JPH0668773B2 - 感光材料の欠陥位置情報検出方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、感光材料の製造工程で感光材料を走行させ
ながら非接触状態で感光材料の欠陥位置を指定する感光
材料の欠陥位置情報検出方法に関するものである。

［従来の技術］ 例えば、写真フィルム等の感光材料の製造工程では、透
明フィルムベースに感光層を塗布してウェブを形成し、
その後このウェブを幅方向及び長さ方向に裁断して写真
フィルムとし、パトローネ等に収納している。

ところで、写真フィルムの感光層の表面に傷や汚れ等の
欠陥が生じていると、この欠陥を含む写真フィルムは、
パトローネ等に収納する前に検出して除去する必要があ
る。

このため、感光材料を搬送する搬送ローラに回転検出器
を設け、一方感光材料の走行路に欠陥検出器を設け、感
光材料の先頭縁を基準として長さ方向において欠陥の位
置を記録し、この記録に基づいて欠陥を含む部分を除去
するものがある。

［発明が解決しようとする課題］ しかし、このような方法では感光材料と搬送ローラとの
間に滑りが生じたり、或いは温度条件により感光材料の
長さ方向の寸法が変化することがあると、正確な欠陥の
位置を検出することができないため、検出位置の誤差分
を見込んでそれ以上の部分にわたって感光材料を廃棄し
なければならない。

また、複数の工程を走行するため、各工程での回転検出
器による長手位置の計尺に誤差が発生したり、或いは検
査試料とするため、感光材料の一部を途中で切落とすこ
とがあり、先頭縁の位置が変化する。従って、このよう
な先頭縁を基準とする方法では、欠陥部の長手方向の位
置を正確に検出することができない場合がある。

このような問題に対処するため、感光材料の長さ方向に
予め一定の間隔をもって位置情報を表示しておき、この
位置情報を検出して読み取り、この位置情報のうち特定
のものを基準とし、欠陥までの距離をパルス信号をカウ
ントして求めるようにすると、計尺上の誤差が少なくな
り、欠陥の位置を常に正確に検出することが可能にな
る。

この位置情報の表示は感光材料の走行を安定化する側部
のエンボスに、レーザー加工によって孔の配列を変えて
行なうようにすると、感光材料を走行させながら、しか
も非接触で形成することができ有利である。ところで、
この孔の径が大きいと、レーザー光によって感光材料を
溶かしてあけるため、ガスの発生が多くなったり、溶か
した部分が多く感光材料に付着するおそれがある。

従って、孔は極力小さい方が有利であるが、この場合に
は感光材料を比較的高速で搬送しながら位置情報の検出
を行なうため、感光材料に接触しないで、しかも応答性
に優れた検出法が要求される。

この検出法として光による検出法が考えられるが、この
光検出法では、特に、感光材料に光の影響を与えること
がないように、感光材料に応じて検出光を選択し、また
光量の調整を行なう必要がある。

この発明はかかる事情に鑑みてなされたもので、感光材
料の製造工程で感光材料に光による影響を与ることな
く、しかも欠陥の位置情報を応答よく検出することがで
きる感光材料の欠陥位置情報検出方法を提供することを
目的としている。

［課題を解決するための手段］ 前記課題を解決するために、この発明の感光材料の欠陥
位置情報検出方法は、感光材料の製造工程で全長の長さ
方向に欠陥に応じて穿孔により形成された位置情報を有
する感光材料を走行させ、その感光材料に発光部からス
リット及びフィルタを介して所定波長の紫外線の光量を
調節して照射し、感光材料の穿孔を透過する紫外線を受
光部で受光し、穿孔に基づく光量変化から感光材料に表
示された位置情報を読み取り、この位置情報から感光材
料の欠陥位置を指定することを特徴としている。

［作用］ この発明では、感光材料の製造工程で感光材料の全長の
長さ方向に穿孔により欠陥を表示する位置情報が付され
ており、この感光材料を走行させる。この感光材料に発
光部からスリット及びフィルタを介して所定波長の紫外
線の光量を調節して照射し、感光材料の穿孔を透過する
紫外線を受光部で受光し、穿孔に基づく光量変化から感
光材料の位置情報を感光材料に光による影響を与えるこ
となく、しかも応答よく読み取り、この位置情報から感
光材料の欠陥位置を指定する。

［実施例］ 以下、この発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説
明する。

第１図は感光材料を示している。感光材料１は、例え
ば、写真フィルムの製造工程におけるウェブが用いら
れ、ポリエチレンテレフタレートの製膜である透明フィ
ルムベースに、感光層及び補助的な役割を行なう種々の
層を塗布したものである。

