、同軸落射による照明方法により光と
ＣＣＤカメラの線を同軸にして、ワーク全面に均等な光
量を与え、ＣＣＤカメラでとらえた画面をグレースケー
ルの画像処理装置で解析し、ワークのエッヂ部分をマス
キングして除外した上、表面欠陥部を周りよりも暗くと
らえるようにして外観検査することを特徴とするもので
ある。
【０００６】
【作用】上記のように本発明の画像処理検査方法による
と、金属製品の面の全面に均等な光量が与えられるの
で、局所的に光る現象が無くなり、且つ欠陥部は、散乱
光となり、ＣＣＤカメラで画面をとらえると、黒くでて
くるので、欠陥の大きさを判別し易い。また、ＣＣＤカ
メラでとらえた画面を、グレースケールの画像処理装置
で解析して、ワークのエッヂ部分をマスキングして除外
した上、表面欠陥部を周りよりも暗くとらえるので、欠
陥部分を確実に検出でき、金属製品の外観検査の自動化
を達成できる。特にＣＣＤカメラでとらえた画面が鮮明
であれば、画像処理装置でしきい値も適切に設定できる
ので、人間の目の感覚と同等の画像判断が可能となり、
検査精度が向上する。
と、金属製品の面の全面に均等な光量が与えられるの
で、局所的に光る現象が無くなり、且つ欠陥部は、散乱
光となり、ＣＣＤカメラで画面をとらえると、黒くでて
くるので、欠陥の大きさを判別し易い。また、ＣＣＤカ
メラでとらえた画面を、グレースケールの画像処理装置
で解析して、ワークのエッヂ部分をマスキングして除外
した上、表面欠陥部を周りよりも暗くとらえるので、欠
陥部分を確実に検出でき、金属製品の外観検査の自動化
を達成できる。特にＣＣＤカメラでとらえた画面が鮮明
であれば、画像処理装置でしきい値も適切に設定できる
ので、人間の目の感覚と同等の画像判断が可能となり、
検査精度が向上する。
【０００７】
【実施例】本発明による光沢のある貴金属加工面の画像
処理検査方法の一実施例を図１によって説明すると、Ａ
ｕめっき10を施したワーク11を水平に基台12上に設置
し、同軸落射による照明方法により、即ち、照明13を側
方に配し、この照明13からの光をプリズム14により直角
にワーク11にカメラレンズ15を通して照射し、その反射
光を垂直上方のＣＣＤカメラ16に受けるようにし、光と
ＣＣＤカメラ16の線を同軸にする。かくしてワーク11の
全面に均等な光量が与えられ、局所的に光る現象が無く
なり、欠陥部17は散乱光となり、ＣＣＤカメラ16で画面
をとらえると、黒くでてくるので、欠陥の大きさを判別
し易い。こうして同軸落射照明でＣＣＤカメラ16にとら
えた画面を、グレースケールの画像処理装置18に送って
解析し、ワーク11のエッヂ部分即ち刻印部分をマスキン
グ処理して除外した上、欠陥部分を周りよりも暗くとら
えることにより、欠陥部分が検出されることになり、ワ
ーク11の外観検査の自動化が達成される。特にＣＣＤカ
メラ16でとらえた画面が鮮明であると、画像処理装置18
でしきい値も適切に設定できるので、人間の目の感覚と
同等の画像判断が可能となり、検査精度が向上する。
尚、画像処理装置18は、図示せぬシーケンサー又はマイ
コン及びＣＲＴに接続制御されるものである。
処理検査方法の一実施例を図１によって説明すると、Ａ
ｕめっき10を施したワーク11を水平に基台12上に設置
し、同軸落射による照明方法により、即ち、照明13を側
方に配し、この照明13からの光をプリズム14により直角
にワーク11にカメラレンズ15を通して照射し、その反射
光を垂直上方のＣＣＤカメラ16に受けるようにし、光と
ＣＣＤカメラ16の線を同軸にする。かくしてワーク11の
全面に均等な光量が与えられ、局所的に光る現象が無く
なり、欠陥部17は散乱光となり、ＣＣＤカメラ16で画面
をとらえると、黒くでてくるので、欠陥の大きさを判別
し易い。こうして同軸落射照明でＣＣＤカメラ16にとら
えた画面を、グレースケールの画像処理装置18に送って
解析し、ワーク11のエッヂ部分即ち刻印部分をマスキン
グ処理して除外した上、欠陥部分を周りよりも暗くとら
えることにより、欠陥部分が検出されることになり、ワ
ーク11の外観検査の自動化が達成される。特にＣＣＤカ
メラ16でとらえた画面が鮮明であると、画像処理装置18
でしきい値も適切に設定できるので、人間の目の感覚と
同等の画像判断が可能となり、検査精度が向上する。
尚、画像処理装置18は、図示せぬシーケンサー又はマイ
コン及びＣＲＴに接続制御されるものである。
【０００８】以上の説明で判るように本発明によれば、
光沢のある金属面（貴金属めっき面を含む）の外観検査
を、工程内検査とし、自動化できる。またワークを傾け
たり、照明の角度を制御したりすることなく、またワー
クのエッヂ部分と欠陥部分の乱反射を選択して、欠陥部
分をとらえ、人間の目による検査と同等の精度の高い検
査ができる。
光沢のある金属面（貴金属めっき面を含む）の外観検査
を、工程内検査とし、自動化できる。またワークを傾け
