JPS6359520B2 - - Google Patents
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- JPS6359520B2 JPS6359520B2 JP54068578A JP6857879A JPS6359520B2 JP S6359520 B2 JPS6359520 B2 JP S6359520B2 JP 54068578 A JP54068578 A JP 54068578A JP 6857879 A JP6857879 A JP 6857879A JP S6359520 B2 JPS6359520 B2 JP S6359520B2
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- tube
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
Description
【発明の詳細な説明】 この発明はＸ線管電流設定装置に関する。[Detailed description of the invention] The present invention relates to an X-ray tube current setting device.
一般にＸ線管のエミツシヨン特性のカーブは第
１図に示すように、管電圧をパラメータとして表
わすことが出来る。そのため従来よりこのカーブ
（または各カーブにおける代表点）を記憶させて
おいて、設定された管電流および管電圧の各値よ
りフイラメント電流Ifを求め、このフイラメント
電流IfによりＸ線管を動作させて所望の管電流の
値を得るようにしている。勿論Ｘ線管のエミツシ
ヨン特性は種類によつて異なるため各種のＸ線管
についてのエミツシヨン特性のカーブを記憶させ
ておく必要がある。しかしながら個々のＸ線管に
よつてエミツシヨン特性のバラツキがあるもので
あり、また経時変化も避けられない。したがつて
記憶されたエミツシヨン特性のカーブは、標準カ
ーブとしての意味しかなく個々のＸ線管によつ
て、および定期的な保守点検時に、エミツシヨン
特性のカーブを補正する必要がある。 Generally, the emission characteristic curve of an X-ray tube can be expressed using tube voltage as a parameter, as shown in FIG. Therefore, conventionally, this curve (or the representative point of each curve) is memorized, the filament current I f is calculated from each value of the set tube current and tube voltage, and the X-ray tube is operated using this filament current I f . to obtain the desired tube current value. Of course, the emission characteristics of X-ray tubes differ depending on the type, so it is necessary to store emission characteristic curves for various X-ray tubes. However, there are variations in emission characteristics among individual X-ray tubes, and changes over time are also unavoidable. Therefore, the stored emission characteristic curve only has a meaning as a standard curve, and it is necessary to correct the emission characteristic curve for each individual X-ray tube and during periodic maintenance and inspection.
本発明は、この標準エミツシヨン特性の補正
を、極めて簡単な構成により行うことが出来るＸ
線管電流設定装置を提供することを目的とする。 The present invention provides an X
An object of the present invention is to provide a wire tube current setting device.
以下本発明の一実施例について図面を参照しな
がら説明する。第２図において１は管電圧の設定
器であり、２は管電流の設定器である。４はＸ線
管の標準エミツシヨン特性カーブを記憶している
記憶装置であり、設定された管電圧値および管電
流値によりアドレスが指定されるようになつてお
り、このアドレスに、相応するフイラメント電流
Ifの値が記憶されており、この値が読み出され
る。読み出されたフイラメント電流Ifはフイラメ
ントコントローラ６を経て高電圧発生装置７に送
られ、Ｘ線管８が動作する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 2, 1 is a tube voltage setting device, and 2 is a tube current setting device. 4 is a storage device that stores the standard emission characteristic curve of the X-ray tube, and an address is designated by the set tube voltage value and tube current value, and the corresponding filament current is stored at this address.
The value of I f is stored and this value is read out. The read filament current If is sent to the high voltage generator 7 via the filament controller 6, and the X-ray tube 8 is operated.
