JPH0638113A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
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- JPH0638113A JPH0638113A JP4213397A JP21339792A JPH0638113A JP H0638113 A JPH0638113 A JP H0638113A JP 4213397 A JP4213397 A JP 4213397A JP 21339792 A JP21339792 A JP 21339792A JP H0638113 A JPH0638113 A JP H0638113A
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- JP
- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＣＣＤの欠陥を自動的に補正するようにす
る。 【構成】 電源がオンされた直後にアイリス３が閉じら
れる。その状態においてＣＣＤ４の各画素データが読み
出され、比較回路６１において所定の基準値と比較され
る。読み出された画素データに欠陥がある場合、そのレ
ベルはマイクロコントローラ３１により設定する基準値
より大きくなっている。このとき、欠陥補正回路９はそ
の画素データを例えば１個前の画素データで補完して出
力する。
る。 【構成】 電源がオンされた直後にアイリス３が閉じら
れる。その状態においてＣＣＤ４の各画素データが読み
出され、比較回路６１において所定の基準値と比較され
る。読み出された画素データに欠陥がある場合、そのレ
ベルはマイクロコントローラ３１により設定する基準値
より大きくなっている。このとき、欠陥補正回路９はそ
の画素データを例えば１個前の画素データで補完して出
力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば携帯用のビデオ
カメラ等に用いて好適な撮像装置に関する。
カメラ等に用いて好適な撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】最近ビデオカメラには、その撮像素子と
してＣＣＤが用いられている。このＣＣＤはマトリック
ス構成とされ、例えば４０万個の画素が配列されてい
る。
してＣＣＤが用いられている。このＣＣＤはマトリック
ス構成とされ、例えば４０万個の画素が配列されてい
る。
【０００３】この各画素の１つにでも欠陥があると、そ
の画素に対応する出力が異常な値となる。そこで、ビデ
オカメラを製造工場からが出荷する前にＣＣＤの欠陥を
検査し、これを補正するようにしている。
の画素に対応する出力が異常な値となる。そこで、ビデ
オカメラを製造工場からが出荷する前にＣＣＤの欠陥を
検査し、これを補正するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のビ
デオカメラは、このように工場出荷前に欠陥を補正する
ものであるため、工場出荷後に欠陥が発生した場合、こ
れを補正することができなかった。
デオカメラは、このように工場出荷前に欠陥を補正する
ものであるため、工場出荷後に欠陥が発生した場合、こ
れを補正することができなかった。
【０００５】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、工場出荷後においても欠陥を補正すること
ができるようにするものであ。
ものであり、工場出荷後においても欠陥を補正すること
ができるようにするものであ。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の撮像装置は、被
写体の画像データを画素毎に出力する撮像手段としての
ＣＣＤ４と、ＣＣＤ４の出力よりＣＣＤ４の各画素毎の
欠陥を検出する検出手段としてのマイクロコントローラ
３１と、マイクロコントローラ３１の検出結果に対応し
てＣＣＤ４より出力された画像データを補正する補正手
段としての欠陥補正回路９とを備えることを特徴とす
る。
写体の画像データを画素毎に出力する撮像手段としての
ＣＣＤ４と、ＣＣＤ４の出力よりＣＣＤ４の各画素毎の
欠陥を検出する検出手段としてのマイクロコントローラ
３１と、マイクロコントローラ３１の検出結果に対応し
てＣＣＤ４より出力された画像データを補正する補正手
段としての欠陥補正回路９とを備えることを特徴とす
る。
【０００７】この撮像装置は、電源をオンするとき操作
される操作手段としての操作部３７をさらに備え、操作
部３７により電源がオンされる毎に、ＣＣＤ４の各画素
毎の欠陥を検出するようにすることができる。また、Ｃ
ＣＤ４に入射される光量を制御する制御手段としてのア
イリス３を更に設け、マイクロコントローラ３１により
ＣＣＤ４の各画素毎の欠陥を検出するとき、アイリス３
によりＣＣＤ４に実質的に光が入射されないようにする
ことができる。更に、ＣＣＤ４に光が入射する時間を制
御するシャッタ手段としての電子シャッタ３５を設け、
マイクロコントローラ３１によりＣＣＤ４の各画素毎の
欠陥を検出するとき、電子シャッタ３５によりＣＣＤ４
