JPH0648463A - 集積回路出荷媒体 - Google Patents
集積回路出荷媒体Info
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- JPH0648463A JPH0648463A JP5097126A JP9712693A JPH0648463A JP H0648463 A JPH0648463 A JP H0648463A JP 5097126 A JP5097126 A JP 5097126A JP 9712693 A JP9712693 A JP 9712693A JP H0648463 A JPH0648463 A JP H0648463A
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- desiccant
- medium
- rail
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/93—Batch processes
- H01L24/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L24/96—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being encapsulated in a common layer, e.g. neo-wafer or pseudo-wafer, said common layer being separable into individual assemblies after connecting
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/0084—Containers and magazines for components, e.g. tube-like magazines
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
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- Power Engineering (AREA)
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- Packaging Frangible Articles (AREA)
- Packaging Of Annular Or Rod-Shaped Articles, Wearing Apparel, Cassettes, Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体装置を湿気の進入から一様に保護可能
な出荷媒体を提供する。 【構成】 プラスチック封入IC(20)はモールド材
料の浸透性のため湿気を受けやすい。ICはクラックの
危険を低減するため顧客に出荷される前に乾燥するまで
ベークできる。この乾燥状態を維持するため、IC(2
0)はドライパックで包装されかつ出荷される。乾燥剤
層(12)がICを湿気から保護するためにテープおよ
びリールIC出荷媒体(10)に与えられる。乾燥剤層
(12)はキャリアテープ(16)の長さにわたり延在
しキャリアテープ(16)の内側ポケット(18)に含
まれる各IC(20)に対し同等レベルの保護を提供す
る。各IC(20)はプリント回路板に装着する直前に
ポケット(18)から取り出されるまで乾燥剤(12)
によって保護された状態になる。個別化された乾燥保護
はまたレールおよびトレイのような他のIC出荷媒体に
適用できる。
な出荷媒体を提供する。 【構成】 プラスチック封入IC(20)はモールド材
料の浸透性のため湿気を受けやすい。ICはクラックの
危険を低減するため顧客に出荷される前に乾燥するまで
ベークできる。この乾燥状態を維持するため、IC(2
0)はドライパックで包装されかつ出荷される。乾燥剤
層(12)がICを湿気から保護するためにテープおよ
びリールIC出荷媒体(10)に与えられる。乾燥剤層
(12)はキャリアテープ(16)の長さにわたり延在
しキャリアテープ(16)の内側ポケット(18)に含
まれる各IC(20)に対し同等レベルの保護を提供す
る。各IC(20)はプリント回路板に装着する直前に
ポケット(18)から取り出されるまで乾燥剤(12)
によって保護された状態になる。個別化された乾燥保護
はまたレールおよびトレイのような他のIC出荷媒体に
適用できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般的には集積回路の出
荷のためのパッケージングに関し、かつより特定的には
ICの各々のひとまとまり(batch)の出荷と共に
含まれる乾燥剤に関する。
荷のためのパッケージングに関し、かつより特定的には
ICの各々のひとまとまり(batch)の出荷と共に
含まれる乾燥剤に関する。
【0002】
【従来の技術】プラスチック封入半導体装置はプラスチ
ックモールド用部品の浸透性のため湿気の進入を受けや
すい。プラスチックICがその環境から吸収する湿気の
量はいくつかの要因に依存する。すなわち、環境への露
出時間の長さ、プラスチックの拡散性(diffusi
vity)すなわちどれだけ早く湿気が材料中に吸収で
きるか、プラスチックの可溶性係数すなわちその飽和容
量、そしてIC上のプラスチック本体の厚さである。何
らかの臨界量を超える湿気量を含む装置ははんだリフロ
ー操作の急速な加熱の間にクラッキングまたは「ポップ
コーン化」の危険を生ずる。クラッキングを受けやすい
半導体装置は通常オーブンで、典型的な温度として、お
よそセ氏125度で所定の時間の長さだけ焼かれそれら
が顧客に出荷される前に装置から湿気を追い出す。湿気
に敏感であると思われる装置はベーキングの後「ドライ
パック(dry−packs)」にパッケージングされ
それらの装置がその後の湿気から保護されかつ顧客に、
湿気を帯びていない、安全な状態で到達することを保証
する。言い換えれば、あるレベルの湿気を吸収した装置
ははんだリフロー操作の間にクラッキングの危険を生じ
る恐れがある。ICの機械的な障害はしばしばICの動
