JPH0698335B2 - Coating device - Google Patents

Coating device

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JPH0698335B2
JPH0698335B2 JP20078888A JP20078888A JPH0698335B2 JP H0698335 B2 JPH0698335 B2 JP H0698335B2 JP 20078888 A JP20078888 A JP 20078888A JP 20078888 A JP20078888 A JP 20078888A JP H0698335 B2 JPH0698335 B2 JP H0698335B2
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substrate
cleaning
nozzle
glass substrate
radial distance
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幸平 岸
孝之 占部
秀彦 百瀬
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Sharp Corp
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  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、たとえば液晶表示装置などに用いられるガラ
ス基板などにホトレジストなどを塗布する塗布装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a coating device for coating a photoresist or the like on a glass substrate or the like used in, for example, a liquid crystal display device.

従来の技術 たとえば薄膜トランジスタ(TFT)を備えたいわゆるア
クティブ・マトリクス形液晶表示装置の製造工程におい
ては、透明導電膜、各種の金属膜、半導体膜、および絶
縁膜などの微細パターン加工を行う必要があり、この微
細パターン加工にはホトエッチング法が用いられる。こ
のホトエッチング法には、ガラス基板上にホトレジスト
を滴下し、ガラス基板を回転させ、このときに生じる遠
心力によって、滴下されたホトレジストをガラス基板上
に拡げて塗布するスピンコータと称される塗布装置が用
いられる。
2. Description of the Related Art For example, in a manufacturing process of a so-called active matrix type liquid crystal display device including a thin film transistor (TFT), it is necessary to perform fine pattern processing of a transparent conductive film, various metal films, semiconductor films, and insulating films. A photo-etching method is used for this fine pattern processing. In this photo-etching method, a photoresist is dropped onto a glass substrate, the glass substrate is rotated, and a centrifugal force generated at this time spreads the dropped photoresist onto the glass substrate to apply the coating device called a spin coater. Is used.

このようなホトレジストの塗布動作において、余分なホ
トレジストはガラス基板から空中に飛び散ることにな
る。飛び散ったホトレジストは、ガラス基板などを収納
する収納容器内で飛沫となって空中に浮遊したり、収納
容器内壁面に衝突して再び空中に飛び散り、回転中のガ
ラス基板の裏面(ホトレジストが滴下される面と反対
面)に付着していた。ガラス基板の裏面に付着したホト
レジストを除去するために、ガラス基板の裏面に向けて
洗浄液を吹き付け、ホトレジストを溶解して除去するバ
ックリンス法が用いられる。
In such a photoresist coating operation, excess photoresist is scattered from the glass substrate into the air. The scattered photoresist becomes droplets in the storage container that stores the glass substrate and floats in the air, or collides with the inner wall surface of the storage container and scatters in the air again, and the back surface of the rotating glass substrate (the photoresist is dropped). (The surface opposite to the surface on which it is attached). In order to remove the photoresist attached to the back surface of the glass substrate, a back rinse method is used in which a cleaning liquid is sprayed toward the back surface of the glass substrate to dissolve and remove the photoresist.

典型的な先行技術は、第6図に示されている。スピンコ
ータ1は、容器2と、ガラス基板3を吸着して保持する
真空チャック4と、ホトレジストを吐出するレジスト吐
出ノズル5と、バックリンス液を吐出するバックリンス
液吐出ノズル6とを含んで構成される。ここで用いられ
るガラス基板3は、たとえば液晶表示装置などに用いら
れるものであり、第7図に示されるように矩形形状を有
する。
A typical prior art is shown in FIG. The spin coater 1 is configured to include a container 2, a vacuum chuck 4 that adsorbs and holds a glass substrate 3, a resist ejection nozzle 5 that ejects photoresist, and a back rinse liquid ejection nozzle 6 that ejects a back rinse liquid. It The glass substrate 3 used here is used, for example, in a liquid crystal display device and has a rectangular shape as shown in FIG.

