JPH065141A - 碍子の汚損量測定方法 - Google Patents
碍子の汚損量測定方法Info
- Publication number
- JPH065141A JPH065141A JP15832892A JP15832892A JPH065141A JP H065141 A JPH065141 A JP H065141A JP 15832892 A JP15832892 A JP 15832892A JP 15832892 A JP15832892 A JP 15832892A JP H065141 A JPH065141 A JP H065141A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amount
- insulator
- pollution
- measurement
- dirt
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Insulators (AREA)
- Electric Cable Installation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 碍子表面の測定箇所による汚損量の変化や測
定箇所によるデータの相違にかかわらず、碍子全体の汚
損量を精度良く算出できる碍子の汚損量測定方法を提供
する。 【構成】 被測定用碍子としての懸垂碍子１の笠部２ａ
下面における複数の測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11で汚損量をそれ
ぞれ測定する。そして、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11における
各測定値に、測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11に応じた重み付け、す
なわち対応する面積を乗じ、これらの和を測定箇所の面
積和で除する。このようにして笠部２ａ下面全体の平均
汚損量が精度良く演算される。
定箇所によるデータの相違にかかわらず、碍子全体の汚
損量を精度良く算出できる碍子の汚損量測定方法を提供
する。 【構成】 被測定用碍子としての懸垂碍子１の笠部２ａ
下面における複数の測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11で汚損量をそれ
ぞれ測定する。そして、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11における
各測定値に、測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11に応じた重み付け、す
なわち対応する面積を乗じ、これらの和を測定箇所の面
積和で除する。このようにして笠部２ａ下面全体の平均
汚損量が精度良く演算される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、碍子表面に付着する
塩化ナトリウム等の汚損物の量を測定する方法に関する
ものである。
塩化ナトリウム等の汚損物の量を測定する方法に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、送電線の碍子の塩害事故を未然
に防止するため、碍子表面に付着した汚損物の量を精度
良く測定することが必要となる。このような測定方法と
して、一般的に筆洗い法が行われている。これは、暴露
したパイロット碍子の表面に付着した汚損物を蒸留水中
に洗い落とし、水溶液中の電導度と碍子の表面積から汚
損量を求めている。また、筆洗い法を自動化した測定方
法として、例えばＸ線による汚損量測定方法が知られて
いる。すなわち、Ｘ線発生装置から発生するＸ線を碍子
に照射し、碍子表面の汚損物から発生する蛍光Ｘ線の強
度を測定することにより、汚損量が算出される。
に防止するため、碍子表面に付着した汚損物の量を精度
良く測定することが必要となる。このような測定方法と
して、一般的に筆洗い法が行われている。これは、暴露
したパイロット碍子の表面に付着した汚損物を蒸留水中
に洗い落とし、水溶液中の電導度と碍子の表面積から汚
損量を求めている。また、筆洗い法を自動化した測定方
法として、例えばＸ線による汚損量測定方法が知られて
いる。すなわち、Ｘ線発生装置から発生するＸ線を碍子
に照射し、碍子表面の汚損物から発生する蛍光Ｘ線の強
度を測定することにより、汚損量が算出される。