作の間に該ICに与えられる熱的および機械的ストレス
のためこれらの同じ装置のその後の電気的障害につなが
ることになる。
ックモールド用部品の浸透性のため湿気の進入を受けや
すい。プラスチックICがその環境から吸収する湿気の
量はいくつかの要因に依存する。すなわち、環境への露
出時間の長さ、プラスチックの拡散性(diffusi
vity)すなわちどれだけ早く湿気が材料中に吸収で
きるか、プラスチックの可溶性係数すなわちその飽和容
量、そしてIC上のプラスチック本体の厚さである。何
らかの臨界量を超える湿気量を含む装置ははんだリフロ
ー操作の急速な加熱の間にクラッキングまたは「ポップ
コーン化」の危険を生ずる。クラッキングを受けやすい
半導体装置は通常オーブンで、典型的な温度として、お
よそセ氏125度で所定の時間の長さだけ焼かれそれら
が顧客に出荷される前に装置から湿気を追い出す。湿気
に敏感であると思われる装置はベーキングの後「ドライ
パック(dry−packs)」にパッケージングされ
それらの装置がその後の湿気から保護されかつ顧客に、
湿気を帯びていない、安全な状態で到達することを保証
する。言い換えれば、あるレベルの湿気を吸収した装置
ははんだリフロー操作の間にクラッキングの危険を生じ
る恐れがある。ICの機械的な障害はしばしばICの動
作の間に該ICに与えられる熱的および機械的ストレス
のためこれらの同じ装置のその後の電気的障害につなが
ることになる。
【0003】今日のドライパッキング方法は部品を乾燥
するまでベークし、それらを乾燥剤のパケットおよび湿
度表示カードと共にドライパック用の袋に入れ、その後
ただちにその袋を真空密封し、かつ装置をこれらのドラ
イパックに入れて顧客に出荷する。各ドライパックの乾
燥剤の量はIPC標準SM786を用いて決定すること
ができる。
するまでベークし、それらを乾燥剤のパケットおよび湿
度表示カードと共にドライパック用の袋に入れ、その後
ただちにその袋を真空密封し、かつ装置をこれらのドラ
イパックに入れて顧客に出荷する。各ドライパックの乾
燥剤の量はIPC標準SM786を用いて決定すること
ができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】今日のドライパッキン
グの方法に伴う問題は乾燥剤のパケットがドライパック
の袋を一様に乾燥状態に保持できないことであり、それ
は乾燥剤のパケットはそれを囲む小さな領域に対しての
み最も効果的であるためである。従って、乾燥剤に対す
る半導体装置の場所は装置から乾燥剤によって吸収され
る湿気の量にも影響する。乾燥剤により近い装置は乾燥
剤から遠い装置よりも乾燥剤による多くの利益を受け
る。さらに、乾燥剤のパケットはドライパックの袋に入
れられるのみであり、テープおよびリールまたはレール
またはトレイのような、IC出荷媒体に直接入れられる
訳ではない。出荷媒体それ自体が半導体装置と乾燥剤の
パケットとの間の物理的障壁となることにより乾燥剤の
効能を妨害するものとして作用し得る。
グの方法に伴う問題は乾燥剤のパケットがドライパック
の袋を一様に乾燥状態に保持できないことであり、それ
は乾燥剤のパケットはそれを囲む小さな領域に対しての
み最も効果的であるためである。従って、乾燥剤に対す
る半導体装置の場所は装置から乾燥剤によって吸収され
る湿気の量にも影響する。乾燥剤により近い装置は乾燥
剤から遠い装置よりも乾燥剤による多くの利益を受け
る。さらに、乾燥剤のパケットはドライパックの袋に入
れられるのみであり、テープおよびリールまたはレール
またはトレイのような、IC出荷媒体に直接入れられる
訳ではない。出荷媒体それ自体が半導体装置と乾燥剤の
パケットとの間の物理的障壁となることにより乾燥剤の
効能を妨害するものとして作用し得る。
【0005】今日のドライパッキングの他の制約は、い
ったんドライパックの袋が開かれると、すべての湿気に
対する保護は失われることである。ICはそれらの出荷
媒体と共にエンドユーザの店または保管倉庫の環境状態
にさらされることになり、ユーザに対して時間的制約を
課す。すなわち、エンドユーザはその半導体装置をプリ
ント回路(PC)基板に表面実装するための限られた量
の時間のみを有しかつはんだリフロー操作の間における
それらのクラッキングを避けるため装置の十分に低いレ
ベルの湿気吸収を保証しなければならない。低い湿度に
よるより制御された環境は、ユーザが高い湿度の制御さ
れない環境よりも前記装置を彼のPC基板に表面実装す
るのにより多くの時間を持つことを可能にする。しかし
ながら、時間的制約の問題はいずれの場合にも存在す
る。
ったんドライパックの袋が開かれると、すべての湿気に
対する保護は失われることである。ICはそれらの出荷
媒体と共にエンドユーザの店または保管倉庫の環境状態
にさらされることになり、ユーザに対して時間的制約を
課す。すなわち、エンドユーザはその半導体装置をプリ
ント回路(PC)基板に表面実装するための限られた量
の時間のみを有しかつはんだリフロー操作の間における
それらのクラッキングを避けるため装置の十分に低いレ
ベルの湿気吸収を保証しなければならない。低い湿度に
よるより制御された環境は、ユーザが高い湿度の制御さ
れない環境よりも前記装置を彼のPC基板に表面実装す
るのにより多くの時間を持つことを可能にする。しかし
ながら、時間的制約の問題はいずれの場合にも存在す
る。
【0006】従って、本発明の目的は、半導体装置を湿
気の進入から一様に保護する上述の望ましい特徴を提供
することにある。
気の進入から一様に保護する上述の望ましい特徴を提供
することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段および作用】本発明によれ
ば、ICを運搬するための出荷手段、カバー、および乾
燥剤を有する集積回路(IC)パッケージング媒体が提
供される。ICを担持するための前記出荷手段は前記I
Cが含まれる少なくとも1つのコンパートメントを有す
る。前記カバーは前記出荷手段内にICを含める。前記
乾燥剤は前記出荷手段のコンパートメント内に含まれる
ICに接近して配置されかつ前記出荷手段と前記カバー
の間に配置され、この場合該乾燥剤は各々のICに対し
