JP2675662B2 - Automatic plate thickness measuring device - Google Patents

Automatic plate thickness measuring device

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JP2675662B2
JP2675662B2 JP23815190A JP23815190A JP2675662B2 JP 2675662 B2 JP2675662 B2 JP 2675662B2 JP 23815190 A JP23815190 A JP 23815190A JP 23815190 A JP23815190 A JP 23815190A JP 2675662 B2 JP2675662 B2 JP 2675662B2
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optical displacement
displacement meter
calibration
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plate thickness
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寿生 藤川
英樹 小口
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浩一 糸原
文夫 村上
英記 上原
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【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、搬送ラインにより搬送される被測定体の板
厚を光ビームの反射により非接触で自動測定する自動板
厚測定装置に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic thickness measuring apparatus for automatically measuring the thickness of an object to be transported by a transport line in a non-contact manner by reflection of a light beam.

[従来の技術] 従来から、搬送ラインによる搬送される被測定体の板
厚を光変位計により自動計測する自動板厚測定装置が知
られている。
[Prior Art] Conventionally, there has been known an automatic plate thickness measuring device for automatically measuring a plate thickness of an object to be measured conveyed by a conveying line by an optical displacement meter.

従来において用いられていた装置は、いわゆるC型フ
レームを用いた1点計測の装置であり、被測定体として
は幅が一定のもの、すなわち固定幅の被測定体を測定す
るものである。
An apparatus used in the related art is a one-point measuring apparatus using a so-called C-shaped frame, and measures an object having a constant width, that is, an object having a fixed width.

この装置においては、搬送ラインの上下に光変位計が
配置される。この光変位計によってレーザ光である光ビ
ームが被測定体に照射され、被測定体の板厚が測定され
る。このような装置により、従来、鋼板等の被測定板厚
を自動測定することが行われていた。
In this apparatus, optical displacement meters are arranged above and below a transport line. The object to be measured is irradiated with a light beam as a laser beam by the optical displacement meter, and the thickness of the object to be measured is measured. Conventionally, such a device has been used to automatically measure the plate thickness of a steel plate or the like to be measured.

ところで一般に、自動板厚測定装置の精度を確保する
ためには校正が必要となる。校正は装置を使用する都度
行われ、装置運用の上で必須の作業である。より具体的
には、光変位計の経年変化等による誤差を補正(電気的
補正)し、また、機械的歪を補正(機械的補正)して、
信頼性を維持し、正確な板厚測定を期するものである。
By the way, generally, calibration is necessary to ensure the accuracy of the automatic plate thickness measuring device. Calibration is performed every time the device is used, and it is an essential work for operating the device. More specifically, the error due to aging of the optical displacement meter is corrected (electrical correction), and the mechanical distortion is corrected (mechanical correction).
It is intended to maintain reliability and accurately measure the plate thickness.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来においては、光変位計の特性変化
等により板厚測定に誤差が生じるという問題点があっ
た。
[Problems to be Solved by the Invention] However, conventionally, there has been a problem that an error occurs in the plate thickness measurement due to a characteristic change of the optical displacement meter.

すなわち、光変位計の検出特性は、環境的要因、例え
ば温度、湿度等や、経年変化等によって同様の要因によ
り変化する。例えば第11図に示されるように、実線の初
期特性から破線の特性に変化する。この変化は板厚測定
の誤差発生原因となる。
That is, the detection characteristic of the optical displacement meter changes due to environmental factors such as temperature, humidity, etc., and similar factors due to aging. For example, as shown in FIG. 11, the initial characteristic indicated by the solid line changes to the characteristic indicated by the broken line. This change causes an error in the plate thickness measurement.

このような誤差発生原因を除去すべく、いくつかの提
案がなされている。
Several proposals have been made to eliminate such a cause of error.

例えば、特公平1−313705号公報には、変位計本体ケ
ース及び支持金具に発生する温度歪みを補償する構成、
すなわち線熱膨張係数補償部材を本体ケースと支持具金
具の間又は支持金具途中に挿入する方法が示されてい
る。
For example, Japanese Examined Patent Publication (Kokoku) No. 1-313705 discloses a configuration for compensating for temperature distortion occurring in a displacement gauge main body case and a support fitting.
That is, a method of inserting the linear thermal expansion coefficient compensating member between the main body case and the support fitting or in the middle of the support fitting is shown.

しかし、このような従来提案では、装置構成が大型化
し、構造が複雑になるため装置が高価格化するという問
題点が生じてしまう。
However, in such a conventional proposal, there is a problem that the size of the device becomes large and the structure becomes complicated, so that the cost of the device becomes high.

本発明は、このような問題点を解決することを課題と
してなされたものであり、装置を大型化させあるいは高
価格化させることなく、校正時に光変位計の特性変化を
補償してより正確な板厚測定を実施可能とすることを目
的とする。
The present invention has been made to solve such a problem, and it is possible to compensate for a characteristic change of an optical displacement meter at the time of calibration without increasing the size of the device or increasing the price, and thus to achieve a more accurate measurement. The purpose is to enable plate thickness measurement.

