JPH04116410A - Automatic plate-thickness measuring apparatus - Google Patents

Automatic plate-thickness measuring apparatus

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JPH04116410A
JPH04116410A JP23815290A JP23815290A JPH04116410A JP H04116410 A JPH04116410 A JP H04116410A JP 23815290 A JP23815290 A JP 23815290A JP 23815290 A JP23815290 A JP 23815290A JP H04116410 A JPH04116410 A JP H04116410A
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calibration
optical displacement
displacement meter
measured
plate
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Masaharu Ono
大野 政春
Koichi Takemura
竹村 興一
Shuji Naito
修治 内藤
Hisao Fujikawa
寿生 藤川
Kyoichi Nobori
登 享一
Akira Suda
昭 須田
Isao Fujise
藤瀬 勲
Iwao Daikuhara
大工原 岩雄
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Japan Radio Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To improve the uniformity of the reflection pattern of a calibration plate apparently and to make it possible to perform accurate measurement by providing a horizontal oscillating means for oscillating the calibration plate in the right and left directions at the time of calibration. CONSTITUTION:A horizontal oscillating means for oscillating a calibration plate 34 in the right and left directions in calibration is provided in this apparatus. The calibration plate 34 is oscillated in the right and left direction when linearity is calibrated. Namely, the measuring accuracy, when the optical displacement gage 18 emits a light beam on the calibration plate 34 and receives the reflected light, is affected by the reflection pattern which is determined by the property of the surface of the calibration plate 34. The nonuniformity of the surface of the calibration plate 34 deteriorates the measuring accuracy. Therefore, the calibration plate 34 is horizontally oscillated, and the apparent uniformity is improved. When a frame is calibrated, the calibration plate 34 is horizontally oscillated as in the linearity calibration. The calibration table obtained in this way is used for correcting a reference distance in measurement. Thus, errors which occur in response to the right and left positions of the optical displacement gage 18 in measurement, e.g. the error caused by the strain in the frame, can be decreased.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野〕 本発明は、搬送ラインにより搬送される被測定体の板厚
を光ビームの反射により非接触で自動A111定する自
動板厚測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an automatic plate thickness measuring device that automatically determines the plate thickness of an object to be measured transported by a transport line in a non-contact manner by reflecting a light beam.

[従来の技術] 従来から、搬送ラインにより搬送される被測定体の板厚
をPSD等の光変位計により自動計測する自動板厚測定
装置か知られている。
[Prior Art] Conventionally, automatic plate thickness measuring devices have been known that automatically measure the plate thickness of an object to be measured transported by a transport line using an optical displacement meter such as a PSD.

従来において用いられていた装置は、いわゆるC型フレ
ームを用いた1点計測の装置であり、被測定体としては
幅か一定のもの、すなわち固定幅の被測定体を測定する
ものである。
The conventionally used device is a one-point measurement device using a so-called C-shaped frame, and is used to measure an object having a constant width, that is, a fixed width object.

この装置においては、搬送ラインの上下に光変位計か配
置される。この光変位計によってレーザ光である光ビー
ムが被測定体に照射され、被測定体の板厚が測定される
。このような装置により、従来、鋼板等の被測定体の板
厚を自動測定することが行われていた。
In this device, optical displacement gauges are placed above and below the conveyance line. This optical displacement meter irradiates the object to be measured with a light beam, which is a laser beam, and measures the thickness of the object. Conventionally, such a device has been used to automatically measure the thickness of an object to be measured such as a steel plate.

ところで一般に、自動板厚測定装置の精度を確保するた
めには校正が必要となる。校正は装置を使用する都度行
われ、装置運用の上で必須の作業である。より具体的に
は、光変位計の経年変化等による誤差を補正(電気的補
正)し、また、機械的歪を補正(機械的補正)して、信
頼性を維持し、正確な板厚&111定を期するものであ
る。
By the way, in general, calibration is required to ensure the accuracy of automatic plate thickness measuring devices. Calibration is performed each time the device is used, and is an essential task for device operation. More specifically, we correct errors caused by aging of the optical displacement meter (electrical correction), and correct mechanical distortion (mechanical correction) to maintain reliability and ensure accurate plate thickness &111. It is expected that the

また、校正の手段とl−では、所定板厚の校w板を用い
、光変位計と校正板の距離の測定により、光変位計間の
基準距離を求める手段が知られでいる。
Furthermore, as a calibration method, a method is known in which a reference distance between optical displacement meters is determined by using a calibration plate having a predetermined thickness and measuring the distance between the optical displacement meter and the calibration plate.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来においては、校正板の面性状が均一
でなく、このため測定精度に問題か生じていた。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the past, the surface properties of the calibration plate were not uniform, which caused problems in measurement accuracy.

校正板としては、面性状か比較的均一であることから例
えばセラミック板か用いられるが、板厚/l1ll定装
置では光変位計か校正板からの反則光を取り込む必要が
あり、この点からすればセラミック板を用いた校正板で
も反射パターンの均一性が十分でない。
For example, a ceramic plate is used as the calibration plate due to its relatively uniform surface texture, but in the plate thickness/l1ll determination device, it is necessary to capture the reflected light from the optical displacement meter or the calibration plate. For example, even with a calibration plate using a ceramic plate, the uniformity of the reflection pattern is not sufficient.

本発明は、このような問題点を解決することを課題と(
2てなされたものであり、校正板の反射バターンの均一
性を見掛上向」ニさせて正確な測定を可能にすると共に
、かかる機能を有する校正手段を小型に構成することを
目的とする。
The present invention aims to solve such problems (
The purpose of this invention is to improve the apparent uniformity of the reflection pattern of the calibration plate to enable accurate measurements, and to construct a compact calibration means having such a function. .

