JPH0682046B2 - Automatic plate thickness measuring device - Google Patents

Automatic plate thickness measuring device

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JPH0682046B2
JPH0682046B2 JP23815090A JP23815090A JPH0682046B2 JP H0682046 B2 JPH0682046 B2 JP H0682046B2 JP 23815090 A JP23815090 A JP 23815090A JP 23815090 A JP23815090 A JP 23815090A JP H0682046 B2 JPH0682046 B2 JP H0682046B2
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optical displacement
displacement meter
calibration
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plate thickness
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修治 内藤
寿生 藤川
隆 三村
太一郎 米谷
浩一 糸原
広嗣 橋本
一俊 藤崎
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Japan Radio Co Ltd
Nippon Steel Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、搬送ラインにより搬送される被測定体の板厚
を光ビームの反射により非接触で自動測定する自動板厚
測定装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an automatic plate thickness measuring device for automatically measuring the plate thickness of an object to be measured transported by a transport line in a non-contact manner by reflecting a light beam.

[従来の技術] 従来から、搬送ラインにより搬送される被測定体の板厚
を光変位計により自動計測する自動板厚測定装置が知ら
れている(例えば、特公昭56−10561号)。
[Prior Art] Conventionally, there has been known an automatic plate thickness measuring device for automatically measuring a plate thickness of an object to be measured conveyed by a conveying line by an optical displacement meter (for example, Japanese Patent Publication No. 56-10561).

従来において用いられていた装置は、いわゆるC型フレ
ームを用いた1点計測の装置であり、被測定体としては
幅が一定のもの、すなわち固定幅の被測定体を測定する
ものである。
The device used in the past is a one-point measuring device using a so-called C-type frame, and measures an object having a constant width, that is, an object having a fixed width.

この装置においては、搬送ラインの上下に光変位計が配
置される。この光変位計によってレーザ光である光ビー
ムが被測定体に照射され、被測定体の板厚が測定され
る。
In this device, optical displacement meters are arranged above and below the transport line. A light beam, which is a laser beam, is irradiated onto the object to be measured by this optical displacement meter, and the plate thickness of the object to be measured is measured.

このような装置により、従来、鋼板等の被測定体の板厚
を自動測定することが行われていた。
Conventionally, such a device has been used to automatically measure the plate thickness of a measured object such as a steel plate.

ところで一般に、自動板厚測定装置の精度を確保するた
めには校正が必要となる。
By the way, generally, calibration is necessary to ensure the accuracy of the automatic plate thickness measuring device.

校正は装置を使用する都度行われ、装置運用の上で必須
の作業である。より具体的には、光変位計の経年変化等
による誤差を補正(電気的補正)し、また、機械的歪を
補正(機械的補正)して、信頼性を維持し、正確な板厚
測定を期するものである。
Calibration is performed every time the device is used, and it is an essential work for operating the device. More specifically, it corrects errors due to aging of the optical displacement meter (electrical correction), and also corrects mechanical distortion (mechanical correction) to maintain reliability and accurately measure plate thickness. It is intended.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来においては、架台の歪み、光変位計
の特性変化等により板厚測定に誤差が生じるという問題
点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, conventionally, there has been a problem that an error occurs in the plate thickness measurement due to distortion of the gantry, characteristic changes of the optical displacement meter, and the like.

すなわち、光変位計は搬送ライン上の架台に取り付けら
れており、この架台が所定位置・所定形状を維持するか
ぎり、架台に起因する誤差は生じない。しかし、実際に
は環境的要因、例えば温度、湿度等や、経年変化等によ
って架台には歪みが生じてしまう。この歪みにより、光
変位計の移動量が非線形に変化することとなり、板厚測
定の誤差を発生させる。
That is, the optical displacement meter is attached to the pedestal on the transfer line, and as long as the pedestal maintains the predetermined position and the predetermined shape, the error caused by the pedestal does not occur. However, in actuality, the pedestal is distorted due to environmental factors such as temperature and humidity and aging. Due to this distortion, the amount of movement of the optical displacement meter changes non-linearly, causing an error in plate thickness measurement.

また、光変位計の検出特性も、同様の要因により変化す
る。この変化も、板厚測定の誤差発生原因となる。
Further, the detection characteristic of the optical displacement meter also changes due to the same factor. This change also causes an error in the plate thickness measurement.

さらに、従来、一時には面性状が同一の被測定体しか測
定できないという問題点があった。すなわち、各被測定
体の面性状が異なると、ある1種類の面性状に応じて校
正された装置では正確な測定が困難となる。また、1個
の被測定体の面性状が一定しない場合には、測定不能状
態に陥ってしまう。
Further, conventionally, there has been a problem that only the object to be measured having the same surface property can be measured at one time. That is, if the surface properties of the respective objects to be measured are different, accurate measurement becomes difficult with an apparatus calibrated according to one type of surface property. Further, when the surface properties of one measured object are not constant, the measurement cannot be performed.

本発明は、このような問題点を解決することを課題とし
てなされたものであり、校正時に架台歪み、光変位計の
特性変化等を補償してより正確な板厚測定を実施可能と
することを目的とする。また、面性状が異なる被測定体
を一時に正確に測定し、あるいは面性状が付均一な被測
定体を測定することを可能にすることを目的とする。
The present invention has been made to solve such a problem, and it is possible to perform more accurate plate thickness measurement by compensating for pedestal distortion during calibration, characteristic changes of the optical displacement meter, and the like. With the goal. It is another object of the present invention to make it possible to accurately measure an object to be measured having different surface properties at one time, or to measure an object to be measured having an even surface property.