[課題を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明は、被測定
体を搬送する搬送ラインの上方及び下方の架台上に対を
なしかつ所定の基準距離を隔てて配置され、光ビームを
被測定体に照射して反射光に基づき被測定体との距離を
求める複数対の光変位計と、先端がL字状の屈曲を有
し、被測定体の板厚測定時には先端が光変位計の測定域
外に配置される所定板厚の校正板と、校正時に、光変位
計から発せられる光ビームを遮る所定位置に先端が位置
するように校正板を回動させる回動手段と、測定時に
は、被測定体の板厚規格に応じて定められる位置となる
よう光変位計の上下位置を制御し、直線性校正時には、
光変位計を上下方向に所定ピッチで移動させる上下位置
制御手段と、測定時に被測定体上の所定軌跡を描くよう
光変位計の左右位置を制御する左右位置制御手段と、直
線性校正時における光変位計の出力を光変位計の期待さ
れる上下位置に対応付ける直線性補正テーブルを作成す
る直線性補正手段と、直線性補正テーブルを参照して光
変位計と被測定体との距離を補正し、光変位計の上下方
向移動量、補正された距離及び基準距離に基づき被測定
体の板厚を演算し平均する板厚演算手段と、を備えるこ
とを特徴とする。
[Means for Solving the Problem] In order to achieve such an object, the present invention forms a pair on a pedestal above and below a transportation line for transporting an object to be measured with a predetermined reference distance. A plurality of pairs of optical displacement gauges that are arranged and determine the distance to the object to be measured based on the reflected light by irradiating the object to be measured with a light beam, and the tip has an L-shaped bend, and the plate thickness of the object to be measured. During measurement, the tip is located outside the measurement range of the optical displacement meter, and the calibration plate is rotated so that the tip is positioned at a predetermined position that blocks the light beam emitted from the optical displacement meter during calibration. The rotating means and the vertical position of the optical displacement meter are controlled so that the position is determined according to the plate thickness standard of the object to be measured during measurement.
Vertical position control means for moving the optical displacement meter in the vertical direction at a predetermined pitch, horizontal position control means for controlling the horizontal position of the optical displacement meter so as to draw a predetermined trajectory on the measured object during measurement, and for linearity calibration Linearity correction means for creating a linearity correction table that associates the output of the optical displacement meter with the expected vertical position of the optical displacement meter, and corrects the distance between the optical displacement meter and the measured object by referring to the linearity correction table. And a plate thickness calculating means for calculating and averaging the plate thickness of the object to be measured based on the vertical movement amount of the optical displacement meter, the corrected distance and the reference distance.

[作用] 本発明の自動板厚測定装置においては、光変位計と被
測定体との距離、光変位計の上下方向移動量及び対向す
る光変位計間の基準距離に基づき、被測定体の板厚が求
められる。
[Operation] In the automatic plate thickness measuring device of the present invention, based on the distance between the optical displacement meter and the measured object, the vertical movement amount of the optical displacement meter, and the reference distance between the opposed optical displacement meters, The plate thickness is required.

これらのうち、光変位計と被測定体との距離は直線性
補正テーブルによる補正を受ける。
Of these, the distance between the optical displacement meter and the object to be measured is corrected by the linearity correction table.

例えば、光変位計の特性が初期特性から変化している
場合、この変化を補償してやらないと板厚測定値に誤差
が生じてしまう。このため、本発明では直線性補正を実
施する。直線性補正は、上下方向に所定ピッチで移動さ
せつつ行われ、この校正においては光変位計の出力が光
変位計の期待される上下位置に対応付けられる。
For example, when the characteristics of the optical displacement meter change from the initial characteristics, an error will occur in the plate thickness measurement value unless this change is compensated. Therefore, linearity correction is performed in the present invention. The linearity correction is performed while moving in the vertical direction at a predetermined pitch, and in this calibration, the output of the optical displacement meter is associated with the expected vertical position of the optical displacement meter.

このときの光変位計の出力は、光変位計と校正板との
距離を示している。すなわち、校正時には校正板が光ビ
ームを遮る位置に回動され、この校正板から反射光が得
られる。また、期待される上下位置は、例えば光変位計
の初期特性に基づき位置制御により得られる上下位置で
ある。
The output of the optical displacement meter at this time indicates the distance between the optical displacement meter and the calibration plate. That is, during calibration, the calibration plate is rotated to a position that blocks the light beam, and reflected light is obtained from this calibration plate. The expected vertical position is the vertical position obtained by position control based on the initial characteristics of the optical displacement meter, for example.

光変位計の出力と上下位置との対応付けを示すテーブ
ルを、直線性補正テーブルと呼ぶことにする。この直線
性補正テーブルは、測定時における光変位計の出力、す
なわち光変位計と被測定体との距離の補正に用いられ
る。これにより、測定時における光変位計の上下方向位
置に応じて前述の特性変化により発生する誤差が、補償
されることになる。
A table showing the correspondence between the output of the optical displacement meter and the vertical position will be called a linearity correction table. This linearity correction table is used to correct the output of the optical displacement meter during measurement, that is, the distance between the optical displacement meter and the object to be measured. As a result, the error caused by the above-mentioned characteristic change depending on the vertical position of the optical displacement meter at the time of measurement is compensated.

さらに、本発明においては、上下位置制御手段が測定
時と校正時で共用される。このため、本発明において
は、従来に比べて装置構成を大型化ひいては高価格化す
ること無く、測定の正確性が向上する。
Further, in the present invention, the vertical position control means is shared during measurement and calibration. Therefore, in the present invention, the accuracy of measurement is improved without increasing the size of the device structure and thus increasing the price, as compared with the related art.

[実施例] 以下、本発明の好適な実施例について図面に基づき説
明する。
EXAMPLES Hereinafter, preferred examples of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図には、本発明の一実施例に係る自動板厚測定装
置の実体構成が示されている。特に、第1図(a)にお
いては装置を上方から見た外観が、第1図(b)におい
ては側面から見た外観が、それぞれ示されている。
FIG. 1 shows the actual configuration of an automatic thickness measuring apparatus according to one embodiment of the present invention. In particular, FIG. 1 (a) shows the appearance of the apparatus viewed from above, and FIG. 1 (b) shows the appearance of the apparatus viewed from the side.

この図においては、図中矢印で示される方向に被測定
体10を搬送する搬送ライン12が示されている。この図に
おける被測定体10は、それぞれ板厚、幅等の異なる鋼板
であり、図には10−1、10−2、10−3の3個が示され
ている。この実施例において板厚測定の対象とする測定
体10は、例えば板厚4〜60mm、幅800〜4000mm、長さ150
0〜14000mmの規格のものであり、搬送ライン12の上の任
意の位置に任意の姿勢で配置される。
In this figure, a transport line 12 that transports the measured object 10 in a direction indicated by an arrow in the figure is shown. The measured object 10 in this figure is a steel sheet having different thicknesses, widths, and the like, and three figures 10-1, 10-2, and 10-3 are shown in the figure. In this embodiment, the measuring object 10 to be measured for the thickness is, for example, a thickness of 4 to 60 mm, a width of 800 to 4000 mm and a length of 150 mm.
It has a standard of 0 to 14000 mm, and is arranged at an arbitrary position on the transport line 12 in an arbitrary posture.

