JPH0652547A

JPH0652547A - マークエッジ記録方式における記録パルス補正方法

Info

Publication number: JPH0652547A
Application number: JP18423392A
Authority: JP
Inventors: Narihiro Masui; 成博増井; Ikuo Aoki; 育夫青木
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1992-06-05
Filing date: 1992-07-13
Publication date: 1994-02-25
Anticipated expiration: 2016-10-29
Also published as: JP3222934B2

Abstract

(57)【要約】【目的】マークエッジ記録方式において、周囲環境の
変動等があっても、正確なエッジ位置制御を可能とする
こと。【構成】エッジ位置制御を行う際に、記録パルスのパ
ルス幅及び出力タイミングの補正値の初期値をＣＰＵか
らメモリに書込み、指定データによる記録パルスをこの
メモリに格納されている補正値に従い実際に光記録媒体
へ書込み記録した後、記録されたデータを再生し、この
再生データと指定データとを比較し、これらのデータが
一致するまで補正値を可変させて再度メモリへの書込
み、その補正値に従う光記録媒体への書込み記録及びそ
の再生・比較を繰返すことで、補正値の最適値を算出・
設定する学習機能を持たせ、その時点での光記録媒体の
種類や特性の違い、さらには、周囲環境の変化、或いは
ドライブ装置や媒体自身の経時変化にも対処し得る適正
なエッジ位置制御を可能とした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクドライブ装
置や光磁気ディスクドライブ装置のマークエッジ記録方
式における記録パルス補正方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、光ディスクにおいてデータを書
込む時には、光記録媒体上へレーザ光を照射して熱を加
え、媒体に穴をあけたり、媒体の磁化方向を反転させた
り、或いは、媒体の結晶状態を変化させることにより、
データを記録するようにしている。

【０００３】ここに、光ディスクの記録方法の一つとし
て、記録マークの前エッジと後エッジとに各々符号語ビ
ットを対応させ、記録マークの長さが情報を担うように
した「マークエッジ記録方法」がある。この記録方法は
高密度記録化に適している反面、エッジ位置に正確さが
要求される。

【０００４】即ち、マークエッジ記録方法により記録す
る際、直前に書込んだ記録マークの余熱の影響により、
実際の記録マーク長が印加した記録パルスより長くなっ
たり、前エッジ近傍ではレーザ光による熱の蓄積が不十
分なため、図１７に示すように、マーク形状の不整が生
じ得る。このため、エッジ位置が理想の位置からずれ、
ジッターが増大し、最悪の場合には、元のデータ通りに
再生できなくなってしまう。よって、マークエッジ記録
方法においては、正確なエッジ位置制御が必要となる。

【０００５】このようなことから、エッジ位置制御方法
として、記録光パルスのパルス幅とパワーとを、光ディ
スクの記録半径に応じて、或いは、記録データパターン
の疎密により（つまり、直前のブランク長により）補正
するようにしたものが、特開昭６３−５３７２２号公報
により示されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、光磁気ディ
スクのように熱伝導率の高い媒体に記録する際には、書
込もうとしている記録マークの熱の影響のみならず、直
前に書込まれた記録マークの余熱の影響により、記録マ
ークの前エッジ及び後エッジの位置がずれてしまう。即
ち、直前のマーク長並びにブランク長の違いによって光
ディスクに蓄積されている余熱の量が異なるため、記録
データパターンによりエッジ位置ずれの量が変化する。
例えば、図１８に示すように、データパターンａとデー
タパターンｂのように、ブランク長が等しくても、直前
の記録パルス長が異なると光ディスクに蓄積されている
熱の量が異なるため、記録マークのエッジの位置ずれ量
が異なってくる。よって、光磁気ディスクに対する記録
時においては、従来のように、記録パルスのパルス幅及
びパワーの補正量を一定に設定したり、直前のブランク
長のみで補正量を決定する方法では、正確なエッジ位置
制御を行えない。

【０００７】また、前述したようなマーク形状の不整を
補正する際にも、上記と同様な理由により、記録データ
パターンによってマーク形状の不均一性の度合いが異な
るため、記録パルスの立上り部のパワーを一定に設定し
たり、直前のブランク長のみで決定するような従来法で
はマーク形状の補正が不完全なものとなってしまう。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、光記録媒体上に強度変調させたレーザ光を照射し
て、長さが情報を担う記録マークを形成することにより
情報を記録するようにしたマークエッジ記録方式におい
て、記録パルスのパルス幅及び出力タイミングの補正値
の初期値をＣＰＵからメモリに書込み、指定データによ
る記録パルスを前記メモリに格納されている補正値に従
い前記光記録媒体へ書込み記録した後、記録されたデー
タを再生し、この再生データと前記指定データとを比較
し、これらのデータが一致するまで前記補正値を可変さ
せて前記メモリへの書込み、その補正値に従う光記録媒
体への書込み記録及びその再生・比較を繰返して、前記
補正値の最適値を算出・設定するようにした。

【０００９】加えて、請求項２記載の発明では、再生デ
ータと指定データとの一致後に、再生系データＰＬＬの
位相を所定量ずらして再度記録データを再生し、この再
生データと前記指定データとを比較し、これらのデータ
が一致するまで再び前記補正値を可変させて前記メモリ
への書込み、その補正値に従う光記録媒体への書込み記
録、その再生・比較、及び一致後の位相ずらしによる再
生・比較を繰返して、前記補正値の最適値を算出・設定
するようにした。

【００１０】これらの発明において、請求項３記載の発
明では、記録パルスの補正値の初期値を予め光記録媒体
の指定領域に記録しておき、この光記録媒体の指定領域
から記録パルスの補正値の初期値をメモリに書込ませる
ようにした。

【００１１】また、請求項４記載の発明では、求められ
た補正値の最適値を、その時点で記録されている初期値
に代えて光記録媒体の指定領域に記録し、次回の補正値
学習時の初期値とするようにした。

【００１２】さらに、請求項５記載の発明では、記録パ
ルスの補正値を、そのパルス幅及び出力タイミングの補
正値の他、記録パルスの立上り部の記録パワー及びこの
記録パワーを変化させる長さの補正値を含むものとし
た。

【００１３】一方、請求項６記載の発明では、指定デー
タ又は実際のデータの記録に際して、書込み対象の記録
パルス長Ｌ₀ 、この記録パルス直前のブランク長Ｌ₁ 及
び１つ前の記録パルス長Ｌ₂ を記録データパターン識別
手段により算出し、これらの長さＬ₀ ，Ｌ₁ ，Ｌ₂ のデ
ータをメモリのアドレス入力とし、このメモリ出力を記
録パルスの補正値として用いるようにした。

