JPH0643293U - ターボ分子ポンプ装置 - Google Patents
ターボ分子ポンプ装置Info
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 21
- 238000010926 purge Methods 0.000 abstract description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 8
- 230000008021 deposition Effects 0.000 abstract description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 40
- 238000005339 levitation Methods 0.000 description 10
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 238000001824 photoionisation detection Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
- 230000003936 working memory Effects 0.000 description 1
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- Non-Positive Displacement Air Blowers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な構成によりプロセスガスの堆積を防止
することが可能なターボ分子ポンプ装置を提供する。 【構成】 温度センサー50で排気口の近傍の温度T2
を検出し、この検出温度T2と、キーボード74から設
定した動作温度T1とを比較する。検出温度T2が低い
場合に、電磁弁55を閉動作させて排気口52を閉じる
共に、電磁弁56を開動作させてパージポート53から
ターボ分子ポンプ装置内にN2 ガスを導入する。この
状態で、高周波モータを駆動させることによって、N2
ガスの負荷により駆動電流が増大してコイルが発熱
し、ターボ分子ポンプ装置の温度が上昇する。従って、
半導体製造装置等に利用する場合、プロセスガスの温度
低下時に反応で生じる生成物がステータ翼とロータ翼等
に堆積することを阻止できる
することが可能なターボ分子ポンプ装置を提供する。 【構成】 温度センサー50で排気口の近傍の温度T2
を検出し、この検出温度T2と、キーボード74から設
定した動作温度T1とを比較する。検出温度T2が低い
場合に、電磁弁55を閉動作させて排気口52を閉じる
共に、電磁弁56を開動作させてパージポート53から
ターボ分子ポンプ装置内にN2 ガスを導入する。この
状態で、高周波モータを駆動させることによって、N2
ガスの負荷により駆動電流が増大してコイルが発熱
し、ターボ分子ポンプ装置の温度が上昇する。従って、
半導体製造装置等に利用する場合、プロセスガスの温度
低下時に反応で生じる生成物がステータ翼とロータ翼等
に堆積することを阻止できる
Description
【0001】
本考案はターボ分子ポンプ装置に係り、例えば、半導体装置に接続され、プロ セスガスの排出等を行うターボ分子ポンプ装置に関する。
【0002】
従来、例えば、エッチング装置、CVD等の半導体製造装置では、ロータを磁 気浮上させる非接触回転のターボ分子ポンプ装置を用いてSiH4 、PH3 、B 2 H6 、AS H3 等のプロセスガスをチャンバ等から排出している。
【0003】 このようなターボ分子ポンプ装置によってチャンバ等から排出されるプロセス ガスは、温度、50°C乃至60°Cに低下すると気体から固体に変化し、この 生成物がターボ分子ポンプ装置の内壁等に堆積物として付着してしまうことが知 られている。
【0004】 この状態のまま長期にわたって運転を続行すると、ロータ翼およびステータ翼 の堆積物が増大して、結果的にターボ分子ポンプ装置を動作させることができな くなることがある。 このため、従来のターボ分子ポンプ装置では、例えば外周部にヒータを巻付け ると共に、このヒーターの発熱制御を行うための制御回路を配置している。そし て、ターボ分子ポンプ装置の温度が低い時、例えばターボ分子ポンプの立上げ時 や、チャンバ内が真空状態になっている無負荷時等に、ヒーターの通電制御を行 って装置の温度を50°C乃至60°C以上に上昇させて、プロセスガスの堆積 を防止している。
【0005】
しかし、従来のターボ分子ポンプ装置では、ヒータを巻付けることにより、ポ ンプ本体が大型化するという欠点があった。 また、ヒーターとその電源や制御回路等が必要であり、構成が複雑となる欠点 があった。
