JPH07109960B2 - Electronic component positioning method and device - Google Patents

Electronic component positioning method and device

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JPH07109960B2
JPH07109960B2 JP3292160A JP29216091A JPH07109960B2 JP H07109960 B2 JPH07109960 B2 JP H07109960B2 JP 3292160 A JP3292160 A JP 3292160A JP 29216091 A JP29216091 A JP 29216091A JP H07109960 B2 JPH07109960 B2 JP H07109960B2
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substrate
positioning
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、例えば自動実装され
る基板と電子部品の位置情報および傾情報を求め、両者
を位置決めする電子部品の位置決め方法および装置に関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component positioning method and apparatus for obtaining positional information and tilt information of a substrate and an electronic component to be automatically mounted and positioning them.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年の電子部品は、自動実装を行うこと
によって組付け工程数を減少させるとともに、組付けの
正確性を確保している。このためには電子部品をその取
付位置に正確に取付る必要がある。
2. Description of the Related Art Recent electronic components reduce the number of assembly steps by performing automatic mounting and ensure the accuracy of assembly. For this purpose, it is necessary to accurately mount the electronic component at the mounting position.

【0003】抵抗あるいはコンデンサのような2端子の
電子部品であれば端子数が少ないので取付けに厳密な精
度を要求されない。しかしながら、ポリイミドフィルム
上にICチップを樹脂モールドしたファインピッチの銅
箔リードを有するTAB等の電子部品は、液晶パネル等
のガラスパネル(以下、基板という)上にパターン化さ
れたインジュームと錫の酸化化合物からなる透明電極
(ITO)リード上に、厚み方向には導電性を有し面方
向には絶縁性を有する異方性導電フィルムを介して熱圧
着される。
In the case of a two-terminal electronic component such as a resistor or a capacitor, since the number of terminals is small, it is not necessary to have strict accuracy in mounting. However, electronic components such as TAB having fine-pitch copper foil leads obtained by resin-molding an IC chip on a polyimide film are used to form patterned indium and tin on a glass panel (hereinafter referred to as a substrate) such as a liquid crystal panel. Thermocompression bonding is performed on a transparent electrode (ITO) lead made of an oxide compound through an anisotropic conductive film having conductivity in the thickness direction and insulating property in the plane direction.

【0004】一方、基板や電子部品に配設されている多
数のリードのピッチは0.18〜0.25mmで、その
リード幅も0.09〜0.125mm程度であるから、
基板に電子部品を取り付ける際には厳密な取付精度が要
求される。このため、単純に制御しただけでは正確に取
り付けることは困難になってくる。
On the other hand, the pitch of many leads arranged on the substrate and electronic parts is 0.18 to 0.25 mm, and the lead width is about 0.09 to 0.125 mm.
Strict mounting accuracy is required when mounting electronic components on a board. For this reason, it becomes difficult to mount the device accurately by simply controlling it.

【0005】そこで、従来はそれぞれ専用のTVカメラ
で基板および電子部品の両端に設けられている位置決め
用+字マークを撮像し、その撮像結果から基板および電
子部品の位置と傾とを求め、その位置および傾が所定量
以上の場合は、位置補正する制御が行われていた。
Therefore, conventionally, a dedicated TV camera images the positioning + -shaped marks provided on both ends of the board and the electronic component respectively, and the position and the tilt of the board and the electronic component are obtained from the imaged result. When the position and the tilt are equal to or more than a predetermined amount, the position correction control is performed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする問題点】しかしながら、TA
Bのようなフィルム状の電子部品は、樹脂モールド工程
における熱処理により反りが発生しやすい。このように
反りの生じたフィルム上の位置決め用マークをTVカメ
ラを用いて非接触で撮影した場合、位置決め用マークの
位置やマーク間の距離を正確に計測することが出来ず、
基板と電子部品のリードを正確に位置決めすることが出
来ないという問題があった。又、基板とTABのような
電子部品はそれぞれ専用のTVカメラで撮像され、傾等
の位置情報が求められていたので、基板と電子部品との
画像処理は、並列処理することが出来ず、処理時間が長
くなるという問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, TA
A film-shaped electronic component such as B is likely to warp due to heat treatment in the resin molding process. When the positioning marks on the film thus warped are photographed in a non-contact manner using a TV camera, the positions of the positioning marks and the distance between the marks cannot be accurately measured,
There is a problem that the leads of the board and the electronic component cannot be accurately positioned. Moreover, since the board and the electronic parts such as the TAB are respectively imaged by the dedicated TV cameras and the positional information of the tilt and the like is required, the image processing of the board and the electronic parts cannot be performed in parallel. There is a problem that the processing time becomes long.

【0007】[0007]

【問題点を解決するための手段】この発明は,少なくと
も2箇所に位置決めマークが配設されているとともに、
この両位置決めマークの間に、多数のリードが配設され
ている基板と、この基板のリードに対応するリードが配
設されている電子部品との位置決め方法において、視野
の大きな第1の撮像装置により,基板上の少なくとも2
ヶ所の位置決めマークを順次撮像し,それぞれ得られた
この位置決めマークの位置情報から求めたこの位置決め
マークの増加分に基づいて基板のX、Y方向のあらい位
置決めをするとともに、この基板の傾を求め、この基板
のリードと電子部品のリードとを同一軸線上に対向位置
させて両端近傍にある両端リード群を視野の小さな第2
および第3の撮像装置によりそれぞれ撮像し、この撮像
された基板の両端のリード群の各位置情報からこの両リ
ード群の平均位置をそれぞれ求め、この両端リード群の
両平均位置から基板のリード位置の中点を求め、撮像さ
れた前記電子部品の両端のリード群の位置情報からこの
両リード群のリード先端の平均位置および傾をそれぞれ
求め、この両リード群のリード先端の両平均位置および
両傾の平均から電子部品のリード位置の中点および傾を
求め、基板のリードの中点および基板の傾と電子部品の
リードの中点および電子部品の傾とを一致させて基板に
電子部品を位置決めした後、基板のリード上に電子部品
のリードを重ね合わせるようにしたものである。
According to the present invention, positioning marks are provided at least at two positions, and
A first imaging device having a large field of view in a method of positioning a board having a large number of leads between the both positioning marks and an electronic component having leads corresponding to the leads of the board. Allows at least 2 on the board
The positioning marks are sequentially picked up, and the rough positioning of the substrate in the X and Y directions is performed based on the increment of the positioning mark obtained from the obtained position information of the positioning mark, and the tilt of the substrate is determined. The lead of this substrate and the lead of the electronic component are positioned to face each other on the same axis, and a group of leads at both ends near both ends has a small field of view.
And the third image pickup device, and the average positions of both lead groups are respectively obtained from the imaged position information of the lead groups at both ends of the substrate, and the lead position of the substrate is obtained from both average positions of the both end lead groups. The average position and inclination of the lead tips of both lead groups are respectively obtained from the imaged position information of the lead groups at both ends of the electronic component. The midpoint and tilt of the lead position of the electronic component is calculated from the average of the tilts, and the midpoint of the lead of the board and the tilt of the substrate are aligned with the midpoint of the lead of the electronic component and the tilt of the electronic component to place the electronic component on the board. After positioning, the leads of the electronic component are superposed on the leads of the substrate.

【0008】[0008]

【作用】基板1はX−Yテーブル7上に載置されてい
る。この基板1の両端に配設されている位置決めマーク
4は、視野の大きな第1の撮像装置9で順次撮像され、
この画像信号はA/D変換器14によりデジタル信号に
変換されてイメージメモリ17に記憶される。ここから
読み出された画像信号は、多値化処理によりそれぞれ重
心が求められ、両座標が決定される。この両座標の増加
分(ΔX、ΔY)の位置情報は、X−Yテーブル駆動制
御部37に入力され、基板1のX、Y方向のあらい位置
決めがなされるとともに、この増加分(ΔX、ΔY)か
ら基板1の傾θPNLが次式θPNL=Tan−1ΔY
/ΔXから求められメモリ33に記憶される。
The substrate 1 is placed on the XY table 7. The positioning marks 4 arranged at both ends of the substrate 1 are sequentially imaged by the first imaging device 9 having a large field of view,
This image signal is converted into a digital signal by the A / D converter 14 and stored in the image memory 17. The center of gravity of each of the image signals read from this is obtained by multi-valued processing, and both coordinates are determined. The position information of the increments (ΔX, ΔY) of these two coordinates is input to the XY table drive control unit 37 to perform rough positioning of the substrate 1 in the X and Y directions, and the increments (ΔX, ΔY). ), The inclination θ PNL of the substrate 1 is expressed by the following equation θ PNL = Tan −1 ΔY
Calculated from / ΔX and stored in the memory 33.

