JPH066753A - 誤り修整装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】エラーブロックと周辺ブロックとの境界のレベ
ル差を小さくしてエラーを目立たなくする。 【構成】エラー検出回路32は再生出力に訂正しきれない
エラーが発生している場合には、エラーフラグを修整演
算回路48，49に出力する。修整演算回路48，49はエラー
ブロックに隣接した２行の画素から垂直方向の差分平均
値を求め、エラーブロックに隣接した２列の画素から水
平方向の差分平均値を求める。更に、水平及び垂直方向
の差分平均値とエラーブロックの各画素位置とから、エ
ラーブロックの各画素の修整値を求める。この修整値を
用いることで、エラーが目立たなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ブロック符号化されて
伝送された画像データを受信して誤りを修整する誤り修
正装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、画像処理におけるディジタル技術
の進歩は著しく、誤り訂正技術及び高能率符号化は標準
化されている。ディジタル映像信号を磁気テープ上に記
録するディジタルビデオテープレコーダ（以下、ディジ
タルＶＴＲという）においても、記録データに誤り訂正
符号を付加して記録するようになっており、再生時に
は、記録データと誤り訂正符号との規則性を利用して、
記録データの誤りを訂正している。

【０００３】しかし、磁気テープの磁性面上の傷及びご
み等によって再生データの誤りが増大し、誤り訂正符号
だけでは訂正しきれないことがある。そこで、従来、
「ディジタルビデオ記録技術」（江藤良純他，日刊工業
新聞社刊ｐｐ１２２）において開示されている誤り修整
技術を採用することがある。図８はこの誤り修整技術を
説明するための説明図である。図中、直線は走査線を示
し、○印は誤っていない画素を示し、◎印は誤り画素を
示している。

【０００４】この修整方法は、誤っていない周辺画素を
用いた補間によって誤りを修整するものである。図８
（ａ），（ｂ）は水平画素間の補間を示している。図８
（ａ）では、誤り画素Ｘを直前の画素Ａと同一の値とす
る補間方法である。図８（ｂ）は、水平方向前後に隣接
した画素Ａ，Ｂを用い、誤り画素ＸをＸ＝１／２（Ａ＋
Ｂ）として補間するものである。図８（ｃ），（ｄ）は
垂直画素間の補間を示している。図８（ｃ）では、前走
査線の同一の位置の画素Ｃを誤り画素Ｘに代えて用い、
図８（ｄ）では、前後の走査線の同一位置の画素Ｃ，Ｄ
の平均（＝１／２（Ｃ＋Ｄ））を誤り画素Ｘに代えて用
いる。また、図８（ｅ）は水平垂直補間を示し、誤り画
素Ｘを前後左右の画素Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの平均によって求
めるものである。更に、図８（ｆ）は時間軸方向の画素
間、すなわち、１フィールド前の走査線の同一位置の画
素Ｅを誤り画素Ｘに置き代えて用いるものを示してい
る。

【０００５】ところで、映像データのデータ量は極めて
大きく、磁気テープ上にそのまま記録すると、高密度記
録の限界から長時間記録は困難である。そこで、民生用
のディジタルＶＴＲにおいては高能率符号化技術を採用
して映像データを圧縮することにより、テープ消費量を
低減して長時間記録を可能にしている。画像圧縮の高能
率符号化においては、複数画素から成るブロックに対し
て符号化を行うブロック符号化、例えば、アダマール変
換及び離散コサイン変換（以下、ＤＣＴという）等を採
用する。ブロック符号化は、各ブロックに対して直交変
換を行い、これにより、各ブロックを相関性を有してい
ないデータで表現して冗長性を排除し圧縮を行うもので
ある。従って、誤りは次ブロックまで伝搬することなく
収束し、しかも、ブロック符号化の圧縮率は高い。

【０００６】図９はブロック符号化を説明するための説
明図である。

【０００７】１ブロックは、図９（ａ）に示すように、
８水平画素×８垂直画素（Ｙ0.0 乃至Ｙ7.7 ）で構成す
る。このブロックデータに対して２次元直交変換を行っ
て、図９（ｂ）に示す変換係数（ＹDC，ＹAC0 乃至ＹAC
62）を得る。変換係数の直流成分ＹDCは全変換係数の平
均値であり、交流成分ＹAC0 乃至ＹAC62は、図９（ｂ）
に示すように、水平及び垂直方向の低域から高域に向か
って配列する。更に、ブロック符号化では、交流成分Ｙ
AC0 乃至ＹAC62に対して可変長符号化を行って可変長符
号に変換し、圧縮率を一層向上させる。この場合、各ブ
ロックの符号化データは可変長であり、復号しなければ
各ブロックデータの区切りは判明しない。そこで、各ブ
ロックの先頭に識別データを付加することによって、再
生時に各ブロックデータの区切りを識別可能にしてい
る。

