JPH0645802A - バンドパスフィルタ特性調整方式 - Google Patents
バンドパスフィルタ特性調整方式Info
- Publication number
- JPH0645802A JPH0645802A JP10263192A JP10263192A JPH0645802A JP H0645802 A JPH0645802 A JP H0645802A JP 10263192 A JP10263192 A JP 10263192A JP 10263192 A JP10263192 A JP 10263192A JP H0645802 A JPH0645802 A JP H0645802A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- error amount
- characteristic
- filter
- frequency
- return loss
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】誘電体共振器を用いたバンドパスフィルタのリ
ターンロス波形の論理値と実測値との誤差量を小さくす
るように自動調整を行う。 【構成】ネットワークアナライザ４でリターンロスｃの
周波数−レベル特性の二次元データ信号ｄを発生し、マ
イクロコンピュータ５に取り込まれる。マイクロコンピ
ュータ５は、誤差量の算出後、ビスの選択を行い機構制
御部６にどのビスをどれだけ回転させるかを指令する。
機構制御部６の制御により、機構部７はＤＲフィルタ３
の調整ビスを回転させる。
ターンロス波形の論理値と実測値との誤差量を小さくす
るように自動調整を行う。 【構成】ネットワークアナライザ４でリターンロスｃの
周波数−レベル特性の二次元データ信号ｄを発生し、マ
イクロコンピュータ５に取り込まれる。マイクロコンピ
ュータ５は、誤差量の算出後、ビスの選択を行い機構制
御部６にどのビスをどれだけ回転させるかを指令する。
機構制御部６の制御により、機構部７はＤＲフィルタ３
の調整ビスを回転させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はバンドパスフィルタ特性
調整方式、特に、誘電体共振器を用いたバンドパスフィ
ルタ（以下：ＤＲフィルタと記す）特性調整方式に関す
る。
調整方式、特に、誘電体共振器を用いたバンドパスフィ
ルタ（以下：ＤＲフィルタと記す）特性調整方式に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のＤＲフィルタの特性調整方式は、
ＤＲフィルタにマイクロ波を入力しリターンロス波形の
周波数−レベル特性を測定する。
ＤＲフィルタにマイクロ波を入力しリターンロス波形の
周波数−レベル特性を測定する。
【０００３】図５は従来のＤＲフィルタのリターンロス
周波数−レベル特性調整ブロック図である。スイープオ
シレータ１で入力マイクロ波ａが発生し、方向性ブリッ
ジ２を通過し、ＤＲフィルタ３に入力される。ＤＲフィ
ルタ３から通過マイクロ波ｂが出力され、ネットワーク
アナライザ４に入力される。一方入力マイクロ波ａの一
部はリターンロスｃとなり方向性ブリッジ２を通過し、
ネットワークアナライザ４に入力される。ネットワーク
アナライザ４でリターンロスｃの周波数−レベル特性が
ネットワークアナライザ４の画面上に表示される。人間
はネットワークアナライザ４の画面上に表示されたリタ
ーンロスｃの周波数−レベル特性を見て感覚的に波形を
判断し、調整ビスを回転し、定められた規格内に入るよ
うに調整を行なっている。
周波数−レベル特性調整ブロック図である。スイープオ
シレータ１で入力マイクロ波ａが発生し、方向性ブリッ
ジ２を通過し、ＤＲフィルタ３に入力される。ＤＲフィ
ルタ３から通過マイクロ波ｂが出力され、ネットワーク
アナライザ４に入力される。一方入力マイクロ波ａの一
部はリターンロスｃとなり方向性ブリッジ２を通過し、
ネットワークアナライザ４に入力される。ネットワーク
アナライザ４でリターンロスｃの周波数−レベル特性が
ネットワークアナライザ４の画面上に表示される。人間
はネットワークアナライザ４の画面上に表示されたリタ
ーンロスｃの周波数−レベル特性を見て感覚的に波形を
判断し、調整ビスを回転し、定められた規格内に入るよ
うに調整を行なっている。
【０００４】図６に得られた周波数−レベル特性データ
を示す。縦軸はリターンロスゲイン（ｄＢ）、横軸は周
波数（Ｈｚ）である。
を示す。縦軸はリターンロスゲイン（ｄＢ）、横軸は周
波数（Ｈｚ）である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のＤＲフ
ィルタ特性調整方式は、周波数−レベル特性データに対
し熟練作業者が感覚的に波形を判断し、ある定められた
規格になるように調整を行っていた。このように人間の
判断によって調整を行う場合、多大な労力が必要であ
り、さらに調整工程に慣れるまで時間を要するという欠
点があった。
ィルタ特性調整方式は、周波数−レベル特性データに対
し熟練作業者が感覚的に波形を判断し、ある定められた
規格になるように調整を行っていた。このように人間の
