JPH04116411A - Automatic plate-thickness measuring apparatus - Google Patents

Automatic plate-thickness measuring apparatus

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JPH04116411A
JPH04116411A JP23815190A JP23815190A JPH04116411A JP H04116411 A JPH04116411 A JP H04116411A JP 23815190 A JP23815190 A JP 23815190A JP 23815190 A JP23815190 A JP 23815190A JP H04116411 A JPH04116411 A JP H04116411A
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displacement meter
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measured
distance
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Masaharu Ono
大野 政春
Koichi Takemura
竹村 興一
Shuji Naito
修治 内藤
Hisao Fujikawa
寿生 藤川
Hideki Oguchi
小口 英樹
Kazuhiko Asakawa
浅川 一彦
Koichi Itohara
糸原 浩一
Fumio Murakami
文夫 村上
Hideki Uehara
上原 英記
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Japan Radio Co Ltd
Nippon Steel Corp
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Japan Radio Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To compensate for the characteristics of optical displacement gages in calibration with out making an apparatus large and expensive and to make it possible to measure the thickness of a plate accurately by correcting the distance between each optical displacement gage and a body under measurement in reference to a linearity correcting table. CONSTITUTION:For example, when linearity is corrected, a calibrating plate 28 is turned with a rotary solenoid 30. As a result, the tip of the calibrating plate 28 is arranged between facing optical displacement gages 18. After the arrangement, the calibrating plate 28 is oscillated in the horizontal direction with the rotary solenoid 30. The outputs are obtained from the optical displacement gages 18 at every change of the upper and lower positions. The outputs indicate the distances between the optical displacement gages 18 and the calibrating plate 28. For example, 16 measurements are performed at every pitch, and the average value is made to be the distance datum. The average of the outputs of the optical displacement gages 18 obtained in this way is made to correspond to the expected upper and lower positions of the optical displacement gages 18. Namely, the outputs of the optical displacement gages 18 are stored in a memory 36 as a linearity correcting table. Then, the distance between each optical displacement gage 18 and a body under measurement is corrected in reference to the linearity correcting table, and the thickness of the plate is measured.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、搬送ラインにより搬送される被測定体の板厚
を光ビームの反射により非接触で自動測定する自動板厚
測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an automatic plate thickness measuring device that automatically measures the plate thickness of an object to be measured conveyed by a conveyance line in a non-contact manner by reflecting a light beam.

[従来の技術] 従来から、搬送ラインにより搬送される被測定体の板厚
を光変位計により自動計測する自動板厚測定装置が知ら
れている。
[Prior Art] Conventionally, automatic plate thickness measuring devices have been known that automatically measure the plate thickness of a measured object transported by a transport line using an optical displacement meter.

従来において用いられていた装置は、いわゆるC型フレ
ームを用いた1点計測の装置であり、被測定体としては
幅が一定のもの、すなわち固定幅の被測定体を測定する
ものである。
The conventionally used apparatus is a one-point measurement apparatus using a so-called C-shaped frame, and is used to measure an object having a constant width, that is, a fixed width object.

この装置においては、搬送ラインの上下に光変位計が配
置される。この光変位計によってレーザ光である光ビー
ムが被測定体に照射され、被測定体の板厚が測定される
。このような装置により、従来、鋼板等の被測定体の板
厚を自動測定することか行われていた。
In this device, optical displacement gauges are placed above and below the conveyance line. This optical displacement meter irradiates the object to be measured with a light beam, which is a laser beam, and measures the thickness of the object. Conventionally, such devices have been used to automatically measure the thickness of objects to be measured, such as steel plates.

ところで一般に、自動板厚測定装置の精度を確保するた
めには校正か必要となる。校正は装置を使用する都度行
われ、装置運用の上で必須の作業である。より具体的に
は、光変位計の経年変化等こよる誤差を補正(電気的補
1E)シ、また、機械的歪を補正(機械的補正)して、
信頼性を維持し、正確な板厚71111定を期するもの
である。
By the way, in general, calibration is required to ensure the accuracy of an automatic plate thickness measuring device. Calibration is performed each time the device is used, and is an essential task for device operation. More specifically, it corrects errors caused by aging of the optical displacement meter (electrical correction 1E), and corrects mechanical distortion (mechanical correction).
This is to maintain reliability and ensure accurate plate thickness 71111.

[発明が解決しようとする課題] しかしなから、従来においては、光変位計の特性変化等
により板厚測定に誤差が生じるという問題点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the past, there was a problem in that errors occurred in plate thickness measurements due to changes in characteristics of the optical displacement meter.

すなわち、光変位計の検出特性は、環境的要因、例えば
温度、湿度等や、経年変化等によって同様の要因により
変化する。例えば第11図に示されるように、実線の初
期特性から破線の特性に変化する。この変化は板厚測定
の誤差発生原因となる。
That is, the detection characteristics of the optical displacement meter change due to environmental factors such as temperature, humidity, and similar factors such as changes over time. For example, as shown in FIG. 11, the initial characteristics shown by the solid line change to the characteristics shown by the broken line. This change causes errors in plate thickness measurements.

このような誤差発生原因を除去すべく、いくつかの提案
がなされている。
Several proposals have been made to eliminate such causes of error occurrence.

例えば、特公平1−31.3705号公報には、変位計
本体ケース及び支持金具に発生する温度歪みを補償する
構成、すなわち線熱膨張係数補償部利を本体ケースと支
持金具の間又は支持金具途中に挿入する方法が示されて
いる。
For example, Japanese Patent Publication No. 1-31.3705 discloses a configuration for compensating for temperature distortion occurring in the displacement meter main body case and supporting metal fittings. It shows how to insert it in the middle.

しかし、このような従来提案では、装置構成が大型化し
、構造か複雑になるため装置か高価格化するという問題
点か生してしまう。
However, in such conventional proposals, the device configuration becomes large and the structure becomes complicated, resulting in a problem that the device becomes expensive.