個別化されている。これらおよび他の特徴および利点
は、図面と共に以下の詳細な説明を参照することにより
さらに明瞭に理解されるであろう。図面は必ずしも一定
の比率で描かれておらず、かつ特に図示していない本発
明の他の実施例もある得ることを指摘することは重要で
ある。
ば、ICを運搬するための出荷手段、カバー、および乾
燥剤を有する集積回路(IC)パッケージング媒体が提
供される。ICを担持するための前記出荷手段は前記I
Cが含まれる少なくとも1つのコンパートメントを有す
る。前記カバーは前記出荷手段内にICを含める。前記
乾燥剤は前記出荷手段のコンパートメント内に含まれる
ICに接近して配置されかつ前記出荷手段と前記カバー
の間に配置され、この場合該乾燥剤は各々のICに対し
個別化されている。これらおよび他の特徴および利点
は、図面と共に以下の詳細な説明を参照することにより
さらに明瞭に理解されるであろう。図面は必ずしも一定
の比率で描かれておらず、かつ特に図示していない本発
明の他の実施例もある得ることを指摘することは重要で
ある。
【0008】
【実施例】本発明によれば、半導体装置を湿気の進入か
ら一様に保護する前に述べた望ましい特徴を満たすこと
が可能である。本発明は各半導体装置に対する個別化さ
れた乾燥剤をICパッケージング媒体に導入できるよう
にする。さらに、本発明は個別化された乾燥剤を有する
ICパッケージング媒体を製造する方法を提供する。本
発明に従って、図1にはカバーテープ14の下に連続的
な乾燥剤層12を備えたテープおよびリールIC出荷媒
体の一部が、本発明の1実施例として、示されている。
乾燥剤層12はポリビニルアルコール、ポリビニルエチ
レンアセテート共重合体、メチルセルロース、水溶性重
合体、シリカゲル、あるいは湿潤剤(humectan
t)として作用し得る、有機、無機またはそれらの複合
体の種類(class)の任意の他の材料から形成でき
る。従って、乾燥剤層12は、多層として、あるいは互
いに分散された1つまたはいくつかの材料の複合体とし
て、いくつかの材料を含むことができる。重要なこと
は、不適切なESD(静電的放電)保護を有したりある
いは水の吸収によって物理的および化学的特性を変化さ
せるような、ICへの汚染物として作用しない乾燥剤を
選択することである。さらに、プラスチック封入半導体
装置よりも早い速度で湿気を吸収する乾燥材料を選択す
ることも必要である。
ら一様に保護する前に述べた望ましい特徴を満たすこと
が可能である。本発明は各半導体装置に対する個別化さ
れた乾燥剤をICパッケージング媒体に導入できるよう
にする。さらに、本発明は個別化された乾燥剤を有する
ICパッケージング媒体を製造する方法を提供する。本
発明に従って、図1にはカバーテープ14の下に連続的
な乾燥剤層12を備えたテープおよびリールIC出荷媒
体の一部が、本発明の1実施例として、示されている。
乾燥剤層12はポリビニルアルコール、ポリビニルエチ
レンアセテート共重合体、メチルセルロース、水溶性重
合体、シリカゲル、あるいは湿潤剤(humectan
t)として作用し得る、有機、無機またはそれらの複合
体の種類(class)の任意の他の材料から形成でき
る。従って、乾燥剤層12は、多層として、あるいは互
いに分散された1つまたはいくつかの材料の複合体とし
て、いくつかの材料を含むことができる。重要なこと
は、不適切なESD(静電的放電)保護を有したりある
いは水の吸収によって物理的および化学的特性を変化さ
せるような、ICへの汚染物として作用しない乾燥剤を
選択することである。さらに、プラスチック封入半導体
装置よりも早い速度で湿気を吸収する乾燥材料を選択す
ることも必要である。
【0009】図2には、本発明の1実施例として、カバ
ーテープ14とキャリアテープ16との間に乾燥剤層1
2を備えたテープおよびリールIC出荷媒体の一部を示
す第1図の断面図が示されている。キャリアテープ16
はICを担持するための複数の個別化されたコンパート
メント18を有する。図2では、プラスチックパッドア
レイ形キャリアとして図示された、半導体装置20はコ
ンパートメント18の内側に示されている。乾燥剤層1
2はカバーテープ14およびキャリアテープ16の長さ
に沿って伸びているから、各装置20は乾燥剤12から
湿気に対する同じ量の保護を持つことになる。
ーテープ14とキャリアテープ16との間に乾燥剤層1
2を備えたテープおよびリールIC出荷媒体の一部を示
す第1図の断面図が示されている。キャリアテープ16
はICを担持するための複数の個別化されたコンパート
メント18を有する。図2では、プラスチックパッドア
レイ形キャリアとして図示された、半導体装置20はコ
ンパートメント18の内側に示されている。乾燥剤層1
2はカバーテープ14およびキャリアテープ16の長さ
に沿って伸びているから、各装置20は乾燥剤12から
湿気に対する同じ量の保護を持つことになる。
【0010】本発明の第2の実施例が図3に示されてお
り、図3はカバーテープ14の下に個別の乾燥剤24を
有するテープおよびリールIC出荷媒体の一部22を示
している。個別乾燥剤24のための材料の種類は、図1
に示された、乾燥剤層12のものと同じである。図4に
はテープおよびリールIC出荷媒体の部分22を示す前
記第2の実施例の断面図が図示されており、そこでは個
別の乾燥剤24がカバーテープ14とキャリアテープ1
6の間に配置されている。個別の乾燥剤24は複数のコ
ンパートメント18の上に1対1の対応比率で直接配置
されている。この構成はコンパートメント18内に含ま
れる各々の半導体装置20に対し湿気からの等しい保護
を可能にする。
り、図3はカバーテープ14の下に個別の乾燥剤24を
有するテープおよびリールIC出荷媒体の一部22を示
している。個別乾燥剤24のための材料の種類は、図1
に示された、乾燥剤層12のものと同じである。図4に
はテープおよびリールIC出荷媒体の部分22を示す前
記第2の実施例の断面図が図示されており、そこでは個
別の乾燥剤24がカバーテープ14とキャリアテープ1
6の間に配置されている。個別の乾燥剤24は複数のコ
ンパートメント18の上に1対1の対応比率で直接配置
されている。この構成はコンパートメント18内に含ま