【0009】基板1のITOリード3と電子部品2のT
ABリード5とは同一軸線上に対向配置され、両リード
3、5の両端が、それぞれ第2および第3の撮像装置1
0、11で撮像され、この画像信号はA/D変換器1
5、16によりそれぞれデジタル信号に変換されてイメ
ージメモリ18、19に記憶される。
The ITO lead 3 of the substrate 1 and the T of the electronic component 2
The lead 3 is arranged so as to face the AB lead 5 on the same axis, and both ends of both the leads 3 and 5 are the second and third image pickup devices 1 respectively.
The image signal is picked up by 0 and 11, and this image signal is A / D converter 1
The signals 5 and 16 are converted into digital signals and stored in the image memories 18 and 19, respectively.

【0010】イメージメモリ18、19から一端リード
位置情報検出部25に読み出されたITOリード3の一
端リード群3Lのうち4本のリードの画像情報が、それ
ぞれ二値化処理され、一端リード群3Lの平均位置X
ITOLが求められ、メモリ33に記憶される。同様に
して、基板1の他端のリード3の平均位置XITOR
求められ、メモリ33に記憶される。又、イメージメモ
リ18から一端リード位置情報傾情報検出部27に読み
出された電子部品2のTABリード5の一端リード群5
Lのうち4本のリードの画像信号が、それぞれ多値化処
理され、リード先端の平均位置XTABLおよび傾θ
TABLが求められ、メモリ33に記憶される。同様に
して、イメージメモリ19から他端リード位置情報傾情
報検出部28に読み出された電子部品2の他端リード群
5Rのリード先端の平均位置XTABRおよび傾θ
TABRが求められ、メモリ33に記憶される。
The image information of four leads of the one-end lead group 3L of the ITO lead 3 read out from the image memories 18 and 19 to the one-end lead position information detecting section 25 is binarized to obtain one-end lead group. 3L average position X
ITAL is determined and stored in memory 33. Similarly, the average position X ITOR of the lead 3 at the other end of the substrate 1 is obtained and stored in the memory 33. In addition, the one-end lead group 5 of the TAB leads 5 of the electronic component 2 read from the image memory 18 to the one-end lead position information tilt information detection unit 27.
The image signals of four leads of L are subjected to multi-value processing, and the average position X TABL of the lead tip and the inclination θ are obtained.
TABL is determined and stored in memory 33. Similarly, the average position X TABR and inclination θ of the lead tips of the other end lead group 5R of the electronic component 2 read from the image memory 19 to the other end lead position information inclination information detection unit 28.
TABR is determined and stored in memory 33.

【0011】基板1のリード3の両平均位置XITOL
とXITORとの中点PITOから基板1の位置決め点
が決定される。一方、電子部品2のTABリード5の平
均位置XTABLとXTABRとの中点PTABから電
子部品2の位置決めがなされ、又傾θTABLとθ
TABRの中点θTABおよび基板1の傾θPNLから
電子部品2の傾θTABが決定され、これらの値は、X
−Y−θテーブル駆動制御部に入力し、X−Y−θテー
ブル8を駆動して基板1のITOリード3と電子部品2
のTABリード5との位置合わせがなされる。
Both average positions of the leads 3 of the substrate 1 X ITOL
The positioning point of the substrate 1 is determined based on the midpoint P ITO of the X and I TOR . On the other hand, the electronic component 2 is positioned from the midpoint P TAB between the average positions X TABL and X TABR of the TAB lead 5 of the electronic component 2, and the inclinations θ TABL and θ
The inclination θ TAB of the electronic component 2 is determined from the middle point θ TAB of the TABR and the inclination θ PNL of the substrate 1, and these values are X
Input to the -Y-θ table drive control unit to drive the XY-θ table 8 to drive the ITO lead 3 of the substrate 1 and the electronic component 2
The TAB leads 5 are aligned with each other.

【0012】[0012]

【発明の実施例】この発明の実施例を、基板1と電子部
品2とを位置決めする場合について、図1〜図7に基づ
いて詳細に説明する。図1は、この発明による電子部品
の位置決め装置(以下、単に位置決め装置と記す)の要
部説明図、図2は位置決め装置の要部ブロック図、図3
〜図7は基板1と電子部品2との位置決めの手順を示す
説明図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 7 for positioning the substrate 1 and the electronic component 2. FIG. 1 is an explanatory view of essential parts of a positioning device for electronic parts (hereinafter, simply referred to as a positioning device) according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram of essential parts of the positioning device, and FIG.
7 to 7 are explanatory views showing the procedure of positioning the substrate 1 and the electronic component 2.

【0013】図1に示すように、基板1には、従来知ら
れている透明電極(ITO)リード(以下、ITOリー
ドと記す)3が多数配設されているとともに、このIT
Oリード3の列の両端、即ち基板1の両端には+字型の
位置決めマーク4が配設されており、上面には基板1と
電子部品2とを熱圧着により接続するためのほぼ透明な
異方性導電フィルムが仮圧着されている。
As shown in FIG. 1, a substrate 1 is provided with a large number of conventionally known transparent electrode (ITO) leads (hereinafter referred to as ITO leads) 3 and the IT.
On both ends of the row of O leads 3, that is, on both ends of the substrate 1, + -shaped positioning marks 4 are provided, and on the upper surface, a substantially transparent for connecting the substrate 1 and the electronic component 2 by thermocompression bonding. The anisotropic conductive film is temporarily press-bonded.

【0014】電子部品2は、ポリイミドフィルム上に銅
箔リード(以下、TABリードと記す)5を有するIC
チップが樹脂モールドされており、TABリード5によ
り他の部品と接続されるもので、TABリード5の両端
には、+字型の位置決めマーク6が配設されている。
The electronic component 2 is an IC having a copper foil lead (hereinafter referred to as TAB lead) 5 on a polyimide film.
The chip is resin-molded and is connected to other parts by the TAB lead 5, and + -shaped positioning marks 6 are provided at both ends of the TAB lead 5.

【0015】7は基板1が載置されるX−Yテーブル
で、X、Y方向の2軸で構成され、サーボモータ(図示
せず)で駆動される。8は電子部品2が載置されるX−
Y−θテーブルで、X、Y、θ方向の3軸で構成され、
X−Yテーブル7と同様にサーボモータで駆動される。
Reference numeral 7 denotes an XY table on which the substrate 1 is placed, which is composed of two axes in the X and Y directions and is driven by a servo motor (not shown). 8 is an X-on which the electronic component 2 is placed
The Y-θ table is composed of three axes in the X, Y, and θ directions,
Like the XY table 7, it is driven by a servo motor.

【0016】9は第1の撮像装置で、比較的視野が大き
く設定されており、位置決めマーク4を認識して基板1
のX、Y方向のあらい位置決めと基板1の傾θPNL
を決定するためのもので、位置決め装置に固定されてい
る。10、11は第2および第3の撮像装置で、視野が
狭く設定されており、図4に示すように、それぞれIT
Oリード3とTABリード5との一端領域(撮像装置1
0の視野に相当する)12と他端領域(撮像装置11の
視野に相当する)13とを認識して基板1と電子部品2
とのX、Y、θ方向とを決定するためのもので、X、Y
方向に移動可能となっている。
Reference numeral 9 denotes a first image pickup device, which has a relatively large field of view and recognizes the positioning mark 4 to recognize the substrate 1
For determining the rough positioning in the X and Y directions and the inclination θ PNL of the substrate 1, and is fixed to the positioning device. Reference numerals 10 and 11 denote second and third image pickup devices, respectively, which have a narrow field of view. As shown in FIG.
One end regions of the O lead 3 and the TAB lead 5 (the imaging device 1
0) (corresponding to the visual field of 0) 12 and the other end region (corresponding to the visual field of the image pickup device 11) 13 are recognized and the substrate 1 and the electronic component 2
For determining the X, Y, and θ directions of
It can be moved in any direction.

