JPH0648800Y2 - X-ray tube current correction circuit - Google Patents

X-ray tube current correction circuit

Info

Publication number
JPH0648800Y2
JPH0648800Y2 JP1988156357U JP15635788U JPH0648800Y2 JP H0648800 Y2 JPH0648800 Y2 JP H0648800Y2 JP 1988156357 U JP1988156357 U JP 1988156357U JP 15635788 U JP15635788 U JP 15635788U JP H0648800 Y2 JPH0648800 Y2 JP H0648800Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tube
current
value
filament
standard
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1988156357U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0276500U (en
Inventor
節 馬場
寿 川地
Original Assignee
ジーイー横河メディカルシステム株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ジーイー横河メディカルシステム株式会社 filed Critical ジーイー横河メディカルシステム株式会社
Priority to JP1988156357U priority Critical patent/JPH0648800Y2/en
Publication of JPH0276500U publication Critical patent/JPH0276500U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0648800Y2 publication Critical patent/JPH0648800Y2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • X-Ray Techniques (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案はX線管に供給するフィラメント電流を補正する
ことにより所望の管電流を得るX線管管電流補正回路に
関する。
The present invention relates to an X-ray tube current correction circuit for obtaining a desired tube current by correcting a filament current supplied to an X-ray tube.

(従来の技術) 一般にX線管は個々の管によってそれぞれ固有のエミッ
ション特性を有しており、供給する管電圧と流すべき管
電流を決めると、その条件を維持するために必要なフィ
ラメント電流が決まり、又管電圧とフィラメント電流を
決めれば、流れる管電流が必然的に決まるというような
関係を持っている。第2図にエミッション特性の一例を
示す。図のグラフは横軸にフィラメント電流を、縦軸に
管電流を取り、管電圧をパラメータとして表したもので
ある。図において、例えば管電圧をV1,管電流をA1に設
定すると、フィラメント電流Isが求められる。これはX
線管に管電圧V1を与え、フィラメント電流Isを流すと、
管電流A1が得られることを示している。
(Prior Art) Generally, an X-ray tube has an emission characteristic unique to each tube. When a tube voltage to be supplied and a tube current to be supplied are determined, a filament current required to maintain the condition is determined. If the tube voltage and the filament current are determined, the tube current that flows will be inevitably determined. FIG. 2 shows an example of emission characteristics. In the graph of the figure, the filament current is plotted on the horizontal axis and the tube current is plotted on the vertical axis, and the tube voltage is represented as a parameter. In the figure, for example, a tube voltage V 1, by setting the tube current in A 1, the filament current I s is obtained. This is X
When the tube voltage V 1 is applied to the wire tube and the filament current Is is passed,
It shows that the tube current A 1 can be obtained.

ところが、X線管の経時変化や制御回路の変化等によ
り、管電圧V1のカーブが、第2図のa−a′のようにな
っていることがあり、この場合には誤差を生じ、管電圧
V1,フィラメント電流Isで運転すると管電流はA1′にな
ってしまうので、管電流A1の点が曲線a−a′に交わる
点におけるフィラメント電流Iaを流さないと管電流A1
得られない。
However, the curve of the tube voltage V 1 may be as shown by aa ′ in FIG. 2 due to changes with time of the X-ray tube, changes in the control circuit, etc. In this case, an error occurs, Tube voltage
V 1, the filaments 'so becomes, tube current A point curve a-a 1' current I s When operating at a tube current A 1 does not flow through the filament current I a at the point of intersection in the tube current A 1 Can't get

従来はこの補正のために、予め定めた管電圧をパラメー
タとした管電流−フィラメント電流の近似式或いはテー
ブルにより、管電流の設定値と実測値との誤差に基づ
き、フィラメント電流値Isの補正値(Is−Ia)を得るよ
うにしている。
For the conventional correction, a predetermined tube voltage as a parameter the tube current - the approximate equation or a table of filament current, based on the error between the measured value and the set value of the tube current, the correction of the filament current value I s I try to get the value (I s −I a ).

(考案が解決しようとする課題) ところが、このようにして求めた補正値は前記の条件即
ち管電圧V1、管電流A1の場合についてのみ適合し、他の
条件即ち管電圧,管電流の異なる設定の場合には適応で
きない。それは第2図から分かるように特性曲線は直線
的でなく、種々の関数系を持ち、空間電荷の影響を受け
たりするからである。
(Problems to be solved by the invention) However, the correction value thus obtained is applicable only under the above conditions, that is, the tube voltage V 1 and the tube current A 1 , and other conditions such as the tube voltage and the tube current Not applicable for different settings. This is because, as can be seen from FIG. 2, the characteristic curve is not linear, has various functional systems, and is affected by space charges.