れる各々の半導体装置20に対し湿気からの等しい保護
を可能にする。
【0011】図5には、本発明の第3の実施例に係わ
る、キャリアテープ16の前記複数のコンパートメント
18内に配置された個別の乾燥剤28を備えたテープお
よびリールIC出荷媒体の一部26の断面図が示されて
いる。この第3の構成では各コンパートメント18に個
別の乾燥剤28を与え、それによって装置20に対する
個別の湿気保護を可能にしている。個別の乾燥剤28の
ための材料の種類は図1に示される乾燥剤層12のもの
と同じである。
る、キャリアテープ16の前記複数のコンパートメント
18内に配置された個別の乾燥剤28を備えたテープお
よびリールIC出荷媒体の一部26の断面図が示されて
いる。この第3の構成では各コンパートメント18に個
別の乾燥剤28を与え、それによって装置20に対する
個別の湿気保護を可能にしている。個別の乾燥剤28の
ための材料の種類は図1に示される乾燥剤層12のもの
と同じである。
【0012】テープおよびリールIC出荷媒体に加え
て、個別乾燥剤の概念は出荷用トレイにも適用できる。
この個別の乾燥剤は各トレイのポケットの内側に配置し
てもよくあるいはトレイの下側に配置してもよい。トレ
イによって出荷される半導体装置は典型的には互いの上
に積層される装置で満たされた他の単数または複数のト
レイを有し、最上部のトレイは空でありかつ蓋として使
用される。従って、いずれの選択肢も各半導体装置が個
別化された乾燥剤を有するトレイのポケットで運ばれる
ようにする。トレイの中の各々のICのための乾燥保護
を提供するための他の選択肢は積層されたトレイの間に
置くことができる乾燥剤のシートを使用することであ
る。
て、個別乾燥剤の概念は出荷用トレイにも適用できる。
この個別の乾燥剤は各トレイのポケットの内側に配置し
てもよくあるいはトレイの下側に配置してもよい。トレ
イによって出荷される半導体装置は典型的には互いの上
に積層される装置で満たされた他の単数または複数のト
レイを有し、最上部のトレイは空でありかつ蓋として使
用される。従って、いずれの選択肢も各半導体装置が個
別化された乾燥剤を有するトレイのポケットで運ばれる
ようにする。トレイの中の各々のICのための乾燥保護
を提供するための他の選択肢は積層されたトレイの間に
置くことができる乾燥剤のシートを使用することであ
る。
【0013】本発明のさらに別の実施例が図6に示され
ている。この図においては、出荷用レールまたチューブ
32、乾燥剤層34、および複数のストッパ36を備え
たIC出荷媒体30が示されている。乾燥剤層34は連
続的なものでありかつ出荷用レール32の長さに延在し
ており、それによって、図示しない、半導体装置に対す
る連続的なカバレージを提供し各装置を湿気の進入から
同等に保護する。ストッパ36は装置を出荷用レール3
2の内側に含める。この第4の実施例の断面図が図7に
示されている。乾燥剤層34は出荷用レール32の上部
の内側に配置されている。代表的なJリード形半導体装
置38が示されているが、クアドフラットパックおよび
デュアルインラインパッケージのような他のパッケージ
形状もレールで出荷できる。前と同様に、乾燥剤層34
の材料の種類は第1図に示される乾燥剤層12のものと
同じである。
ている。この図においては、出荷用レールまたチューブ
32、乾燥剤層34、および複数のストッパ36を備え
たIC出荷媒体30が示されている。乾燥剤層34は連
続的なものでありかつ出荷用レール32の長さに延在し
ており、それによって、図示しない、半導体装置に対す
る連続的なカバレージを提供し各装置を湿気の進入から
同等に保護する。ストッパ36は装置を出荷用レール3
2の内側に含める。この第4の実施例の断面図が図7に
示されている。乾燥剤層34は出荷用レール32の上部
の内側に配置されている。代表的なJリード形半導体装
置38が示されているが、クアドフラットパックおよび
デュアルインラインパッケージのような他のパッケージ
形状もレールで出荷できる。前と同様に、乾燥剤層34
の材料の種類は第1図に示される乾燥剤層12のものと
同じである。
【0014】本発明の他の実施例は個別化された乾燥剤
とコンパートメント化された湿度検出表示器とを組合わ
せる。図8に示されるように、テープおよびリールIC
出荷媒体の一部40はカバーテープ14、半導体装置2
0を含む複数のコンパートメント18を備えたキャリア
テープ16、個別乾燥剤28、および反復的につながる
湿度検出表示器44,46および48を備えたストリッ
プ42を具備する。ストリップ42はカバーテープ14
およびキャリアテープ16の長さにわたり延在し、かつ
その幅はキャリアテープ16およびカバーテープ14の
幅と整合するよう切断されている。この第5の構成は各
コンパートメント18に個別の乾燥剤28を与え、それ
によって装置20に対する湿気レベルの局部的な監視に
加えて装置20に対する個別の湿気保護を可能にする。
個別乾燥剤28のための材料の種類は図1に示される乾
燥剤層12と同じである。
とコンパートメント化された湿度検出表示器とを組合わ
せる。図8に示されるように、テープおよびリールIC
出荷媒体の一部40はカバーテープ14、半導体装置2
0を含む複数のコンパートメント18を備えたキャリア
テープ16、個別乾燥剤28、および反復的につながる
湿度検出表示器44,46および48を備えたストリッ
プ42を具備する。ストリップ42はカバーテープ14
およびキャリアテープ16の長さにわたり延在し、かつ
その幅はキャリアテープ16およびカバーテープ14の
幅と整合するよう切断されている。この第5の構成は各
コンパートメント18に個別の乾燥剤28を与え、それ
によって装置20に対する湿気レベルの局部的な監視に
加えて装置20に対する個別の湿気保護を可能にする。
個別乾燥剤28のための材料の種類は図1に示される乾
燥剤層12と同じである。
【0015】典型的には青色である、湿度検出表示器4
4はそれが20%あるいはそれ以上の相対湿度を検出し
た時ピンク色に変化する。製造者は通常ドライパック条
件に対し30%の最大相対湿度を保証しており、これは
典型的には大部分のプラスチック封入半導体装置の基板
装着にとって安全な湿気レベルであると考えられる。従
