JPH0652008A - Edc lsi checking device - Google Patents

Edc lsi checking device

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JPH0652008A
JPH0652008A JP4206382A JP20638292A JPH0652008A JP H0652008 A JPH0652008 A JP H0652008A JP 4206382 A JP4206382 A JP 4206382A JP 20638292 A JP20638292 A JP 20638292A JP H0652008 A JPH0652008 A JP H0652008A
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JP
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data
bit
edc
lsi
bit error
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Yuji Baba
裕司 馬場
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Abstract

PURPOSE:To confirm an normal operation of a general purpose EDC LSI by a simple hardware constitution. CONSTITUTION:An EDC bit inversion control part 9 transmits alternately an output enable signal to a data 1-bit, inverting part 15 and a data 2-bit inverting part 16 so that data subjected to 1-bit 2-bit inversion is sent to an EDC LSI 3, and a central control processor 17 executes a read-out operation to a main storage device 1. The main storage device 1 transmits the data subjected to 1-bit or 2-bit inversion to the EDC LSI 3 by the data 1-bit inverting part 15 or the data 2-bit inverting part 16. The EDC LSI 13 transmits 1-bit, 2-bit error report signals 6, 7 to a register 8, when a bit error detecting circuit 4 receives the data subjected to 1-bit, 2-bit inversion, and the register 8 confirms a fact that a 1-bit, 2-bit error detecting circuit is operating normally.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は汎用EDC LSI(E
rror Detection and Correc
tion LSI)のメモリデータの誤り検出・訂正回
路をチェックするEDC LSIチェック装置に関す
る。
The present invention relates to a general-purpose EDC LSI (E
error Detection and Correc
(ion LSI) memory data error detection / correction circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、汎用EDC LSIを使用したメ
モリのデータの誤り検出・訂正回路は、メインバスとメ
モリ部の間に汎用EDC LSIを接続し、メモリ部の
読出し動作時に汎用EDC LSIがデータの誤り検出
および訂正を行なっていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a memory data error detection / correction circuit using a general-purpose EDC LSI, a general-purpose EDC LSI is connected between a main bus and a memory section, and the general-purpose EDC LSI transfers data during a read operation of the memory section. Error detection and correction were performed.

【0003】汎用EDC LSIはデータ誤りを検出し
なければそのままメインバスにデータを送り、データ1
ビットエラーを検出したときは、汎用EDC LSIは
エラービットの訂正を行なってメインバスにデータを送
り、1ビットエラーであることを1ビットエラー/2ビ
ットエラー報告レジスタに通知し、データ2ビットエラ
ーを検出したときは、2ビットエラーであることを1ビ
ットエラー/2ビットエラー報告レジスタに通知してい
た。
If a general-purpose EDC LSI does not detect a data error, it sends the data as it is to the main bus, and the data 1
When a bit error is detected, the general-purpose EDC LSI corrects the error bit and sends the data to the main bus to notify the 1-bit error / 2-bit error report register that there is a 1-bit error, and the data 2-bit error. When detected, the 1-bit error / 2-bit error report register was notified that it was a 2-bit error.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】この従来の汎用EDC
LSIを使用したメモリデータの誤り検出・訂正回路
では、汎用EDC LSIが不良品かどうか、または故
障したかどうかを確かめる手段がないという問題点があ
った。
This conventional general-purpose EDC
The error detection / correction circuit for memory data using the LSI has a problem that there is no means for confirming whether the general-purpose EDC LSI is a defective product or has failed.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明のEDC LSI
チェック装置は、データを記憶する主記憶装置と、この
主記憶装置からのデータ読出し制御を行なう中央制御処
理装置と、汎用EDCLSIと、この汎用EDC LS
Iからのデータビットエラー報告信号を保持するレジス
タと、通常動作時の正常データ送信部と、前記主記憶装
置からのデータのデータビットを反転させるデータビッ
ト反転部と、前記正常データ送信部のデータ送信制御お
よび前記データビット反転部のデータビット反転制御を
行なうEDCビット反転制御部とを備え、前記汎用ED
C LSIは前記主記憶装置から読み出された前記デー
タおよび前記データビット反転部からのビット反転され
たデータを入力して前記データビットエラー報告信号を
前記レジスタに送信するビットエラー検出回路と、1ビ
ットエラーの訂正を行なう1ビットエラー訂正回路とを
備えている。
EDC LSI of the present invention
The check device includes a main storage device that stores data, a central control processing device that controls reading of data from the main storage device, a general-purpose EDC LSI, and the general-purpose EDC LS.
A register for holding a data bit error report signal from I, a normal data transmitting section in normal operation, a data bit inverting section for inverting the data bit of the data from the main storage device, and data of the normal data transmitting section An EDC bit inversion control unit for performing transmission control and data bit inversion control of the data bit inversion unit, and the general-purpose ED
The C LSI receives the data read from the main storage device and the bit-inverted data from the data bit inversion unit, and transmits the data bit error report signal to the register. A 1-bit error correction circuit for correcting a bit error is provided.