【0006】 本考案はこのような課題に鑑みてなされたもので、簡単な構成によりプロセス ガスの堆積を防止することが可能なターボ分子ポンプ装置を提供することを目的 とする。
【0007】
請求項1記載の考案では、少なくともステータ翼と、高周波モーターとロータ 翼を有するロータと、前記高周波モーターの電源とを備えたターボ分子ポンプ装 置において、ターボ分子ポンプ装置内の所定位置の温度を検出する温度検出手段 と、この温度検出手段で検出された検出温度と所定の動作温度とを比較する比較 手段と、この比較手段で検出温度が動作温度よりも低いと判断された場合に、装 置内にガスを供給するガス供給手段と、このガス供給手段によりガスが供給され る状態で高周波モータを駆動する駆動手段とを、ターボ分子ポンプ装置に具備さ せて前記目的を達成する。
【0008】 請求項2記載の考案では、請求項1記載のターボ分子ポンプ装置において、所 定の動作温度を設定する温度設定手段を、さらに具備させる。 請求項3記載の考案では、請求項1または請求項2記載のターボ分子ポンプ装 置において、ガス供給手段は、ターボ分子ポンプ装置の排気口を閉じる開閉部を 備え、この開閉部を閉じた後にガスを供給する。
【0009】
本考案のターボ分子ポンプ装置では、ターボ分子ポンプ装置の検出温度と、所 定の動作温度とを比較し、検出温度が動作温度よりも低い場合に装置内にN2 ガ ス等のガスを供給し、この状態で高周波モータを駆動する。これによって、駆動 電流が増大して高周波モータのコイルが発熱するため、装置温度を高くすること ができる。
【0010】
以下本考案のターボ分子ポンプ装置における好適な実施例について、図1から 図3を参照して詳細に説明する。 図1はターボ分子ポンプ装置の全体構成を表したものである。
【0011】 このターボ分子ポンプ装置は、例えば半導体製造装置内等に設置され、チャン バ等からプロセスガスの排出を行うものである。この例では、円筒状に形成され た外装体10の上端部にフランジ11が形成され、ボルト等によって半導体製造 装置に接続されるようになっている。
【0012】 外装体10の内側に複数のステータ翼12が配置され、このそれぞれのステー タ翼12間に複数のロータ翼14が配置されている。このロータ翼14はロータ 15の外周囲壁に設けられ、ロータ15は磁性体のロータ軸18に連動して回転 するように、ボルト19でロータ軸18に固定されている。
【0013】 ロータ15はいわゆる磁気軸受を利用しており、ロータ軸18の上部には、2 対の半径方向電磁石20がロータ軸18を挟んで対向配置されており、2対の半 径方向電磁石は互いに直交するように配置されている。この半径方向電磁石20 に隣接して、ロータ軸18を挟んで対向する2対の半径方向センサー22が2対 設けられている。
【0014】 さらに、ロータ軸18の下部には、同様に2対の半径方向電磁石24が配置さ れ、この半径方向電磁石24にも、隣接して半径方向センサー26が2対設けら れている。 これら半径方向電磁石20、24に励磁電流が供給されることによって、ロー タ軸18が磁気浮上される。この励磁電流は、磁気浮上時に、半径方向センサー 22、26からの位置検知信号に応じて制御され、これによってロータ軸18が 半径方向の所定位置に保持されるようになっている。
【0015】 また、外装体10の内側の半径方向センサー22と半径方向センサー26との 間には高周波モータ30が配置されている。この高周波モータ30に通電される ことによって、ロータ軸18および、これに固定されたロータ翼14が回転する ようになっている。
【0016】 ロータ軸18の下部には、磁性体で形成された円盤状の金属ディスク31が固 定されており、この金属ディスク31を挟み、且つ対向した一対づづの軸方向電 磁石32、34が配置されている。さらにロータ軸18の切断端部に対向して軸 方向センサー36が配置されている。
【0017】 この軸方向電磁石32、34の励磁電流は、軸方向センサー36からの位置検 知信号に応じて制御され、これによりロータ軸18が軸方向の所定位置に保持さ れるようになっている。 また、このロータ軸18の下端部には、ロータ軸の回転数を検出するための回 転センサー38が配置されている。
【0018】 ターボ分子ポンプ装置の外装体10の下部には、半導体製造装置からのプロセ スガス等を排出する排気口52、および、このプロセスガスの濃度をさげるため の不活性ガス(N2 )を供給するパージポート53が配置されている。これら排 気口52およびパージポート53には、それぞれ電磁弁55、56が接続されて いる。そして、排気口52の近傍には、サーミスタ等の温度センサー50が配置 されている。
【0019】 これらの各部は、パージポート53の近傍に配置された図示しないコネクタを 通じて、磁気軸受コントローラやメインコントローラ等を備えた信号処理系にケ ーブルで接続されている。 図2はターボ分子ポンプ装置の電気的構成を表したものである。
