JPH0676176A

JPH0676176A - ビームセンサ

Info

Publication number: JPH0676176A
Application number: JP4225917A
Authority: JP
Inventors: Yoshimasa Suzuki; 芳正鈴木
Original assignee: Atsumi Electric Co Ltd
Current assignee: Atsumi Electric Co Ltd
Priority date: 1992-08-25
Filing date: 1992-08-25
Publication date: 1994-03-18
Anticipated expiration: 2016-07-30
Also published as: JP3193781B2

Abstract

(57)【要約】【目的】ビームセンサシステムにおいて光軸調整を容
易に行う。【構成】制御部４は、受光信号処理部３での受光レベ
ルをレベルメータ７に表示すると共に、受光したパルス
列を復号化してその値をレベルメータ６に表示する。更
に、受光信号処理部３での受光レベルを符号化して投光
手段Ｔ₁ から投光させる。同様に制御部１１は、受光信
号処理部１０での受光レベルをレベルメータ１３に表示
すると共に、受光したパルス列を復号化してその値をレ
ベルメータ１４に表示する。更に受光信号処理部１０で
の受光レベルを符号化して投光手段Ｔ₂ から投光させ
る。従って、作業者はレベルメータ６，７，１３，１４
に表示される値が最大となるようにＴ₁ ，Ｒ₁ ，Ｔ₂ ，
Ｒ₂ の各光学系の角度調整を行うことによって光軸調整
を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、侵入者検知を行うため
のビームセンサに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、侵入者検知を行うシステムの一つ
として、赤外線ビーム（以下、単にビームと称す）を投
光するビームセンサ、即ち投光器と、投光器からのビー
ムを受光するビームセンサ、即ち受光器とを対向させて
配置するビームセンサシステムが知られており、このビ
ームセンサシステムにおいては受光器に入射する赤外線
量によって侵入者の有無を検知している。従って、ビー
ムセンサシステムにおいては投光器の投光光学系と受光
器の受光光学系を正しく対向させるために光軸調整の作
業が必要であり、そのため従来においては、次のような
作業を行っていた。

【０００３】投光器側と受光器側にそれぞれ作業者が付
き、それぞれ目視あるいは照準器により概略の光軸合わ
せを行った後、投光器からビームを投光した状態で、例
えばまず投光器の投光光学系の左右角度微調整摘みをド
ライバー等により徐々に所定の方向に回転させる。そし
てそのとき受光器側の作業者は、受光器における赤外線
受光レベルをテスター等で測定し、受光レベルが最大と
なる位置を通過して低下し始めると投光器側の作業者に
対して当該微調整摘みを逆方向に回転させるようにトラ
ンシーバー等により連絡する。

【０００４】この連絡を受けると投光器側の作業者は当
該微調整摘みを先程とは逆方向に徐々に回転させる。こ
のとき受光器側の作業者は受光レベルを測定し、先程と
同様に、受光レベルが最大となる位置を通過して低下し
始めると投光器側の作業者に対して当該微調整摘みを逆
方向に回転させるように連絡する。以上の操作を何回か
繰り返し行うことによって投光器側の作業者は投光光学
系の左右角度を受光器の受光レベルが略最大となる位置
に固定する。次にその位置で投光光学系の上下角度微調
整摘みをドライバー等により操作し、上述したと同様に
して投光光学系の上下角度を受光器の受光レベルが略最
大となる位置に固定する。

【０００５】以上の作業が終了すると投光器側の作業者
はその旨を受光器側の作業者に連絡する。これによって
受光器側の作業者は受光レベルを測定しながら、例えば
まず受光光学系の左右角度微調整摘みをドライバー等に
より操作して受光レベルが略最大となる位置を定め、次
にその位置で受光レベルを測定しながら検出レベルが略
最大となるように受光光学系の上下角度を定める。以上
の作業を通常は２回または３回行う。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
のビームセンサの光軸調整に際しては少なくとも二人の
作業者が必要であり、しかも時間がかかるばかりでな
く、作業には高度の熟練が要求されるものであった。こ
れは特に投光器と受光器の距離が離れる程顕著である。
従って作業効率の改善が強く望まれていた。