本発明は、このような問題点を解決することを課題とし
てなされたものであり、装置を大型化させあるいは高価
格化させることなく、校正時に光変位計の特性変化を補
償してより正確な板厚測定を実施可能とすることを目的
とする。
The present invention was made with the aim of solving these problems, and it is possible to compensate for changes in the characteristics of an optical displacement meter during calibration to make it more accurate without making the device larger or more expensive. The purpose is to make it possible to measure plate thickness.

[課題を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明は、被測定体
を搬送する搬送ラインの上方及び下方の架台上に対をな
しかつ所定の基準距離を隔てて配置され、光ビームを被
測定体に照射して反射光に基つき被測定体との距離を求
める複数対の光変位計と、先端かL字状の屈曲を有し、
被測定体の板厚測定時には先端が光変位計の測定域外に
配置される所定板厚の校正板と、校正時に、光変位計か
ら発せられる光ビームを遮る所定位置に先端が位置する
よう校正板を回動させる回動手段と、測定時には、被測
定体の板厚規格に応じて定められる位置となるよう光変
位計の」1下位置を制御し、直線性校正時には、光変位
計を上下方向に所定ピッチで移動させる上下位置制御手
段と、測定時に被ff1ll定休」二の所定軌跡を描く
よう光変位計の左右位置を制御する左右位置制御手段と
、直線性校正時における光変位計の出力を光変位計の期
待される」1下位置に対応付ける直線性補正テーブルを
作成する直線性補正手段と、直線性補正テーブルを参照
して光変位計ど被測定体との距離を補正し、光変位計の
上下方向移動量、補正された距離及び基準距離に基づき
被測定体の板厚を演算し平均する板厚演算手段と、を備
えることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve such an object, the present invention provides a pair of mounts arranged on the upper and lower mounts of the conveyance line for conveying the object to be measured and separated by a predetermined reference distance. A plurality of pairs of optical displacement meters are arranged, and have a plurality of pairs of optical displacement meters that irradiate the object to be measured with a light beam and determine the distance to the object based on the reflected light, and an L-shaped bend at the tip,
A calibration plate with a predetermined thickness whose tip is placed outside the measurement area of the optical displacement meter when measuring the plate thickness of the object to be measured, and a calibration plate whose tip is positioned at a predetermined position that blocks the light beam emitted from the optical displacement meter during calibration. A rotating means for rotating the plate is used, and during measurement, the optical displacement meter is controlled to a lower position so that it is at a position determined according to the plate thickness standard of the object to be measured, and during linearity calibration, the optical displacement meter is vertical position control means for moving the optical displacement meter at a predetermined pitch in the vertical direction; horizontal position control means for controlling the left and right positions of the optical displacement meter so as to draw a predetermined trajectory during measurement; and the optical displacement meter for linearity calibration. linearity correction means for creating a linearity correction table that associates the output of the optical displacement meter with the expected 1-lower position of the optical displacement meter; , a plate thickness calculating means for calculating and averaging the plate thickness of the object to be measured based on the vertical movement amount of the optical displacement meter, the corrected distance, and the reference distance.

[作用] 本発明の自動板厚測定装置においては、光変位橿と被測
定体との距離、光変位計の上下方向移動量及び対向する
光変位計間の基準距離に基づき、被測定体の板厚か求め
られる。
[Function] In the automatic plate thickness measuring device of the present invention, the distance between the optical displacement rod and the object to be measured, the amount of vertical movement of the optical displacement meter, and the reference distance between the opposing optical displacement meters, is used to measure the thickness of the object to be measured. The board thickness is required.

これらのうぢ、光変位訓と被測定体との距離は直線性補
正テーブルによる補正を受ける。
These distances between the optical displacement angle and the object to be measured are corrected using a linearity correction table.

例えば、光変位計の特性か初期特性から変化している場
合、この変化を補償してやらないと板厚測定値に誤差が
生じてしまう。このため、本発明では直線性補正を実施
する。直線性補正は、」ニド方向に所定ピッチで移動さ
せつつ行われ、この校正においては光変位計の出力が光
変位計の期待される上下位置に対応付けられる。
For example, if the characteristics of the optical displacement meter have changed from the initial characteristics, errors will occur in the plate thickness measurement values unless this change is compensated for. Therefore, in the present invention, linearity correction is performed. The linearity correction is performed while moving the optical displacement meter at a predetermined pitch in the direction, and in this calibration, the output of the optical displacement meter is associated with the expected vertical position of the optical displacement meter.

このときの光変位計の出力は、光変位計と校正板との距
離を示している。すなわち、校正時には校正板か光ビー
ムを遮る位置に回動され、この校止板から反射光が得ら
れる。また、期待される上下位置は、例えば光変位計の
初期特性に基づき位置制御により得られる上下位置であ
る。
The output of the optical displacement meter at this time indicates the distance between the optical displacement meter and the calibration plate. That is, during calibration, the calibration plate is rotated to a position that blocks the light beam, and reflected light is obtained from this calibration plate. Further, the expected vertical position is, for example, a vertical position obtained by position control based on the initial characteristics of the optical displacement meter.

光変位計の出力と上下位置との対応付けを示すテーブル
を、直線性補正テーブルと呼ぶことにする。この直線性
補正テーブルは、測定時における光変位計の出力、すな
わち光変位計と被i’1l11定休との距離の補正に用
いられる。これにより、測定時における光変位計の上下
方向位置に応じて前述の特性変化により発生する誤差が
、補償されることになる。
The table showing the correspondence between the output of the optical displacement meter and the vertical position will be referred to as a linearity correction table. This linearity correction table is used to correct the output of the optical displacement meter during measurement, that is, the distance between the optical displacement meter and the i'1l11 regular holiday. This compensates for the error caused by the above-mentioned change in characteristics depending on the vertical position of the optical displacement meter during measurement.