前記バックリンス液吐出ノズル6は、真空チャック4の
ガラス基板3に吸着している部分の外周である円弧l1と
ガラス基板3の仮想内接円l2との間に位置するように配
設されている。真空チャック4は、回転用モータ(図示
せず)によって回転駆動され、これによってガラス基板
3が回転駆動される。
The back rinse liquid discharge nozzle 6 is disposed so as to be located between the arc l1 which is the outer periphery of the portion of the vacuum chuck 4 adsorbed to the glass substrate 3 and the virtual inscribed circle l2 of the glass substrate 3. There is. The vacuum chuck 4 is rotationally driven by a rotation motor (not shown), and thereby the glass substrate 3 is rotationally driven.

第8図は、ホトレジスト塗布動作を示すグラフである。
第8図において、横軸には時間(秒)を取り、縦軸には
基板3の分当りの回転数(rpm)がとられる。第6図〜
第8図を参照して、スピンコータ1の動作について説明
する。第8図時刻t0から期間W1だけレジスト吐出ノズル
5を用いてガラス基板3上にレジスト液を滴下し、時刻
t1で終了する。その後、時刻t2からガラス基板3を回転
させ、回転数R1(200rpm)で回転し、ガラス基板3上で
レジスト液を塗り拡げる。ここでガラス基板3の回転数
が一定の回転数R1となると直ちに時刻t3から、バックリ
ンス液吐出ノズル6からバックリンス液を期間W2だけガ
ラス基板3の反対側表面に吐出し、前述したようにガラ
ス基板3の反対側に付着するレジスト液を除去する。
FIG. 8 is a graph showing the photoresist coating operation.
In FIG. 8, the horizontal axis represents time (second), and the vertical axis represents the number of revolutions per minute (rpm) of the substrate 3. Fig. 6 ~
The operation of the spin coater 1 will be described with reference to FIG. FIG. 8: From the time t0, the resist liquid is dropped onto the glass substrate 3 using the resist discharge nozzle 5 for a period W1.
It ends at t1. After that, the glass substrate 3 is rotated from the time t2 and rotated at the rotation speed R1 (200 rpm) to spread the resist solution on the glass substrate 3. As soon as the rotation speed of the glass substrate 3 reaches a constant rotation speed R1, the back rinse liquid is discharged from the back rinse liquid discharge nozzle 6 to the surface on the opposite side of the glass substrate 3 for a period W2 from time t3, as described above. The resist solution adhering to the opposite side of the glass substrate 3 is removed.

この後、時刻t4からガラス基板3の回転数を回転数R2
(1000rpm)に増大し、ガラス基板3上の過剰なレジス
ト液を振り切るようにする。時刻t6でガラス基板3の回
転は停止するが、その前の時刻t5まで前記バックリンス
液の吐出作業が行われる。前記時刻t6でガラス基板3の
回転は停止し、このようにしてガラス基板3上へのレジ
スト液の塗布動作が終了する。
After this, from time t4, the rotation speed of the glass substrate 3 is changed to the rotation speed R2.
(1000 rpm) so that the excess resist solution on the glass substrate 3 is shaken off. At time t6, the rotation of the glass substrate 3 is stopped, but before the time t5, the back rinsing liquid discharge operation is performed. The rotation of the glass substrate 3 is stopped at the time t6, and the operation of applying the resist solution onto the glass substrate 3 is completed in this manner.

発明が解決しようとする課題 上述したような構成と作用とを有する従来例において、
ガラス基板3のバックリンス液による余分なレジスト液
の除去動作は、第7図に示されるように矩形状のガラス
基板3においては真空チャック4の輪郭を示す円弧l1と
ガラス基板3の仮想内接円l2との間の領域については良
好に行われる。一方、ガラス基板3において仮想内接円
l2より外方の部分にはバックリンス液が直接吐出され
ず、したがって充分に洗浄が行われないという問題があ
った。
Problems to be Solved by the Invention In a conventional example having the above-described configuration and operation,
As shown in FIG. 7, the removal operation of the excess resist solution by the back rinse solution of the glass substrate 3 is performed by virtually inscribing the arc l1 showing the contour of the vacuum chuck 4 and the glass substrate 3 in the rectangular glass substrate 3. The area between the circles l2 works well. On the other hand, a virtual inscribed circle on the glass substrate 3
There was a problem that the back rinse liquid was not directly discharged to the portion outside l2, so that the cleaning was not sufficiently performed.