【０００７】本発明は、上記の課題を解決するものであ
って、一人で容易に光軸調整を行うことができるビーム
センサを提供することを目的とするものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のビームセンサは、投光手段と、受光手段
と、前記受光手段における受光レベルを符号化し、その
符号化した信号により赤外線ビームを変調して前記投光
手段から投光する処理を行う信号処理手段とを備えるこ
とを特徴とする。

【０００９】また、本発明のビームセンサは、第１の光
学系の略焦点位置に配置された第１投光手段及び第１受
光手段と、第２の光学系の略焦点位置に配置された第２
投光手段及び第２受光手段と、前記第１受光手段におけ
る受光レベルを符号化し、その符号化した信号により赤
外線ビームを変調して前記第１投光手段から投光すると
共に、前記第２受光手段における受光レベルを符号化
し、その符号化した信号により赤外線ビームを変調して
前記第２投光手段から投光する処理を行う信号処理手段
とを備えることを特徴とする。

【００１０】

【作用及び発明の効果】請求項１記載のビームセンサ
は、投光手段と、受光手段と、信号処理手段とを備え
る。そして、信号処理手段は、受光手段における受光レ
ベルを符号化し、その符号化した信号により赤外線ビー
ムを変調して投光手段から投光する処理を行う。

【００１１】従って、このビームセンサを対向して配置
して構築したビームセンサシステムにおいては、光軸調
整に際しては対向するビームセンサの投光手段から投光
された符号化された赤外線ビームを受光し、その符号を
復号化し、表示することによって、対向するビームセン
サにおける受光レベルを知ることができるので、一人で
も確実に光軸調整を行うことができる。

【００１２】また、請求項４記載のビームセンサは、第
１投光手段、第２投光手段、第１受光手段、第２受光手
段及び信号処理手段を備える。第１投光手段と第１受光
手段とは第１の光学系の略焦点位置に配置されてなり、
第２投光手段と第２受光手段とは第２の光学系の略焦点
位置に配置されている。そして、信号処理手段は、第１
受光手段における受光レベルを符号化し、その符号化し
た信号により赤外線ビームを変調して第１投光手段から
投光すると共に、第２受光手段における受光レベルを符
号化し、その符号化した信号により赤外線ビームを変調
して第２投光手段から投光する処理を行う。

【００１３】従って、このビームセンサを対向して配置
して構築したビームセンサシステムにおいては、光軸調
整に際しては対向するビームセンサの二つの投光手段か
ら投光された符号化された赤外線ビームを受光し、その
符号を復号化し、表示することによって、対向するビー
ムセンサにおける受光レベルを知ることができるので、
一人でも確実に光軸調整を行うことができる。

【００１４】

【実施例】以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
図１は本発明に係るビームセンサを用いて構築されるビ
ームセンサシステムの一実施例の構成を示す図であり、
図中、１は第１ビームセンサ、２は信号処理手段、３は
受光信号処理部、４は制御部、５は駆動部、６、７はレ
ベルメータ、８は第２ビームセンサ、９は信号処理手
段、１０は受光信号処理部、１１は制御部、１２は駆動
部、１３、１４はレベルメータ、Ｔ₁ ，Ｔ₂ は投光手
段、Ｒ₁ ，Ｒ₂ は受光手段を示す。

【００１５】投光手段Ｔ₁ は赤外線発光素子及び反射鏡
等で構成される投光光学系を備えており、駆動部５から
供給される駆動パルスによりビームを投光する。駆動部
５は制御部４により駆動されるが、その制御の態様につ
いては後述する。受光手段Ｒ₁ は受光素子及び反射鏡等
で構成される受光光学系を備えており、受光素子から出
力される受光信号は受光信号処理部３で処理される。

【００１６】受光信号処理部３は、例えば図２に示すよ
うに、受光手段Ｒ₁ からの受光信号を増幅する増幅器４
０、受光信号のピーク値を検出するためのピーク検波回
路４１、周知の構成からなる波形整形回路４２で構成さ
れる。これらのピーク検波回路４１及び波形整形回路４
２の出力は共に制御部４に供給される。なお、ピーク検
波回路４１の出力信号は受光手段Ｒ₁ での受光レベルを
示し、波形整形回路４２の出力信号は受光したパルス列
を示していることは明かである。

