JP2893146B2 - Coating device - Google Patents

Coating device

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JP2893146B2
JP2893146B2 JP26864491A JP26864491A JP2893146B2 JP 2893146 B2 JP2893146 B2 JP 2893146B2 JP 26864491 A JP26864491 A JP 26864491A JP 26864491 A JP26864491 A JP 26864491A JP 2893146 B2 JP2893146 B2 JP 2893146B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、半導体ウエハ等の被
塗布体を回転して塗布液を塗布する塗布装置に係り、特
に回転により飛散される塗布液が付着する容器を洗浄す
ることができる塗布装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a coating apparatus for applying a coating solution by rotating an object to be coated such as a semiconductor wafer, and more particularly to a container to which a coating solution scattered by rotation adheres. The present invention relates to a coating device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体ウエハ等の被塗布体を回転
して塗布液を塗布する塗布装置として、図7に示すよう
なレジスト回転塗布装置が試みられている。この塗布装
置は、半導体ウエハ60を水平に保持して高速回転する
回転保持手段であるスピンチャック61と、半導体ウエ
ハ60上に塗布液としてレジスト液を滴下するレジスト
供給ノズル62と、スピンチャック61上の半導体ウエ
ハ60を包囲するように設けられた外カップ63及び内
カップ64とを有している。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a coating apparatus for applying a coating liquid by rotating an object such as a semiconductor wafer, a resist rotary coating apparatus as shown in FIG. 7 has been tried. This coating apparatus includes a spin chuck 61 which is a rotation holding means for holding a semiconductor wafer 60 horizontally and rotating at high speed, a resist supply nozzle 62 for dropping a resist liquid as a coating liquid on the semiconductor wafer 60, and a spin chuck 61. The outer cup 63 and the inner cup 64 are provided so as to surround the semiconductor wafer 60.

【0003】レジスト供給ノズル62から半導体ウエハ
60上に滴下されたレジスト液は、スピンチャック61
の回転により、半導体ウエハ60上に均一に塗布され、
余分なレジスト液は半導体ウエハ60の周辺方向に飛散
されて外カップ63及び内カップ64の内壁面に付着す
る。この外カップ63、内カップ64に付着したレジス
ト液層を放置しておくと、次第にレジストが積層し乾燥
すると、衝撃などによってカップ63,64から剥離し
て、半導体ウエハ60を汚染してしまう。このため、カ
ップ63,64を定期的に取り外して、洗浄除去するこ
とが行われている。しかし、この作業は非常に手間と時
間がかかる。
The resist solution dropped from the resist supply nozzle 62 onto the semiconductor wafer 60 is applied to a spin chuck 61.
Is applied uniformly on the semiconductor wafer 60 by the rotation of
Excess resist solution is scattered in the peripheral direction of the semiconductor wafer 60 and adheres to the inner wall surfaces of the outer cup 63 and the inner cup 64. If the resist liquid layer adhering to the outer cup 63 and the inner cup 64 is left, the resist is gradually laminated and dried. If the resist is dried, the resist is peeled off from the cups 63 and 64 due to an impact or the like, and the semiconductor wafer 60 is contaminated. For this reason, the cups 63 and 64 are regularly removed and washed and removed. However, this operation is very troublesome and time-consuming.

【0004】そこで、この塗布装置には、カップ63,
64に付着したレジストを自動的に除去する洗浄機構が
設けられている。即ち、図7及び図8に示すように、カ
ップ63,64には、レジストを溶解する洗浄液Lを導
入する導入路65と、導入路65から導入された洗浄液
Lをカップ63,64の全周に分配供給するための環状
の供給路66と、供給路66の洗浄液Lをレジスト付着
面へと流し出すための多数の小孔67とが形成されると
共に、導入路65には、継手68を介して洗浄液導入用
のチューブ69が接続されている。そして、供給路66
に供給された洗浄液Lは各小孔67を通って流れ出し、
外カップ63の内周面、内カップ64の外周面を伝わっ
て流れ落ちるようになっている。
[0004] Therefore, the coating device includes a cup 63,
A cleaning mechanism is provided for automatically removing the resist adhering to 64. That is, as shown in FIGS. 7 and 8, the cups 63 and 64 are provided with an introduction path 65 for introducing the cleaning liquid L for dissolving the resist, and the cleaning liquid L introduced from the introduction path 65 around the cups 63 and 64. An annular supply path 66 for distributing and supplying the cleaning liquid L, a large number of small holes 67 for discharging the cleaning liquid L of the supply path 66 to the resist adhering surface are formed, and a joint 68 is formed in the introduction path 65. A tube 69 for introducing a cleaning liquid is connected through the intermediary. And the supply path 66
Is supplied through each small hole 67,
It flows down along the inner peripheral surface of the outer cup 63 and the outer peripheral surface of the inner cup 64.