すなわち前記円弧l1,l2で囲まれる領域にはバックリン
ス液が直接吐出され、レジスト液を有効に除去するけれ
ども、ガラス基板3の回転に伴う遠心力でバックリンス
液は外方に向けて拡がり、回転軸線に関する半径方向最
小距離部(ガラス基板3の各辺の中間部)から最初に飛
散が始まると、ガラス基板3の下面に付着したバックリ
ンス液はこの部分から一挙に飛散してしまい、前記外方
部分まで到達しないのである。またバックリンス液の一
部分が前記外方部分に到達する場合であっても、前記外
方部分のごく一部を筋状に被覆するのみであり、有効な
洗浄作用を行うことができない。この裏面に付着したホ
トレジストは、次工程のレジスト焼成において焼成炉お
よびその雰囲気を汚染することになり、さらに次の露光
工程において裏面から乾燥したレジストが剥離して浮遊
し、露光不良をもたらして、著しい歩留低下となってい
た。このような技術的課題は、円板状のシリコンウエハ
では生じない問題であって、矩形状のガラス基板などを
用いる分野において特徴的な課題である。
That is, although the back rinse liquid is directly discharged to the area surrounded by the arcs l1 and l2 to effectively remove the resist liquid, the back rinse liquid spreads outward due to the centrifugal force accompanying the rotation of the glass substrate 3, When the splattering first starts from the radial minimum distance portion (the middle portion of each side of the glass substrate 3) with respect to the rotation axis, the back rinse liquid adhering to the lower surface of the glass substrate 3 splatters from this portion all at once. It does not reach the outer part. Further, even when a part of the back rinse liquid reaches the outer portion, only a small part of the outer portion is covered in a streak shape, and an effective cleaning action cannot be performed. The photoresist attached to the back surface will contaminate the baking furnace and its atmosphere in the resist baking in the next step, and in the next exposure step the dried resist will peel off and float, resulting in exposure failure. The yield was remarkably reduced. Such a technical problem is a problem that does not occur in a disk-shaped silicon wafer and is a characteristic problem in the field of using a rectangular glass substrate or the like.

本発明の目的は、上述の技術的課題を解消し、塗布剤が
塗布される基板が矩形状であっても、基板全面に亘って
洗浄作用を行うことができ、使用性が格段に向上された
塗布装置を提供することである。
The object of the present invention is to solve the above-mentioned technical problems, and even if the substrate to which the coating agent is applied has a rectangular shape, the cleaning action can be performed over the entire surface of the substrate, and the usability is significantly improved. It is to provide a coating device.

課題を解決するための手段 本発明は、基板(12)に塗布剤を吐出する塗布剤吐出ノ
ズル(15)と、 前記基板(12)を支持して回転駆動する回転部材(13)
と、 基板(12)と回転部材(13)とを収納する収納容器(1
4)と、 前記基板(12)に関して塗布剤吐出ノズル(15)と反対
側に設けられ、前記回転部剤(13)の回転軸線の半径方
向に沿って間隔をあけて配設される第1洗浄ノズル(1
6)および第2洗浄ノズル(17)とを含み、 第1洗浄ノズル(16)は、前記回転軸線に関する基板
(12)周円の最小半径距離より半径方向内方に配置され
て洗浄剤を連続的に吐出し、 第2洗浄ノズル(17)は、前記最小半径距離よりも外方
に配置され、基板(12)の最小の半径距離より外方部分
が第2洗浄ノズル(17)に臨む期間内のみ、間欠的に洗
浄剤を吐出するものであることを特徴とする塗布装置で
ある。
Means for Solving the Problems The present invention provides a coating material discharge nozzle (15) for discharging a coating material onto a substrate (12), and a rotating member (13) for supporting and rotating the substrate (12).
And a storage container (1 for storing the substrate (12) and the rotating member (13).
4) and a first side which is provided on the side opposite to the coating agent discharge nozzle (15) with respect to the substrate (12) and is spaced apart along the radial direction of the rotation axis of the rotating section agent (13). Cleaning nozzle (1
6) and a second cleaning nozzle (17), wherein the first cleaning nozzle (16) is arranged radially inward of the minimum radial distance of the circumferential circle of the substrate (12) with respect to the rotation axis to continuously connect the cleaning agent. The second cleaning nozzle (17) is disposed outside the minimum radial distance, and a portion outside the minimum radial distance of the substrate (12) faces the second cleaning nozzle (17). The coating device is characterized in that the cleaning agent is intermittently discharged only in the inside.