【００１７】制御部４は、マイクロプロセッサ及びその
周辺回路で構成され、受光信号処理部３の出力に基づい
て駆動部５を制御したり、レベルメータ６、７に受光信
号のレベルの表示を行ったりする。その動作の詳細につ
いては後述する。レベルメータ６、７はレベル表示を行
うことができるものであればどのようなものでもよく、
例えば針式のものでもよく、あるいは発光ダイオード等
の発光素子が複数個配置されたもの、または数値を表示
できるものを用いることもできるものである。なお、レ
ベルメータ６、７は第１ビームセンサ１に固定的に設け
られていてもよく、あるいは第１ビームセンサ１に着脱
自在に取り付け可能となされていてもよいものである。

【００１８】投光手段Ｔ₂ は受光手段Ｒ₁ と対向して配
置されるものであって、赤外線発光素子及び反射鏡等で
構成される投光光学系を備えており、駆動部１２から供
給される駆動パルスによりビームを投光する。駆動部１
２は制御部１１により駆動されるが、その制御の態様に
ついては後述する。受光手段Ｒ₂ は投光手段Ｔ₁ と対向
して配置されるものであって、受光素子及び反射鏡等で
構成される受光光学系を備えており、受光素子から出力
される受光信号は受光信号処理部１０で処理される。受
光信号処理部１０の構成は受光信号処理部３と同様であ
る。

【００１９】制御部１１は、マイクロプロセッサ及びそ
の周辺回路で構成され、受光信号処理部１０の出力に基
づいて駆動部１２を制御したり、レベルメータ１３，１
４に受光レベルの表示を行ったりする。また、制御部１
１は侵入者ありと判断した場合には警報信号を出力する
が、これらの動作の詳細については後述する。レベルメ
ータ１３，１４についてはレベルメータ６、７と同様で
ある。

【００２０】次に、図１に示す構成の動作について説明
する。まず光軸調整時の動作については次のようであ
る。なお、光軸調整に先立って第１ビームセンサ１及び
第２ビームセンサ８は目視あるいは照準器により概略の
光軸合わせが行われていることは当然である。また、光
軸調整の際には第１ビームセンサ１の制御部４及び第２
ビームセンサ８の制御部１１は光軸調整のためのモード
にセットされる。

【００２１】この状態において、制御部４は次の動作を
行う。制御部４は、受光信号処理部３からの受光レベル
を取り込み、その受光レベルをレベルメータ７に表示す
る。これによってレベルメータ７には投光手段Ｔ₂ から
投光されたビームを受光手段Ｒ₁ で受光した際の受光レ
ベルが表示され、このことによって受光手段Ｒ₁ と投光
手段Ｔ₂ との光軸調整の度合いを知ることができる。

【００２２】また制御部４は、受光信号処理部３の波形
整形回路４２から受光信号のパルス列を取り込み、その
パルス列で定められている符号を復号してその値をレベ
ルメータ６に表示する。これによって、後述するところ
から明らかなように、レベルメータ６には投光手段Ｔ₁
から投光されたビームを受光手段Ｒ₂ で受光した際の受
光レベルが表示され、このことによって投光手段Ｔ₁ と
受光手段Ｒ₂ との光軸調整の度合いを知ることができ
る。

【００２３】更に制御部４は、受光信号処理部３から取
り込んだ受光レベルを所定の方式に従って符号化し、そ
の符号化した信号を駆動部５に与える。駆動部５は与え
られた符号化信号に対応したパルス列を有する駆動信号
を生成し、投光手段Ｔ₁ に供給する。これによって投光
手段Ｔ₁ からは、受光手段Ｒ₁ における受光レベルの情
報を含むビームが投光される。

【００２４】ここで、受光手段Ｒ₁ での受光レベルと駆
動信号のパルス列とをどのように対応させるかは任意で
ある。例えば、受光レベルを所定のビット数、例えば４
ビットに符号化し、その４ビットの符号でビームを変調
する方法が考えられる。図３はその一例を示す図であ
り、受光レベルが４ビットで「０１１０」で表される場
合の駆動信号のパルス列の例を示している。図３におい
ては、４ビットの符号の開始を示す先頭パルスに続いて
各ビットの値が最上位ビットから順次配列されており、
このような駆動信号を所定の周期で繰り返し発生させる
ことによって、受光手段Ｒ₁ での受光レベルを第２セン
サ８に伝送することができる。なお、図３において破線
で示すパルスは値が「０」のビット、即ちビームの投光
が行われないビットを示している。