【0005】上記の他に、例えば、特開昭58−184
725号,特開昭59−211226号,特開昭62−
73629号,特開昭62−73630号,特公昭63
−41630号,実公平1−25665号公報にて開示
された技術がある。
In addition to the above, see, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 58-184.
No. 725, JP-A-59-212226 and JP-A-62-162.
No. 73629, JP-A-62-73630, JP-B-63
No. 41630 and Japanese Utility Model Publication No. 1-266565.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
塗布装置における洗浄機構では、外カップ63及び内カ
ップ64の構造が複雑であり、高価となるばかりでな
く、加工、取付上も難しい。また、何百本もの小孔67
から洗浄液Lを流しているが、洗浄液Lは一度流れた道
筋を流れ易いことから、カップ63,64の全周面に亘
って均一に洗浄液Lが拡がって流れず、洗浄むらができ
てしまうという問題があった。更に、洗浄液Lを少しず
つ流してレジストを溶解除去する方式なので、洗浄時間
が長く、洗浄液Lの消費量も多い。また、継手68等か
ら洗浄液Lがリークするなどのトラブルが発生する虞れ
もあった。上記の他、洗浄液の飛散方向をコントロール
することが難しく、カップを効果的に洗浄できないなど
の問題もあった。
However, in the above-described cleaning mechanism in the coating apparatus, the structure of the outer cup 63 and the inner cup 64 is complicated, not only expensive, but also difficult to process and mount. Hundreds of small holes 67
The cleaning liquid L flows through the path once flowing, so that the cleaning liquid L does not spread and flow uniformly over the entire peripheral surfaces of the cups 63 and 64, resulting in uneven cleaning. There was a problem. Furthermore, since the resist is dissolved and removed by flowing the cleaning liquid L little by little, the cleaning time is long and the consumption of the cleaning liquid L is large. Further, there is a possibility that a trouble such as a leak of the cleaning liquid L from the joint 68 or the like may occur. In addition to the above, there is a problem that it is difficult to control the scattering direction of the cleaning liquid, and the cup cannot be effectively cleaned.

【0007】この発明の目的は、上記事情に鑑みてなさ
れたものであり、少量の洗浄液で均一にかつ短時間で効
率よく塗布液の洗浄を行うことができる構造簡単な塗布
装置を提供することにある。
An object of the present invention has been made in view of the above circumstances, and to provide a coating apparatus having a simple structure capable of efficiently and efficiently cleaning a coating liquid in a short time with a small amount of a cleaning liquid. It is in.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明は、被塗布体を保持して回転す
る回転保持手段と、この回転保持手段を取り囲むように
設けられ、上記被塗布体に供給された塗布液の飛散を防
止するための容器とを有する塗布装置において、上記
転保持手段に設けられ、上記容器に付着した塗布液を洗
浄するための洗浄液が供給される洗浄用治具と、上記洗
浄用治具に向って洗浄液を供給する洗浄液供給手段とを
具備し、上記洗浄用治具に、上記回転保持手段の回転に
より上記容器の複数箇所に向って洗浄液を吐出すべく少
なくとも2方向に吐出可能な吐出孔を設けたことを特徴
とする。
Means for Solving the Problems To achieve the above object, the invention according to claim 1 is provided with a rotation holding means for holding and rotating an object to be coated, and provided so as to surround the rotation holding means, in the coating apparatus having a container for preventing scattering of the coating liquid supplied to the medium to be coated, the times
A cleaning jig provided to the rolling holding means , to which a cleaning liquid for cleaning the coating liquid attached to the container is supplied, and a cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid toward the cleaning jig, A small amount of cleaning liquid is discharged onto the cleaning jig toward a plurality of locations of the container by rotating the rotation holding means.
Discharge holes capable of discharging in at least two directions are provided.

【0009】請求項2記載の発明は、被塗布体を保持し
て回転する回転保持手段と、この回転保持手段を取り囲
むように設けられ、上記被塗布体に供給された塗布液の
飛散を防止するための容器とを有する塗布装置におい
、上記回転保持手段に設けられ、上記容器に付着した
塗布液を洗浄するための洗浄液が供給される洗浄用治具
を備え、この洗浄用治具は上記洗浄液を貯留しうる貯留
部を有すると共に、上記回転保持手段の回転により上記
貯留部の洗浄液を上記容器の複数箇所に向って洗浄液を
吐出すべく少なくとも2方向に吐出可能な吐出孔を有す
ることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a rotation holding means for holding and rotating an object to be coated, and provided so as to surround the rotation holding means to prevent the application liquid supplied to the object to be scattered. Coating device having a container for cleaning
Te, provided in the rotary holding means comprises a cleaning jig that cleaning liquid for cleaning the coating liquid adhering to the container is supplied, the cleaning jig has a reservoir capable of storing the washing solution Along with the rotation of the rotation holding means, the cleaning liquid in the storage section is directed to a plurality of locations of the container to wash the cleaning liquid.
Has discharge holes that can be discharged in at least two directions to discharge
It is characterized by that.

【0010】この発明において、上記吐出孔を、上記容
器に対して垂直方向に異なる角度をもって少なくとも2
方向に吐出可能に設ける方が好ましい(請求項3)。
[0010] In the present invention, the discharge port is provided with the volume
At least two different angles perpendicular to the vessel
It is more preferable to provide the nozzles so that they can be ejected in the direction (claim 3).