ここで記憶装置４に第３図イで示すエミツシヨ
ン特性の標準カーブが記憶されているものとす
る。そして管電流設定器２によつて設定された管
電流値をmA1とすると、この標準カーブイより
フイラメント電流If1が求められる。したがつて
このIf1が読み出されて、Ｘ線管８のフイラメン
ト電流がIf1となるわけである。ところが実際の
エミツシヨン特性は異つており、ハで示されるカ
ーブであつたとする。すると実際の管電流は
mA2となる。このmA2が管電流測定器９により
測定されて、マイクロコンピユータ等からなる演
算装置３に送られ設定値mA1と測定値mA2との
誤差△１が求められる。 Here, it is assumed that the storage device 4 stores a standard curve of emission characteristics shown in FIG. 3A. Then, assuming that the tube current value set by the tube current setting device 2 is mA 1 , the filament current I f1 is determined from this standard curve. Therefore, this I f1 is read out, and the filament current of the X-ray tube 8 becomes I f1 . However, the actual emission characteristics are different and are assumed to be the curve shown by C. Then the actual tube current is
mA becomes 2 . This mA 2 is measured by a tube current measuring device 9 and sent to an arithmetic unit 3 consisting of a microcomputer or the like, and an error Δ1 between the set value mA 1 and the measured value mA 2 is determined.
この誤差が設定値の数％（通常１〜２％前後、
なおJISでは10％以下と規定されている）を越え
たときに次にのべるように補正を行う。上記の誤
差の測定を１つのカーブの数点について行い、誤
差△１，△２，△３、…を得て、演算装置３によ
りこの誤差の算術平均を行い、管電流の誤差の平
均値を得る。そしてこの誤差の平均値に対応し
て、第３図に示すように標準カーブイを平行移動
して補正カーブロを得るようにする。そのために
は演算装置３において管電流の誤差の平均値に対
応してフイラメント電流Ifが補正されるように補
正係数Ｋを求め、この補正係数を記憶装置５に記
憶させておく。各カーブについて上記の操作を行
い、それぞれ補正係数を得てそれらを記憶装置５
に記憶させる。 This error is several percent of the set value (usually around 1 to 2%,
(JIS stipulates 10% or less) is exceeded, the following corrections are made. The above errors are measured at several points on one curve to obtain errors △1, △2, △3, etc., and the arithmetic mean of these errors is taken by the arithmetic unit 3, and the average value of the tube current error is calculated. obtain. Corresponding to the average value of this error, the standard curve is translated in parallel as shown in FIG. 3 to obtain a corrected curve. For this purpose, a correction coefficient K is determined in the arithmetic unit 3 so that the filament current If is corrected in accordance with the average value of errors in the tube current, and this correction coefficient is stored in the storage device 5. Perform the above operations for each curve, obtain the respective correction coefficients, and store them in the storage device 5.
to be memorized.
こうして補正が終了する。補正後は設定された
管電流および管電圧の値にもとづき、記憶装置４
から標準カーブに相応するフイラメント電流が読
み出されるが、この読み出されたフイラメント電
流に補正係数が掛け合わされて補正カーブ上のフ
イラメント電流に変換される。したがつて第３図
に示すように、標準カーブイが補正カーブロのよ
うに移動したことになる。 In this way, the correction ends. After correction, the memory device 4 stores data based on the set tube current and tube voltage values.
A filament current corresponding to the standard curve is read out from , and this read filament current is multiplied by a correction coefficient and converted into a filament current on the correction curve. Therefore, as shown in FIG. 3, the standard car buoy has moved like a corrected car buoy.
なお上記の実施例ではエミツシヨン特性の標準
カーブとして曲線を用いているが、代表的な点の
みを結ぶ折線の場合にも、同様に適用出来ること
は勿論である。また管電流が連続可変出来ること
としているが、管電流を数点につき設定出来るタ
イプでも同様に適用出来る。さらにこれらのカー
ブをある範囲毎に区分けして同様に補正すればカ
ーブの全範囲で正確に補正できる。 In the above embodiment, a curved line is used as the standard curve of the emission characteristic, but it goes without saying that the same can be applied to the case of a broken line connecting only representative points. Although the tube current is assumed to be continuously variable, it can also be applied to a type where the tube current can be set at several points. Furthermore, if these curves are divided into certain ranges and similarly corrected, the entire range of the curves can be corrected accurately.