さらに、本発明においては、上下位置制御手段か測定時
と校正時で共用される。このため、本発明においては、
従来に比べ装置構成を大型化ひいては高価格化すること
無く、測定の正確性が向上する。
Furthermore, in the present invention, the vertical position control means is shared during measurement and calibration. Therefore, in the present invention,
The accuracy of measurement is improved without increasing the size and cost of the device compared to conventional methods.

[実施例] 以下、本発明の好適な実施例について図面に基づき説明
する。
[Examples] Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described based on the drawings.

第1図には、本発明の一実施例に係る自動板厚測定装置
の実体構成が示されている。特に、第1図(a)におい
ては装置を上方から見た外観が、第1図(b)において
は側面から見た外観が、それぞれ示されている。
FIG. 1 shows the actual configuration of an automatic plate thickness measuring device according to an embodiment of the present invention. In particular, FIG. 1(a) shows the external appearance of the device as seen from above, and FIG. 1(b) shows the external appearance of the device as seen from the side.

この図においては、図中矢印で示される方向に被測定体
10を搬送する搬送ライン12か示されている。この図
における被測定体10は、それぞれ板厚、幅等の異なる
鋼板であり、図には101.10−2.10−3の3個
が示されている。
This figure shows a conveyance line 12 that conveys the object to be measured 10 in the direction indicated by the arrow in the figure. The objects 10 to be measured in this figure are steel plates having different thicknesses, widths, etc., and three objects 101.10-2.10-3 are shown in the figure.

この実施例において板厚測定の対象とする測定体10は
、例えば板厚4〜60mm、幅800〜4000mm、
長さ1500〜14000mmの規格のものであり、搬
送ライン12の上の任意の位置に任意の姿勢で配置され
る。
In this embodiment, the measuring object 10 to be measured has a thickness of 4 to 60 mm, a width of 800 to 4000 mm,
It has a standard length of 1,500 to 14,000 mm, and is placed at any position on the conveyance line 12 in any orientation.

また、搬送ライン12を跨くように、上下一対の凹型架
台14が設けられている。凹型架台14の搬送ライン1
2上流側にはラインセンサ16が、下流側には光変位計
18か、それぞれ配設されている。
Further, a pair of upper and lower concave pedestals 14 are provided so as to straddle the transport line 12 . Conveyance line 1 of concave pedestal 14
A line sensor 16 and an optical displacement meter 18 are provided on the upstream side and the optical displacement meter 18, respectively.

ラインセンサ16は、1対となるよう上下双方の凹型架
台14に設けられており、被測定体10の先端の左右両
端位置を検出する。検出される左右両端位置は、光変位
計18の位置の初期設定に用いられる。
A pair of line sensors 16 are provided on both the upper and lower concave mounts 14, and detect the positions of both left and right ends of the tip of the object 10 to be measured. The detected left and right end positions are used for initial setting of the position of the optical displacement meter 18.

また、光変位計18は3対が門型架台14に移動自在に
設けられている。この光変位計18は被mす定休10の
板厚をfl11定する装置である。すなわち、光変位計
18は被測定体10に光ビームを照射し、その反射光を
取り込む。さらに、取り込んた反射光に基づき被測定体
10までの距離を求め、後述の原理による板厚演算に供
する。
Further, three pairs of optical displacement meters 18 are movably provided on the gate-shaped mount 14. This optical displacement meter 18 is a device that determines the plate thickness fl11 of the regular holiday 10 to be covered. That is, the optical displacement meter 18 irradiates the measured object 10 with a light beam and captures the reflected light. Further, the distance to the object to be measured 10 is determined based on the captured reflected light, and the distance is used to calculate the plate thickness based on the principle described later.

第2図には、この実施例のより詳細な実体構成が正面図
として示されている。
FIG. 2 shows a more detailed actual configuration of this embodiment as a front view.

この図においては、上下2個のリニアモータレール20
が示されている。リニアモータレール20は、6個の光
変位計18をそれぞれ左右方向に駆動するりニアモータ
のレールである。
In this figure, there are two linear motor rails 20, upper and lower.
It is shown. The linear motor rail 20 is a linear motor rail that drives each of the six optical displacement meters 18 in the left and right directions.

また、光変位計18のうち上側の3個は、パルスステー
ジ22に取り付けられている。すなわち、この3個の光
変位計18はパルスステージ22によって上下方向に駆
動され1、測定時には非測定体10の板厚規格に応じて
パルスステージ22の制御により上下位置が所定位置に
、例えば被測定体10表面から133mmに設定される
。なお、パルスステージ22を上側のみに設けるのは、
被測定体10の下面が搬送ライン12のローラで支持さ
れていることによる。
Further, the upper three of the optical displacement meters 18 are attached to the pulse stage 22. That is, these three optical displacement meters 18 are driven in the vertical direction by a pulse stage 22 1, and during measurement, the vertical positions are moved to predetermined positions by the control of the pulse stage 22 according to the plate thickness standard of the non-measuring object 10, for example, The distance is set to 133 mm from the surface of the measurement object 10. Note that providing the pulse stage 22 only on the upper side is because
This is because the lower surface of the object to be measured 10 is supported by the rollers of the conveyance line 12.

さらに、3対の光変位計18のうち左右両側の2対には
、第1及び第2エツジセンサ24及び26が付設されて
いる。第1エツジセンサ24は、ラインセンサ16の出
力に応じて初期設定された光変位計18の位置を、さら
に微調整するために用いられる。第2エツジセンサ26
は、被測定体10の側端を追従検出するために用いられ
る。
Furthermore, first and second edge sensors 24 and 26 are attached to two pairs on the left and right sides of the three pairs of optical displacement meters 18. The first edge sensor 24 is used to further finely adjust the position of the optical displacement meter 18, which is initially set according to the output of the line sensor 16. Second edge sensor 26
is used to follow and detect the side edge of the object to be measured 10.