従って、従来の装置では、前回補正した時と同一の条件
の場合には補正されるが、他の条件の場合には前回求め
た補正値が全く生かされず、補正されないことになって
いた。
Therefore, in the conventional device, the correction is performed under the same condition as the previous correction, but under the other conditions, the correction value obtained last time is not utilized at all and is not corrected.

本考案は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的
は、従来補正されない条件の場合でも、補正された条件
における補正値に関連させて補正することができるよう
にしたX線管管電流補正回路を提供することである。
The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to make it possible to perform correction in relation to a correction value in the corrected condition even in the case where the correction is not conventionally performed. It is to provide a correction circuit.

(課題を解決するための手段) 前記の課題を解決する本考案は、X線管の管電圧および
管電流をそれぞれ設定するための設定手段と、設定され
た管電圧に対応する電圧をX線管に供給する高電圧発生
手段と、設定された管電圧下において、設定された前記
管電流を得るために必要なフィラメント電流値と、標準
の管電圧に対し標準の管電流を得るための標準のフィラ
メント電流値との比のデータを記憶している第1の記憶
手段と、前記標準のフィラメント電流値を記憶している
第2の記憶手段と、前記第1の記憶手段から読み出され
た前記比のデータと前記第2の記憶手段から読み出され
た前記標準フィラメント電流値データとの演算によっ
て、設定された管電流値を得るために必要なフィラメン
ト電流値を求める演算手段と、求められたフィラメント
電流値に対応したフィラメント電流をX線管に供給する
フィラメント電流供給手段と、X線管の管電流を測定
し、その測定値を前記演算手段に送る管電流測定手段と
を有し、前記演算手段は、前記管電流測定手段によって
測定された管電流の実測値と前記設定された管電流値と
を比較し、実測値が設定された管電流値に一致する方向
に、前記第2の記憶手段に記憶されている前記フィラメ
ント電流の標準値を更新していき、その一方で更新した
フィラメント電流の標準値データを第2の記憶手段から
読み出し、前記第1の記憶手段から読み出された前記比
のデータと演算してフィラメント電流値を更新していく
ことを特徴とするものである。
(Means for Solving the Problem) The present invention for solving the above-mentioned problems is directed to setting means for respectively setting the tube voltage and tube current of an X-ray tube, and a voltage corresponding to the set tube voltage for X-ray. A high voltage generating means for supplying to the tube, a filament current value necessary to obtain the set tube current under a set tube voltage, and a standard for obtaining a standard tube current with respect to a standard tube voltage. Read from the first storage means, which stores the data of the ratio to the filament current value of the second storage means, the second storage means which stores the standard filament current value, and the first storage means. Calculating means for obtaining a filament current value required to obtain the set tube current value by calculating the ratio data and the standard filament current value data read from the second storage means. Tafu An filament current supply means for supplying a filament current corresponding to the filament current value to the X-ray tube, and a tube current measuring means for measuring the tube current of the X-ray tube and sending the measured value to the calculation means. The calculating means compares the actually measured value of the tube current measured by the tube current measuring means with the set tube current value, and the second measured value is in a direction in which the actually measured value matches the set tube current value. The standard value of the filament current stored in the storage means is updated, while the updated standard value data of the filament current is read from the second storage means and read from the first storage means. It is characterized in that the filament current value is updated by calculating with the ratio data.

(作用) 管電圧,管電流を設定すると、演算手段は第1の記憶手
段から標準フィラメント電流に対する補正値を、第2の
記憶手段から標準フィラメント電流値を読み出して演算
を行い、演算により得られたフィラメント電流を設定管
電圧と共にX線管に供給する。上記の条件における管電
流を測定して演算手段にフィードバックし、管電流設定
値との間に誤差がある場合は第2の記憶手段の内容を修
正し、同様の手順を繰り返して設定された管電流値の管
電流を安定に得る。
(Operation) When the tube voltage and the tube current are set, the calculation means reads the correction value for the standard filament current from the first storage means and the standard filament current value from the second storage means to perform the calculation. The filament current is supplied to the X-ray tube together with the set tube voltage. The tube current under the above conditions is measured and fed back to the calculating means, and if there is an error with the set value of the tube current, the contents of the second storage means are corrected, and the same procedure is repeated to set the tube current. A tube current having a current value is stably obtained.