【０００３】しかし、碍子のひだ部を有する裏面の汚損
量を測定しようとすると、測定部位によって付着してい
る汚損量が異なり、汚損量の測定値が変動するため、複
数の測定箇所を選定して測定が行われる。そして、得ら
れた複数の測定箇所毎の汚損量のデータを加算し、それ
を測定箇所の数で割るという単純平均により碍子全体の
汚損量が求められる。
量を測定しようとすると、測定部位によって付着してい
る汚損量が異なり、汚損量の測定値が変動するため、複
数の測定箇所を選定して測定が行われる。そして、得ら
れた複数の測定箇所毎の汚損量のデータを加算し、それ
を測定箇所の数で割るという単純平均により碍子全体の
汚損量が求められる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、筆洗い法で
は、測定は人手で行われるため、測定が煩雑で熟練を要
し、多大の労力と注意力を要するという問題点があっ
た。また、Ｘ線による汚損量測定方法では、碍子表面の
汚損量が碍子のひだの頂部、底部又は側面部で異なり、
さらに碍子下面の外側、内側、周方向等でも異なり、測
定部位により得られるデータを単純に平均するだけでは
碍子全体の正確な汚損量を算出することができない。ま
た、碍子表面の形状が複雑であり、測定部位によって汚
損量の検出面積が変化してくるため、前記単純平均によ
る方法では碍子全体の汚損量を正確に求めることができ
ないという問題点があった。
は、測定は人手で行われるため、測定が煩雑で熟練を要
し、多大の労力と注意力を要するという問題点があっ
た。また、Ｘ線による汚損量測定方法では、碍子表面の
汚損量が碍子のひだの頂部、底部又は側面部で異なり、
さらに碍子下面の外側、内側、周方向等でも異なり、測
定部位により得られるデータを単純に平均するだけでは
碍子全体の正確な汚損量を算出することができない。ま
た、碍子表面の形状が複雑であり、測定部位によって汚
損量の検出面積が変化してくるため、前記単純平均によ
る方法では碍子全体の汚損量を正確に求めることができ
ないという問題点があった。
【０００５】この発明は上記従来技術に存在する問題点
に着目してなされたものであって、その目的は、碍子表
面の測定箇所による汚損量の変化や測定箇所によるデー
タの相違にかかわらず、碍子全体の汚損量を精度良く算
出できる碍子の汚損量測定方法を提供することにある。
に着目してなされたものであって、その目的は、碍子表
面の測定箇所による汚損量の変化や測定箇所によるデー
タの相違にかかわらず、碍子全体の汚損量を精度良く算
出できる碍子の汚損量測定方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では被測定用碍子の複数箇所で碍子表面の汚
損量を測定し、各測定箇所における汚損量の測定値から
碍子全体の平均汚損量を演算する測定方法において、前
記各測定値に測定箇所に応じた重み付けを行って碍子全
体の平均汚損量を演算する碍子の汚損量測定方法をその
要旨としている。
に、本発明では被測定用碍子の複数箇所で碍子表面の汚
損量を測定し、各測定箇所における汚損量の測定値から
碍子全体の平均汚損量を演算する測定方法において、前
記各測定値に測定箇所に応じた重み付けを行って碍子全
体の平均汚損量を演算する碍子の汚損量測定方法をその
要旨としている。
【０００７】
【作用】被測定用碍子の複数箇所において碍子表面の汚
損量が測定される。得られた各測定箇所の汚損量のデー
タに対し、測定箇所に応じた重み付けを行う。そして、
重み付けされたデータに基づいて碍子全体の平均汚損量
が演算される。その結果、碍子の汚損量が精度良く求め
られる。
損量が測定される。得られた各測定箇所の汚損量のデー
タに対し、測定箇所に応じた重み付けを行う。そして、
重み付けされたデータに基づいて碍子全体の平均汚損量
が演算される。その結果、碍子の汚損量が精度良く求め
られる。
【０００８】
【実施例】以下に本発明を具体化した一実施例について
図１〜４に従って説明する。図１（ａ）に示すように、
被測定用碍子としての懸垂碍子１を構成する碍子本体２
の笠部２ａ下面には、環状をなすひだ部２ｂが４重に形
成されている。図１（ｂ）は笠部２ａを下方から見た図
であり、各ひだ部２ｂは同心円状に形成されている。
図１〜４に従って説明する。図１（ａ）に示すように、
被測定用碍子としての懸垂碍子１を構成する碍子本体２
の笠部２ａ下面には、環状をなすひだ部２ｂが４重に形
成されている。図１（ｂ）は笠部２ａを下方から見た図
であり、各ひだ部２ｂは同心円状に形成されている。