また、搬送ライン12を跨ぐように、上下一対の門型架
台14が設けられている。門型架台14の搬送ライン12上流
側にはラインセンサ16が、下流側には光変位計18が、そ
れぞれ配設されている。
In addition, a pair of upper and lower portal frames 14 are provided so as to straddle the transport line 12. A line sensor 16 is provided on the upstream side of the transport line 12 of the portal frame 14, and an optical displacement meter 18 is provided on the downstream side.

ラインセンサ16は、1対となるよう上下双方の門型架
台14に設けられており、被測定体10の先端の左右両端位
置を検出する。検出される左右両端位置は、光変位計18
の位置の初期設定に用いられる。
The line sensors 16 are provided on the upper and lower gate-shaped pedestals 14 so as to form a pair, and detect the left and right end positions of the tip of the DUT 10. The left and right end positions detected are the optical displacement meter 18
Is used for the initial setting of the position.

また、光変位計18は3対が門型架台14に移動自在に設
けられている。この光変位計18は被測定体10の板厚を測
定する装置である。すなわち、光変位計18は被測定体10
に光ビームを照射し、その反射光を取り込む。さらに、
取り込んだ反射光に基づき被測定体10までの距離を求
め、後述の原理による板厚演算に供する。
Further, three pairs of the optical displacement meters 18 are movably provided on the gate mount 14. The optical displacement meter 18 is a device for measuring the thickness of the measured object 10. That is, the optical displacement meter 18 is the object to be measured 10
It irradiates a light beam on and captures the reflected light. further,
The distance to the object to be measured 10 is calculated based on the captured reflected light, and is used for plate thickness calculation based on the principle described later.

第2図には、この実施例のより詳細な実体構成が正面
図として示されている。
FIG. 2 shows a more detailed actual configuration of this embodiment as a front view.

この図においては、上下2個のリニアモータレール20
が示されている。リニアモータレール20は、6個の光変
位計18をそれぞれ左右方向に駆動するリニアモータのレ
ールである。
In this figure, the upper and lower two linear motor rails 20 are shown.
It is shown. The linear motor rail 20 is a rail of a linear motor that drives each of the six optical displacement meters 18 in the left-right direction.

また、光変位計18のうち上側の3個は、パルスステー
ジ22に取り付けられている。すなわち、この3個の光変
位計18はパルスステージ22によって上下方向に駆動さ
れ、測定時には非測定体10の板厚規格に応じてパルスス
テージ22の制御により上下位置が所定位置に、例えば被
測定体10表面から133mmに設定される。なお、パルスス
テージ22を上側のみに設けるのは、被測定体10の下面が
搬送ライン12のローラで支持されていることによる。
The upper three of the optical displacement meters 18 are attached to the pulse stage 22. That is, the three optical displacement gauges 18 are driven in the vertical direction by the pulse stage 22, and the vertical position is set to a predetermined position by the control of the pulse stage 22 according to the plate thickness standard of the non-measuring body 10 during measurement, for example, to be measured. It is set to 133 mm from the body 10 surface. The pulse stage 22 is provided only on the upper side because the lower surface of the measured object 10 is supported by the rollers of the transfer line 12.

さらに、3対の光変位計18のうち左右両側の2対に
は、第1及び第2エッジセンサ24及び26が付設されてい
る。第1エッジセンサ24は、ラインセンサ16の出力に応
じて初期設定された光変位計18の位置を、さらに微調整
するために用いられる。第2エッジセンサ26は、被測定
体10の側端を追従検出すために用いられる。
Further, first and second edge sensors 24 and 26 are attached to two pairs on the left and right sides of the three pairs of optical displacement meters 18, respectively. The first edge sensor 24 is used to further finely adjust the position of the optical displacement meter 18 which is initially set according to the output of the line sensor 16. The second edge sensor 26 is used to follow and detect the side edge of the measured object 10.

第3図には、この実施例における光変位計18の校正に
係る装置構成が示されている。特に、第3図(a)には
一対の光変位計18の正面が、第3図(b)には側面が、
それぞれ示されている。
FIG. 3 shows an apparatus configuration for calibrating the optical displacement meter 18 in this embodiment. In particular, FIG. 3 (a) shows the front of the pair of optical displacement meters 18, and FIG.
Each is shown.

この図においては、通常の板厚測定時には破線のよう
な位置に、校正時には実線のような位置に、回動配置さ
れる校正板28が示されている。校正板28はL字状の屈曲
を有しており、先端の板厚は検定を受けた所定の厚みに
設定されている。校正板28の回動は、ロータリソレノイ
ド30により行われる。また、ロータリソレノイド30は、
校正板28は、図示しないモータ等によりを水平方向に例
えば±3mmの振幅で振動する。
In this drawing, the calibration plate 28 which is pivotally disposed at a position as shown by a broken line during normal thickness measurement and at a position as shown by a solid line during calibration is shown. The calibration plate 28 has an L-shaped bend, and the plate thickness at the tip is set to a predetermined thickness that has been verified. The rotation of the calibration plate 28 is performed by a rotary solenoid 30. Further, the rotary solenoid 30 is
The calibration plate 28 vibrates horizontally with an amplitude of, for example, ± 3 mm by a motor or the like (not shown).

第4図には、この実施例の回路構成が示されている。 FIG. 4 shows a circuit configuration of this embodiment.