[課題を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明は、被測定体
を搬送する搬送ラインの上方及び下方の架台上に対をな
しかつ所定の基準距離を隔てて配置され、光ビームを被
測定体に照射して反光に基づき被測定体との距離を求め
る複数対の光変位計と、先端がL字状の屈曲を有し、被
測定体の板厚測定時には先端が光変位計の測定域外に配
置される所定板厚の校正板と、校正時に、光変位計から
発せられる光ビームを遮る所定位置に先端が位置するよ
う校正板を回動させる回動手段と、測定時には、被測定
体の板厚規格に応じて定められる位置となるよう光変位
計の上下位置を制御し、被測定体の流れに応じて被測定
体上の所定軌跡を描くよう光変位計の左右位置を制御
し、直線性校正時には、光変位計を上下方向に所定ピッ
チで移動させ、架台校正時には、光変位計を左右方向に
所定間隔で移動させる位置制御手段と、直線性校正時に
おける光変位計の出力を光変位計の期待される上下位置
に対応付ける直線性補正テーブルを作成する直線性補正
手段と、架台校正時における光変位計の出力と、校正板
の板厚と、に基づき基準距離を求め、この基準距離を光
変位計の左右位置に対応付ける校正テーブルを作成する
架台補正手段と、直線性補正テーブルを参照して光変位
計と被測定体との距離を補正し、光変位計の左右位置に
より校正テーブルを参照して基準距離を補正し、光変位
計の上下方向移動量、補正された距離及び基準距離に基
づき前記軌跡に沿う数点について被測定体の板厚を演算
し平均する板厚演算手段と、を備えることを特徴とす
る。
[Means for Solving the Problem] In order to achieve such an object, the present invention forms a pair on a pedestal above and below a transportation line for transporting an object to be measured with a predetermined reference distance. A plurality of pairs of optical displacement gauges that are arranged and determine the distance to the object to be measured based on the reflected light by irradiating the object to be measured with a light beam and measuring the plate thickness of the object to be measured with an L-shaped bend at the tip. Sometimes the tip is placed outside the measurement range of the optical displacement meter and the calibration plate with a predetermined thickness is used. Means, and at the time of measurement, the vertical position of the optical displacement meter is controlled so that the position is determined according to the plate thickness standard of the measured object, and a predetermined trajectory on the measured object is drawn according to the flow of the measured object. Controls the left and right position of the optical displacement meter and moves the optical displacement meter up and down during linearity calibration. Position control means for moving the optical displacement meter at a predetermined interval in the left-right direction during calibration of the gantry, and the output of the optical displacement meter during linearity calibration is associated with the expected vertical position of the optical displacement meter. A reference distance is obtained based on the linearity correction means that creates a linearity correction table, the output of the optical displacement meter during frame calibration, and the plate thickness of the calibration plate, and this reference distance is associated with the left and right positions of the optical displacement meter. Correct the distance between the optical displacement meter and the object to be measured by referring to the gantry correction means that creates the calibration table and the linearity correction table, and correct the reference distance by referring to the calibration table according to the left and right position of the optical displacement meter. A plate thickness calculation means for calculating and averaging the plate thickness of the object to be measured at several points along the locus based on the vertical displacement of the optical displacement meter, the corrected distance, and the reference distance. .

[作用] 本発明の自動板厚装定装置においては、光変位計と被測
定体との距離、光変位計の上下方向移動量及び対向する
光変位計間の基準距離に基づき、被測定体の板厚が求め
られる。
[Operation] In the automatic plate thickness setting device of the present invention, the object to be measured is based on the distance between the optical displacement meter and the object to be measured, the vertical movement amount of the optical displacement meter, and the reference distance between the opposed optical displacement meters. Is required.

これらのうち、光変位計と被測定体との距離は、直線性
補正テーブルによる補正を受ける。
Of these, the distance between the optical displacement meter and the object to be measured is corrected by the linearity correction table.

例えば、光変位計の特性が初期特性から変化している場
合、この変化を補償してやらないと板厚測定値に誤差が
生じてしまう。このため、本発明では直線性校正を実施
する。直線性校正は、上下方向に所定ピッチで移動させ
つつ行われ、この校正については光変位計の出力が光変
位計の期待される上下位置に対応付けられる。
For example, when the characteristics of the optical displacement meter change from the initial characteristics, an error will occur in the plate thickness measurement value unless this change is compensated. Therefore, the linearity calibration is performed in the present invention. The linearity calibration is performed while moving in the vertical direction at a predetermined pitch, and for this calibration, the output of the optical displacement meter is associated with the expected vertical position of the optical displacement meter.

このときの光変位計の出力は、光変位計と校正板との距
離を示している。すなわち、校正時には校正板が光ビー
ムを遮る位置に回動され、この校正板から反射光が得ら
れる。また、期待される上下位置は、例えば光変位計の
初期特性に基づき位置制御により得られる上下位置であ
る。
The output of the optical displacement meter at this time indicates the distance between the optical displacement meter and the calibration plate. That is, during calibration, the calibration plate is rotated to a position that blocks the light beam, and reflected light is obtained from this calibration plate. The expected vertical position is the vertical position obtained by position control based on the initial characteristics of the optical displacement meter, for example.

光変位計の出力と上下位置との対応付けを示すテーブル
を直線性補正テーブルと呼ぶことにする。この直線性補
正テーブルは、測定時における光変位計の出力、即ち光
変位計と被測定体との距離の補正に用いられる。これに
より、測定時における光変位計の上下方向位置に応じて
前述の特性変化により発生する誤差が、補償されること
になる。
A table showing the correspondence between the output of the optical displacement meter and the vertical position is called a linearity correction table. This linearity correction table is used to correct the output of the optical displacement meter during measurement, that is, the distance between the optical displacement meter and the object to be measured. As a result, the error caused by the above-mentioned characteristic change depending on the vertical position of the optical displacement meter at the time of measurement is compensated.

また、光変位計と被測定体との距離は、校正テーブルに
よる補正を受ける。
Further, the distance between the optical displacement meter and the object to be measured is corrected by the calibration table.

例えば、架台に歪みが発生している場合、この歪みによ
る測定誤差が生じ得る。このため、本発明では架台校正
を実施する。架台校正は、光変位計を左右方向に所定間
隔で移動させ、その際の光変位計出力に基づいて行われ
る。
For example, when the pedestal is distorted, a measurement error may occur due to this distortion. Therefore, in the present invention, gantry calibration is performed. The gantry calibration is performed based on the output of the optical displacement meter when the optical displacement meter is moved in the left-right direction at a predetermined interval.

より具体的には、光変位計の出力から求められる基準距
離と、光変位計の左右位置と、を対応付ける校正テーブ
ルが作成される。この場合の基準距離は、上下の光変位
計の出力と、校正板の既知の板厚と、に基づき求められ
る。
More specifically, a calibration table that associates the reference distance obtained from the output of the optical displacement meter with the left and right positions of the optical displacement meter is created. The reference distance in this case is obtained based on the outputs of the upper and lower optical displacement meters and the known plate thickness of the calibration plate.

このようにして得られた校正テーブルは、測定時におい
て基準距離の補正に用いられる。これにより、測定時に
おける光変位計の左右位置に応じて発生する誤差、例え
ば架台歪みに起因する誤差が低減する。なお、架台校正
は直線性校正の後にその結果を用いて行うのが好まし
い。
The calibration table thus obtained is used to correct the reference distance during measurement. As a result, an error that occurs depending on the left and right positions of the optical displacement meter during measurement, for example, an error caused by pedestal distortion is reduced. In addition, it is preferable that the gantry calibration is performed by using the result after the linearity calibration.