【００２５】また他の方法としては、受光レベルに応じ
て駆動信号のパルスの周波数を異ならせるようにしても
よいものである。例えば図４に示すように、受光レベル
Ｖ_Rと駆動信号のパルスの周波数とを対応付けたテーブ
ルを制御部４に備えておき、受光レベルを検知した場合
にこのテーブルを参照して駆動信号のパルスの周波数を
求め、当該周波数のパルス列を有する駆動信号の発生を
駆動部５に指示するようにしてもよいものである。例え
ば図４に示す例の場合、受光レベルＶ_R がＶ₁以上、Ｖ₂
未満の場合には制御部４は当該テーブルから駆動信号
の周波数としてｆ₂ を求め、駆動部５に対して周波数ｆ
₂ の駆動信号の発生を指示する。これによって投光手段
Ｔ₁ からは（１／ｆ₂ ）の繰り返し周期を有するパルス
列のビームが投光される。以上のようにして投光手段Ｔ
₁ から投光されたビームは受光手段Ｒ₂ に受光される。

【００２６】次に第２ビームセンサ８の制御部１１の動
作について説明する。制御部１１は、受光信号処理部１
０からの受光レベルを取り込み、その受光レベルをレベ
ルメータ１３に表示する。これによってレベルメータ１
３には投光手段Ｔ₁ から投光されたビームを受光手段Ｒ
₂ で受光した際の受光レベルが表示され、このことによ
って投光手段Ｔ₁ と受光手段Ｒ₂ との光軸調整の度合い
を知ることができる。

【００２７】また制御部１１は、受光信号処理部１０か
ら受光信号のパルス列を取り込み、そのパルス列で定め
られている符号を復号してその値をレベルメータ１４に
表示する。これによって、レベルメータ１４には投光手
段Ｔ₂ から投光されたビームを受光手段Ｒ₁ で受光した
際の受光レベルが表示され、このことによって受光手段
Ｒ₁ と投光手段Ｔ₂ との光軸調整の度合いを知ることが
できる。

【００２８】更に制御部１１は、受光信号処理部１０か
ら取り込んだ受光レベルを所定の方式に従って符号化
し、その符号化した信号を駆動部１２に与える。駆動部
１２は与えられた符号化信号に対応したパルス列を有す
る駆動信号を生成し、投光手段Ｔ₂ に供給する。これに
よって投光手段Ｔ₂ からは、受光手段Ｒ₂ における受光
レベルの情報を含むビームが投光される。ここで、受光
手段Ｒ₂ での受光レベルと駆動信号のパルス列との対応
付けについては上述したと同様である。以上のようにし
て投光手段Ｔ₂ から投光されたビームは受光手段Ｒ₁ に
受光される。

【００２９】従って、第１ビームセンサ１の光軸調整を
行う場合において、投光手段Ｔ₁ の光軸調整を行うに際
しては、作業者はレベルメータ６に表示される値が最大
になるように投光手段Ｔ₁ の投光光学系の上下左右の角
度を調整すればよく、また受光手段Ｒ₁ の光軸調整を行
うに際しては、作業者はレベルメータ７に表示される値
が最大になるように受光手段Ｒ₁ の受光光学系の上下左
右の角度を調整すればよい。

【００３０】同様に第２ビームセンサ８の光軸調整を行
う場合において、投光手段Ｔ₂ の光軸調整を行うに際し
ては、作業者はレベルメータ１４に表示される値が最大
になるように投光手段Ｔ₂ の投光光学系の上下左右の角
度を調整すればよく、また受光手段Ｒ₂ の光軸調整を行
うに際しては、作業者はレベルメータ１３に表示される
値が最大になるように受光手段Ｒ₂ の受光光学系の上下
左右の角度を調整すればよい。

【００３１】なお、第１ビームセンサ１と第２ビームセ
ンサ８の光軸調整が行われていない状態であっても投光
手段Ｔ₁ ，Ｔ₂ から投光されるビームは距離と共に広が
るので、概略対向していれば受光レベルは小さいが受光
手段Ｒ₁ は投光手段Ｔ₂ からのビームを、受光手段Ｒ₂
は投光手段Ｔ₁ からのビームを受光することができるも
のである。以上のようにして一人の作業者でも容易に光
軸調整を行うことができるので、作業効率を大幅に改善
することができる。