【００１４】加えて、請求項７記載の発明では、記録デ
ータパターンの前エッジ位置情報及び後エッジ位置情報
を示すパルスをメモリより読出した記録パルスの補正値
に基づき遅延手段により各々遅延させ、遅延されたパル
ス列からＮＲＺＩコードによる記録パルスを生成するよ
うにした。

【００１５】同様に、請求項８記載の発明では、記録デ
ータパターンの前エッジ位置情報を示すパルスと後エッ
ジ位置情報を示すパルスとをパルス列分離手段により分
離し、分離された各々のパルス列をメモリより読出した
記録パルスの補正値に基づき遅延手段により各々遅延さ
せ、遅延された各々のパルス列からＮＲＺＩコードによ
る記録パルスを生成するようにした。

【００１６】また、請求項９記載の発明では、使用する
変調コードのランダムデータを指定データとした。

【００１７】請求項１０記載の発明では、請求項６記載
の発明方式に加え、再生パルス信号のエッジのデータ弁
別用ウインドウの中心からの変動量をエッジ変動量検出
手段により検出し、この変動量が所定量以上の場合にこ
の変動量に相当する分だけ前記補正値を変化させて再度
メモリに書込み、前記補正値の最適値を算出・設定する
ようにした。

【００１８】この際、請求項１１記載の発明では、エッ
ジ変動量検出手段に複数個の弁別器を用い、これらの弁
別器に対するデータ弁別用ウインドウとして所定量ずつ
シフトさせたウインドウを用いて再生した複数個の再生
パルス信号をベリファイチェックした結果から、データ
弁別用ウインドウの中心からの変動量を検出するように
した。

【００１９】また、請求項１２記載の発明では、エッジ
変動量検出手段に１個の弁別器を用い、同じパターンの
繰返しデータによる指定データを記録した後、再生時に
データ弁別用ウインドウを順次所定量ずつずらしながら
再生し、これをベリファイチェックした結果から、デー
タ弁別用ウインドウの中心からの変動量を検出するよう
にした。

【００２０】さらに、請求項１３記載の発明では、エッ
ジ変動量検出手段に位相比較器を用いた。

【００２１】また、請求項１４記載の発明では、記録パ
ルスの補正値の初期値を予め光記録媒体の指定領域に記
録しておき、この光記録媒体の指定領域から記録パルス
の補正値の初期値をメモリに書込ませ、求められた補正
値の最適値を、その時点で記録されている初期値に代え
て光記録媒体の指定領域に記録し、次回の補正値学習時
の初期値とするようにした。

【００２２】

【作用】請求項１記載の発明においては、指定データに
基づき実際に書込み記録を行った結果についての再生デ
ータが初期の指定データに一致するまで、記録パルスの
補正値を可変させることで最適値を算出・設定する学習
機能を持つので、光記録媒体の種類や特性の違い、さら
には、周囲環境の変化、或いはドライブ装置や媒体自身
の経時変化にも対処し得る適正なエッジ位置制御が可能
となる。

【００２３】加えて、請求項２記載の発明においては、
再生データと指定データとの一致後に、さらに、再生系
データＰＬＬの位相をずらして同様に記録されたデータ
の再生データと指定データとの比較処理を一致するまで
繰返すので、再生系データＰＬＬにより生成されるデー
タ弁別のためのウインドウの中心に、記録パルスの前後
エッジが位置するように補正することも可能となり、再
生系データＰＬＬの位相に変動があってもデータエラー
を生ずることなく再生し得るものとなる。

【００２４】請求項３記載の発明においては、記録パル
スの補正値の初期値を光記録媒体の指定領域に記憶して
おくので、ＣＰＵが搭載される制御系に補正値を格納し
ておく必要がないため、制御系内のメモリ容量は少なく
てよい。また、個々の光記録媒体に適した補正値を初期
値として用い得るので、学習動作の時間が短縮される。

【００２５】請求項４記載の発明においては、学習機能
により求められた補正値の最適値を光記録媒体の指定領
域に記録しておき、次回の補正値学習時の初期値として
いるので、次の記録時の学習動作の時間が短縮される。

【００２６】請求項５記載の発明においては、記録パル
スの補正値として、記録パルスのパルス幅及び出力タイ
ミングの補正値の他に、記録パルスの立上り部のパワー
及びそのパワーを変化させる長さの補正値をも用いるの
で、光記録媒体におけるその時点での諸条件に適した正
確な記録マークのエッジ位置制御及びマーク形状の制御
が可能となる。

【００２７】請求項６記載の発明においては、これから
書込もうとする書込み対象の記録パルス長Ｌ₀ 、直前の
ブランク長Ｌ₁ 及び１つ前の記録パルス長Ｌ₂ を算出
し、その値をメモリのアドレス入力とし、メモリ出力を
記録パルスの補正値として設定するので、光記録媒体の
種類の違いや、周囲環境の変化、或いは、ドライブ装
置、媒体自身の経時変化の他、記録データパターンをも
考慮した補正となり、より正確なエッジ位置制御が可能
となる。

【００２８】請求項７記載の発明においては、記録デー
タパターンの前エッジ位置情報、後エッジ位置情報を示
すパルスを各々補正値に従って遅延させ、遅延されたパ
ルス列からＮＲＺＩコードの記録パルスを生成するよう
にしたので、極めて簡単にして補正値に基づいた記録パ
ルスを得ることができる。

【００２９】請求項８記載の発明においては、このよう
な記録データパターンの前エッジ位置情報、後エッジ位
置情報を示すパルスをパルス列分離手段で分離して各々
遅延処理を経てＮＲＺＩコードの記録パルスを生成する
ようにしたので、高速記録にも対応できるものとなる。

【００３０】請求項９記載の発明においては、指定デー
タとして、使用する変調コードのランダムデータとして
いるので、補正値として、実際に記録されるユーザデー
タのあらゆるパターンに対応した最適値が求まる。

【００３１】請求項１０記載の発明においては、再生パ
ルス信号のエッジとデータ弁別用ウインドウの中心との
差を検出し、その差が大きい場合にその差に相当する分
だけ補正値を変化させて記録パルスの最適値を算出・設
定するので、再生系データＰＬＬにより作成されるウイ
ンドウの中心に再生パルス信号のエッジが位置するよう
に微調することができる。