さらに、測定時には、空間平均演算が実施される。測定
時においては、被測定体上の所定軌跡を描くよう光変位
計の左右位置が制御される。本発明では、この軌跡に沿
って所定点数の板厚が求められ、平均される。従って、
本発明においては、板厚演算の基礎となる点数が増大す
るため、測定の正確性が向上する。
Further, at the time of measurement, spatial averaging calculation is performed. At the time of measurement, the left and right positions of the optical displacement meter are controlled so as to draw a predetermined locus on the measured object. In the present invention, a predetermined number of plate thicknesses are obtained along this locus and averaged. Therefore,
In the present invention, the number of points that is the basis of the plate thickness calculation is increased, so that the accuracy of measurement is improved.

[実施例] 以下、本発明の好適な実施例について図面に基づき説明
する。
[Embodiment] A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図には、本発明の一実施例に係る自動板厚測定測置
の実体構成が示されている。特に、第1図(a)におい
ては装置を上方から見た外観が、第1図(b)において
は側面から見た外観が、それぞれ示されている。
FIG. 1 shows the actual configuration of an automatic plate thickness measuring and measuring device according to an embodiment of the present invention. In particular, FIG. 1 (a) shows the appearance of the apparatus seen from above, and FIG. 1 (b) shows the appearance seen from the side.

この図においては、図中矢印で示される方向に被測定体
10を搬送する搬送ライン12が示されている。この図にお
ける被測定体10は、それぞれ板厚、幅等の異なる鋼板で
あり、図には10−1,10−2,10−3の3個が示されてい
る。この実施例において板厚測定の対象とする測定体10
は、例えば板厚4〜60mm、幅800〜4000mm、長さ1500〜1
4000mmの規格のものであり、搬送ライン12の上の任意の
位置に任意の姿勢で配置される。
In this figure, the object to be measured is in the direction indicated by the arrow in the figure.
A transport line 12 for transporting 10 is shown. The object to be measured 10 in this figure is a steel plate having a different plate thickness, width, etc., and three pieces 10-1, 10-2, 10-3 are shown in the figure. In this example, the measurement object 10 that is the object of plate thickness measurement
Is, for example, plate thickness 4 to 60 mm, width 800 to 4000 mm, length 1500 to 1
It has a standard of 4000 mm, and is arranged at any position on the transfer line 12 in any position.

また、搬送ライン12を跨ぐように、上下一対の門型架台
14が設けられている。門型架台14の搬送ライン12上流側
にはラインセンサ16が、下流側には光変位計18が、それ
ぞれ配設されている。
In addition, a pair of upper and lower gate-shaped stands so that they straddle the transfer line 12.
14 are provided. A line sensor 16 is provided on the upstream side of the transfer line 12 of the gate platform 14, and an optical displacement meter 18 is provided on the downstream side thereof.

ラインセンサ16は、1対となるよう上下双方の門型架台
14に設けられており、被測定体10の先端の左右両端位置
を検出する。検出される左右両端位置は、光変位計18の
位置の切期設定に用いられる。
The line sensors 16 are a pair of upper and lower gate-shaped mounts so as to form a pair.
It is provided at 14 and detects the left and right end positions of the tip of the object to be measured 10. The detected left and right end positions are used for setting the dead time of the position of the optical displacement meter 18.

また、光変位計18は3対が門型架台14に移動自在に設け
られている。この光変位計18は被測定体10の板厚を測定
する装置である。すなわち、光変位計18は被測定体10に
光ビームを照射し、その反射光を取り込む。さらに、取
り込んだ反射光に基づき被測定体10までの距離を求め、
後述の原理による板厚演算に供する。
Further, three pairs of the optical displacement meters 18 are movably provided on the gate mount 14. The optical displacement meter 18 is a device for measuring the plate thickness of the measured object 10. That is, the optical displacement meter 18 irradiates the measured object 10 with a light beam and captures the reflected light. Furthermore, the distance to the object to be measured 10 is calculated based on the captured reflected light,
It is used for plate thickness calculation based on the principle described later.

第2図には、この実施例のより詳細な実体構成が正面図
として示されている。
FIG. 2 shows a more detailed substance structure of this embodiment as a front view.

この図においては、上下2個のリニアモータレール20が
示されている。リニアモータレール20は、6個の光変位
計18をそれぞれ左右方向に駆動するリニアモータのレー
ルである。
In this figure, two upper and lower linear motor rails 20 are shown. The linear motor rail 20 is a rail of a linear motor that drives the six optical displacement gauges 18 in the left-right direction.

また、光変位計18のうち上側の3個は、パルスステージ
22に取り付けられている。すなわち、この3個の光変位
計18はパルスステージ22によって上下方向に駆動され、
測定時には被測定体10の板厚規格に応じてパルスステー
ジ22の制御により上下位置が設定される。
The upper three of the optical displacement meters 18 are pulse stages.
It is attached to 22. That is, the three optical displacement meters 18 are vertically driven by the pulse stage 22,
During measurement, the vertical position is set by the control of the pulse stage 22 according to the plate thickness standard of the object to be measured 10.

更に、3対の光変位計18のうち左右両側の2対には、第
1及び第2エッジセンサ24及び26が付設されている。第
1エッジセンサ24は、ラインセンサ16の出力に応じて初
期設定された光変位計18の位置を、更に微調整するため
に用いられる。第2エッジセンサ26は、被測定体10の側
端を追従検出するために用いられる。
Further, first and second edge sensors 24 and 26 are attached to two pairs on the left and right sides of the three pairs of optical displacement meters 18. The first edge sensor 24 is used to further finely adjust the position of the optical displacement meter 18 which is initially set according to the output of the line sensor 16. The second edge sensor 26 is used to follow and detect the side edge of the measured object 10.

第3図には、この実施例における光変位計18の校正に係
る装置構成が示されている。特に、第3図(a)には一
対の光変位計18の正面が、第3図(b)には側面が、そ
れぞれ示されている。
FIG. 3 shows a device configuration relating to the calibration of the optical displacement meter 18 in this embodiment. In particular, FIG. 3 (a) shows the front surface of the pair of optical displacement meters 18, and FIG. 3 (b) shows the side surfaces thereof.