[課題を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明は、被測定体
を搬送する搬送ラインの上方及び下方の架台上にに対を
なしかつ所定の基準距離を隔てて配置され、光ビームを
被#iIす定休に照射して反射光に基づき被測定体との
距離を求める複数対の光変位計と、先端がL字状の屈曲
を有し、被測定体の板厚測定時には先端が光変位計のa
lllll外定配置される所定板厚の校正板と、校正時
に、光度位置1から発せられる光ビームを遮る所定位置
に先端か位置するよう校正板を回動させる回動手段と、
校正時に、校正板を左右方向に振動させる水平振動手段
と、測定時には、被測定体上の所定軌跡を描くよう光変
位計の左右位置を制御し、被測定体の板厚規格に応じて
定められる位置となるよう光変位計の上下位置を制御し
、直線性校正時には、光変位計を−J=下方向に所定ピ
ッチで移動させ、架台校正時には、光変位計を左右方向
に所定間隔で移動させる位置制御手段と、直線性校正時
における光変位旧の出力を光変位旧の期待される上下位
置に対応付ける直線性補正テーブルを作成する直線性補
正手段と、架台校正時における光変位旧の出力と、校正
板の板厚と、に基づき基準距離を求め、この基準距離を
光変位計の左右位置に対応イ」ける校正テーブルを作成
する架台補正手段と、直線性補正テーブルを参照して光
変位計と被測定体との距離を補1]モし、光変位計の左
右位置により校正テーブルを参照して基準距離を補正し
、光変位計の上下方向移動量、補正された距離及び基準
距離に基つき被測定体の板厚を演算し平均する板厚演算
手段と、を備えることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve such an object, the present invention provides a pair of mounts on the upper and lower mounts of the conveyance line that conveys the object to be measured, and which are spaced apart by a predetermined reference distance. A plurality of pairs of optical displacement meters are placed in the same position and have an L-shaped bend at the tip and measure the distance to the object to be measured based on the reflected light by irradiating a light beam to the object to be measured. When measuring plate thickness, the tip is the a of the optical displacement meter.
a calibration plate having a predetermined thickness and arranged externally; a rotating means for rotating the calibration plate so that the tip thereof is located at a predetermined position that blocks the light beam emitted from the luminous intensity position 1 during calibration;
During calibration, a horizontal vibration means vibrates the calibration plate in the left-right direction, and during measurement, the horizontal position of the optical displacement meter is controlled so as to draw a predetermined trajectory on the object to be measured, and is determined according to the plate thickness standard of the object to be measured. The vertical position of the optical displacement meter is controlled so that it is in the position shown in FIG. a linearity correction means for creating a linearity correction table that associates the output of the optical displacement sensor at the time of linearity calibration with the expected vertical position of the optical displacement sensor; A reference distance is determined based on the output and the thickness of the calibration plate, and a mount correction means is used to create a calibration table that corresponds to the left and right positions of the optical displacement meter, and a linearity correction table is referenced. Correct the distance between the optical displacement meter and the object to be measured (1), refer to the calibration table according to the left and right positions of the optical displacement meter, correct the reference distance, and calculate the vertical movement amount of the optical displacement meter, the corrected distance and The present invention is characterized by comprising plate thickness calculating means for calculating and averaging the plate thickness of the object to be measured based on the reference distance.

[作用] 本発明の自動板厚測定装置においては、光変位計と被測
定体との距離、光変位計の−L下方向移動量及び対向す
る光変位計間の基準距離に基づき、彼41す定休の板厚
が求められる。
[Function] In the automatic plate thickness measuring device of the present invention, based on the distance between the optical displacement meter and the object to be measured, the -L downward movement amount of the optical displacement meter, and the reference distance between the opposing optical displacement meters, The thickness of the board for regular holidays is required.

これらのうち、光変位計と被測定体との距離は、直線性
補正テーブルによる補正を受ける。
Among these, the distance between the optical displacement meter and the object to be measured is corrected by the linearity correction table.

例えば、光変位計の特性が初期特性から変化して−)る
場合、この変化を補償してやらないと板厚測定値に誤差
が生じてしまう。このため、本発明では直線性校正を実
施する。直線性校正は、上下方向に所定ピッチで移動さ
せつつ行われ、この校正にいては光変位計の出力が光変
位計の期待される上下位置に対応付けられる。
For example, if the characteristics of the optical displacement meter change from the initial characteristics, an error will occur in the plate thickness measurement unless this change is compensated for. Therefore, in the present invention, linearity calibration is performed. Linearity calibration is performed while moving the optical displacement meter at a predetermined pitch in the vertical direction, and in this calibration, the output of the optical displacement meter is associated with the expected vertical position of the optical displacement meter.

このときの光変位計の出力は、光変位計と校正板との距
離を示している。すなわち、校正時には校正板が光ビー
ムを遮る位置に回動され、この校正板から反射光が得ら
れる。また、期待される上下位置は、例えば光変位計の
初期特性に基づき位置制御により得られる上下位置であ
る。
The output of the optical displacement meter at this time indicates the distance between the optical displacement meter and the calibration plate. That is, during calibration, the calibration plate is rotated to a position where it blocks the light beam, and reflected light is obtained from this calibration plate. Further, the expected vertical position is, for example, a vertical position obtained by position control based on the initial characteristics of the optical displacement meter.

また、校正板は、校正時に左右方向に振動される。すな
わち、光変位計が光ビームを校正板に照射しその反射光
を受光する際の測定精度に、校正板の面性状により決定
される反射パターンが影響する。より具体的には、校正
板の表面の不均一性が測定精度を劣化させる。このため
、本発明では校正板を水平振動させ、見掛上の均一性を
向上させているところを大きな特長とする。
Further, the calibration plate is vibrated in the left-right direction during calibration. That is, the reflection pattern determined by the surface quality of the calibration plate influences the measurement accuracy when the optical displacement meter irradiates the calibration plate with a light beam and receives the reflected light. More specifically, non-uniformity on the surface of the calibration plate degrades measurement accuracy. Therefore, a major feature of the present invention is that the calibration plate is horizontally vibrated to improve the apparent uniformity.

光変位計の出力と上下位置との対応付けを示すテーブル
を、直線性補正テーブルと呼ぶことにする。この直線性
補正テーブルは、測定時における光変位計の出力、すな
わち光変位計と被測定体との距離の補正に用いられる。
The table showing the correspondence between the output of the optical displacement meter and the vertical position will be referred to as a linearity correction table. This linearity correction table is used to correct the output of the optical displacement meter during measurement, that is, the distance between the optical displacement meter and the object to be measured.

これにより、測定時における光変位計の上下方向位置に
応じて前述の特性変化により発生する誤差が、補償され
ることになる。
This compensates for the error caused by the above-mentioned change in characteristics depending on the vertical position of the optical displacement meter during measurement.

また、基準距離は、校正テーブルによる補正を受ける。Further, the reference distance is corrected using a calibration table.

例えば、架台に歪みが発生している場合、この歪みによ
る測定誤差が生じ得る。このため、本発明では架台校正
を実施する。架台校正は、光変位計を左右方向に所定間
隔で移動させ、その際の光変位計出力に基づいて行われ
る。
For example, if the pedestal is distorted, this distortion may cause a measurement error. Therefore, in the present invention, pedestal calibration is performed. The gantry calibration is performed by moving the optical displacement meter in the left-right direction at predetermined intervals and based on the output of the optical displacement meter at that time.

より具体的には、光変位計の出力から求められる基準距
離と、光変位計の左右位置と、を対応付ける校正テーブ
ルが作成される。この場合の基準距離は、上下の光変位
計の出力と、校正板の既知の板厚と、に基づき求められ
る。
More specifically, a calibration table is created that associates the reference distance determined from the output of the optical displacement meter with the left and right positions of the optical displacement meter. The reference distance in this case is determined based on the outputs of the upper and lower optical displacement meters and the known thickness of the calibration plate.