第3図には、この実施例における光変位計18の校正に
係る装置構成が示されている。特に、第3図(a)には
一対の光変位計1゜8の正面が、第3図(b)には側面
が、それぞれ示されている。
FIG. 3 shows a device configuration related to the calibration of the optical displacement meter 18 in this embodiment. In particular, FIG. 3(a) shows the front of the pair of optical displacement meters 1.8, and FIG. 3(b) shows the side.

この図においては、通常の板厚測定時には破線のような
位置に、校正時には実線のような位置に、回動配置され
る校正板28が示されている。校正板28はL字状の屈
曲を有しており、先端の板厚は検定を受けた所定の厚み
に設定されている。校正板28の回動は、ロータリソレ
ノイド30により行われる。また、ロータリソレノイド
30は、校正板28は、図示しないモータ等によりを水
平方向に例えば±3mmの振幅で振動する。
In this figure, the calibration plate 28 is shown to be rotatably arranged at the position indicated by the broken line during normal plate thickness measurement and at the position indicated by the solid line during calibration. The calibration plate 28 has an L-shaped bend, and the plate thickness at the tip is set to a predetermined thickness that has been certified. The calibration plate 28 is rotated by a rotary solenoid 30. Further, in the rotary solenoid 30, the calibration plate 28 is vibrated in the horizontal direction with an amplitude of, for example, ±3 mm by a motor (not shown) or the like.

第4図には、この実施例の回路構成か示されている。FIG. 4 shows the circuit configuration of this embodiment.

この図においては、一方で光変位計18の出力に基づき
被測定体10の板厚を求め、他方でラインセンサ]6並
びに第1及び第2エツジセンサ24及び26の出力に基
づきリニアモータ32及びパルスステージ22を制御す
る演算制御部34が示されている。さらに、演算制御部
34はロタリソレノイド30をも制御する。加えて、こ
の図には、校正時に求められる基準距離及び本発明の特
徴に係る直線性補正テーブルを格納するメモリ36か示
されている。なお、光変位計18、ラインセンサ16、
第1エツジセンサ24、第2エツジセンザ26、リニア
モータ32、パルスステージ22及びロータリンレノイ
ド30は実際は複数であるか、この図においては図の簡
単化のため省略されている。
In this figure, on the one hand, the plate thickness of the object to be measured 10 is determined based on the output of the optical displacement meter 18, and on the other hand, the linear motor 32 and the pulse An arithmetic control unit 34 that controls the stage 22 is shown. Furthermore, the calculation control section 34 also controls the rotary solenoid 30. In addition, this figure also shows a memory 36 that stores a reference distance determined during calibration and a linearity correction table according to a feature of the present invention. In addition, the optical displacement meter 18, the line sensor 16,
The first edge sensor 24, the second edge sensor 26, the linear motor 32, the pulse stage 22, and the rotary lenoid 30 are actually plural, or are omitted in this figure for the sake of simplicity.

次に、この実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

この実施例においては、まず、搬送ライン12の上に被
測定体10が載置される。載置された被測定体10は、
搬送ライン]2によって搬送され、ラインセンサ16下
に到達する。
In this embodiment, first, the object to be measured 10 is placed on the transport line 12. The mounted object 10 is
2 and reaches below the line sensor 16.

すると、ラインセンサ16により、この被測定体]0に
よる遮光位置か検出される。すなわち、ラインセンサ]
6は、被測定体10により光線が遮られる部分を検出し
、これを被測定体10の左右両端位置として演算制御部
34に供給する。
Then, the line sensor 16 detects the light-blocking position due to the object to be measured]0. i.e. line sensor]
6 detects the portion where the light beam is blocked by the object to be measured 10 and supplies this to the calculation control section 34 as the left and right end positions of the object to be measured 10 .

演算制御部34は、ラインセンサ16の出力に基づきリ
ニアモータ32を駆動制御して、光変位計18の位置を
制御する。具体的には、左右両側各1対の光変位計18
を遮光位置として検出される被測定体10の左右両端位
置に移動させ、中央に配置されている1対の光変位計1
8を、左右の光変位計18の中央位置に維持する。これ
により、光変位計18の位置が初期設定される。
The calculation control unit 34 drives and controls the linear motor 32 based on the output of the line sensor 16 to control the position of the optical displacement meter 18 . Specifically, one pair of optical displacement meters 18 on both the left and right sides
A pair of optical displacement meters 1 located in the center are moved to both left and right end positions of the object to be measured 10, which are detected as light shielding positions.
8 is maintained at the center position of the left and right optical displacement meters 18. This initializes the position of the optical displacement meter 18.

こののち、被測定体]0かさらに搬送され第1エツジセ
ンサ24に達すると、この第1エツジセンザ24により
光変位計18の位置が微調節される。すなわち、第1エ
ツジセンサ24の出力に応じ、演算制御部34がリニア
モータ32を制御する。
Thereafter, the object to be measured [0] is further transported and reaches the first edge sensor 24, whereupon the position of the optical displacement meter 18 is finely adjusted by the first edge sensor 24. That is, the calculation control section 34 controls the linear motor 32 according to the output of the first edge sensor 24.

次に、第2エツジセンサ26により被測定体10の左右
両側が捕捉される。このとき、第2エツジセンサ26の
出力により演算制御部34がリニアモータ32を制御す
る。すなわち、第2エツジセンサ26が光変位計18に
固定されているため、この制御によって、第2エツジセ
ンサ26が被測定体10の左右両端を追従捕捉し続け、
かつ左右両側の光変位計18が被測定体10の左右両端
から所定の距離の軌跡を検出走査することとなる。
Next, the second edge sensor 26 captures both left and right sides of the object to be measured 10 . At this time, the calculation control section 34 controls the linear motor 32 based on the output of the second edge sensor 26. That is, since the second edge sensor 26 is fixed to the optical displacement meter 18, this control allows the second edge sensor 26 to continue tracking and capturing both the left and right ends of the object to be measured 10.
The optical displacement meters 18 on both the left and right sides detect and scan a locus at a predetermined distance from both the left and right ends of the object 10 to be measured.