【０００８】しかし、記録再生過程において識別データ
に訂正することができない誤りが残ると、次のブロック
は復号することができず、１ブロックの全データが誤り
となってしまう。このため、この場合には、上述した周
辺画素を用いた補間方法を採用することはできず、ブロ
ック単位の補間を行う必要がある。

【０００９】図１０はこのブロック単位の補間を説明す
るための説明図である。

【００１０】図１０（ａ）は所定の３×３ブロックの画
像（原画）を示している。図１０（ａ）に示す原画の中
央のブロックに誤りが発生するものとする。図１０
（ｂ）は、交流成分に対する復号出力を用いず、直流成
分の復号出力のみを用いた例である。この場合には、誤
りブロックはその平均輝度レベルの表示となる。また、
時間軸ブロック間で補間を行うこともある。例えば、前
フィールドの絵柄を図１０（ｃ）に示すものとすると、
中央の誤りブロックを前フィールドのブロックを用いて
補間すると、図１０（ｄ）に示すものとなる。

【００１１】しかしながら、直流成分のみでブロックを
補間すると、ブロック内の全画素が同一レベルとなり、
また、そのレベルはブロックの平均レベルであるので、
周辺ブロックとの間で画素レベルの差が生じ、誤りが目
立ってしまうという欠点があった。また、時間軸ブロッ
ク間で補間を行うと、動きが早い画像信号については、
ブロック単位で画像のずれが目立ってしまう。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】このように、従来、ブ
ロック符号化を採用した場合には、周辺ブロックを用い
て誤りブロックを補間しても、誤りが目立ってしまうと
いう問題点があった。

【００１３】本発明は、誤りブロックと周辺ブロックと
の境界における画素レベルの急峻な変化を抑制すること
により、誤りを目立たなくすることができる誤り修正装
置を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明に係る誤り修正装
置は、複数の画素データによって構成されるブロックデ
ータが順次入力され入力されたブロックデータがエラー
ブロックであるか否かを検出するエラー検出手段と、前
記エラーブロックを含む複数のブロックのブロックデー
タを画素位置に対応させて記憶するメモリと、前記エラ
ー検出手段の出力によって前記メモリから前記エラーブ
ロックに隣接したブロックの画素データを読出し読出し
た画素データと前記エラーブロックの各画素の位置とを
用いた所定の演算によって前記エラーブロックの各画素
データを修整して前記メモリに格納する修整演算手段と
を具備したものである。

【００１５】

【作用】本発明において、メモリにはエラーブロックと
その周辺のブロックの画素データを格納する。修整演算
手段は、エラーブロックに隣接したブロックの画素デー
タをメモリから読出し、読出した各画素データによって
絵柄の変化の状態を得、この変化の状態とエラーブロッ
クの各画素位置とからエラーブロックの各画素を修整す
る。

【００１６】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。図１は本発明に係る誤り修正装置の一実施
例を示すブロック図である。

【００１７】入力端子１には画像信号を入力する。この
画像信号はＹ／Ｃ分離回路２に与える。Ｙ／Ｃ分離回路
２は画像信号を輝度信号Ｙ及び色差信号Ｃｒ，Ｃｂに分
離して夫々Ａ／Ｄ変換器３，４，５に与える。Ａ／Ｄ変
換器３は入力された信号をディジタル信号に変換してフ
ィールドメモリ６に与え、Ａ／Ｄ変換器４，５は入力さ
れた信号をディジタル信号に変換してマルチプレクサ７
に出力する。マルチプレクサ７はディジタルの色差信号
Ｃｒ，Ｃｂを時分割多重してフィールドメモリ８に出力
する。

【００１８】フィールドメモリ６，８は入力画像データ
を、例えば８×８画素のブロック単位で夫々ＤＣＴ回路
９，10に与える。ＤＣＴ回路９，10は、夫々入力された
ブロックデータをＤＣＴ処理して変換係数をフィールド
メモリ11，12を介して量子化回路13，14に出力する。Ｄ
ＣＴ回路９，10からのＤＣＴ変換係数は水平及び垂直方
向に低域から高域まで各周波数性分を有しており、全デ
ータの平均値は直流成分として出力し、他の成分は交流
成分として出力する。フィールドメモリ11，12は、変換
係数の交流成分については、水平及び垂直の低域から高
域に向かってジグザグスキャンして読出して量子化回路
13，14に与えている。量子化回路13，14は、変換係数の
直流成分と交流成分とを別々に量子化する。例えば、量
子化回路13，14は、図示しない量子化テーブルに格納さ
れた量子化係数でＤＣＴ変換係数を割り算することによ
って量子化出力を求める。

【００１９】ところで、量子化テーブルの量子化係数を
変化させることによって、符号化後のデータ量を制御す
ることができる。例えば、量子化係数を比較的大きな値
に設定すると、量子化ステップは粗くなって情報は劣化
するが、量子化出力のダイナミックレンジは小さくなっ
て符号量も小さくなる。従って、絵柄に応じて量子化係
数を制御することによって、符号化出力を定レート化す
ることができる。