(実施例) 以下、図面を参照して本考案の実施例を詳細に説明す
る。
Embodiment An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は本考案の一実施例の回路のブロック図である。
図において、1はX線管2に与える管電圧を設定するた
めの管電圧設定器、3はX線管2に流すべき管電流を設
定する管電流設定器である。4は管電圧設定器1に設定
された管電圧に等しい高電圧を発生する高圧発生回路
で、X線管2に陽極電圧を供給する。5は標準値である
管電圧V1で管電流A1を得るための標準のフィラメント電
流値と各々異なった管電圧、V2,V3,…等で各管電流を
得るためのフィラメント電流値の比が格納されている第
1メモリ、6は管電圧V1で管電流A1を得るための標準の
フィラメント電流値が記録されている第2メモリであ
る。7は管電圧設定器1に管電圧が設定され、管電流設
定器3に管電流が設定されると、第1メモリ5に格納さ
れているフィラメント電流の比のデータを読み出し、第
2メモリ6から標準のフィラメント電流値を読み出して
演算を行い、補正されたフィラメント電流値を出力する
演算回路で、その出力の補正されたフィラメント電流値
のデータはDA変換器8でアナログ信号に変換され、フィ
ラメント電流制御回路9に入力される。フィラメント電
流制御回路9は入力データに基づきX線管2にフィラメ
ント電流を供給する。10はX線管2に流れる管電流を測
定して演算回路7にフィードバックする管電流測定器
で、その出力信号はAD変換器11においてディジタル信号
に変換される。
FIG. 1 is a block diagram of a circuit according to an embodiment of the present invention.
In the figure, 1 is a tube voltage setting device for setting a tube voltage applied to the X-ray tube 2, and 3 is a tube current setting device for setting a tube current to be passed through the X-ray tube 2. Reference numeral 4 is a high voltage generating circuit for generating a high voltage equal to the tube voltage set in the tube voltage setting device 1, and supplies an anode voltage to the X-ray tube 2. 5 is the standard filament current value for obtaining the tube current A 1 at the tube voltage V 1 which is the standard value, and the filament current value for obtaining each tube current at different tube voltages, V 2 , V 3 , ... Is stored in the first memory, and reference numeral 6 is a second memory in which a standard filament current value for obtaining the tube current A 1 at the tube voltage V 1 is recorded. When the tube voltage is set in the tube voltage setting device 1 and the tube current is set in the tube current setting device 7, the data 7 reads the data of the filament current ratio stored in the first memory 5, and the second memory 6 An arithmetic circuit that reads the standard filament current value from and outputs the corrected filament current value. The corrected filament current value data of the output is converted into an analog signal by the DA converter 8, It is input to the current control circuit 9. The filament current control circuit 9 supplies the filament current to the X-ray tube 2 based on the input data. Reference numeral 10 is a tube current measuring device for measuring the tube current flowing in the X-ray tube 2 and feeding it back to the arithmetic circuit 7. The output signal thereof is converted into a digital signal in the AD converter 11.

次に上記のように構成された実施例の回路の動作を説明
する。第1メモリ5に格納されている内容は第3図のグ
ラフに示すように標準管電圧V1,標準管電流A1における
標準のフィラメント電流で管電圧,管電流の異なる条件
におけるフィラメント電流を除した比の値である。具体
的には第4図に示すような管電圧V1管電流A1に対応する
フィラメント電流I11で、他の条件のフィラメント電流
値を除した比を格納してある。この表において、管電圧
Vm,管電流Vnの時のフィラメント電流をImnで表してあ
る。第2メモリ6には標準管電圧V1,標準管電流A1の時
のフィラメント電流I11が格納されている。
Next, the operation of the circuit of the embodiment configured as described above will be described. As shown in the graph of FIG. 3, the contents stored in the first memory 5 are standard filament currents at standard tube voltage V 1 and standard tube current A 1 that are excluded from filament currents under different tube voltage and tube current conditions. It is the value of the ratio. Specifically, a ratio obtained by dividing the filament current value under other conditions by the filament current I 11 corresponding to the tube voltage V 1 and the tube current A 1 as shown in FIG. 4 is stored. In this table, tube voltage
The filament current at V m and the tube current V n is represented by I mn . The second memory 6 stores the filament current I 11 at the standard tube voltage V 1 and the standard tube current A 1 .