【0006】そして、前記データビット反転部はそれぞ
れ前記主記憶装置からの前記データの1ビット反転,2
ビット反転を行なうデータ1ビット反転部,データ2ビ
ット反転部からなり、前記EDCビット反転制御部は前
記データ1ビット反転部,データ2ビット反転部に交互
にイネーブル信号を送って制御することを特徴とする。
また、前記ビットエラー検出回路は前記1ビット反転し
たデータ,2ビット反転したデータを入力して1ビット
エラー報告信号,2ビットエラー報告信号を出力するこ
とを特徴とする。さらに、前記汎用EDC LSIは前
記ビットエラー検出回路からの1ビットエラーデータの
エラー訂正を行なう1ビットエラー訂正回路を備え、前
記中央制御処理装置は前記正常データ送信部からの正常
データと前記1ビットエラー訂正回路出力の訂正済みデ
ータとを比較チェックすることを特徴とする。
The data bit inversion unit inverts the data from the main memory by 1 bit, 2
It comprises a data 1-bit inversion unit and a data 2-bit inversion unit for performing bit inversion, and the EDC bit inversion control unit alternately sends an enable signal to the data 1-bit inversion unit and the data 2-bit inversion unit for control. And
Further, the bit error detection circuit inputs the 1-bit inverted data and 2-bit inverted data and outputs a 1-bit error report signal and a 2-bit error report signal. Further, the general-purpose EDC LSI includes a 1-bit error correction circuit that performs error correction of the 1-bit error data from the bit error detection circuit, and the central control processing unit includes the normal data from the normal data transmission unit and the 1-bit error correction circuit. It is characterized in that a comparison check is performed with the corrected data output from the error correction circuit.

【0007】[0007]

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明のEDC LSIチェック装置の一実
施例を示すブロック図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the EDC LSI check device of the present invention.

【0008】本実施例はデータをメモリする主記憶装置
1と、汎用EDC LSI(以下単にEDC LSIと
記す)3と、主記憶装置1とEDC LSI3間を接続
するデータバス2と、EDC LSI3からの1ビット
エラー報告信号6と2ビットエラー報告信号7を保持す
るレジスタ8と、通常動作時の正常データ送信部(バス
バッファ)14と、主記憶装置1からのデータの1ビッ
ト,2ビットをそれぞれ反転させるデータ1ビット反転
部(インバータ)15,データ2ビット反転部(インバ
ータ)16と、正常データ送信部14,データ1ビット
反転部15,データ2ビット反転部16への正常データ
出力イネーブル信号10,データ1ビット反転出力イネ
ーブル信号11,データ2ビット反転出力イネーブル信
号12をアクティブにして制御するEDCビット反転制
御部9と、主記憶装置1に読出し信号18を送ってデー
タの読出しを行なう中央制御処理装置17とを備え、E
DC LSI3は主記憶装置1から読み出されたデータ
の1ビットエラー/2ビットエラーを検出するビットエ
ラー検出回路4と、1ビットエラーを訂正する1ビット
エラー訂正回路5とを備えている。
In this embodiment, a main memory device 1 for storing data, a general-purpose EDC LSI (hereinafter simply referred to as EDC LSI) 3, a data bus 2 for connecting the main memory device 1 and the EDC LSI 3, and an EDC LSI 3 are used. The register 8 for holding the 1-bit error report signal 6 and the 2-bit error report signal 7, the normal data transmitter (bus buffer) 14 in the normal operation, and the 1-bit and 2-bit data from the main memory 1 A normal data output enable signal to the data 1-bit inversion unit (inverter) 15, the data 2-bit inversion unit (inverter) 16, the normal data transmission unit 14, the data 1-bit inversion unit 15, and the data 2-bit inversion unit 16 which are respectively inverted. 10, activate the data 1-bit inverted output enable signal 11 and the data 2-bit inverted output enable signal 12 EDC bit inversion control unit 9 for controlling the data and a central control processing unit 17 for sending a read signal 18 to the main memory 1 to read the data.
The DC LSI 3 includes a bit error detection circuit 4 that detects a 1-bit error / 2-bit error of the data read from the main storage device 1 and a 1-bit error correction circuit 5 that corrects the 1-bit error.

