JPH0693234B2 - 相互接続試験方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、通信システムのレイヤ
ドモデルに基づくプロトコル製品を実装したｎ個の相互
接続された情報通信端末における相互接続試験方式に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】文献「ＩＳＯ：“ＯＳＩ conformance t
esting methodology and framework”，ＩＳＯ 9646(19
89).」に示されるように、従来の通信システムの動作試
験を行うシステムに関する試験方式では、単一の通信シ
ステムの動作試験しかできず、複数の相互接続された通
信システムの動作試験は人手で行われていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】このため、試験のコス
トがかかり、また人手をたよることから試験の信頼性に
も問題がある等の欠点があった。

【０００４】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、上記した従来技術の欠点である試験コストの増大や
試験の信頼性の問題をなくし、信頼性の高い試験を効率
的に行うことができる相互接続された複数の通信システ
ムの動作試験方式を提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、通信システムのレイヤドモデルの第Ｎ層
（以下（Ｎ）という）を実装するｎ個の相互接続された
情報通信端末における（Ｎ）プロトコル実装の相互接続
試験において、状態と状態間の遷移情報として与えられ
た仕様より、ｎ個の端末毎に、発生する入力イベントを
横軸とし状態識別番号を縦軸とし出力するイベント及び
遷移先の状態識別番号からなる遷移情報を各欄に記述す
る形式としたｎ個の各端末用状態遷移表に展開する手段
と、各端末用状態遷移表の各状態における遷移情報よ
り、発生する入力イベントを横軸としｎ個の端末の状態
識別番号の組及び各端末間のチャネルの状態の組からな
る合成状態識別番号を縦軸とし出力するイベント及び遷
移先の合成状態識別番号からなる遷移情報を各欄に記述
する形式としたｎ個の端末に関する合成状態遷移表に展
開する手段と、合成状態遷移表における全ての合成状態
に関する遷移情報に基づき、ｎ個の端末毎に並列に動作
可能な部分を示す情報を表す形式とした試験スイートの
生成を行う手段と、試験スイートの並列に動作可能な部
分を示す情報に基づき、並列な動作を含む試験を実行す
る手段とを具備することにより、ｎ個の端末の状態を合
成し、それからｎ個の端末毎に並列な動作可能な部分を
示す情報を表す形式としたシステム全体としての試験ス
イートを生成し、並列な動作を含む試験を実行すること
を特徴とするものである。

【０００６】

【作用】本発明は、（Ｎ）を実装するｎ個の相互接続さ
れた情報通信端末における（Ｎ）プロトコル実装の相互
接続試験において、ｎ個の有限状態機械として記述され
た仕様記述から、ｎ個の各端末用状態遷移表に展開し、
合成状態遷移表に展開し、ｎ個の端末毎に並列に動作可
能な部分を示す情報を表す形式とした試験スイートを生
成し、並列な動作を含む試験を実行することにより、相
互接続試験の自動化及び効率化と信頼性の高い試験を可
能とするものである。

【０００７】

【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に
説明する。

【０００８】図１は本発明を実施するためのシステムの
構成を例示するブロック図で、図中の１は試験スイート
生成装置、２は相互接続試験装置、３１〜３ｎは試験対
象の端末１〜ｎである。

【０００９】図２は図１の試験スイート生成装置１の詳
細なシステムの構成を例示するブロック図で、図中の１
１はキーボードなどの入力装置、１２はプリンタ等の出
力装置、１３は記憶装置、１４は中央処理装置（ＣＰ
Ｕ）である。

【００１０】図３は図１の相互接続試験装置２の詳細な
システムの構成を例示するブロック図で図中の２１はテ
ストセンタ、２２１〜２２ｎは試験対象の端末３１〜３
ｎに対応するテスタ１〜ｎ、２３はネットワークであ
る。図４は図２のシステムにおける試験スイートの生成
の処理手順を示す説明図である。

【００１１】図５は図３のシステムにおけるテストセン
タ２１の詳細なシステムの構成を例示するブロック図
で、図中の２１１は中央処理装置（ＣＰＵ）、２１２は
通信制御装置、２１３は記憶装置、２１４は入力装置、
２１５は出力装置である。