【００２０】この定レート化制御のために、ＤＣＴ回路
９，10からの変換係数はフィールドアクティビティ演算
回路15にも与える。フィールドアクティビティ演算回路
15は、画像の符号量を推定するためにブロック毎の情報
量（以下、アクティビティという）を求める。アクティ
ビティ演算回路15は求めたブロックアクティビティを積
算してフィールド毎の情報量を示すフィールドアクティ
ビティを求め、更に、これらのアクティビティに基づい
て、量子化係数を正規化するための正規化係数αを求め
て量子化回路13，14に出力する。量子化回路13，14は正
規化係数αによって量子化係数を正規化した後、変換係
数を量子化するようになっている。

【００２１】量子化回路13，14からの量子化出力の直流
成分は夫々ＤＣ成分符号化回路16，17に与える。ＤＣ成
分符号化回路16，17は、各ブロックの直流成分を固定長
符号化し、ブロック単位でアドレス情報、同期信号及び
ＩＤ番号等を付加して、所定の順序でマルチプレクサ20
に出力する。

【００２２】一方、量子化回路13，14からの量子化出力
の交流成分は夫々ＡＣ成分符号化回路18，19に与える。
ＡＣ成分符号化回路18，19は、入力された量子化出力の
交流成分に対して、零が連続する数（以下、ゼロランと
いう）及び非零係数のコード長の組みのデータ毎に、図
示しないハフマンテーブルを参照して２次元ハフマン符
号化し、非零係数のコードを付加する。この場合には、
予め各ブロックに所定の符号量を割当て（ブロックビッ
ト配分し）、符号化出力が割当てられた符号量を超過す
ると、そのブロックにおける符号化を停止する方法を採
用することによって、固定長化を図っている。

【００２３】すなわち、符号量配分回路21はブロックア
クティビティとフィールドアクティビティとの比によっ
て、各ブロックの配分ビット数を決定する。符号量配分
回路21は、符号化データの符号量の積算値がブロックの
配分ビット数を越えると、ＡＣ成分符号化回路18，19の
符号化処理を停止させて、ブロック配分ビット数を超過
した符号化データは出力させないようになっている。Ａ
Ｃ成分符号化回路18，19は、直流成分と同様に、符号化
出力にブロック単位でアドレス情報、同期信号及びＩＤ
番号等を付加すると共に、コード長のデータを付加し
て、ブロック単位で順序化した後マルチプレクサ20に出
力する。マルチプレクサ20は交流成分及び直流成分につ
いての符号化出力を多重して出力する。

【００２４】マルチプレクサ20からの高能率符号化デー
タはエラー訂正符号付加回路22に与える。エラー訂正符
号付加回路22は入力されたデータにエラー訂正用パリテ
ィを付加して変調回路23に出力する。変調回路23は図示
しない回転トランスの伝送効率及び磁気記録再生特性の
低下が著しい直流成分と周波数低域成分とを抑圧するた
めに、所定の法則に基づいて“１”と“０”との並び換
え処理を行う。更に、変調回路23は変調したデータに同
期データを付加した後、シリアルデータに変換して記録
処理回路24に出力する。記録処理回路24は変調回路23の
出力を周波数帯域制限すると共に増幅し、図示しない回
転トランスを介して回転シリンダ25上のＡヘッド26及び
Ｂヘッド27に伝送する。Ａ，Ｂヘッド26，27は記録処理
回路24の出力を磁気テープ28に磁気記録すると共に再生
する。

【００２５】一方、再生系においては、Ａ，Ｂヘッド2
6，27によって磁気テープ28から再生された再生データ
を切換回路29を介して再生処理回路30に与える。切換回
路29は、図示しないサーボ回路から発生するヘッドスイ
ッチング信号によって、磁気テープ28に接触しているヘ
ッドを選択することにより、再生出力を再生処理回路30
に供給している。再生処理回路30は再生出力を増幅し、
帯域制限して復調回路31に出力する。復調回路31は、記
録再生時に生じた時間軸変動を補正した後同期データを
検出し、記録時の変調処理と逆の処理を行ってエラー検
出訂正回路32に出力する。エラー検出訂正回路32は、記
録時に付加したリードソロモン符号に基づいて、記録再
生時に生じたデータ誤りを検出すると共に訂正し、デマ
ルチプレクサ33に出力する。また、エラー検出訂正回路
32は、誤り訂正能力を越えたエラーが発生した場合に
は、後述する修整演算回路48，49のフラグ入力端子及び
変換回路57にエラーフラグを出力するようになってい
る。