【0011】また、上記被塗布体としては、半導体ウエ
ハ、プリント基板、LCD基板等があり、レジスト液塗
布処理、現像液塗布処理、エッチング液塗布処理、磁性
液塗布処理などを行う装置に適用される。
The object to be coated includes a semiconductor wafer, a printed circuit board, an LCD substrate and the like, and is applied to an apparatus for performing a resist solution coating process, a developing solution coating process, an etching solution coating process, a magnetic liquid coating process, and the like. You.

【0012】また、上記洗浄用治具は、塗布液を溶解す
る溶剤などの洗浄液に冒されずかつ回転支持手段により
高速回転できるように比重が軽い材質のもの、例えばデ
ルリン、テフロン(共に商品名)あるいは塩化ビニルな
どを用いるのがよい。また、洗浄用治具の例えば吐出孔
は、回転支持手段により回転走査する場合には、例えば
上、中、下に各々1つ以上設ければよく、例えば吐出孔
は、水平方向の吐出孔と、この水平方向の吐出孔より上
方に所定角度の上向きの吐出孔と、上記水平方向の吐出
孔より下方に所定角度の下向きの吐出孔と、垂直方向の
下向きの吐出孔とを具備する(請求項4)
The cleaning jig is made of a material having a low specific gravity such as Delrin and Teflon (both are trade names) so as not to be affected by a cleaning liquid such as a solvent which dissolves the coating liquid and to be able to rotate at high speed by a rotation supporting means. ) Or vinyl chloride. Further, for example, in the case where the discharge jig of the cleaning jig is rotated and scanned by the rotation supporting means, for example, one or more discharge holes may be provided at the upper, middle, and lower positions.
Is located above and below the horizontal discharge holes.
Discharge hole upward at a predetermined angle, and discharge in the horizontal direction
A downward discharge hole at a predetermined angle below the hole, and a vertical
And a downward discharge hole .

【0013】[0013]

【作用】回転保持手段に載置された洗浄用治具には洗浄
液供給手段から予めあるいは回転保持手段による回転中
に洗浄液が適宜供給される。洗浄用治具に供給された洗
浄液は、回転保持手段の回転に伴う遠心力により、洗浄
用治具の周縁部側に集められ、更に回転保持手段の回転
による回転力及び遠心力を受けて、洗浄液は吐出孔から
高速で吐出飛散しカップ内面に衝突する。洗浄液は貯留
部に一旦貯えられ、大きな運動量を持った洗浄液が例え
ば連続的に吐出孔から吐出されるので、カップ内面に付
着した塗布液は急速に洗浄除去される。また、吐出孔が
カップに臨ませて垂直方向(上下)に複数形成すること
で、カップ内面に広く洗浄液が散布される。
The cleaning jig placed on the rotation holding means is supplied with the cleaning liquid from the cleaning liquid supply means in advance or during rotation by the rotation holding means. The cleaning liquid supplied to the cleaning jig is collected on the peripheral edge side of the cleaning jig by the centrifugal force accompanying the rotation of the rotation holding means, and further receives the rotational force and centrifugal force by the rotation of the rotation holding means, The cleaning liquid is discharged and scattered from the discharge holes at high speed and collides with the inner surface of the cup. The cleaning liquid is temporarily stored in the storage unit, and the cleaning liquid having a large momentum is continuously discharged from the discharge hole, for example, so that the coating liquid attached to the inner surface of the cup is quickly cleaned and removed. Further, by forming a plurality of discharge holes in the vertical direction (up and down) facing the cup, the cleaning liquid is widely sprayed on the inner surface of the cup.

【0014】[0014]

【実施例】以下に、この発明の実施例を図面に基いて詳
細に説明する。この実施例はレジスト膜形成装置に適用
したものである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. This embodiment is applied to a resist film forming apparatus.

【0015】図1に示すように、このレジスト膜形成装
置は、被塗布体例えば半導体ウエハ60(以下、単にウ
エハという)に種々の処理を施す処理機構が配設された
処理機構ユニット10と、処理機構ユニット10にウエ
ハ60を自動的に搬入・搬出するための搬入・搬出機構
1とから主に構成されている。
As shown in FIG. 1, the resist film forming apparatus includes a processing mechanism unit 10 provided with a processing mechanism for performing various processes on an object to be coated, for example, a semiconductor wafer 60 (hereinafter, simply referred to as a wafer); It mainly comprises a loading / unloading mechanism 1 for automatically loading / unloading the wafer 60 into / from the processing mechanism unit 10.

【0016】搬入・搬出機構1は、処理前のウエハ60
を収納するウエハキャリア2と、処理後のウエハ60を
収納するウエハキャリア3と、ウエハ60を吸着保持す
るアーム4と、このアーム4をX,Y(水平),Z(垂
直)及びθ(回転)方向に移動させる移動機構5と、ウ
エハ60がアライメントされかつ処理機構ユニット10
との間でウエハ60の受け渡しがなされるアライメント
ステージ6とを備えている。
The carry-in / carry-out mechanism 1 is used to move the wafer 60 before processing.
, A wafer carrier 3 for storing a processed wafer 60, an arm 4 for sucking and holding the wafer 60, and an arm 4 for X, Y (horizontal), Z (vertical) and θ (rotation) ), And the processing mechanism unit 10 in which the wafer 60 is aligned and the wafer 60 is aligned.
And an alignment stage 6 between which the wafer 60 is transferred.