第5図には、光変位計18の光ビーム軌跡が、第6図に
は、この軌跡のうち板厚演算に用いられ] 2 る点(測定位置)が示されている。
FIG. 5 shows the light beam trajectory of the optical displacement meter 18, and FIG. 6 shows the points (measurement positions) of this trajectory used for calculating the plate thickness.

この実施例においては、第5図において3本の矢印線で
示される軌跡に係る光変位計1−8の出力を連続して収
集する。この収集の後、演算制御部34が測定位置を決
定し、板厚を演算する。
In this embodiment, the outputs of the optical displacement meter 1-8 related to the trajectory indicated by the three arrow lines in FIG. 5 are continuously collected. After this collection, the calculation control unit 34 determines the measurement position and calculates the plate thickness.

より具体的には、演算制御部34は、被測定体lθの先
端かラインセンサコロに達してから第1エツジセンザ2
4に達するまでの時間により被測定体10の搬送速度を
求める。ラインセンサ16と第1エツジセンサ24の距
離は予め決定されるため、この搬送速度を用いて、時刻
を被測定体]0を基準とした位置座標に換算できる。こ
の換算結果に基づき、測定位置が決定される。
More specifically, the calculation control unit 34 controls the first edge sensor 2 after the tip of the object lθ reaches the line sensor roller.
The conveyance speed of the object to be measured 10 is determined from the time taken to reach the speed of 4. Since the distance between the line sensor 16 and the first edge sensor 24 is determined in advance, the time can be converted into position coordinates with reference to object to be measured 0 using this conveyance speed. Based on this conversion result, the measurement position is determined.

測定位置は、例えば被測定体10の左右両端から15m
mの線、前後両端から15mmの線及び中心線の合計6
本の線から決定する。すなわち、これらの線の交点を測
定位置P工〜P9に設定する。
The measurement position is, for example, 15 m from both left and right ends of the object to be measured 10.
m line, 15mm line from both front and back ends, and center line total 6
Determine from the line of the book. That is, the intersections of these lines are set at measurement positions P-P9.

次に、このように設定された測定位置P□ 〜P9につ
いて、すでに収集されている光変位計18出力に基づく
板厚演算が、演算制御部34により行われる。
Next, for the measurement positions P□ to P9 set in this way, the calculation control unit 34 performs plate thickness calculation based on the output of the optical displacement meter 18 that has already been collected.

第7図には、この実施例における板厚測定の原理が示さ
れている。
FIG. 7 shows the principle of plate thickness measurement in this embodiment.

この実施例においては、板厚測定時における対向する光
変位計18の距離と、前述の空間平均と、に基づき被測
定体10の板厚が求められる。
In this embodiment, the thickness of the object to be measured 10 is determined based on the distance between the opposing optical displacement meters 18 during the thickness measurement and the above-mentioned spatial average.

まず、被測定体10が無い状態での光変位計18の対向
距離、すなわち基準距離り。が設計的に決定されている
ものとする。また、板厚りの被測定体10の場合に光変
位計18の間隔を拡げる量、すなわち光変位計18の移
動量をL3とする。
First, the facing distance of the optical displacement meter 18 without the object to be measured 10, that is, the reference distance. is determined by design. Further, in the case of the measured object 10 having a thick plate, the amount by which the distance between the optical displacement meters 18 is increased, that is, the amount of movement of the optical displacement meters 18 is defined as L3.

すると、上側の光変位計18によって測定される距離L
□及び下側の光変位計18によって測定される距離L2
から、次の式により、板厚りが求められることになる。
Then, the distance L measured by the upper optical displacement meter 18
□ and the distance L2 measured by the lower optical displacement meter 18
Therefore, the plate thickness can be calculated using the following formula.

L=(Lo十L3)−(L1+L2) このように、本実施例においては、測定位置P1〜P9
に基づく板厚りの多点計測が実行される。
L=(Lo×L3)−(L1+L2) In this way, in this example, the measurement positions P1 to P9
Multi-point measurement of plate thickness is performed based on .

また、この実施例において板厚しの測定に用いられる距
離L□は、校正の際に各光変位計18毎に作成される直
線性補正テーブルにより補正された値である。
Further, in this embodiment, the distance L□ used for measuring the plate thickness is a value corrected by a linearity correction table created for each optical displacement meter 18 during calibration.

次に、この直線性補正テーブルの作成に関連する校正の
動作について説明する。
Next, the calibration operation related to the creation of this linearity correction table will be explained.

光変位計18は、例えば環境的要因による特性変化、経
時変化等を伴う装置である。第11図には、実線で初期
特性が、破線で変化後の特性が、それぞれ示されている
。このような特性変化は、aj定時における誤差となっ
て現れることになる。
The optical displacement meter 18 is a device whose characteristics change due to environmental factors, change over time, etc., for example. In FIG. 11, the solid line shows the initial characteristic, and the broken line shows the changed characteristic. Such a characteristic change appears as an error in aj regular timing.

このため、本実施例では、校正として直線性校正を行う
こととしている。
Therefore, in this embodiment, linearity calibration is performed as the calibration.

また、架台14が温度、湿度、経年変化等により歪んで
いる場合、この歪みは上下の光変位計18の距離、すな
わち、基準距離を変化させる。
Furthermore, if the pedestal 14 is distorted due to temperature, humidity, aging, etc., this distortion changes the distance between the upper and lower optical displacement meters 18, that is, the reference distance.

この変化は、測定値の誤差となって現れる。このため、
本実施例では架台校正を実施する。
This change appears as an error in the measured value. For this reason,
In this embodiment, frame calibration is performed.

直線性校正は、架台校正に先立って実施される。Linearity calibration is performed prior to gantry calibration.