【００３２】請求項１１記載の発明においては、エッジ
変動量検出手段に複数個の弁別器を用い、これらの弁別
器に対するデータ弁別用ウインドウとして所定量ずつシ
フトさせたウインドウを用いて再生した複数個の再生パ
ルス信号をベリファイチェックした結果から、データ弁
別用ウインドウの中心からの変動量を検出するので、簡
単な構成で再生パルス信号のエッジ変動量の検出が可能
となる。

【００３３】請求項１２記載の発明においては、エッジ
変動量検出手段に１個の弁別器を用い、同じパターンの
繰返しデータによる指定データを記録した後、再生時に
データ弁別用ウインドウを順次所定量ずつずらしながら
再生し、これをベリファイチェックした結果から、デー
タ弁別用ウインドウの中心からの変動量を検出するの
で、極めて小さな回路規模で再生パルス信号のエッジ変
動量の検出が可能となる。

【００３４】請求項１３記載の発明においては、エッジ
変動量検出手段に位相比較器を用いたので、極めて簡単
な構成にして、高精度に再生パルス信号のエッジ変動量
の検出が可能となる。

【００３５】請求項１４記載の発明においては、請求項
３記載の発明と同様に、記録パルスの補正値の初期値を
光記録媒体の指定領域に記憶しておくので、ＣＰＵが搭
載される制御系に補正値を格納しておく必要がないた
め、制御系内のメモリ容量は少なくてよい。また、個々
の光記録媒体に適した補正値を初期値として用い得るの
で、学習動作の時間が短縮される。また、請求項４記載
の発明と同様に、学習機能により求められた補正値の最
適値を光記録媒体の指定領域に記録しておき、次回の補
正値学習時の初期値としているので、次の記録時の学習
動作の時間が短縮される。

【００３６】

【実施例】本発明の第一の実施例を図１ないし図４に基
づいて説明する。本実施例は、学習機能により、光記録
媒体の種類や特性及び周囲環境変化、さらには、ドライ
ブ装置ないしは媒体自身の経時変化等に対しても適応し
て記録パルスの補正値の最適値を算出・設定し、このよ
うな補正値に基づいて記録パルスの出力タイミング、パ
ルス幅、並びに、記録パルスの立上り部の記録パワーの
補正を行うことで、記録マークのエッジ位置を高精度に
制御できるようにしたものである。

【００３７】例えば、記録データをマークエッジ記録方
式により書込む際、データをＮＲＺＩコード（Ｎon Ｒe
turn to Ｚero Ｉnverted コード）に変換し、これを補
正せずにそのまま用いて記録すると、前述したように、
記録マークは理想状態より長く書き込まれてしまう（図
２中の上部にも実際の記録マークとして示す）。そこ
で、本実施例では、このような記録パルスのパルス幅及
び出力タイミングを補正値により補正し、この補正後の
記録パルスを用いることにより、記録マークのエッジ位
置が理想の位置にくるように制御することを基本とす
る。

【００３８】また、光記録媒体の種類によって前述した
ように記録マーク形状の不整が顕著な場合は、図３に示
すように、記録パルスのパルス幅、出力タイミングだけ
でなく、記録パルスの立上り部の記録パワー及びその記
録パワーを変化させる長さを補正することで、記録マー
クのエッジ位置及びマーク形状を補正するようにもす
る。

【００３９】このような記録パルスの補正を行うための
補正値には、当該光記録媒体に対するその時点での諸条
件に適した記録パルスの補正値を用いればよい。しかし
て、本実施例では、このための記録パルスの補正値の最
適値の算出及び設定を図１に示すアルゴリズムの学習動
作で行うようにしたものである。

【００４０】まず、記録パルスの補正値の初期値をＣＰ
ＵからＲＡＭ（メモリ）へ書込む。そして、所定の指定
データを光記録媒体（ディスク）へ書込み記録する。こ
の際、ＲＡＭより読出した補正値に基づき指定データの
記録パルスを補正して書込み記録する。その後、ディス
クからこの記録データを再生し、再生データを前記指定
データと比較する。比較の結果、両データが一致してい
れば、補正値が適正なものであるとして、学習動作を終
了する。一方、比較の結果が一致していなければ、ＲＡ
Ｍから読出した補正値の値を可変させて再びこのＲＡＭ
へ書込んだ後、この可変された補正値に基づき指定デー
タの記録パルスを補正してディスクに書込み記録し、こ
の記録データを再生し、再生データを指定データと比較
する。この処理を両データが一致するまで繰返し、一致
した時点での補正値を、そのディスクにおけるその時点
での条件に最適な補正値としてＲＡＭに保存する。

【００４１】具体的な補正値データとしては、記録パル
スの前エッジ出力タイミング、後エッジ出力タイミング
等でよい（これらの２つの出力タイミングによりパルス
幅が決まる）。さらには、記録パルスの立上り部の記録
パワーの補正値や、記録パワーを変化させる長さの補正
値をも記憶させておけば、記録マーク形状の補正も可能
となる。

【００４２】このような学習機能を持つマークエッジ記
録装置は例えば図４に示すように構成すればよい。ま
ず、ＣＰＵ等を含むコントローラ１が設けられ、このコ
ントローラ１にはＲＡＭ（メモリ）２が接続されている
他、光ディスク（光記録媒体）３に対する書込み系４と
再生系５とが接続されている。前記ＲＡＭ２には書込み
／読出し動作を切換え制御するためのセレクタ６が接続
されている。また、前記書込み系４はコントローラ１か
らの指定データを変調コードに変換する変調器７と、変
調コードを前記ＲＡＭ２から読出された補正値に基づき
補正する記録パルス補正手段８と、補正された記録パル
スに基づき駆動されるレーザ駆動回路９とにより構成さ
れ、光ピックアップ１０を通して前記光ディスク３に書
込み動作を行わせるものである。

【００４３】一方、再生系５では光ピックアップ１０に
より光ディスク３から検出された検出信号を増幅し波形
整形する再生アンプ１１、波形等化器１２と、２値化処
理する２値化回路１３とが設けられ、弁別器＆復調器１
４を通して再生データとして再生するものである。ここ
に、弁別器＆復調器１４に対して並列的に再生系データ
ＰＬＬ（Ｐhase Ｌocked Ｌoop）１５が設けられてお
り、同期信号が弁別器＆復調器１４に与えられている。

【００４４】このような構成において、まず、記録パル
スの補正値の初期値をコントローラ１内のＣＰＵからＲ
ＡＭ２へ予め書込んでおく。ここで、補正値の初期値又
は後述するように可変された補正値をこのＲＡＭ２へ書
込む際には、コントローラ１からのセレクト信号により
ＲＡＭ２をライト状態とし、補正値データをＲＡＭ２に
書込む。これ以外の時には、リード状態とし、いつでも
ＲＡＭ２から補正値を記録パルス補正手段８に読出し出
力し得るようにする。