【0020】 ターボ分子ポンプ装置は、主としてマイクロプロセッサユニット(MPU)等 を用いたシステムコントローラ70と、磁気浮上用コントローラ80により概略 構成されている。 システムコントローラ70は、ターボ分子ポンプ装置の全体制御を行うと共に 本実施例による判断動作等の各種制御を行うCPU(中央処理装置)70a、こ のCPU70aにおいて各種制御を実行するためのプログラムやデータが格納さ れたROM(リード・オンリ・メモリ)70b、ワーキングメモリとして使用さ れるRAM(ランダム・アクセス・メモリ)70c、キーボードインタフェ−ス (I/F)70d、表示器I/F70e、I/O70f、70g、70h、70 i、70kを備えており、これらの各部はデータバス等のバスライン70jに接 続されている。
【0021】 キーボ−ドI/F70dには、各種の動作指示等の操作を行うキーボード74 が接続されている。 また表示器I/F70eには、キーボード74からの操作状態や、ロータ軸1 8の浮上状態、さらにターボ分子ポンプ装置の動作状態を表示するためのCRT 、LCD等の表示器76が接続されている。
【0022】 I/O70fには磁気浮上用コントローラ80が接続されている。この磁気浮 上用コントローラ80は、半径方向センサー22、26と軸方向センサー36か らの位置検知信号が各々入力されるPID(補正回路)82a〜82eを備えて おり、これらPID82a〜82eの各出力端子には、増幅器84a、〜84e がそれぞれ接続されている。
【0023】 増幅器84a〜84dの出力端子には、一対のコイルで構成される半径方向電 磁石20、24が接続されている。また、増幅部84eの出力端子には、一対の コイルとして構成される軸方向電磁石32、34が接続されている。 この磁気浮上用コントローラ80は、半径方向電磁石20、24に励磁電流を 供給することによってロータ軸18を半径方向に磁気浮上させると共に、半径方 向センサー22、26からの位置検知信号に応じてロータ軸18を半径方向所定 位置に保持するように増幅器84a〜84dの増幅率を変化させて、供給する励 磁電流を変化させる制御を行う。
【0024】 同時に、磁気浮上用コントローラ80は、軸方向電磁石32、34に励磁電流 を供給することによってロータ軸18を軸方向に磁気浮上させると共に、軸方向 センサー36からの位置検知信号に応じてロータ軸18を軸方向所定位置に保持 するように増幅器84eの増幅率を変化させて、供給する励磁電流を変化させる 制御を行う。
【0025】 I/O70gには回転センサー38が接続されており、この回転センサー38 からのパルス信号がCPU70aで読み取られ、ロータ軸18の回転数が検出さ れる。 また、I/O70hには、高周波モータ30を回転駆動させるモータドライバ ー77が接続されている。モータドライバ77は、図示しないAC電源をコンバ ータで直流に変換した後、再びインバータにより3相交流とし、負荷に応じた電 流を高周波モータ30に供給するようになっている。
【0026】 I/O70kには、電磁弁55、56が接続されている。 次に、このように構成されたターボ分子ポンプ装置の温度を上昇させる動作に ついて説明する。 温度上昇動作の概要 ターボ分子ポンプ装置の立上げ時や無負荷時などでは、装置本体温度が一般に 低い。そこで、温度センサー50でターボ分子ポンプ装置本体の温度を検出し、 温度が低い場合には、排気口52を閉じて、N2 ガスをターボ分子ポンプ装置内 に導入する。導入されたN2 ガスは、図面に太い実線の矢印で示される経路で、 装置本体内に満たされる。また、装置本体内は、図示しない半導体製造装置から の白抜きの矢印で示した経路でプロセスガスも満たされる。
【0027】 この状態でターボ分子ポンプ装置を運転することによって、N2 ガスによる負 荷がかかるため、高周波モータ30に供給される電流値が上昇する。これによっ て高周波モータ30の温度が上昇し、ターボ分子ポンプ装置の温度も60°C以 上となった時点で排気口52を開けてN2 ガスおよびプロセスガスを排気する。
【0028】 温度上昇動作の詳細 図3はターボ分子ポンプ装置による温度上昇動作を表したものである。 まず操作者は、ターボ分子ポンプ装置で温度上昇動作を開始するための動作温 度T1をプロセスガスの種類に応じてキーボード74から入力する(ステップ1 1)。入力された動作温度T1は、キーボードI/F70dを介してRAM70 cに格納される。
【0029】 なお、この動作温度T1がプロセスガスの種類によらずに一定でよい場合には 、キーボード74から入力することなく、予めROM70bに格納しておくよう にしてもよい。また、プロセスガスの種類に応じた複数の動作温度T1をROM 70bに格納しておき、操作者は、キーボードからプロセスガスの種類を入力す るようにしてもよい。