作用 本発明に従う塗布装置は、塗布剤吐出ノズルを用いて基
板の一方表面に塗布剤を吐出する。この基板は回転部材
によって支持された状態で回転駆動され、塗布剤が遠心
力によって塗り拡げられる。このとき、塗布剤が飛散し
て基板の裏面に付着する事態が発生するが、この裏面側
には第1洗浄ノズルおよび第2洗浄ノズルが設けられて
おり、第1洗浄ノズルは回転軸線に関する基板周縁の最
小半径距離より半径方向内方側に配置されて洗浄剤を連
続的に吐出する。したがって前記最小半径距離より内方
側に有効に洗浄される。
Action The coating apparatus according to the present invention discharges the coating agent onto one surface of the substrate using the coating agent discharge nozzle. The substrate is rotatably driven while being supported by the rotating member, and the coating agent is spread by centrifugal force. At this time, the coating material may be scattered and adhere to the back surface of the substrate. The first cleaning nozzle and the second cleaning nozzle are provided on the back surface side, and the first cleaning nozzle serves as a substrate related to the rotation axis. The cleaning agent is continuously disposed on the inner side in the radial direction with respect to the minimum radial distance of the peripheral edge. Therefore, the cleaning is effectively performed inward of the minimum radial distance.

一方、前記最小半径距離より外方側は、第2洗浄ノズル
に臨む期間内のみ、間欠的に洗浄剤を吐出する第2洗浄
ノズルによって洗浄剤が吐出されるので、このような最
小半径距離より外方部分が周方向に沿って間欠的に存在
する場合、有効に洗浄作用を行うことができる。
On the other hand, on the outer side of the minimum radial distance, the cleaning agent is intermittently discharged by the second cleaning nozzle that intermittently discharges the cleaning agent only during the period facing the second cleaning nozzle. When the outer portion is present intermittently along the circumferential direction, the cleaning action can be effectively performed.

実施例 第1図は本発明の一実施例の塗布装置であるスピンコー
タ11の簡略化した縦断面図であり、第2図は基板11の平
面図である。これらの図面を参照して、スピンコータ11
の構成について説明する。このスピンコータ11は、たと
えば液晶表示装置を構成する透明基板上にホトレジスト
液をスピン方式にて塗布するために用いられる。このス
ピンコータ11は、基板12を真空吸着して支持するととも
に、これを鉛直方向に延びる回転軸線まわりに回転駆動
する真空チャック13を備え、この真空チャック13と基板
12とは収納容器14内に収納される。本実施例では基板12
の寸法は300mm×300mm×1.1mmであり、真空チャック13
の外径は240mmφを用いる。
Embodiment FIG. 1 is a simplified vertical sectional view of a spin coater 11 which is a coating apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of a substrate 11. Referring to these drawings, the spin coater 11
The configuration of will be described. The spin coater 11 is used, for example, to apply a photoresist solution onto a transparent substrate forming a liquid crystal display device by a spin method. The spin coater 11 is provided with a vacuum chuck 13 for supporting the substrate 12 by vacuum suction and rotating the substrate 12 about a rotation axis extending in the vertical direction.
12 is stored in a storage container 14. In this embodiment, the substrate 12
The dimensions are 300 mm × 300 mm × 1.1 mm, and vacuum chuck 13
Use an outer diameter of 240 mmφ.

