JPH0650610B2 - シヤドウマスク構体 - Google Patents

シヤドウマスク構体

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JPH0650610B2
JPH0650610B2 JP32711188A JP32711188A JPH0650610B2 JP H0650610 B2 JPH0650610 B2 JP H0650610B2 JP 32711188 A JP32711188 A JP 32711188A JP 32711188 A JP32711188 A JP 32711188A JP H0650610 B2 JPH0650610 B2 JP H0650610B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、シヤドウマスク式カラー陰極線管のシヤド
ウマスク構体に関する。
(従来の技術) シヤドウマスク式カラー陰極線管(以下、「CRT」と
いう)は、第7図に示すように漏斗状のフアンネル(1)
と、フアンネル(1)の開放端に封着されたパネル(2)と、
パネル(2)の内面に形成された蛍光面(3)と、パネル(2)
の側壁に設けられた複数個のピン(4)と、蛍光面(3)に対
向配設されて、ピン(4)に支持されたシヤドウマスク構
体(5)とを具備している。
シヤドウマスク構体(5)は、電子ビーム(6A),(6B),(6C)
を選択的に通過させる多数のアパーチャ(13)が形成され
た有孔部(23)およびこの有孔部の周縁につづく無孔部(2
4)がパネル(2)の内面形状とほぼ等しい球面に形成さ
れ、さらに無孔部(24)の周縁につづいてスカート部(8)
が形成されたシヤドウマスク(7)と、このスカート部(8)
が全周にわたつて、所定の間隔で溶接固定されたフレー
ム(9)と、このフレーム(9)に溶接され、カラー受像管の
動作中に生ずるシヤドウマスク(7)の熱膨張を補正する
ためのバイメタル(10)と、このバイメタル(10)に溶接さ
れ、ピン(4)に係合してシヤドウマスク(7)をパネル(2)
に相対向する位置に保持するスプリング(11)とで構成さ
れている。
このように構成されたシヤドウマスク構体(5)を有する
CRTは、電子銃(12A),(12B),(12C)より放出された電
子ビーム(6A),(6B),(6C)が、シヤドウマスク(7)のアパ
ーチヤ(13)を通過して蛍光面(3)に形成している赤、
緑、青蛍光体に射突して発光させるが、通常、シヤドウ
マスク(7)のアパーチヤ(13)の総面積はシヤドウマスク
(7)の表面積の15%〜25%ていどであり、電子ビー
ムのほとんどはシヤドウマスク(7)に衝突して、シヤド
ウマスク(7)を加熱する。例えば21インチCRTのシ
ヤドウマスク構体(5)の温度を、高圧電圧28Kv、ビ
ーム電流1mAの条件下で測定した結果は第8図に示す
ような温度上昇特性を示した。すなわちシヤドウマスク
(7)の有孔部の中心部分の温度は、特性曲線(14)に示す
ように最初の5分間での温度上昇が著しく、30分間で
約40℃に温度が上昇して飽和した。他方、熱容量の大
きいフレーム(5)は特性曲線(15)に示すように徐々に温
度上昇し、約一時間で飽和状態となつた。シヤドウマス
ク(7)はこの様な温度上昇によつて熱膨張し、第9図お
よび第10図に示すように、動作開始前の実線で示す
(7)の位置から(7C)の位置に変位する。このため、アパ
ーチヤ(13)を通過した電子ビーム(6A),(6B),(6C)の蛍光
面(3)上の射突点が距離Tだけフエース面の中心方向に
移動し、隣接する他の色の蛍光体を発光させて色ずれが
生じる。この色ずれ現象は画面全域にわたつて現れる。
この移動量Tを、パネルの対角軸方向内面の半径が13
50mmである21インチCRTで測定したところ、パネ
ル(2)のフエース面の中心点から左右に150mm離れた
長軸上(以下、「X軸」という)で最も顕著に現れ、
0.05〜0.08mm移動した。
ついで、フレーム(9)の温度上昇が飽和状態に近くなる
と、フレーム(9)は、熱膨張により第9図に示す(9A)の
位置まで変位する。このためフレーム(9)に接合されて
いるシヤドウマスク(7)は(7A)の位置に変位する。その
結果、アパーチヤ(13)を通過して蛍光面に射突する電子
ビームの位置は、中心点から外側方向に距離Sだけ移動
し、CRTの動作初期に現れる色ずれ現象とは、逆の方
向の色ずれが発生する。
この後者の色ずれ現象は、CRTが連続して動作すれ
ば、引き続き現れる現象である。バイメタル(10)(第7
図図示)はこの色ずれを補正するためのもので、フレー
ム(9)の温度上昇にともなつて昇温し、シヤドウマスク
(7)をパネル(2)に近付けるように、フレーム(9)を第9