管電圧設定器1に管電圧を設定し、管電流設定器3に管
電流が設定された場合の動作を説明する。設定値がV1
A2であったとすると、演算回路7は第2メモリ6からI
11を読み出し、第1メモリI12/I11の値を読み出し、両
者を掛け合わせてI12を算出し、DA変換器8を経てフィ
ラメント電流制御回路9に出力する。フィラメント電流
制御回路9はX線管2にフィラメント電流をI12にする
ようにフィラメント電流回路を制御する。この条件下で
管電流測定器10はX線管2の管電流を測定し、AD変換器
11を経て演算回路7にフィードバックする。
The operation when the tube voltage is set in the tube voltage setting device 1 and the tube current is set in the tube current setting device 3 will be described. Setting value is V 1 ,
Assuming that it is A 2 , the arithmetic circuit 7 outputs from the second memory 6 I
11 is read out, the value of the first memory I 12 / I 11 is read out, both are multiplied to calculate I 12 , and output to the filament current control circuit 9 via the DA converter 8. The filament current control circuit 9 controls the filament current circuit so that the filament current of the X-ray tube 2 becomes I 12 . Under this condition, the tube current measuring device 10 measures the tube current of the X-ray tube 2, and the AD converter
It feeds back to the arithmetic circuit 7 via 11.

この時、X線管2の経時変化等によりエミッション特性
が変化して、第5図の破線で示すV1′の特性であった場
合、管電流測定器10で測定した管電流はA2′に変化して
いる。従って、所望の管電流A2を得るためにはA2とV1
の交点のI12′のフィラメント電流を流さなければなら
ない。演算回路7は第1メモリ5に格納されている第4
図の関係と管電流A2′とから演算して第2メモリ6に格
納されている標準フィラメント電流を修正する。A2′>
A12の場合には第2メモリ6のI11を減らし、A2′<A12
の場合にはI11の値を増やすように第2メモリ6の内容
を更新する。この更新されたI11′により、演算回路7
は新たにI12″を算出し、フィラメント電流制御回路9
に出力する。次いで管電流測定器10により管電流を測定
して演算回路7にフィードバックする。この操作を繰り
返すことにより、X線管2の経時変化等につれて管電流
が変化しないように第2メモリ6に格納されている標準
フィラメント電流設定値を補正する。この時、管電圧,
管電流の設定が変化した場合でも、エミッションカーブ
の形の経時変化等の範囲内で補正することができるの
で、暫く使用しなかった管電圧値,管電流値を設定して
X線管2を動作させても大きな誤差を生ずることがな
い。
At this time, if the emission characteristic changes due to the aging of the X-ray tube 2 and the characteristic is V 1 ′ shown by the broken line in FIG. 5, the tube current measured by the tube current measuring device 10 is A 2 ′. Has changed to. Therefore, in order to obtain the desired tube current A 2 , A 2 and V 1
I 12 ′ filament current at the intersection of must be applied. The arithmetic circuit 7 is the fourth memory stored in the first memory 5.
The standard filament current stored in the second memory 6 is corrected by calculating from the relationship in the figure and the tube current A 2 ′. A 2 ′>
In the case of A 12 , I 11 in the second memory 6 is reduced to A 2 ′ <A 12
In the case of, the contents of the second memory 6 are updated so as to increase the value of I 11 . With this updated I 11 ′, the arithmetic circuit 7
Newly calculates I 12 ″, and the filament current control circuit 9
Output to. Next, the tube current measuring device 10 measures the tube current and feeds it back to the arithmetic circuit 7. By repeating this operation, the standard filament current set value stored in the second memory 6 is corrected so that the tube current does not change as the X-ray tube 2 changes over time. At this time, the tube voltage,
Even if the setting of the tube current changes, it can be corrected within the range of changes in the shape of the emission curve over time, etc. Therefore, set the tube voltage value and the tube current value that have not been used for a while, and Even if operated, no large error occurs.

以上説明したように本実施例の回路によれば、設定した
管電圧,管電流でX線管を動作させることができ、既述
のように暫く使用しなかった管電圧,管電流を設定して
も、設定した管電流を安定した状態で得ることができ
る。
As described above, according to the circuit of the present embodiment, the X-ray tube can be operated with the set tube voltage and tube current, and as described above, the tube voltage and tube current that have not been used for a while can be set. However, the set tube current can be obtained in a stable state.