【0030】 動作温度T1がRAM70cに格納されると、CPU70aは、温度センサー 50からI/O70iを介して供給される信号から、ターボ分子ポンプ装置の装 置温度T2を測定する(ステップ12)。そして、RAM70cから動作温度T 1を読み出して装置温度T2と比較する(ステップ13)。
【0031】 装置温度T2が動作温度T1よりも低い場合(ステップ13;Y)、CPU7 0aは、I/O70kを介して電磁弁55を閉動作させて排気口52を閉じる( ステップ14)と共に、電磁弁56を開動作させてパージポート53からN2 ガ スをターボ分子ポンプ装置内に導入する(ステップ15)。
【0032】 N2 ガスがターボ分子ポンプ装置に導入されると、CPU70aは、I/O7 0fを介して磁気浮上用コントローラ80にロータ軸18の磁気浮上を指示する 。磁気浮上用コントローラ80は、CPU70aからの指示を受けると、半径方 向電磁石20、24および軸方向電磁石32、34に励磁電流を供給してロータ 軸18を磁気浮上させる(ステップ16)。この場合、磁気浮上用コントローラ 80では、半径方向センサ22、26および軸方向センサ36からの位置検知信 号により、PID82a〜82eおよび増幅部84a〜84eによって励磁電流 を制御することにより、ロータ軸18が軸中心に保持される。
【0033】 また、CPU70aは、I/O70hを介してモータドライバー77に高周波 モータ30の回転開始を指示する。高周波モータ30はこの指示を受けると、変 換した3相交流を出力して高周波モータ30を回転させる(ステップ17)。 この一連の動作により、ターボ分子ポンプ装置内に満たされたN2 ガスがロー タ翼の回転抵抗を増大させる。これにより高周波モータ30の負荷抵抗が増大す るため、供給される電流も増大し、その結果、高周波モータ30のコイルが発熱 してターボ分子ポンプ装置の装置温度T2が上昇する。
【0034】 そして、CPU70aは、温度センサー50から供給される信号に基づいて温 度上昇後の装置温度T2を再び測定する(ステップ18)。この温度上昇後の装 置温度T2とステップ11で入力された動作温度T1とを比較し(ステップ19 )、T2がT1未満の場合(ステップ19;N)にはステップ18に戻って温度 上昇の監視を継続する。
【0035】 高周波モータ30の発熱により装置温度T2が動作温度T1よりも大きくなっ た場合(ステップ19;Y)、動作温度T1以上の温度ではプロセスガスの堆積 は生じない。そこで、CPU70aは、I/O70kを介して電磁弁55を開動 作させて排気口52を開く(ステップ20)。
【0036】 そして、通常動作を行った後(ステップ21)処理を終了する。 なお、ステップ15でN2 ガスの為に開いたパージポート53の電磁弁56に ついては、ステップ21の通常動作における要求に応じて、以後の開閉動作が行 われる。
【0037】 以上説明した実施例では、排気口52を電磁弁55で閉じた後に、N2 ガスを ターボ分子ポンプ装置内に導入したが、本考案では、この実施例に限定されるも のではない。例えば、パージポート53から所定量以上のN2 ガスを導入できる 場合には、電磁弁55の閉動作を省略することも可能である。また、パージポー ト53からのN2 ガス量について調整できるものであれば、必要に応じて、電磁 弁55の開閉と、導入N2 ガス量の調整を行う。
【0038】 なお、ターボ分子ポンプ装置と半導体製造装置との間にも電磁石弁等のバルブ が配置されてる場合、この電磁弁を閉じるか否かについてもパージポート53か ら導入されるN2 ガス量に応じて決定される。 また、以上説明した実施例において、サーミスタ等の温度センサーを排気口5 2の近傍に配置したが、この位置に限定されるものではなく、例えば、プロセス ガスが吸入されるフランジ11の内側や、ロータ軸18の先端部等に配置するこ とも可能であり、ターボ分子ポンプ装置の構造に応じて最適な位置が選択される 。
【0039】
本考案のターボ分子ポンプ装置によれば、検出温度と、設定した所定温度とを 比較し、検出温度が所定温度より低い場合に、ターボ分子ポンプ装置内を不活性 ガスで充満させた状態、すなわちガス負荷が増大した状態で高周波モータを駆動 する。このため、駆動電流が増大して高周波モータのコイルが発熱するため、簡 単な構成によって装置温度を高くすることができる。
【0040】 加えて、ターボ分子ポンプ装置を半導体製造装置等に利用する場合のプロセス ガスの温度低下時に反応で生じる生成物がステータ翼とロータ翼等に堆積するこ とを阻止できる。
【図1】本考案のターボ分子ポンプ装置に係る一実施例
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図2】実施例の電気的構成を示すブロック図である。
【図3】実施例のターボ分子ポンプ装置による温度上昇
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