【0017】それぞれ第1、第2および第3の撮像装置
9、10、11の光源(図示せず)としては、レンズ
(図示せず)の軸線上から光が照射される同軸光とある
入射角を持つ斜光とが用いられており、ITOリード3
のみを撮像する撮像装置9には同軸光が照射される。撮
像装置10、11には、斜光と同軸光とがもちいられて
おり、ITOリード3を撮影する場合には同軸光が照射
され、TABリード5を撮像する場合には斜光に切り換
えられている。
As a light source (not shown) of each of the first, second and third image pickup devices 9, 10 and 11, there is a certain incident of coaxial light which is emitted from the axis of a lens (not shown). Angled oblique light is used and the ITO lead 3
The image pickup device 9 for picking up only the image is irradiated with coaxial light. The imaging devices 10 and 11 use oblique light and coaxial light. When the ITO lead 3 is imaged, the coaxial light is emitted, and when the TAB lead 5 is imaged, it is switched to oblique light.

【0018】これは、基板1上にパターン化されている
ITO(透明電極)リード3の表面は、平坦で円滑であ
るから入射光は正反射されるためである。従って、撮像
装置9により撮像する場合、ある入射角を持つ斜光を用
いると、すべての光は正反射されるので、レンズの軸線
上に位置している撮像装置9には光が入射せず、ITO
リード3を撮像することが出来ないためである。一方、
TABリード5はポリイミドフィルム上に銅箔リードが
エッチング等の手段で形成されているので、その表面は
あらくなっている。従って、撮像装置10、11により
TABリード5を撮像する場合には、光はその表面で乱
反射されてしまうため、同軸光を照射した場合には同軸
線上にある撮像装置10、11に光が入射せず撮像する
ことが出来ないためである。
This is because the surface of the ITO (transparent electrode) lead 3 patterned on the substrate 1 is flat and smooth, so that the incident light is specularly reflected. Therefore, when imaging with the imaging device 9, if oblique light having a certain incident angle is used, all the light is specularly reflected, so that the light does not enter the imaging device 9 located on the axis of the lens, ITO
This is because the lead 3 cannot be imaged. on the other hand,
The TAB lead 5 has a copper foil lead formed on a polyimide film by means of etching or the like, and thus has a rough surface. Therefore, when the TAB lead 5 is imaged by the imaging devices 10 and 11, the light is diffusely reflected on the surface of the TAB lead 5. Therefore, when coaxial light is irradiated, the light is incident on the imaging devices 10 and 11 on the coaxial line. This is because the image cannot be captured without it.

【0019】図2において、14、15、16はA/D
変換器で、それぞれ撮像装置9、10、11からのアナ
ログの画像信号はデジタル画像信号に変換される。1
7、18、19はイメージメモリで、それぞれA/D変
換器14、15、16からの画像信号が記憶される。2
0は第1の切り換え器で、撮像装置10で撮像された一
端領域12のITOリード3とTABリード5との画像
信号がそれぞれ切り換えられる。21は第1の切り換え
器20と同様な切り換え器で、上記と同様に、撮像装置
11で撮像された他端領域13のITOリード3とTA
Bリード5との画像信号が切り換えられる。
In FIG. 2, 14, 15, and 16 are A / Ds.
The converter converts the analog image signals from the image pickup devices 9, 10 and 11 into digital image signals. 1
Image memories 7, 18, and 19 store image signals from the A / D converters 14, 15, and 16, respectively. Two
Reference numeral 0 is a first switch, which switches the image signals of the ITO lead 3 and the TAB lead 5 in the one end region 12 imaged by the image pickup device 10, respectively. Reference numeral 21 is a switch similar to the first switch 20, and similarly to the above, the ITO lead 3 and TA in the other end area 13 imaged by the image pickup device 11
The image signal with the B lead 5 is switched.

【0020】22は基準位置情報入力部で、位置決め用
の基準信号が出力される。23は基板1の位置決めマー
ク検出部で、基板1の両端に配設されている位置決めマ
ーク4の増加分ΔX、ΔYが検出される。24は基板1
の傾情報演算部で、位置決めマーク検出部23で検出さ
れた増加分ΔX、ΔYからX−Yテーブル7のX、Y方
向に対する基板1の傾θPNLが演算される。
Reference numeral 22 is a reference position information input section for outputting a reference signal for positioning. Reference numeral 23 is a positioning mark detection unit of the substrate 1, which detects increments ΔX and ΔY of the positioning marks 4 arranged at both ends of the substrate 1. 24 is the substrate 1
The tilt information calculator calculates the tilt θ PNL of the substrate 1 with respect to the X and Y directions of the XY table 7 from the increments ΔX and ΔY detected by the positioning mark detector 23.

【0021】25、26はそれぞれITOリード3の一
端リード位置情報検出部および他端リード位置情報検出
部で、それぞれ撮像装置10、11で撮像されたITO
リード3の一端領域12および他端領域13にあるリー
ド群3L、3Rの情報が検出される。27、28はそれ
ぞれTABリード5の一端リード位置情報・傾情報検出
部および他端リード位置情報・傾情報検出部で、上記と
同様にTABリード5の一端領域12および他端領域1
3にあるリード群5L、5Rの情報が検出される。
Reference numerals 25 and 26 respectively denote one end lead position information detecting portion and the other end lead position information detecting portion of the ITO lead 3, and the ITO imaged by the image pickup devices 10 and 11, respectively.
Information of the lead groups 3L and 3R in the one end region 12 and the other end region 13 of the lead 3 is detected. Reference numerals 27 and 28 respectively denote one end lead position information / tilt information detecting portion and the other end lead position information / tilt information detecting portion of the TAB lead 5, and similar to the above, one end area 12 and the other end area 1 of the TAB lead 5.
The information of the lead groups 5L and 5R in 3 is detected.

【0022】29、30はそれぞれITOリード3の一
端リード位置情報演算部および他端リード位置情報演算
部で、リード群3L、3Rの位置情報からそれぞれ両端
のITOリード3の平均位置が演算される。31、32
はそれぞれTABリード5の一端リード位置情報・傾情
報演算部および他端リード位置情報・傾情報演算部で、
リード群5L、5Rの位置情報からそれぞれ両端のTA
Bリード5の平均位置および傾が演算される。
Reference numerals 29 and 30 respectively denote one end lead position information calculation section and the other end lead position information calculation section of the ITO lead 3, and the average positions of the ITO leads 3 at both ends are calculated from the position information of the lead groups 3L and 3R. . 31, 32
Is the lead position information / tilt information calculation unit at one end and the lead position information / tilt information calculation unit at the other end of the TAB lead 5,
From the position information of the lead groups 5L and 5R, TAs at both ends
The average position and tilt of the B lead 5 are calculated.

【0023】33はメモリで、傾情報演算部24からの
基板1の傾情報と、一端および他端リード位置情報演算
部29、30からのITOリード3の両端の平均位置情
報と、一端および他端リード位置情報・傾情報演算部3
1、32からのTABリード5の両端の平均位置情報お
よび両端の傾情報とがそれぞれ一時記憶される。
Reference numeral 33 denotes a memory, which is the tilt information of the substrate 1 from the tilt information calculation unit 24, the average position information of both ends of the ITO lead 3 from the one end and other end lead position information calculation units 29 and 30, and one end and the other. Edge lead position information / tilt information calculation unit 3
The average position information of both ends and the tilt information of both ends of the TAB lead 5 from 1 and 32 are temporarily stored.