【００４５】ついで、所定の指定データを光ディスク３
に書込み記録する。この指定データはコントローラ１よ
り送出されるもので、変調器７により変調コードに変換
される。変調方式としてはどのような方式でもよく、例
えば（２，７）ＲＬＬ符号（Ｒun Ｌength Ｌimited 符
号）や、（１，７）ＲＬＬ符号等がある。このように変
調された変調データは、記録パルス補正手段８により、
補正した記録パルスに変換される。ここに、記録パルス
の補正値はＲＡＭ２より読出されたもので、記録パルス
のパルス幅、出力タイミング、並びに、立上り部の記録
パワー等が補正される。補正された記録パルスをレーザ
駆動回路９に出力することにより、レーザが点滅され、
光ピックアップ１０を通して光ディスク３に記録マーク
が書込み形成され、記録がなされる。

【００４６】このような指定データの書込み記録後、こ
の記録データの再生を再生系５で行う。この再生系５は
通常のドライブ装置の再生系と同様の構成によるもの
で、まず、光ピックアップ１０により検出された信号は
再生アンプ１１で増幅され、波形等化器１２で波形整形
され、２値化回路１３で２値化される。２値化された再
生パルス信号は、弁別器＆復調器１４と再生系データＰ
ＬＬ１５に与えられ、再生パルス信号の基本周期に同期
させた同期信号を再生系データＰＬＬ１５から弁別器＆
復調器１４に与えることにより、同期信号により作成し
たデータ弁別用ウインドウ内に再生パルス信号があるか
ないかを検出して、再生データとして復調する。復調さ
れたこの再生データはコントローラ１に送出され、指定
データとの比較に供される。この比較の結果、両データ
が一致していれば学習動作を終了し、一致していなけれ
ば補正値データを変えてコントローラ１内のＣＰＵによ
りＲＡＭ２へ再度書込み、再生データにエラーがなくな
るまで（指定データと一致するまで）、上述した学習動
作を繰返す。

【００４７】なお、実際のデータの記録に際しては、指
定データを記録した場合と同様に行えばよい。

【００４８】つづいて、本発明の第二の実施例を図５な
いし図７により説明する。本実施例は、前記実施例と同
様に、再生データが指定データに一致するまで補正値の
学習動作を繰返すことを基本とするが、これに加えて、
データ一致後に、再生系データＰＬＬ１５の位相をずら
して記録データを再生した再生データと指定データとの
比較を両データが一致するまで繰返して、さらに、補正
値の学習動作をより完全に行わせるようにしたものであ
る。

【００４９】図５はこのような学習動作のアルゴリズム
を示すもので、前記実施例動作による両データの一致後
（ベリファイチェックＯＫ）、まず、再生系データＰＬ
Ｌ１５の位相を適宜ずらして光ディスク３上の記録デー
タを再生する。そして、この再生データを指定データと
比較し、一致していれば学習動作を終了するが、一致し
ていなければ前回と同様に補正値を可変して再度ＲＡＭ
２に書込む。そして、再び上記動作を行い、再生系デー
タＰＬＬ１５の位相をずらした結果による再生データと
指定データとが一致するまで上記の動作を繰返し、一致
した時点の補正値を最適値としてＲＡＭ２に保存設定す
る。

【００５０】本実施例を達成する上で、構成上は、大幅
な変更を要せず、図６に示すように、再生系データＰＬ
Ｌ１５に対してコントローラ１側より前記実施例による
学習終了後にＰＬＬ位相制御信号を送出して位相をずら
し得るようにすればよい。

【００５１】ここに、本実施例による効果について、図
７に示すタイミングチャートを参照して説明する。図７
において、Ａ部分に示すように再生パルス信号のエッジ
が再生系データＰＬＬ１５の同期信号に基づき生成され
るデータ弁別用ウインドウの中心付近にないと、ウイン
ドウが前後にシフトした場合、図示例では前へシフトし
た場合、再生データにエラーを生じてしまう。そこで、
本実施例では、再生系データＰＬＬ１５の位相がずれ、
ウインドウが前後にシフトしてもＢ部分に示すようにデ
ータエラーが発生しないような記録パルスの補正値を求
めて、これを最適値として保存設定するものである。な
お、図示例では説明を簡単にするため、ウインドウは再
生パルス信号が１のときのみ開くようにした。

【００５２】さらに、本発明の第三の実施例を図８によ
り説明する。本実施例は、記録データパターンによって
エッジ位置のずれ量が異なる場合に対応できるようにし
たものであり、記録データパターンに応じた補正値を設
定して記録パルスの補正を行い、エッジ位置及びマーク
形状を正確に制御できるように構成したものである。

【００５３】まず、指定データ（又は、実際のデータ）
を書込む際に、変調器７により変調された変調データの
データパターンを識別するデータパターン識別手段１６
が設けられている。このデータパターン識別手段１６は
図２、図３を参照すると、これから実際に書込もうとす
る記録パルス長Ｌ₀ 、この記録パルス直前のブランク長
Ｌ₁ 及び１つ前の記録パルス長Ｌ₂ を各々算出するもの
である。これらの長さ情報Ｌ₀ ，Ｌ₁ 及びＬ₂ が前記Ｒ
ＡＭ２のアドレス入力とされ、このＲＡＭ２の出力が記
録データパターンに応じた記録パルスの補正値となるよ
うに設定して、記録パルス補正手段８に与えるように構
成されている。ここに、当初のアドレス情報をコントロ
ーラ１側からＲＡＭ２に与えるため、ＲＡＭ２のアドレ
ス入力側にはセレクタ１７が介在されている。即ち、補
正値の初期値又は可変した補正値をＲＡＭ２へ書込む際
には、コントローラ１からのセレクト信号によりセレク
タ６，１７を介してＲＡＭ２をライト状態として補正値
データ情報をＲＡＭ２に書込み、これ以外の時には、リ
ード状態とし、前記長さ情報Ｌ₀ ，Ｌ₁ 及びＬ₂ をＲＡ
Ｍ２のアドレス入力とし、そのアドレスのＲＡＭ２出力
を記録データパターンに応じた記録パルスの補正値とし
て記録パルス補正手段８に送るものである。