判断によって調整を行う場合、多大な労力が必要であ
り、さらに調整工程に慣れるまで時間を要するという欠
点があった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のＤＲフィルタ特
性調整方式は、（Ａ）誘電体共振器を用いたバンドパス
フィルタにマイクロ波を供給し、特性波形の一つである
リターンロス周波数−レベル特性を測定する手段、
（Ｂ）前記リターンロス周波数−レベル特性と理論特性
との誤差量を求め、前記誤差量を最小にするように調整
ビスを選択し、回転させ自動調整する手段、とを含んで
構成される。
性調整方式は、（Ａ）誘電体共振器を用いたバンドパス
フィルタにマイクロ波を供給し、特性波形の一つである
リターンロス周波数−レベル特性を測定する手段、
（Ｂ）前記リターンロス周波数−レベル特性と理論特性
との誤差量を求め、前記誤差量を最小にするように調整
ビスを選択し、回転させ自動調整する手段、とを含んで
構成される。
【０００７】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【０００８】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。スイープオシレータ１で入力マイクロ波ａが発
生し、方向性ブリッジ２を通過し、ＤＲフィルタ３に入
力される。ＤＲフィルタ３から出力マイクロ波ｂが出力
され、ネットワークアナライザ４に入力される。一方入
力マイクロ波ａの一部はリターンロスｃとなり方向性ブ
リッジ２を通過し、ネットワークアナライザ４に入力さ
れる。ネットワークアナライザ４でリターンロスｃの周
波数−レベル特性の二次元データ信号ｄを発生し、マイ
クロコンピュータ５に取り込まれる。マイクロコンピュ
ータ５は、誤差量の算出後、ビスの選択を行い機構制御
部６にどのビスをどれだけ回転させるかを指令する。機
構制御部６の制御により、機構部７はＤＲフィルタ３の
調整ビスを回転させる。
である。スイープオシレータ１で入力マイクロ波ａが発
生し、方向性ブリッジ２を通過し、ＤＲフィルタ３に入
力される。ＤＲフィルタ３から出力マイクロ波ｂが出力
され、ネットワークアナライザ４に入力される。一方入
力マイクロ波ａの一部はリターンロスｃとなり方向性ブ
リッジ２を通過し、ネットワークアナライザ４に入力さ
れる。ネットワークアナライザ４でリターンロスｃの周
波数−レベル特性の二次元データ信号ｄを発生し、マイ
クロコンピュータ５に取り込まれる。マイクロコンピュ
ータ５は、誤差量の算出後、ビスの選択を行い機構制御
部６にどのビスをどれだけ回転させるかを指令する。機
構制御部６の制御により、機構部７はＤＲフィルタ３の
調整ビスを回転させる。
【０００９】次に本実施例の動作について説明する。
【００１０】図２はリターンロス周波数−レベル特性図
で、誤差量算出の方法を示す。実線の波形が実測値、点
線の波形が等価回路から得られる論理値である。今、周
波数軸をｘ軸、リターンロスゲイン軸をｙ軸とし、ｘ軸
をｎ等分するようなサンプリング点を考える。ｘ＝ｘa
のときの論理値と実測値の座標をそれぞれ２点Ａ
（ｘa 、ｙb ）、Ｂ（ｘa 、ｙb ）とし、このときの２
点間の距離は
で、誤差量算出の方法を示す。実線の波形が実測値、点
線の波形が等価回路から得られる論理値である。今、周
波数軸をｘ軸、リターンロスゲイン軸をｙ軸とし、ｘ軸
をｎ等分するようなサンプリング点を考える。ｘ＝ｘa
のときの論理値と実測値の座標をそれぞれ２点Ａ
（ｘa 、ｙb ）、Ｂ（ｘa 、ｙb ）とし、このときの２
点間の距離は
【００１１】
【００１２】で表される。サンプリング点ｘをｘ0 〜ｘ
n までのｎ点とし、それぞれの論理値と実測値の座標間
の距離を加えて入ったものを誤差量とすると次式で表さ
れる。
n までのｎ点とし、それぞれの論理値と実測値の座標間
の距離を加えて入ったものを誤差量とすると次式で表さ
れる。
【００１３】
【００１４】図３は自動調整の動作フロー図である。手
段Ｐ１で二次元データの入力を行い、手段Ｐ２で図２で
説明した誤差量の算出を行う。手段Ｐ３でビスの選択を
行い、手段Ｐ４でビスの回転を行う。手段Ｐ４でビスの
回転が行われると、リターンロス波形に変化が生じ回転
が行われると、リターンロス波形に変化が生じ再び手段
Ｐ１で二次元データの入力を行い手段Ｐ１〜Ｐ４の一連
の動作を繰り返す。
段Ｐ１で二次元データの入力を行い、手段Ｐ２で図２で
説明した誤差量の算出を行う。手段Ｐ３でビスの選択を
行い、手段Ｐ４でビスの回転を行う。手段Ｐ４でビスの
回転が行われると、リターンロス波形に変化が生じ回転
が行われると、リターンロス波形に変化が生じ再び手段
Ｐ１で二次元データの入力を行い手段Ｐ１〜Ｐ４の一連
の動作を繰り返す。
【００１５】図４は図３の手段Ｐ３の詳細な動作フロー
図である。手段Ｐ５で誤差量の読み込みを行い、手段Ｐ
６で誤差量が規定値以下か否か判定する。誤差量が規定
値以下の場合（Ｙ）は手段Ｐ１８とし、繰り返し動作を
中止し調整を終了する。誤差量が規定値以上の場合
（Ｎ）手段Ｐ７で、ｆｌａｇ＝１かどうかの判定を行
う。このｆｌａｇの値は初期値としてｆｌａｇ＝０をも
ち、手段Ｐ１４，手段Ｐ１７で変更されビスの移動判定