って、湿度検出表示器46はそれが30%またはそれ以
上の相対湿度を検出した時ピンク色に変化する。表示器
46はユーザにこの条件が存在する時注意を払うよう教
えかつプラスチック封入ICの表面実装の前にユーザズ
カイドを見る必要があることを教える。相対湿度条件が
40%に到達しあるいはこれを超えた時、湿度検出表示
器48がピンク色に変化する。表示器48は、アクティ
ベイトされた時、ユーザに表面実装の前にプラスチック
封入半導体装置を再ベークするよう通知する。
4はそれが20%あるいはそれ以上の相対湿度を検出し
た時ピンク色に変化する。製造者は通常ドライパック条
件に対し30%の最大相対湿度を保証しており、これは
典型的には大部分のプラスチック封入半導体装置の基板
装着にとって安全な湿気レベルであると考えられる。従
って、湿度検出表示器46はそれが30%またはそれ以
上の相対湿度を検出した時ピンク色に変化する。表示器
46はユーザにこの条件が存在する時注意を払うよう教
えかつプラスチック封入ICの表面実装の前にユーザズ
カイドを見る必要があることを教える。相対湿度条件が
40%に到達しあるいはこれを超えた時、湿度検出表示
器48がピンク色に変化する。表示器48は、アクティ
ベイトされた時、ユーザに表面実装の前にプラスチック
封入半導体装置を再ベークするよう通知する。
【0016】図8に示されるように、湿度検出表示器4
4,46および48は各2つのコンパートメント18が
一連の表示器44,46および48によってカバーされ
るように大きさおよび間隔が決められている。一連の表
示器ごとにたった2つのコンパートメントのみを与える
利点は相対湿度の局部的測定を可能にすることである。
従って、正確な湿気露出履歴が各々のICに対して記録
され、従って部品の選択的な再ベークを可能にする。実
際に、装着前におけるすべての部品の再ベークが湿気に
対して過剰に露出した部品のみの再ベークにまで低減で
きる。実際に、一連の表示器によってカバーされるコン
パートメントの数はアプリケーションごとに変えること
ができる。例えば、もしコンパートメントが大きけれ
ば、各コンパートメントを一連の表示器によってカバー
することができ、あるいは逆に、もしコンパートメント
が小さければ、2つより多くのコンパートメントを一連
の表示器によってカバーすることができる。この第5の
実施例の利点は装置20に対する湿気レベルの局部的監
視に加えて半導体装置20に対する個別的な湿気保護が
可能なことである。
4,46および48は各2つのコンパートメント18が
一連の表示器44,46および48によってカバーされ
るように大きさおよび間隔が決められている。一連の表
示器ごとにたった2つのコンパートメントのみを与える
利点は相対湿度の局部的測定を可能にすることである。
従って、正確な湿気露出履歴が各々のICに対して記録
され、従って部品の選択的な再ベークを可能にする。実
際に、装着前におけるすべての部品の再ベークが湿気に
対して過剰に露出した部品のみの再ベークにまで低減で
きる。実際に、一連の表示器によってカバーされるコン
パートメントの数はアプリケーションごとに変えること
ができる。例えば、もしコンパートメントが大きけれ
ば、各コンパートメントを一連の表示器によってカバー
することができ、あるいは逆に、もしコンパートメント
が小さければ、2つより多くのコンパートメントを一連
の表示器によってカバーすることができる。この第5の
実施例の利点は装置20に対する湿気レベルの局部的監
視に加えて半導体装置20に対する個別的な湿気保護が
可能なことである。
【0017】連続的な乾燥剤の層を局部的な湿度検出表
示器と組合わせた本発明の別の実施例も可能である。図
9には、IC出荷媒体50の断面図が示されている。こ
の図には、出荷用レールまたはチューブ32、乾燥剤層
34、湿度検出表示器のストリップ42、および半導体
装置38が示されている。乾燥剤層34は連続的なもの
でありかつ出荷用レール32の長さにわたり延在し、そ
れによって各装置を湿気の進入から同等に保護するため
に、半導体装置38のための連続的なカバレージを提供
している。ストリップ42は前に図8において示したよ
うに反復的につながる湿度検出表示器を有する。
示器と組合わせた本発明の別の実施例も可能である。図
9には、IC出荷媒体50の断面図が示されている。こ
の図には、出荷用レールまたはチューブ32、乾燥剤層
34、湿度検出表示器のストリップ42、および半導体
装置38が示されている。乾燥剤層34は連続的なもの
でありかつ出荷用レール32の長さにわたり延在し、そ
れによって各装置を湿気の進入から同等に保護するため
に、半導体装置38のための連続的なカバレージを提供
している。ストリップ42は前に図8において示したよ
うに反復的につながる湿度検出表示器を有する。
【0018】また、本発明によれば、半導体装置を湿気
の進入から一様に保護するために個別化された乾燥剤を
ICパッケージング媒体に導入する方法が提供される。
テープおよびリールICパッケージング媒体のキャリア
テープは半導体装置を担持するために個別のポケットま
たはコンパートメントを有する。部分的に加水分解した
ポリビニルアルコールのような、吸湿性の材料のプリフ
ォームをキャリアテープのコンパートメントの大きさに
従って作成することができる。この材料は熱可塑性物質
であるから、それは定位置にスポット取り付け可能であ
る。別の方法は液体形状の吸湿性材料をキャリアテープ
のコンパートメントに分配しかつ次に材料を硬化させる
(curing)ことである。半導体装置が次にキャリ
アテープのコンパートメントにロードされかつ出荷のた
めにカバーテープによって密封される。そのような実施
例は図5に示されている。テープおよびリールIC出荷
媒体において乾燥保護を提供する他の方法も可能であ
る。乾燥剤プリフォームはキャリアテープの代わりにカ
バーテープに固定することもできる。それでも半導体装
置は乾燥剤を各装置に接近して持つことから等しい保護
を受ける。乾燥剤それ自体は前記プリフォームの概念に
対してフィルム状の吸湿性材料として形成できる。フィ
ルム状の乾燥剤は接着材料を有するカバーテープに取り
付けることができ、あるいは部分的に加水分解したポリ