【0017】処理機構ユニット10には、アライメント
ステージ6よりX方向に形成された搬送路11に沿って
移動自在に搬送機構12が設けられている。搬送機構1
2にはY,Z及びθ方向に移動自在にメインアーム13
が設けられている。搬送路11の一方の側には、ウエハ
60とレジスト液膜との密着性を向上させるためのアド
ヒージョン処理を行うアドヒージョン処理機構14と、
ウエハ60に塗布されたレジスト中に残存する溶剤を加
熱蒸発させるためのプリベーク機構15と、加熱処理さ
れたウエハ60を冷却する冷却機構16とが配設されて
いる。また、搬送路11の他方の側には、ウエハ60の
表面にレジストを塗布する塗布機構17と、露光工程時
の光乱反射を防止するために、ウエハ60のレジスト上
にCEL膜などを塗布形成する表面被覆層塗布機構18
とが配設されている。
The processing mechanism unit 10 is provided with a transport mechanism 12 movably along a transport path 11 formed in the X direction from the alignment stage 6. Transport mechanism 1
2 has a main arm 13 which is movable in the Y, Z and θ directions.
Is provided. On one side of the transport path 11, an adhesion processing mechanism 14 for performing an adhesion process for improving the adhesion between the wafer 60 and the resist liquid film;
A pre-bake mechanism 15 for heating and evaporating a solvent remaining in the resist applied to the wafer 60 and a cooling mechanism 16 for cooling the heated wafer 60 are provided. Further, on the other side of the transfer path 11, a coating mechanism 17 for coating a resist on the surface of the wafer 60, and a CEL film or the like formed on the resist of the wafer 60 by coating in order to prevent irregular reflection of light during the exposure process. Surface coating layer applying mechanism 18
And are arranged.

【0018】まず、処理前のウエハ60は、搬入・搬出
機構1のアーム4によってウエハキャリア2から搬出さ
れてアライメントステージ6上に載置される。次いで、
アライメントステージ6上のウエハ60は、搬送機構1
2のメインアーム13に保持されて、各処理機構14〜
18へと搬送される。そして、処理後のウエハ60はメ
インアーム13によってアライメントステージ6に戻さ
れ、更にアーム4により搬送されてウエハキャリア3に
収納されることになる。
First, the unprocessed wafer 60 is unloaded from the wafer carrier 2 by the arm 4 of the loading / unloading mechanism 1 and placed on the alignment stage 6. Then
The wafer 60 on the alignment stage 6 is transferred to the transfer mechanism 1
2 are held by the main arm 13 and the processing mechanisms 14 to
18 is conveyed. Then, the processed wafer 60 is returned to the alignment stage 6 by the main arm 13, further transported by the arm 4, and stored in the wafer carrier 3.

【0019】次に、塗布機構(あるいは塗布装置)17
について説明する。塗布機構17はスピンコーターで、
図2に示すように、ウエハ60(図2には図示なし)を
保持例えば吸着保持して回転する回転保持手段であるス
ピンチャック20を有し、スピンチャック20には、こ
れを回転駆動するスピンモータ21が連結されており、
スピンモータ21によりスピンチャック20を所望の回
転数で回転制御できるようになっている。更に、スピン
チャック20の下部外周には底板22が設けられ、底板
22上には外カップ23と内カップ24とが、スピンチ
ャック20上に載置されるウエハ60を包囲するように
設けられている。外カップ23と内カップ24とはスピ
ンチャック20の半径方向外方に向けて下降傾斜して形
成され、レジスト液を底板22へと導くようになってい
る。底板22は緩やかに傾斜して設けられており、底板
22の最下位にはレジスト液等を排出する排液管25が
接続されている。また、底板22には排液の侵入を防止
するための隔壁26が環状に立設されており、隔壁26
の内側の底板22には、カップ内の排気を行うための排
気管27が接続されている。
Next, a coating mechanism (or coating device) 17
Will be described. The coating mechanism 17 is a spin coater,
As shown in FIG. 2, a spin chuck 20, which is a rotation holding means for holding and rotating a wafer 60 (not shown in FIG. 2) by suction, for example, is provided. The motor 21 is connected,
The rotation of the spin chuck 20 can be controlled at a desired rotation speed by the spin motor 21. Further, a bottom plate 22 is provided on the lower periphery of the spin chuck 20, and an outer cup 23 and an inner cup 24 are provided on the bottom plate 22 so as to surround the wafer 60 mounted on the spin chuck 20. I have. The outer cup 23 and the inner cup 24 are formed to be inclined downward toward the outside in the radial direction of the spin chuck 20 so as to guide the resist liquid to the bottom plate 22. The bottom plate 22 is provided with a gentle inclination, and a drain pipe 25 for discharging a resist solution or the like is connected to the bottom of the bottom plate 22. The bottom plate 22 is provided with an annular partition wall 26 for preventing infiltration of drainage.
An exhaust pipe 27 for exhausting the inside of the cup is connected to the bottom plate 22 inside.