【０００９】図３に示すように、碍子本体２の直下には
電子線照射検出ユニット３が配置される。この電子線照
射検出ユニット３はコリメータ４を備えた電子線発生装
置５と、コリメータ６を備えた蛍光電子線検出装置７
と、電子線発生装置５と蛍光電子線検出装置７とを収容
する収容ケース８とにより構成されている。そして、こ
の電子線照射検出ユニット３は図示しない移動機構によ
って、左右動作、上下動作及び傾動動作を行い得るよう
している。なお、Ｐ1 〜Ｐ11はひだ部２ｂの頂部、底
部、側面部等の各測定箇所を表している。
電子線照射検出ユニット３が配置される。この電子線照
射検出ユニット３はコリメータ４を備えた電子線発生装
置５と、コリメータ６を備えた蛍光電子線検出装置７
と、電子線発生装置５と蛍光電子線検出装置７とを収容
する収容ケース８とにより構成されている。そして、こ
の電子線照射検出ユニット３は図示しない移動機構によ
って、左右動作、上下動作及び傾動動作を行い得るよう
している。なお、Ｐ1 〜Ｐ11はひだ部２ｂの頂部、底
部、側面部等の各測定箇所を表している。
【００１０】そして、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11に対し、Ｘ
線発生装置５から一次Ｘ線を照射し、その蛍光Ｘ線を蛍
光Ｘ線検出装置７により検出し、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11
における蛍光Ｘ線の強度を測定する。この蛍光Ｘ線の強
度から検量線を用いて碍子表面の汚損量を求める。すな
わち、標準試料としてアルカリ金属酸化物と硼酸を主成
分とし、塩素0.01〜10重量％を含有する硼酸アルカリ系
ガラス化物により円板状をなして測定面が平面の試料を
製作する。これら標準試料の塩素含有量を例えば３段階
に変化させるとともに、塩素を含有しない同じく測定面
が平面の標準試料を作製する。そして、これら標準試料
に一次Ｘ線を照射し、発生する蛍光Ｘ線の強度を測定す
る。得られたデータから検量線を作成する。なお、この
Ｘ線照射による測定方法及び検量線の作成方法の詳細に
ついては、特開平２−２２６０５７号公報に開示されて
いる。
線発生装置５から一次Ｘ線を照射し、その蛍光Ｘ線を蛍
光Ｘ線検出装置７により検出し、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11
における蛍光Ｘ線の強度を測定する。この蛍光Ｘ線の強
度から検量線を用いて碍子表面の汚損量を求める。すな
わち、標準試料としてアルカリ金属酸化物と硼酸を主成
分とし、塩素0.01〜10重量％を含有する硼酸アルカリ系
ガラス化物により円板状をなして測定面が平面の試料を
製作する。これら標準試料の塩素含有量を例えば３段階
に変化させるとともに、塩素を含有しない同じく測定面
が平面の標準試料を作製する。そして、これら標準試料
に一次Ｘ線を照射し、発生する蛍光Ｘ線の強度を測定す
る。得られたデータから検量線を作成する。なお、この
Ｘ線照射による測定方法及び検量線の作成方法の詳細に
ついては、特開平２−２２６０５７号公報に開示されて
いる。
【００１１】さて、図１（ａ），（ｂ）に示すように、
各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11につき、円周方向に連続で汚損量
を測定する。得られた各々の測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11におけ
る平均汚損量をＲ1 〜Ｒ11とする。これら各汚損量Ｒ1
〜Ｒ11を有する各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11はそれぞれ汚損量
の検出面積が異なる。これは、笠部２ａの下面につき、
ひだ部２ｂの頂部と底部又は側面部では碍子の表面形状
が異なるため、Ｘ線の検出面積が異なるためである。
各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11につき、円周方向に連続で汚損量
を測定する。得られた各々の測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11におけ
る平均汚損量をＲ1 〜Ｒ11とする。これら各汚損量Ｒ1
〜Ｒ11を有する各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11はそれぞれ汚損量
の検出面積が異なる。これは、笠部２ａの下面につき、