この図においては一方で光変位計18の出力に基づき被
測定体10の板厚を求め、他方でラインセンサ16並びに第
1及び第2エッジセンサ24及び26の出力に基づきリニア
モータ32及びパルスステージ22を制御する演算制御部34
が示されている。さらに、演算制御部34はロータリソレ
ノイド30をも制御する。加えて、この図には、校正時に
求められる基準距離及び本発明の特徴に係る直線性補正
テーブルを格納するメモリ36が示されている。なお、光
変位計18、ラインセンサ16、第1エッジセンサ24、第2
エッジセンサ26、リニアモータ32、パルスステージ22及
びロータリソレノイド30は実際は複数であるが、この図
においては図の簡単化のため省略されている。
In this figure, the plate thickness of the object to be measured 10 is calculated based on the output of the optical displacement meter 18 on the one hand, and the linear motor 32 and the pulse stage based on the outputs of the line sensor 16 and the first and second edge sensors 24 and 26 on the other hand. Calculation control unit 34 for controlling 22
It is shown. Further, the arithmetic control unit 34 also controls the rotary solenoid 30. In addition, this drawing also shows a memory 36 that stores a reference distance required during calibration and a linearity correction table according to the features of the present invention. The optical displacement meter 18, the line sensor 16, the first edge sensor 24, the second
The edge sensor 26, the linear motor 32, the pulse stage 22, and the rotary solenoid 30 are actually plural, but are omitted in this drawing for simplification of the drawing.

次に、この実施例の動作について説明する。 Next, the operation of this embodiment will be described.

この実施例においては、まず、搬送ライン12の上に被
測定体10が載置される。載置された被測定体10は、搬送
ライン12によって搬送され、ラインセンサ16下に到達す
る。
In this embodiment, first, the measured object 10 is placed on the transport line 12. The placed object to be measured 10 is transported by the transport line 12 and reaches below the line sensor 16.

すると、ラインセンサ16により、この被測定体10によ
る遮光位置が検出される。すなわち、ラインセンサ16
は、被測定体10により光線が遮られる部分を検出し、こ
れを被測定体10の左右両端位置として演算制御部34に供
給する。
Then, the light-shielded position by the measured object 10 is detected by the line sensor 16. That is, the line sensor 16
Detects a portion where the light beam is blocked by the measured object 10 and supplies the detected portion as the left and right end positions of the measured object 10 to the arithmetic and control unit 34.

演算制御部34は、ラインセンサ16の出力に基づきリニ
アモータ32を駆動制御して、光変位計18の位置を制御す
る。具体的には、左右両側各1対の光変位計18を遮光位
置として検出される被測定体10の左右両端位置に移動さ
せ、中央に配置されている1対の光変位計18を、左右の
光変位計18の中央位置に維持する。これにより、光変位
計18の位置が初期設定される。
The arithmetic control unit 34 controls the drive of the linear motor 32 based on the output of the line sensor 16 to control the position of the optical displacement meter 18. Specifically, the pair of optical displacement meters 18 on each of the left and right sides is moved to both left and right positions of the measured object 10 detected as the light shielding position, and the pair of optical displacement meters 18 disposed at the center is moved to the left and right. Is maintained at the central position of the optical displacement meter 18. Thereby, the position of the optical displacement meter 18 is initialized.

こののち、被測定体10がさらに搬送され第1エッジセ
ンサ24に達すると、この第1エッジセンサ24により光変
位計18の位置が微調節される。すなわち、第1エッジセ
ンサ24の出力に応じ、演算制御部34がリニアモータ32を
制御する。
Thereafter, when the measured object 10 is further transported and reaches the first edge sensor 24, the position of the optical displacement meter 18 is finely adjusted by the first edge sensor 24. That is, the arithmetic control unit 34 controls the linear motor 32 according to the output of the first edge sensor 24.

次に、第2エッジセンサ26により被測定体10の左右両
端が捕捉される。このとき、第2エッジセンサ26の出力
により演算制御部34がリニアモータ32を制御する。すな
わち、第2エッジセンサ26が光変位計18に固定されてい
るため、この制御によって、第2エッジセンサ26が被測
定体10の左右両端を追従捕捉し続け、かつ左右両端の光
変位計18が被測定体10の左右両端から所定の距離の軌跡
を検出走査することとなる。
Next, the left and right ends of the measured object 10 are captured by the second edge sensor 26. At this time, the arithmetic control unit 34 controls the linear motor 32 based on the output of the second edge sensor 26. That is, since the second edge sensor 26 is fixed to the optical displacement meter 18, by this control, the second edge sensor 26 continues to capture the right and left ends of the measured object 10 and the optical displacement meters 18 at the left and right ends. Means to detect and scan a locus having a predetermined distance from both left and right ends of the object to be measured 10.

第5図には、光変位計18の光ビーム軌跡が、第6図に
は、この軌跡のうち板厚演算に用いられる点(測定位
置)が示されている。
FIG. 5 shows the light beam trajectory of the optical displacement meter 18, and FIG. 6 shows points (measurement positions) used in the thickness calculation of the trajectory.

この実施例においては、第5図において3本の矢印線
で示される軌跡に係る光変位計18の出力を連続して収集
する。この収集の後、演算制御部34が測定位置を決定
し、板厚を演算する。
In this embodiment, the output of the optical displacement meter 18 relating to the locus indicated by the three arrow lines in FIG. 5 is continuously collected. After this collection, the arithmetic control unit 34 determines the measurement position and calculates the plate thickness.

より具体的には、演算制御部34は、被測定体10の先端
がラインセンサ16に達してから第1エッジセンサ24に達
するまでの時間により被測定体10の搬送速度を求める。
ラインセンサ16と第1エッジセンサ24の距離は予め決定
されるため、この搬送速度を用いて、時刻を被測定体10
を基準とした位置座標に換算できる。この換算結果に基
づき、測定位置が決定される。
More specifically, the arithmetic and control unit 34 determines the transport speed of the measured object 10 from the time from when the tip of the measured object 10 reaches the line sensor 16 to when it reaches the first edge sensor 24.
Since the distance between the line sensor 16 and the first edge sensor 24 is determined in advance, the transport speed is used to determine the time.
Can be converted into position coordinates. The measurement position is determined based on the conversion result.