【0009】続いて本実施例の動作について説明する。
汎用EDC LSIの正常動作確認では、まず中央制御
処理装置17が主記憶装置1に対して読出し動作を行な
う。この時、EDCビット反転制御部9は正常データ送
信部14に対して正常データ出力イネーブル信号10を
送信し、主記憶装置1のデータをそのままデータバス
2,EDC LSI3,メインデータバス13を介して
中央制御処理装置17に読み込ませる。
Next, the operation of this embodiment will be described.
In confirming the normal operation of the general-purpose EDC LSI, the central control processing unit 17 first performs a read operation with respect to the main storage device 1. At this time, the EDC bit inversion control unit 9 transmits the normal data output enable signal 10 to the normal data transmission unit 14, and the data in the main storage device 1 is directly transmitted through the data bus 2, EDC LSI 3, and main data bus 13. It is read by the central control processing unit 17.

【0010】次に、EDCビット反転制御部9はデータ
1ビット反転部15にはデータ1ビット反転出力イネー
ブル信号11を、またデータ2ビット反転部16にはデ
ータ2ビット反転出力イネーブル信号12を交互に送信
して1ビットもしくは2ビット反転したデータがEDC
LSI3に送られるようにしておき、中央制御処理装
置17が主記憶装置1に対して読出し動作を行なう。読
出し動作を受けた主記憶装置1はデータ1ビット反転部
15もしくはデータ2ビット反転部16によってEDC
LSI3に対して1ビット反転したデータもしくは2
ビット反転したデータを送信する。EDC LSI3で
は、ビットエラー検出回路4が1ビット反転しデータを
受けた時には1ビットエラー報告信号6を、2ビット反
転したデータを受けた時には2ビットエラー報告信号7
をレジスタ8に対して送信し、レジスタ8は1ビットも
しくは2ビットエラー検出回路が正常動作していること
を確認することができる。
Next, the EDC bit inversion control section 9 alternates the data 1 bit inversion section 15 with the data 1 bit inversion output enable signal 11 and the data 2 bit inversion section 16 with the data 2 bit inversion output enable signal 12 alternately. Sent to EDC and 1-bit or 2-bit inverted data is EDC
After being sent to the LSI 3, the central control processing unit 17 performs a read operation to the main memory 1. The main storage device 1 that has received the read operation is processed by the data 1-bit inversion unit 15 or the data 2-bit inversion unit 16 to perform EDC.
1 bit inverted data for LSI3 or 2
Send the bit-reversed data. In the EDC LSI 3, when the bit error detection circuit 4 inverts 1 bit and receives the data, the 1 bit error report signal 6 is received, and when the bit error detection circuit 4 receives the inverted data, the 2 bit error report signal 7 is received.
To the register 8 and the register 8 can confirm that the 1-bit or 2-bit error detection circuit is operating normally.

【0011】また、1ビットエラーデータは1ビットエ
ラー訂正回路5でエラー訂正され、メインデータバス1
3を通って中央制御処理装置17に送信される。この訂
正されたはずのデータと先に正常データ送信部14を通
して送信したデータとを比較して、同一データならば1
ビットエラー訂正回路5が正常動作していることを確認
することができる。
The 1-bit error data is error-corrected by the 1-bit error correction circuit 5, and the main data bus 1
3 to the central control processing unit 17. This corrected data is compared with the data previously transmitted through the normal data transmission unit 14, and if the data is the same, then 1
It can be confirmed that the bit error correction circuit 5 is operating normally.