に使用している。手段Ｐ７でｆｌａｇ＝１でない場合
（Ｎ）は手段Ｐ８で誤差量が同じビスをｘ回入れても変
化しないかを判定し、変化した場合（Ｎ）は手段Ｐ９
へ、変化しない場合（Ｙ）は手段Ｐ１５へ行く。
図である。手段Ｐ５で誤差量の読み込みを行い、手段Ｐ
６で誤差量が規定値以下か否か判定する。誤差量が規定
値以下の場合（Ｙ）は手段Ｐ１８とし、繰り返し動作を
中止し調整を終了する。誤差量が規定値以上の場合
（Ｎ）手段Ｐ７で、ｆｌａｇ＝１かどうかの判定を行
う。このｆｌａｇの値は初期値としてｆｌａｇ＝０をも
ち、手段Ｐ１４，手段Ｐ１７で変更されビスの移動判定
に使用している。手段Ｐ７でｆｌａｇ＝１でない場合
（Ｎ）は手段Ｐ８で誤差量が同じビスをｘ回入れても変
化しないかを判定し、変化した場合（Ｎ）は手段Ｐ９
へ、変化しない場合（Ｙ）は手段Ｐ１５へ行く。
【００１６】手段Ｐ９では誤差量が前回の値よりも下が
っているか判定し下がっている場合（Ｙ）は手段Ｐ１０
ビスの移動なしで、手段Ｐ１１でビスを１ＳＴＥＰ入れ
る。その後手段Ｐ１２で今回の誤差量を保存する。手段
Ｐ９で誤差量が上がっている場合は手段Ｐ１３で前回入
れたビスを１ＳＴＥＰもどし手段Ｐ１４でｆｌａｇ＝１
に設定し、手段Ｐ１２で今回の誤差量を保存する。ま
た、手段Ｐ１５で次のビスへ移動した後手段Ｐ１６でビ
スを１ＳＴＥＰ入れて手段Ｐ１７でｆｌａｇ＝０に設定
し、手段Ｐ１２で今回の誤差量を保存する。
っているか判定し下がっている場合（Ｙ）は手段Ｐ１０
ビスの移動なしで、手段Ｐ１１でビスを１ＳＴＥＰ入れ
る。その後手段Ｐ１２で今回の誤差量を保存する。手段
Ｐ９で誤差量が上がっている場合は手段Ｐ１３で前回入
れたビスを１ＳＴＥＰもどし手段Ｐ１４でｆｌａｇ＝１
に設定し、手段Ｐ１２で今回の誤差量を保存する。ま
た、手段Ｐ１５で次のビスへ移動した後手段Ｐ１６でビ
スを１ＳＴＥＰ入れて手段Ｐ１７でｆｌａｇ＝０に設定
し、手段Ｐ１２で今回の誤差量を保存する。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明のＤＲフィル
タの特性調整方式は周波数−レベル特性から特性の良否
を熟練作業者が判断する代わりにマイクロコンピュータ
が、ＤＲフィルタの一特性である周波数−レベル特性の
サンプリング点における理論値と実測値との誤差量を算
出し、自動でＤＲフィルタの調整が行えるという効果が
ある。
タの特性調整方式は周波数−レベル特性から特性の良否
を熟練作業者が判断する代わりにマイクロコンピュータ
が、ＤＲフィルタの一特性である周波数−レベル特性の
サンプリング点における理論値と実測値との誤差量を算
出し、自動でＤＲフィルタの調整が行えるという効果が
ある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施例を示すリターンロス周波数−
レベル特性図である。
レベル特性図である。
【図３】本発明の一実施例を示す動作フロー図である。
【図４】図３に示す手段Ｐ４の詳細な動作フロー図であ
る。
る。
【図５】従来の一例を示すブロック図である。
【図６】従来の一例を示すリターンロス周波数−レベル
特性図である。
特性図である。
１ スイープオシレータ ２ 方向性ブリッジ ３ ＤＲフィルタ ４ ネットワークアナライザ ５ マイクロコンピュータ ６ 機構制御部 ７ 機構部 ａ 入力マイクロ波 ｂ 出力マイクロ波 ｃ リターンロス ｄ 二次元データ信号
Claims (1)
- 【請求項１】（Ａ）誘電体共振器を用いたバンドパスフ
ィルタにマイクロ波を供給し、特性波形の一つであるリ
ターンロス周波数−レベル特性を測定する手段、 （Ｂ）前記リターンロス周波数−レベル特性と理論特性
との誤差量を求め、前記誤差量を最小にするように調整
ビスを選択し、回転させ自動調整する手段、 とを含むことを特徴とするバンドパスフィルタ特性調整
方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10263192A JPH0645802A (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | バンドパスフィルタ特性調整方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10263192A JPH0645802A (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | バンドパスフィルタ特性調整方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0645802A true JPH0645802A (ja) | 1994-02-18 |
Family
ID=14332592