この図においては、通常の板厚測定時には破線のような
位置に、校正時には実線のような位置に、回動配置され
る校正板28が示されている。校正板28はL字状の屈曲を
有しており、先端の板厚は検定を受けた所定の厚みに設
定されている。校正板28の回動は、ロータリソレノイド
30により行われる。また、校正板28は、図示しないモー
タにより水平方向に例えば±3mmの振幅で振動する。
In this figure, the calibration plate 28 that is pivotally arranged at a position indicated by a broken line during normal plate thickness measurement and a position indicated by a solid line during calibration is shown. The calibration plate 28 has an L-shaped bend, and the plate thickness at the tip is set to a predetermined thickness that has been verified. The rotation of the calibration plate 28 depends on the rotary solenoid.
Made by 30. Further, the calibration plate 28 vibrates in the horizontal direction with an amplitude of, for example, ± 3 mm by a motor (not shown).

第4図には、この実施例の回路構成が示されている。FIG. 4 shows the circuit configuration of this embodiment.

この図においては、一方で光変位計18の出力に基づき、
被測定体10の板厚を求め、他方でラインセンサ16並びに
第1及び第2エッジセンサ24及び26の出力に基づきリニ
アモータ32及びパルスステージ22を制御する演算制御部
34が示されている。さらに、演算制御部34はロータリソ
レノイド30をも制御する。加えて、この図には、校正時
に求められる基準距離及び本発明の特徴に係る直線性補
正テーブルを格納するメモリ36が示されている。なお、
光変位計18、ラインセンサ16、第1エッジセンサ24、第
2エッジセンサ26、リニアモータ32、パルスステージ22
及びロータリソレノイド30は実際は複数であるが、この
図においては図の簡単化のため省略されている。
In this figure, on the other hand, based on the output of the optical displacement meter 18,
An arithmetic and control unit which obtains the plate thickness of the object to be measured 10 and controls the linear motor 32 and the pulse stage 22 based on the outputs of the line sensor 16 and the first and second edge sensors 24 and 26 on the other hand.
34 is shown. Further, the arithmetic control unit 34 also controls the rotary solenoid 30. In addition, this drawing also shows a memory 36 that stores a reference distance required during calibration and a linearity correction table according to the features of the present invention. In addition,
Optical displacement meter 18, line sensor 16, first edge sensor 24, second edge sensor 26, linear motor 32, pulse stage 22
Although the rotary solenoid 30 is actually plural in number, it is omitted in this figure for simplification of the figure.

次に、この実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.

まず、搬送ライン12の上に被測定体10が載置される。載
置された被測定体10は、搬送ライン12によって搬送さ
れ、ラインセンサ16下に到達する。
First, the measured object 10 is placed on the transfer line 12. The measured object 10 placed is conveyed by the conveying line 12 and reaches below the line sensor 16.

すると、ラインセンサ16により、この被測定体10による
遮光位置が検出される。すなわち、ラインセンサ16は、
被測定体10により光線が遮られる部分を検出し、これを
被測定体10の左右両端位置として演算制御部34に供給す
る。
Then, the line sensor 16 detects the light-shielding position of the object to be measured 10. That is, the line sensor 16 is
The part where the light beam is blocked by the device under test 10 is detected, and this is supplied to the arithmetic and control unit 34 as the left and right end positions of the device under test 10.

演算制御部34は、ラインセンサ16の出力に基づきリニア
モータ32を駆動制御して、光変位計18の位置を制御す
る。具体的には、左右両側各1対の光変位計18を遮光位
置として検出される被測定体10の左右両端位置に移動さ
せ、中央に配置されている1対の光変位計18を、左右の
光変位計18の中央位置に維持する。これにより、光変位
計18の位置が初期設定される。
The arithmetic control unit 34 drives and controls the linear motor 32 based on the output of the line sensor 16 to control the position of the optical displacement meter 18. Specifically, one pair of left and right optical displacement gauges 18 are moved to the left and right end positions of the object to be measured 10 which are detected as the light-shielding position, and the pair of optical displacement gauges 18 arranged at the center is moved to the left and right. The optical displacement meter 18 is maintained at the center position. As a result, the position of the optical displacement meter 18 is initialized.

こののち、被測定体10がさらに搬送され第1エッジセン
サ24に達すると、この第1エッジセンサ24により光変位
計18の位置が微調節される。すなわち、第1エッジセン
サ24の出力に応じ、演算制御部34がリニアモータ32を制
御する。
After that, when the measured object 10 is further conveyed and reaches the first edge sensor 24, the position of the optical displacement meter 18 is finely adjusted by the first edge sensor 24. That is, the arithmetic control unit 34 controls the linear motor 32 according to the output of the first edge sensor 24.

次に、第2エッジセンサ26により被測定体10の左右両端
が捕捉される。このとき、第2エッジセンサ26の出力に
より演算制御部34がリニアモータ32を制御する。すなわ
ち、第2エッジセンサ26が光変位計18に固定されている
ため、この制御によって、第2エッジセンサ26が被測定
体10の左右両端を追従捕捉し続け、かつ左右両側の光変
位計18が被測定体10の左右両端から所定の距離の軌跡を
検出走査することとなる。
Next, the left and right ends of the measured object 10 are captured by the second edge sensor 26. At this time, the arithmetic control unit 34 controls the linear motor 32 by the output of the second edge sensor 26. That is, since the second edge sensor 26 is fixed to the optical displacement meter 18, the second edge sensor 26 continues to capture the right and left ends of the measured object 10 by this control, and the optical displacement meters 18 on both the left and right sides are controlled. Means to detect and scan a locus having a predetermined distance from both left and right ends of the object to be measured 10.

第5図には、光変位計18の光ビーム軌跡が、第6図に
は、この軌跡のうち板厚演算に用いられる点(測定位
置)が示されている。
FIG. 5 shows a light beam locus of the optical displacement meter 18, and FIG. 6 shows points (measurement positions) used in the plate thickness calculation on this locus.

この実施例においては、第5図において3本の矢印線で
示される軌跡に係る光変位計18の出力を連続して収集す
る。この収集の後、演算制御部34が測定位置を決定し、
板厚を演算する。
In this embodiment, the output of the optical displacement meter 18 relating to the locus indicated by the three arrow lines in FIG. 5 is continuously collected. After this collection, the arithmetic control unit 34 determines the measurement position,
Calculate the plate thickness.

より具体的には、演算制御部34は、被測定体10の先端が
ラインセンサ16に達してから第1エッジセンサ24に達す
るまでの時間により被測定体10の搬送速度を求める。ラ
インセンサ16と第1エッジセンサ24の距離は設計的に決
定されるため、この搬送速度を用いて、時刻を被測定体
10を基準とした位置座標に換算できる。この換算結果に
基づき、測定位置が決定される。
More specifically, the arithmetic and control unit 34 determines the transport speed of the measured object 10 from the time from when the tip of the measured object 10 reaches the line sensor 16 to when it reaches the first edge sensor 24. Since the distance between the line sensor 16 and the first edge sensor 24 is determined by design, the time is measured by using this transport speed.
Can be converted to position coordinates with 10 as the reference. The measurement position is determined based on the conversion result.