に光が入射される時間を所定の時間に制限するようにす
ることができる。
される操作手段としての操作部３７をさらに備え、操作
部３７により電源がオンされる毎に、ＣＣＤ４の各画素
毎の欠陥を検出するようにすることができる。また、Ｃ
ＣＤ４に入射される光量を制御する制御手段としてのア
イリス３を更に設け、マイクロコントローラ３１により
ＣＣＤ４の各画素毎の欠陥を検出するとき、アイリス３
によりＣＣＤ４に実質的に光が入射されないようにする
ことができる。更に、ＣＣＤ４に光が入射する時間を制
御するシャッタ手段としての電子シャッタ３５を設け、
マイクロコントローラ３１によりＣＣＤ４の各画素毎の
欠陥を検出するとき、電子シャッタ３５によりＣＣＤ４
に光が入射される時間を所定の時間に制限するようにす
ることができる。
【０００８】
【作用】上記構成の撮像装置においては、マイクロコン
トローラ３１がＣＣＤ４の各画素の欠陥を検出したと
き、ＣＣＤ４の出力が欠陥補正回路９により補正され
る。従って、使用者はこの欠陥を実質的に殆ど気にする
ことなく装置を使用することが可能となる。
トローラ３１がＣＣＤ４の各画素の欠陥を検出したと
き、ＣＣＤ４の出力が欠陥補正回路９により補正され
る。従って、使用者はこの欠陥を実質的に殆ど気にする
ことなく装置を使用することが可能となる。
【０００９】
【実施例】図１は、本発明の撮像装置を応用したビデオ
カメラの一実施例の構成を示すブロック図である。被写
体からの光がレンズ１，２を介してＣＣＤ４に入射され
るようになされている。レンズ１と２の間にはアイリス
３が配置され、ＣＣＤ４に入射される光の光量を制御す
るようになされている。ＣＣＤ４は多数（例えば４０万
個）の画素がマトリックス上に配置されており、各画素
毎に被写体の画像データを出力するようになされてい
る。また、電子シャッタ３５はこのＣＣＤ４に光が入射
される時間（露光時間）を制御するようになされてい
る。
カメラの一実施例の構成を示すブロック図である。被写
体からの光がレンズ１，２を介してＣＣＤ４に入射され
るようになされている。レンズ１と２の間にはアイリス
３が配置され、ＣＣＤ４に入射される光の光量を制御す
るようになされている。ＣＣＤ４は多数（例えば４０万
個）の画素がマトリックス上に配置されており、各画素
毎に被写体の画像データを出力するようになされてい
る。また、電子シャッタ３５はこのＣＣＤ４に光が入射
される時間（露光時間）を制御するようになされてい
る。
【００１０】ＣＣＤ４の出力は増幅器５を介してサンプ
ルホールド回路６に入力され、サンプルホールドされ、
更にＡ／Ｄ変換器７によりＡ／Ｄ変換された後、信号処
理回路８とゾーン検出回路２１に供給されるようになさ
れている。
ルホールド回路６に入力され、サンプルホールドされ、
更にＡ／Ｄ変換器７によりＡ／Ｄ変換された後、信号処
理回路８とゾーン検出回路２１に供給されるようになさ
れている。
【００１１】信号処理回路８は欠陥補正回路９を有して
おり、Ａ／Ｄ変換器７より入力された画像データに欠陥
があればこれを補正し、図示せぬ回路に輝度（Ｙ）デー
タおよび色差（Ｃ）データとして出力するようになされ
ている。また、欠陥補正回路９の出力はデータバス１０
及びインタフェースとしてのシフトレジスタ１１を介し
て、例えばマイクロプロセッサ等よりなるマイクロコン
トローラ３１に供給されるようになされている。
おり、Ａ／Ｄ変換器７より入力された画像データに欠陥
があればこれを補正し、図示せぬ回路に輝度（Ｙ）デー
タおよび色差（Ｃ）データとして出力するようになされ
ている。また、欠陥補正回路９の出力はデータバス１０
及びインタフェースとしてのシフトレジスタ１１を介し
て、例えばマイクロプロセッサ等よりなるマイクロコン
トローラ３１に供給されるようになされている。
【００１２】一方、ゾーン検出回路２１はＡ／Ｄ変換器
７より入力された画像データのうち、選択回路２２で選
択とたゾーンの画像データを、加算器（積分回路）２３
において加算し、その加算（積分）したデータをシフト
レジスタ２４を介してマイクロコントローラ３１に出力
するようになされている。また、マイクロコントローラ
３１よりシフトレジスタ２５を介して入力される指令に
対応して、加算器２３において加算するゾーンを選択回
路２２において選択するようになされている。
７より入力された画像データのうち、選択回路２２で選
択とたゾーンの画像データを、加算器（積分回路）２３
において加算し、その加算（積分）したデータをシフト
レジスタ２４を介してマイクロコントローラ３１に出力
するようになされている。また、マイクロコントローラ
３１よりシフトレジスタ２５を介して入力される指令に
対応して、加算器２３において加算するゾーンを選択回
路２２において選択するようになされている。
【００１３】操作部３７はスイッチ、釦等により構成さ
れ、電源を投入したり、所定の指令を入力するとき操作
される。マイクロコントローラ３１は、この操作に対応
して各部を制御するようになされている。例えば、アイ
リス３の調整が指令されたとき、増幅器３２を介してモ
ータ３３が駆動され、アイリス３が所定の絞り値に調整
される。また、電子シャッタ３５を使用することが指令
された場合においては、タイミングジェネレータ３４を
介して電子シャッタ３５が駆動され、露光時間が制御さ