測定位置は、例えば被測定体10の左右両端から15mmの
線、前後両端から15mmの線及び中心線の合計6本の線か
ら決定する。すなわち、これらの線の交点を測定位置P1
〜P9に設定する。
The measurement position is determined, for example, from a total of six lines, which are a line of 15 mm from both left and right ends of the object to be measured 10, a line of 15 mm from both front and rear ends, and a center line. That is, the intersection of these lines is measured at the measurement position P 1
Set to ~P 9.

次に、このように設定された測定位置P1〜P9につい
て、すでに収集されている光変位計18出力に基づく板厚
演算が、演算制御部34により行われる。
Next, the measurement position P 1 to P 9 which is set in this manner, the plate thickness calculation based on the optical displacement meter 18 output that has already been collected is performed by the arithmetic control unit 34.

第7図には、この実施例における板厚測定の原理が示
されている。
FIG. 7 shows the principle of plate thickness measurement in this embodiment.

この実施例においては、板厚測定時における対向する
光変位計18の距離と、前述の空間平均と、に基づき被測
定体10の板厚が求められる。
In this embodiment, the plate thickness of the object 10 to be measured is obtained based on the distance between the optical displacement gauges 18 facing each other during the plate thickness measurement and the above-mentioned spatial average.

まず、被測定体10が無い状態での光変位計18の対向距
離、すなわち基準距離L0が設計的に決定されているもの
とする。また、板厚Lの被測定体10の場合に光変位計18
の感覚を拡げる量、すなわち光変位計18の移動量L3とす
る。
First, it is assumed the optical displacement meter 18 facing distance in the state object to be measured 10 is not, i.e. the reference distance L 0 is determined designed to. In the case of the measured object 10 having a plate thickness L, the optical displacement meter 18
The amount of expanding the sense of, that is, the moving amount L 3 of the optical displacement meter 18 is set.

すると、上側の光変位計18によって測定される距離L1
及び下側の光変位計18によって測定される距離L2から、
次の式により、板厚Lが求められることになる。
Then, the distance L 1 measured by the upper optical displacement meter 18
And from the distance L 2 measured by the lower optical displacement meter 18,
The plate thickness L is determined by the following equation.

L=(L0+L3)−(L1+L2) このように、本実施例においては、測定位置P1〜P9
基づく板厚Lの多点計測が実行される。
L = (L 0 + L 3 ) - (L 1 + L 2) Thus, in the present embodiment, the multi-point measurement of the thickness L based on the measurement position P 1 to P 9 are executed.

また、この実施例において板厚Lの測定に用いられる
距離L1は、校正の際に各光変位計18毎に作成される直線
性補正テーブルにより補正された値である。
Further, the distance L 1 used for measuring the plate thickness L in this embodiment is a value corrected by the linearity correction table created for each optical displacement meter 18 at the time of calibration.

次に、この直線性補正テーブルの作成に関連する校正
の動作について説明する。
Next, a calibration operation related to the creation of this linearity correction table will be described.

光変位計18は、例えば環境的要因による特性変化、経
時変化等を伴う装置である。第11図には、実線で初期特
性が、破線で変化後の特性が、それぞれ示されている。
このような特性変化は、測定時における誤差となって現
れることになる。このため、本実施例では、校正として
直線性校正を行うこととしている。
The optical displacement meter 18 is a device that is accompanied by characteristic changes due to environmental factors, changes over time, and the like. In FIG. 11, the solid line shows the initial characteristics, and the broken line shows the changed characteristics.
Such characteristic changes will appear as an error during measurement. Therefore, in the present embodiment, linearity calibration is performed as the calibration.

また、架台14が温度、湿度、経年変化等により歪んで
いる場合、この歪みは上下の光変位計18の距離、すなわ
ち、基準距離を変化させる。この変化は、測定値の誤差
となって現れる。このため、本実施例では架台校正を実
施する。
When the gantry 14 is distorted due to temperature, humidity, aging, etc., this distortion changes the distance between the upper and lower optical displacement meters 18, that is, the reference distance. This change appears as an error in the measured value. Therefore, in this embodiment, the gantry calibration is performed.

直線性校正は、架台校正に先立って実施される。すな
わち、直線性校正が実施された後の光変位計18について
架台校正が施される。
Linearity calibration is performed prior to gantry calibration. That is, the gantry calibration is performed on the optical displacement meter 18 after the linearity calibration is performed.

まず、直線性補正の際には、校正板28がロータリソレ
ノイド30により回動される。この回動の結果、その先端
は対向する光変位計18の間の位置に配置される。
First, when correcting the linearity, the calibration plate 28 is rotated by the rotary solenoid 30. As a result of this rotation, the tip is placed at a position between the optical displacement meters 18 facing each other.

校正板28は、板厚が既知で白色セラミック板から形成
されており、配置の後にロータリソレノイド30により水
平方向に振動させられる。この振動は、振幅±3mm程度
の振動であり、校正板28の面性状の影響を排除するため
に施される。
The calibration plate 28 is formed of a white ceramic plate having a known plate thickness, and is oscillated in the horizontal direction by the rotary solenoid 30 after the placement. This vibration is a vibration with an amplitude of about ± 3 mm, and is applied to eliminate the influence of the surface properties of the calibration plate 28.

この状態で、光変位計18は、上下方向に所定ピッチで
移動させられる。すなわち、演算制御部34によりパルス
ステージ22が制御され、上側の光変位計18の上下位置が
所定ピッチ、例えば1mmで変化する。この変化毎に、光
変位計18からの出力が得られる。この出力は、光変位計
18と校正板28との距離を示すものである。各ピッチ毎に
例えば16回の測定が行われ、その平均値を距離データと
する。さらに光変位計18の上下方向移動は所定ピッチ
数、例えば±20mmに相当するピッチ数だけ実行される。
In this state, the optical displacement meter 18 is moved vertically with a predetermined pitch. That is, the pulse stage 22 is controlled by the arithmetic control unit 34, and the vertical position of the upper optical displacement meter 18 changes at a predetermined pitch, for example, 1 mm. An output from the optical displacement meter 18 is obtained for each change. This output is an optical displacement meter
It shows the distance between 18 and the calibration plate 28. For example, the measurement is performed 16 times for each pitch, and the average value is used as the distance data. Further, the vertical displacement of the optical displacement meter 18 is executed by a predetermined pitch number, for example, a pitch number corresponding to ± 20 mm.