【0020】レジスト液塗布処理は、スピンチャック2
0上にウエハ60を載置し、ウエハ60上面にレジスト
供給ノズル(図示せず)よりレジスト液を滴下し、スピ
ンチャック20を回転して行う。このレジスト液塗布処
理を何回も繰り返すと、飛散したレジストが外カップ2
3及び内カップ24に積層して付着する。そこで、この
実施例では、自動化された洗浄機構を備えている。従っ
て、洗浄工程を自動的にプログラムすることが可能であ
る。即ち、洗浄治具30を用いて、このカップ壁面上に
付着したレジスト液の洗浄除去を行うようにしている。
The resist solution is applied by a spin chuck 2
The wafer 60 is placed on the wafer 60, a resist solution is dropped from a resist supply nozzle (not shown) on the upper surface of the wafer 60, and the spin chuck 20 is rotated. If this resist solution coating process is repeated many times, the scattered resist is
3 and adhere to the inner cup 24. Therefore, in this embodiment, an automatic cleaning mechanism is provided. Thus, it is possible to automatically program the cleaning process. That is, using the cleaning jig 30, the resist liquid adhering to the cup wall surface is cleaned and removed.

【0021】洗浄治具30は、例えば図2に示すよう
に、ウエハ60とほぼ同形の円盤状の円板状体であり、
洗浄治具30内は中空構造となっている。具体的には、
図3に示すように、洗浄液を収容し得る受け部31と、
受け部31の上部開口を覆って取り付けられる蓋部32
とからなる。材料は耐溶剤性があり、比重が軽いデルリ
ン(商品名)などを用いればよい。形状はウエハ60と
必ずしも同一でなくても方形状でもよく、洗浄効果によ
り選択可能である。又、材料もデルリンの他のもの例え
ば金属のAl板なども好適である。カップ洗浄時にはス
ピンチャック20の中心上方には、図2あるいは図4に
示すように、洗浄液L(例えばシンナー)を供給する洗
浄液供給手段例えば洗浄液供給ノズル40が設置される
が、洗浄液供給ノズル40から流下する洗浄液Lを洗浄
治具30内に導入するために、蓋部32の中央には導入
口33が形成されている。また、洗浄液Lが当る受け部
31の中心には、洗浄液Lを洗浄治具30内全周に均等
に分配供給すると共に洗浄液Lのはねを防止するため
に、円錐状の突起34が形成されている。更に、洗浄治
具30内の外周部側には遠心力により集められる洗浄液
Lを貯えることができる貯留部35が形成されている。
また、貯留部35に集められる洗浄液Lをカップ23,
24に対して垂直方向(上下方向)の複数箇所に向けて
供給例えば吐出するために、吐出孔36が例えば複数形
成されている。これら吐出孔は、受け部31の周壁に水
平に形成された吐出孔36b及びその上方に水平より所
定角度、半径方向外方に上向きにして形成された吐出孔
36aと、受け部31の底壁に水平より所定角度、半径
方向外方に下向きにして形成された吐出孔36c及び垂
直方向の下向きに形成された吐出孔36dとを有する。
これら吐出孔36a〜36dは、受け部31の外周に沿
って等間隔に3箇所に設けられている。
The cleaning jig 30 is, for example, as shown in FIG.
The inside of the cleaning jig 30 has a hollow structure. In particular,
As shown in FIG. 3, a receiving portion 31 capable of storing a cleaning liquid,
Lid 32 attached to cover the upper opening of receiving portion 31
Consists of As a material, Delrin (trade name) having solvent resistance and light specific gravity may be used. The shape is not necessarily the same as the wafer 60, but may be a square shape, and can be selected depending on the cleaning effect. Also, the material is preferably other than Delrin, such as a metal Al plate. At the time of cleaning the cup, a cleaning liquid supply unit for supplying a cleaning liquid L (for example, thinner), for example, a cleaning liquid supply nozzle 40 is provided above the center of the spin chuck 20 as shown in FIG. An introduction port 33 is formed at the center of the lid 32 in order to introduce the flowing down cleaning liquid L into the cleaning jig 30. A conical projection 34 is formed at the center of the receiving portion 31 to which the cleaning liquid L is applied, in order to uniformly distribute and supply the cleaning liquid L to the entire inner periphery of the cleaning jig 30 and to prevent the cleaning liquid L from splashing. ing. Further, a storage portion 35 that can store the cleaning liquid L collected by centrifugal force is formed on the outer peripheral side in the cleaning jig 30.
Further, the washing liquid L collected in the storage unit 35 is supplied to the cup 23,
For example, a plurality of discharge holes 36 are formed in order to supply, for example, discharge to a plurality of locations in the vertical direction (up-down direction) with respect to 24. These discharge holes include a discharge hole 36 b formed horizontally on the peripheral wall of the receiving portion 31, a discharge hole 36 a formed above the horizontal direction by a predetermined angle from the horizontal, and a radially outward upward, and a bottom wall of the receiving portion 31. And a discharge hole 36c formed downward at a predetermined angle from the horizontal in the radial direction and a discharge hole 36d formed downward in the vertical direction.
These discharge holes 36 a to 36 d are provided at three positions at equal intervals along the outer periphery of the receiving portion 31.