ビニルアルコールの乾燥剤の場合は、その材料はそれ自
身の接着剤として作用することができる。さらに、乾燥
剤をIC出荷媒体に導入する方法は、出荷用レールまた
は出荷用トレイのような、テープおよびリール以外の出
荷媒体に適用できる。
の進入から一様に保護するために個別化された乾燥剤を
ICパッケージング媒体に導入する方法が提供される。
テープおよびリールICパッケージング媒体のキャリア
テープは半導体装置を担持するために個別のポケットま
たはコンパートメントを有する。部分的に加水分解した
ポリビニルアルコールのような、吸湿性の材料のプリフ
ォームをキャリアテープのコンパートメントの大きさに
従って作成することができる。この材料は熱可塑性物質
であるから、それは定位置にスポット取り付け可能であ
る。別の方法は液体形状の吸湿性材料をキャリアテープ
のコンパートメントに分配しかつ次に材料を硬化させる
(curing)ことである。半導体装置が次にキャリ
アテープのコンパートメントにロードされかつ出荷のた
めにカバーテープによって密封される。そのような実施
例は図5に示されている。テープおよびリールIC出荷
媒体において乾燥保護を提供する他の方法も可能であ
る。乾燥剤プリフォームはキャリアテープの代わりにカ
バーテープに固定することもできる。それでも半導体装
置は乾燥剤を各装置に接近して持つことから等しい保護
を受ける。乾燥剤それ自体は前記プリフォームの概念に
対してフィルム状の吸湿性材料として形成できる。フィ
ルム状の乾燥剤は接着材料を有するカバーテープに取り
付けることができ、あるいは部分的に加水分解したポリ
ビニルアルコールの乾燥剤の場合は、その材料はそれ自
身の接着剤として作用することができる。さらに、乾燥
剤をIC出荷媒体に導入する方法は、出荷用レールまた
は出荷用トレイのような、テープおよびリール以外の出
荷媒体に適用できる。
【0019】
【発明の効果】以上の説明および図示は本発明に関連す
る有利性を示している。特に、本発明は容易に、テープ
およびリール、レールおよびトレイのような、種々のI
C出荷媒体に適合できることが示された。乾燥剤は容易
にキャリアテープ、レールおよびトレイの種々のサイズ
に適合し、ストリップ、フィルムまたはシート形状で
も、あるいは個々の出荷用コンパートメントに合わせた
個別のプリフォームとして容易に製造できる。さらに、
本発明をICのパッケージングに導入するためにはテー
プおよびリール、レールおよびトレイの現存の設計に対
し最小限の修正が必要であるのみである。
る有利性を示している。特に、本発明は容易に、テープ
およびリール、レールおよびトレイのような、種々のI
C出荷媒体に適合できることが示された。乾燥剤は容易
にキャリアテープ、レールおよびトレイの種々のサイズ
に適合し、ストリップ、フィルムまたはシート形状で
も、あるいは個々の出荷用コンパートメントに合わせた
個別のプリフォームとして容易に製造できる。さらに、
本発明をICのパッケージングに導入するためにはテー
プおよびリール、レールおよびトレイの現存の設計に対
し最小限の修正が必要であるのみである。
【0020】従って、本発明によれば、前に述べた必要
性および利点を完全に満たす個別化された乾燥が提供さ
れた。本発明はその特定の実施例に関して説明されかつ
図示されたが、本発明はこれらの示された実施例に限定
されるものであるとは考えていない。例えば、開示され
た各々のIC出荷媒体は、図面に示された代表的な装置
に加えて、種々の形状の半導体装置を運搬するのに適し
ている。さらに、本発明に対する変形は、ポリビニルア
ルコールのような、乾燥材料によってコーティングされ
たキャリアテープとすることができる。その場合、カバ
ーテープを有するキャリアテープの高温密封の間に、熱
可塑性物質はカバーテープのための接着剤として作用す
ることができる。同様にして、トレイも乾燥剤でコーテ
ィングすることができる。当業者は修正および変形は本
発明の精神から離れることなく行い得ることを認識する
であろう。従って、この発明は添付の特許請求の範囲内
にあるすべてのそのような変形および修正を含むものと
考えている。
性および利点を完全に満たす個別化された乾燥が提供さ
れた。本発明はその特定の実施例に関して説明されかつ
図示されたが、本発明はこれらの示された実施例に限定
されるものであるとは考えていない。例えば、開示され
た各々のIC出荷媒体は、図面に示された代表的な装置
に加えて、種々の形状の半導体装置を運搬するのに適し
ている。さらに、本発明に対する変形は、ポリビニルア
ルコールのような、乾燥材料によってコーティングされ
たキャリアテープとすることができる。その場合、カバ
ーテープを有するキャリアテープの高温密封の間に、熱
可塑性物質はカバーテープのための接着剤として作用す
ることができる。同様にして、トレイも乾燥剤でコーテ
ィングすることができる。当業者は修正および変形は本
発明の精神から離れることなく行い得ることを認識する
であろう。従って、この発明は添付の特許請求の範囲内
にあるすべてのそのような変形および修正を含むものと
考えている。
【図1】本発明の1実施例に係わる、カバーテープの下
に連続的な乾燥剤層を備えたテープおよびリールIC出
荷媒体の一部を示す上面図である。
に連続的な乾燥剤層を備えたテープおよびリールIC出
荷媒体の一部を示す上面図である。
【図2】カバーテープおよびキャリアテープの間に乾燥
剤層を備えたテープおよびリールIC出荷媒体の一部の
断面を示す図1の断面図である。
剤層を備えたテープおよびリールIC出荷媒体の一部の
断面を示す図1の断面図である。
【図3】本発明の第2の実施例に係わる、カバーテープ
の下に個別の乾燥剤を有するテープおよびリール出荷I
C媒体の一部を示す上面図である。
の下に個別の乾燥剤を有するテープおよびリール出荷I
C媒体の一部を示す上面図である。
【図4】カバーテープおよびキャリアテープの間に個別
乾燥剤を有するテープおよびリールIC出荷媒体の前記
一部の断面を示す図3の断面図である。
乾燥剤を有するテープおよびリールIC出荷媒体の前記
一部の断面を示す図3の断面図である。
【図5】本発明の第3の実施例に係わる、キャリアテー
プの各コンパートメント内に個別化された乾燥剤を備え