【００３２】次に通常運用時の動作について説明する。
通常運用時の動作には次の二つの態様があり、ディップ
スイッチ等によりいずれかの動作が選択できるようにな
されている。

【００３３】まず第１の態様については次のようであ
る。制御部１１は第１の態様が設定されると駆動部１２
に対して予め定められている通常運用時の駆動パルスの
発生を指示する。これにより投光手段Ｔ₂ からは所定の
形態のビームが投光される。また、制御部１１は、受光
信号処理部１０から取り込んだ受光レベルにより受光手
段Ｒ₂ において投光手段Ｔ₁ からのビームが受光されて
いると判断される場合には警報信号を出力しないが、投
光手段Ｔ₁ からのビームが所定時間以上、例えば30msec
〜50msec以上の時間に渡って受光されないことを検知す
ると、侵入者ありと判断して警報信号を出力する。な
お、この30msec〜50msecという時間は侵入者がビームを
横切るときの最短時間として従来広く採用されている時
間である。

【００３４】また制御部４は第１の態様が設定された場
合には、受光信号処理部３から取り込んだ受光レベルに
より、受光手段Ｒ₁ において投光手段Ｔ₂ からのビーム
が受光されていると判断される場合には駆動部５に対し
て通常運用時の駆動パルスの発生を指示するが、投光手
段Ｔ₂ からのビームが受光されていないと判断される場
合には駆動部５に対して駆動パルスの発生を禁止する。

【００３５】従って、投光手段Ｔ₁ からのビームが所定
時間以上遮断された場合には勿論のこと、投光手段Ｔ₂
からの赤外線ビームが所定時間以上遮断された場合にも
受光手段Ｒ₂ では正常な受光は行われないので、制御部
１１は警報信号を出力する。

【００３６】以上が第１の態様であり、次に第２の態様
について説明する。第２の態様においては制御部１１の
動作は上記の第１の態様と同じであり、制御部４の動作
のみが異なっている。即ち、第２の態様が設定された場
合には制御部４は、受光手段Ｒ₁ での受光レベルの如何
に拘らず、駆動部５に対して常時駆動パルスの発生を指
示する。従って第２の態様においては、投光手段Ｔ₁ か
らのビームが所定時間以上遮断された場合にのみ制御部
１１から警報信号が出力され、投光手段Ｔ₂ からのビー
ムのみが遮断された場合には受光手段Ｒ₂ では正常な受
光が行われるので警報信号は出力されないことになる。

【００３７】以上、本発明に係るビームセンサを用いた
ビームセンサシステムの一実施例について説明したが、
次に図５を参照して本発明に係るビームセンサを用いた
ビームセンサシステムの他の実施例について説明する。

【００３８】図５において、第１ビームセンサ２０は、
センサユニットＳ₁ ，Ｓ₂ 、信号処理手段２８、レベル
メータ２６、２７を備えている。センサユニットＳ₁ は
一つの光学系と、赤外線発光素子及び赤外線受光素子を
備えている。そしてこの赤外線発光素子及び赤外線受光
素子は共に光学系の略焦点の位置に配置されている。即
ち、投光手段Ｔ₁ 及び受光手段Ｒ₁ は一つの光学系を共
用している。センサユニットＳ₂ についても同様であ
る。

【００３９】信号処理手段２８は、制御部２１、投光手
段Ｔ₁ を駆動するための駆動部２２、受光手段Ｒ₁ から
の信号を処理するための受光信号処理部２３、投光手段
Ｔ₂を駆動するための駆動部２４、受光手段Ｒ₂ からの
信号を処理するための受光信号処理部２５を備えてい
る。制御部２１はマイクロプロセッサ及びその周辺回路
で構成され、受光信号処理部２３、２５の出力に基づい
て駆動部２２，２４を制御したり、レベルメータ２６，
２７に受光レベルの表示を行ったりする。その動作の詳
細については後述する。レベルメータ２６，２７につい
ては上述した実施例で述べたと同様である。また受光信
号処理部２３、２５についても上記の実施例で説明した
と同様に図２に示す構成を備えている。