【００５４】また、本発明の第四の実施例を図９により
説明する。本実施例は、記録パルス補正手段８の構成を
改良し、遅延素子１８とセレクタ１９とよる遅延手段２
０と、トグル型フリップフロップ２１とを縦列接続して
構成し、前記ＲＡＭ２からの記録パルスの補正値をセレ
クト信号として動作が制御される。

【００５５】まず、変調データには記録パルスの立上り
を決める前エッジパルスと立下りを決める後エッジパル
スとが交互に並んでおり、これをトグル型フリップフロ
ップ２１に入力すると、ＮＲＺＩコードに変換され、そ
の出力が記録パルスとなる。そこで、指定データ（又
は、実際のデータ）を記録する際には、ＲＡＭ２より得
られた補正値データをセレクト信号として用いる一方、
各々のパルスを前記遅延素子１８で遅延させてセレクタ
１９に入力させ、その内の一つを選択する。ちなみに、
記録パルス幅を短くする場合、後エッジパルスを進める
必要があるが、実際にはパルスを進めるような素子が存
在しないので、ここでは、変調データを所定の時間だけ
前に受取ることで、前後エッジパルスを各々遅延させる
ようにしている。この補正値データに基づいて各々遅延
させたパルス列をトグル型フリップフロップ２１に入力
させると、このトグル型フリップフロップ２１の出力が
記録データパターンに応じて補正された記録パルスとな
る。

【００５６】また、本発明の第五の実施例を図１０によ
り説明する。本実施例の記録パルス補正手段８では、ま
ず、入力された変調データに関して記録パルスの立上り
を決める前エッジパルスと立下りを決める後エッジパル
スとに分離するパルス列分離手段としてのデマルチプレ
クサ２２が設けられている。このデマルチプレクサ２２
の後段に前エッジパルス用の遅延手段２３として遅延素
子２４とセレクタ２５とが設けられているとともに、後
エッジパルス用の遅延手段２６として遅延素子２７とセ
レクタ２８とが設けられている。セレクタ２５に対して
はＲＡＭ２の補正値データ中の前エッジパルス遅延デー
タセレクト信号が与えられ、遅延素子２４により遅延さ
れた前エッジパルス中の一つがセレクタ２５により選択
される構成とされている。同様に、セレクタ２８に対し
てはＲＡＭ２の補正値データ中の後エッジパルス遅延デ
ータセレクト信号が与えられ、遅延素子２７により遅延
された後エッジパルス中の一つがセレクタ２８により選
択される構成とされている。前記セレクタ２５の出力を
セット信号とし、前記セレクタ２８の出力をリセット信
号とする生成手段としてのＳＲフリップフロップ２９が
設けられている。よって、このＳＲフリップフロップ２
９の出力が、記録データパターンに応じて補正された記
録パルスとなる。

【００５７】本実施例によれば、前エッジパルスと後エ
ッジパルスとに分離して遅延処理、ＮＲＺＩコードの記
録パルスの生成処理を行うようにしたので、高速記録に
対処し得るものとなる。

【００５８】また、本発明の第六の実施例を図１１によ
り説明する。本実施例は、前述したような記録パルスの
補正値の初期値を予め光ディスク３の指定領域に記憶さ
せておき、この指定領域から読込んだ補正値データの初
期値をＲＡＭ２に書込むことで、前述したような学習動
作を行わせるようにしたものである。光ディスク３の指
定領域としては、例えば、ＳＦＰ（Ｓtandard Ｆormate
d Ｐart）等が用いられる。

【００５９】本実施例によれば、個々の光ディスク３に
適した補正値を初期値として保有しているので、その光
ディスク３に対する学習動作の時間を短縮し得るものと
なる。

【００６０】さらには、学習動作により求められた補正
値の最適値を、その時点で指定領域に記録されている初
期値に代えて記録し、これを次回の学習動作の初期値と
すると、次回の記録時の学習動作時間を一層短縮し得る
ものとなる。

【００６１】さらに、本発明の第七の実施例を図１２な
いし図１４により説明する。本実施例は、前述した第三
の実施例方式、即ち、図８に示したように指定データ
（又は、実際のデータ）を書込む際に、変調器７により
変調された変調データのデータパターンとして、これか
ら実際に書込もうとする記録パルス長Ｌ₀ 、この記録パ
ルス直前のブランク長Ｌ₁ 及び１つ前の記録パルス長Ｌ
₂ をデータパターン識別手段１６により各々算出するこ
とを前提とする。

【００６２】本実施例の学習動作のアルゴリズムを図１
２を参照して説明する。まず、記録パルスの補正値デー
タの初期値をＣＰＵからＲＡＭ２へ書込み。そして、所
定の指定データを光ディスク３へ記録する。この際、前
述した場合と同様に、これから書込もうとする記録パル
ス長Ｌ₀ 、この記録パルス直前のブランク長Ｌ₁ 及び１
つ前の記録パルス長Ｌ₂ を算出し、これらの長さＬ₀ ，
Ｌ₁ ，Ｌ₂ の値に応じた補正値を前記ＲＡＭ２より設定
し、この補正値に基づき記録パルスを補正して光ディス
ク３へ記録する。その後、この記録した指定データを再
生し、得られた再生パルス信号のエッジとデータ弁別用
ウインドウの中心との差（変動量）を検出する。この差
が所定値以内であれば学習動作を終了するが（前述した
実施例の処理に相当する）、所定値よりも大きな差であ
った場合には、この差に相当する分だけ補正値データを
変化させて前記ＲＡＭ２へ再度書込む。また、同時に再
生データと前記指定データとが一致しているか否かにつ
いてのベリファイチェックを行い、エッジ位置ずれが大
きく、データエラーを起している場合には、補正値デー
タをさらに変化させて前記ＲＡＭ２へ再度書込む。そし
て、再生パルス信号のエッジがほぼデータ弁別用ウイン
ドウの中心に位置するまで上記動作を繰返し、記録パル
スの最適補正値を算出・設定するものである。

【００６３】このような学習動作により、その光ディス
ク３におけるその時点での条件に最適な記録パルスの補
正値がＲＡＭ２に書込まれることになる。そして、この
最適補正値を用いて記録パルスの補正を行い、データを
記録するため、光ディスク３の種類や特性の違い、周囲
環境の変化、又はドライブやディスクの経時変化にも対
応した、その時点での諸条件に適した正確なエッジ位置
制御が可能となる。

【００６４】また、最初にＲＡＭ２へ記録パルスの補正
値の初期値を書込まず、指定データを補正なしで光ディ
スク３へ記録し、これを再生して再生パルス信号のエッ
ジとデータ弁別用ウインドウの中心との差（変動量）を
検出し、その差に相当する分を最適補正値として算出・
設定するようにしてもよい。すると、補正値の初期値が
不明の場合でも、上述した学習動作によって最適補正値
が求められ、しかも、コントローラ１内に補正値の初期
値を格納しておく必要もないものとなる。