尚、本考案は上記実施例に限定されるものではない。第
1メモリには異なる管電圧,管電流におけるフィラメン
ト電流と標準のフィラメント電流との比のテーブルが記
憶されている例であったが、エミッション特性の近似式
又は関数としての式を記憶させておいてもよい。この場
合、管電流の設定と実際の管電流との誤差から次に設定
するフィラメント電流値を演算で導くことができる。
The present invention is not limited to the above embodiment. The first memory is an example in which a table of the ratio of the filament current to the standard filament current at different tube voltages and tube currents is stored. However, an approximate expression of the emission characteristic or an expression as a function is stored. You may stay. In this case, the filament current value to be set next can be derived by calculation from the error between the setting of the tube current and the actual tube current.

(考案の効果) 以上詳細に説明したように本考案は、X線管の管電流値
を実測して、その実測値が設定された管電流値に一致す
るように、第2のメモリに格納されているフィラメント
電流の標準値の値を増加/減少させ、これによってフィ
ラメント電流値を更新していき、この動作を続行するこ
とによってX線管の管電流値を補正するものである。
(Effect of the Invention) As described in detail above, the present invention measures the tube current value of the X-ray tube and stores it in the second memory so that the measured value matches the set tube current value. The standard value of the filament current is increased / decreased, the filament current value is updated accordingly, and this operation is continued to correct the tube current value of the X-ray tube.

この新規な方式の採用によって、今までまったく使用さ
れなかった管電圧,管電流によってX線を発生させる場
合でも、常に安定した管電流を得ることができるように
なり、実用上の効果は大きい。
By adopting this new method, it becomes possible to always obtain a stable tube current even when X-rays are generated by a tube voltage and a tube current that have never been used up to now, and the practical effect is great.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の一実施例の回路のブロック図、第2図
はX線管のエミッション特性の図、第3図は数種の管電
圧,管電流とフィラメント電流との関係を示すエミッシ
ョン特性図、第4図は第1メモリに書き込まれているデ
ータの図、第5図はエミッション特性の経時変化による
影響の説明図である。 1……管電圧設定器、2……X線管 3……管電流設定器、4……高圧発生回路 5……第1メモリ、6……第2メモリ 7……演算回路 9……フィラメント電流制御回路 10……管電流測定器
FIG. 1 is a block diagram of a circuit of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram of emission characteristics of an X-ray tube, and FIG. 3 is an emission showing a relation between several tube voltages, tube currents and filament currents. FIG. 4 is a characteristic diagram, FIG. 4 is a diagram of data written in the first memory, and FIG. 5 is an explanatory diagram of influences due to changes with time of emission characteristics. 1 ... Tube voltage setting device, 2 ... X-ray tube 3 ... Tube current setting device, 4 ... High voltage generation circuit 5 ... First memory, 6 ... Second memory 7 ... Arithmetic circuit 9 ... Filament Current control circuit 10 ... Tube current measuring device

