JPH066632A - マルチ画面表示装置およびその方法 - Google Patents

マルチ画面表示装置およびその方法

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JPH066632A
JPH066632A JP4183097A JP18309792A JPH066632A JP H066632 A JPH066632 A JP H066632A JP 4183097 A JP4183097 A JP 4183097A JP 18309792 A JP18309792 A JP 18309792A JP H066632 A JPH066632 A JP H066632A
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JP
Japan
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display
pattern
screen
test signal
display device
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JP4183097A
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English (en)
Inventor
Shigeto Funato
成人 舩戸
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C67/00Shaping techniques not covered by groups B29C39/00 - B29C65/00, B29C70/00 or B29C73/00
    • B29C67/004Closing perforations or small holes, e.g. using additional moulding material

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)
  • Studio Circuits (AREA)
  • Details Of Television Scanning (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】各画面における表示画面サイズ並びに表示位置
のずれ調整を行うだけで、マルチ画面全体の歪みを補正
し得るマルチ画面表示装置およびその方法を実現する。 【構成】複数のディスプレイDSPと、1つの映像をデ
ィスプレイ数分に分割して各ディスプレイDSPに分配
するプロセッサ2を有し、複数のディスプレイDSPで
1つの画面を構成するマルチ画面表示装置において、個
々のディスプレイDSPに対して表示画面サイズおよび
表示位置のずれがわかるパターンからなるテスト信号T
STを発生するテスト信号発生器1を設け、テスト信号
TSTをプロセッサ2に入力し、個々のディスプレイD
SPにそれぞれ分割したテストパターンを表示させて、
個々のディスプレイDSPごとに表示画面サイズおよび
表示位置のずれ調整を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数のディスプレイに
1つの映像を構成させて表示するマルチ画面表示装置お
よびその方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、複数のディスプレイを2×2ある
いは3×3などのマトリクス状に配列して、いわゆるマ
ルチ画面を構成し、映像の分割、分配機能を有するプロ
セッサにより1つの映像をディスプレイに分配させて、
マルチ画面上に1つの映像を構成させるマルチ画面表示
装置が実用に供されている。
【0003】マルチ画面表示装置の場合、映像信号のプ
ロセッサおよびマルチ画面を構成する各ディスプレイの
ばらつきによる表示画面サイズ並びに表示位置のわずか
なずれが、全体の画面としての不調和を生じさせる。こ
のため、マルチ画面表示装置では、表示画面サイズと表
示位置のずれに対する調整を行う必要がある。
【0004】従来、この調整は、たとえば図7に示すよ
うに、9個のディスプレイDSPを3×3のマトリクス
状に配列したマルチ画面MLTに、たとえばビデオの映
像を映し出す場合には、以下に示すような方法で行われ
ていた。
【0005】すなわち、まず、各ディスプレイDSPの
画面ごとに、画歪みおよび色ずれ調整を個々に行う。次