【００２６】デマルチプレクサ33は、記録時に付加した
ブロック毎のアドレス情報に基づいて、輝度信号Ｙの直
流成分及び交流成分並びに色差信号Ｃｒ，Ｃｂの直流成
分及び交流成分を検出して分割し、夫々ＤＣ成分復号回
路34、ＡＣ成分復号回路36、ＤＣ成分復号回路35、ＡＣ
成分復号回路37に出力する。ＤＣ成分復号回路34，35
は、再生されたブロック毎のアドレス情報及びコード長
に基づいて、記録時の逆処理によって量子化された直流
成分を求めて、夫々輝度成分再生回路38及び色差成分再
生回路39に出力する。また、ＡＣ成分復号回路36，37
は、再生されたブロック毎のアドレス情報及びコード長
に基づいて再生データをハフマン復号し、ゼロラン及び
非零係数を求めて量子化された交流成分を得る。輝度信
号Ｙの交流成分は輝度成分再生回路38に与え、輝度成分
再生回路38は輝度信号Ｙの直流成分及び交流成分を周波
数信号に戻して逆量子化回路40に出力する。色差信号Ｃ
ｒ，Ｃｂの交流成分は色差成分再生回路39に与え、色差
成分再生回路39は色差信号Ｃｒ，Ｃｂの交流成分及び直
流成分を周波数信号に戻して逆量子化回路41に出力す
る。

【００２７】また、デマルチプレクサ33は再生出力から
正規化係数αを抽出して係数発生回路42，43に出力す
る。係数発生回路42，43は正規化係数αによって逆量子
化係数を発生して、夫々逆量子化回路40，41に与える。
逆量子化回路40，41は逆量子化係数を用いて周波数信号
を逆量子化し、夫々ＩＤＣＴ回路44，45に出力する。Ｉ
ＤＣＴ回路44は記録時のＤＣＴ処理の逆処理を行って、
ブロック単位の輝度信号データをフィールドメモリ46及
び修整演算回路48に出力する。ＩＤＣＴ回路45は逆ＤＣ
Ｔ処理によってブロック単位の色差信号データを得て、
フィールドメモリ47及び修整演算回路49に出力する。フ
ィールドメモリ46，47は、夫々８×８画素のブロック単
位のデータを元の時間順序に配列させて切換回路50，51
に出力する。

【００２８】図２は図１中の修整演算回路48，49の具体
的な構成を示すブロック図である。

【００２９】ＩＤＣＴ回路44，45からのブロックデータ
は入力端子58に与える。このブロックデータは書込みデ
ータ用の切換回路59を介してメモリ60に与える。アドレ
ス発生回路61はメモリ60の書込み及び読出しアドレスを
発生してアドレス用の切換回路62を介してメモリ60に与
える。メモリ60から読出されたデータは読出しデータ用
の切換回路63を介してデータ出力端子64に出力する。デ
ータ出力端子64は切換回路50，51（図１参照）に接続す
る。

【００３０】一方、フラグ入力端子65にはエラー検出訂
正回路32からのエラーフラグを供給する。このフラグは
マイクロコンピュータ（以下、マイコンという）66に与
える。マイコン66は切換回路59，62，63を制御すると共
に、メモリ60のアドレスを発生して切換回路62を介して
出力する。すなわち、マイコン66は、エラーフラグが入
力されると、アドレス切換回路62を制御してエラーブロ
ックの周辺のデータを切換回路63を介して読出し、後述
する演算によってエラーブロックのデータを修整して、
切換回路59を介してメモリ60のエラーブロックに対応す
る領域に書込むようになっている。

【００３１】変換回路57はエラーフラグに基づいて切換
回路50，51を制御することにより、エラーを有していな
いブロックについてはフィールドメモリ46，47の出力を
選択させ、エラーブロックについては修整演算回路48，
49の出力を選択させるようになっている。切換回路50，
51の出力は夫々Ｄ／Ａ変換器52及びデマルチプレクサ55
に出力する。デマルチプレクサ55は時分割多重されてい
る色差信号Ｃｒ，Ｃｂを分割して夫々Ｄ／Ａ変換器53，
54に出力する。Ｄ／Ａ変換器52，53，54は入力されたデ
ィジタルデータをアナログ信号に変換してＹ／Ｃ混合回
路56に出力する。Ｙ／Ｃ混合回路56は輝度信号Ｙと色差
信号Ｃｒ，Ｃｂとを混合して画像信号を出力端子57に出
力する。

【００３２】次に、このように構成された実施例の動作
について図３乃至図７を参照して説明する。

【００３３】記録側において、画像信号はＹ／Ｃ分離回
路２によって輝度信号Ｙと色差信号Ｃｒ，Ｃｂに分離し
た後、夫々Ｄ／Ａ変換器３，４，５に与える。Ｄ／Ａ変
換器３によってディジタル信号に変換した輝度信号Ｙ
は、フィールドメモリ６で８×８画素のブロックデータ
に変換してＤＣＴ回路９に与える。ＤＣＴ回路９は２次
元ＤＣＴ処理によって輝度信号を水平及び垂直の周波数
信号に変換し、変換係数をフィールドアクティビティ演
算回路15に与えると共に、フィールドメモリ11を介して
量子化回路13にも与える。色差信号Ｃｒ，Ｃｂについて
も同様の処理であり、Ａ／Ｄ変換器４，５によってディ
ジタル信号に変換した色差信号Ｃｒ，Ｃｂをマルチプレ
クサ７によって時分割多重し、フィールドメモリ８によ
ってブロックデータに変換した後、ＤＣＴ回路10で２次
元ＤＣＴ処理を行う。ＤＣＴ回路10の出力はフィールド
アクティビティ演算回路15に与えると共に、フィールド
メモリ12を介して量子化回路14にも与える。