架台校正時も、直線性校正時と同様に、校正板の水平方
向振動が実施される。
During frame calibration, the calibration plate is vibrated in the horizontal direction in the same way as during linearity calibration.

このようにして得られた校正テーブルは、測定時におい
て基準距離の補正に用いられる。これにより、測定時に
おける光変位計の左右位置に応じて発生する誤差、例え
ば架台歪みに起因する誤差が低減する。なお、架台校正
は直線性校正の後にその結果を用いて行うのが好ましい
The calibration table obtained in this way is used to correct the reference distance during measurement. This reduces errors that occur depending on the left and right positions of the optical displacement meter during measurement, such as errors caused by frame distortion. Note that it is preferable to perform the gantry calibration using the results after the linearity calibration.

従って、本発明においては、校正板の水平振動により校
正板の反射パターンが見掛上均一化し、光変位計による
測定精度が校正板の水平振動という簡易かつ小型に実現
可能な手段で向上する。
Therefore, in the present invention, the reflection pattern of the calibration plate is made uniform in appearance by the horizontal vibration of the calibration plate, and the measurement accuracy by the optical displacement meter is improved by the horizontal vibration of the calibration plate, which is a simple and compact means.

[実施例] 以下、本発明の好適な実施例について図面に基づき説明
する。
[Examples] Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described based on the drawings.

第1図には、本発明の一実施例に係る自動板厚測定装置
の実体構成が示されている。特に、第1図(a)におい
ては装置を上方から見た外観が、第1図(b)において
は側面から見た外観が、それぞれ示されている。
FIG. 1 shows the actual configuration of an automatic plate thickness measuring device according to an embodiment of the present invention. In particular, FIG. 1(a) shows the external appearance of the device as seen from above, and FIG. 1(b) shows the external appearance of the device as seen from the side.

この図においては、図中矢印で示される方向に被測定体
10を搬送する搬送ライン12が示されている。この図
における被nj定体lOは、それぞれ板厚、幅等の異な
る鋼板であり、図には1〇−1,10−2,10−3の
3個が示されている。
This figure shows a conveyance line 12 that conveys the object to be measured 10 in the direction indicated by the arrow in the figure. The nj constant bodies IO in this figure are steel plates having different thicknesses, widths, etc., and three of them, 10-1, 10-2, and 10-3, are shown in the figure.

この実施例において板厚測定の対象とする測定体10は
、例えば板厚4〜60mm、幅800〜4000mm、
長さ1500〜14000mmの規格のものであり、搬
送ライン12の上の任意の位置に任意の姿勢で配置され
る。
In this embodiment, the measuring object 10 to be measured has a thickness of 4 to 60 mm, a width of 800 to 4000 mm,
It has a standard length of 1,500 to 14,000 mm, and is placed at any position on the conveyance line 12 in any orientation.

また、搬送ライン12を跨ぐように、上下一対の門型架
台14が設けられている。門型染台14の搬送ライン1
2上流側にはラインセンサ16が、下流側には光変位計
18が、それぞれ配設されている。
Further, a pair of upper and lower gate-shaped frames 14 are provided so as to straddle the transport line 12 . Conveyance line 1 of gate-shaped dye table 14
2, a line sensor 16 is provided on the upstream side, and an optical displacement meter 18 is provided on the downstream side.

ラインセンサ16は、1対となるよう上下双方の凹型架
台14に設けられており、被測定体10の先端の左右両
端位置を検出する。検出される左右両端位置は、光変位
計18の位置の初期設定に用いられる。
A pair of line sensors 16 are provided on both the upper and lower concave mounts 14, and detect the positions of both left and right ends of the tip of the object 10 to be measured. The detected left and right end positions are used for initial setting of the position of the optical displacement meter 18.

また、光変位計18は3対が凹型架台14に設けられて
いる。この光変位計18は被測定体10の板厚を測定す
る装置である。すなわち、光変位計]8は被測定体10
に光ビームを照射し、その反射光を取り込む。さらに、
取り込んだ反射光に基づき被測定体]0までの距離を求
め、後述の原理による板厚演算に供する。
Further, three pairs of optical displacement meters 18 are provided on the concave pedestal 14. This optical displacement meter 18 is a device that measures the thickness of the object 10 to be measured. That is, the optical displacement meter] 8 is the object to be measured 10
A light beam is irradiated onto the object and the reflected light is captured. moreover,
Based on the captured reflected light, the distance to the object to be measured] 0 is determined and used to calculate the plate thickness according to the principle described later.

第2図には、この実施例のより詳細な実体構成が正面図
として示されている。
FIG. 2 shows a more detailed actual configuration of this embodiment as a front view.

この図においては、上下2個のリニアモータレル20が
示されている。リニアモータレール20は、6個の光変
位計18をそれぞれ左右方向に駆動するりニアモータの
レールである。
In this figure, two linear motor rails 20, upper and lower, are shown. The linear motor rail 20 is a linear motor rail that drives each of the six optical displacement meters 18 in the left and right directions.

また、光変位計18のうち上側の3個は、パルスステー
ジ22に取り付けられている。すなわち、この3個の光
変位計18はパルスステージ22によって上下方向に駆
動される。
Further, the upper three of the optical displacement meters 18 are attached to the pulse stage 22. That is, these three optical displacement meters 18 are driven in the vertical direction by the pulse stage 22.

さらに、3対の光変位計18のうち左右両側の2対には
、第1及び第2エツジセンサ24及び26が(=j設さ
れている。第1エツジセンザ24は、ラインセンサ16
の出力に応じて初期設定された光変位旧]8の位置をさ
らに微調整するために用いられる。第2エツジセンザ2
6は、被測定体10の側端を追従検出するために用いら
れる。
Further, first and second edge sensors 24 and 26 (=j) are provided in two pairs on the left and right sides of the three pairs of optical displacement meters 18.The first edge sensor 24 is connected to the line sensor 16
It is used to further finely adjust the position of the optical displacement [8] which is initially set according to the output of the optical displacement. 2nd edge sensor 2
6 is used to follow and detect the side edge of the object 10 to be measured.

第3図には、本実施例装置の校正手段の構成が示されて
いる。第3図(a)にはその」二面か、第3図(b)に
は正面が、第3図(c)には縦断面が、それぞれ示され
ている。
FIG. 3 shows the configuration of the calibration means of the apparatus of this embodiment. FIG. 3(a) shows its two sides, FIG. 3(b) shows its front view, and FIG. 3(c) shows its longitudinal section.