【００４０】また、第２ビームセンサ３０は、第１セン
サ２０のセンサユニットＳ₁ ，Ｓ₂とそれぞれ対向して
配置されるセンサユニットＳ₃ ，Ｓ₄ 、信号処理手段３
１、レベルメータ３６，３７を備えている。センサユニ
ットＳ₃ ，Ｓ₄ の構成はセンサユニットＳ₁ と同じであ
る。

【００４１】信号処理手段３８は、制御部３１、投光手
段Ｔ₃ を駆動するための駆動部３２、受光手段Ｒ₃ から
の信号を処理するための受光信号処理部３３、投光手段
Ｔ₄を駆動するための駆動部３４、受光手段Ｒ₄ からの
信号を処理するための受光信号処理部３５を備えてい
る。制御部３１は受光信号処理部３３、３５の出力に基
づいて駆動部３２，３４を制御したり、レベルメータ３
６，３７に受光レベルの表示を行ったり、警報信号を出
力したりする。その動作の詳細については後述する。受
光信号処理部３３，３５及びレベルメータ３６，３７に
ついては上述したと同様である。

【００４２】次に、図５に示す構成の動作について説明
する。まず光軸調整時の動作については次のようであ
る。なお、光軸調整に先立ってセンサユニットＳ₁ とＳ
₃ 、及びセンサユニットＳ₂ とＳ₄ は目視あるいは照準
器により概略の光軸合わせが行われていること、及び第
１ビームセンサ２０の制御部２１、第２ビームセンサ３
０の制御部３１が光軸調整のためのモードにセットされ
ることは上述したと同様である。

【００４３】この状態において、制御部２１は次の動作
を行う。制御部２１は、受光信号処理部２３の波形整形
回路から受光信号のパルス列を取り込み、そのパルス列
で定められている符号を復号してその値をレベルメータ
２６に表示する。これによって、後述するところから明
らかなように、レベルメータ２６には投光手段Ｔ₁ から
投光されたビームを受光手段Ｒ₃ で受光した際の受光レ
ベルが表示され、このことによってセンサユニットＳ₁
とセンサユニットＳ₃ との光軸調整の度合いを知ること
ができる。

【００４４】また制御部２１は、受光信号処理部２３か
ら取り込んだ受光レベルを所定の方式に従って符号化
し、その符号化した信号を駆動部２２に与える。駆動部
２２は与えられた符号化信号に対応したパルス列を有す
る駆動信号を生成し、投光手段Ｔ₁ に供給する。これに
よって投光手段Ｔ₁ からは、受光手段Ｒ₁ における受光
レベルの情報を含むビームが投光される。なお、受光手
段Ｒ₁ での受光レベルと駆動信号のパルス列との対応付
けについては上述した第１の実施例で説明したと同様で
ある。以下、同様である。

【００４５】以上はセンサユニットＳ₁ に関する処理で
あるが、制御部２１はセンサユニットＳ₂ に関しても同
じ処理を行う。即ち、制御部２１は、受光信号処理部２
５から受光信号のパルス列を取り込み、そのパルス列で
定められている符号を復号してその値をレベルメータ２
７に表示する。これによって、レベルメータ２７には投
光手段Ｔ₂ から投光されたビームを受光手段Ｒ₄ で受光
した際の受光レベルが表示され、このことによってセン
サユニットＳ₂ とセンサユニットＳ₄ との光軸調整の度
合いを知ることができる。

【００４６】また制御部２１は、受光信号処理部２５か
ら取り込んだ受光レベルを所定の方式に従って符号化
し、その符号化した信号を駆動部２４に与える。これに
よって投光手段Ｔ₂ からは、受光手段Ｒ₂ における受光
レベルの情報を含むビームが投光される。以上のように
して投光手段Ｔ₁ ，Ｔ₂ から投光されたビームはそれぞ
れ受光手段Ｒ₃ ，Ｒ₄ に受光される。

【００４７】次に第２ビームセンサ３０の制御部３１の
動作について説明する。制御部３１は、受光信号処理部
３３の波形整形回路から受光信号のパルス列を取り込
み、そのパルス列で定められている符号を復号してその
値をレベルメータ３６に表示する。これによって、レベ
ルメータ３６には投光手段Ｔ₃ から投光されたビームを
受光手段Ｒ₁ で受光した際の受光レベルが表示され、こ
のことによってセンサユニットＳ₁ とセンサユニットＳ
₃ との光軸調整の度合いを知ることができる。