このようにして得られた光変位計18出力の平均(以
下、単に光変位計18出力という)は、光変位計18の期待
される上下位置と対応付けられる。すなわち、光変位計
18出力は期待される上下位置と対応付けられる直線性補
正テーブルとしてメモリ36に格納される。
The average of the outputs of the optical displacement meter 18 thus obtained (hereinafter, simply referred to as the output of the optical displacement meter 18) is associated with the expected vertical position of the optical displacement meter 18. That is, the optical displacement meter
The 18 outputs are stored in the memory 36 as a linearity correction table associated with the expected vertical position.

第8図には、直線性補正テーブルの一例が示されてい
る。
FIG. 8 shows an example of the linearity correction table.

この図に示されるように、直線性補正テーブルは、演
算制御部34によるパルスステージ22の制御量(指令値)
L3Siと、実際の光変位計18出力L3Aiと、を対応付けてい
る。指令値L3Siは、光変位計18の初期特性に基づき発せ
られる値であり、光変位計18が特性変化していないなら
ば得られるであろう上下位置、すなわち理想値である。
従って、直線性補正テーブルは、光変位計18の特性に関
して理想値と実際値とを対応付けるものである。
As shown in this figure, the linearity correction table is a control amount (command value) of the pulse stage 22 by the arithmetic control unit 34.
The L 3 Si is associated with the actual optical displacement meter 18 output L 3Ai . The command value L 3Si is a value that is issued based on the initial characteristics of the optical displacement meter 18, and is the vertical position that would be obtained if the characteristics of the optical displacement meter 18 were not changed, that is, an ideal value.
Therefore, the linearity correction table associates the ideal value and the actual value with respect to the characteristics of the optical displacement meter 18.

このような直線性補正テーブルは、光変位計18の特性
変化に対応する趣旨から、上側の光変位計18それぞれに
ついて作成される。
Such a linearity correction table is created for each of the upper optical displacement meters 18 in order to respond to changes in the characteristics of the optical displacement meters 18.

このようにして、直線性校正が実施された後に、架台
校正が実施される。この架台校正においては、上下の光
変位計18と校正板28が一体に水平移動させられる。
In this way, the gantry calibration is performed after the linearity calibration is performed. In this gantry calibration, the upper and lower optical displacement meters 18 and the calibration plate 28 are horizontally moved integrally.

すなわち、第9図に示されるように、3個の光変位計
18の可動範囲は100−1、100−2及び100−3のような
範囲(例えば40mm程度)をとり、搬送ライン12の全幅11
0をカバーしている。光変位計18及び校正板28は、それ
ぞれの可動範囲100内において所定間隔で一体移動さ
れ、各光変位計18について校正テーブルが作成される。
That is, as shown in FIG. 9, three optical displacement meters
The movable range of 18 is a range such as 100-1, 100-2 and 100-3 (for example, about 40 mm), and the entire width of the transfer line 12 is 11
It covers 0. The optical displacement meter 18 and the calibration plate 28 are integrally moved at a predetermined interval within each movable range 100, and a calibration table is created for each optical displacement meter 18.

第10図には、校正テーブルの一例が示されている。 FIG. 10 shows an example of the calibration table.

この図に示されるように、校正テーブルは、光変位計
の左右位置xAiと、各左右位置xAiにおける実際の基準距
離L0Aiと、を対応付けるテーブルである。
As shown in this figure, the calibration table is a table that associates the left-right position x Ai of the optical displacement meter with the actual reference distance L 0Ai at each left-right position x Ai .

架台校正においては、直線性校正の際と同様、校正板
28が回動されかつ水平振動されている。この状態での光
変位計18の出力は、光変位計18と校正板28との距離を示
している。
In the frame calibration, the calibration plate is used as in the linearity calibration.
28 is rotated and horizontally vibrated. The output of the optical displacement meter 18 in this state indicates the distance between the optical displacement meter 18 and the calibration plate 28.

ここで、校正板28の板厚をl0、上側及び下側の光変位
計18から校正板28までの距離(すなわち上下の光変位計
18の各出力)をそれぞれl1及びl2とする。この場合、第
3図に示されるように、基準距離L0について、次の式 L0=l1+l2+l0 が成立する。従って、演算制御部34が上式に基づく演算
を実行することにより、実際の基準距離L0が求められる
ことになる。また、このような演算を所定回数、例えば
16回繰り返し平均を求め、この平均値を基準距離L0とし
て扱えば、さらに基準距離L0の正確さは向上する。
Here, the plate thickness of the calibration plate 28 is l 0 , the distance from the upper and lower optical displacement meters 18 to the calibration plate 28 (that is, the upper and lower optical displacement meters).
18 outputs) are designated as l 1 and l 2 , respectively. In this case, as shown in FIG. 3, the following formula L 0 = l 1 + l 2 + l 0 holds for the reference distance L 0 . Therefore, the calculation control unit 34 by executing a calculation based on the above equation, so that the actual reference distance L 0 is obtained. Moreover, such calculation is performed a predetermined number of times
The accuracy of the reference distance L 0 is further improved by calculating the average 16 times and treating this average value as the reference distance L 0 .

この基準距離L0は、上側の光変位計18を所定間隔で左
右に移動させることにより、N個のデータL0Aiとして得
られる。なお、この左右移動は、演算制御部34の制御に
基づきリニアモータ32により行われる。
The reference distance L 0 is obtained as N pieces of data L 0Ai by moving the upper optical displacement meter 18 left and right at a predetermined interval. The horizontal movement is performed by the linear motor 32 under the control of the arithmetic control unit 34.