測定位置は、例えば被測定体10の左右両端から15mmの
線、前後両端から15mmの線及び中心線の合計6本の線か
ら決定する。すなわち、これらの線の交点を測定位置P1
〜P9に設定する。
The measurement position is determined, for example, from a total of six lines, which are a line of 15 mm from both left and right ends of the object to be measured 10, a line of 15 mm from both front and rear ends, and a center line. That is, the intersection of these lines is measured at the measurement position P 1
Set to ~P 9.

次に、このように設定された測定位置P1〜P9について、
すでに収集されている光変位計18出力に基づく板厚演算
が、演算制御部34により行われる。
Next, for the measurement positions P 1 to P 9 set in this way,
The plate thickness calculation based on the output of the optical displacement meter 18 already collected is performed by the calculation control unit 34.

この実施例の場合、板厚演算に供されるデータは、各測
定位置P1〜P9の近傍の点の空間平均である。
In the case of this embodiment, the data used for the plate thickness calculation is the spatial average of the points in the vicinity of the respective measurement positions P 1 to P 9 .

第7図には、空間平均の演算内容が示されている。FIG. 7 shows the calculation contents of the spatial average.

この図に示されるように、測定位置P及びその前後各
10点が、第一次有効データとされる。各点は2mmピッチ
に設定されており、これら計21点のうち一定の条件に合
致する点のみを用いて空間平均が演算される。
As shown in this figure, the measurement position P i and each before and after the measurement position P i
Ten points are considered as primary valid data. Each point is set to 2 mm pitch, and the spatial average is calculated using only the points that meet certain conditions out of these 21 points in total.

例えば、21点のうち最大値から2点、最小値から5点を
削除して、さらに異常値をも削除して、残りの点数が10
点以上の場合に、当該残りの点についての光変位計18の
出力が平均される。なお、10点に達しない場合には、測
定不能と判断される。
For example, out of the 21 points, delete 2 points from the maximum value and 5 points from the minimum value, and also delete the abnormal value, so that the remaining score is 10 points.
When there are more points, the outputs of the optical displacement meter 18 for the remaining points are averaged. If the score does not reach 10 points, it is determined that measurement is impossible.

本実施例における板厚演算は、このようにして空間平均
として求められる光変位計18と被測定体10との距離を用
いて所定の原理に従い実行される。
The plate thickness calculation in this embodiment is executed according to a predetermined principle by using the distance between the optical displacement meter 18 and the measured object 10 thus obtained as the spatial average.

第8図には、この実施例における板厚測定の原理が示さ
れている。
FIG. 8 shows the principle of plate thickness measurement in this embodiment.

この実施例においては、板厚測定時における対向する光
変位計18の距離と、前述の空間平均と、に基づき被測定
体10の板厚が求められる。
In this embodiment, the plate thickness of the object 10 to be measured is obtained based on the distance between the optical displacement gauges 18 facing each other during the plate thickness measurement and the above-mentioned spatial average.

まず、被測定体10が無い状態での光変位計18の対向距
離、すなわち基準距離L0が設計的に決定されているもの
とする。また、板厚Lの被測定体10の場合に光変位計18
の間隔を拡げる量、すなわち光変位計18の移動量をL3
する。
First, it is assumed that the facing distance of the optical displacement meter 18 without the measured object 10, that is, the reference distance L 0 is determined by design. Further, in the case of the object to be measured 10 having a plate thickness L, the optical displacement meter 18
Let L 3 be the amount by which the distance between the two is increased, that is, the amount of movement of the optical displacement meter 18.

すると、上側の光変位計18によって測定される距離L1
び下側の光変位計18によって測定される距離L2から、次
の式により、板厚Lが求められることになる。
Then, the plate thickness L can be obtained from the distance L 1 measured by the upper optical displacement meter 18 and the distance L 2 measured by the lower optical displacement meter 18 by the following formula.

L=(L0+L3)−(L1+L2) このように、本実施例においては、測定位置P1〜P9に基
づく板厚Lの多点計測が実行される。このとき、空間平
均を用いるために、被測定体10の面性状が不均一な場合
にも一定の精度が確保される。すなわち、空間平均によ
り、面性状による光変位計18出力の不均一が吸収される
ことになる。また、同一の被測定体10において面性状が
不均一な場合にも、これが同様に吸収されるため、測定
が可能になる。
L = (L 0 + L 3 ) − (L 1 + L 2 ). Thus, in this embodiment, multipoint measurement of the plate thickness L based on the measurement positions P 1 to P 9 is executed. At this time, since the spatial average is used, a certain degree of accuracy is ensured even when the surface properties of the measured object 10 are nonuniform. That is, the spatial averaging absorbs the nonuniformity of the output of the optical displacement meter 18 due to the surface property. Further, even when the surface properties of the same object to be measured 10 are non-uniform, this is absorbed as well, and therefore measurement becomes possible.

また、この実施例において板厚Lの測定に用いられる移
動量L1は、校正の際に各光変位計18に作成される直線性
補正テーブルにより補正された値である。
Further, the movement amount L 1 used for measuring the plate thickness L in this embodiment is a value corrected by the linearity correction table created in each optical displacement meter 18 at the time of calibration.

次に、この直線性補正テーブルの作成に関連する校正の
動作について説明する。
Next, a calibration operation related to the creation of this linearity correction table will be described.

光変位計18は、例えば環境的要因による特性変化、経時
変化等を伴う装置である。第9図には、実線で初期特性
が、破線で変化後の特性が、それぞれ示されている。こ
のような特性変化は、測定時における誤差となって現れ
ることになる。このため、本実施例では、校正として直
線性校正を行うこととしている。
The optical displacement meter 18 is a device that is accompanied by characteristic changes due to environmental factors, changes over time, and the like. In FIG. 9, the solid line shows the initial characteristics, and the broken line shows the changed characteristics. Such characteristic changes will appear as an error during measurement. Therefore, in the present embodiment, linearity calibration is performed as the calibration.

また、架台14が温度、湿度、経年変化等により歪んでい
る場合、この歪みは上下の光変位計18の距離、すなわ
ち、基準距離を変化させる。この変化は、測定値の誤差
となって現れる。このため、本実施例では架台校正を実
施する。
When the gantry 14 is distorted due to temperature, humidity, aging, etc., this distortion changes the distance between the upper and lower optical displacement meters 18, that is, the reference distance. This change appears as an error in the measured value. Therefore, in this embodiment, the gantry calibration is performed.