【００１２】図６は図３のシステムにおけるテスタ２２
１の詳細なシステムの構成を例示するブロック図で、図
中の２２１１は中央処理装置（ＣＰＵ）、２２１２は通
信制御装置、２２１３は記憶装置である。図７は本発明
による相互接続試験方式の一実施例の処理手順の一部の
詳細を示す流れ図である。図８は本発明による相互接続
試験方式の一実施例の処置手順の一部の詳細を説明する
ための図で、試験スイートの構成図である。図１を用い
て本発明における相互接続試験方式の処理手順につき説
明すれば、 （１） まず試験者により状態と状態間の遷移情報とし
て与えられた仕様を試験スイート生成装置１に入力し、
試験スイートを生成する。

【００１３】（２） 次に、上記の（１）により得られ
た試験スイートに基づき相互接続試験装置２により試験
対象である端末３１〜３ｎに対して入力試験イベントを
与え、端末３１〜３ｎによる出力試験イベントを観測
し、結果を試験ログとして出力する。ようにした相互接
続試験方式により達成される。さらに図４を用いて図２
のシステムにおける上記（１）の詳細な処理手順につき
説明すれば、 （１−１） まず試験者により状態と状態間の遷移情報
として与えられた仕様を入力装置１１により投入する
（作成）。

【００１４】（１−２） ついで、中央処理装置１４中
のローダが入力装置１１を介してこの情報を受け取る
（読み込み）と、ｎ個の端末毎に、発生する入力イベン
トを横軸とし状態識別番号を縦軸とし出力するイベント
及び遷移先の状態識別番号からなる遷移情報を各欄に記
述する形式としたｎ個の各端末用状態遷移表を記憶装置
１３内に展開する（展開１）。

【００１５】（１−３） 中央処理装置１４中の合成状
態遷移表ジェネレータは発生する入力イベントを横軸と
しｎ個の端末の状態識別番号の組及び各端末間のチャネ
ルの状態の組からなる合成状態識別番号を縦軸とし出力
するイベント及び遷移先の合成状態識別番号からなる遷
移情報を各欄に記述する形式とした合成状態遷移表を記
憶装置１３内に展開し（展開２）、ｎ個の各端末の初期
状態を表す状態識別番号の組及び各端末間のチャネルの
空状態の組からなる初期合成状態に対応する情報を上記
合成状態遷移表に格納する。

【００１６】（１−４） 中央処理装置１４中の合成状
態遷移表ジェネレータは記憶装置１３内に展開保持され
た合成状態遷移表から任意の合成状態に関する情報を得
て（合成状態情報）、この情報に基づき、記憶装置１３
内に展開保持された各端末用状態遷移表の対応する各状
態に関する情報を検索する（矢印１）。

【００１７】（１−５） 中央処理装置１４中の合成状
態遷移表ジェネレータは記憶装置１３内に展開保持され
た各端末用状態遷移表の各状態における遷移情報を得て
（矢印２）、中央処理装置１４中のルール制御部に対応
する合成状態遷移生成ルールの適用を指示する（ルール
適用指示）。

【００１８】（１−６） 中央処理装置１４中のルール
制御部は中央処理装置１４中の合成状態遷移表ジェネレ
ータからの指示に基づき、対応する合成状態遷移生成ル
ールの適用を行い、その結果生成される合成状態遷移の
情報を中央処理装置１４中の合成状態遷移表ジェネレー
タに渡す（ルール適用結果）。

【００１９】（１−７） 中央処理装置１４中の合成状
態遷移表ジェネレータは中央処理装置１４中のルール制
御部から渡された合成状態遷移の情報に基づき、記憶装
置１３内に展開保持された合成状態遷移表に対応する遷
移情報を追加する。

【００２０】（１−８） 中央処理装置１４中の合成状
態遷移表ジェネレータは上記の（１−４）〜（１−７）
までの処理を新たな合成状態遷移が生成されなくなるま
で繰り返し行う。

【００２１】（１−９） 中央処理装置１４中の試験ス
イートジェネレータは記憶装置１３内に展開保持された
合成状態遷移表から全ての合成状態に関する遷移情報を
得て（合成状態遷移情報）、この情報に基づき、ｎ個の
端末毎に並列に動作可能な部分を示す情報を表す形式と
した試験スイートの生成（生成）を行う。