ひだ部２ｂの頂部と底部又は側面部では碍子の表面形状
が異なるため、Ｘ線の検出面積が異なるためである。
【００１２】また、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11毎に一定の面
積でＸ線を照射しても、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11はそれぞ
れ汚損量の検出面積が異なり、外周側ほど大きく、内周
側ほど小さくなる。従って、各汚損量Ｒ1 〜Ｒ11につい
て、これら面積に応じた重み付けを行って碍子全体の適
正な平均汚損量を算出するために、図１（ｂ）の底面図
の状態で各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11の各々の面積を算出す
る。前記各汚損量Ｒ1 〜Ｒ11に対応する面積をＳ1 〜Ｓ
11とする。これらから、面積に応じた重みａは測定箇所
Ｐ1 を基準としたとき、それぞれ次のようになる。
積でＸ線を照射しても、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11はそれぞ
れ汚損量の検出面積が異なり、外周側ほど大きく、内周
側ほど小さくなる。従って、各汚損量Ｒ1 〜Ｒ11につい
て、これら面積に応じた重み付けを行って碍子全体の適
正な平均汚損量を算出するために、図１（ｂ）の底面図
の状態で各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11の各々の面積を算出す
る。前記各汚損量Ｒ1 〜Ｒ11に対応する面積をＳ1 〜Ｓ
11とする。これらから、面積に応じた重みａは測定箇所
Ｐ1 を基準としたとき、それぞれ次のようになる。
【００１３】ａ1 ＝Ｓ1 ／Ｓ1 、ａ2 ＝Ｓ2 ／Ｓ1 、ａ
3 ＝Ｓ3 ／Ｓ1 、・・・、ａi ＝Ｓi ／Ｓ1 、・・・、
ａ11＝Ｓ11／Ｓ1 。 そして、笠部２ａの下面全体の平均汚損量Ｒは、次の演
算式で求められる。
3 ＝Ｓ3 ／Ｓ1 、・・・、ａi ＝Ｓi ／Ｓ1 、・・・、
ａ11＝Ｓ11／Ｓ1 。 そして、笠部２ａの下面全体の平均汚損量Ｒは、次の演
算式で求められる。
【００１４】Ｒ＝Σａi Ｒi ／Σａi 但し、ｉは
半径方向の測定数を表す。この式により得られる平均汚
損量Ｒは、各部の汚損量にそれぞれの面積を乗じた重み
付けがされ、その平均値が算出されている。そのため、
得られる平均汚損量は、各部の異なる汚損量に対応した
値となり、その測定精度が向上する。
半径方向の測定数を表す。この式により得られる平均汚
損量Ｒは、各部の汚損量にそれぞれの面積を乗じた重み
付けがされ、その平均値が算出されている。そのため、
得られる平均汚損量は、各部の異なる汚損量に対応した
値となり、その測定精度が向上する。
【００１５】また、図２（ａ），（ｂ）に示すように、
各測定箇所Ｐ1,1 〜Ｐ11,8（図２（ｂ）ではその一部を
示す）につき、スポットで汚損量を測定する。得られた
各々の測定箇所Ｐ1,1 〜Ｐ11,8 における測定汚損量を
Ｒ1,1 〜Ｒ11,8とする。各汚損量Ｒ1,1 〜Ｒ11,8につい
て、これら面積に応じた重み付けを行って碍子全体の適
正な平均汚損量を算出する。そのために、図２（ｂ）の
底面図の状態で、Ｐ1,1 〜Ｐ11,8の各々のスポットの面
積を算出し、Ｓ1,1 〜Ｓ11,8とする。これらから、面積
に応じた重みａは、測定箇所Ｐ1,1 を基準としたとき、
それぞれ次のようになる。
各測定箇所Ｐ1,1 〜Ｐ11,8（図２（ｂ）ではその一部を
示す）につき、スポットで汚損量を測定する。得られた
各々の測定箇所Ｐ1,1 〜Ｐ11,8 における測定汚損量を
Ｒ1,1 〜Ｒ11,8とする。各汚損量Ｒ1,1 〜Ｒ11,8につい
て、これら面積に応じた重み付けを行って碍子全体の適
正な平均汚損量を算出する。そのために、図２（ｂ）の
底面図の状態で、Ｐ1,1 〜Ｐ11,8の各々のスポットの面
積を算出し、Ｓ1,1 〜Ｓ11,8とする。これらから、面積
に応じた重みａは、測定箇所Ｐ1,1 を基準としたとき、
それぞれ次のようになる。
【００１６】ａ1,1 ＝Ｓ1,1 ／Ｓ1,1 、ａ1,2 ＝Ｓ1,2
／Ｓ1,1 、ａ1,3 ＝Ｓ1,3 ／Ｓ1,1、・・・、ａi,j ＝
Ｓ i,j／Ｓ1,1 、・・・、ａ11,8＝Ｓ11,8／Ｓ1,1 。 但し、ｉは半径方向の測定数を表し、ｊは円周方向の測
定数を表す。
／Ｓ1,1 、ａ1,3 ＝Ｓ1,3 ／Ｓ1,1、・・・、ａi,j ＝