直線性校正は、架台校正に先立って実施される。すなわ
ち、直線性校正が実施された後の光変位計18について架
台校正が施される。
Linearity calibration is performed prior to gantry calibration. That is, the gantry calibration is performed on the optical displacement meter 18 after the linearity calibration is performed.

まず、直線性校正の際には、校正板28がロータリソレノ
イド30により回動される。この回動の結果、その先端は
対向する光変位計18の間の位置に配置される。
First, at the time of linearity calibration, the calibration plate 28 is rotated by the rotary solenoid 30. As a result of this rotation, the tip is placed at a position between the optical displacement meters 18 facing each other.

校正板28は、板厚が既知で白色セラミック板から形成さ
れており、配置の後にロータリソレノイド30により水平
方向に振動させられる。この振動は、振幅±3mm程度の
振動であり、校正板28の面性状の影響を排除するために
施される。
The calibration plate 28 is formed of a white ceramic plate having a known plate thickness, and is oscillated in the horizontal direction by the rotary solenoid 30 after the placement. This vibration is a vibration with an amplitude of about ± 3 mm, and is applied to eliminate the influence of the surface properties of the calibration plate 28.

この状態で、光変位計18は、上下方向に所定ピッチで移
動させられる。すなわち、演算制御部34によりパルスス
テージ22が制御され、上側の光変位計18の上下位置が所
定ピッチ、例えば1mmで変化する。この変化毎に、光変
位計18からの出力が得られる。この出力は、光変位計18
と校正板28との距離を示すものである。各ピッチ毎に16
回の測定が行われ、さらに光変位計18の上下方向移動が
所定ピッチ数、例えば±20mmに相当するピッチ数だけ実
行されたのちにこれらの出力が平均される。
In this state, the optical displacement meter 18 is moved vertically with a predetermined pitch. That is, the pulse stage 22 is controlled by the arithmetic control unit 34, and the vertical position of the upper optical displacement meter 18 changes at a predetermined pitch, for example, 1 mm. An output from the optical displacement meter 18 is obtained for each change. This output is the optical displacement meter 18
And the calibration plate 28. 16 for each pitch
These measurements are performed once, and the vertical displacement of the optical displacement meter 18 is performed for a predetermined number of pitches, for example, a pitch number corresponding to ± 20 mm, and then these outputs are averaged.

このようにして得られた光変位計18出力の平均(以下、
単に光変位計18出力という)は、光変位計18の期待され
る上下位置と対応付けられる。すなわち、光変位計18出
力は期待される上下位置と対応付けられ直線性補正テー
ブルとしてメモリ36に格納される。
The average of the 18 outputs of the optical displacement meter thus obtained (hereinafter,
The output of the optical displacement meter 18) is associated with the expected vertical position of the optical displacement meter 18. That is, the output of the optical displacement meter 18 is associated with the expected vertical position and stored in the memory 36 as a linearity correction table.

第10図には、直線性補正テーブルの一例が示されてい
る。
FIG. 10 shows an example of the linearity correction table.

この図に示されるように、直線性補正テーブルは、演算
制御部34によるパルスステージ22の制御量(指令値)L
3Siと、実際の光変位計18出力L3Aiと、を対応付けてい
る。指令値L3Siは、光変位計18の初期特性に基づき発
せられる値であり、光変位計18が特性変化してないなら
ば得られるであろう上下位置、すなわち理想値である。
従って、直線性補正テーブルは、光変位計18の特性に関
して理想値と実際値とを対応付けるものである。
As shown in this figure, the linearity correction table includes a control amount (command value) L of the pulse stage 22 by the arithmetic control unit 34.
3Si is associated with the actual optical displacement meter 18 output L 3Ai . The command value L 3Si is a value that is issued based on the initial characteristics of the optical displacement meter 18, and is the vertical position that would be obtained if the characteristics of the optical displacement meter 18 were not changed, that is, an ideal value.
Therefore, the linearity correction table associates the ideal value and the actual value with respect to the characteristics of the optical displacement meter 18.

このような直線性補正テーブルは、光変位計18の特性変
化に対応する趣旨から、上側の光変位計18それぞれにつ
いて作成される。
Such a linearity correction table is created for each of the upper optical displacement meters 18 in order to respond to changes in the characteristics of the optical displacement meters 18.

このようにして、直線性校正が実施された後に、架台校
正が実施される。この架台校正においては、上下の光変
位計18と校正板28が一対に水平移動させられる。
In this way, the gantry calibration is performed after the linearity calibration is performed. In this gantry calibration, the upper and lower optical displacement meters 18 and the calibration plate 28 are horizontally moved in a pair.

すなわち、第11図に示されるように、3個の光変位計18
の可動範囲は100−1、100−2及び100−3のような範
囲(例えば40mm程度)をとり、搬送ライン12の全幅110
をカバーしている。光変位計18及び校正板28は、それぞ
れの可動範囲100内において所定間隔で一体移動され、
各光変位計18について校正テーブルが作成される。
That is, as shown in FIG. 11, three optical displacement meters 18
The movable range of 100-1, 100-2, and 100-3 is within a range (for example, about 40 mm), and the entire width 110 of the transfer line 12 is 110.
Covers. The optical displacement meter 18 and the calibration plate 28 are integrally moved at predetermined intervals within their respective movable ranges 100,
A calibration table is created for each optical displacement meter 18.

第12図には、校正テーブルの一例が示されている。FIG. 12 shows an example of the calibration table.

この図に示されるように、校正テーブルは、光変位計の
左右位置xAiと、各左右位置xAiにおける実際の基準距
離L0Aiと、を対応付けるテーブルである。
As shown in this figure, the calibration table is a table that associates the lateral position x Ai of the optical displacement meter with the actual reference distance L 0Ai at each lateral position x Ai .

架台校正においては、直線性校正の際と同様、校正板28
が回動されかつ水平振動されている。この状態での光変
位計18の出力は、光変位計18と校正板28との距離を示し
ている。
In the frame calibration, the calibration plate 28
Is rotated and horizontally vibrated. The output of the optical displacement meter 18 in this state indicates the distance between the optical displacement meter 18 and the calibration plate 28.