【００６５】このような学習機能を持つマークエッジ記
録装置は例えば図１３に示すように構成すればよい。即
ち、図４（又は図６）及び図８に示した構成に加え、再
生系５側において、再生系データＰＬＬ１５からの同期
信号に基づき作成したデータ弁別用ウインドウ内に再生
パルス信号のエッジがあるかないかを検出するための弁
別器１４ａ（ここでは、弁別器＆復調器１４を弁別器１
４ａと復調器１４ｂに分けて示す）にエッジ変動量検出
手段３０を接続して設け、検出されたエッジ変動量デー
タをコントローラ１内のＣＰＵに取込むようにしたもの
である。

【００６６】このような構成において、書込み系４の処
理は前述した実施例の場合と同様に行われる。一方、再
生系５の動作を図１４を参照して説明する。図１４に示
すように、書込んだ記録マークのエッジ位置ずれが大き
いと、再生パルス信号のエッジも大きくずれ、データ弁
別用ウインドウから外れ、データエラーを生ずる場合が
ある。また、再生パルス信号のエッジがデータ弁別用ウ
インドウの中心付近にないと、このウインドウが前後に
変動した場合にデータエラーが発生し得る。そこで、本
実施例では、エッジ変動量検出手段３０により再生パル
ス信号のエッジとデータ弁別用ウインドウの中心との
差、即ち、再生パルス信号のエッジ変動量を検出し、そ
の時点でＲＡＭ２に記憶している補正値にその差に相当
する量だけ加算又は減算し、これを最適補正値として、
再度ＲＡＭ２に書込む。以上の動作を行うことにより、
データ弁別用ウインドウが前後に変動した場合でもデー
タエラーが発生しないように、再生パルス信号のエッジ
がデータ弁別用ウインドウの中心に位置するような正確
な記録パルスの最適補正値が算出・設定できる。なお、
図１４に示す例では、簡略化のため、再生データが
“１”の時のみウインドウが開く場合を示す。

【００６７】また、実際に光ディスク３にデータを記録
する時には、指定データを記録する時と同様に、記録デ
ータのデータパターンに応じた補正値をＲＡＭ２より設
定し、これに従って記録パルスを補正し記録するように
すればよい。

【００６８】なお、図１３においてエッジ変動量検出手
段３０を位相比較器により構成すれば、極めて簡単な構
成にして、高精度に再生パルス信号のエッジ変動量を検
出することができる。

【００６９】さらに、本発明の第八の実施例を図１５及
び図１６により説明する。本実施例は、エッジ変動量検
出手段３１を複数個の弁別器１４ａ₁ 〜１４ａ_n と各々
の弁別器１４ａ₁ 〜１４ａ_n に対応させて設けた復調器
１４ｂ₁ 〜１４ｂ_n とにより構成したものである。これ
により、これらの弁別器１４ａ₁ 〜１４ａ_n のデータ弁
別用ウインドウとして所定量ずつシフトさせた複数個の
データ弁別用ウインドウ１〜ｎを用いて再生パルス信号
を各々弁別し、これらを復調した再生データ１〜ｎをベ
リファイチェックした結果から、再生パルス信号のエッ
ジが元のウインドウ１の中心からどの程度ずれているか
を検出し得るようにしたものである。

【００７０】図１６に示す例では、ウインドウ１，２で
弁別した再生データにはエラーが生じないが、ウインド
ウ３〜ｎで弁別した再生データにはエラーが発生する。
これにより、再生パルス信号のエッジは元のウインドウ
１内の領域２にあることが判る。従って、再生パルス信
号のエッジとウインドウ１の中心との差も検出し得るこ
とになる。なお、実際の再生データには弁別器１４ａ₁
及び復調器１４ｂ₁ を通して得られる再生データ１が用
いられる。

【００７１】また、学習動作に指定データを記録する際
に、同じパターンの繰返しデータによる指定データを記
録し、再生時に１つの弁別器でそのデータ弁別用ウイン
ドウを順次所定量ずつずらしながら弁別し、再生データ
をベリファイチェックした結果から、再生パルス信号の
エッジが元のデータ弁別用ウインドウ１の中心からどれ
だけずれているかを検出するようにしてもよい。図１６
を参照すれば、複数回繰返される同一パターンの再生パ
ルス信号についてデータ弁別用ウインドウを１からｎま
で順次変化させながら再生し、再生パルス信号のエッジ
が元のウインドウ１内のどの領域にあるかを調べる。こ
れにより、再生パルス信号のエッジとウインドウ１の中
心との差を検出することになる。

【００７２】なお、第七ないし八の実施例に示したエッ
ジ変動量を考慮した方式にあっても、図１１に示したよ
うな方式により学習動作の時間を短縮させてもよい。即
ち、記録パルスの補正値の初期値を予め光ディスク３の
指定領域に記憶させておき、この指定領域から読込んだ
補正値データの初期値をＲＡＭ２に書込むことで、前述
したような学習動作を行わせるものである。さらには、
学習動作により求められた補正値の最適値を、その時点
で指定領域に記録されている初期値に代えて記録し、こ
れを次回の学習動作の初期値とすると、次回の記録時の
学習動作時間を一層短縮し得るものとなる。

【００７３】なお、これらの各実施例において、指定デ
ータとしては、使用する変調コードのランダムデータと
してもよい。

【００７４】また、前述したような学習動作は、電源投
入時やデータ記録前若しくはドライブ装置のアイドル時
に行えば、ドライブ装置の他の諸動作を妨げることがな
い。

【００７５】

【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、マークエ
ッジ記録方式において、記録パルスのパルス幅及び出力
タイミングの補正値の初期値をＣＰＵからメモリに書込
み、指定データによる記録パルスを前記メモリに格納さ
れている補正値に従い前記光記録媒体へ書込み記録した
後、記録されたデータを再生し、この再生データと前記
指定データとを比較し、これらのデータが一致するまで
前記補正値を可変させて前記メモリへの書込み、その補
正値に従う光記録媒体への書込み記録及びその再生・比
較を繰返して、前記補正値の最適値を算出・設定するよ
うに学習機能を持たせたので、その時点での光記録媒体
の種類や特性の違い、さらには、周囲環境の変化、或い
はドライブ装置や媒体自身の経時変化にも対処し得る適
正なエッジ位置制御を行うことができる。