たテープおよびリールIC出荷媒体の一部を示す断面図
である。
プの各コンパートメント内に個別化された乾燥剤を備え
たテープおよびリールIC出荷媒体の一部を示す断面図
である。
【図6】本発明の第4の実施例に係わる、レール内部に
乾燥剤の連続的な層を備えたICを担持するためのレー
ルを示す上面図である。
乾燥剤の連続的な層を備えたICを担持するためのレー
ルを示す上面図である。
【図7】前記ICおよびレール窓の間に乾燥剤層を有す
るレールの断面を示す図6の断面図である。
るレールの断面を示す図6の断面図である。
【図8】本発明の第5の実施例に係わる、カバーテープ
とキャリアテープの間に湿度検出表示器の連続的なスト
リップを備えかつキャリアテープの各ポケットの内側に
個別化された乾燥剤を有するテープおよびリールIC出
荷媒体の一部を示す断面図である。
とキャリアテープの間に湿度検出表示器の連続的なスト
リップを備えかつキャリアテープの各ポケットの内側に
個別化された乾燥剤を有するテープおよびリールIC出
荷媒体の一部を示す断面図である。
【図9】本発明の第6の実施例に係わる、ICとレール
窓の間に湿度検出表示器の連続的なストリップを備えか
つ前記レールの底部に乾燥剤の連続的な層を有するIC
を担持するためのレールを示す断面図である。
窓の間に湿度検出表示器の連続的なストリップを備えか
つ前記レールの底部に乾燥剤の連続的な層を有するIC
を担持するためのレールを示す断面図である。
10 テープおよびリールIC出荷媒体 12 乾燥剤層 14 保持手段 16 キャリアテープ 18 ポケットまたはコンパートメント 20 IC装置
Claims (7)
- 【請求項1】 集積回路(IC)出荷媒体(10)であ
って、 IC(20)を担持するための出荷手段(16)であっ
て、該出荷手段はその中にIC(20)が含まれる少な
くとも1つのコンパートメント(18)を有するもの、 前記出荷手段(16)内に前記IC(20)を含めるた
めの保持手段(14)、そして前記出荷手段(16)の
コンパートメント(18)の内側に含まれる前記IC
(20)に接近して配置された乾燥剤(12)であっ
て、該乾燥剤(12)は各々の前記IC(20)に対し
て個別化されているもの、 を具備することを特徴とする集積回路(IC)出荷媒体
(10)。 - 【請求項2】 IC出荷媒体であって、 IC(20)を担持するために一連の複数のコンパート
メント(18)を有するキャリアテープ(16)であっ
て、該キャリアテープ(16)は少なくとも第1の長さ
に延在するもの、 前記キャリアテープ(16)の内側に前記IC(20)
を密封するためのカバーテープ(14)であって、該カ
バーテープ(14)は少なくとも前記第1の長さにわた
り延在するもの、そして乾燥剤層(12)であって、該
乾燥剤層(12)は少なくとも前記第1の長さにわたり
延在しかつ前記キャリアテープ(16)の内側に含まれ
る前記IC(20)に近接して配置されているもの、 を具備することを特徴とするIC出荷媒体。 - 【請求項3】 IC出荷媒体(30)であって、 IC(38)を担持するためのレール(32)であっ
て、該レール(32)は第1の長さにわたり延在するも
の、 乾燥剤層(34)であって、該乾燥剤層(34)は少な
くとも前記第1の長さにわたり延在しかつ前記レール
(32)の中に含まれる前記IC(38)に接近して前
記レール(32)の内側に配置されているもの、そして
前記IC(38)を前記レール(32)内に含めるため
の複数のストッパ(36)、 を具備することを特徴とするIC出荷媒体(30)。 - 【請求項4】 IC出荷媒体(40)であって、 IC(20)を担持するための出荷手段(16)であっ
て、該出荷手段(16)はその中に前記IC(20)が
含まれる少なくとも1つのコンパートメント(18)を
有するもの、 前記出荷手段(16)内に前記IC(20)を含めるた
めの保持手段(14)、 前記出荷手段(16)のコンパートメント(18)内に
含まれる前記IC(20)に近接して配置された乾燥剤
(28)であって、該乾燥剤(28)は各々の前記IC
(20)に対して個別化されているもの、そして前記出
荷手段(16)のコンパートメント(18)の内側に含
まれるIC(20)に接近して配置された複数の湿度検
出表示器(44,46および48)であって、該複数の
湿度検出表示器(44,46および48)は前記出荷手
段(16)と前記保持手段(14)との間に配置され、
前記複数の湿度検出表示器(44,46および48)の
各々は小グループのIC(20)を監視するもの、 を具備することを特徴とするIC出荷媒体(40)。 - 【請求項5】 ICパッケージング媒体(50)であっ
て、 IC(38)を担持するためのレール(32)であっ
て、該レール(32)は第1の長さにわたり延在するも
の、 少なくとも前記第1の長さにわたり延在するストリップ
(42)であって、該ストリップ(42)は複数の湿度
検出表示器(44)を有し、前記ストリップ(42)は
前記レール(32)の内側に含まれるIC(38)に近
接して前記レール(32)の内側に配置されているも
の、 乾燥剤層(34)であって、該乾燥剤層(34)は少な
くとも前記第1の長さにわたり延在しかつ前記レール
(32)の内側に含まれるIC(38)に近接して前記
レール(32)の内側に配置されているもの、そして前
記IC(38)を前記レール(32)内に含めるための
複数のストッパ(36)、 を具備することを特徴とするICパッケージング媒体
(50)。 - 【請求項6】 IC出荷媒体(26)を製造する方法で
あって、 IC(20)を担持するための出荷手段(16)を提供
する段階であって、該出荷手段(16)はその中にIC
(20)が含まれる少なくとも1つのコンパートメント
(18)を有するもの、 前記コンパートメント(18)の内側に適合するような
大きさの乾燥剤のプリフォーム(28)を提供する段
階、 前記乾燥剤プリフォーム(28)を加熱して接着条件を
達成する段階、 前記乾燥剤プリフォーム(28)を前記コンパートメン
ト(18)の内側に固定する段階、そして前記出荷手段
(16)内に前記IC(20)を含めるための保持手段
(14)を提供する段階、 を具備することを特徴とするIC出荷媒体(26)を製