【0012】[0012]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、あらかじ
め主記憶装置にエラーデータエリアを設けなくても、主
記憶装置と汎用EDC LSI間にビット反転部とビッ
ト反転制御部をハードウェアで構成することにより、簡
単にEDC LSIの正常動作確認を行なえるという効
果を有する。
As described above, according to the present invention, the bit inversion unit and the bit inversion control unit are configured by hardware between the main storage device and the general-purpose EDC LSI without providing an error data area in the main storage device in advance. By doing so, it is possible to easily confirm the normal operation of the EDC LSI.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のEDC LSIチェック装置の一実施
例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an EDC LSI check device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 主記憶装置 2 データバス 3 汎用EDC LSI 4 ビットエラー検出回路 5 1ビットエラー訂正回路 6 1ビットエラー報告信号 7 2ビットエラー報告信号 8 レジスタ 9 EDCビット反転制御部 10 正常データ出力イネーブル信号 11 データ1ビット反転出力イネーブル信号 12 データ2ビット反転出力イネーブル信号 13 メインデータバス 14 正常データ送信部 15 データ1ビット反転部 16 データ2ビット反転部 17 中央制御処理装置 18 読出し信号 1 main memory 2 data bus 3 general purpose EDC LSI 4 bit error detection circuit 5 1 bit error correction circuit 6 1 bit error report signal 7 2 bit error report signal 8 register 9 EDC bit inversion control unit 10 normal data output enable signal 11 data 1-bit inverted output enable signal 12 data 2-bit inverted output enable signal 13 Main data bus 14 Normal data transmission unit 15 Data 1-bit inversion unit 16 Data 2-bit inversion unit 17 Central control processing unit 18 Read signal

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 データを記憶する主記憶装置と、この主
記憶装置からのデータ読出し制御を行なう中央制御処理
装置と、汎用EDC LSIと、この汎用EDC LS
Iからのデータビットエラー報告信号を保持するレジス
タと、通常動作時の正常データ送信部と、前記主記憶装
置からのデータのデータビットを反転させるデータビッ
ト反転部と、前記正常データ送信部のデータ送信制御お
よび前記データビット反転部のデータビット反転制御を
行なうEDCビット反転制御部とを備え、前記汎用ED
C LSIは前記主記憶装置から読み出された前記デー
タおよび前記データビット反転部からのビット反転され
たデータを入力して前記データビットエラー報告信号を
前記レジスタに送信するビットエラー検出回路と、1ビ
ットエラーの訂正を行なう1ビットエラー訂正回路とを
備えることを特徴とするEDC LSIチェック装置。
1. A main memory device for storing data, a central control processing device for controlling data reading from the main memory device, a general-purpose EDC LSI, and the general-purpose EDC LS.
A register for holding a data bit error report signal from I, a normal data transmitting section in normal operation, a data bit inverting section for inverting the data bit of the data from the main storage device, and data of the normal data transmitting section An EDC bit inversion control unit for performing transmission control and data bit inversion control of the data bit inversion unit, and the general-purpose ED
The C LSI receives the data read from the main storage device and the bit-inverted data from the data bit inversion unit, and transmits the data bit error report signal to the register. An EDC LSI check device comprising a 1-bit error correction circuit for correcting a bit error.
【請求項2】 前記データビット反転部はそれぞれ前記
主記憶装置からの前記データの1ビット反転,2ビット
反転を行なうデータ1ビット反転部,データ2ビット反
転部からなり、前記EDCビット反転制御部は前記デー
タ1ビット反転部,データ2ビット反転部に交互にイネ
ーブル信号を送って制御することを特徴とする請求項1
記載のEDC LSIチェック装置。
2. The data bit inverting unit comprises a data 1-bit inverting unit and a data 2-bit inverting unit that perform 1-bit inverting and 2-bit inverting of the data from the main storage device, respectively, and the EDC bit inverting control unit. The control is performed by alternately sending an enable signal to the data 1-bit inversion unit and the data 2-bit inversion unit.
EDC LSI check device described.
【請求項3】 前記ビットエラー検出回路は前記1ビッ
ト反転したデータ,2ビット反転したデータを入力して
1ビットエラー報告信号,2ビットエラー報告信号を出
力することを特徴とする請求項1または2記載のEDC
LSIチェック装置。
3. The bit error detection circuit inputs the 1-bit inverted data and the 2-bit inverted data and outputs a 1-bit error report signal and a 2-bit error report signal. EDC of 2
LSI check device.
【請求項4】 前記汎用EDC LSIは前記ビットエ
ラー検出回路からの1ビットエラーデータのエラー訂正
を行なう1ビットエラー訂正回路を備え、前記中央制御
処理装置は前記正常データ送信部からの正常データと前
記1ビットエラー訂正回路出力の訂正済みデータとを比
較チェックすることを特徴とする請求項1記載のEDC
LSIチェック装置。
4. The general-purpose EDC LSI includes a 1-bit error correction circuit that performs error correction of 1-bit error data from the bit error detection circuit, and the central control processing unit stores the normal data from the normal data transmission unit. 2. The EDC according to claim 1, wherein the EDC is compared and checked with the corrected data output from the 1-bit error correction circuit.
LSI check device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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