この図に示される校正手段は、校正手段全体を支持し、
下側の光変位計18を内蔵する取(=1台28と、取付
台28の上方に水平に配置される取(=J板30と、取
(1板30上に取り(=Iけられる校正板ユニット32
と、を備えている。
The calibration means shown in this figure supports the entire calibration means and
The lower optical displacement meter 18 is installed in the tray (=1 unit 28), the tray placed horizontally above the mounting base 28 (=J plate 30, and the tray (=1 plate 30) Calibration plate unit 32
It is equipped with.

校正板ユニット32は、先端がL字に屈曲した白色セラ
ミック板である校正板34と、校正板34を図中矢印で
示されるように回動させるロタリソレノイド36と、を
備えている。すなわち、後述する演算制御部かロータリ
ソレノイド36を制御し校正板34を回動させる。校正
板34の位置は、校正時には図中実線で示されるように
屈曲が光変位計18からの光ビームを遮る位置とされ、
測定時には図中破線で示されるように光ビーム径路から
外される。
The calibration plate unit 32 includes a calibration plate 34, which is a white ceramic plate with an L-shaped bent end, and a rotary solenoid 36 that rotates the calibration plate 34 as shown by an arrow in the figure. That is, an arithmetic control unit (described later) controls the rotary solenoid 36 to rotate the calibration plate 34. The position of the calibration plate 34 is set at a position where its bending blocks the light beam from the optical displacement meter 18 during calibration, as shown by the solid line in the figure.
During measurement, it is removed from the optical beam path as shown by the broken line in the figure.

また、この実施例においては、本発明の特徴に係るモー
タ38、偏心カム40およびカムフォロア42が設けら
れている。
Further, in this embodiment, a motor 38, an eccentric cam 40, and a cam follower 42 according to the features of the present invention are provided.

モータ38は、取付台38の前面に取り付けられ、校正
時に演算制御部によって回転させられる。
The motor 38 is attached to the front surface of the mount 38 and rotated by the arithmetic control unit during calibration.

偏心カム40は、モータ38に連結され、カムフォロア
42を介してモータ38の回転により取付板30を水平
方向に(例えば第3図(c)では左右方向に)一定速度
で振動させる。なお、取付板30は、取付台28に直動
台44を介して取り付けられている。直動台44の直行
精度は、光変位訓18の分解能以下(数ミクロン以下)
の真直度を確保するため直行度で数ミクロン以下に設定
されている。
The eccentric cam 40 is connected to the motor 38, and the rotation of the motor 38 via the cam follower 42 causes the mounting plate 30 to vibrate horizontally (for example, horizontally in FIG. 3(c)) at a constant speed. Note that the mounting plate 30 is attached to the mounting base 28 via a linear motion base 44. The orthogonal accuracy of the linear motion table 44 is below the resolution of the optical displacement unit 18 (several microns or less)
In order to ensure straightness, the straightness is set to several microns or less.

第4図には、この実施例の回路構成か示されている。FIG. 4 shows the circuit configuration of this embodiment.

この図においては、ラインセンサ16、第1エツジセン
サ24及び第2エツジセンサ26の検知出力を取り込み
、光変位計18の出力に基つき被ff111定体]Oの
板厚を求め、リニアモータ46、パルスステージ22、
ロータリソレノイド36及びモータ38を制御する演算
制御部48が示されている。また、この図には、校正時
に求められる直線性補正テーブル及び校正テーブルを格
納するメモリ50が示されている。なお、この図におい
ては、光変位計18等の構成は、図の簡略化のため1個
のみが示されている。
In this figure, the detection outputs of the line sensor 16, the first edge sensor 24, and the second edge sensor 26 are taken in, and the thickness of the object ff111 is determined based on the output of the optical displacement meter 18. stage 22,
A calculation control unit 48 that controls the rotary solenoid 36 and the motor 38 is shown. Also shown in this figure is a memory 50 that stores a linearity correction table and a calibration table that are obtained during calibration. Note that in this figure, only one optical displacement meter 18 and the like is shown for the sake of simplification.

次に、この実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

この実施例においては、まず、搬送ライン12の上に被
測定体]0か載置される。載置された被測定体10は、
搬送ライン]2によって搬送され、ラインセンサ16下
に到達する。
In this embodiment, first, the object to be measured]0 is placed on the transport line 12. The mounted object 10 is
2 and reaches below the line sensor 16.

すると、ラインセンサ16により、この被測定体]0に
よる遮光位置か検出される。すなわち、ラインセンサ1
6は、被測定体]Oにより光線が遮られる部分を検出し
、これを被測定体10の左右両端位置として演算制御部
48に供給する。
Then, the line sensor 16 detects the light-blocking position due to the object to be measured]0. That is, line sensor 1
6 detects the portion where the light beam is blocked by the object to be measured 10, and supplies this to the arithmetic control section 48 as the left and right end positions of the object to be measured 10.

演算制御部48は、ラインセンサ16の出力に基づきリ
ニアモータ46を駆動制御して、光変位計18の位置を
制御する。具体的には、左右両側各1対の光変位計18
を遮光位置として検出される被測定体10の左右両端位
置に移動させ、中央に配置されている1対の光変位計1
8を、左右の光変位計18の中央位置に維持する。これ
により、光変位計18の位置が初期設定される。
The calculation control unit 48 drives and controls the linear motor 46 based on the output of the line sensor 16 to control the position of the optical displacement meter 18 . Specifically, one pair of optical displacement meters 18 on both the left and right sides
A pair of optical displacement meters 1 located in the center are moved to both left and right end positions of the object to be measured 10, which are detected as light shielding positions.
8 is maintained at the center position of the left and right optical displacement meters 18. This initializes the position of the optical displacement meter 18.

こののち、被測定体10がさらに搬送され第1エツジセ
ンサ24に達すると、この第1エツジセンサ24により
光変位計18の位置が微調節される。すなわち、第1エ
ツジセンサ24の出力に応じ、演算制御部48がりニア
モータ46を制御する。
Thereafter, when the object to be measured 10 is further transported and reaches the first edge sensor 24, the position of the optical displacement meter 18 is finely adjusted by the first edge sensor 24. That is, the calculation control unit 48 controls the near motor 46 according to the output of the first edge sensor 24 .

次に、第2エツジセンサ26により被測定体10の左右
両端か捕捉される。このとき、第2エツジセンサ26の
出力により演算制御部48がリニアモータ46を制御す
る。すなわち、第2エツジセンサ26が光変位計18に
固定されているため、この制御によって、第2エツジセ
ンサ26が被測定体10の左右両端を追従捕捉し続け、
かつ左右両側の光変位計18が被測定体10の左右両端
から所定の距離の軌跡を検出走査することとなる。
Next, both left and right ends of the object to be measured 10 are captured by the second edge sensor 26 . At this time, the calculation control section 48 controls the linear motor 46 based on the output of the second edge sensor 26. That is, since the second edge sensor 26 is fixed to the optical displacement meter 18, this control allows the second edge sensor 26 to continue tracking and capturing both the left and right ends of the object to be measured 10.
The optical displacement meters 18 on both the left and right sides detect and scan a locus at a predetermined distance from both the left and right ends of the object 10 to be measured.