【0022】カップ洗浄は、レジスト塗布処理が所定回
数、実行された後、あるいはロット初めなどになされ
る。このときには、アライメントステージ6や冷却機構
16などの上方に設けた待機ステーション(図示せず)
に待機させておいた洗浄治具30をメインアーム13で
保持してスピンチャック20上に載置する。また、レジ
スト液塗布処理のときに使用していたレジスト供給ノズ
ル(図示せず)に代えて洗浄液供給ノズル40をセット
する。そして、ノズル40から洗浄液Lを流下し、導入
口33より洗浄治具30内に供給する。導入口33は洗
浄治具30の回転中心が望ましい。なお、スピンチャッ
ク20の回転中にも供給する。洗浄治具30が停止のと
き、あるいはスピンチャック20の駆動により低速回転
されているときには、貯留部35の洗浄液は主に吐出孔
36dから流下し、内カップ24の洗浄がなされる。更
に、洗浄治具30が中速・高速で回転されるようになる
と、遠心力により貯留部35に集められてきた洗浄液L
は、主に吐出孔36a,36b,36cから高速で吐出
されるようになる。吐出孔36a,36bから吐出され
た洗浄液Lは外カップ23内周面に衝突して、レジスト
液の洗浄がなされる。また、吐出孔36cから吐出され
た洗浄液Lは内カップ24の外周上面に当って、内カッ
プ24の洗浄が行われる。
The cup cleaning is performed after the resist coating process has been performed a predetermined number of times, or at the beginning of a lot. At this time, a standby station (not shown) provided above the alignment stage 6, the cooling mechanism 16, and the like.
The cleaning jig 30 that has been waiting is held by the main arm 13 and placed on the spin chuck 20. Further, a cleaning liquid supply nozzle 40 is set in place of the resist supply nozzle (not shown) used in the resist liquid application processing. Then, the cleaning liquid L flows down from the nozzle 40 and is supplied into the cleaning jig 30 from the inlet 33. The rotation center of the cleaning jig 30 is desirable for the introduction port 33. In addition, it supplies also during rotation of the spin chuck 20. When the cleaning jig 30 is stopped or is being rotated at a low speed by the drive of the spin chuck 20, the cleaning liquid in the storage section 35 mainly flows down from the discharge holes 36d, and the inner cup 24 is cleaned. Further, when the cleaning jig 30 is rotated at a medium speed and a high speed, the cleaning liquid L collected in the storage unit 35 by centrifugal force.
Is mainly discharged from the discharge holes 36a, 36b and 36c at a high speed. The cleaning liquid L discharged from the discharge holes 36a and 36b collides with the inner peripheral surface of the outer cup 23 to clean the resist liquid. The cleaning liquid L discharged from the discharge holes 36c hits the outer peripheral upper surface of the inner cup 24 to clean the inner cup 24.

【0023】このように、洗浄治具30の回転による遠
心力によって外周部に移動する洗浄液Lを貯留部35に
一旦貯留し、この貯留された洗浄液Lを吐出孔36から
吐出するようにしているので、ある程度、まとまった量
の洗浄液Lを高速で連続的に噴射することができ、有効
な洗浄が行える。また、水平面より所定の角度(仰角、
伏角)をなす吐出孔36を複数形成しているので、外カ
ップ23、内カップ24の広範囲にわたって洗浄液Lを
散布できる。
As described above, the cleaning liquid L moving to the outer peripheral portion by the centrifugal force generated by the rotation of the cleaning jig 30 is temporarily stored in the storage section 35, and the stored cleaning liquid L is discharged from the discharge hole 36. Therefore, a large amount of the cleaning liquid L can be sprayed continuously at a high speed to some extent, and effective cleaning can be performed. In addition, a predetermined angle (elevation angle,
Since a plurality of discharge holes 36 having an inclination angle are formed, the cleaning liquid L can be sprayed over a wide range of the outer cup 23 and the inner cup 24.

【0024】なお、上記実施例では、吐出孔36a〜3
6dを、図3で示すように、円周方向の3箇所設けた
が、図5に示すように、円周方向の1箇所のみとしても
よい。これは、洗浄治具30はスピンチャック20によ
り回転走査されるからであり、吐出孔(吐出孔群)36
の数を減らすと、1つの吐出孔36からの吐出流量を増
加できる。この場合、1箇所の吐出孔36へと洗浄液L
をガイドするために、図5のような仕切壁37を設ける
のがよい。仕切壁37を吐出孔36とは反対側にも延出
させたのは、回転時のバランスをも考慮したためであ
る。このように、吐出孔36a〜36dは各1つずつで
よいが、これらのうち、いずれかを省略すると、カップ
23,24に噴射供給される洗浄液Lの範囲が減少する
こととなる。
In the above embodiment, the ejection holes 36a to 36a
Although 6d is provided at three locations in the circumferential direction as shown in FIG. 3, it may be provided at only one location in the circumferential direction as shown in FIG. This is because the cleaning jig 30 is rotationally scanned by the spin chuck 20, and the ejection holes (ejection hole group) 36
Is reduced, the discharge flow rate from one discharge hole 36 can be increased. In this case, the cleaning liquid L is supplied to one discharge hole 36.
It is preferable to provide a partition wall 37 as shown in FIG. The reason why the partition wall 37 extends to the side opposite to the discharge hole 36 is also to take into account the balance during rotation. As described above, the number of the discharge holes 36a to 36d may be one, but omitting any one of these discharge holes reduces the range of the cleaning liquid L injected and supplied to the cups 23 and 24.