また設定したＸ線管の管電流値（例えばmA1）
を得るために必要なフイラメント電流の実際値
If2を測定する測定器を備えるようにし、演算装
置によつて、フイラメント電流の読み出された値
If1と実際値If2との誤差△If1を算出し、数点にお
けるこの誤差△If1，△If2，…の平均値を求め、
この平均値に対応するフイラメント電流の補正値
を求め、この補正値を記憶するようにしてもよ
い。 Also, the tube current value of the set X-ray tube (e.g. mA 1 )
Actual value of filament current required to obtain
A measuring device for measuring I f2 is provided, and the value read out of the filament current by the arithmetic unit is
Calculate the error △I f1 between I f1 and the actual value I f2 , find the average value of this error △I f1 , △I f2 , ... at several points,
A correction value of the filament current corresponding to this average value may be determined and this correction value may be stored.
なお管電流はフイラメント電圧または電力を制
御することによつても制御出来るので、上記では
フイラメント電流を制御することとしているが、
フイラメント電圧または電力を制御するようにし
ても良い。 Note that the tube current can also be controlled by controlling the filament voltage or electric power, so in the above it is assumed that the filament current is controlled.
The filament voltage or power may also be controlled.
以上実施例について説明したように、本発明に
よれば、Ｘ線管のエミツシヨン特性のカーブごと
に数点について試験動作を行うだけで、管電流の
誤差の平均値を求め、この平均値に基づいて標準
カーブを移動させるよう補正しているので、構成
が簡単でありしかも精度の高い補正が行える。こ
のように本発明によれば平均的に誤差が補正され
たことになり、次のように利点がある。すなわ
ち、エミツシヨン特性の経時変化は、Ｘ線管のフ
イラメント径、ガスの状態の変化などによつて生
じるため、特定の管電圧、管電流領域で起こるの
でなく、全ての領域で起こる。このことはある点
で求めた補正値は他の点に使用できることを意味
するとともに、ある点の補正値は他の点の補正値
をも勘案して決定すべきであることを意味する。
そのため、上記のような数点での補正値の平均処
理によつて補正値を求めることにより、補正値は
より正確なものとなるとともに、このようにして
求めた補正値は他の設定可能な点にも適用するこ
とができ、全ての設定可能点につき実際値を測定
して補正値を求めるという煩雑さを避けることが
できる。これに対して、設定された特定の管電流
点あるいはフイラメント管電流点につき実際値を
測定してその設定点に関する誤差のみからその点
に関する補正値を求める場合には、管電流あるい
はフイラメント電流の実測回路系の誤差や、Ｘ線
管球において生じ易いグロー放電による誤つた管
電流に直接影響され、誤つた補正値しか得られな
いことが多い。 As described in the embodiments above, according to the present invention, by simply performing test operations at several points for each curve of the emission characteristics of an X-ray tube, the average value of the tube current error is determined, and based on this average value, Since the correction is made by moving the standard curve, the configuration is simple and the correction can be performed with high precision. As described above, according to the present invention, errors are corrected on average, and there are advantages as follows. That is, changes in emission characteristics over time occur due to changes in the filament diameter of the X-ray tube, gas conditions, etc., and therefore occur not in a specific tube voltage or tube current region, but in all regions. This means that the correction value obtained at a certain point can be used for other points, and also means that the correction value at a certain point should be determined by taking into account the correction values at other points.
Therefore, by calculating the correction value by averaging the correction values at several points as described above, the correction value becomes more accurate. The present invention can also be applied to points, and it is possible to avoid the complexity of measuring actual values for all settable points to obtain correction values. On the other hand, when measuring the actual value at a specific set tube current point or filament tube current point and calculating the correction value for that point only from the error related to that set point, it is necessary to measure the actual value of the tube current or filament current. This is directly affected by errors in the circuit system and erroneous tube current due to glow discharge that tends to occur in the X-ray tube, and erroneous correction values are often obtained.