すなわち、直線性校正が実施された後の光変位計18に
ついて架台校正が施される。
That is, the gantry calibration is performed on the optical displacement meter 18 after the linearity calibration has been performed.

まず、直線性補正の際には、校正板28がロータリンレ
ノイド30により回動される。この回動の結果、その先
端は対向する光変位計18の間の位置に配置される。
First, during linearity correction, the calibration plate 28 is rotated by the rotary lens 30. As a result of this rotation, the tip is placed at a position between the optical displacement meters 18 facing each other.

校正板28は、板厚が既知で白色セラミック板から形成
されており、配置の後にロータリソレノイド30により
水平方向に振動させられる。この振動は、振幅±3mm
程度の振動であり、校正板28の面性状の影響を排除す
るために施される。
The calibration plate 28 is made of a white ceramic plate with a known thickness, and is vibrated in the horizontal direction by a rotary solenoid 30 after placement. This vibration has an amplitude of ±3mm
This vibration is applied to eliminate the influence of the surface properties of the calibration plate 28.

この状態で、光変位計18は、上下方向に所定ピッチで
移動させられる。すなわち、演算制御部34によりパル
スステージ22が制御され、上側の光変位計18の上下
位置が所定ピッチ、例えば1mmで変化する。この変化
毎に、光変位計18からの出力が得られる。この出力は
、光変位計18と校正板28との距離を示すものである
。各ピッチ毎に例えば16回の測定が行われ、その平均
値を距離データとする。さらに光変位計18の上下方向
移動は所定ピッチ数、例えば±20mmに相当するピッ
チ数たけ実行される。
In this state, the optical displacement meter 18 is moved vertically at a predetermined pitch. That is, the pulse stage 22 is controlled by the calculation control unit 34, and the vertical position of the upper optical displacement meter 18 changes at a predetermined pitch, for example, 1 mm. An output from the optical displacement meter 18 is obtained for each change. This output indicates the distance between the optical displacement meter 18 and the calibration plate 28. For example, 16 measurements are performed for each pitch, and the average value is used as distance data. Further, the vertical movement of the optical displacement meter 18 is performed by a predetermined number of pitches, for example, a number of pitches corresponding to ±20 mm.

1に のようにして得られた光変位計18出力の平均(以下、
単に光変位計18出力という)は、光変位計18の期待
される上下位置と対応付けられる。すなわち、光変位計
18出力は期待される上下位置と対応付けられ直線性補
正テーブルとしてメモリ36に格納される。
The average of the optical displacement meter 18 outputs obtained as in 1. (hereinafter referred to as
(simply referred to as the optical displacement meter 18 output) is associated with the expected vertical position of the optical displacement meter 18. That is, the output of the optical displacement meter 18 is associated with the expected vertical position and stored in the memory 36 as a linearity correction table.

第8図には、直線性補正テーブルの一例が示されている
FIG. 8 shows an example of a linearity correction table.

この図に示されるように、直線性補正テーブルは、演算
制御部34によるパルスステージ22の制御量(指令値
)L3Siと、実際の光変位計18出力し3Aiと、を
対応付けている。指令値L38、は、光変位計18の初
期特性に基づき発せられる値であり、光変位計18が特
性変化してないならば得られるであろう上下位置、すな
わち理想値である。従って、直線性補正テーブルは、光
変位計18の特性に関して理想値と実際値とを対応付け
るものである。
As shown in this figure, the linearity correction table associates the control amount (command value) L3Si of the pulse stage 22 by the calculation control unit 34 with the actual optical displacement meter 18 output 3Ai. The command value L38 is a value issued based on the initial characteristics of the optical displacement meter 18, and is the vertical position that would be obtained if the characteristics of the optical displacement meter 18 had not changed, that is, an ideal value. Therefore, the linearity correction table associates ideal values and actual values regarding the characteristics of the optical displacement meter 18.

このような直線性補正テーブルは、光変位計18の特性
変化に対応する趣旨から、上側の光変位置18それぞれ
について作成される。
Such a linearity correction table is created for each of the upper optical displacement positions 18 in order to accommodate changes in the characteristics of the optical displacement meter 18.

このようにして、直線性校正が実施された後に、架台校
正が実施される。この架台校正においては、」1下の光
変位計18と校正板28が一体に水平移動さぜされる。
In this way, the gantry calibration is performed after the linearity calibration is performed. In this pedestal calibration, the optical displacement meter 18 and the calibration plate 28 under "1" are horizontally moved together.

すなわち、第9図に示されるように、3個の光変位計1
8の可動範囲は100−1.1.00−2及び1.00
−3のような範囲(例えば40mm程度)をとり、搬送
ライン12の全幅110をカバしている。光変位計18
及び校正板28は、それぞれの可動範囲]00内におい
て所定間隔で一体移動され、各光変位計18について校
正テーブルが作成される。
That is, as shown in FIG. 9, three optical displacement meters 1
The movable range of 8 is 100-1.1.00-2 and 1.00
-3 (for example, about 40 mm), and covers the entire width 110 of the conveyance line 12. Optical displacement meter 18
The calibration plates 28 and 28 are integrally moved at predetermined intervals within their respective movable ranges]00, and a calibration table is created for each optical displacement meter 18.

第10図には、校正テーブルの一例が示されている。FIG. 10 shows an example of a calibration table.

この図に示されるように、校正テーブルは、光変位計の
左右位置XA工と、各左右位置XA工における実際の基
準距離り。A□と、を対応付けるテーブルである。
As shown in this figure, the calibration table is based on the horizontal position XA of the optical displacement meter and the actual reference distance at each left and right position XA. This is a table that associates A□ with .

架台校正においては、直線性校正の際と同様、校正板2
8が回動されかつ水平振動されている。
In pedestal calibration, as in the case of linearity calibration, use the calibration plate 2.
8 is rotated and horizontally vibrated.