Ｓ i,j／Ｓ1,1 、・・・、ａ11,8＝Ｓ11,8／Ｓ1,1 。 但し、ｉは半径方向の測定数を表し、ｊは円周方向の測
定数を表す。
【００１７】そして、笠部２ａの下面全体の平均汚損量
Ｒは、次の演算式で求められる。 Ｒ＝Σａi,j Ｒi,j ／Σａi,j これに対し、下式で表される従来の演算式で平均汚損量
Ｒ0 を検出箇所の数Ｎとして求める。
Ｒは、次の演算式で求められる。 Ｒ＝Σａi,j Ｒi,j ／Σａi,j これに対し、下式で表される従来の演算式で平均汚損量
Ｒ0 を検出箇所の数Ｎとして求める。
【００１８】Ｒ0 ＝ΣＲi ／Ｎ この式で得られる値は各部の汚損量の単純平均値である
ため、測定データの重みが反映されず、従って測定精度
が劣る。
ため、測定データの重みが反映されず、従って測定精度
が劣る。
【００１９】上述のように、この実施例の測定方法で
は、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11又はＰ1,1〜Ｐ11,8にそれぞ
れの面積に基づく重み付け、すなわち加重平均処理を行
った。そのため、碍子表面の測定箇所によって汚損量が
変化したり、測定箇所によってデータに変化が生じて
も、碍子全体の平均汚損量についての測定精度が向上す
る。
は、各測定箇所Ｐ1 〜Ｐ11又はＰ1,1〜Ｐ11,8にそれぞ
れの面積に基づく重み付け、すなわち加重平均処理を行
った。そのため、碍子表面の測定箇所によって汚損量が
変化したり、測定箇所によってデータに変化が生じて
も、碍子全体の平均汚損量についての測定精度が向上す
る。
【００２０】次に、具体的数値に基づいて説明する。測
定方法は前述のＸ線照射による方法で、円周方向に連続
で平均汚損量を測定する方法である。笠部２ａ下面全体
の平均汚損量（mg/cm2) は、前記実施例による重み付け
を行って汚損量を算出する方法と、従来の単純平均によ
って汚損量を算出する方法により算出した。測定箇所は
前述のＰ1 〜Ｐ11であり、汚損量の異なる６点の試料に
ついて測定を行った。また、平均汚損量の精度を確認す
るために、筆洗いによる方法で平均汚損量（mg/cm2) を
求めた。これらの結果を図４に示す。
定方法は前述のＸ線照射による方法で、円周方向に連続
で平均汚損量を測定する方法である。笠部２ａ下面全体
の平均汚損量（mg/cm2) は、前記実施例による重み付け
を行って汚損量を算出する方法と、従来の単純平均によ
って汚損量を算出する方法により算出した。測定箇所は
前述のＰ1 〜Ｐ11であり、汚損量の異なる６点の試料に
ついて測定を行った。また、平均汚損量の精度を確認す
るために、筆洗いによる方法で平均汚損量（mg/cm2) を
求めた。これらの結果を図４に示す。
【００２１】この図４からわかるように、重み付けによ
って求められた平均汚損量（直線Ｍ上の黒丸）は筆洗い
法によって得られた測定汚損量とほぼ同じ値となってお
り、測定精度に優れている。これに対し、単純平均によ
って求められた平均汚損量（図中白丸）は、バラツキが
大きい上に、筆洗い法によって得られた測定汚損量より
高い値を示している。また、このデータでは単純平均が
加重平均を上回っているが、汚損分布状況によっては逆
転することも考えられ、測定精度が劣る。
って求められた平均汚損量（直線Ｍ上の黒丸）は筆洗い
法によって得られた測定汚損量とほぼ同じ値となってお
り、測定精度に優れている。これに対し、単純平均によ
って求められた平均汚損量（図中白丸）は、バラツキが
大きい上に、筆洗い法によって得られた測定汚損量より
高い値を示している。また、このデータでは単純平均が
加重平均を上回っているが、汚損分布状況によっては逆
転することも考えられ、測定精度が劣る。
【００２２】この発明は上記実施例に限定されるもので
はなく、例えば以下のような態様に具体化してもよい。 （イ）重み付けとして、前記実施例では面積を基準とし
たが、複雑な形状で面積の算出が容易でない場合、測定
部位を代表する円周の長さ、例えば前記実施例の中で測
定部位の中心円周（図１（ｂ）の二点鎖線）を基準とし
たり、測定部位の中心円の半径の長さを基準としたりす
ること。 （ロ）汚損量の測定方法として、レーザや紫外線又は赤
外線等を照射して碍子からの反射光を測定する方法、あ
るいは測定部位に電極を貼り付けて電極間の漏れ電流を
測定することにより汚損量を求める方法、測定部位に光
ファイバーを取付け、光ファイバー内を通過する光の減
衰量を測定することにより、汚損量を求める方法、炎色
反応を利用して汚損量を求める方法等の非接触の測定方