【００３４】フィールドアクティビティ演算回路15はＤ
ＣＴ回路９，10の出力から、ブロックアクティビティ及
びフィールドアクティビティを求め、更に、求めたアク
ティビティから正規化係数αを得ると共に、１ブロック
において使用可能な配分ビット数を求める。量子化回路
13，14は正規化係数αによって量子化テーブルを正規化
し、正規化した量子化係数を用いて変換係数を量子化す
る。輝度信号の直流成分及び交流成分の量子化出力は夫
々ＤＣ成分符号化回路16及びＡＣ成分符号化回路18に与
え、色差信号の直流成分及び交流成分の量子化出力は夫
々ＤＣ成分符号化回路17及びＡＣ成分符号化回路19に与
える。

【００３５】ＤＣ成分符号化回路16，17は、各ブロック
の直流成分を固定長符号化し、ブロック単位でアドレス
情報、同期信号及びＩＤ番号等を付加して、所定の順序
でマルチプレクサ20に出力する。一方、ＡＣ成分符号化
回路18，19は、量子化出力のゼロラン及び非零係数のコ
ード長の組みのデータをハフマン符号化し、更に、非零
係数コードを付加して可変長符号化する。更に、ＡＣ成
分符号化回路18，19は、直流成分と同様に、ブロック単
位でアドレス情報、同期信号、ＩＤ番号及びコード長を
付加し、ブロック単位で順序化した後マルチプレクサ20
に出力する。

【００３６】マルチプレクサ20は符号化回路17乃至19の
出力及び正規化係数αを時分割多重してエラー訂正符号
付加回路22に出力する。エラー訂正符号付加回路22によ
ってマルチプレクサ20の出力にリードソロモン符号を付
加し、次いで、変調回路23において記録に適合した変調
を行う。更に、変調回路23は変調信号に同期データを付
加しシリアルデータに変換して記録処理回路24に供給す
る。記録処理回路24は変調信号を周波数帯域制限すると
共に増幅し、ヘッド26，27に与えて磁気テープ28に記録
させる。

【００３７】一方、再生系においては、切換回路29を介
してヘッド26，27からの再生信号を再生処理回路30に与
える。再生処理回路30は再生信号を増幅し、帯域制限し
て復調回路31に出力する。復調回路31において記録再生
時に生じた時間軸変動を補正し、同期データを検出して
記録時の変調処理の逆処理によって復調する。この復調
出力をエラー検出訂正回路32に与えて、リードソロモン
符号を用いて誤り訂正を行う。エラー検出訂正回路32は
エラー訂正能力を越えたエラーが発生している場合に
は、エラーフラグを修整演算回路48，49及び変換回路57
に出力する。

【００３８】エラー訂正した再生データは、デマルチプ
レクサ33によって、輝度信号の直流成分，交流成分及び
色差信号Ｃｒ，Ｃｂの直流成分，交流成分に分離して、
夫々ＤＣ成分復号回路34、ＡＣ成分復号回路36、ＤＣ成
分復号回路35及びＡＣ成分復号回路37に出力する。ＤＣ
成分復号回路34は輝度信号の直流成分を復号し、ＡＣ成
分復号回路36は交流成分をハフマン復号する。輝度成分
再生回路38は復号回路34，36の出力を周波数信号に戻し
て逆量子化回路40に与える。また、ＤＣ成分復号回路35
は色差信号の直流成分を復号し、ＡＣ成分復号回路37は
交流成分をハフマン復号する。色差成分再生回路39は復
号回路35，37の出力を周波数信号に戻して逆量子化回路
41に与える。

【００３９】一方、デマルチプレクサ33は正規化係数α
を係数発生回路42，43に出力している。係数発生回路4
2，43は正規化係数αによって逆量子化係数を正規化
し、逆量子化回路40，41は夫々係数発生回路42，43から
の逆量子化係数を用いて逆量子化を行って変換係数に戻
し、ＩＤＣＴ回路44，42に出力する。ＩＤＣＴ回路44は
逆ＤＣＴ処理によって、輝度信号のブロックデータを再
生してフィールドメモリ46及び修整演算回路48に出力す
る。また、ＩＤＣＴ回路45は逆ＤＣＴ処理によって、色
差信号のブロックデータを再生してフィールドメモリ47
及び修整演算回路49に出力する。フィールドメモリ46，
47は、８×８画素のブロックデータを元の時間順序に配
列させて夫々切換回路50，51に出力する。