このようにして得られた基準距離L0Aiが、光変位計18
の左右位置と対応付けられると、第10図に示されるよう
な校正テーブルが作成される。校正テーブルは、各光変
位計18の対ごとに作成される。
The reference distance L 0Ai thus obtained is the optical displacement meter 18
When associated with the left and right positions of, a calibration table as shown in FIG. 10 is created. The calibration table is created for each pair of optical displacement meters 18.

以上のようにして作成された直線性補正テーブル及び
校正テーブルは、メモリ36に格納される。
The linearity correction table and the calibration table created as described above are stored in the memory 36.

測定時には、これら直線性補正テーブル及び校正テー
ブルが参照される。
At the time of measurement, these linearity correction table and calibration table are referred to.

すなわち、被測定体10の板厚を求める際、演算制御部
34は、パルスステージ22への指令値に基づき直線性テー
ブル中のデータを読み出す。この読み出しにより得られ
るデータは、例えば第9図でいえばL3Aiである。従っ
て、このデータと指令値との差を求めれば、現在の光変
位計18の出力に含まれる特性変化に起因する誤差が求め
られる。この誤差を変位計18出力から減じてやれば、光
変位計18の特性変化に起因する誤差の影響が排除され
る。
That is, when determining the plate thickness of the object to be measured 10, the calculation control unit
34 reads the data in the linearity table based on the command value to the pulse stage 22. The data obtained by this reading is, for example, L 3Ai in FIG. Therefore, if the difference between this data and the command value is obtained, the error due to the characteristic change contained in the current output of the optical displacement meter 18 can be obtained. If this error is subtracted from the output of the displacement meter 18, the influence of the error due to the characteristic change of the optical displacement meter 18 is eliminated.

また、板厚演算時に用いられる基準距離をL0補正すべ
く、演算制御部34は、光変位計18の左右位置に基づきメ
モリ36から校正テーブルに係るデータを読み出す。読み
出されるデータは、その左右位置に係る基準距離L0であ
る。この基準距離L0は、前述のように架台歪みを反映し
た値であるため、この基準距離L0を用いて板厚演算すれ
ば、架台14が歪んでいる場合における誤差発生が防止さ
れる。
Further, in order to correct the reference distance used in the plate thickness calculation by L 0 , the calculation control unit 34 reads the data related to the calibration table from the memory 36 based on the lateral position of the optical displacement meter 18. The read data is the reference distance L 0 related to the left and right positions. Since the reference distance L 0 is a value that reflects the pedestal distortion as described above, the plate thickness calculation using this reference distance L 0 prevents the occurrence of an error when the gantry 14 is distorted.

このように、本実施例によれば、校正板28により簡易
な手段で電気的補正及び機械的補正を一括して実施する
ことができる。さらに、直線性補正テーブル及び校正テ
ーブルにより補正を行うことができ、より正確に板厚L
を演算して正確性及び信頼性を確保することが可能にな
る。
As described above, according to the present embodiment, the calibration plate 28 can collectively perform the electrical correction and the mechanical correction by a simple means. Further, the linearity correction table and the calibration table can be used for correction, and the plate thickness L
Can be calculated to ensure accuracy and reliability.

また、光変位計18と被測定体10との距離を測定点近傍
の空間平均として求められ、この結果、複数の被測定体
10間の面性状のばらつきや、同一被測定体10における面
性状のばらつきがある場合にも、この面性状の影響を補
正してより正確な板厚Lの測定を行うことができる。
Further, the distance between the optical displacement meter 18 and the measured object 10 is obtained as a spatial average in the vicinity of the measurement point, and as a result, a plurality of measured objects are measured.
Even if there is a variation in the surface texture between 10 and a variation in the surface texture in the same measured object 10, it is possible to correct the influence of this surface texture and measure the plate thickness L more accurately.

さらに、パルスステージ22を測定時と直線性校正時と
で共用することができ、校正に係る構成を小型かつ安価
な装置で実現できる。
Further, the pulse stage 22 can be shared between the measurement and the linearity calibration, and the configuration related to the calibration can be realized by a small and inexpensive device.