10 外装体 12 ステータ翼 13 ロータ翼 15 ロータ 18 ロータ軸 20、24 半径方向電磁石 22、26 半径方向センサー 30 高周波モータ 32、34 軸方向電磁石 36 軸方向センサー 50 温度センサー 52 排気口 53 パージポート 55、56 電磁弁 70 システムコントローラ 74 キーボード 77 モータドライバー 80 磁気浮上用コントローラ
Claims (3)
- 【請求項1】 少なくともステータ翼と、高周波モータ
ーとロータ翼を有するロータと、前記高周波モーターの
電源とを備えたターボ分子ポンプ装置において、 ターボ分子ポンプ装置内の所定位置の温度を検出する温
度検出手段と、 この温度検出手段で検出された検出温度と所定の動作温
度とを比較する比較手段と、 この比較手段で検出温度が動作温度よりも低いと判断さ
れた場合に、装置内にガスを供給するガス供給手段と、 このガス供給手段によりガスが供給される状態で高周波
モータを駆動する駆動手段とを具備することを特徴とす
るターボ分子ポンプ装置 - 【請求項2】 所定の動作温度を設定する温度設定手段
を備えたことを特徴とする請求項1記載のターボ分子ポ
ンプ装置。 - 【請求項3】 ガス供給手段は、ターボ分子ポンプ装置
の排気口を閉じる開閉部を備え、この開閉部を閉じた後
にガスを供給することを特徴とする請求項1または2記
載のターボ分子ポンプ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992080810U JP2596376Y2 (ja) | 1992-11-24 | 1992-11-24 | ターボ分子ポンプ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992080810U JP2596376Y2 (ja) | 1992-11-24 | 1992-11-24 | ターボ分子ポンプ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0643293U true JPH0643293U (ja) | 1994-06-07 |
| JP2596376Y2 JP2596376Y2 (ja) | 1999-06-14 |
Family
ID=13728830
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992080810U Expired - Lifetime JP2596376Y2 (ja) | 1992-11-24 | 1992-11-24 | ターボ分子ポンプ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2596376Y2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09310696A (ja) * | 1996-03-21 | 1997-12-02 | Osaka Shinku Kiki Seisakusho:Kk | 分子ポンプ |
| JP2006037739A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Koyo Seiko Co Ltd | ターボ分子ポンプ装置 |
| JP2020090922A (ja) * | 2018-12-05 | 2020-06-11 | 株式会社テクノス | 窒素昇温ユニット及び当該窒素昇温ユニットを利用してターボ分子ポンプの内部で昇華性物質が固形化すること又は堆積することを抑制又は防止する方法 |
-
1992
- 1992-11-24 JP JP1992080810U patent/JP2596376Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09310696A (ja) * | 1996-03-21 | 1997-12-02 | Osaka Shinku Kiki Seisakusho:Kk | 分子ポンプ |
| JP2006037739A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Koyo Seiko Co Ltd | ターボ分子ポンプ装置 |
| JP2020090922A (ja) * | 2018-12-05 | 2020-06-11 | 株式会社テクノス | 窒素昇温ユニット及び当該窒素昇温ユニットを利用してターボ分子ポンプの内部で昇華性物質が固形化すること又は堆積することを抑制又は防止する方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2596376Y2 (ja) | 1999-06-14 |
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