法や碍子表面の汚損物質を拭いとってその電導度を測定
する方法等を採用すること。 （ハ）この発明の重み付けによる測定方法を懸垂碍子の
ほか、長幹碍子等の他の碍子に適用すること。 （ニ）汚損物の付着状況に応じて、測定箇所を付着量が
多い場合に多くするなど任意に変更すること。
はなく、例えば以下のような態様に具体化してもよい。 （イ）重み付けとして、前記実施例では面積を基準とし
たが、複雑な形状で面積の算出が容易でない場合、測定
部位を代表する円周の長さ、例えば前記実施例の中で測
定部位の中心円周（図１（ｂ）の二点鎖線）を基準とし
たり、測定部位の中心円の半径の長さを基準としたりす
ること。 （ロ）汚損量の測定方法として、レーザや紫外線又は赤
外線等を照射して碍子からの反射光を測定する方法、あ
るいは測定部位に電極を貼り付けて電極間の漏れ電流を
測定することにより汚損量を求める方法、測定部位に光
ファイバーを取付け、光ファイバー内を通過する光の減
衰量を測定することにより、汚損量を求める方法、炎色
反応を利用して汚損量を求める方法等の非接触の測定方
法や碍子表面の汚損物質を拭いとってその電導度を測定
する方法等を採用すること。 （ハ）この発明の重み付けによる測定方法を懸垂碍子の
ほか、長幹碍子等の他の碍子に適用すること。 （ニ）汚損物の付着状況に応じて、測定箇所を付着量が
多い場合に多くするなど任意に変更すること。
【００２３】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、碍
子表面の測定箇所による汚損量の変化や測定箇所による
データの相違にかかわらず、碍子全体の汚損量を精度良
く算出できるという優れた効果を奏する。
子表面の測定箇所による汚損量の変化や測定箇所による
データの相違にかかわらず、碍子全体の汚損量を精度良
く算出できるという優れた効果を奏する。
【図１】（ａ）は本発明の実施例を示す碍子本体の断面
図、（ｂ）は笠部裏面を示す底面図である。
図、（ｂ）は笠部裏面を示す底面図である。
【図２】（ａ）は碍子本体の断面図、（ｂ）は笠部裏面
を示す底面図である。
を示す底面図である。
【図３】碍子本体の下方にＸ線照射検出ユニットを配置
した状態を示す図である。
した状態を示す図である。
【図４】Ｘ線照射法による汚損量と筆洗い法による汚損
量との関係を示すグラフである。
量との関係を示すグラフである。
１…被測定用碍子としての懸垂碍子、２…碍子本体、Ｐ
1 〜Ｐ11，Ｐ1,1 〜Ｐ11,8…測定箇所。
1 〜Ｐ11，Ｐ1,1 〜Ｐ11,8…測定箇所。
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定用碍子の複数箇所で碍子表面の汚
損量を測定し、各測定箇所における汚損量の測定値から
碍子全体の平均汚損量を演算する測定方法において、 前記各測定値に測定箇所に応じた重み付けを行って碍子
全体の平均汚損量を演算することを特徴とする碍子の汚
損量測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15832892A JPH065141A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | 碍子の汚損量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15832892A JPH065141A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | 碍子の汚損量測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH065141A true JPH065141A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=15669244
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15832892A Pending JPH065141A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | 碍子の汚損量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065141A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6750904B1 (en) | 1998-10-31 | 2004-06-15 | International Business Machines Corporation | Camera system for three dimensional images and video |