第5図には、光変位計18の光ビーム軌跡が、第6図に
は、この軌跡のうち板厚演算に用いられる点(測定位置
)が示されている。
FIG. 5 shows the light beam locus of the optical displacement meter 18, and FIG. 6 shows the points (measurement positions) of this locus used for plate thickness calculation.

この実施例においては、第5図において3本の矢印線で
示される軌跡に係る光変位計18の出力を連続して収集
する。この収集の後、演算制御部48が測定位置を決定
し、板厚を演算する。
In this embodiment, the output of the optical displacement meter 18 related to the trajectory indicated by the three arrow lines in FIG. 5 is continuously collected. After this collection, the calculation control unit 48 determines the measurement position and calculates the plate thickness.

より具体的には、演算制御部48は、被測定体10の先
端がラインセンサ16に達してから第1エツジセンサ2
4に達するまでの時間により被測定体10の搬送速度を
求める。ラインセンサ16と第1エツジセンサ24の距
離は設計的に決定されるため、この搬送速度を用いて、
時刻を被測定体10を基準とした位置座標に換算できる
。この換算結果に基づき、測定位置が決定される。
More specifically, the calculation control unit 48 controls the first edge sensor 2 after the tip of the object 10 reaches the line sensor 16.
The conveyance speed of the object to be measured 10 is determined from the time taken to reach the speed of 4. Since the distance between the line sensor 16 and the first edge sensor 24 is determined by design, using this conveyance speed,
The time can be converted into position coordinates with respect to the object to be measured 10. Based on this conversion result, the measurement position is determined.

測定位置は、例えば被測定体10の左右両端から15m
mの線、前後両端から15mmの線及び中心線の合計6
本の線から決定する。すなわち、これらの線の交点をI
l+++定位置P1〜P、に設定する。
The measurement position is, for example, 15 m from both left and right ends of the object to be measured 10.
m line, 15mm line from both front and back ends, and center line total 6
Determine from the line of the book. That is, the intersection of these lines is I
l+++ set to regular positions P1 to P.

次に、このように設定された測定位置P1〜P9につい
て、すでに収集されている光変位計18出力に基づく板
厚演算が、演算制御部48により行われる。
Next, for the measurement positions P1 to P9 set in this way, the calculation control unit 48 performs plate thickness calculation based on the output of the optical displacement meter 18 that has already been collected.

第7図には、この実施例における板厚測定の原理が示さ
れている。
FIG. 7 shows the principle of plate thickness measurement in this embodiment.

この実施例においては、板厚測定時における対向する光
変位計18の距離と、上下の光変位18と被4り定休1
0との距離と、に基づき被測定体10の板厚が求められ
る。
In this embodiment, the distance between the opposing optical displacement gauges 18 and the upper and lower optical displacements 18 when measuring the plate thickness,
The thickness of the object to be measured 10 is determined based on the distance from 0.

まず、被測定体10が無い状態での光変位計18の対向
距離、すなわち基準距離Loが設計的に決定されている
ものとする。また、板厚りの被測定体10の場合に光変
位計18の間隔を拡げる量、すなわち光変位計18の移
動量をL3とする。
First, it is assumed that the facing distance of the optical displacement meter 18 in the absence of the object to be measured 10, that is, the reference distance Lo, is determined by design. Further, in the case of the measured object 10 having a thick plate, the amount by which the distance between the optical displacement meters 18 is increased, that is, the amount of movement of the optical displacement meters 18 is defined as L3.

すると、上側の光変位計18によって測定される距離L
□及び下側の光変位計18によって測定される距離L2
から、次の式により、板厚りが求められることになる。
Then, the distance L measured by the upper optical displacement meter 18
□ and the distance L2 measured by the lower optical displacement meter 18
Therefore, the plate thickness can be calculated using the following formula.

L=(Lo+L3)−(L1+L2) さらに、この実施例においては、測定位置P1〜P9の
近傍の数点について板厚りを求め平均する。例えば、第
5図に示される軌跡に沿って測定位置P□〜P9の前後
21点での板厚りを求め、これらのうち最大値・最小値
・異常値等を除外した有効値のみについて平均する。平
均して求めた値を当該測定位置Piの板厚りとする。
L=(Lo+L3)-(L1+L2) Furthermore, in this embodiment, the plate thicknesses are determined and averaged at several points in the vicinity of the measurement positions P1 to P9. For example, find the plate thickness at 21 points before and after the measurement positions P□ to P9 along the trajectory shown in Figure 5, and average only the effective values excluding the maximum value, minimum value, abnormal value, etc. do. The averaged value is defined as the plate thickness at the measurement position Pi.

このように、本実施例においては、測定位置P□〜P、
に基づく板厚りの多点計測が、平均化の手法を用いてよ
り正確に実行される。
In this way, in this example, the measurement positions P□-P,
The multi-point measurement of plate thickness based on this method is performed more accurately using an averaging method.

また、この実施例において板厚しの測定に用いられる距
離L 及びL2は、直線性校正の際に作成される直線性
補正テーブルにより補正された値であり、基準距離は架
台校正の際に作成される校正テーブルを参照して得られ
る補正値である。
In addition, the distances L and L2 used for measuring plate thickness in this example are values corrected by the linearity correction table created during linearity calibration, and the reference distance is created during frame calibration. This is the correction value obtained by referring to the calibration table.

次に、この実施例における校正の動作について説明する
Next, the calibration operation in this embodiment will be explained.

この実施例においては、校正として直線性校正及び架台
校正が実施される。実施順序としては、まず直線性校正
が実施された後に架台校正か実施される。
In this embodiment, linearity calibration and pedestal calibration are performed as calibrations. As for the order of implementation, linearity calibration is performed first, and then mount calibration is performed.

本実施例装置において、光変位計18の特性か十分初期
特性を維持している場合には、光変位計18出力を距離
L 及びL2としてそのまま用い] でも良い。しかし、実際には温度、湿度、経年変化等に
より光変位計18の特性か変化する。この結果、光変位
計18の出力には誤差か生じてしまつ。
In the device of this embodiment, if the initial characteristics of the optical displacement meter 18 are sufficiently maintained, the outputs of the optical displacement meter 18 may be used as they are as the distances L and L2. However, in reality, the characteristics of the optical displacement meter 18 change due to temperature, humidity, aging, etc. As a result, an error occurs in the output of the optical displacement meter 18.