図に示す(9B)の位置に変位させ、これにともなつて、シ
ヤドウマスク(7)を第9図および第10図に示す(7B)の
位置に移行させて電子ビームの射突点が所定の蛍光体を
射突するようにして後者の色ずれを補正している。
しかし、従来のシヤドウマスク構体(5)では、局部的に
輝度の高い画面が映出される場合には、バイメタル(10)
の温度上昇が殆ど期待できないため、局部的なシヤドウ
マスクの熱変形による色ずれを補正することができなか
つた。
この問題点を解決するには、テレビジヨン学会誌(197
7,第31巻第6号P46〜52)「シヤドウマスクの局部ドー
ミング現象に関する理論検討」に示されているように、
シヤドウマスク(7)の板厚を厚くする手段が有効的であ
ることが理論的に立証されている。しかしながら、シヤ
ドウマスク(7)のアパーチヤ(13)は、例えば特公昭51
−9264号公報に示されているエツチング法で製作さ
れるのが一般的である。この製作方法によれば、板厚t
と、アパーチヤ(13)の大きさSWとの間には次式 SW>0.8t の関係があり、厚い板に所望の小さなアパーチヤ(13)を
形成することは不可能である。CRTの解像度を向上さ
せるには、アパーチヤ(13)のピツチを小さくすることが
必要となるが、これは、アパーチヤ(13)の大きさを小さ
くすることを意味し、このためにはシヤドウマスク(7)
の板厚を薄くする必要がある。このように、熱変形によ
る色ずれを防ぐためにシヤドウマスク(7)の板厚を厚く
することと、解像度を高めるためにアパーチヤ(13)の大
きさを小さくすることとは矛盾した関係にある。
この問題点を解消するために、例えば、特開昭57−1
38746号公報に示されているシヤドウマスクの製作
方法で作成した板厚の薄い複数枚のシヤドウマスクを用
いる方法が考えられた。
このシヤドウマスクの製造方法は、第11図(a),(b)に
示すように、2枚の薄い2枚のフラツトマスク(21),(2
2)の有孔部(23)の周囲の無孔部(24)を適当な間隔で点溶
接(50)または、シーム溶接(51)した後、所定の形状にプ
レス成形する前に、プレス成形時に生じる2枚のシヤド
ウマスク間の滑り、および伸びのバラツキによるアパー
チヤ(13)の位置ずれを防止するため、第12図(b)に示
すように、例えば、ポリアミド系レジン(16)等でアパー
チヤ(13)を埋め、熱風乾燥およびキユアリングして十分
な強度を得た後、第12図(c)に示すようにプレス成形
し、その後、充填したレジン(16)を化学的手段で除去し
た第12図(d)に示すシヤドウマスク(7)をそのまま用い
ようとするものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、この方法で製作したシヤドウマスク(7)は、2
枚の薄板(21),(22)の間に浸透して硬化したレジンを完
全に除去することは困難で、この残留レジンがCRTの
動作中に加熱されて徐々に不純ガスを管内に放出し、C
RTの寿命を短くしたり、組立中に与えられる振動およ
びテレビジヨンセツトのスピーカーの振動等によつて残
留レジンが管内に脱落し、電子銃部に付着してスパーク
を発生してCRTを損傷するおそれがある。
また、このシヤドウマスクは、2枚の薄板を重ね合わせ
ているため、プレス成形後、残留歪のためにもどり現象
が生じ、アパーチヤ(13)の位置合せが大きくずれるとい
う問題点もあるので、実用できるもものではなかつた。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、複数枚のフラツトマスクを接合して成形し
たシヤドウマスクであつて、アパーチヤの位置ずれの小
さいシヤドウマスクを備えたシヤドウマスク構体を得る
ことを目的とするものである。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るシヤドウマスク構体は、複数枚の薄いフ
ラツトマスクを、各アパーチヤの位置を合わせて密着さ
せた状態の下で有孔部の領域内を少なくとも二重に環状
の溶接点列を形成して接合し、さらに当該有孔部の外周
の無孔部内を適当な間隔でもつて溶接して接合したのち
プレス成形によつて球面部およびスカート部を成形した
シヤドウマスクを備えた点を特徴とする。
〔作用〕
この発明におけるシヤドウマスクは、薄い板厚のフラツ
トマスクを複数枚接合しているので熱変形による色ずれ
を防止するのに必要な十分な厚さに形成することができ
る。
また、各フラツトマスクは薄いので、所望の解像度を得
るのに必要な大きさのアパーチヤを形成することができ
る。
さらに、プレス成形前に、有孔部領域内を少なくとも二
重の環状の溶接点列を形成して接合するとともに無孔部
領域内を適当な間隔で溶接して接合したのちプレス成形
しているので、各アパーチヤの位置ずれを極めて小さく