【0024】34は傾情報演算部で、基板1の傾情報と
TABリード5の一端および他端傾情報とにより基板1
とTABリード5との傾が決定される。35は基板1の
位置情報演算部で、一端および他端リード位置情報演算
部29、30からのITOリード3の平均位置情報から
両端リードの中点を演算して基板1の位置決めがなされ
る。36は電子部品2の位置情報演算部で、一端および
他端リード位置情報・傾情報演算部31、32からのT
ABリード5の平均位置情報から両端リードの中点を演
算して電子部品2の位置決めがなされる。
Reference numeral 34 is a tilt information calculation unit, which uses the tilt information of the substrate 1 and the tilt information of the one end and the other end of the TAB lead 5 for the substrate 1.
And the inclination of the TAB lead 5 is determined. A position information calculation unit 35 of the substrate 1 positions the substrate 1 by calculating the midpoint of both ends of the lead from the average position information of the ITO leads 3 from the one end and the other end lead position information calculation units 29 and 30. Reference numeral 36 denotes a position information calculation unit of the electronic component 2, which is used for the T information from the one end and the other end lead position information / tilt information calculation units 31 and 32.
The electronic component 2 is positioned by calculating the midpoint of the leads on both ends from the average position information of the AB leads 5.

【0025】37はX−Yテーブル駆動制御部で、位置
決めマーク検出部23からの位置決め情報により駆動さ
れ基板1のあらい位置決めがなされる。38はX−Y−
θテーブル駆動制御部で、傾情報演算部34基板の位置
情報演算部35および電子部品の位置情報演算部36か
らの情報に基づいてX−Y−θテーブル8が駆動され、
基板1と電子部品2とが位置決めされる。39は熱圧着
装置で、基板1のITOリード3と電子部品2のTAB
リード5とを熱圧着するためのものである。40は二値
化ウインド、41は撮像装置10、11の駆動部であ
る。
Reference numeral 37 denotes an XY table drive control unit which is driven by the positioning information from the positioning mark detection unit 23 to roughly position the substrate 1. 38 is XY-
The θ table drive control unit drives the XY-θ table 8 based on the information from the tilt information calculation unit 34, the board position information calculation unit 35, and the electronic component position information calculation unit 36.
The board 1 and the electronic component 2 are positioned. Reference numeral 39 is a thermocompression bonding device, which is the ITO lead 3 of the substrate 1 and the TAB of the electronic component 2.
This is for thermocompression bonding with the lead 5. Reference numeral 40 is a binarization window, and 41 is a drive unit of the imaging devices 10 and 11.

【0026】次に、作用動作について、主として図1、
図2を用いて説明する。この発明による位置決め装置で
は、最初の手順として、撮像装置9により、基板1上の
両端の位置決めマーク4の認識がなされる。まず、これ
について説明する。ガラスパネル台(図示せず)上に基
板1が載置されると、この基板1はスイングアーム(図
示せず)でX、Y方向に移動可能なX−Yテーブル7上
に載置されるとともに、同軸光で照射されて撮像装置9
により一方の位置決めマーク4が撮像される。この撮像
された光学画像は光電変換部(図示せず)においてアナ
ログの画像信号に変換される。このアナログの画像信号
は、A/D変換器14でデジタル信号に変換され、イメ
ージメモリ17に記憶される。次いで、サーボモータ
(図示せず)によりX−Yテーブル7が駆動されて他方
の位置決めマーク4が撮像装置9により撮像され、同様
にこの画像信号はA/D変換器14によりデジタル信号
に変換されイメージメモリ17に記憶される。
Next, regarding the operation and operation, mainly in FIG.
This will be described with reference to FIG. In the positioning device according to the present invention, as the first procedure, the image pickup device 9 recognizes the positioning marks 4 at both ends on the substrate 1. First, this will be described. When the substrate 1 is placed on a glass panel base (not shown), the substrate 1 is placed on an XY table 7 which can be moved in X and Y directions by a swing arm (not shown). At the same time, the imaging device 9 is illuminated by coaxial light.
Thus, one of the positioning marks 4 is imaged. The captured optical image is converted into an analog image signal in a photoelectric conversion unit (not shown). The analog image signal is converted into a digital signal by the A / D converter 14 and stored in the image memory 17. Next, the XY table 7 is driven by a servo motor (not shown) and the other positioning mark 4 is imaged by the image pickup device 9. Similarly, this image signal is converted into a digital signal by the A / D converter 14. It is stored in the image memory 17.

【0027】イメージメモリ17に記憶されている両端
の位置決めマーク4の画像信号が、位置決めマーク検出
部23に読み出され、それぞれ通常の画像処理手段によ
る濃淡処理(多値化処理)によりそれぞれ重心が求めら
れ座標が決定される。図3に示すように、このようにし
て求められた両端の位置決めマーク4の位置情報
(X、Y)、(X、Y)から、両方の位置決め
マーク4の増加分(ΔX=X−X、ΔY=Y−Y
)が検出される。
The image signals of the positioning marks 4 at both ends stored in the image memory 17 are read out to the positioning mark detecting section 23, and the center of gravity thereof is determined by the shading processing (multi-value processing) by the usual image processing means. The coordinates are obtained and the coordinates are determined. As shown in FIG. 3, based on the position information (X 1 , Y 1 ), (X 2 , Y 2 ) of the positioning marks 4 at both ends obtained in this way, the increment of both positioning marks 4 (ΔX = X 2 -X 1, ΔY = Y 2 -Y
1 ) is detected.

【0028】この増加分(ΔX、ΔY)の位置情報はX
−Y駆動制御部37に入力され、基板1のX、Y方向の
あらい位置決めがなされ、この位置でX−Yテーブル7
は固定される。即ち,この位置決めでは、図4に示すよ
うに、ITOリード3とTABリード5の両端が、撮像
装置10、11の視野、即ち一端領域12と他端領域1
3とに入る程度にX−Yテーブル7のあらい位置決めが
なされる。
The position information of this increment (ΔX, ΔY) is X
It is input to the -Y drive control unit 37, and rough positioning of the substrate 1 in the X and Y directions is performed. At this position, the XY table 7 is moved.
Is fixed. That is, in this positioning, as shown in FIG. 4, both ends of the ITO lead 3 and the TAB lead 5 are located in the visual fields of the imaging devices 10 and 11, that is, the one end region 12 and the other end region 1.
The rough positioning of the XY table 7 is performed to such an extent that it enters the range of 3.

【0029】一方、基板1の傾θPNLとすると、傾情
報演算部24において増加分(ΔX、ΔY)から基板1
の傾θPNLは、θPNL=Tan−1ΔY/ΔXが演
算され、基準位置(X−YテーブルのX、Y方向)に対
する基板1の傾θPNLが演算され、この値はメモリ3
3に記憶される。
On the other hand, when the inclination θ PNL of the substrate 1 is taken, the inclination information calculator 24 calculates the increment (ΔX, ΔY) from the increase of the substrate 1.
'S inclination θ PNL, θ PNL = Tan -1 ΔY / ΔX is calculated, the reference position (X-Y table of the X, Y-direction) inclination theta PNL substrate 1 for is calculated, this value memory 3
3 is stored.

【0030】次に、撮像装置10、11によるITOリ
ード3とTABリード5とを認識し両者を位置決めする
場合について説明する。電子部品(TAB)2はテープ
状に長く形成されてリール(図示せず)に巻回されてお
り、これが打ち抜かれてX−Y−θテーブル8に載置さ
れ、いわゆるリール供給されている。なお、打ち抜かれ
た電子部品2がトレイ(図示せず)に載置されて供給さ
れるトレイ供給であってもよい。
Next, a case where the image pickup devices 10 and 11 recognize the ITO lead 3 and the TAB lead 5 and position them will be described. The electronic component (TAB) 2 is formed in a tape-like shape and is wound around a reel (not shown). The electronic component (TAB) 2 is punched out, placed on the XY-θ table 8 and supplied by a so-called reel. Alternatively, the punched electronic component 2 may be placed on a tray (not shown) and supplied to the tray.

【0031】この状態では、図4に示すように、TAB
リード5とITOリード3との両端は、撮像装置10、
11の視野(一端領域)12および視野(他端領域)1
3内に位置している。この時、基板1の傾θPNLはす
でに決定され、メモリ33に記憶されている。
In this state, as shown in FIG.
Both ends of the lead 5 and the ITO lead 3 are connected to the imaging device 10,
11 visual field (one end area) 12 and visual field (other end area) 1
Located within 3. At this time, the inclination θ PNL of the substrate 1 is already determined and stored in the memory 33.