【００４０】エラー検出訂正回路32によって全ブロック
のエラーが訂正され、エラーフラグが発生しない場合に
は、変換回路57は切換回路50，51に夫々フィールドメモ
リ46，47の出力を選択させる。フィールドメモリ46の出
力は切換回路50を介してＤ／Ａ変換器52に与えてアナロ
グ信号に変換し、フィールドメモリ47の出力は切換回路
51を介してデマルチプレクサ55に与えて色差信号Ｃｒ，
Ｃｂに分離する。色差信号Ｃｒ，Ｃｂは夫々Ｄ／Ａ変換
器53，54によってディジタル信号に変換する。Ｙ／Ｃ混
合回路56はＤ／Ａ変換器52，53，54の出力を混合して画
像信号を出力端子57に出力する。

【００４１】いま、エラー検出訂正回路32の訂正能力を
越える誤りが発生して、所定ブロックがエラーブロック
となるものとする。ＩＤＣＴ回路44，45の出力は夫々修
整演算回路48，49に与えており、エラーブロック及びそ
の周辺のデータは図２の入力端子58から切換回路59を介
してメモリ60に記憶される。この場合には、アドレス発
生回路61からのアドレスを切換回路62を介してメモリ60
に供給しており、メモリ60は元の時間順序で各ブロック
のデータを記憶する。

【００４２】ここで、３ブロック×３ブロックの所定の
９ブロックのデータのうち中央のブロックのみがエラー
ブロックであるものとする。図３はこの場合の修整演算
回路48，49の動作を説明するための説明図であり、図４
はマイコン66の動作を示すフローチャートである。

【００４３】図３（ａ）に示す９ブロックのデータのう
ち中央のブロックＹ［ｍ，ｎ］（ｍはフィールド内の垂
直方向座標、ｎはフィールド内の水平座標）をエラーブ
ロックとする。なお、図３（ｂ）は図３（ａ）の太枠で
囲った部分を画素単位で示したものであり、各ブロック
は画素（０，０）乃至（７，７）の６４個の画素によっ
て構成している。マイコン66は図４のステップＳ1 にお
いて、エラーフラグによってエラーブロックが発生した
ことを検出すると、修整演算を開始する。すなわち、マ
イコン66は、ステップＳ2 において、エラーフラグによ
りエラーが発生したブロックＹ［ｍ，ｎ］を判定する。
次いで、マイコン66は、ステップＳ3 において、エラー
ブロックの垂直上方向においてエラーが発生していない
ブロック（以下、誤りなしブロックという）があるか否
かを判断する。誤りなしブロックがある場合には、次の
ステップＳ4 において最も近接した誤りなしブロックま
でのブロック数γを求める。すなわち、この誤りなしブ
ロックはＹ［ｍ−γ，ｎ］である。エラーブロックが１
フィールドの最上のブロックラインである場合を含み、
垂直上方向に誤りなしブロックが存在しない場合には、
マイコン66はステップＳ5 でＵフラグを立ててステップ
Ｓ6 に移行する。

【００４４】次いで、マイコン66は、ステップＳ6 にお
いて、エラーブロックの水平左方向に誤りなしブロック
があるか否かを検出し、ステップＳ7 で最も近接した誤
りなしブロックまでのブロック数αを求める。この誤り
なしブロックはＹ［ｍ，ｎ−α］である。誤りなしブロ
ックが存在しない場合には、ステップＳ8 においてＬフ
ラグを発生させてステップＳ8 に移行する。

【００４５】同様に、マイコン66は、次のステップＳ9
，Ｓ10において、エラーブロックの垂直下方向に誤り
なしブロックがあるか否かを検出し、最も近接した誤り
なしブロックＹ［ｍ＋δ，ｎ］までのブロック数δを求
める。誤りなしブロックが存在しない場合には、マイコ
ン66はステップＳ11においてＢフラグをオンにする。ま
た、マイコン66は、ステップＳ12，Ｓ13において、エラ
ーブロックの水平右方向に誤りなしブロックがあるか否
かを検出し、最も近接した誤りなしブロックＹ［ｍ，ｎ
＋β］までのブロック数βを求める。この誤りなしブロ
ックが存在しない場合には、ステップＳ14でＲフラグを
発生させる。なお、図３ではα，β，γ，δはいずれも
１であり、Ｕ，Ｌ，Ｂ，Ｒフラグはいずれもオフであ
る。

【００４６】次に、マイコン66はステップＳ15におい
て、エラーブロック周辺の垂直方向の絵柄の変化を検出
するために、エラーブロックの垂直方向上下に隣接した
行の画素データを読込む。すなわち、マイコン66は、誤
りなしブロックであるブロックＹ［ｍ−１，ｎ］の最下
行の画素（以下、Ｙ［ｍ−１，ｎ］（７，０）乃至Ｙ
［ｍ−１，ｎ］（７，７）という）及びブロックＹ［ｍ
＋１，ｎ］（０，０）乃至Ｙ［ｍ＋１，ｎ］（０，７）
のデータが格納されているメモリ60のアドレスを指定す
る。このアドレスは切換回路62を介してメモリ60に与
え、メモリ60から読出したデータは切換回路63を介して
マイコン66に取込む。マイコン66は取込んだ２行の画素
データに対する下記式（１）に示す演算によって、垂直
方向の差分平均値を求める（ステップＳ16）。