【００２２】以上のうち（１−９）の処理について図７
及び図８を用いてさらに詳細に述べれば、まず処理Ｐ１
において合成状態遷移表に格納されている全ての合成状
態に関する遷移情報に基づき、全ての合成状態に関する
遷移を未処理遷移として登録し、空の系列を試験スイー
トとして登録する。

【００２３】次に、判断Ｃ１において未処理遷移が存在
するかどうかを判定し、存在しなければ処理を終了す
る。判断Ｃ１において未処理遷移が存在するならば、次
に処理Ｐ２において未処理遷移より遷移を選択し、未処
理遷移よりその遷移を削除する。さらに、並列に動作可
能な部分の始まりを表す符号「Ｂｅｇｉｎ Ｐａｒａｌ
ｌｅｌ」を試験スイートに加え、選択された遷移の現在
システム状態に対応する状態にｎ個の端末装置、端末１
〜端末ｎを遷移させる系列ＥＶＥＮＴ（１，１）…ＥＶ
ＥＮＴ（１，ｋ₁ ）〜ＥＶＥＮＴ（ｎ，１）…ＥＶＥＮ
Ｔ（ｎ，ｋ_n）を試験スイートに加え、並列に動作可能
な部分の終わりを表す符号「Ｅｎｄ Ｐａｒａｌｌｅ
ｌ」を試験スイートに加え、同じく選択された遷移に対
応する入力試験イベントＥＶＥＮＴ（ｉ，ｊ）を試験ス
イートに加え、並列に動作可能な部分の始まりを表す符
号「Ｂｅｇｉｎ Ｐａｒａｌｌｅｌ」を試験スイートに
加え、同じく選択された遷移の遷移先システムに対応す
る状態にｎ個の端末装置、端末１〜端末ｎが遷移したこ
とを確認する系列ＥＶＥＮＴ（１，ｋ₁ ＋１）…ＥＶＥ
ＮＴ（１，ｍ₁ ）〜ＥＶＥＮＴ（ｎ，ｋ_n＋１）…ＥＶ
ＥＮＴ（ｎ，ｍ_n）を試験スイートに加え、並列に動作
可能な部分の終わりを表す符号「Ｅｎｄ Ｐａｒａｌｌ
ｅｌ」を試験スイートに加え、判断Ｃ１以下を繰り返
す。ここで、ＥＶＥＮＴ（ｘ，ｙ）は端末ｘに対するｙ
番目の試験イベントを表す。さらに図５及び図６を用い
て図３のシステムにおける上記（２）の詳細な処理手順
につき説明すれば、 （２−１） まずテストセンタ２１中の中央処理装置２
１１が入力装置２１４を介して試験スイートの情報を受
け取り、記憶装置２１３内に展開する。

【００２４】（２−２） 次に中央処理装置２１１が記
憶装置２１３内に保持された試験スイートの情報に基づ
き、並列に動作可能な部分の始まりを表す符号と並列に
動作可能な部分の終わりを表す符号の間であるかどうか
によって並列に動作可能な部分であるかどうかを判断
し、並列に動作可能な部分であればその部分の全ての入
力試験イベントを、また並列に動作可能な部分でなけれ
ば１つの入力試験イベントを通信制御装置２１２に送
る。

【００２５】（２−３） 次に通信制御装置２１２は中
央処理装置２１１から送られた入力試験イベントをネッ
トワーク２３を介してそれぞれの端末ごとにテスタ２２
１〜２２ｎに送る。

【００２６】（２−４） 次にテスタ２２１中の通信制
御装置２２１２はネットワーク２３を介して送られた入
力試験イベントをテスタ２２１中の中央処理装置２２１
１に送る。 （２−５） 次に中央処理装置２２１１は通信制御装置
２２１２より送られた入力試験イベントを記憶装置２２
１３内に展開する。

【００２７】（２−６） 次に中央処理装置２２１１は
記憶装置２２１３内に保持された入力試験イベントの情
報に基づき入力試験イベントを端末３１に対して与え、
出力試験イベントを観測する。 （２−７） 次に中央処理装置２２１１は観測された出
力試験イベントを記憶装置２２１３内に展開する。 （２−８） 次に中央処理装置２２１１は出力試験イベ
ントの情報に基づき出力試験イベントを通信制御装置２
２１２に送る。 （２−９） 次に通信制御装置２２１２は中央処理装置
２２１１より送られた出力試験イベントをネットワーク
２３を介してテストセンタ２１に送る。 （２−１０） テスタ２２２〜２２ｎに関してもテスタ
２２１における上記の（２−４）〜（２−９）と同様の
ことをこれと並行して行う。