【0032】そこで、照明を同軸光に切り換えて、撮像
装置10、11により一端領域12および他端領域13
にあるITOリード3がそれぞれ撮像される。次に、照
明を斜光に切り換えて、同様に撮像装置10、11によ
りそれぞれTABリード5が撮像される。
Therefore, the illumination is switched to the coaxial light, and the image pickup devices 10 and 11 allow the one end region 12 and the other end region 13 to be displayed.
Each of the ITO leads 3 located at is imaged. Next, the illumination is switched to oblique light, and the TAB leads 5 are similarly imaged by the imaging devices 10 and 11, respectively.

【0033】これらの撮像された各光学画像はそれぞれ
撮像装置10、11内の光電変換部(図示せず)におい
てそれぞれアナログの画像信号に変換される。これらの
アナログの画像信号はそれぞれA/D変換器15、16
によりデジタル信号に変換され、それぞれイメージメモ
リ18、19に記憶される。
Each of these picked-up optical images is converted into an analog image signal in a photoelectric conversion section (not shown) in each of the image pickup devices 10 and 11. These analog image signals are A / D converters 15 and 16 respectively.
Are converted into digital signals and stored in the image memories 18 and 19, respectively.

【0034】次に、撮像装置10の視野内(一端領域1
2)にあるITOリード3のリード群3Lを二値化処理
により位置決定する場合について説明する。イメージメ
モリ18に記憶されているITOリード3のリード群3
Lの画像情報が、一端リード位置情報検出部25に読み
出され、図5に示すように、その中の任意の領域が設定
され、この座標が決定され、二値化ウインド40の位置
が設定される。
Next, within the visual field of the image pickup device 10 (one end region 1
The case where the position of the lead group 3L of the ITO lead 3 in 2) is determined by the binarization process will be described. Lead group 3 of ITO leads 3 stored in the image memory 18
The image information of L is once read by the lead position information detection unit 25, an arbitrary area therein is set, the coordinates thereof are determined, and the position of the binarization window 40 is set as shown in FIG. To be done.

【0035】なお、この実施例では、イメージメモリ1
8から画像情報が読み出された時にはすでに座標、二値
化ウインド40の位置は設定されている。又、二値化ウ
インド40が設定されると、パターンのオブジェクト
(リード群3L)以外の箇所にあるゴミ等を認識するこ
ともなく、又、パターン認識する場合、特徴を認識しや
すくなる。
In this embodiment, the image memory 1
When the image information is read from 8, the coordinates and the position of the binarization window 40 are already set. Further, when the binarization window 40 is set, dust or the like existing in a portion other than the pattern object (lead group 3L) is not recognized, and in the case of pattern recognition, it is easy to recognize features.

【0036】図5に示すように、二値化ウインド40内
の二値化されたリード群3L(オブジェクト)は端から
4つのリードが採用される。なお、この実施例では測定
値のバラツキをおさえて測定精度を良くするために、オ
ブジェクトとして4本のリード群3Lが採用されている
が、この数に限定されるものではなく、オブジェクトの
数は任意に採用できる。しかし、オブジェクトの数を多
くするとそれだけ精度は上がるが、各オブジェクトの面
積を求めて平均して重心を求めているので、オブジェク
トの数が多くなればなるほど処理時間が長くなる。その
上、採用し得るオブジェクトの数は、撮像装置10、1
1の視野にも関係するものであるから、この実施例では
経験上から、オブジェクト数は4本のリード群3Lが採
用されている。
As shown in FIG. 5, the binarized lead group 3L (object) in the binarized window 40 has four leads from the end. In this embodiment, four lead groups 3L are used as objects in order to suppress variations in measured values and improve measurement accuracy, but the number of objects is not limited to this, and the number of objects is not limited to this. Can be adopted arbitrarily. However, although the accuracy increases as the number of objects increases, the area of each object is obtained and averaged to obtain the center of gravity. Therefore, the processing time increases as the number of objects increases. In addition, the number of objects that can be adopted is determined by the number of imaging devices 10, 1
Since this is also related to the field of view of one, the lead group 3L having four objects is employed empirically in this embodiment.

【0037】採用された4本のリード群3Lのおのおの
について、一端リード位置情報演算部29において、二
値化ウインド40内の各面積を求め、この値から4本の
リード群3Lについて、それぞれの重心X、X、X
、Xを決定し、XITOL=X+X+X+X
/4から各重心の平均値を求め、この値がリード3の
一端の平均位置XITOLと決定され、メモリ33に記
憶される。同様にして、他端領域13のリード群3Rの
平均位置XITORが決定されメモリ33に記憶され
る。Y方向についても、同様な手順で重心の平均を求め
れば、基板1のX、Y方向の正確な位置が決定され、メ
モリ33に記憶される。これらの位置情報は、メモリ3
3から読み出され、基板1の位置情報演算部35におい
て、先に位置決めマーク4から求められている基板1の
傾θPNLとともに、基板1の正確な位置決めがなされ
る。
For each of the four lead groups 3L adopted, the lead position information computing section 29 once obtains each area in the binarization window 40, and from this value, the four lead groups 3L are respectively calculated. Center of gravity X 1 , X 2 , X
3 and X 4 are determined, and X ITOL = X 1 + X 2 + X 3 + X
The average value of each center of gravity is calculated from 4/4 , and this value is determined as the average position XITO L of one end of the lead 3 and stored in the memory 33. Similarly, the average position XITOR of the lead group 3R in the other end region 13 is determined and stored in the memory 33. Also in the Y direction, if the center of gravity is obtained by the same procedure, the accurate position of the substrate 1 in the X and Y directions is determined and stored in the memory 33. These position information are stored in the memory 3
3, the positional information calculation unit 35 of the substrate 1 accurately positions the substrate 1 together with the inclination θ PNL of the substrate 1 previously obtained from the positioning mark 4.

【0038】なお、イメージメモリ18、19からリー
ド群3L、3R等の位置情報が読み出される際には、オ
ブジェクトとなる各リードの面積、Xの長さ、Yの長さ
が判別され、不適当なオブジェクトは特徴判定の段階で
除外されるように設定されている。
When the position information of the lead groups 3L, 3R, etc. is read from the image memories 18, 19, the area of each lead as an object, the length of X, and the length of Y are discriminated, which is inappropriate. Such objects are set to be excluded at the stage of feature determination.

【0039】次に、TABのような電子部品2の位置決
めについて、図6に基づいて説明する。この実施例で
は、電子部品2はその画像情報を多値化処理することに
より、位置と傾とが求められる。この場合にも、基板1
の位置決めに採用されたと同様に、4本のTABリード
5が採用される。そこで、撮像装置10で撮像され、イ
メージメモリ18に記憶されている画像信号を、イメー
ジメモリ18からTABリード5の一端リード位置情報
・傾情報検出部27に読み出されたリード群5Lのうち
4本のリード群5L(直線方程式はV、V、V
である)を例にとり説明する。
Next, the positioning of the electronic component 2 such as TAB will be described with reference to FIG. In this embodiment, the electronic component 2 can obtain the position and the inclination by subjecting the image information to multi-value processing. Also in this case, the substrate 1
The four TAB leads 5 are adopted in the same manner as adopted for the positioning of. Therefore, four of the lead groups 5L in which the image signals captured by the imaging device 10 and stored in the image memory 18 are read from the image memory 18 to the one-end lead position information / tilt information detection unit 27 of the TAB lead 5 are read. Book lead group 5L (linear equations are V 1 , V 2 , V 3 ,
V 4 ) will be described as an example.