に、図7の(b) に示すように、全てのディスプレイDS
Pに映像が映し出される、たとえばモノスコープ画面の
ような全体の歪みを視認できる映像信号を図示しないプ
ロセッサに入力し、この映像信号をディスプレイDSP
の数だけ分割させ、各分割画像を対応するディスプレイ
DSPにそれぞれ分配させて、マルチ画面MLTに1つ
の映像を構成させる。この状態で、各ディスプレイDS
Pに映し出される画像が、上下左右に隣接するディスプ
レイDSPに違和感なく正しくつながり、かつ、マルチ
画面MLT全体の画像の歪みが無くなるように、各ディ
スプレイDSPの画サイズのずれおよび表示位置のずれ
(シフト)の調整を行う。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の調整方法では、実際に調整を行う場合には、各
ディスプレイDSPごとに周囲のディスプレイDSPの
画像とのトラッキングを取らなければならないという煩
雑な調整に加えて、マルチ画面MLT全体の画像とのト
ラッキングを取らなければならず、調整が極めて困難
で、満足のいく調整度を得るには熟練を要するという欠
点があった。また、画面数と信号源によっては、調整不
可能なディスプレイDSPが生じてしまうという問題が
ある。
【0007】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、各画面における表示画面サイズ
並びに表示位置のずれ調整を行うだけで、マルチ画面全
体の歪みを補正し得るマルチ画面表示装置およびその方
法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のマルチ画面表示装置では、複数のディスプ
レイと、1つの映像をディスプレイ数分に分割して各デ
ィスプレイに分配する手段を有し、複数のディスプレイ
で1つの画面を構成するマルチ画面表示装置であって、
個々のディスプレイに対して表示画面サイズおよび表示
位置のずれがわかるパターンからなるテスト信号を発生
する手段を設け、テスト信号を上記映像分割手段に入力
し、個々のディスプレイにそれぞれ上記テストパターン
を表示させて、個々のディスプレイごとに表示画面サイ
ズおよび表示位置のずれ調整を行うようにした。
【0009】本発明のマルチ画面表示装置では、上記テ
スト信号発生手段は、ディスプレイ数に応じたテストパ
ターンを発生させる手段を有するようにした。
【0010】本発明のマルチ画面表示方法では、個々の
ディスプレイに対して表示画面サイズおよび表示位置の
ずれがわかるパターンからなるテスト信号を映像分割手
段に入力し、このテスト信号をディスプレイ数分に分割
させて個々のディスプレイにそれぞれ上記テストパター
ンを表示させ、個々のディスプレイごとに表示画面サイ
ズおよび表示位置のずれ調整を行う。
【0011】本発明のマルチ画面表示方法では、テスト
信号のパターン数をディスプレイ数に応じて変化させ
る。
【0012】
【作用】本発明のマルチ画面表示装置によれば、テスト
信号発生手段により個々のディスプレイに対して表示画
面サイズおよび表示位置のずれがわかるパターンからな
るテスト信号が発生される。発生されたテスト信号は、
映像分割手段に入力され、ここで各ディスプレイ対応に
分割される。これにより、個々のディスプレイにそれぞ
れテストパターンが表示される。この表示パターンを見
ながら、個々のディスプレイごとに表示画面サイズおよ
び表示位置のずれ調整が行われる。
【0013】本発明のマルチ画面表示装置によれば、デ
ィスプレイ数に変更があれば、それに応じたテストパタ
ーンが発生される。
【0014】本発明のマルチ画面表示方法によれば、ま
ず、個々のディスプレイに対して表示画面サイズおよび
表示位置のずれがわかるパターンからなるテスト信号を
映像分割手段に入力させる。これにより、テスト信号を
ディスプレイ数分に分割させて個々のディスプレイにそ
れぞれテストパターンを表示させる。操作者は、個々の
ディスプレイごとに表示されたテストパターンを見なが
ら表示画面サイズおよび表示位置のずれ調整を行う。
【0015】本発明のマルチ画面表示方法によれば、マ
ルチ画面数が変わると、それに応じてテスト信号のパタ
ーン数が変更される。
【0016】
【実施例】図1は、本発明に係るマルチ画面表示装置の
概要を示す全体構成図で、図中、1はテスト信号発生
器、2は映像分割手段としてのプロセッサ、MLTは4
個のディスプレイDSPを2×2のマトリクス状に配列
してなるマルチ画面をそれぞれ示している。
【0017】テスト信号発生器1は、個々のディスプレ