この状態での光変位計18の出力は、光変位計18と校
正板28との距離を示している。
The output of the optical displacement meter 18 in this state indicates the distance between the optical displacement meter 18 and the calibration plate 28.

ここで、校正板28の板厚をρ。、上側及び下側の光変
位計18から校正板28までの距離(すなわち上下の光
変位計18の各出力)をそれぞれΩ 及びρ2とする。
Here, the thickness of the calibration plate 28 is ρ. , the distances from the upper and lower optical displacement meters 18 to the calibration plate 28 (that is, the respective outputs of the upper and lower optical displacement meters 18) are Ω and ρ2, respectively.

この場合、第3図に示され] るように、基準圧rff11L □について、次の式%
式% か成立する。従って、演算制御部34が上式に基づく演
算を実行することにより、実際の基準距離Loか求めら
れることになる。また、このような演算を所定回数、例
えば16回繰り返し平均を求め、この平均値を基準距離
り。とじて扱えば、さらに基準距離Loの正確さは向上
する。
In this case, as shown in FIG. 3, for the reference pressure rff11L □, the following formula %
The formula % holds true. Therefore, the actual reference distance Lo can be determined by the calculation control unit 34 executing the calculation based on the above equation. Further, such calculations are repeated a predetermined number of times, for example, 16 times, and the average value is obtained, and this average value is used as the reference distance. If the reference distance Lo is treated as the same, the accuracy of the reference distance Lo will be further improved.

この基準距離り。は、上側の光変位計18を所定間隔で
左右に移動させることにより、N個のブタLoAiとし
て得られる。なお、この左右移動は、演算制御部34の
制御に基づきリニアモータ32により行われる。
This standard distance. are obtained as N pigs LoAi by moving the upper optical displacement meter 18 left and right at predetermined intervals. Note that this horizontal movement is performed by the linear motor 32 under the control of the arithmetic control section 34.

] 9 このようにして得られた基準距離LoA工が、光変位計
18の左右位置と対応付けられると、第10図に示され
るような校正テーブルが作成される。校正テーブルは、
各光変位計18の対ごとに作成される。
] 9 When the reference distance LoA obtained in this manner is associated with the left and right positions of the optical displacement meter 18, a calibration table as shown in FIG. 10 is created. The calibration table is
It is created for each pair of optical displacement meters 18.

以」二のようにして作成された直線性補正テーブル及び
校正テーブルは、メモリ36に格納される。
The linearity correction table and calibration table created as described above are stored in the memory 36.

測定時には、これら直線性補正テーブル及び校正テーブ
ルか参照される。
During measurement, these linearity correction tables and calibration tables are referred to.

すなわち、被測定体]0の板厚を求める際、演算制御部
B4は、パルスステージ22への指令値に基づき直線性
テーブル中のデータを読み出す。
That is, when determining the thickness of the object to be measured]0, the calculation control unit B4 reads data in the linearity table based on the command value to the pulse stage 22.

この読み出しにより得られるデータは、例えば第9図で
いえばし   である。従って、このデーAl 夕と指令値との差を求めれば、現在の光変位計18の出
力に含まれる特性変化に起因する誤差か求められる。こ
の誤差を光変位計18出力から減じてやれば、光変位計
18の特性変化に起因する誤差の影響か排除される。
The data obtained by this reading is, for example, as shown in FIG. Therefore, by determining the difference between this data and the command value, it is possible to determine the error caused by the characteristic change included in the current output of the optical displacement meter 18. By subtracting this error from the output of the optical displacement meter 18, the influence of errors caused by changes in the characteristics of the optical displacement meter 18 can be eliminated.

また、板厚演算時に用いられる基準距離をり。Also, the reference distance used when calculating plate thickness.

補正すべく、演算制御部34は、光変位計18の左右位
置に基づきメモリ36から校正テーブルに係るデータを
読み1(−Iす。読み出されるデータは、その左右位置
に係る基準距離り。である。この基準距離り。は、前述
のように架台歪みを反映した値であるため、この基準圧
MLoを用いて板厚演算すれば、架台14が歪んでいる
場合における誤差発生が防止される。
In order to make the correction, the arithmetic control unit 34 reads data related to the calibration table from the memory 36 based on the left and right positions of the optical displacement meter 18.The read data is based on the reference distance related to the left and right positions. As described above, this reference distance is a value that reflects the distortion of the pedestal, so if the plate thickness is calculated using this reference pressure MLo, errors that occur when the pedestal 14 is distorted can be prevented. .

このように、本実施例によれば、校正板28により簡易
な手段で電気的補正及び機械的補正を一括して実施する
ことができる。さらに、直線性補正テーブル及び校正テ
ーブルにより補正を行うことができ、より正確に板厚り
を演算して正確性及び信頼性を確保することが可能にな
る。
In this way, according to this embodiment, electrical correction and mechanical correction can be performed at once using the calibration plate 28 using simple means. Furthermore, correction can be performed using the linearity correction table and the calibration table, and it becomes possible to calculate the plate thickness more accurately and ensure accuracy and reliability.

また、光変位計]8と被41す定休]0との距離を測定
点近傍の数点の空間平均として求められ、この結果、複
数の被測定体10間の面性状のばらつきや、同一被測定
体10における面性状のばらつきがある場合にも、この
面性状の影響を補正1.てより正確な板厚りの測定を行
うことができる。
In addition, the distance between the optical displacement meter 8 and the object 41 is determined as a spatial average of several points in the vicinity of the measurement point, and as a result, variations in the surface texture between multiple objects 10 and the same object Even when there are variations in the surface texture of the measuring object 10, the influence of this surface texture can be corrected.1. This allows for more accurate plate thickness measurements.

さらに、パルスステージ22を測定時と直線性校正時と
で共用することができ、校正に係る構成を小型かつ安価
な装置で実現できる。
Furthermore, the pulse stage 22 can be used both during measurement and during linearity calibration, and the configuration related to calibration can be realized with a small and inexpensive device.