【００４７】 ＬＡＶＥ（ｊ） ＝｛Ｙ［ｍ＋１，ｎ］（０，ｊ）−Ｙ［ｍ−１，ｎ］（７，ｊ）｝／８＋１ …（１） 但し、ｊは０乃至７列を示す。なお、上記式（１）の分
母は、演算に用いる１対の画素データの垂直方向の距離
を示し、（γ＋δ−１）×ｖ＋１で与えられる（但し、
ｖは１ブロックの垂直方向の画素数）。

【００４８】次に、マイコン66はステップＳ17におい
て、エラーブロック周辺の水平方向の絵柄の変化を検出
するために、エラーブロックの水平方向左右に隣接した
列の画素データを読込む。すなわち、マイコン66は、画
素Ｙ［ｍ，ｎ−１］（０，７）乃至Ｙ［ｍ，ｎ−１］
（７，７）及び画素Ｙ［ｍ，ｎ＋１］（０，０）乃至Ｙ
［ｍ，ｎ＋１］（７，０）のデータを取込む。マイコン
66は取込んだ２列のデータに対する下記式（２）に示す
演算によって、水平方向の差分平均値を求める（ステッ
プＳ18）。

【００４９】 ＢＡＶＥ（ｉ） ＝｛Ｙ［ｍ，ｎ＋１］（ｉ，０）−Ｙ［ｍ，ｎ−１］（ｉ，７）｝／８＋１ …（２） 但し、ｉは０乃至７行を示す。また、上記式（２）の分
母は、演算に用いる１対の画素データの水平方向の距離
を示し、（α＋β−１）×ｈ＋１で与えられる（但し、
ｈは１ブロックの水平方向の画素数）。

【００５０】次に、マイコン66は、ステップＳ19におい
て、エラーブロックＹ［ｍ，ｎ］の各画素（ｉ，ｊ）の
修整値を演算によって求める。図５はこの演算を説明す
るための説明図である。

【００５１】図５（ａ）は垂直方向の差分平均値ＬＡＶ
Ｅ（４）を用いて修整する範囲を斜線によって示してい
る。また、図５（ｂ）は水平方向の差分平均値ＢＡＶＥ
（４）を用いて修整する範囲を斜線によって示してい
る。エラーブロックの画素Ａ（４，４）はブロック［ｍ
−１，ｎ］［ｍ＋１，ｎ］［ｍ，ｎ−１］［ｍ，ｎ＋
１］の画素Ｂ（７，４），Ｃ（０，４），Ｄ（４，
７），Ｅ（４，０）の算術平均によって求める。つま
り、画素（ｉ，ｊ）の修整値は差分平均値ＬＡＶＥ
（ｊ），ＢＡＶＥ（ｉ）を用いた下記式（３）によって
得る。

【００５２】 Ｙ［ｍ，ｎ］（ｉ，ｊ）＝ ［｛Ｙ［ｍ−１，ｎ］（７，ｊ）＋ＬＡＶＥ（ｊ）×（ｉ＋１）｝ ＋｛Ｙ［ｍ，ｎ−１］（ｉ，７）＋ＢＡＶＥ（ｉ）×（ｊ＋１）｝］／２ …（３） 次に、マイコン66はステップＳ20において修整値をメモ
リ60に書込む。この場合、マイコン66は、切換回路62を
介してメモリ60にエラーブロックＹ［ｍ，ｎ］の各画素
のデータを格納しているアドレスを順次与える。修整値
はマイコン66によって、切換回路59を介してメモリ60の
各アドレスに書込まれる。こうして、メモリ60には、修
整値が元々の画像信号順序に応じた位置に格納される。
誤りなしブロックについては、フィールドメモリ46，47
からのデータを切換回路50，51は選択し、エラーブロッ
クの出力タイミングでは、変換回路57によって、修整演
算回路48，49の出力を切換回路50，51は選択する。

【００５３】図６は図１０（ａ）の絵柄について、本実
施例を適用した場合の表示を示す説明図である。なお、
図１０（ａ）は黒の斜線の絵柄であるものとし、図６
（ａ）はエラーブロック及びその周辺画素の画像データ
値を示し、図６（ｂ）は表示を示している。