イDSPに対して表示画面サイズおよび表示位置のずれ
がわかるパターンからなるテスト信号TSTを発生す
る。図2は、テスト信号TSTの構成例を示している。
テスト信号TSTは、図2の(a) に示すような、四角形
の外枠Aと、四角形の内枠Bと、外枠A内における画面
の中心を示すための十文字パターンCと、十文字パター
ンCの4つの頂点を結んでなるひし形パターンDとから
構成される1画面分に相当する基準パターンBPTN
を、図2の(b) に示すように、マルチ画面MLTのディ
スプレイ数およびその配列に応じて配列させた複合パタ
ーンから構成される。
【0018】図3は、テスト信号発生器1の構成例を示
すブロック図である。図3に示すように、テスト信号発
生器1は、水平方向ディスプレイ台数設定部(以下、H
台数設定部という)11と、垂直方向ディスプレイ台数
設定部(以下、V台数設定部という)12と、水平方向
読み出しタイミング生成部(以下、H読み出しタイミン
グ生成部という)13と、垂直方向読み出しタイミング
生成部(以下、V読み出しタイミング生成部という)1
4と、クロック信号生成部15と、メモリ読み出しタイ
ミング生成部16と、パターンメモリ17と、テスト信
号作成部18と、アンプ19とから構成されている。
【0019】H台数設定部11は、たとえばロータリエ
ンコーダやキーボードなどから構成され、マルチ画面M
LTの水平方向に配列されているディスプレイDSPの
数を設定する。この値は、マルチ画面MLTのマトリク
スサイズに応じて変更可能で、図1の構成の場合には
「2」が設定される。
【0020】V台数設定部12は、たとえばロータリエ
ンコーダやキーボードなどから構成され、マルチ画面M
LTの垂直方向に配列されているディスプレイDSPの
数を設定する。この値は、上述のH台数設定部11の場
合と同様に、マルチ画面MLTのマトリクスサイズに応
じて変更可能で、図1の構成の場合には「2」が設定さ
れる。
【0021】H読み出しタイミング生成部13は、H台
数設定部11の設定値を受けて、水平方向において1画
面内でパターンメモリ17に格納されている基準パター
ンを何回読み出すかを決定し、そのタイミングをクロッ
ク信号CLKに基づいて生成する。
【0022】V読み出しタイミング生成部14は、V台
数設定部12の設定値を受けて、垂直方向において1画
面内でパターンメモリ17に格納されている基準パター
ンを何回読み出すかを決定し、そのタイミングをクロッ
ク信号CLKに基づいて生成する。
【0023】クロック信号生成部15は、所定周波数の
クロック信号CLKを生成し、H読み出しタイミング生
成部13、V読み出しタイミング生成部14、メモリ読
み出しタイミング生成部16およびテスト信号作成部1
8に出力する。
【0024】メモリ読み出しタイミング生成部16は、
H読み出しタイミング生成部13およびV読み出しタイ
ミング生成部14により生成された水平方向および垂直
方向読み出しタイミングから、クロック信号CLKに基
づいてパターンメモリ17に格納されている基準パター
ンの読み出しタイミングを生成する。
【0025】パターンメモリ17は、ディスプレイDS
Pに対して表示画面サイズおよび表示位置のずれがわか
るパターンからなる、図2の(a) に示す基準テストパタ
ーンBPTNが格納されている。
【0026】テスト信号作成部18は、メモリ読み出し
タイミング生成部16による読み出しタイミングで読み
出された基準テストパターンBPTNおよびクロック信
号CLKの入力に基づいて、図2の(b) に示すようなテ
スト信号TSTを作成し、たとえばビデオの場合にはい
わゆるコンポジット信号に混合させ、また、ハイビジョ
ンの場合などはR,sync付G,B信号に混合させ、アン
プ19を介してプロセッサ2に出力する。
【0027】プロセッサ2は、1つの映像をディスプレ
イ数分に分割して各ディスプレイに分配し、複数のディ
スプレイDSPで1つの画面を構成させるとともに、テ
スト信号TSTをディスプレイDSPの数分に4分割さ
せて個々のディスプレイDSPにそれぞれテストパター
ンを表示させる。
【0028】次に、上記構成による表示画面サイズおよ
び表示位置のずれの調整動作を説明する。まず、H台数
設定部11によりマルチ画面MLTの水平方向に配列さ
れているディスプレイDSPの数が設定されるととも
に、V台数設定部12によりマルチ画面MLTの垂直方
向に配列されているディスプレイDSPの数が設定され
る。図1の構成の場合、両者共「2」に設定される。こ