収納容器14内の基板12の回転中心位置の上方側には、ホ
トレジスト液(たとえば東京応化製、OFPR800-6CP)を
吐出するためのレジスト吐出ノズル15が配置され、基板
12に関してレジスト吐出ノズル15と反対側には基板12の
裏面に付着したレジスト液を洗浄するためのバックリン
ス液(たとえばエチルセルソルブアセテート(ECA))
などと称される洗浄剤を吐出する第1吐出ノズル16およ
び第2吐出ノズル17が配置される。前記真空チャック13
はモータ18によって回転駆動され、このモータ18に関連
して真空チャック13の回転角を検出する回転角検出器19
が接続される。回転角検出器19の出力は、たとえばマイ
クロプロセッサなどを含んで構成される制御装置20に入
力される。
A resist discharge nozzle 15 for discharging a photoresist solution (for example, OFPR800-6CP manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.) is arranged above the center of rotation of the substrate 12 in the storage container 14,
A back rinse liquid for cleaning the resist liquid adhering to the back surface of the substrate 12 on the side opposite to the resist discharge nozzle 15 with respect to 12 (eg, ethyl cellosolve acetate (ECA))
A first ejection nozzle 16 and a second ejection nozzle 17 for ejecting a cleaning agent referred to as “etc.” are arranged. The vacuum chuck 13
Is rotationally driven by a motor 18, and a rotation angle detector 19 for detecting the rotation angle of the vacuum chuck 13 in association with the motor 18.
Are connected. The output of the rotation angle detector 19 is input to the control device 20 including, for example, a microprocessor.

前記第1および第2吐出ノズル16、17は、それぞれ電磁
弁21,22を介してポンプ23に接続され、ポンプ23はタン
ク24に貯留された洗浄剤を吐出ノズル16,17へ供給す
る。この電磁弁21,22は、前記制御装置20によって後述
するように開閉制御される。
The first and second discharge nozzles 16 and 17 are connected to a pump 23 via electromagnetic valves 21 and 22, respectively, and the pump 23 supplies the cleaning agent stored in a tank 24 to the discharge nozzles 16 and 17. The solenoid valves 21 and 22 are controlled to be opened and closed by the control device 20 as described later.

また前記第1吐出ノズル16は、真空チャック13の回転軸
線に関して第2図に示されるように基板12の周縁におけ
る最小半径距離を有する点の軌跡である仮想内接円l11
の半径方向内方側であって、真空チャック13の周縁を示
す円l12の外方側に配置される。一方、第2吐出ノズル1
7は、前記仮想内接円l11より半径方向外方であって、基
板12の最大半径距離を有する点の軌跡である仮想外接円
l13より半径方向内方側に配置される。
Further, the first discharge nozzle 16 is a virtual inscribed circle l11 which is a locus of points having a minimum radial distance on the peripheral edge of the substrate 12 with respect to the rotation axis of the vacuum chuck 13 as shown in FIG.
Is arranged on the inner side in the radial direction of, and on the outer side of the circle l12 indicating the periphery of the vacuum chuck 13. On the other hand, the second discharge nozzle 1
Reference numeral 7 denotes a virtual circumscribed circle which is a locus of points having the maximum radial distance of the substrate 12 and which is radially outward from the virtual inscribed circle l11.
It is located radially inward of l13.

第3図は基板11が第1図示の状態より角変位した状態に
おけるスピンコータ11の断面図であり、第4図はこの場
合の基板12の平面図であり、第5図はスピンコータ11の
動作を示すグラフである。これらの図面を併せて参照し
て、スピンコータ11の動作について説明する。停止して
いる基板12上に第5図の時刻t11から期間W11(たとえば
7秒)だけ洗浄剤をたとえば20cc吐出する。吐出終了時
刻t12より期間W12(たとえば3秒)だけ放置し、時刻t1
3から基板12を回転させる。
3 is a sectional view of the spin coater 11 when the substrate 11 is angularly displaced from the state shown in FIG. 1, FIG. 4 is a plan view of the substrate 12 in this case, and FIG. 5 shows the operation of the spin coater 11. It is a graph shown. The operation of the spin coater 11 will be described with reference to these drawings. For example, 20 cc of the cleaning agent is discharged onto the stopped substrate 12 from time t11 in FIG. 5 for a period W11 (for example, 7 seconds). After the discharge end time t12, the discharge is left for a period W12 (for example, 3 seconds), and the time t1
Rotate substrate 12 from 3.