【００２８】（２−１１） 次にテストセンタ２１中の
通信制御装置２１２はネットワーク２３を介して送られ
た出力試験イベントをテストセンタ２１中の中央処理装
置２１１に送る。 （２−１２） 次にテストセンタ１２中の中央処理装置
２１１は通信制御装置２１２より送られた出力試験イベ
ントを記憶装置２１３内に展開する。 （２−１３） 上記（２−２）〜（２−１２）を試験ス
イートの全ての入力イベントに関して繰り返し行う。

【００２９】（２−１４） 次にテストセンタ２１中の
中央処理装置２１１は記憶装置２１３内に保持された出
力試験イベントの情報を出力装置２１５を介して試験ロ
グとして出力する。

【００３０】

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、直接
試験を行うことが不可能なｎ個の有限状態機械として記
述された仕様記述をもとにしてｎ個の相互接続された情
報通信端末における（Ｎ）プロトコル実装のｎ個の情報
通信端末の状態確認を行う。ｎ個の端末毎に並列に動作
可能な部分を示す情報を表す形式とした試験スイートを
生成し、並列な動作を含む試験を実行する形式とするこ
とで、相互接続試験の自動化及び効率化と信頼性の高い
試験が可能であるという利点がある。

【００３１】また、状態遷移表による方式なので、試験
対象のプロトコルが変更になっても状態遷移表の内容を
変えれば試験装置の変更は不要であり、試験装置の汎用
化が可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を実施するためのシステムの構成を例示
するブロック図である。

【図２】図１の試験スイート生成装置の詳細なシステム
の構成を例示するブロック図である。

【図３】図１の相互接続試験装置の詳細なシステムの構
成を例示するブロック図である。

【図４】図２のシステムにおける試験スイートの生成の
処理手順の一例を示す説明図である。

【図５】図３のシステムにおけるテストセンタの詳細な
システムの構成を例示するブロック図である。

【図６】図３のシステムにおけるテスタの詳細なシステ
ムの構成を例示するブロック図である。

【図７】本発明による相互接続試験方式の一実施例の処
理手順の一部の詳細を示す流れ図である。

【図８】本発明による相互接続試験方式の一実施例の処
理手順の一部の詳細を説明するための図で、試験スイー
トの構成を示した説明図である。

【符号の説明】

１…試験スイート生成装置、２…相互接続試験装置、３
１〜３ｎ…試験対象の端末１〜ｎ、１１…入力装置、１
２…出力装置、１３…記憶装置、１４…中央処理装置、
２１…テストセンタ、２２１〜２２ｎ…テスタ１〜ｎ、
２３…ネットワーク、２１１…中央処理装置、２１２…
通信制御装置、２１３…記憶装置、２１４…入力装置、
２１５…出力装置、２２１１…中央処理装置、２２１２
…通信制御装置、２２１３…記憶装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 通信システムのレイヤドモデルの第Ｎ層
   を実装するｎ個の相互接続された情報通信端末における
   レイヤドモデルの第Ｎ層プロトコル実装の相互接続試験
   において、 状態と状態間の遷移情報として与えられた仕様より、ｎ
   個の端末毎に、発生する入力イベントを横軸とし状態識
   別番号を縦軸とし出力するイベント及び遷移先の状態識
   別番号からなる遷移情報を各欄に記述する形式としたｎ
   個の各端末用状態遷移表に展開する手段と、 各端末用状態遷移表の各状態における遷移情報より、発
   生する入力イベントを横軸としｎ個の端末の状態識別番
   号の組及び各端末間のチャネルの状態の組からなる合成
   状態識別番号を縦軸とし出力するイベント及び遷移先の
   合成状態識別番号からなる遷移情報を各欄に記述する形
   式としたｎ個の端末に関する合成状態遷移表に展開する
   手段と、 合成状態遷移表における全ての合成状態に関する遷移情
   報に基づき、ｎ個の端末毎に並列に動作可能な部分を示
   す情報を表す形式とした試験スイートの生成を行う手段
   と、 試験スイートの並列に動作可能な部分を示す情報に基づ
   き、並列な動作を含む試験を実行する手段とを具備した
   ことを特徴とする相互接続試験方式。