例えば、第8図に示されるように、実線の初期特性から
破線の特性に変化すると、実際の光変位計18の変位と
光変位計18の検知出力との間には差か生じ、これが板
厚Loの測定誤差となる。
For example, as shown in FIG. 8, when the initial characteristic shown by the solid line changes to the characteristic shown by the broken line, a difference occurs between the actual displacement of the optical displacement meter 18 and the detection output of the optical displacement meter 18, and this This results in a measurement error of the thickness Lo.

また、架台14が歪んでいない場合には、設計的に設定
された基準圧#Loをそのまま用いても良い。しかし、
実際には温度、湿度、経年変化等により架台14が歪み
、この結果、基準距離T−。
Furthermore, if the pedestal 14 is not distorted, the designed reference pressure #Lo may be used as is. but,
In reality, the pedestal 14 is distorted due to temperature, humidity, aging, etc., and as a result, the reference distance T-.

にも誤差が生じてしまう。Errors also occur.

従って、これらの変化による誤差発止を防ぐためには、
校正板34を用いた校正が必要となる。
Therefore, in order to prevent errors from occurring due to these changes,
Calibration using the calibration plate 34 is required.

まず、距離L□に係る校正、すなわち直線性補正テーブ
ルの作成に係る動作について説明する。
First, a description will be given of the calibration related to the distance L□, that is, the operation related to the creation of the linearity correction table.

なお、この実施例においては、」1下方向に駆動される
のか」二側の光変位計18のみであるため、誤差か生じ
やすい距離L1に係る直線性校正か実施される。
In this embodiment, since only the optical displacement meter 18 on the second side is driven in the downward direction, linearity calibration related to the distance L1, which is likely to cause errors, is performed.

この場合、校正板34は、ロータリソレノイド36によ
り回動される。この回動の結果、その先端は対向する光
変位計18の間の位置に配置される。
In this case, the calibration plate 34 is rotated by the rotary solenoid 36. As a result of this rotation, the tip is placed at a position between the optical displacement meters 18 facing each other.

校正板34は、板厚か既知の白色セラミック板から形成
されており、配置の後に水平方向に振動させられる。こ
の振動は、振幅±3mm程度の振動であり、校正板34
の面性状の影響を排除するために施される。
The calibration plate 34 is formed from a white ceramic plate of known thickness, and is vibrated in the horizontal direction after placement. This vibration has an amplitude of approximately ±3 mm, and the calibration plate 34
This is done to eliminate the influence of surface properties.

すなわち、演算制御部48によりモータ38か制御され
、モータ38か回転すると、偏心カム40及びカムフォ
ロア42により取付板30が直動する。取(−J板30
か直動すると、校正板34は水平方向に振動する。
That is, the motor 38 is controlled by the arithmetic control section 48, and when the motor 38 rotates, the mounting plate 30 is moved linearly by the eccentric cam 40 and the cam follower 42. Tori (-J plate 30
When the calibration plate 34 is moved in a straight line, the calibration plate 34 vibrates in the horizontal direction.

校正板34は、セラミック板であるため比較的良好な反
射パターンを実現可能である。この実施例においてはさ
らに水平方向に振動させており、この結果、面の不均一
性か見掛]二低減し、さらに良好な反射パターンを得る
ことかできる。
Since the calibration plate 34 is a ceramic plate, it is possible to realize a relatively good reflection pattern. In this embodiment, it is further vibrated in the horizontal direction, and as a result, the apparent non-uniformity of the surface can be reduced and an even better reflection pattern can be obtained.

この状態で、上側の光変位訓18は、上下に移動させら
れる。すなわち、演算制御部48によりパルスステージ
22が制御され、上側の光変位計18の上下位置が所定
ピッチ、例えば1mmで変化する。この変化毎に、光変
位計18からの出力が得られる。
In this state, the upper light displacement guide 18 is moved up and down. That is, the pulse stage 22 is controlled by the calculation control unit 48, and the vertical position of the upper optical displacement meter 18 changes at a predetermined pitch, for example, 1 mm. An output from the optical displacement meter 18 is obtained for each change.

この出力は、光変位計18と校正板34との距離を示す
ものである。同一ピッチ位置で例えば16回測定か行わ
れ平均される。さらに光変位計18の上下方向移動が所
定ピッチ数、例えば±20mmに相当するピッチ数たけ
実行される。
This output indicates the distance between the optical displacement meter 18 and the calibration plate 34. For example, 16 measurements are taken at the same pitch position and averaged. Further, the optical displacement meter 18 is moved in the vertical direction by a predetermined number of pitches, for example, a number of pitches corresponding to ±20 mm.

このようにして得られた光変位計18の出力(平均値)
は、演算制御部48からパルスステジ22への指令値に
対応付けられる。すなわち、第9図に示されるような直
線性補正テーブルが作成されメモリ50上に展開される
Output of the optical displacement meter 18 obtained in this way (average value)
is associated with the command value sent from the calculation control unit 48 to the pulse stage 22. That is, a linearity correction table as shown in FIG. 9 is created and developed on the memory 50.

この図に示される直線性補正テーブルは、指令値L  
 と光変位計18出力し3A□とを対応S l イ;」けるテーブルである。
The linearity correction table shown in this figure is based on the command value L
This is a table that corresponds to the output of the optical displacement meter 18 and 3A□.

直線性補正テーブルは、光変位計18の特性変化を示す
テーブルである。すなわち、演算制御部48からパルス
ステージ22に対して発する指令値L38、は、光変位
計18に対して期待される移動量であり、この実施例に
おいては初期に実機動作と一致するよう設定した値であ
る。直線性補正テーブルの作成は、この指令値L3si
と、特性変化か生じた値、すなわち現在の光変位計18
出力”3Aiとを対応例けることに相当する。この直線
性補正テーブルは上側の各光変位計18ごとに、合計3
個作成される。
The linearity correction table is a table showing changes in characteristics of the optical displacement meter 18. That is, the command value L38 issued from the calculation control unit 48 to the pulse stage 22 is the amount of movement expected for the optical displacement meter 18, and in this embodiment, it is initially set to match the operation of the actual machine. It is a value. The linearity correction table is created using this command value L3si.
and the value resulting from the characteristic change, that is, the current optical displacement meter 18
This corresponds to setting the output "3Ai" as a corresponding example. This linearity correction table has a total of 3 for each upper optical displacement meter 18.
pieces are created.