【００４８】また制御部３１は、受光信号処理部３３か
ら取り込んだ受光レベルを所定の方式に従って符号化
し、その符号化した信号を駆動部３２に与える。駆動部
３２は与えられた符号化信号に対応したパルス列を有す
る駆動信号を生成し、投光手段Ｔ₃ に供給する。これに
よって投光手段Ｔ₃ からは、受光手段Ｒ₃ における受光
レベルの情報を含むビームが投光される。

【００４９】以上はセンサユニットＳ₃ に関する処理で
あるが、制御部３１はセンサユニットＳ₄ に関しても同
じ処理を行う。即ち、制御部３１は、受光信号処理部３
５から受光信号のパルス列を取り込み、そのパルス列で
定められている符号を復号してその値をレベルメータ３
７に表示する。これによって、レベルメータ３７には投
光手段Ｔ₄ から投光されたビームを受光手段Ｒ₂ で受光
した際の受光レベルが表示され、このことによってセン
サユニットＳ₂ とセンサユニットＳ₄ との光軸調整の度
合いを知ることができる。

【００５０】また制御部３１は、受光信号処理部３５か
ら取り込んだ受光レベルを所定の方式に従って符号化
し、その符号化した信号を駆動部３４に与える。これに
よって投光手段Ｔ₄ からは、受光手段Ｒ₄ における受光
レベルの情報を含むビームが投光される。以上のように
して投光手段Ｔ₃ ，Ｔ₄ から投光されたビームはそれぞ
れ受光手段Ｒ₁ ，Ｒ₂ に受光される。

【００５１】従って、第１ビームセンサ２０の光軸調整
を行う場合において、センサユニットＳ₁ の光軸調整を
行うに際しては、作業者はレベルメータ２６に表示され
る値が最大になるようにセンサユニットＳ₁ の光学系の
上下左右の角度を調整すればよく、またセンサユニット
Ｓ₂ の光軸調整を行うに際しては、作業者はレベルメー
タ２７に表示される値が最大になるようにセンサユニッ
トＳ₂ の光学系の上下左右の角度を調整すればよい。

【００５２】同様に第２ビームセンサ３０の光軸調整を
行う場合において、センサユニットＳ₃ の光軸調整を行
うに際しては、作業者はレベルメータ３６に表示される
値が最大になるようにセンサユニットＳ₃ の光学系の上
下左右の角度を調整すればよく、またセンサユニットＳ
₄ の光軸調整を行うに際しては、作業者はレベルメータ
３７に表示される値が最大になるようにセンサユニット
Ｓ₄ の光学系の上下左右の角度を調整すればよい。

【００５３】以上のようにして一人の作業者でも容易に
光軸調整を行うことができるので、作業効率を大幅に改
善することができる。

【００５４】次に通常運用時の動作について説明する。
なお、以下においては侵入者によりビームが遮断される
場合には、対向するセンサユニットの間に張られる２本
のビームは同時に遮断されるものとする。この妥当性は
明かである。なぜなら上述したように各センサユニット
の投光手段と受光手段は一つの光学系を共用しているか
ら、センサユニットＳ₁ とＳ₃ との間に張られる２本の
ビーム及びセンサユニットＳ₂ とＳ₄ との間に張られる
２本のビームの間隔は非常に狭いものであるからであ
る。

【００５５】通常運用時には制御部２１は、受光信号処
理部２３からの受光レベルにより、受光手段Ｒ₁ におい
て投光手段Ｔ₃ からのビームが受光されていると判断さ
れる場合には駆動部２２に対して通常運用時の駆動パル
スの発生を指示するが、投光手段Ｔ₃ からのビームが受
光されていないと判断される場合には駆動部２２に対し
て駆動パルスの発生を禁止する。同様に、受光手段Ｒ₂
において投光手段Ｔ₄からのビームが受光されていると
判断される場合には駆動部２４に対して通常運用時の駆
動パルスの発生を指示するが、投光手段Ｔ₄ からのビー
ムが受光されていないと判断される場合には駆動部２４
に対して駆動パルスの発生を禁止する。