することができる。
〔発明の実施例〕
以下、この発明の一実施例を説明する。
第1図はこの実施例のプレス成形前の接合されたフラツ
トマスクの平面図、第2図はこのフラツトマスクをプレ
ス成形したシヤドウマスクを示す図、第3図ないし第6
図は第1図のフラツトマスクの接合工程を説明するため
の図である。以下、21インチCRTを例に説明する。
まず、フラツトマスクの構成について説明する。
第5図はこの実施例の接合されたフラツトマスクの一部
拡大断面図で、第1図の向つて左側X軸上の溶接点列A
の部分を示しており、(21)は蛍光面側のフラツトマス
ク、(22)は電子銃側のフラツトマスクで、板厚はt
0.25mm、t=0.20mmであり、化学的エツチン
グ法によつて形成されたアパーチヤ(13a),(13b)のピツ
チPは0.65mm、断面形状は電子銃側の最も狭い部分
の幅Swが150μm、この中心点に立てた垂線Qから
の各寸法は、BW1は160μm、BW2は120μm、O
W1は150μm、OW2は120μm、OW3は250μ
m、OW4は170μmで、フラツトマスク(21),(22)の
接合時のずれによる電子ビーム通過面積のばらつきを無
くするため、アパーチヤ(13a)の幅を、アパーチヤ(13b)
より広い幅に形成している。(23)はアパーチヤが形成さ
れている有孔部で、この21インチCRTでは中心点O
からX軸上の端部までの寸法は195mm、中心点Oから
Y軸上の端部までの寸法は155mmである。(24)は無孔
部、(25)は位置決め孔で、この例では3ケ所に設けてい
る。
つぎに、フラツトマスクの接合工程について説明する。
第3図に示すように、フラツトマスク(21),(22)は、位
置合せ治具(27)に植立てられた位置合せピン(28)に位置
決め孔(25)が挿入されて載置され、第4図に示すよう
に、押え治具(29)で4kg/cm2で押圧してフラツトマスク
(21),(22)の間に隙間がないように挟持し、レーザ溶接
ヘツド(30)で例えば0.6〜0.8ジユール/パルス,
パルス幅10msec程度のYAGレーザを0.1〜
0.15mm程度のビーム径に絞つて照射し、第6図に示
すような溶接点(50)を形成させて溶接する。この溶接点
の大きさは、第5図に示すように、表面の直径Lが約
0.3mm、溶接部分の直径Lが約0.1mm、フラツト
マスク(22)の溶け込み深さtが0.1mm程度であつ
た。
このようにして順次溶接して第1図に示すように、有孔
部(23)の領域内を2つの環状の溶接点列A,Bおよび無
孔部(24)の領域内を1つの環状の溶接点列Cを形成して
2枚のフラツトマスク(21),(22)を接合する。このう
ち、環状の溶接点列Aの位置は、有孔部(23)の中心点
(CRTに装着したときの管軸と一致する)からX軸上
の寸法は130mm、Y軸上の寸法は105mm、溶接ピツ
チPは10mmであり、溶接点列Bの位置は、X軸上の寸
法は175mm、Y軸上の寸法は140mm、溶接ピツチP
は10mmであり、溶接点列Cの位置は、X軸およびY軸
上の寸法はそれぞれ有孔部(23)の外周から5mmで、溶接
ピツチPは10mmである。
この接合工程を終えて隙間なく接合されたフラツトマス
ク(21),(22)は、通常のプレス成形工程を経て第2図に
示すシヤドウマスク(7)に成形される。
このようにして得られたシヤドウマスク(7)の2つのア
パーチヤ(13a),(13b)の位置ずれ量を測定した結果、そ
の最大の位置は有孔部(23)の四隅のX=190mm、Y=
150mmの位置で、その大きさは10μmで、十分に実
用できる値であつた。
つぎに、各溶接点列A,B,Cの溶接ピツチPを5mm、
20mmとしてアパーチヤ(13a),(13b)の最大位置ずれ量
を測定した結果は、下表のようであつた。
この結果から、溶接点ピツチは20mmより小さい15mm
以下とすることが望ましい。
なお、上記実施例では、有孔部(23)の領域内を、2重に
環状の溶接点列A,Bで接合し、無孔部(24)の領域内を
一重の環状の溶接点列Cで接合した例を示したが、それ
ぞれこの実施例に1または複数の環状の溶接点列を加え
てもよく、さらに適宜各部を点溶接してもよい。
また、上記実施例では、最も内側の環状の溶接点列Aの
位置を、中心点Oから外線までの寸法の約2/3の位置
としたが、更に内側としてもよく、中心点Oから1/3
より外側の有孔部領域内であれば有効であつた。
また、上記実施例では無孔部領域に形成した溶接点列C
の溶接ピッチPを、有孔部領域に形成した溶接点列A,
Bと同じピツチとしたが、必ずしも同一ピツチとする必
要はなく、適当な間隔でもつて接合してもよい。
つぎに、この発明に到達するまでに行つた実験例を、比
較例として説明する。
(比較例1) 第1図に示す環状の溶接点列Cのみを施して接合したフ