たり、照明の角度を制御したりすることなく、またワー
クのエッヂ部分と欠陥部分の乱反射を選択して、欠陥部
分をとらえ、人間の目による検査と同等の精度の高い検
査ができる。
【図１】本発明の光沢のある金属面の画像処理検査方法
の一実施例の説明図である。
の一実施例の説明図である。
【図２】従来の金属面の外観検査方法を示す図である。
【符号の説明】 10 Ａｕめっき 11 ワーク 12 基台 13 照明 14 プリズム 15 カメラレンズ 16 ＣＣＤカメラ 17 欠陥部 18 画像処理装置
Claims (1)
- 【請求項１】 ワークを水平に置き、同軸落射による照
明方法により光とＣＣＤカメラの線を同軸にして、ワー
ク全面に均等な光量を与え、ＣＣＤカメラでとらえた画
面をグレースケールの画像処理装置より装置で解析し、
ワークのエッヂ部分をマスキングして除外した上、表面
欠陥部を周りよりも暗くとらえるようにして外観検査す
ることを特徴とする光沢のある金属面の画像処理検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5277517A JPH07110305A (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | 光沢のある金属面の画像処理検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5277517A JPH07110305A (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | 光沢のある金属面の画像処理検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07110305A true JPH07110305A (ja) | 1995-04-25 |
Family
ID=17584704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5277517A Pending JPH07110305A (ja) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | 光沢のある金属面の画像処理検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07110305A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7099002B2 (en) | 2001-06-21 | 2006-08-29 | Ricoh Company, Ltd. | Defect detector and method of detecting defect |
| JPWO2005083399A1 (ja) * | 2004-02-27 | 2008-01-17 | 株式会社テクニカル | 多方向同時観察光学系、画像読み取り装置、画像読み取り方法および多方向同時観察光学系複合体 |
| WO2009122765A1 (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-08 | マイクロ・スクェア株式会社 | 側視用光学部材及び画像処理システム |
| JP2014006852A (ja) * | 2012-06-27 | 2014-01-16 | Seiko Epson Corp | 認識処理方法、認識処理装置、ロボットシステム及び認識処理プログラム |
-
1993
- 1993-10-08 JP JP5277517A patent/JPH07110305A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7099002B2 (en) | 2001-06-21 | 2006-08-29 | Ricoh Company, Ltd. | Defect detector and method of detecting defect |
| JPWO2005083399A1 (ja) * | 2004-02-27 | 2008-01-17 | 株式会社テクニカル | 多方向同時観察光学系、画像読み取り装置、画像読み取り方法および多方向同時観察光学系複合体 |
| WO2009122765A1 (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-08 | マイクロ・スクェア株式会社 | 側視用光学部材及び画像処理システム |
| JP2014006852A (ja) * | 2012-06-27 | 2014-01-16 | Seiko Epson Corp | 認識処理方法、認識処理装置、ロボットシステム及び認識処理プログラム |
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