ここで、校正板28の板厚をl0、上側及び下側の光変位計
18から校正板28までの距離(すなわち上下の光変位計18
の各出力)をそれぞれl1及びl2とする。この場合、第3
図に示されるように、基準距離L0について、次の式 L0=l1+l2+l0 が成立する。従って、演算制御部34が上式に基づく演算
を実行することにより、実際の基準距離L0が求められる
ことになる。また、このような演算を所定回数、例えば
16回繰り返し平均を求め、この平均値を基準距離L0とし
て扱えば、さらに基準距離L0の正確さは向上する。
Here, the plate thickness of the calibration plate 28 is l 0 , and the upper and lower optical displacement meters
Distance from 18 to calibration plate 28 (ie upper and lower optical displacement gauges 18
Of each output) is defined as l 1 and l 2 , respectively. In this case, the third
As shown in the figure, the following equation L 0 = l 1 + l 2 + l 0 holds for the reference distance L 0 . Therefore, the arithmetic control unit 34 executes the arithmetic operation based on the above equation to obtain the actual reference distance L 0 . In addition, such calculation is performed a predetermined number of times, for example,
The accuracy of the reference distance L 0 is further improved by calculating the average 16 times and treating this average value as the reference distance L 0 .

この基準距離L0は、上側の光変位計18を所定間隔で左右
に移動させることにより、N個のデータL0Aiとして得
られる。なお、この左右移動は、演算制御部34の制御に
基づきリニアモータ32により行われる。
The reference distance L 0 is obtained as N pieces of data L 0Ai by moving the upper optical displacement meter 18 left and right at a predetermined interval. The horizontal movement is performed by the linear motor 32 under the control of the arithmetic control unit 34.

このようにして得られた基準距離L0Aiが、光変位計18
の左右位置と対応付けられると、第11図に示されるよう
な校正テーブルが作成される。校正テーブルは、各光変
位計18の対ごとに作成される。
The reference distance L 0Ai thus obtained is the optical displacement meter 18
When associated with the left and right positions of, the calibration table as shown in FIG. 11 is created. The calibration table is created for each pair of optical displacement meters 18.

以上のようにして作成された直線性補正テーブル及び校
正テーブルは、メモリ36に格納される。
The linearity correction table and the calibration table created as described above are stored in the memory 36.

測定時には、これら直線性補正テーブル及び校正テーブ
ルが参照される。
At the time of measurement, these linearity correction table and calibration table are referred to.

すなわち、被測定体10の板厚を求める際、演算制御部34
は、パルスステージ22への指令値に基づき直線性テーブ
ル中のデータを読み出す。この読み出しにより得られる
データは、例えば第9図でいえばL3Aiである。従っ
て、このデータと指令値との差を求めれば、現在の光変
位計18の出力に含まれる特性変化に起因する誤差が求め
られる。この誤差を光変位計18出力から減じてやれば、
光変位計18の特性変化に起因する誤差の影響が排除され
る。
That is, when determining the plate thickness of the object to be measured 10, the calculation control unit 34
Reads the data in the linearity table based on the command value to the pulse stage 22. The data obtained by this reading is, for example, L 3Ai in FIG. Therefore, if the difference between this data and the command value is obtained, the error due to the characteristic change contained in the current output of the optical displacement meter 18 can be obtained. If this error is subtracted from the optical displacement meter 18 output,
The influence of an error caused by the characteristic change of the optical displacement meter 18 is eliminated.

また、板厚演算時に用いられる基準距離をL0補正すべ
く、演算制御部34は、光変位計18の左右位置に基づきメ
モリ36から校正テーブルに係るデータを読み出す。読み
出されるデータは、その左右位置に係る基準距離L0であ
る。この基準距離L0は、前述のように架台歪みを反映し
た値であるため、この基準距離L0を用いて板厚演算すれ
ば、架台14が歪んでいる場合における誤差発生が防止さ
れる。
Further, in order to correct the reference distance used in the plate thickness calculation by L 0 , the calculation control unit 34 reads the data related to the calibration table from the memory 36 based on the lateral position of the optical displacement meter 18. The read data is the reference distance L 0 related to the left and right positions. Since the reference distance L 0 is a value that reflects the pedestal distortion as described above, the plate thickness calculation using this reference distance L 0 prevents the occurrence of an error when the gantry 14 is distorted.

このように、本実施例によれば、校正板28により簡易な
手段で電気的補正及び機械的補正を一括して実施するこ
とができる。さらに、直線性補正テーブル及び校正テー
ブルにより補正を行うことができ、より正確に板厚Lを
演算して正確性及び信頼性を確保することが可能にな
る。
As described above, according to the present embodiment, the calibration plate 28 can collectively perform the electrical correction and the mechanical correction by a simple means. Further, the correction can be performed using the linearity correction table and the calibration table, and the plate thickness L can be calculated more accurately to ensure the accuracy and reliability.

また、光変位計18と被測定体10との距離を測定点近傍の
数点の空間平均として求められ、この結果、複数の被測
定体10間の面性状のばらつきや、同一被測定体10におけ
る面性状のばらつきがある場合にも、この面性状の影響
を補正してより正確な板厚Lの測定を行うことができ
る。
Further, the distance between the optical displacement meter 18 and the measured object 10 is obtained as a spatial average of several points in the vicinity of the measurement point, and as a result, variations in surface properties among the plurality of measured objects 10 and the same measured object 10 are obtained. Even if there is a variation in the surface texture at, the influence of the surface texture can be corrected to measure the plate thickness L more accurately.