【0040】図6に示すように、TABリード5の一端
リード位置情報・傾情報演算部31において、4本のリ
ード群5L(V、V、V、V)について、この
リードの軸線に対して直行する直線Hにより左から右へ
と走査し4本のリード群5L(V、V、V
)と交差する点H、H、H、H・・・・を
求め、この各点ごとに濃淡処理することにより、TAB
リード5のX方向の重心G11、G12・・・、
21、G22・・・、G31、G32・・・、
41、G42・・・を求め、最小二乗法により各TA
Bリード5の直線方程式V、V・・・Vを求め、
この式の係数M、M・・・Mが各リードの傾とな
る。従って、4本の各リードV、V・・・・の平均
値を求めて、電子部品2の傾θTABL θTABL=(M+M+M+M)/4 として決定され、メモリ33に記憶される。又、求めら
れた直線をリードV・・・の先端まで延長して、この
先端リードとの交点をそれぞれX、X・・・X
し、4本のリードの平均位置をとれば、その平均位置X
TABLは XTABL=X+X+X+X/4 となり、TABリード5の一端(左側)の平均位置とし
て求められ、この値はメモリ33に記憶される。
As shown in FIG. 6, in the one-end lead position information / tilt information calculation unit 31 of the TAB lead 5, the lead group 5L (V 1 , V 2 , V 3 , V 4 ) of this lead is read. A straight line H orthogonal to the axis scans from left to right to scan four lead groups 5L (V 1 , V 2 , V 3 ,
V 4 ) intersecting points H 1 , H 2 , H 3 , H 4, ...
The center of gravity of the lead 5 in the X direction G 11 , G 12, ...
G 21, G 22 ···, G 31, G 32 ···,
G 41 , G 42 ... Are obtained and each TA is calculated by the least squares method.
Determine the linear equation V 1, V 2 ··· V N of B lead 5,
The coefficients M 1 , M 2, ... MN of this equation are the inclinations of the leads. Therefore, the average value of the four leads V 1 , V 2, ... Is obtained, and the inclination of the electronic component 2 is determined as θ TABL θ TABL = (M 1 + M 2 + M 3 + M 4 ) / 4, and the memory is determined. Stored in 33. Further, if the obtained straight line is extended to the tip of the lead V 1 ... And the intersections with the tip lead are respectively X 1 , X 2 ... X N , the average position of the four leads is taken. , Its average position X
TABL is X TABL = X 1 + X 2 + X 3 + X 4/4, which is obtained as an average position of one end (left side) of the TAB lead 5, and this value is stored in the memory 33.

【0041】同様にして、撮像装置11で撮像されたT
ABリード5の他端(右端)についても、その平均位置
TABRおよび傾θTABRが決定される。
Similarly, the T imaged by the image pickup device 11 is obtained.
The average position X TABR and inclination θ TABR of the other end (right end) of the AB lead 5 are also determined.

【0042】次に、図7に示すように、このようにして
求められたITOリード3の両端の平均位置XITOL
とXITORとはメモリ33から基板の位置情報演算部
35に読み出され、ここで両者の中点が求められ、IT
Oリード3の位置決め位置PITOが決定される。同様
に、TABリード5の両端の平均位置XTABLとX
TABRとがメモリ33から電子部品の位置情報演算部
36に読み出され、ここで両者の中点が求められて、T
ABリード5の位置決め位置PTABが決定される。同
様に、TABリード5の傾θTABは、メモリ33から
傾情報演算部34に読み出され、両端の傾θTABL
θTABRとの平均値から求められる。なお、ITOリ
ード3の傾θPNLはメモリ33に記憶されている。
Next, as shown in FIG. 7, the average position X ITOL of both ends of the ITO lead 3 thus obtained is obtained.
And XITOR are read from the memory 33 to the position information calculation unit 35 of the substrate, where the midpoint between the two is obtained, and the IT
The positioning position P ITO of the O lead 3 is determined. Similarly, average positions X TABL and X at both ends of the TAB lead 5
TABR and TABR are read from the memory 33 to the position information calculation unit 36 of the electronic component, where the midpoint between the two is obtained, and TBR is calculated.
The positioning position P TAB of the AB lead 5 is determined. Similarly, the inclination θ TAB of the TAB lead 5 is read from the memory 33 to the inclination information calculation unit 34, and is calculated from the average value of the inclinations θ TABL and θ TABR at both ends. The inclination θ PNL of the ITO lead 3 is stored in the memory 33.

【0043】以上のようにして決定されたITOリード
3の位置決め位置PITOとTABリード5の位置決め
位置PTABとによりX、Y方向の位置決めをするとと
もに、基板1の傾θPNLと電子部品2の傾θTAB
の補正は、X−Y−θテーブル駆動制御部38によりX
−Y−θテーブル8を回転して一致させて補正しつつT
ABリード5の位置をITOリード3の位置に合わせる
ことにより、位置決めがなされる。
[0043] as well as the above manner X by the positioning position P TAB positioning position P ITO and the TAB leads 5 of ITO lead 3 which is determined, the positioning of the Y-direction, inclination theta PNL and the electronic component 2 of the substrate 1 Of the inclination θ TAB is corrected by the X-Y-θ table drive control unit 38.
-Y- [theta] Table 8 is rotated to match and correct T
Positioning is performed by aligning the position of the AB lead 5 with the position of the ITO lead 3.

【0044】このようにして、ITOリード3とTAB
リード5との位置決めが終了した後、基板1と電子部品
2とを重ね合わせて、図1に示されている熱圧着装置3
9により加熱すると、異方性導電フィルムにより基板1
と電子部品2とは熱圧着される。
In this way, the ITO lead 3 and the TAB are
After the positioning with the lead 5 is completed, the substrate 1 and the electronic component 2 are overlapped with each other, and the thermocompression bonding device 3 shown in FIG.
When heated by 9, the anisotropic conductive film causes the substrate 1
And the electronic component 2 are thermocompression bonded.

【0045】[0045]

【発明の効果】この発明は、少なくとも2箇所に位置決
めマークが配設されているとともに、この両位置決めマ
ークの間に、多数のリードが配設されている基板と、こ
の基板のリードに対応するリードが配設されている電子
部品との位置決め方法において、視野の大きな第1の撮
像装置により,基板上の少なくとも2ヶ所の位置決めマ
ークを順次撮像し,それぞれ得られたこの位置決めマー
クの位置情報から求めたこの位置決めマークの増加分に
基づいて基板のX、Y方向のあらい位置決めをするとと
もに、この基板の傾を求め、この基板のリードと電子部
品のリードとを同一軸線上に対向位置させて両端近傍に
ある両端リード群を視野の小さな第2および第3の撮像
装置によりそれぞれ撮像し、この撮像された基板の両端
のリード群の各位置情報からこの両リード群の平均位置
をそれぞれ求め、この両端リード群の両平均位置から基
板のリード位置の中点を求め、撮像された前記電子部品
の両端のリード群の位置情報からこの両リード群のリー
ド先端の平均位置および傾をそれぞれ求め、この両リー
ド群のリード先端の両平均位置および両傾の平均から電
子部品のリード位置の中点および傾を求め、基板のリー
ドの中点および基板の傾と電子部品のリードの中点およ
び電子部品の傾とを一致させて基板に電子部品を位置決
めした後、基板のリード上に電子部品のリードを重ね合
わせるようにしたので、基板のリードと電子部品のリー
ドとのそれぞれ両端を認識して基板と電子部品との位置
決めを行うから、両者の位置値決め精度が非常に良くな
る。
The present invention corresponds to a substrate in which positioning marks are provided at least at two positions, and a large number of leads are provided between the positioning marks, and to the leads of this substrate. In the positioning method with the electronic component on which the lead is arranged, at least two positioning marks on the substrate are sequentially imaged by the first imaging device having a large field of view, and the positional information of the positioning marks obtained respectively is used. The board is roughly positioned in the X and Y directions based on the obtained increment of the positioning mark, the tilt of the board is determined, and the leads of the board and the leads of the electronic component are positioned on the same axis. The two-end lead groups near the both ends are respectively imaged by the second and third image pickup devices having a small field of view, and the positions of the lead groups at both ends of the imaged substrate are measured. The average position of both lead groups is obtained from the information, the midpoint of the lead position of the board is obtained from both average positions of the lead groups at both ends, and both lead positions are obtained from the imaged position information of the lead groups at both ends of the electronic component. The average position and tilt of the lead ends of the group are obtained, and the midpoint and tilt of the lead position of the electronic component are calculated from the average of both lead positions of both lead groups and the average of both tilts. After the electronic component is positioned on the substrate by aligning the inclination of the substrate with the center of the lead of the electronic component and the inclination of the electronic component, the leads of the electronic component are superposed on the leads of the substrate. Since the substrate and the electronic component are positioned by recognizing both ends of the lead of the electronic component and the lead of the electronic component, the accuracy of determining the position values of the both becomes very good.