第１図はＸ線管のエミツシヨン特性のカーブを
示すグラフ、第２図は本発明の一実施例のブロツ
ク図、第３図はエミツシヨン特性の標準カーブ、
実際のカーブおよび補正されたカーブを示すグラ
フである。
１……管電圧設定器、２……管電流設定器、３
……演算装置、４，５……記憶装置、６……フイ
ラメントコントローラ、７……高電圧発生装置、
８……Ｘ線管、９……管電流測定器。
Fig. 1 is a graph showing a curve of emission characteristics of an X-ray tube, Fig. 2 is a block diagram of an embodiment of the present invention, Fig. 3 is a standard curve of emission characteristics,
7 is a graph showing an actual curve and a corrected curve. 1...Tube voltage setting device, 2...Tube current setting device, 3
... Arithmetic device, 4, 5 ... Storage device, 6 ... Filament controller, 7 ... High voltage generator,
8...X-ray tube, 9...Tube current measuring device.
Claims (1)
圧値および管電流値に対応する標準フイラメント
電流、電圧または電力を記憶している記憶装置
と、管電圧値および管電流値の設定器と、設定さ
れた管電圧値および管電流値に対応して前記記憶
装置より読み出された標準フイラメント電流、電
圧または電力に基づいて動作するＸ線管と、前記
Ｘ線管に流れる実際の管電流を測定する測定器
と、管電流の設定値と測定値との誤差を算出し、
複数の異なる設定値に対する測定値の誤差の平均
値を求め、この平均値に対応するフイラメント電
流、電圧または電力の補正値を求める演算装置
と、前記フイラメント電流、電圧または電力の補
正値を記憶する記憶装置とからなるＸ線管電流設
定装置。1. A storage device that stores standard filament current, voltage, or power that corresponds to the tube voltage value and tube current value according to the standard emission characteristics of the X-ray tube, a setting device for the tube voltage value and the tube current value, and a setting device. measuring an X-ray tube that operates based on the standard filament current, voltage or power read out from the storage device corresponding to the tube voltage value and tube current value, and the actual tube current flowing through the X-ray tube; Calculate the error between the set value and measured value of the tube current using the measuring device,
an arithmetic device that calculates an average value of errors in measured values for a plurality of different setting values and calculates a correction value of filament current, voltage, or power corresponding to this average value; and a calculation device that stores the correction value of the filament current, voltage, or power. An X-ray tube current setting device consisting of a storage device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6857879A JPS55159596A (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | X-ray tube electric current setting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6857879A JPS55159596A (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | X-ray tube electric current setting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55159596A JPS55159596A (en) | 1980-12-11 |
| JPS6359520B2 true JPS6359520B2 (en) | 1988-11-18 |
Family
ID=13377789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6857879A Granted JPS55159596A (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | X-ray tube electric current setting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55159596A (en) |
Families Citing this family (8)
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| JPS5823198A (en) * | 1981-07-31 | 1983-02-10 | Toshiba Corp | X-ray apparatus |
| DE8704182U1 (en) * | 1987-03-20 | 1987-07-09 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De | |
| JPS6460998A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-08 | Shimadzu Corp | High voltage power supply device for x-ray installing purpose |
| JP2576178B2 (en) * | 1988-02-29 | 1997-01-29 | 株式会社島津製作所 | X-ray tube current regulator |
| JPH0648800Y2 (en) * | 1988-11-30 | 1994-12-12 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | X-ray tube current correction circuit |
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| US9338868B2 (en) * | 2012-05-24 | 2016-05-10 | Shimadzu Corporation | Radiographic equipment |
| JP5644931B2 (en) * | 2013-10-30 | 2014-12-24 | 株式会社島津製作所 | X-ray equipment |
Citations (1)
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|---|---|---|---|---|
| JPS5395593A (en) * | 1977-01-28 | 1978-08-21 | Philips Nv | Xxray generator tubular current regulator |
-
1979
- 1979-05-31 JP JP6857879A patent/JPS55159596A/en active Granted
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55159596A (en) | 1980-12-11 |
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