なお、以上の説明ではパルスステージ22が上側のみに
設けられていたが、下側にも設けても良い。この場合、
上、下の光変位計18について直線性補正テーブルが作成
され、より精密な測定が可能になる。
Although the pulse stage 22 is provided only on the upper side in the above description, it may be provided on the lower side. in this case,
A linearity correction table is created for the upper and lower optical displacement meters 18 to enable more precise measurement.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、直線性補正テ
ーブルを作成し、この直線性補正テーブルにより光変位
計出力を補正するようにしたため、より正確な板厚測定
が可能になる。また、上下位置制御手段を測定・校正兼
用としたため、かかる効果を安価小型な装置で得ること
ができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, since the linearity correction table is created and the output of the optical displacement meter is corrected by this linearity correction table, more accurate plate thickness measurement is possible. become. Moreover, since the vertical position control means is used for both measurement and calibration, such an effect can be obtained with an inexpensive and compact device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例に係る自動板厚測定装置の実
体構成を示す概略外観図であり、第1図(a)は上面
図、第1図(b)は側面図、 第2図はこの実施例のより詳細な実体構成を示す正面
図、 第3図はこの実施例の校正手段の構成を示す概略図であ
り、第3図(a)は正面図、第3図(b)は側面図、 第4図はこの実施例の回路構成を示すブロック図、 第5図は光変位計から発せられる光ビームの軌跡を示す
図、 第6図は板厚測定位置を示す図、 第7図は板厚測定原理を示す図、 第8図は直線性補正テーブルを示す図、 第9図は光変位計の移動範囲を示す図、 第10図は校正テーブルを示す図、 第11図は光変位計の特性を示す図である。 10……被測定体 12……搬送ライン 18……光変位計 28……校正板 30……ロータリソレノイド 32……リニアモータ 34……演算制御部
FIG. 1 is a schematic external view showing the actual configuration of an automatic plate thickness measuring device according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 (a) is a top view, FIG. 1 (b) is a side view, and FIG. FIG. 3 is a front view showing a more detailed substance structure of this embodiment, FIG. 3 is a schematic view showing the structure of the calibration means of this embodiment, and FIG. 3 (a) is a front view and FIG. 3 (b). ) Is a side view, FIG. 4 is a block diagram showing a circuit configuration of this embodiment, FIG. 5 is a diagram showing a trajectory of a light beam emitted from an optical displacement meter, FIG. 6 is a diagram showing a plate thickness measurement position, FIG. 7 is a diagram showing a plate thickness measuring principle, FIG. 8 is a diagram showing a linearity correction table, FIG. 9 is a diagram showing a moving range of an optical displacement meter, FIG. 10 is a diagram showing a calibration table, and FIG. The figure shows the characteristics of the optical displacement meter. 10: Object to be measured 12: Transport line 18: Optical displacement meter 28: Calibration plate 30: Rotary solenoid 32: Linear motor 34: Arithmetic control unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内藤 修治 福岡県北九州市戸畑区飛幡町1番1号 新日本製鐵株式會社八幡製鐵所内 (72)発明者 藤川 寿生 福岡県北九州市戸畑区飛幡町1番1号 新日本製鐵株式會社八幡製鐵所内 (72)発明者 小口 英樹 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日 本無線株式会社内 (72)発明者 浅川 一彦 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日 本無線株式会社内 (72)発明者 糸原 浩一 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日 本無線株式会社内 (72)発明者 村上 文夫 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日 本無線株式会社内 (72)発明者 上原 英記 東京都三鷹市下連雀5丁目1番1号 日 本無線株式会社内 (56)参考文献 特開 平1−221605(JP,A) 特開 平4−116407(JP,A) 特開 平4−116408(JP,A) 特開 平3−51706(JP,A) 実開 昭59−41711(JP,U) 実開 昭57−16905(JP,U) 特公 平7−76687(JP,B2) 特公 平7−76688(JP,B2) 特公 平6−82046(JP,B2) 特公 平6−82047(JP,B2) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Shuji Naito 1-1 Tobahata-cho, Tobata-ku, Kitakyushu, Fukuoka Prefecture Inside the Yawata Works (72), Nippon Steel Co., Ltd. No. 1-1 Machi Nippon Steel Co., Ltd. Hachiman Works (72) Inventor Hideki Oguchi 5-1-1 Shimorenjaku, Mitaka City, Tokyo Nihon Radio Co., Ltd. (72) Inventor Kazuhiko Asakawa Mitaka City, Tokyo Shimorenjaku 5-1-1, Nihon Radio Co., Ltd. (72) Koichi Itohara 5-1-1 Shimorenjaku, Mitaka-shi, Tokyo Nihon Radio Co., Ltd. (72) Inventor Fumio Murakami 5 Shimorenjaku, Mitaka-shi, Tokyo (1-1) Nihon Radio Co., Ltd. (72) Inventor Hideki Uehara 5-1-1, Shimorenjaku, Mitaka City, Tokyo Nihon Radio Co., Ltd. (56) References 1-2221605 (JP, A) JP-A-4-116407 (JP, A) JP-A-4-116408 (JP, A) JP-A-3-51706 (JP, A) Actual Development Sho 59-41711 (JP, U) Showa 57-16905 (JP, U) Japanese Patent Publication 7-76687 (JP, B2) Japanese Patent Publication 7-76688 (JP, B2) Japanese Publication 6-82046 (JP, B2) Japanese Publication 6 -82047 (JP, B2)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】被測定体を搬送する搬送ラインの上方及び
下方の架台上に対をなしかつ所定の基準距離を隔てて配
置され、光ビームを被測定体に照射して反射光に基づき
被測定体との距離を求める複数対の光変位計と、 先端がL字状の屈曲を有し、被測定体の板厚測定時には
先端が光変位計の測定域外に配置される所定板厚の校正
板と、 校正時に、光変位計から発せられる光ビームを遮る所定
位置に先端が位置するよう校正板を回動させる回動手段
と、 測定時には、被測定体の板厚規格に応じて定められる位
置となるよう光変位計の上下位置を制御し、直線性校正
時には、光変位計を上下方向に所定ピッチで移動させる
上下位置制御手段と、 測定時に被測定体上の所定軌跡を描くよう光変位計の左
右位置を制御する左右位置制御手段と、 直線性校正時における光変位計の出力を光変位計の期待
される上下位置に対応付ける直線性補正テーブルを作成
する直線性補正手段と、 直線性補正テーブルを参照して光変位計と被測定体との
距離を補正し、光変位計の上下方向移動量、補正された
距離及び基準距離に基づき被測定体の板厚を演算し平均
する板厚演算手段と、 を備えることを特徴とする自動板厚測定装置。
1. A pair of units are arranged on a pedestal above and below a conveyance line for conveying an object to be measured, and are arranged at a predetermined reference distance. A plurality of pairs of optical displacement gages for obtaining the distance to the measurement object, and a tip with an L-shaped bend, of which the tip is placed outside the measurement range of the optical displacement gage when measuring the thickness of the object to be measured. Calibration plate, rotation means for rotating the calibration plate so that the tip is located at a predetermined position that blocks the light beam emitted from the optical displacement meter during calibration, and during measurement, set according to the plate thickness standard of the DUT. The vertical position of the optical displacement meter is controlled so that it can be moved to a desired position, and during linearity calibration, the vertical position control means that moves the optical displacement meter in the vertical direction at a specified pitch, and draws a specified trajectory on the measured object during measurement. Left and right position control means for controlling the left and right position of the optical displacement meter, Linearity correction means for creating a linearity correction table that associates the output of the optical displacement meter with the expected vertical position of the optical displacement meter at the time of calibration, and the optical displacement meter and the object to be measured by referring to the linearity correction table. And a plate thickness calculating means for calculating the average of the plate thickness of the object to be measured based on the vertical displacement of the optical displacement meter, the corrected distance and the reference distance, and an automatic plate characterized by the following: Thickness measuring device.
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