造する方法。 - 【請求項7】 IC出荷媒体(26)を製造する方法で
あって、 IC(20)を担持するための出荷手段(16)を提供
する段階であって、該出荷手段(16)はその中にIC
(20)が含まれる少なくとも1つのコンパートメント
(18)を有するもの、 前記コンパートメント(18)の内側に乾燥材料(2
8)を施す段階、 前記出荷手段(16)およびそこに施された前記乾燥材
料(28)を硬化させる段階、そして前記出荷手段(1
6)内に前記IC(20)を含めるための保持手段(1
4)を提供する段階、 を具備することを特徴とするIC出荷媒体(26)を製
造する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US860,870 | 1977-12-14 | ||
US86087092A | 1992-03-31 | 1992-03-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0648463A true JPH0648463A (ja) | 1994-02-22 |
Family
ID=25334237
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5097126A Pending JPH0648463A (ja) | 1992-03-31 | 1993-03-30 | 集積回路出荷媒体 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0563629A1 (ja) |
JP (1) | JPH0648463A (ja) |
KR (1) | KR930020628A (ja) |
TW (1) | TW222342B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012084751A (ja) * | 2010-10-13 | 2012-04-26 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品収納テープ |
JP2012104508A (ja) * | 2010-10-14 | 2012-05-31 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品実装装置及び電子部品実装方法 |
US9335084B2 (en) | 2010-04-26 | 2016-05-10 | Whirlpool S.A. | Cooling system of a refrigerator and suction system for a compressor fluid |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6861289B2 (en) * | 2002-07-25 | 2005-03-01 | Delphi Technologies, Inc. | Moisture-sensitive device protection system |
US8337219B2 (en) | 2011-02-19 | 2012-12-25 | Laird Technologies, Inc. | Card guide grounding strips |
JP2022504968A (ja) * | 2018-10-18 | 2022-01-13 | シーエスピー テクノロジーズ,インコーポレイティド | リール上の吸湿剤連行ポリマーを有するテープを用いて電子部品を包装する装置および方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4939014A (en) * | 1987-12-16 | 1990-07-03 | Ford Motor Company | Composite polymer/desiccant coatings for IC encapsulation |
JPH0219271A (ja) * | 1988-07-06 | 1990-01-23 | Toshiba Corp | 半導体装置用テーピング部品 |
-
1993
- 1993-02-09 TW TW082100883A patent/TW222342B/zh active
- 1993-03-08 EP EP93103703A patent/EP0563629A1/en not_active Withdrawn
- 1993-03-18 KR KR1019930004135A patent/KR930020628A/ko not_active Application Discontinuation
- 1993-03-30 JP JP5097126A patent/JPH0648463A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9335084B2 (en) | 2010-04-26 | 2016-05-10 | Whirlpool S.A. | Cooling system of a refrigerator and suction system for a compressor fluid |
JP2012084751A (ja) * | 2010-10-13 | 2012-04-26 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品収納テープ |
JP2012104508A (ja) * | 2010-10-14 | 2012-05-31 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品実装装置及び電子部品実装方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0563629A1 (en) | 1993-10-06 |
TW222342B (ja) | 1994-04-11 |
KR930020628A (ko) | 1993-10-20 |
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