【0046】その上、位置決めは基板のリードと電子部
品のリードのそれぞれ両端リード群を認識するととも
に、この両端リード群の中点により位置決めしているの
で、リードの本数に相違があっても正確な位置決めが出
来るとともに、電子部品に反りがある場合でも、正確な
位置決めが出来る。
Moreover, the positioning is performed by recognizing the lead groups on both ends of the leads of the board and the leads of the electronic component and by positioning at the midpoint of the lead groups on both ends, it is accurate even if there is a difference in the number of leads. In addition to accurate positioning, accurate positioning is possible even if the electronic component has a warp.

【0047】さらに、基板の少なくとも2箇所の位置決
めマークの位置情報は多値化処理するとともに、基板の
両端リード群の位置情報は二値化処理により求め、電子
部品の両端リード群の位置情報および傾情報を多値化処
理により求めているので、電子部品の重心が求められる
から、従来用いられていた基板と電子部品撮像用の専用
の撮像装置を必要とせず、基板と電子部品とは同一の撮
像装置で撮像され、並列処理することが出来るので、処
理時間が大幅に短縮される。
Further, the position information of the positioning marks of at least two positions on the board is multi-valued, and the position information of the lead groups on both ends of the board is obtained by the binarizing process. Since the tilt information is obtained by the multi-valued processing, the center of gravity of the electronic component is required. Therefore, the board and the electronic component that are conventionally used are not required, and the dedicated image pickup device for capturing the electronic component is not required. Since the image can be picked up by the image pickup device and processed in parallel, the processing time can be significantly shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施例を示す要部説明図である。FIG. 1 is an explanatory view of essential parts showing an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の実施例を示す要部ブロック図であ
る。
FIG. 2 is a principal block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図3】この発明の実施例を示すもので、基板の大体の
位置決めと傾とを決定するための説明図である。
FIG. 3 shows an embodiment of the present invention and is an explanatory diagram for determining the approximate positioning and inclination of the substrate.

【図4】この発明の実施例を示すもので、撮像装置1
0、11の撮像領域を示す説明図である。
FIG. 4 shows an embodiment of the present invention, in which the imaging device 1
It is explanatory drawing which shows the imaging area of 0 and 11.

【図5】この発明の実施例を示すもので、基板のリード
位置を検出するための説明図である。
FIG. 5 illustrates an embodiment of the present invention and is an explanatory diagram for detecting a lead position on a substrate.

【図6】この発明の実施例を示すもので、電子部品のリ
ードの位置、傾を検出するための説明図である。
FIG. 6 shows an embodiment of the present invention and is an explanatory diagram for detecting the position and inclination of the lead of the electronic component.

【図7】この発明の実施例を示すもので、基板のリード
と電子部品のリードとの位置合わせを示す説明図であ
る。
FIG. 7 shows an embodiment of the present invention and is an explanatory view showing the alignment of the leads of the substrate and the leads of the electronic component.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 電子部品 3 ITOリード 4 位置決めマーク 5 TABリード 7 X−Yテーブル 8 X−Y−θテーブル 9、10、11 撮像装置 14、15、16 A/D変換器 17、18、19 イメージメモリ 20、21 切り換え器 23 位置決めマーク検出部 24 傾情報演算部 25 基板の一端リード位置情報検出部 26 基板の他端リード位置情報検出部 27 電子部品の一端リード位置情報・傾情報検出部 28 電子部品の他端リード位置情報・傾情報検出部 29 ITOリードの一端リード位置情報演算部 30 ITOリードの他端リード位置情報演算部 31 TABリードの一端リード位置情報・傾情報演
算部 32 TABリードの他端リード位置情報・傾情報演
算部 33 メモリ 34 傾情報演算部 35 基板の位置情報演算部 36 電子部品の位置情報演算部 37 X−Yテーブル駆動制御部 38 X−Y−θテーブル駆動制御部
1 substrate 2 electronic component 3 ITO lead 4 positioning mark 5 TAB lead 7 XY table 8 XY-θ table 9, 10, 11 imaging device 14, 15, 16 A / D converter 17, 18, 19 image memory 20, 21 Switcher 23 Positioning mark detection unit 24 Inclination information calculation unit 25 One end lead position information detection unit of substrate 26 Other end lead position information detection unit of substrate 27 One end lead position information / tilt information detection unit of electronic component 28 Electronic component Other end lead position information / tilt information detection unit 29 one end of ITO lead lead position information calculation unit 30 other end of ITO lead lead position information calculation unit 31 one end of TAB lead lead position information / tilt information calculation unit 32 TAB lead other Edge lead position information / tilt information calculation unit 33 Memory 34 Tilt information calculation unit 35 Substrate position information calculation unit 36 Position information calculating unit of the electronic component 37 X-Y table drive controller 38 X-Y-θ table drive controller

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高崎浩幸 東京都港区西新橋一丁目15番1号 日本ア ビオニクス株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−86789(JP,A) 特開 昭63−137500(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Hiroyuki Takasaki 1-15-1, Nishi-Shimbashi, Minato-ku, Tokyo Japan Avionics Co., Ltd. (56) Reference JP 62-86789 (JP, A) JP Sho 63-137500 (JP, A)