この感光材料１の幅方向の両側端部にはエンボス２が加
工され、このエンボス２には一定の間隔Ｄで、感光材料
１の全長の長さ方向に、互いに異なる特定の位置情報Ａ
が穿孔によって形成されている。

感光材料１は矢印方向へ走行し、この走行方向に対して
右側（第１図上側）の位置情報Ａは感光材料１の先頭縁
３から一定間隔Ｄに形成され、走行方向に対して左側
（第１図下側）の位置情報Ａは右側の位置情報ＡからＤ
／２ずれた状態で、一定間隔Ｄに形成されている。

この位置情報Ａは穿孔の配列が互いに異なることによ
り、他の位置情報と区別される。

この実施例では感光材料１の両側に、1,2,3・・・の連
続番号で示す位置情報Ａが、例えば、10m間隔で表示さ
れている。

この1,2,3・・・の連続番号を穿孔で表示する場合に
は、例えば、「３」を２進法で右から表示すると、第２
図（Ａ）に示すようになる。

従って、第２図（Ｂ）に示すように、９個の等間隔の点
A1〜A9のうち、点A1,A2に孔をあける。即ち、孔のあい
た部分が２進法で表示される「１」に相当し、孔のあい
ていない部分が「０」に相当する。

この孔は、第２図に示すように、例えば、直径ｄは略0.
5mmで、点A1〜A9の互いの間隔は略20mmとすることがで
きる。

さらに、位置情報Ａを示す点A1〜A9のうち先頭の点A1よ
り前方側に点A1〜A9の互いの間隔より長い、例えば２倍
の長さ離れた位置に、感光材料１の長さ方向に並ぶ２個
の孔をあけてスタートビットS1,S2としている。また、
点A1〜A9のうち後尾の点A9よりも後方側に、前記スター
トビットと同様に２倍の長さ離れた位置に１個の孔があ
けられ、エンドビットE1としている。

このように、スタートビットS1,S2と、エンドビットE1
を形成しておくことによって、位置情報Ａを読み取る順
序が表示されるので、感光材料１の走行方向にかかわら
ず、位置情報Ａの読み取りを行なうことができる。

この感光材料１は、例えば、毎分120〜150mの比較的高
速で搬送され、その両端部の位置情報Ａを表示した部分
には、第３図に示すように情報検出装置の発光部７と受
光部８とが対向して配置されている。

発光部７の光源には紫外光を得る水銀放電灯が用いら
れ、この水銀放電灯の代表的な輝線を第４図に示す。こ
の実施例では波長が253.7nmの輝線を出力する低圧水銀
ランプ９が用いられ、この低圧水銀ランプ９は遮光箱10
内に配置されている。

低圧水銀ランプ９の光は、スリット板11のスリット11a
を介してレンズ部12に入射される。レンズ部12の前側に
はシャッタ13が配置され、このシャッタ13はソレノイド
14で開閉される。シャッタ13の両側にはシャッタ13の開
閉を検出するセンサ15が配置され、感光材料１が一定の
走行速度になるまで、シャッタ13で光路を遮断する。

レンズ部12には３枚のレンズ16,17,18と、フィルタ19が
備えられている。レンズ16は内側鏡胴20に支持され、レ
ンズ17は中央鏡胴21に支持され、レンズ18は外側鏡胴22
にフィルタ19とともに支持されている。レンズ部12は中
央鏡胴21を遮光箱10にビス23で固定されている。

前記フィルタ19は第５図に示すように、波長が253.7nm
の紫外線のみを透過する干渉フィルタが用いられてい
る。

ところで、この実施例の感光材料１はポリエチレンテレ
フタレートの製膜が用いられ、この感光材料１は第６図
に示す分光透過率特性を有している。即ち、波長が略32
0nmから以上の光を透過するが、波長が253.7nmの紫外光
は透過しない。

前記受光部８のレンズ部24は遮光箱25にビス26で固定さ
れ、レンズ部24の鏡胴27にはレンズ28が嵌合されてい
る。遮光箱25内には光電子倍増管29が配置され、この光
電子倍増管29の受光部にはレンズ28を透過した光がスリ
ット30を通り入力される。

この光電子倍増管29は入射光子数に応じて、２次電子放
出により光電子流を増倍する。これにより、穿孔５の配
列による光量の変化から、電気信号に変換して位置情報
Ａを読み取るようになっている。