れらの設定値は、それぞれH読み出しタイミング生成部
13、V読み出しタイミング生成部14に入力される。
これにより、水平および垂直方向において1画面内でパ
ターンメモリ17に格納されている基準テストパターン
BPTNを何回読み出すかが決定され、クロック信号C
LKの入力に基づいてそのタイミングが生成され、各々
の結果がメモリ読み出しタイミング生成部16に入力さ
れる。
【0029】メモリ読み出しタイミング生成部16で
は、H読み出しタイミング生成部13およびV読み出し
タイミング生成部14により生成された水平方向および
垂直方向読み出しタイミングから、クロック信号CLK
に基づいてパターンメモリ17に格納されている基準パ
ターンの読み出しタイミングが生成される。
【0030】これに伴い、パターンメモリ17から基準
パターンが読み出しタイミングに基づいて読み出され、
テスト信号作成部18に入力される。テスト信号作成部
18では、メモリ読み出しタイミング生成部16による
読み出しタイミングで読み出された基準テストパターン
BPTNおよびクロック信号CLKの入力に基づいて、
図2の(b) に示すような、基準テストパターンBPTN
を2×2のマトリクス状に配列した形のテスト信号TS
Tが作成される。このテスト信号TSTは、たとえばビ
デオの場合にはいわゆるコンポジット信号に混合され
て、アンプ19を介してプロセッサ2に出力される。
【0031】プロセッサ2では、入力テスト信号TST
がディスプレイDSPの数分に4分割させて個々のディ
スプレイDSPに分配され、各ディスプレイDSPにそ
れぞれテストパターンが拡大されて表示される。このと
きに各ディスプレイDSPに表示される分割テストパタ
ーンは、図4の(a) に示すように、各ディスプレイごと
に画面表示サイズおよび画面位置のずれが生じている。
ここで、図4の(b) に示すように、各ディスプレイDS
Pごとに画面表示サイズおよび画面位置のずれ調整が行
われる。このとき、従来のように、各ディスプレイDS
Pごとに周囲のディスプレイDSPの画像とのトラッキ
ング並びにマルチ画面MLT全体の画像とのトラッキン
グを取るという煩雑な調整は不要で、各ディスプレイD
SP単独でのみ調整が行われ、その結果として、マルチ
画面MLT全体としてずれのないものとなる。
【0032】以上説明したように、本実施例によれば、
個々のディスプレイDSPに対して表示画面サイズおよ
び表示位置のずれがわかるパターンからなるテスト信号
を発生し、これをプロセッサ2でディスプレイ数分に分
割して分配するようにしたので、従来装置のように各デ
ィスプレイDSPごとに周囲のディスプレイDSPの画
像とのトラッキング並びにマルチ画面MLT全体の画像
とのトラッキングを取るという煩雑な調整が不要で、各
画面における表示画面サイズ並びに表示位置のずれ調整
を行うだけで、画面数と信号源によって調整不可能なデ
ィスプレイDSPを生じさせることなく、また、調整に
対する熟練度にかかわりなく、マルチ画面MLT全体の
歪みを補正することができる。
【0033】なお、本実施例では、発生するテスト信号
TSTの基準パターンBTRNとして、図2の(a) に示
すような、四角形の外枠Aと、四角形の内枠Bと、外枠
A内における画面の中心を示すための十文字パターンC
と、十文字パターンCの4つの頂点を結んでなるひし形
パターンDとから構成されるものを例に説明したが、一
画面ごとに画面表示サイズおよび画面位置のずれ調整が
行えるパターンであれば図2の(a) に示すパターンに限
定されるものではない。たとえば、図5の(a) に示すよ
うな、ひし形パターンに代えて内枠Bの上下2辺に内接
する円パターンEを有するもの、あるいは、図5の(b)
に示すような、ひし形パターンに代えて内枠Bの内側に
さら小さな四角形枠Fを有するものなどを発生するよう
に構成しても、上記と同様の作用効果を得ることができ
る。
【0034】また、テスト信号発生器1としては、図3
に示すものに限定されるものではなく、たとえば、いわ
ゆるディスプレイコントローラを用いて、図6に示すよ
うに構成してもよい。図6において、101はH,V台
数入力部、102はCPU、103はディスプレイコン
トローラ、104はクロック信号生成部、105はパタ
ーンメモリ、106はテスト信号作成部、107はアン
プをそれぞれ示している。この場合、CPU102がイ
ンタフェースとなり、水平方向および垂直方向のディス
プレイDSPの配列数をH,V台数入力部101により
CPU102に入力し、CPU102からディスプレイ
コントローラ103を通してパターンメモリ105上に