【0025】また、上記実施例では、吐出孔36a〜3
6dを半径方向に沿って、即ち放射状に形成したが、半
径方向より傾斜して形成するようにしてもよい。このよ
うにすると、スピンチャック20の回転方向に対する吐
出孔の半径方向に対する傾斜方向及び角度並びにスピン
チャック20の回転速度によって、吐出孔36から洗浄
治具30のほぼ接線方向に吐出される洗浄液Lの飛び出
し方向を、半径方向側へと変更することも可能となる。
In the above embodiment, the ejection holes 36a-3a
Although 6d is formed along the radial direction, that is, radially, it may be formed so as to be inclined from the radial direction. In this manner, the cleaning liquid L discharged from the discharge hole 36 in a substantially tangential direction of the cleaning jig 30 is formed by the rotation direction and the inclination direction and the angle of the discharge hole with respect to the rotation direction of the spin chuck 20 and the rotation speed of the spin chuck 20. It is also possible to change the protruding direction to the radial direction side.

【0026】また、上記実施例では、吐出孔36を洗浄
治具30の壁に穿設して形成したが、貯留部35よりノ
ズルを延出して吐出孔としてもよい。また、洗浄治具は
円盤状でなく、楕円形状や多角形状としてもよく、更に
スピンチャック20上に保持可能に載置できるならば盤
状でなくてもよい。更に又、洗浄治具の回転速度は、洗
浄液の飛散状態から選択し、例えば300〜3000R
PMが望ましい。
In the above embodiment, the discharge hole 36 is formed by piercing the wall of the cleaning jig 30. However, the discharge hole may be formed by extending the nozzle from the storage section 35. Further, the cleaning jig is not limited to a disk shape but may be an elliptical shape or a polygonal shape. Further, the cleaning jig need not be a disk shape as long as it can be placed on the spin chuck 20 so as to be held. Furthermore, the rotation speed of the cleaning jig is selected from the scattering state of the cleaning liquid, for example, 300 to 3000R.
PM is desirable.

【0027】なお、上記説明の洗浄治具のもう一つの他
の実施例として、図6に示すようなものに構成してもよ
い。この洗浄治具130は、周縁部下面側に、洗浄液L
の貯留部135、洗浄液Lの吐出孔136を設けたもの
である。そして、この洗浄治具130をスピンチャック
20に吸着保持し、スピンチャック20の近傍に配置し
た洗浄液供給ノズル140から洗浄液Lを吐出させ貯留
部135内に洗浄液を導入するものである。
As another embodiment of the cleaning jig described above, the cleaning jig may be configured as shown in FIG. The cleaning jig 130 has a cleaning liquid L
And a discharge port 136 for the cleaning liquid L. Then, the cleaning jig 130 is suction-held on the spin chuck 20, and the cleaning liquid L is discharged from the cleaning liquid supply nozzle 140 arranged near the spin chuck 20 to introduce the cleaning liquid into the storage unit 135.

【0028】なお、洗浄の動作等については、先の実施
例と同等のため、ここではその説明を省略する。
Since the cleaning operation and the like are the same as those in the previous embodiment, the description thereof is omitted here.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上の説明により明らかなように、回転
保持手段に載置されて回転保持手段よりカップに向けて
洗浄液を吐出する洗浄治具が設けられているので、従来
のカップ頂部より洗浄液を流す方式のものに比較して、
構造を簡素化できる。また、被塗布体と同様に回転保持
手段に洗浄治具を載置すればよいので、特別な取扱いも
不要であり、容易に洗浄の自動化ができる。また、一
旦、貯留部に洗浄液を貯えるようにすることで、吐出孔
からカップの複数箇所に向けて大きな運動量をもった洗
浄液を連続的に吐出できるので、カップ面に付着した塗
布液を効果的に短時間で洗浄除去できると共に、洗浄液
の使用量低減できる。また、吐出孔をカップに臨ませ
垂直方向(上下)に複数形成することにより、洗浄液
がカップ面により広く均一に散布供給されるので、洗浄
むらも大幅に減少できる。
As is apparent from the above description, since the cleaning jig which is mounted on the rotation holding means and discharges the cleaning liquid from the rotation holding means toward the cup is provided, the cleaning liquid is provided from the conventional cup top. Compared to the method of flowing
The structure can be simplified. Further, since the cleaning jig may be placed on the rotation holding means as in the case of the object to be coated, no special handling is required, and the cleaning can be easily automated. Also, once the cleaning liquid is stored in the storage section, the cleaning liquid having a large momentum can be continuously discharged from the discharge hole toward a plurality of portions of the cup , so that the coating liquid adhered to the cup surface can be effectively removed. In addition to being able to be cleaned and removed in a short time, the amount of cleaning liquid used can be reduced. Further, by forming a plurality of discharge holes in the vertical direction (up and down) facing the cup, the cleaning liquid is sprayed and supplied to the cup surface widely and uniformly, so that the cleaning unevenness can be greatly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明をレジスト膜形成装置に適用した一実
施例を示す概略平面図である。
FIG. 1 is a schematic plan view showing one embodiment in which the present invention is applied to a resist film forming apparatus.