基板12は回転数R11(たとえば200rpm)で回転され、吐
出されたレジスト液が基板12上で塗り拡げられる。この
定常回転期間中の時刻t14から、第1吐出ノズル16を用
いて洗浄剤を期間W13に亘って連続吐出する。このよう
な第1吐出ノズル16からの洗浄剤によって、回転数R11
で回転される基板12から飛散するレジスト液が基板12の
裏面に付着した場合、これを有効に除去できる。ただ
し、その除去できる範囲は従来例と同じく、第2図に示
されるように仮想内接円l11と円l12との間の領域であ
り、第1吐出ノズル16のみでは仮想内接円l11より半径
方向外方部分は有効な除去は行われない。
The substrate 12 is rotated at a rotation speed R11 (for example, 200 rpm), and the discharged resist liquid is spread and spread on the substrate 12. From time t14 during this steady rotation period, the cleaning agent is continuously discharged using the first discharge nozzle 16 for the period W13. By the cleaning agent from the first discharge nozzle 16 as described above, the rotation speed R11
When the resist solution scattered from the substrate 12 rotated by the step adheres to the back surface of the substrate 12, it can be effectively removed. However, the range that can be removed is the area between the virtual inscribed circles l11 and l12 as shown in FIG. 2 as in the conventional example, and the radius of the first injecting nozzle 16 alone is smaller than the virtual inscribed circle l11. No effective removal is performed on the outward portion in the direction.

次に基板12の回転数をR12(たとえば30rpm)に減少し、
減少後の時刻t15から期間W14(たとえば6秒間)にわた
って第2吐出ノズル17を用いて間欠的な吐出動作を行
う。すなわち基板12の仮想内接円l11より外方部分の1
つが第2図に示されるように第2吐出ノズル17に臨む位
置に到達したとき、第2吐出ノズル17からたとえば0.2
秒間吐出動作が行われる。次に基板12が回転して、前記
仮想内接円l11より外方の部分が第4図に示されるよう
に第2吐出ノズル17には臨んでいない位置に到達してい
るとき、たとえば0.3秒間吐出動作を停止する。基板12
の1回転当り、このような間欠動作がたとえば4回行わ
れることになる。
Next, reduce the rotation speed of the substrate 12 to R12 (for example, 30 rpm),
An intermittent ejection operation is performed using the second ejection nozzle 17 for a period W14 (for example, 6 seconds) from the time t15 after the decrease. That is, 1 on the outer side of the virtual inscribed circle l11 of the substrate 12
2 reaches a position facing the second discharge nozzle 17 as shown in FIG.
The ejection operation is performed for a second. Next, when the substrate 12 rotates to reach a position where the portion outside the virtual inscribed circle l11 does not face the second discharge nozzle 17 as shown in FIG. 4, for example, 0.3 seconds. Stop the discharge operation. Board 12
Such an intermittent operation is performed, for example, four times per one rotation.

このような第1および第2吐出ノズル16,17の作用によ
り、基板11の円l12より半径方向外方側全体にわたって
洗浄剤が行き渡り、裏面に付着したホトレジスト液を溶
解した後、空中に飛散することになる。なお、前記回転
数R12では上記種類の洗浄剤は、前記裏面に保持され、
裏面は洗浄剤で濡れた状態である。
By the action of the first and second discharge nozzles 16 and 17 as described above, the cleaning agent is spread all over the outer side in the radial direction of the circle 11 of the substrate 11, dissolves the photoresist liquid adhering to the back surface, and then is scattered in the air. It will be. Incidentally, at the rotation speed R12, the cleaning agent of the above type is held on the back surface,
The back surface is wet with the cleaning agent.