【００５４】図６（ａ）においては、太枠で囲った部分
がエラーブロックを示している。黒部分の画像レベルは
０であるものとし、白部分の画像レベルは９０であるも
のとする。図６（ａ）に示すように、エラーブロックの
垂直上方向のブロックの最下行は左から５画素が黒であ
り、残りの３画素は白である。エラーブロックの垂直下
方向のブロックの最上行は左から３画素が白であり、残
りの５画素は黒である。また、エラーブロックの水平左
方向のブロックの最右行の画素は上から５画素が黒であ
り、残りの３画素が白である。また、エラーブロックの
水平右方向のブロックの最左行の画素は上から３画素が
白であり、残りの５画素が黒である。これらのエラーブ
ロックの周辺の画素を用いて、上記式（３）の演算を行
うと、太枠内の修整値が得られる。図６（ａ）の修整値
を用いた表示を模式的に示すと図６（ｂ）に示すものと
なる。図６（ｂ）の網線部はレベル０の黒部分を示して
いる。

【００５５】図７はステップＳ5 においてＵフラグのみ
がオンとなった場合を説明するための説明図である。

【００５６】図７（ａ）に示す９ブロックＹ［０，ｎ−
１］乃至Ｙ［２，ｎ＋１］のうちブロックＹ［０，ｎ］
のみがエラーブロックであるものとする。この場合に
は、垂直上方向には誤りなしブロックが存在しないの
で、マイコン66は、図７（ａ），（ｂ）の太枠で示すよ
うに、エラーブロックに最も近接した垂直下方向の誤り
なしブロックＹ［１，ｎ］のデータを垂直方向の修整演
算に用いる。

【００５７】この場合には、垂直方向の差分平均値ＬＡ
ＶＥ（ｊ）は下記式（４）に示すものとなる。

【００５８】 ＬＡＶＥ（ｊ） ＝｛Ｙ［１，ｎ］（０，ｊ）−Ｙ［１，ｎ］（１，ｊ）｝／２ …（４） 一方、垂直方向の差分平均値は上記式（２）で与えら
れ、結局エラーブロックＹ［０，ｎ］の各画素（ｉ，
ｊ）の修整値は下記式（５）で得られる。

【００５９】 Ｙ［０，ｎ］（ｉ，ｊ）＝ ［｛Ｙ［１，ｎ］（０，ｊ）−ＬＡＶＥ（ｊ）×（８−ｉ）｝ ＋｛Ｙ［０，ｎ−１］（ｉ，７）＋ＢＡＶＥ（ｉ）×（ｊ＋１）｝］／２ …（５） この式（５）の演算によって求めた修整値をメモリ60の
エラーブロックのアドレスに書込むことは図３の場合と
同様であり、以後の動作も同様である。なお、他のＬ，
Ｂ，Ｒフラグがオンとなっている場合でも、同様の演算
によって修整値を求めればよい。

【００６０】このように、本実施例においては、エラー
ブロック近傍の誤りなしブロックのデータを用い、絵柄
の変化に応じた修整値を画素毎に求めてエラーブロック
の各画素を修整しており、エラーブロックと周辺のブロ
ックとの画素レベルの急峻な変化を抑制することがで
き、再生画質を向上させることができる。

【００６１】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、例えば、実施例ではＶＴＲに適用した例を
説明したが、有線又は無線伝送に適用してもよく、ブロ
ック符号化された画像信号を受信する装置であれば適用
することができる。また、実施例では、先ず、誤りなし
ブロックのデータを用いて差分の平均値を求め、この平
均値とエラーブロックの各画素の座標とによって修整値
を求めたが、誤りなしブロックの画素を用いた平均値補
間であれば計算順序は問わない。また、演算に用いる誤
りなしブロック及びその行又は列の選択は実施例に限定
されない。更に、実施例ではマイコンによって修整演算
を行っているが、所定の演算回路で行ってもよい。

【００６２】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、誤
りブロックと周辺ブロックとの境界における画素レベル
の急峻な変化を抑制することにより、誤りを目立たなく
することができるという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る誤り修整装置の一実施例を示すブ
ロック図。

【図２】図１中の修整演算回路を示すブロック図。

【図３】実施例の動作を説明するための説明図。

【図４】図２中のマイコン66の動作を示すフローチャー
ト。

【図５】実施例の動作を説明するための説明図。

【図６】実施例の動作を説明するための説明図。

【図７】実施例の動作を説明するための説明図。

【図８】誤り修整技術を説明するための説明図。

【図９】ブロック符号化を説明するための説明図。

【図１０】ブロック単位の補間を説明するための説明
図。

【符号の説明】

32…エラー検出訂正回路、48，49…修整演算回路、50，
51…切換回路、57…変換回路

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の画素データによって構成されるブ
   ロックデータが順次入力され入力されたブロックデータ
   がエラーブロックであるか否かを検出するエラー検出手
   段と、 前記エラーブロックを含む複数のブロックのブロックデ
   ータを画素位置に対応させて記憶するメモリと、 前記エラー検出手段の出力によって前記メモリから前記
   エラーブロックに隣接したブロックの画素データを読出
   し読出した画素データと前記エラーブロックの各画素の
   位置とを用いた所定の演算によって前記エラーブロック
   の各画素データを修整して前記メモリに格納する修整演
   算手段とを具備したことを特徴とする誤り修正装置。