【図2】この発明の塗布装置を概略的に示す側断面図で
ある。
FIG. 2 is a side sectional view schematically showing a coating apparatus of the present invention.

【図3】この発明における洗浄治具を示す分解斜視図で
ある。
FIG. 3 is an exploded perspective view showing a cleaning jig according to the present invention.

【図4】図2の一部を拡大して示す側断面図である。FIG. 4 is an enlarged side sectional view showing a part of FIG. 2;

【図5】この発明における洗浄治具の他の実施例を示す
断面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing another embodiment of the cleaning jig according to the present invention.

【図6】この発明における洗浄治具の更に他の実施例を
示す側断面図である。
FIG. 6 is a side sectional view showing still another embodiment of the cleaning jig according to the present invention.

【図7】従来のレジスト塗布装置を示す側断面図であ
る。
FIG. 7 is a side sectional view showing a conventional resist coating apparatus.

【図8】図6の外カップの一部を拡大して示す断面斜視
図である。
8 is a sectional perspective view showing a part of the outer cup of FIG. 6 in an enlarged manner.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 スピンチャック(回転保持手段) 23 外カップ 24 内カップ 30,130 洗浄治具 31 受部 32 蓋部 33 導入口 34 突起 35,135 貯留部 36(36a〜36d),136 吐出孔 40,140 洗浄液供給ノズル(洗浄液供給手段) L 洗浄液 Reference Signs List 20 spin chuck (rotation holding means) 23 outer cup 24 inner cup 30, 130 cleaning jig 31 receiving part 32 lid part 33 introduction port 34 projection 35, 135 storage part 36 (36a to 36d), 136 discharge hole 40, 140 cleaning liquid Supply nozzle (cleaning liquid supply means) L Cleaning liquid

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被塗布体を保持して回転する回転保持手
段と、この回転保持手段を取り囲むように設けられ、上
記被塗布体に供給された塗布液の飛散を防止するための
容器とを有する塗布装置において、 上記回転保持手段に設けられ、上記容器に付着した塗布
液を洗浄するための洗浄液が供給される洗浄用治具と、
上記洗浄用治具に向って洗浄液を供給する洗浄液供給手
段とを具備し、上記洗浄用治具に、上記回転保持手段
回転により上記容器の複数箇所に向って洗浄液を吐出す
べく少なくとも2方向に吐出可能な吐出孔を設けたこと
を特徴とする塗布装置。
1. A rotation holding means for holding and rotating an object to be coated, and a container provided so as to surround the rotation holding means for preventing scattering of a coating liquid supplied to the object to be coated. A coating jig provided with the rotation holding means and supplied with a cleaning liquid for cleaning the coating liquid attached to the container;
Cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid toward the cleaning jig, wherein the cleaning liquid is discharged to the cleaning jig toward a plurality of locations of the container by rotation of the rotation holding means.
A coating apparatus characterized by having discharge holes capable of discharging in at least two directions .
【請求項2】 被塗布体を保持して回転する回転保持手
段と、この回転保持手段を取り囲むように設けられ、上
記被塗布体に供給された塗布液の飛散を防止するための
容器とを有する塗布装置において、 上記回転保持手段に設けられ、上記容器に付着した塗布
液を洗浄するための洗浄液が供給される洗浄用治具を備
え、この洗浄用治具は上記洗浄液を貯留しうる貯留部を
有すると共に、上記回転保持手段の回転により上記貯留
部の洗浄液を上記容器の複数箇所に向って洗浄液を吐出
すべく少なくとも2方向に吐出可能な吐出孔を有するこ
とを特徴とする塗布装置。
2. A rotating and holding means for holding and rotating an object to be coated, and a container provided to surround the rotating and holding means for preventing scattering of a coating liquid supplied to the object to be coated. A cleaning jig provided on the rotation holding means and supplied with a cleaning liquid for cleaning the coating liquid attached to the container, wherein the cleaning jig is a storage device capable of storing the cleaning liquid. And discharging the cleaning liquid from the storage section toward a plurality of locations of the container by rotation of the rotation holding means.
A coating apparatus having discharge holes capable of discharging in at least two directions .
【請求項3】 請求項1又は2記載の塗布装置におい
て、 上記吐出孔を、上記容器に対して垂直方向に異なる角度
をもって少なくとも2方向に吐出可能に設けたことを特
徴とする塗布装置。
3. The coating apparatus according to claim 1, wherein
And the discharge hole has a different angle in the vertical direction with respect to the container.
Is provided so as to be able to discharge in at least two directions.
Coating equipment.
【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかに記載の塗
布装置において、 上記吐出孔は、水平方向の吐出孔と、この水平方向の吐
出孔より上方に所定角度の上向きの吐出孔と、上記水平
方向の吐出孔より下方に所定角度の下向きの吐出孔と、
垂直方向の下向きの吐出孔とを具備することを特徴とす
る塗布装置。
4. A coating according to any one of claims 1 to 3
In the cloth apparatus, the discharge hole is a horizontal discharge hole and the horizontal discharge hole.
An upward discharge hole at a predetermined angle above the outlet hole and the horizontal
Downward discharge holes at a predetermined angle below the discharge holes in the direction,
Characterized by having a vertically downward discharge hole.
Coating device.
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