ラツトパネル(21),(22)をプレス成形して得たシヤドウ
マスク(7)のアパーチヤの位置ずれ最大量Δpは有孔部
(23)の四隅で、その値は150μmであつた。
この結果から、接合された2枚のフラツトマスクをプレ
ス成形したときに生じるアパーチヤの位置ずれは、2枚
のフラツトマスクのプレス時に際して板厚に関する中立
線の長さの差のみで決定されるものではなく、2枚のフ
ラツトマスクのお互いのブリツジ幅等で決定される機械
的強変度によつても、大きく変わることを意味してい
る。
(比較例2) 第1図に示した環状の溶接点列Cに加えて、溶接ピツチ
が5mmの環状の溶接点列Aを施して接合したフラツトパ
ネル(21),(22)をプレス成形して得たシヤドウマスク(7)
のアパーチヤの最大位置ずれ量Δpは、比較例1と同様
に有孔部(23)の四隅で生じ、その値は55μmで実用で
きるものではなかった。
この発明は以上の比較例のほか多数の実験試作を経て完
成に到つたものである。
なお、上記実施例では、2枚のフラツトパネルを接合し
てプレス成形する側を説明したが、3枚以上の薄いフラ
ツトパネルを接合した構成としてもよく、アパーチヤの
大きさを更に小さくできるので、解像度の向上と、耐熱
特性の向上とを図ることができる。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、アパーチヤの位置を
合わせて重ね合わせた複数枚のフラツトマスクを密着さ
せて有孔部領域内で少なくとも二重に環状の溶接点列
A,Bを形成して接合するともに、無孔部領域内を適当
な間隔でもつて溶接して接合し、しかる後、球面部およ
びスカート部をプレス成形によつて形成したシヤドウマ
スクを備えたシヤドウマスク構体であるから、所望の板
厚で耐熱特性がよくかつ各アパーチヤの位置ずれが小さ
く、解像度のよいシヤドウマスク構体が得られる効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例のプレス成形前の接合され
たフラツトマスクの平面図、第2図はこの実施例のシヤ
ドウマスクのアパーチヤの位置ずれを示す図、第3図な
いし第6図はこの実施例における接合工程の説明図、第
7図は従来のシヤドウマスク構体を備えたCRTの一部
破断斜視図、第8図はこの従来例のシヤドウマスク構体
の温度上昇特性図、第9図および第10図はこの従来例
において発生する色ずれを説明するための一部拡大断面
図、第11図および第12図は特開昭57−13874
6号公報に示されているシヤドウマスク成形方法の説明
図である。 (5)……シヤドウマスク構体、(7)……シヤドウマスク、
(13a),(13b)……アパーチヤ、(21),(22)……フラツトマ
スク、(23)……有孔部、(24)……無孔部、(25)……位置
決め孔、(30)……溶接点、A,B,C……環状の溶接点
列、O……有孔部の中心点、P……溶接ピツチ。 なお、各図中、同一符号は同一、または相当部分を示
す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 花島 真人 兵庫県尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三 菱電機株式会社中央研究所内 (72)発明者 森安 雅治 兵庫県尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三 菱電機株式会社生産技術研究所内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】パネルの内面の蛍光面に対向して配設され
    るシヤドウマスクと、このシヤドウマスクの外周面を固
    定保持するフレームと、このフレームに固定されて動作
    時に生ずるシヤドウマスクの熱膨張を補正するための熱
    補正機構とを有するシヤドウマスク構体であつて、上記
    シヤドウマスクが、それぞれアパーチヤが形成されてい
    る複数枚のフラツトマスクをアパーチヤの位置を合わせ
    て重ね合わせ密着させた状態のもとで当該フラツトマス
    クの有孔部の領域内を少なくとも二重の環状の溶接点列
    を形成するように溶接し、さらに上記無孔部の領域内を
    有孔部の外周に沿つて適当な間隔でもつて接合したの
    ち、所定の形状にプレス成形してなるシヤドウマスクを
    備えたことを特徴とするシヤドウマスク構体。
JP32711188A 1988-06-17 1988-12-23 シヤドウマスク構体 Expired - Lifetime JPH0650610B2 (ja)

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