このようにして得られた直線性補正テーブルを用いて、
架台校正が実施される。架台校正の場合、光変位計18
及び校正板34一体に左右方向に移動させられる。すな
わち、第10図に示されるように、3個の光変位計18
の可動範囲は1001.100−2及び100−3のよ
うな範囲(例えば40mm程度)をとり、搬送ライン1
2の全幅110をカバーしている。3対の光変位計18
及び校正板34は、演算制御部48によるリニアモータ
46の制御によって、この範囲100−1.100−2
及び100−3において左右に駆動され、それぞれに架
台校正が実施される。
Using the linearity correction table obtained in this way,
Mount calibration is performed. For frame calibration, optical displacement meter 18
And the calibration plate 34 is moved integrally in the left and right direction. That is, as shown in FIG. 10, three optical displacement meters 18
The movable range is 1001, 100-2 and 100-3 (for example, about 40 mm), and the transport line 1
It covers the entire width 110 of 2. 3 pairs of optical displacement meters 18
and the calibration plate 34 are set within this range 100-1.100-2 by controlling the linear motor 46 by the arithmetic control unit 48.
and 100-3, it is driven left and right, and gantry calibration is performed for each.

架台校正においては、第11図に示されるような校正テ
ーブルが3対の光変位計18及び校正板34毎に合計3
個作成され、メモリ50に格納される。この図に示され
るように、校正テーブルは、光変位計]8の左右位置x
A1とその位置における基準距離り。Aiとを対応付け
る。
In the pedestal calibration, a total of three calibration tables as shown in FIG.
1 and stored in the memory 50. As shown in this figure, the calibration table is based on the left and right position x of the optical displacement meter]8.
A1 and the reference distance at that position. Correlate with Ai.

この架台校正の動作について、さらに詳細に説明する。The operation of this gantry calibration will be explained in more detail.

架台校正の場合も直線性校正の場合と同様に、まず、校
正板34がロータリソレノイド36により回動され、対
向する光変位計18間の位置におかれる。また、校正板
34の水平方向振動も同様に実施される。
In the case of gantry calibration, as in the case of linearity calibration, first, the calibration plate 34 is rotated by the rotary solenoid 36 and placed at a position between the opposing optical displacement meters 18 . Further, horizontal vibration of the calibration plate 34 is also performed in the same manner.

ここで、校正板34の板厚をΩ。、上側及び下側の光変
位計18から校正板34までの距離をそれぞれp 及び
ρ2とする。この距離ρ□及びρ2は、光変位計18の
出力として得られ、一方、第12図に示されるように、
基準距離Loについて、次の式 %式% か成立する。
Here, the thickness of the calibration plate 34 is Ω. , the distances from the upper and lower optical displacement meters 18 to the calibration plate 34 are p and ρ2, respectively. The distances ρ□ and ρ2 are obtained as the output of the optical displacement meter 18, while, as shown in FIG.
Regarding the reference distance Lo, the following formula % formula % holds true.

従って、演算制御部48が上式に基づく演算を実行する
ことにより、実際の基準距離り。か求められることにな
る。また、このような演算を所定回数、例えば16回繰
り返し平均を求め、この平均値を基準距離り。とじて扱
えば、さらに基準距離り。の正確さは向上する。
Therefore, the actual reference distance is determined by the calculation control unit 48 executing calculations based on the above formula. or will be required. Further, such calculations are repeated a predetermined number of times, for example, 16 times, and the average value is obtained, and this average value is used as the reference distance. If you treat it together, the standard distance will be further increased. accuracy will be improved.

このようにして求められた基準距離Loは、光変位計1
8の左右位置と対応付けられ、校正テブルとしてメモリ
50に格納される。
The reference distance Lo obtained in this way is the optical displacement meter 1
8 and stored in the memory 50 as a calibration table.

このようにして得られた直線性補正テーブル及び校正テ
ーブルは、板厚演算の際に参照される。
The linearity correction table and calibration table obtained in this way are referred to when calculating the plate thickness.

すなわち、光変位計18の出力L□を補正する際に直線
性補正テーブルが、基準距離Loを補正する際に校正テ
ーブルが、それぞれ参照される。
That is, the linearity correction table is referred to when correcting the output L□ of the optical displacement meter 18, and the calibration table is referred to when correcting the reference distance Lo.

具体的には、演算制御部48は現在のパルスステージ2
2への指令値をもって直線性補正テーブルを参照し、メ
モリ50から当該テーブルに係るデータを読み出す。読
み出されるデータは、指令値に対し光変位計18が実際
に変位する量である。
Specifically, the calculation control unit 48 controls the current pulse stage 2.
2, the linearity correction table is referred to, and data related to the table is read from the memory 50. The data read is the amount by which the optical displacement meter 18 is actually displaced with respect to the command value.

従って、このデータと指令値との差をもって光変位計1
8の出力し工を補正してやれば、光変位計18の特性変
化による誤差が排除される。
Therefore, using the difference between this data and the command value, the optical displacement meter 1
By correcting the output error of 8, errors caused by changes in the characteristics of the optical displacement meter 18 can be eliminated.

また、演算制御部48は現在の光変位計18左右位置を
もって校正テーブルを参照し、メモリ50から当該テー
ブルに係るデータを読み出す。
Further, the calculation control unit 48 refers to the calibration table using the current left and right positions of the optical displacement meter 18, and reads data related to the table from the memory 50.

読み出されるデータは、当該位置における実際の基準距
離L であり、この基準距離Loに基づき板厚りを演算
すれば、架台14の歪みに起因する誤差発生か防止され
る。
The read data is the actual reference distance L at the position, and if the plate thickness is calculated based on this reference distance Lo, errors caused by distortion of the pedestal 14 can be prevented.

このように、本実施例によれば、校正板34により、簡
易な手段で電気的補正及び機械的補正を一括して実施す
ることができ、正確性及び信頼性を確保できる。
As described above, according to the present embodiment, the electrical correction and mechanical correction can be performed at once using simple means using the calibration plate 34, and accuracy and reliability can be ensured.

また、本実施例においては、校正板34の水平振動によ
り校正板34の面の均一性を見掛上向上させることがで
き、反射パターンをさらに良好にしてより正確な板厚測
定を実施することが可能になる。また、この水平振動は
、モータ38の回転により偏心カム40等を用いて簡易
な手段で実現され、小型な装置構成で前述の効果を実現
できる。
Furthermore, in this embodiment, the horizontal vibration of the calibration plate 34 can improve the apparent uniformity of the surface of the calibration plate 34, making the reflection pattern even better and allowing for more accurate plate thickness measurements. becomes possible. Furthermore, this horizontal vibration is achieved by simple means using the eccentric cam 40 and the like through the rotation of the motor 38, and the above-mentioned effects can be achieved with a compact device configuration.