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも2箇所に位置決めマークが配
設されているとともに、この両位置決めマークの間に、
多数のリードが配設されている基板と、この基板のリー
ドに対応するリードが配設されている電子部品との位置
決め方法において、 視野の大きな第1の撮像装置により,前記基板上の少な
くとも2ヶ所の前記位置決めマークを順次撮像し,それ
ぞれ得られた位置情報から求めたこの位置決めマークの
増加分に基づいて前記基板のX、Y方向のあらい位置決
めをするとともに、この基板の傾を求め、この基板のリ
ードと前記電子部品のリードとを同一軸線上に対向位置
させて両端近傍にある両端リード群をそれぞれ視野の小
さな第2および第3撮像装置により撮像し、 この撮像された前記基板の両端のリード群の各位置情報
からこの両リード群の平均位置をそれぞれ求め、 この両端リード群の両平均位置から前記基板のリード位
置の中点を求め、 撮像された前記電子部品の両端のリード群の位置情報か
らこの両リード群のリード先端の平均位置および傾をそ
れぞれ求め、 この両リード群のリード先端の両平均位置および両傾の
平均から前記電子部品のリード位置の中点および傾を求
め、 前記基板のリードの中点および前記基板の傾と前記電子
部品のリードの中点および前記電子部品の傾とを一致さ
せて前記基板に前記電子部品を位置決めした後、前記基
板のリード上に前記電子部品のリードを重ね合わせるこ
とを特徴とする電子部品の位置決め方法。
1. A positioning mark is provided at least at two positions, and between these positioning marks,
In a method of positioning a board on which a large number of leads are arranged and an electronic component on which leads corresponding to the leads of the board are arranged, at least The positioning marks at various positions are sequentially imaged, rough positioning of the substrate in the X and Y directions is performed based on the increment of the positioning marks obtained from the obtained position information, and the tilt of the substrate is determined. The leads of the substrate and the leads of the electronic component are positioned to face each other on the same axis, and the two-end lead groups near both ends are imaged by the second and third image pickup devices having a small field of view, respectively. The average position of both lead groups is obtained from each position information of the lead groups, and the midpoint of the lead positions of the board is obtained from both average positions of the lead groups at both ends. From the imaged position information of the lead groups at both ends of the electronic component, the average positions and inclinations of the lead tips of both lead groups are respectively obtained, and The midpoint and tilt of the lead position of the electronic component are determined, and the midpoint of the lead of the substrate and the tilt of the substrate are aligned with the midpoint of the lead of the electronic component and the tilt of the electronic component, and After positioning the component, the lead of the electronic component is superposed on the lead of the substrate.
【請求項2】 少なくとも2ヶ所に位置決めマークが配
設されているとともに、この両位置決めマークの間に多
数のリードが配設されている基板と、この基板のリード
に対応するリードが配設されている電子部品との位置決
め装置において、 前記基板のリードを端面方向に位置させてこの基板が載
置され、X、Yの2軸方向に駆動可能なX−Yテーブル
と、 このX−Yテーブルに近接配置され、前記電子部品のリ
ードを前記基板のリードの同一軸線上に対向させて載置
するX、Y、θの3軸方向に駆動可能なX−Y−θテー
ブルと、 前記基板上に少なくとも2ヶ所に配設された位置決めマ
ークを撮像する視野の大きな第1の撮像装置と、 同一軸線上に対向位置する前記基板と前記電子部品との
両リードの両端リード群をそれぞれ撮像する視野の小さ
な第2および第3の撮像装置と、 前記第1、第2および第3の撮像装置からのアナログ画
像信号をそれぞれデジタル変換するA/D変換器と、 このA/D変換器からの画像信号をそれぞれ記憶する第
1、第2および第3イメージメモリと、 前記第2イメージメモリから読み出された前記基板と前
記電子部品との一端リード群の画像信号を前記基板側の
リードと前記電子部品側のリードとに切り換える第1の
切り換え器と、前記第3イメージメモリから読み出され
た前記基板と前記電子部品との他端リード群の画像信号
を前記基板側のリードと前記電子部品側のリードとに切
り換える第2の切り換え器と、 前記第1イメージメモリから読み出された前記基板の画
像信号の前記両端の位置決めマークの位置情報を検出す
るとともに、前記X−Yテーブルの傾を検出する位置決
めマーク検出部と、 この位置決めマーク検出部からの位置情報により前記X
−YテーブルをX、Y方向に駆動してこのX−Yテーブ
ルのあらい位置決めをするX−Yテーブル駆動制御部
と、 前記位置決めマーク検出部からの位置情報により前記基
板の傾を演算する基板の傾情報演算部と、 前記第2イメージメモリから読み出された前記基板の一
端リード群の位置情報を検出する一端リード位置情報検
出部と、前記第2イメージメモリから読み出された前記
電子部品の一端リード群の位置情報を検出する一端リー
ド位置情報検出部と、 前記基板の一端リード位置情報検出部からの位置情報に
より前記基板の一端リード群の平均位置を演算する前記
基板の一端リード位置情報演算部と、前記電子部品の一
端リード位置情報検出部からの位置情報により前記電子
部品の一端のリード群の平均位置を演算する前記電子部
品の一端リード位置情報演算部と、 前記第3イメージメモリから読み出された前記基板の他
端リード群の位置情報を検出する他端リード位置情報検
出部と、前記第3のイメージメモリから読み出された前
記電子部品の他端リードの位置情報を検出する他端リー
ド位置情報検出部と、 前記他端リード位置情報検出部からの位置情報により前
記基板の他端のリード群の平均位置を演算する他端リー
ド位置情報演算部と、前記電子部品の他端リード位置情
報検出部からの位置情報により前記電子部品の他端リー
ド群の平均位置を演算する他端リード位置情報演算部
と、 前記基板の傾情報演算部からの傾情報と、前記基板の一
端リード位置情報演算部と前記電子部品の一端リード位
置情報演算部とからのそれぞれ一端の平均位置情報と、
前記基板の他端リード位置情報演算部と前記電子部品の
他端リード位置情報演算部とからのそれぞれ他端の平均
位置情報とを記憶するメモリと、 このメモリに記憶されている前記基板と前記電子部品と
のそれぞれ傾情報を演算・補正する傾情報演算部と、 前記メモリに記憶されている前記基板の両端の平均位置
情報に基づいて前記基板の位置決めを演算する基板位置
情報演算部と、前記メモリに記憶されている前記電子部
品の両端の平均位置情報に基づいて、前記電子部品の位
置決めを演算する電子部品位置情報演算部と、 前記基板と前記電子部品とのそれぞれ傾情報と前記基板
位置情報演算部からの前記基板の位置決め情報と前記電
子部品位置情報演算部からの前記電子部品の位置決め情
報とにより前記X−Y−θテーブルをX、Y、θ方向に
駆動するX−Y−θテーブル駆動制御部とを備えたこと
を特徴とする電子部品の位置決め装置。
2. A substrate in which positioning marks are provided at least at two positions, and a large number of leads are provided between the positioning marks, and leads corresponding to the leads of the substrate are provided. A positioning device for an electronic component, the lead of the substrate is positioned in the end face direction, the substrate is placed on the substrate, and the XY table can be driven in two axial directions of X and Y; and the XY table. An X-Y-θ table which is placed in close proximity to and which can be driven in three axial directions of X, Y, and θ on which the leads of the electronic component are placed so as to face each other on the same axis of the leads of the substrate; A first image pickup device having a large visual field for picking up positioning marks disposed in at least two positions on the same side, and a visual field for picking up both end lead groups of both leads of the substrate and the electronic component, which are located opposite to each other on the same axis. Small second and third image pickup devices, an A / D converter for digitally converting the analog image signals from the first, second and third image pickup devices, and an image signal from the A / D converter First, second and third image memories for respectively storing the image signals, and image signals of one end lead groups of the substrate and the electronic component read from the second image memory, the lead on the substrate side and the electronic component. A first switch for switching to the lead on the side, and an image signal of the other end lead group of the substrate and the electronic component read from the third image memory to the lead on the substrate and the electronic component. A second switch for switching to read; and detecting position information of the positioning marks at the both ends of the image signal of the substrate read from the first image memory, and A positioning mark detection section for detecting the inclination of the -Y table, said X the position information from the positioning mark detection section
An XY table drive control unit that drives the Y table in the X and Y directions to roughly position the XY table; and a substrate that calculates the tilt of the substrate based on the position information from the positioning mark detection unit. A tilt information calculation unit; a one-end lead position information detection unit that detects position information of the one-end lead group of the substrate read from the second image memory; and an electronic component read from the second image memory. One-end lead position information detection unit that detects position information of one-end lead group, and one-end lead position information of the substrate that calculates an average position of the one-end lead group of the substrate based on position information from the one-end lead position information detection unit Of the electronic component that calculates the average position of the lead group at the one end of the electronic component based on the position information from the computing unit and the one end lead position information detection unit of the electronic component An end lead position information calculation unit, another end lead position information detection unit for detecting position information of the other end lead group of the substrate read from the third image memory, and an end lead position information read unit from the third image memory. The other end lead position information detection unit that detects the position information of the other end lead of the electronic component, and the average position of the lead group at the other end of the substrate is calculated from the position information from the other end lead position information detection unit. Another end lead position information calculation unit, another end lead position information calculation unit that calculates an average position of the other end lead group of the electronic component based on position information from the other end lead position information detection unit of the electronic component, the substrate Tilt information from the tilt information calculation unit, and average position information of one end from the one end lead position information calculation unit of the board and one end lead position information calculation unit of the electronic component,
A memory for storing average position information of the other ends from the other end lead position information calculation unit of the board and the other end lead position information calculation section of the electronic component; and the board and the board stored in the memory. A tilt information calculation unit that calculates and corrects tilt information for each of the electronic components, and a board position information calculation unit that calculates positioning of the board based on average position information of both ends of the board stored in the memory, An electronic component position information calculation unit that calculates positioning of the electronic component based on average position information of both ends of the electronic component stored in the memory, tilt information of the substrate and the electronic component, and the substrate The X-Y- [theta] table is stored in the X-Y- [theta] table based on the positioning information of the board from the position information calculation unit and the positioning information of the electronic component from the electronic component position information calculation unit. An electronic component positioning device, comprising: an XY-θ table drive control unit that is driven in a direction.
【請求項3】 基板の少なくとも2ヶ所の位置決めマー
クの位置情報は多値化処理するとともに、前記基板の両
端リード群の位置情報は二値化処理により求め、電子部
品の両端リード群の位置情報および傾情報は多値化処理
により求めることを特徴とする請求項1記載の電子部品
の位置決め方法。
3. Position information of at least two positioning marks on a board is multivalued, and position information of lead groups at both ends of the board is obtained by binarization processing to obtain position information of lead groups at both ends of an electronic component. The electronic component positioning method according to claim 1, wherein the tilt information and the tilt information are obtained by a multi-valued process.
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