次に、第2吐出ノズル17の吐出動作を時刻t16で終了
し、期間W15(たとえば1〜2秒)放置後の時刻t17か
ら、均一なホトレジスト膜厚を得るために基板12を回転
数R13(たとえば1000rpm)で高速回転する。このとき飛
散したレジスト液の飛沫が基板12裏面に付着するが、該
裏面は前述したように洗浄剤で濡れた状態であり、付着
したレジスト飛沫は溶解される。また前記回転数R13の
高速回転の期間亘って、洗浄剤はレジスト飛沫を有効に
溶解しつつ空中に飛散する。その後、時刻t18で第1吐
出ノズル16の吐出動作が終了し、時刻t19で基板12の回
転が停止し、レジスト液の塗布動作は終了する。
Next, the discharge operation of the second discharge nozzle 17 is finished at time t16, and from time t17 after being left for a period W15 (for example, 1 to 2 seconds), the substrate 12 is rotated at the rotational speed R13 (to obtain a uniform photoresist film thickness. For example, 1000 rpm) rotates at high speed. At this time, the splashes of the resist liquid that have scattered are attached to the back surface of the substrate 12, but the back surface is in a state of being wet with the cleaning agent as described above, and the attached resist droplets are dissolved. Further, during the period of high-speed rotation of the rotation speed R13, the cleaning agent effectively dissolves the resist droplets and scatters in the air. After that, at time t18, the ejection operation of the first ejection nozzle 16 ends, at time t19, the rotation of the substrate 12 stops, and the resist liquid coating operation ends.

以上のように本実施例では、ホトレジストがスピン方式
にて塗布される基板12が、たとえば矩形板状のガラス基
板であっても、その裏面がホトレジストによって汚染さ
れる事態を有効に防止することができる。また本実施例
の作用効果は、基板12が大形化するほどに、より効果が
顕著である。
As described above, in the present embodiment, even if the substrate 12 on which the photoresist is applied by the spin method is, for example, a rectangular plate-shaped glass substrate, it is possible to effectively prevent the back surface from being contaminated by the photoresist. it can. Further, the action and effect of this embodiment are more remarkable as the substrate 12 becomes larger.

本発明の対象となる基板は、液晶表示装置に用いられる
ガラス基板に限らず、各種印刷配線基板などについても
有効に実施される。また塗布剤および洗浄剤は上記材料
に限るものでないのは勿論である。
The substrate to which the present invention is applied is not limited to the glass substrate used in the liquid crystal display device, but can be effectively applied to various printed wiring boards. Needless to say, the coating agent and the cleaning agent are not limited to the above materials.

本発明では、基板12は、前述の実施例ではたとえば矩形
形状であるけれども、このような形状に限らず、回転部
剤である真空チャック13の回転軸線に垂直な仮想平面上
への基板1の投影図形の外形が、周方向に回転軸線から
異なる距離にある形状を有する基板12に、本発明は実施
することができる。
In the present invention, the substrate 12 has, for example, a rectangular shape in the above-described embodiment, but the shape is not limited to such a shape, and the substrate 1 is placed on an imaginary plane perpendicular to the rotation axis of the vacuum chuck 13, which is a rotating member. The present invention can be carried out on the substrate 12 having a shape in which the outer shape of the projected figure is at different distances from the rotation axis in the circumferential direction.

また第1および第2洗浄ノズルを用いて基板の表面に液
体材料を塗布する使用例も本発明の精神に含まれるもの
である。
Further, an application example in which the liquid material is applied to the surface of the substrate using the first and second cleaning nozzles is also included in the spirit of the present invention.