なお、この実施例ではパルスステージ22を上側の光変
位計18のみに設けたが、下側にも設け、距離L2に係
る直線性補正テーブルを作成するようにしてもよい。こ
のようにすれば、さらに正確な板厚測定が可能になる。
In this embodiment, the pulse stage 22 is provided only on the upper optical displacement meter 18, but it may also be provided on the lower side to create a linearity correction table related to the distance L2. In this way, even more accurate plate thickness measurement becomes possible.

[発明の効果] 以」二説明したように、本発明によれば、校正板の水平
振動により校正板の反射パターンを向上させることがで
き、より正確な板厚測定を簡易・小型な手段によって実
現できる。
[Effects of the Invention] As explained below, according to the present invention, the reflection pattern of the calibration plate can be improved by horizontal vibration of the calibration plate, and more accurate plate thickness measurement can be carried out by simple and compact means. realizable.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の一実施例に係る自動板厚測定装置の
実体構成を示す環路外観図であり、第1図(a)は」二
面図、第1図(b)は側面図、第2図は、この実施例の
より詳細な実体構成を示す正面図、 第3図は、この実施例の校正手段の構成を示す概略図で
あり、第3図(a)は上面図、第3図(b)は正面図、
第3図(c)は縦断面図、第4図は、この実施例の回路
構成を示すブロック図、 第5図は、光変位計から発せられる光ビームの軌跡を示
す図、 第6図は、板厚測定位置を示す図、 第7図は、板厚測定原理を示す図、 第8図は、光変位計の特性変化を示す図、第9図は、直
線性補正テーブルを示す図、第10図は、光変位計の移
動範囲を示す図、第11図は、校正テーブルを示す図、 第12図は、校正原理を示す図であり、第12図(a)
は正面図、第12図(b)は側面図である。 10 ・・・ 被測定体 12  ・ 搬送ライン 18 ・・ 光変位計 34 ・・・ 校正板 36 ・・・ ロータリソレノイド 38 ・・ モータ 40 ・・・ 偏心カム 42 ・・・ カムフォロア 44 ・・・ 直動台 48 ・・・ 演算制御部
FIG. 1 is a ring road external view showing the actual configuration of an automatic plate thickness measuring device according to an embodiment of the present invention, FIG. 1(a) is a two-side view, and FIG. 1(b) is a side view. 2 is a front view showing a more detailed actual configuration of this embodiment, FIG. 3 is a schematic diagram showing the configuration of the calibration means of this embodiment, and FIG. 3(a) is a top view. , FIG. 3(b) is a front view,
FIG. 3(c) is a longitudinal sectional view, FIG. 4 is a block diagram showing the circuit configuration of this embodiment, FIG. 5 is a diagram showing the trajectory of the light beam emitted from the optical displacement meter, and FIG. 6 is a diagram showing the trajectory of the light beam emitted from the optical displacement meter. , FIG. 7 is a diagram showing the plate thickness measurement principle, FIG. 8 is a diagram showing changes in characteristics of the optical displacement meter, FIG. 9 is a diagram showing a linearity correction table, Fig. 10 is a diagram showing the movement range of the optical displacement meter, Fig. 11 is a diagram showing the calibration table, and Fig. 12 is a diagram showing the calibration principle.
is a front view, and FIG. 12(b) is a side view. 10... Object to be measured 12... Transport line 18... Optical displacement meter 34... Calibration plate 36... Rotary solenoid 38... Motor 40... Eccentric cam 42... Cam follower 44... Direct acting Base 48... Arithmetic control unit

Claims (1)

【特許請求の範囲】 被測定体を搬送する搬送ラインの上方及び下方の架台上
にに対をなしかつ所定の基準距離を隔てて配置され、光
ビームを被測定体に照射して反射光に基づき被測定体と
の距離を求める複数対の光変位計と、 先端がL字状の屈曲を有し、被測定体の板厚測定時には
先端が光変位計の測定域外に配置される所定板厚の校正
板と、 校正時に、光変位計から発せられる光ビームを遮る所定
位置に先端が位置するよう校正板を回動させる回動手段
と、 校正時に、校正板を左右方向に振動させる水平振動手段
と、 測定時には、被測定体上の所定軌跡を描くよう光変位計
の左右位置を制御し、被測定体の板厚規格に応じて定め
られる位置となるよう光変位計の上下位置を制御し、直
線性校正時には、光変位計を上下方向に所定ピッチで移
動させ、架台校正時には、光変位計を左右方向に所定間
隔で移動させる位置制御手段と、 直線性校正時における光変位計の出力を光変位計の期待
される上下位置に対応付ける直線性補正テーブルを作成
する直線性補正手段と、 架台校正時における光変位計の出力と、校正板の板厚と
、に基づき基準距離を求め、この基準距離を光変位計の
左右位置に対応付ける校正テーブルを作成する架台補正
手段と、 直線性補正テーブルを参照して光変位計と被測定体との
距離を補正し、光変位計の左右位置により校正テーブル
を参照して基準距離を補正し、光変位計の上下方向移動
量、補正された距離及び基準距離に基づき被測定体の板
厚を演算し平均する板厚演算手段と、 を備えることを特徴とする自動板厚測定装置。
[Claims] A light beam is arranged above and below the conveyance line for conveying the object to be measured, in pairs and separated by a predetermined reference distance, and irradiates the object to be measured with a light beam and converts it into reflected light. a plurality of pairs of optical displacement meters that calculate the distance to the object to be measured, and a predetermined plate whose tip has an L-shaped bend and whose tip is placed outside the measurement area of the optical displacement meter when measuring the thickness of the object to be measured. a thickness calibration plate; a rotating means for rotating the calibration plate so that its tip is positioned at a predetermined position that blocks the light beam emitted from the optical displacement meter during calibration; and a horizontal mechanism for vibrating the calibration plate in the left-right direction during calibration. During measurement, the horizontal position of the optical displacement meter is controlled so as to draw a predetermined trajectory on the object to be measured, and the vertical position of the optical displacement meter is controlled to be at the position determined according to the plate thickness standard of the object to be measured. position control means that moves the optical displacement meter vertically at a predetermined pitch during linearity calibration, and moves the optical displacement meter horizontally at a predetermined interval during mount calibration; linearity correction means for creating a linearity correction table that associates the output of the optical displacement meter with the expected vertical position of the optical displacement meter; and a mount correction means that creates a calibration table that associates this reference distance with the left and right positions of the optical displacement meter, and a linearity correction table that corrects the distance between the optical displacement meter and the object to be measured. Plate thickness calculating means for correcting a reference distance by referring to a calibration table based on the left and right positions, and calculating and averaging the plate thickness of the object to be measured based on the vertical movement amount of the optical displacement meter, the corrected distance, and the reference distance; An automatic plate thickness measuring device comprising:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN114166163A (en) * 2020-09-11 2022-03-11 由田新技股份有限公司 Linear displacement correction method and detection apparatus using the same

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