| JP2013015404A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Institute For Laser Technology | 碍子表面の付着物の付着密度測定方法及び測定装置 |
-
1992
- 1992-06-17 JP JP15832892A patent/JPH065141A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6750904B1 (en) | 1998-10-31 | 2004-06-15 | International Business Machines Corporation | Camera system for three dimensional images and video |
| JP2013015404A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Institute For Laser Technology | 碍子表面の付着物の付着密度測定方法及び測定装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0314124B2 (ja) | ||
| JPH022097B2 (ja) | ||
| US6242755B1 (en) | Method and device for the contactless measuring of strand-like textile material | |
| US5113421A (en) | Method and apparatus for measuring the thickness of a coating on a substrate | |
| US2444442A (en) | Photoelectric apparatus | |
| US3775013A (en) | Optical turbidimeter apparatus | |
| Hård et al. | Accurate laser light-scattering measurements of capillary waves | |
| JPH065141A (ja) | 碍子の汚損量測定方法 | |
| JP2883241B2 (ja) | 碍子の汚損量測定方法 | |
| Lardner et al. | Spatiotemporal mapping of diffusion layers using synchrotron infrared radiation | |
| JPS57161677A (en) | Radiation detector | |
| JP2851319B2 (ja) | 放射線計測装置の放射線検出部 | |
| JP2636051B2 (ja) | 粒子測定方法および装置 | |
| US4190367A (en) | Device for establishing a condition at the surface of a subject | |
| US20170160209A1 (en) | Testing diffraction or diffusion of a light beam | |
| KR20180032459A (ko) | 공기중 부유입자 측정방법 | |
| JPH02114146A (ja) | 構造部品や試験片における亀裂長さやひずみを測定する方法とその装置 | |
| JP2821200B2 (ja) | 粒子測定方法および装置 | |
| JPH06138240A (ja) | ガンマ線計測装置 | |
| Phillips et al. | Two new x-ray films: conditions for optimum development and calibration of response | |
| JP2821201B2 (ja) | 粒子測定方法および装置 | |
| JPH0754305B2 (ja) | 碍子汚損量測定方法 | |
| CN213580629U (zh) | 一种用于液质检测的积分球皿 | |
| JPS6319004B2 (ja) | ||
| JPH05332880A (ja) | 光導波路断面屈折率分布測定装置 |