【００７６】加えて、請求項２記載の発明によれば、再
生データと指定データとの一致後に、再生系データＰＬ
Ｌの位相を所定量ずらして再度記録データを再生し、こ
の再生データと前記指定データとを比較し、これらのデ
ータが一致するまで再び前記補正値を可変させて前記メ
モリへの書込み、その補正値に従う光記録媒体への書込
み記録、その再生・比較、及び一致後の位相ずらしによ
る再生・比較を繰返して、前記補正値の最適値を算出・
設定する学習機能をも持たせたので、再生系データＰＬ
Ｌにより生成されるデータ弁別のためのウインドウの中
心に、記録パルスの前後エッジが位置するように補正す
ることも可能となり、よって、再生系データＰＬＬの位
相に変動があってもデータエラーを生ずることなく再生
できる程度まで、より適正なエッジ位置制御が可能とな
る。

【００７７】これらの発明において、請求項３記載の発
明によれば、記録パルスの補正値の初期値を予め光記録
媒体の指定領域に記録させておくようにしたので、ＣＰ
Ｕが搭載される制御系に補正値を格納しておく必要がな
いため、制御系内のメモリ容量を低減させることがで
き、かつ、個々の光記録媒体に適した補正値を初期値と
して用い得るので、学習動作の時間を短縮することもで
きる。

【００７８】また、請求項４記載の発明によれば、求め
られた補正値の最適値を、その時点で記録されている初
期値に代えて光記録媒体の指定領域に記録し、次回の補
正値学習時の初期値とするようにしたので、より適正な
初期値から学習が開始されるため、次の記録時の学習動
作の時間を短縮できる。

【００７９】さらに、請求項５記載の発明によれば、記
録パルスの補正値を、そのパルス幅及び出力タイミング
の補正値の他、記録パルスの立上り部の記録パワー及び
この記録パワーを変化させる長さの補正値を含むものと
したので、光記録媒体におけるその時点での諸条件に適
した正確な記録マークのエッジ位置制御及びマーク形状
の制御を行うことができる。

【００８０】一方、請求項６記載の発明によれば、指定
データ又は実際のデータの記録に際して、書込み対象の
記録パルス長Ｌ₀ 、この記録パルス直前のブランク長Ｌ
₁ 及び１つ前の記録パルス長Ｌ₂ を記録データパターン
識別手段により算出し、これらの長さＬ₀ ，Ｌ₁ ，Ｌ₂
のデータをメモリのアドレス入力とし、このメモリ出力
を記録パルスの補正値として用いるようにしたので、光
記録媒体の種類の違いや、周囲環境の変化、或いは、ド
ライブ装置、媒体自身の経時変化に加えて、記録データ
パターンをも考慮した補正となり、より正確なエッジ位
置制御を行うことができる。

【００８１】加えて、請求項７記載の発明によれば、記
録データパターンの前エッジ位置情報及び後エッジ位置
情報を示すパルスをメモリより読出した記録パルスの補
正値に基づき遅延手段により各々遅延させ、遅延された
パルス列からＮＲＺＩコードによる記録パルスを生成す
るようにしたので、極めて簡単にして補正値に基づいた
記録パルスを得ることができる。

【００８２】同様に、請求項８記載の発明によれば、こ
のような記録データパターンの前エッジ位置情報、後エ
ッジ位置情報を示すパルスを分離手段で分離して各々遅
延処理を経てＮＲＺＩコードの記録パルスを生成するよ
うにしたので、高速記録にも対応できるものとなる。

【００８３】また、請求項９記載の発明によれば、使用
する変調コードのランダムデータを指定データとしたの
で、補正値として、実際に記録されるユーザデータのあ
らゆるパターンに対応した最適値を求めることができ
る。

【００８４】一方、請求項１０記載の発明によれば、再
生パルス信号のエッジとデータ弁別用ウインドウの中心
との差を検出し、その差が大きい場合にその差に相当す
る分だけ補正値を変化させて記録パルスの最適値を算出
・設定するようにしたので、再生系データＰＬＬにより
作成されるウインドウの中心に再生パルス信号のエッジ
が位置するように微調することができる。

【００８５】この際、請求項１１記載の発明によれば、
エッジ変動量検出手段に複数個の弁別器を用い、これら
の弁別器に対するデータ弁別用ウインドウとして所定量
ずつシフトさせたウインドウを用いて再生した複数個の
再生パルス信号をベリファイチェックした結果から、デ
ータ弁別用ウインドウの中心からの変動量を検出するよ
うにしたので、簡単な構成で再生パルス信号のエッジ変
動量の検出を行わせることができる。

【００８６】また、請求項１２記載の発明によれば、エ
ッジ変動量検出手段に１個の弁別器を用い、同じパター
ンの繰返しデータによる指定データを記録した後、再生
時にデータ弁別用ウインドウを順次所定量ずつずらしな
がら再生し、これをベリファイチェックした結果から、
データ弁別用ウインドウの中心からの変動量を検出する
ようにしたので、極めて小さな回路規模で再生パルス信
号のエッジ変動量の検出を行わせることができる。

【００８７】一方、請求項１３記載の発明によれば、エ
ッジ変動量検出手段に位相比較器を用いたので、極めて
簡単な構成にして、高精度に再生パルス信号のエッジ変
動量の検出を行うことができる。

【００８８】さらに、請求項１４記載の発明によれば、
請求項３記載の発明と同様に、記録パルスの補正値の初
期値を光記録媒体の指定領域に記憶しておくようにした
ので、ＣＰＵが搭載される制御系に補正値を格納してお
く必要がないため、制御系内のメモリ容量の少なくてよ
いものとすることができ、また、個々の光記録媒体に適
した補正値を初期値として用い得るようにしたので、学
習動作の時間を短縮することができ、加えて、請求項４
記載の発明と同様に、学習機能により求められた補正値
の最適値を光記録媒体の指定領域に記録しておき、次回
の補正値学習時の初期値とするようにしたので、次の記
録時の学習動作の時間も短縮できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施例を示すフローチャートで
ある。