次に、この実施例の作用について説明する。

感光材料１はポリエチレンテレフタレートの製膜に、例
えば、下引き層を介して感光層を形成したものである。
この感光材料１のポリエチレンテレフタレートの製膜及
び感光層等に生じたきず、気泡、付着異物等の欠陥部を
排除するために、欠陥部の検出が行なわれる。この欠陥
部の検出は感光材料１を裁断する前段の工程で、例え
ば、走行する感光材料１の表面に光をスキャンさせ、こ
の反射光の変化を検出して行なう。

このとき、感光材料１が所定の速度で走行していると、
発光部７のシャッタ13が開き、発光部７の低圧水銀ラン
プ９から出力される第４図に示す波長が253.7nmの紫外
光は、スリット板11のスリット11aを介して、レンズ部1
2に入射される。

この光は、レンズ部12で集光されるとともに、フィルタ
19で第５図及び第６図に示すように感光材料１を通過し
ない波長の微弱光量に調整され、感光材料１の位置情報
Ａを表示した部分に照射される。この光が位置情報Ａを
示す穿孔５を通過して、受光部８のレンズ28、スリット
30を介して光電子倍増管29に入射される。この光電子倍
増管29で穿孔５による光量の変化から、感光材料１の位
置情報Ａを読み取る。

この位置情報Ａは、マイクロコンピュータに順次記憶さ
れていき、欠陥の検出手段から検出信号が入力される
と、例えば、特定の位置情報Ａからその欠陥の検出信号
が入力されるまで、パルス信号の数をカウントして、特
定の位置情報Ａからの距離を演算して求める。

従って、感光材料１と搬送ローラとの間に滑りが生じた
り、或いは温度条件により感光材料１の長さ方向の寸法
が変化し、また各工程での回転検出器による計尺誤差が
発生したり、或いは検査試料とするため、感光材料１の
一部を途中で切落とし、その先頭縁の位置が変化するこ
とがあっても、先頭縁を基準としないで、感光材料１に
表示された位置情報Ａを検出して、その位置から欠陥部
の位置を求めるため、欠陥部の位置を正確に検出するこ
とができる。

この位置情報Ａの検出においては、感光材料１の位置情
報Ａは穿孔によって形成され、しかも感光材料１が比較
的高速で走行されるが、光検出法を採用しているため、
応答性に優れている。

さらに、低圧水銀ランプ９を採用し、波長が253.7nmの
紫外光を出力し、しかも干渉フィルタでこの光の選択
と、微弱光量に調整して感光材料１に入射し、その透過
光量を受光することで位置情報Ａを検出しているため、
感光材料１に検出光によるかぶりが発生しない。

また、感光材料に照射して情報を検出する光は、感光材
料を透過しない光が用いられるが、感光材料に影響を与
えないで、例えば、略10％程度までの透過する光は、情
報を検出する機能を有しているため、この発明では透過
しない光の範囲に含まれるものとする。

なお、この実施例は写真フィルムの欠陥を検出するため
の位置情報Ａの検出について説明したが、印画紙の欠陥
を検出する際の位置情報Ａの検出にも適用可能であり、
また、さらに他の感光材料の情報検出にも適用できる。

［発明の効果］ この発明は前記のように、感光材料の製造工程で感光材
料に発光部からスリット及びフィルタを介して所定波長
の紫外線の光量を調節して照射し、感光材料の穿孔を透
過する紫外線を受光部で受光し、穿孔に基づく光量変化
から感光材料の位置情報を感光材料に光による影響を与
えることなく、しかも応答よく読み取り、この位置情報
から感光材料の欠陥位置を指定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は感光材料に位置情報を表示した状態を示す平面
図、第２図（Ａ）及び（Ｂ）は位置情報を２進法で示す
場合の説明図、第３図は情報検出装置の一部断面図、第
４図は水銀放電灯の代表的な輝線を示す図、第５図は干
渉フィルタの分光透過率を示す図、第６図は感光材料の
分光透過率を示す図である。 １……感光材料 ２……エンボス ３……先頭縁 ４……エッジ ５……穿孔 ７……発光部 ８……受光部 ９……低圧水銀ランプ 12,24……レンズ部 19……フィルタ 29……光電子倍増管

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 澤住 庸生 東京都日野市さくら町１番地 小西六写真 工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−223127（ＪＰ，Ａ)

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】感光材料の製造工程で全長の長さ方向に欠
   陥に応じて穿孔により形成された位置情報を有する感光
   材料を走行させ、この感光材料に発光部からスリット及
   びフィルタを介して所定波長の紫外線の光量を調節して
   照射し、感光材料の穿孔を透過する紫外線を受光部で受
   光し、穿孔に基づく光量変化から感光材料に表示された
   位置情報を読み取り、この位置情報から感光材料の欠陥
   位置を指定することを特徴とする感光材料の欠陥位置情
   報検出方法。