【００５６】これに対して制御部３１は、常時、駆動部
３２，３４に対して予め定められている通常運用時の駆
動パルスの発生を指示する。これにより投光手段Ｔ₃ ，
Ｔ₄からは所定の形態のビームが投光される。また、制
御部３１は侵入者有りを示す警報信号を出力するが、ど
のような場合に警報信号を出力させるかについては、受
光信号処理部３３，３５からの受光レベルにより、投光
手段Ｔ₁ ，Ｔ₂ からのビームが共に所定時間以上受光さ
れない場合にのみ警報信号を出力させる（以下、これを
第１態様と称す）ように設定することもできるし、投光
手段Ｔ₁ ，Ｔ₂からのビームの一方のビームが所定時間
以上受光されない場合に警報信号を出力させる（以下、
これを第２態様と称す）ように設定することもできる。
これらの設定はディップスイッチ等により行うことがで
きることは当業者に明かである。

【００５７】従って、制御部３１が第１態様に設定され
た場合においては、センサユニットＳ₁ とＳ₃ との間に
張られるビーム及びセンサユニットＳ₂ とＳ₄ との間に
張られるビームの両方のビームが共に所定時間以上遮断
された場合にのみ警報信号が出力され、また、制御部３
１が第２態様に設定された場合においては、センサユニ
ットＳ₁ とＳ₃ との間に張られるビームのみが所定時間
以上遮断された場合にも警報信号が出力され、センサユ
ニットＳ₂ とＳ₄ との間に張られるビームのみが所定時
間以上遮断された場合にも警報信号が出力される。

【００５８】以上、本発明の実施例について説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能であることは当業者に明らかであろう。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の構成を示す図である。

【図２】受光信号処理部の構成例を示す図である。

【図３】受光レベルと駆動パルスとの対応付けの一例
を示す図である。

【図４】受光レベルと駆動パルスとの対応付けの他の
例を示す図である。

【図５】本発明の他の実施例の構成を示す図である。

【符号の説明】

１…第１ビームセンサ、２…信号処理手段、３…受光信
号処理部、４…制御部、５…駆動部、６、７…レベルメ
ータ、８…第２ビームセンサ、９…信号処理手段、１０
…受光信号処理部、１１…制御部、１２…駆動部、１
３、１４…レベルメータ、Ｔ₁ ，Ｔ₂ …投光手段、Ｒ
₁ ，Ｒ₂ …受光手段。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】投光手段と、受光手段と、前記受光手段
における受光レベルを符号化し、その符号化した信号に
より赤外線ビームを変調して前記投光手段から投光する
処理を行う信号処理手段とを備えることを特徴とするビ
ームセンサ。
【請求項２】請求項１記載のビームセンサにおいて、
二つのレベル表示手段が着脱可能にあるいは固定的に備
えられてなり、前記信号処理手段は前記受光手段で受光
した符号化された信号を復号して一方のレベル表示手段
に表示すると共に、前記受光手段における受光レベルを
他方のレベル表示手段に表示することを特徴とするビー
ムセンサ。
【請求項３】前記信号処理手段は赤外線ビームを所定
時間を越えて受光しない場合に侵入者有りを示す信号を
出力することを特徴とする請求項１または２記載のビー
ムセンサ。
【請求項４】第１の光学系の略焦点位置に配置された
第１投光手段及び第１受光手段と、第２の光学系の略焦
点位置に配置された第２投光手段及び第２受光手段と、
前記第１受光手段における受光レベルを符号化し、その
符号化した信号により赤外線ビームを変調して前記第１
投光手段から投光すると共に、前記第２受光手段におけ
る受光レベルを符号化し、その符号化した信号により赤
外線ビームを変調して前記第２投光手段から投光する処
理を行う信号処理手段とを備えることを特徴とするビー
ムセンサ。
【請求項５】請求項４記載のビームセンサにおいて、
二つのレベル表示手段が着脱可能にあるいは固定的に備
えられてなり、前記信号処理手段は前記第１受光手段で
受光した符号化された信号を復号して一方のレベル表示
手段に表示すると共に、前記第２受光手段で受光した符
号化された信号を復号して他方のレベル表示手段に表示
することを特徴とするビームセンサ。
【請求項６】前記信号処理手段は、前記第１受光手段
及び／または第２受光手段で赤外線ビームを所定時間を
越えて受光しない場合に侵入者有りを示す信号を出力す
ることを特徴とする請求項４または５記載のビームセン
サ。