なお、以上の説明ではパルスステージ22が上側のみに
設けられていたが、下側にも設けても良い。この場合、
上、下の光変位計18について直線性補正テーブルが作
成され、より精密な測定が可能になる。
Note that in the above description, the pulse stage 22 was provided only on the upper side, but it may also be provided on the lower side. in this case,
Linearity correction tables are created for the upper and lower optical displacement meters 18, allowing more precise measurements.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、直線性補正テー
ブルを作成し、この直線性補正テーブルにより光変位計
出力を補正するようにしたため、より正確な板厚測定が
可能になる。また、上下位置制御手段を測定・校正兼用
としたため、かかる効果を安価小型な装置で得ることが
できる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, a linearity correction table is created and the optical displacement meter output is corrected using this linearity correction table, so that more accurate plate thickness measurement is possible. become. Further, since the vertical position control means is used for both measurement and calibration, such effects can be obtained with a small and inexpensive device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例に係る自動板厚測定装置の実
体構成を示す概略外観図であり、第1図(a)は上面図
、第1図(b)は側面図、第2図はこの実施例のより詳
細な実体構成を示す正面図、 第3図はこの実施例の校正手段の構成を示す概略図であ
り、第3図(a)は正面図、第3図(b)は側面図、 第4図はこの実施例の回路構成を示すブロック図、 第5図は光変位計から発せられる光ビームの軌跡を示す
図、 第6図は板厚測定位置を示す図、 第7図は板厚測定原理を示す図、 第8図は直線性補正テーブルを示す図、第9図は光変位
計の移動範囲を示す図、第10図は校正テーブルを示す
図、 第11図は光変位計の特性を示す図である。 10 ・・・ 被測定体 12 ・・・ 搬送ライン 18 ・・・ 光変位計 28 ・・・ 校正板 30 ・・・ ロータリソレノイド 32 ・・ リニアモータ 34 ・・・ 演算制御部
FIG. 1 is a schematic external view showing the actual configuration of an automatic plate thickness measuring device according to an embodiment of the present invention, in which FIG. 1(a) is a top view, FIG. 1(b) is a side view, and FIG. The figure is a front view showing a more detailed actual configuration of this embodiment, and FIG. 3 is a schematic diagram showing the configuration of the calibration means of this embodiment. ) is a side view, Figure 4 is a block diagram showing the circuit configuration of this embodiment, Figure 5 is a diagram showing the locus of the light beam emitted from the optical displacement meter, Figure 6 is a diagram showing the plate thickness measurement position, Figure 7 is a diagram showing the plate thickness measurement principle, Figure 8 is a diagram showing a linearity correction table, Figure 9 is a diagram showing the movement range of the optical displacement meter, Figure 10 is a diagram showing the calibration table, and Figure 11 is a diagram showing the movement range of the optical displacement meter. The figure is a diagram showing the characteristics of the optical displacement meter. 10 ... Measured object 12 ... Transport line 18 ... Optical displacement meter 28 ... Calibration plate 30 ... Rotary solenoid 32 ... Linear motor 34 ... Arithmetic control section

Claims (1)

【特許請求の範囲】 被測定体を搬送する搬送ラインの上方及び下方の架台上
に対をなしかつ所定の基準距離を隔てて配置され、光ビ
ームを被測定体に照射して反射光に基づき被測定体との
距離を求める複数対の光変位計と、 先端がL字状の屈曲を有し、被測定体の板厚測定時には
先端が光変位計の測定域外に配置される所定板厚の校正
板と、 校正時に、光変位計から発せられる光ビームを遮る所定
位置に先端が位置するよう校正板を回動させる回動手段
と、 測定時には、被測定体の板厚規格に応じて定められる位
置となるよう光変位計の上下位置を制御し、直線性校正
時には、光変位計を上下方向に所定ピッチで移動させる
上下位置制御手段と、測定時に被測定体上の所定軌跡を
描くよう光変位計の左右位置を制御する左右位置制御手
段と、直線性校正時における光変位計の出力を光変位計
の期待される上下位置に対応付ける直線性補正テーブル
を作成する直線性補正手段と、 直線性補正テーブルを参照して光変位計と被測定体との
距離を補正し、光変位計の上下方向移動量、補正された
距離及び基準距離に基づき被測定体の板厚を演算し平均
する板厚演算手段と、を備えることを特徴とする自動板
厚測定装置。
[Claims] The system is arranged in pairs on the upper and lower mounts of the transport line that transports the object to be measured, and is spaced apart by a predetermined reference distance, and irradiates the object with a light beam and based on the reflected light. A plurality of pairs of optical displacement meters that measure the distance to the object to be measured, and a predetermined plate thickness whose tip has an L-shaped bend and whose tip is placed outside the measurement range of the optical displacement meter when measuring the thickness of the object to be measured. a calibration plate; a rotating means for rotating the calibration plate so that its tip is located at a predetermined position that blocks the light beam emitted from the optical displacement meter during calibration; Vertical position control means that controls the vertical position of the optical displacement meter so that it is at a predetermined position, moves the optical displacement meter vertically at a predetermined pitch during linearity calibration, and draws a predetermined trajectory on the object to be measured during measurement. lateral position control means for controlling the left and right positions of the optical displacement meter, and linearity correction means for creating a linearity correction table that associates the output of the optical displacement meter with the expected vertical position of the optical displacement meter during linearity calibration. , Correct the distance between the optical displacement meter and the object to be measured by referring to the linearity correction table, and calculate the thickness of the object to be measured based on the vertical movement amount of the optical displacement meter, the corrected distance, and the reference distance. An automatic plate thickness measuring device comprising: averaging plate thickness calculation means.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5479179A (en) * 1992-07-31 1995-12-26 Central Glass Company, Limited Structure for connecting window glass antenna with feeder

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5479179A (en) * 1992-07-31 1995-12-26 Central Glass Company, Limited Structure for connecting window glass antenna with feeder

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