パターンを書き込み、書き込んだパターンをテスト信号
作成部106に出力し、テスト信号TSTを作成するよ
うに構成されている。このような構成においても、上記
した効果と同様の効果を得ることができる。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のマルチ画
面表示装置によれば、各画面における表示画面サイズ並
びに表示位置のずれ調整を行うだけで、画面数と信号源
によって調整不可能なディスプレイを生じさせることな
く、また、調整に対する熟練度にかかわりなく、マルチ
画面MLT全体の歪みを補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るマルチ画面表示装置の概要を示す
全体構成図である。
【図2】本発明に係るテスト信号パターンの構成例を示
す図である。
【図3】本発明に係るテスト信号発生器の構成例を示す
ブロック図である。
【図4】本発明に係る動作を説明するための図である。
【図5】本発明に係るテスト信号パターンの他の構成例
を示す図である。
【図6】本発明に係るテスト信号発生器の他の構成例を
示すブロック図である。
【図7】従来の調整方法を説明するための図である。
【符号の説明】
1…テスト信号発生器 11…水平方向ディスプレイ台数設定部(H台数設定
部) 12…垂直方向ディスプレイ台数設定部(V台数設定
部) 13…水平方向読み出しタイミング生成部(H読み出し
タイミング生成部) 14…垂直方向読み出しタイミング生成部(V読み出し
タイミング生成部) 15…クロック信号生成部 16…メモリ読み出しタイミング生成部 17…パターンメモリ 18…テスト信号作成部 19…アンプ 101…H,V台数入力部 102…CPU 103…ディスプレイコントローラ 104…クロック信号生成部 105…パターンメモリ 106…テスト信号作成部 107…アンプ 2…プロセッサ MLT…マルチ画面 DSP…ディスプレイ TST…テスト信号

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のディスプレイと、1つの映像をデ
    ィスプレイ数分に分割して各ディスプレイに分配する手
    段を有し、複数のディスプレイで1つの画面を構成する
    マルチ画面表示装置であって、 個々のディスプレイに対して表示画面サイズおよび表示
    位置のずれがわかるパターンからなるテスト信号を発生
    する手段を設け、 テスト信号を上記映像分割手段に入力し、個々のディス
    プレイにそれぞれ上記テストパターンを表示させて、個
    々のディスプレイごとに表示画面サイズおよび表示位置
    のずれ調整を行うようにしたことを特徴とするマルチ画
    面表示装置。
  2. 【請求項2】 上記テスト信号発生手段は、ディスプレ
    イ数に応じたテストパターンを発生させる手段を有する
    請求項1記載のマルチ画面表示装置。
  3. 【請求項3】 映像分割手段により1つの映像をディス
    プレイ数分に分割して各ディスプレイに分配し、複数の
    ディスプレイで1つの画面を構成するマルチ画面表示方
    法であって、 個々のディスプレイに対して表示画面サイズおよび表示
    位置のずれがわかるパターンからなるテスト信号を上記
    映像分割手段に入力し、 このテスト信号をディスプレイ数分に分割させて個々の
    ディスプレイにそれぞれ上記テストパターンを表示さ
    せ、 個々のディスプレイごとに表示画面サイズおよび表示位
    置のずれ調整を行うことを特徴とするマルチ画面表示方
    法。
  4. 【請求項4】 上記テスト信号のパターン数をディスプ
    レイ数に応じて変化させる請求項3記載のマルチ画面表
    示方法。
JP4183097A 1992-06-17 1992-06-17 マルチ画面表示装置およびその方法 Pending JPH066632A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005107681A (ja) * 2003-09-29 2005-04-21 Seiko Epson Corp 複数画面画像表示システム、複数画像表示装置の相対位置検出方法、複数画像表示装置の相対位置検出プログラムおよび複数画像表示装置の相対位置検出プログラムを記録した記録媒体
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