なお、以上の説明ではパルスステージ22が上側のみに設
けられていたが、下側にも設けても良い。この場合、
上、下の光変位計18について直線性補正テーブルが作成
され、より精密な測定が可能になる。
Although the pulse stage 22 is provided only on the upper side in the above description, it may be provided on the lower side. in this case,
A linearity correction table is created for the upper and lower optical displacement meters 18 to enable more precise measurement.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、直線性補正テー
ブル及び校正テーブルを作成し、直線性補正テーブル及
び校正テーブルにより光変位計出力及び基準距離を補正
するようにしたため、より正確な板厚測定が可能にな
る。また、空間平均に基づき板厚演算を行うようにした
ため、面性状に起因する誤差が低減し、より正確な板厚
測定が可能になる。
As described above, according to the present invention, since the linearity correction table and the calibration table are created and the optical displacement meter output and the reference distance are corrected by the linearity correction table and the calibration table, More accurate plate thickness measurement becomes possible. Further, since the plate thickness is calculated based on the spatial average, the error caused by the surface property is reduced, and the plate thickness can be measured more accurately.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例に係る自動板厚測定装置の実
体構成を示す慨略外観図であり、第1図(a)は上面
図、第1図は(b)は側面図、 第2図はこの実施例のより詳細な実体構成を示す正面
図、 第3図はこの実施例の校正手段の構成を示す概略図であ
り、第3図(a)は正面図、第3図(b)は側面図、 第4図はこの実施例の回路構成を示すブロック図、 第5図は光変位計から発せられる光ビームの軌跡を示す
図、 第6図は板厚測定位置を示す図、 第7図は空間平均の概念を示す図、 第8図は板厚測定原理を示す図、 第9図は光変位計の特性変化を示す図、 第10図は直線性補正テーブルの一例を示す図、 第11図は光変位計の移動範囲を示す図、 第12図は校正テーブルの一例を示す図である。 10……被測定体 12……搬送ライン 18……光変位計 28……校正板 30……ロータリソレノイド 32……リニアモータ 34……演算制御部
FIG. 1 is a schematic external view showing the actual configuration of an automatic plate thickness measuring device according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 (a) is a top view, FIG. 1 (b) is a side view, 2 is a front view showing a more detailed substance structure of this embodiment, FIG. 3 is a schematic view showing the structure of the calibration means of this embodiment, and FIG. 3 (a) is a front view and FIG. (B) is a side view, FIG. 4 is a block diagram showing a circuit configuration of this embodiment, FIG. 5 is a view showing a trajectory of a light beam emitted from an optical displacement meter, and FIG. 6 is a plate thickness measurement position. Fig. 7, Fig. 7 is a diagram showing the concept of spatial averaging, Fig. 8 is a diagram showing the thickness measurement principle, Fig. 9 is a diagram showing characteristic changes of the optical displacement meter, and Fig. 10 is an example of a linearity correction table. FIG. 11, FIG. 11 is a diagram showing a moving range of the optical displacement meter, and FIG. 12 is a diagram showing an example of a calibration table. 10: Object to be measured 12: Transport line 18: Optical displacement meter 28: Calibration plate 30: Rotary solenoid 32: Linear motor 34: Arithmetic control unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内藤 修治 福岡県北九州市戸畑区飛幡町1番1号 新 日本製鐵株式會社八幡製鐵所内 (72)発明者 藤川 寿生 福岡県北九州市戸畑区飛幡町1番1号 新 日本製鐵株式會社八幡製鐵所内 (72)発明者 三村 隆 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日本 無線株式会社内 (72)発明者 米谷 太一郎 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日本 無線株式会社内 (72)発明者 糸原 浩一 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日本 無線株式会社内 (72)発明者 橋本 広嗣 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日本 無線株式会社内 (72)発明者 藤崎 一俊 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日本 無線株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Shuji Naito 1-1, Tobata-cho, Tobata-ku, Kitakyushu-shi, Fukuoka Prefecture Inside Nippon Steel Co., Ltd. Yawata Works (72) Inventor Hisao Fujikawa Tobata, Tohata-ku, Kitakyushu-shi, Fukuoka Town No. 1-1 New Nippon Steel Co., Ltd. Yawata Works (72) Inventor Takashi Mimura 5-1-1 Shimorenjaku, Mitaka City, Tokyo Metropolitan Government (72) Inventor Taichiro Yoneya Shimorenjaku, Mitaka City, Tokyo 5-1-1, Japan Radio Co., Ltd. (72) Koichi Itohara 5-1-1, Shimorenjaku, Mitaka-shi, Tokyo Within 5-1-1 Japan Radio Co., Ltd. (72) Hirotsugu Hashimoto 5-1-1, Shimorenjaku, Mitaka-shi, Tokyo No. 1 in Japan Radio Co., Ltd. (72) Inventor Kazutoshi Fujisaki 5-1-1 Shimorenjaku, Mitaka City, Tokyo Japan Radio Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被測定体を搬送する搬送ラインの上方及び
下方の架台上に対をなしかつ所定の基準距離を隔てて配
置され、光ビームを被測定体に照射して反射光に基づき
被測定体との距離を求める複数対の光変位計と、 先端がL字状の屈曲を有し、被測定体の板厚測定時には
先端が光変位計の測定域外に配置される所定板厚の校正
板と、 校正時に、光変位計から発せられる光ビームを遮る所定
位置に先端が位置するよう校正板を回動させる回動手段
と、 測定時には、被測定体の板厚規格に応じて定められる位
置となるよう光変位計の上下位置を制御し、被測定体の
流れに応じて被測定体上の所定軌跡を描くよう光変位計
の左右位置を制御し、直線性校正時には、光変位計を上
下方向に所定ピッチで移動させ、架台校正時には、光変
位計を左右方向に所定間隔で移動させる位置制御手段
と、 直線性校正時における光変位計の出力を光変位計の期待
される上下位置に対応付ける直線性補正テーブルを作成
する直線性補正手段と、 架台校正時における光変位計の出力と、校正板の板厚
と、に基づき基準距離を求め、この基準距離を光変位計
の左右位置に対応付ける校正テーブルを作成する架台補
正手段と、 直線性補正テーブルを参照して光変位計と被測定体との
距離を補正し、光変位計の左右位置により校正テーブル
を参照して基準距離を補正し、光変位計の上下方向移動
量、補正された距離及び基準距離に基づき前記軌跡に沿
う数点について被測定体の板厚を演算し平均する板厚演
算手段と、 を備えることを特徴とする自動板厚測定装置。
1. A pair of units are arranged on a pedestal above and below a conveyance line for conveying an object to be measured, and are arranged at a predetermined reference distance. A plurality of pairs of optical displacement gages for obtaining the distance to the measurement object, and a tip with an L-shaped bend, of which the tip is placed outside the measurement range of the optical displacement gage when measuring the thickness of the object to be measured. Calibration plate, rotation means for rotating the calibration plate so that the tip is located at a predetermined position that blocks the light beam emitted from the optical displacement meter during calibration, and during measurement, set according to the plate thickness standard of the DUT. The vertical position of the optical displacement meter is controlled so that it will be set to the desired position, and the horizontal position of the optical displacement meter is controlled to draw a predetermined locus on the measured object according to the flow of the measured object. Move the meter up and down at a predetermined pitch, and move the optical displacement meter Position control means to move at a predetermined interval in the direction, linearity correction means to create a linearity correction table that correlates the output of the optical displacement meter during linearity calibration with the expected vertical position of the optical displacement meter, and during pedestal calibration Refer to the linear correction table and the gantry correction means that finds the reference distance based on the output of the optical displacement meter at and the plate thickness of the calibration plate and creates a calibration table that correlates this reference distance to the left and right positions of the optical displacement meter. Then, the distance between the optical displacement meter and the object to be measured is corrected, and the reference distance is corrected by referring to the calibration table according to the horizontal position of the optical displacement meter, and the vertical displacement of the optical displacement meter, the corrected distance and the reference An automatic plate thickness measuring device, comprising: a plate thickness calculating means for calculating and averaging the plate thickness of the object to be measured at several points along the trajectory based on the distance.
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