【図２】記録パルスの補正方法の一例を示す説明図であ
る。

【図３】記録パルスの補正方法の他例を示す説明図であ
る。

【図４】ブロック図である。

【図５】本発明の第二の実施例を示すフローチャートで
ある。

【図６】ブロック図である。

【図７】動作を説明するためのタイミングチャートであ
る。

【図８】本発明の第三の実施例を示すブロック図であ
る。

【図９】本発明の第四の実施例を示すブロック図であ
る。

【図１０】本発明の第五の実施例を示すブロック図であ
る。

【図１１】本発明の第六の実施例を示すフローチャート
である。

【図１２】本発明の第七の実施例を示すフローチャート
である。

【図１３】その構成を示すブロック図である。

【図１４】動作を説明するためのタイミングチャートで
ある。

【図１５】本発明の第八の実施例を示すブロック図であ
る。

【図１６】その動作を説明するためのタイミングチャー
トである。

【図１７】従来方式による記録マークの不整形状を示す
説明図である。

【図１８】従来方式によるエッジ位置ずれを示す説明図
である。

【符号の説明】

２メモリ３光記録媒体１４ａ₁〜１４ａ_n 弁別器１６記録データパターン識別手段２０遅延手段２２パルス列分離手段２３遅延手段２６遅延手段３０，３１エッジ変動量検出手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光記録媒体上に強度変調させたレーザ光
を照射して、長さが情報を担う記録マークを形成するこ
とにより情報を記録するようにしたマークエッジ記録方
式において、記録パルスのパルス幅及び出力タイミング
の補正値の初期値をＣＰＵからメモリに書込み、指定デ
ータによる記録パルスを前記メモリに格納されている補
正値に従い前記光記録媒体へ書込み記録した後、記録さ
れたデータを再生し、この再生データと前記指定データ
とを比較し、これらのデータが一致するまで前記補正値
を可変させて前記メモリへの書込み、その補正値に従う
光記録媒体への書込み記録及びその再生・比較を繰返し
て、前記補正値の最適値を算出・設定するようにしたこ
とを特徴とするマークエッジ記録方式における記録パル
ス補正方法。
【請求項２】再生データと指定データとの一致後に、
再生系データＰＬＬの位相を所定量ずらして再度記録デ
ータを再生し、この再生データと前記指定データとを比
較し、これらのデータが一致するまで再び前記補正値を
可変させて前記メモリへの書込み、その補正値に従う光
記録媒体への書込み記録、その再生・比較、及び一致後
の位相ずらしによる再生・比較を繰返して、前記補正値
の最適値を算出・設定するようにしたことを特徴とする
請求項１記載のマークエッジ記録方式における記録パル
ス補正方法。
【請求項３】記録パルスの補正値の初期値を予め光記
録媒体の指定領域に記録しておき、この光記録媒体の指
定領域から記録パルスの補正値の初期値をメモリに書込
ませるようにしたことを特徴とする請求項１又は２記載
のマークエッジ記録方式における記録パルス補正方法。
【請求項４】求められた補正値の最適値を、その時点
で記録されている初期値に代えて光記録媒体の指定領域
に記録し、次回の補正値学習時の初期値とするようにし
たことを特徴とする請求項３記載のマークエッジ記録方
式における記録パルス補正方法。
【請求項５】記録パルスの補正値を、そのパルス幅及
び出力タイミングの補正値の他、記録パルスの立上り部
の記録パワー及びこの記録パワーを変化させる長さの補
正値を含むものとしたことを特徴とする請求項１，２，
３又は４記載のマークエッジ記録方式における記録パル
ス補正方法。
【請求項６】指定データ又は実際のデータの記録に際
して、書込み対象の記録パルス長Ｌ₀ 、この記録パルス
直前のブランク長Ｌ₁ 及び１つ前の記録パルス長Ｌ₂ を
記録データパターン識別手段により算出し、これらの長
さＬ₀ ，Ｌ₁，Ｌ₂ のデータをメモリのアドレス入力と
し、このメモリ出力を記録パルスの補正値として用いる
ようにしたことを特徴とする請求項１，２又は３記載の
マークエッジ記録方式における記録パルス補正方法。
【請求項７】記録データパターンの前エッジ位置情報
及び後エッジ位置情報を示すパルスをメモリより読出し
た記録パルスの補正値に基づき遅延手段により各々遅延
させ、遅延されたパルス列からＮＲＺＩコードによる記
録パルスを生成するようにしたことを特徴とする請求項
６記載のマークエッジ記録方式における記録パルス補正
方法。
【請求項８】記録データパターンの前エッジ位置情報
を示すパルスと後エッジ位置情報を示すパルスとをパル
ス列分離手段により分離し、分離された各々のパルス列
をメモリより読出した記録パルスの補正値に基づき遅延
手段により各々遅延させ、遅延された各々のパルス列か
らＮＲＺＩコードによる記録パルスを生成するようにし
たことを特徴とする請求項６記載のマークエッジ記録方
式における記録パルス補正方法。
【請求項９】使用する変調コードのランダムデータを
指定データとしたことを特徴とする請求項１又は２記載
のマークエッジ記録方式における記録パルス補正方法。
【請求項１０】再生パルス信号のエッジのデータ弁別
用ウインドウの中心からの変動量をエッジ変動量検出手
段により検出し、この変動量が所定量以上の場合にこの
変動量に相当する分だけ前記補正値を変化させて再度メ
モリに書込み、前記補正値の最適値を算出・設定するよ
うにしたことを特徴とする請求項６記載のマークエッジ
記録方式における記録パルス補正方法。
【請求項１１】エッジ変動量検出手段に複数個の弁別
器を用い、これらの弁別器に対するデータ弁別用ウイン
ドウとして所定量ずつシフトさせたウインドウを用いて
再生した複数個の再生パルス信号をベリファイチェック
した結果から、データ弁別用ウインドウの中心からの変
動量を検出するようにしたことを特徴とする請求項１０
記載のマークエッジ記録方式における記録パルス補正方
法。
【請求項１２】エッジ変動量検出手段に１個の弁別器
を用い、同じパターンの繰返しデータによる指定データ
を記録した後、再生時にデータ弁別用ウインドウを順次
所定量ずつずらしながら再生し、これをベリファイチェ
ックした結果から、データ弁別用ウインドウの中心から
の変動量を検出するようにしたことを特徴とする請求項
１０記載のマークエッジ記録方式における記録パルス補
正方法。
【請求項１３】エッジ変動量検出手段に位相比較器を
用いたことを特徴とする請求項１０記載のマークエッジ
記録方式における記録パルス補正方法。
【請求項１４】記録パルスの補正値の初期値を予め光
記録媒体の指定領域に記録しておき、この光記録媒体の
指定領域から記録パルスの補正値の初期値をメモリに書
込ませ、求められた補正値の最適値を、その時点で記録
されている初期値に代えて光記録媒体の指定領域に記録
し、次回の補正値学習時の初期値とするようにしたこと
を特徴とする請求項１０記載のマークエッジ記録方式に
おける記録パルス補正方法。