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10263192A Pending JPH0645802A (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | バンドパスフィルタ特性調整方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0645802A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6522224B2 (en) | 2000-08-10 | 2003-02-18 | Murata Manufacturing Co. Ltd | Method for adjusting characteristics of a dielectric filter |
| US6758882B2 (en) | 2000-08-31 | 2004-07-06 | Jfe Steel Corporation | Alloyed steel powder for powder metallurgy |
-
1992
- 1992-04-22 JP JP10263192A patent/JPH0645802A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6522224B2 (en) | 2000-08-10 | 2003-02-18 | Murata Manufacturing Co. Ltd | Method for adjusting characteristics of a dielectric filter |
| US6758882B2 (en) | 2000-08-31 | 2004-07-06 | Jfe Steel Corporation | Alloyed steel powder for powder metallurgy |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5136267A (en) | Tunable bandpass filter system and filtering method | |
| US4611164A (en) | Spectrum analyzer with automatic peak frequency tuning function | |
| US4162531A (en) | Method and apparatus for programmable and remote numeric control and calibration of electronic instrumentation | |
| US4578638A (en) | Spectrum analyzer | |
| US4099240A (en) | Method and apparatus for programmable and remote numeric control and calibration of electronic instrumentation | |
| JPS60213869A (ja) | スペクトラム・アナライザ | |
| US4918382A (en) | Method for distinguishing between real and spurious responses in a spectrum analyzer | |
| JPH0645802A (ja) | バンドパスフィルタ特性調整方式 | |
| US5004975A (en) | Adjustable electronic graticules for measuring waveform distortions | |
| JP2533813B2 (ja) | スペクトラム・アナライザ | |
| JP2906822B2 (ja) | バンドパスフィルタ特性調整方式 | |
| US5712573A (en) | Network analyzer with adaptable sweep time between measurement points | |
| JPH0740056B2 (ja) | スペクトル分析器の周波数レスポンス補償用の回路網 | |
| JPH07209352A (ja) | スペクトラム・アナライザ | |
| JP2684850B2 (ja) | 誘電体共振器を用いたバンドパスフィルタ特性評価装置 | |
| JP3142033B2 (ja) | Ｄ／ａ変換回路 | |
| JP4421769B2 (ja) | 接地抵抗測定装置 | |
| US6195123B1 (en) | Method of automatically adjusting a CRT color monitor screen and a CRT color monitor | |
| US6646428B2 (en) | Sweep synchronization testing | |
| JPH05332994A (ja) | 質量分析方法 | |
| JPH02117202A (ja) | パラメトリックイコライザ | |
| JP3205603B2 (ja) | 磁場型質量分析計における質量校正法 | |
| JPH04311104A (ja) | 誘電体共振器を用いたバンドパスフィルタ特性調整方式 | |
| JP2002014126A (ja) | 放射物体の電界放射測定方法及び放射物体の放射電界強度測定方法に用いられる相関係数の算出方法 | |
| JP2605177Y2 (ja) | 周波数調整装置 |