発明の効果 以上のように本発明に従えば、第1洗浄ノズルは回転軸
線に関する基板周縁の最小半径距離より半径方向内方側
に洗浄剤を連続的に吐出する。したがって前記最小半径
距離より内方側は有効に洗浄される。一方、前記最小半
径距離より外方側には、第2洗浄ノズルに臨む期間内の
み、間欠的に洗浄剤を吐出する第2洗浄ノズルによって
洗浄剤が吐出されるので、このような最小半径距離より
外方部分が周方向に沿って間欠的に存在する場合、有効
に洗浄作用を行うことができる。
As described above, according to the present invention, the first cleaning nozzle continuously discharges the cleaning agent radially inward of the minimum radial distance of the substrate peripheral edge with respect to the rotation axis. Therefore, the inner side of the minimum radial distance is effectively cleaned. On the other hand, the outer side of the minimum radial distance is such that the cleaning agent is intermittently discharged by the second cleaning nozzle that intermittently discharges the cleaning agent only during the period facing the second cleaning nozzle. When the outer portion is present intermittently along the circumferential direction, the cleaning action can be effectively performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例のスピンコータ11の縦断面
図、第2図は基板12の平面図、第3図は本実施例の動作
を説明する断面図、第4図は基板12が角変位した状態の
平面図、第5図はスピンコータ11の動作を説明するグラ
フ、第6図は典型的な従来例のスピンコータ1の断面
図、第7図は基板3の平面図、第8図スピンコータ1の
動作を説明するグラフである。 11……スピンコータ、12……基板、13……真空チャッ
ク、14……容器、15……レジスト吐出ノズル、16,17…
…吐出ノズル
FIG. 1 is a vertical sectional view of a spin coater 11 according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a substrate 12, FIG. 3 is a sectional view for explaining the operation of the present embodiment, and FIG. FIG. 5 is a graph for explaining the operation of the spin coater 11, FIG. 6 is a cross-sectional view of a typical conventional spin coater 1, FIG. 7 is a plan view of the substrate 3, and FIG. 6 is a graph illustrating the operation of the spin coater 1. 11 …… Spin coater, 12 …… Substrate, 13 …… Vacuum chuck, 14 …… Container, 15 …… Register discharge nozzle, 16,17…
... Discharge nozzle

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G03F 7/16 501 H01L 21/027 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI Technical display location G03F 7/16 501 H01L 21/027

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板(12)に塗布剤を吐出する塗布剤吐出
ノズル(15)と、 前記基板(12)を支持して回転駆動する回転部材(13)
と、 基板(12)と回転部材(13)とを収納する収納容器(1
4)と、 前記基板(12)に関して塗布剤吐出ノズル(15)と反対
側に設けられ、前記回転部材(13)の回転軸線の半径方
向に沿って間隔をあけて配設される第1洗浄ノズル(1
6)および第2洗浄ノズル(17)とを含み、 第1洗浄ノズル(16)は、前記回転軸線に関する基板
(12)周縁の最小半径距離より半径方向内方に配置され
て洗浄剤を連続的に吐出し、 第2洗浄ノズル(17)は、前記最小半径距離よりも外方
に配置され、基板(12)の最小半径距離より外方部分が
第2洗浄ノズル(17)に臨む期間内のみ、間欠的に洗浄
剤を吐出するものであることを特徴とする塗布装置。
1. A coating material discharge nozzle (15) for discharging a coating material onto a substrate (12), and a rotating member (13) for supporting and rotating the substrate (12).
And a storage container (1 for storing the substrate (12) and the rotating member (13).
4) and the first cleaning provided on the opposite side of the coating material discharge nozzle (15) with respect to the substrate (12) and arranged at intervals along the radial direction of the rotation axis of the rotating member (13). Nozzle (1
6) and a second cleaning nozzle (17), wherein the first cleaning nozzle (16) is arranged radially inward of the minimum radial distance of the peripheral edge of the substrate (12) with respect to the rotation axis to continuously transfer the cleaning agent. The second cleaning nozzle (17) is disposed outside the minimum radial distance, and only within a period in which the portion outside the minimum radial distance of the substrate (12) faces the second cleaning nozzle (17). A coating device which discharges the cleaning agent intermittently.
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