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】X線管の管電圧および管電流をそれぞれ設
定するための設定手段と、 設定された管電圧に対応する電圧をX線管に供給する高
電圧発生手段と、 設定された管電圧下において、設定された前記管電流を
得るために必要なフィラメント電流値と、標準の管電圧
に対し標準の管電流を得るための標準のフィラメント電
流値との比のデータを記憶している第1の記憶手段と、 前記標準のフィラメント電流値を記憶している第2の記
憶手段と、 前記第1の記憶手段から読み出された前記比のデータと
前記第2の記憶手段から読み出された前記標準フィラメ
ント電流値データとの演算によって、設定された管電流
値を得るために必要なフィラメント電流値を求める演算
手段と、 求められたフィラメント電流値に対応したフィラメント
電流をX線管に供給するフィラメント電流供給手段と、 X線管の管電流を測定し、その測定値を前記演算手段に
送る管電流測定手段とを有し、 前記演算手段は、前記管電流測定手段によって測定され
た管電流の実測値と前記設定された管電流値とを比較
し、実測値が設定された管電流値に一致する方向に、前
記第2の記憶手段に記憶されている前記フィラメント電
流の標準値を更新していき、その一方で更新したフィラ
メント電流の標準値データを第2の記憶手段から読み出
し、前記第1の記憶手段から読み出された前記比のデー
タと演算してフィラメント電流値を更新していくことを
特徴とするX線管電流補正回路。
1. A setting means for respectively setting a tube voltage and a tube current of an X-ray tube, a high voltage generating means for supplying a voltage corresponding to the set tube voltage to the X-ray tube, and a set tube. The data of the ratio between the filament current value required to obtain the set tube current under a voltage and the standard filament current value to obtain the standard tube current with respect to the standard tube voltage is stored. First storage means, second storage means for storing the standard filament current value, the ratio data read from the first storage means, and read from the second storage means Calculating means for obtaining the filament current value necessary to obtain the set tube current value by the operation with the standard filament current value data thus obtained, and the filament current corresponding to the obtained filament current value. A filament current supply means for supplying the X-ray tube, and a tube current measuring means for measuring the tube current of the X-ray tube and sending the measured value to the calculating means, wherein the calculating means is the tube current measuring means. The filament current stored in the second storage means is compared with the actually measured value of the tube current measured by the above-mentioned set tube current value, and in the direction in which the actually measured value coincides with the set tube current value. The standard value of the current is updated, while the updated standard value data of the filament current is read from the second storage means, and is calculated with the ratio data read from the first storage means to calculate the filament. An X-ray tube current correction circuit characterized by updating the current value.
JP1988156357U 1988-11-30 1988-11-30 X-ray tube current correction circuit Expired - Lifetime JPH0648800Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1988156357U JPH0648800Y2 (en) 1988-11-30 1988-11-30 X-ray tube current correction circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1988156357U JPH0648800Y2 (en) 1988-11-30 1988-11-30 X-ray tube current correction circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0276500U JPH0276500U (en) 1990-06-12
JPH0648800Y2 true JPH0648800Y2 (en) 1994-12-12

Family

ID=31434826

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1988156357U Expired - Lifetime JPH0648800Y2 (en) 1988-11-30 1988-11-30 X-ray tube current correction circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0648800Y2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018190581A (en) * 2017-05-01 2018-11-29 東芝電子管デバイス株式会社 X-ray system and X-ray tube inspection method

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008218338A (en) * 2007-03-07 2008-09-18 Toshiba Corp X-ray generator, x-ray computerized tomographic device, and x-ray diagnosis device
JP6035597B2 (en) * 2012-07-17 2016-11-30 東芝メディカルシステムズ株式会社 X-ray apparatus and control program
CN108650768B (en) * 2018-05-09 2020-07-07 苏州博思得电气有限公司 Filament current control method and device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55159596A (en) * 1979-05-31 1980-12-11 Shimadzu Corp X-ray tube electric current setting device
JPS56159097A (en) * 1980-05-08 1981-12-08 Shimadzu Corp X-ray tube current compensator circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018190581A (en) * 2017-05-01 2018-11-29 東芝電子管デバイス株式会社 X-ray system and X-ray tube inspection method

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0276500U (en) 1990-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0708527B1 (en) Method and device for controlling output power of a power amplifier
US5382984A (en) Digital convergence correction apparatus for color television receiver with cursor on screen
US4896282A (en) Flow computer calibration technique
JPH06237171A (en) A/d converter provided with continuously calibrated reference voltage
JPH0648800Y2 (en) X-ray tube current correction circuit
JPH05276528A (en) Display having black-level setting circuit
US6204882B1 (en) γ matching of a video processor by means of three measured currents
US6256590B1 (en) Electromagnetic flowmeter
JPS6359520B2 (en)
JP3547614B2 (en) Power supply
JPH04323568A (en) Analogue measuring circuit
JP2878602B2 (en) Analog output device
JPS6332240B2 (en)
JPS63121320A (en) Da converter with error correcting circuit
JP3097346B2 (en) Analog-to-digital converter
JP2001075606A (en) Controller
JPH08162952A (en) Ad conversion value correction device for ad converter
KR100211057B1 (en) Temperature compensating circuit for satellite repeater
JPH0116165Y2 (en)
JP2003005842A (en) Method for controlling load voltage
JP2791799B2 (en) Current output device
JPS635015Y2 (en)
JP2876844B2 (en) Output voltage correction circuit for IC tester driver
JP3047037B2 (en) Receiver
JPH08330958A (en) Analog output board and method for conversion table generation