れるようになされている。
れ、電源を投入したり、所定の指令を入力するとき操作
される。マイクロコントローラ３１は、この操作に対応
して各部を制御するようになされている。例えば、アイ
リス３の調整が指令されたとき、増幅器３２を介してモ
ータ３３が駆動され、アイリス３が所定の絞り値に調整
される。また、電子シャッタ３５を使用することが指令
された場合においては、タイミングジェネレータ３４を
介して電子シャッタ３５が駆動され、露光時間が制御さ
れるようになされている。
【００１４】また、このタイミングジェネレータ３４は
ＣＣＤ４の各画素毎のアドレスを記憶しており、所定の
画素の欠陥がマイクロコントローラ３１により検出され
た場合において、欠陥補正位置指定パルスを欠陥補正回
路９に出力するようになされている。シンクジェネレー
タ３６は種々のシンク信号を生成し、タイミングジェネ
レータ３４に出力するとともに、マイクロコントローラ
３１からの指令に対応して所定の画素のデータを抜き取
る、抜取位置指定パルスをデータバス１０に出力し、こ
の指定パルスにより指定した画素データをシフトレジタ
１１を介して、マイクロコントローラ３１に供給させる
ようになされている。
ＣＣＤ４の各画素毎のアドレスを記憶しており、所定の
画素の欠陥がマイクロコントローラ３１により検出され
た場合において、欠陥補正位置指定パルスを欠陥補正回
路９に出力するようになされている。シンクジェネレー
タ３６は種々のシンク信号を生成し、タイミングジェネ
レータ３４に出力するとともに、マイクロコントローラ
３１からの指令に対応して所定の画素のデータを抜き取
る、抜取位置指定パルスをデータバス１０に出力し、こ
の指定パルスにより指定した画素データをシフトレジタ
１１を介して、マイクロコントローラ３１に供給させる
ようになされている。
【００１５】次に、図２及び図３のフローチャートを参
照して、その動作について説明する。図１に示すビデオ
カメラを使用すべく操作部３７の所定のスイッチを操作
することにより電源がオンされたとき、マイクロコント
ローラ３１は図２に示す処理を開始する。マイクロコン
トローラ３１は最初にステップＳ１において、アイリス
３を閉じさせる。これにより、ＣＣＤ４には光が全く入
射されない状態となる。次にステップＳ２に進み、欠陥
サーチのサブルーチンの処理を実行する。この欠陥サー
チのサブルーチンの処理の詳細は図３に示してある。
照して、その動作について説明する。図１に示すビデオ
カメラを使用すべく操作部３７の所定のスイッチを操作
することにより電源がオンされたとき、マイクロコント
ローラ３１は図２に示す処理を開始する。マイクロコン
トローラ３１は最初にステップＳ１において、アイリス
３を閉じさせる。これにより、ＣＣＤ４には光が全く入
射されない状態となる。次にステップＳ２に進み、欠陥
サーチのサブルーチンの処理を実行する。この欠陥サー
チのサブルーチンの処理の詳細は図３に示してある。
【００１６】即ち、最初にマイクロコントローラ３１は
内蔵するゾーンカウンタを所定の初期値（例えば１）に
セットする。次にステップＳ１２に進み、ステップＳ１
１でセットしたカウンタの値がゾーンの最終値に達して
いるか否か（１枚の画面のうちの全てのゾーンを判定し
たか否か）を判定する。全てのゾーンの判定が完了して
いる場合においては、ステップＳ２にリターンする。全
てのゾーンの検出処理がまだ完了していない場合におい
てはステップＳ１３に進み、そのゾーン内における画素
データを加算器２３において加算（積分）する。
内蔵するゾーンカウンタを所定の初期値（例えば１）に
セットする。次にステップＳ１２に進み、ステップＳ１
１でセットしたカウンタの値がゾーンの最終値に達して
いるか否か（１枚の画面のうちの全てのゾーンを判定し
たか否か）を判定する。全てのゾーンの判定が完了して
いる場合においては、ステップＳ２にリターンする。全
てのゾーンの検出処理がまだ完了していない場合におい
てはステップＳ１３に進み、そのゾーン内における画素
データを加算器２３において加算（積分）する。
【００１７】即ち、Ａ／Ｄ変換器７から加算器２３に１
画面分のデータがシリアルに順次入力されるのである
が、選択回路２２はマイクロコントローラ３１がシフト
レジスタ２５を介して供給する指令に対応して、この１
画面の内の所定のゾーンを選択し、そのゾーン内の画素
データのみを加算器２３に出力する。図１の実施例にお
いては、１画面が９個のゾーンに区分されており、この
９個のゾーンの内の１つのゾーンの画素データが加算器
２３に供給され、加算されることになる。
画面分のデータがシリアルに順次入力されるのである
が、選択回路２２はマイクロコントローラ３１がシフト
レジスタ２５を介して供給する指令に対応して、この１
画面の内の所定のゾーンを選択し、そのゾーン内の画素
データのみを加算器２３に出力する。図１の実施例にお
いては、１画面が９個のゾーンに区分されており、この
９個のゾーンの内の１つのゾーンの画素データが加算器
２３に供給され、加算されることになる。
【００１８】そして、ステップＳ１３からステップＳ１
４に進み、ステップＳ１３において積分した画素データ
からそのゾーンの画素に欠陥が存在するか否かを判定す
る。即ち、マイクロコントローラ３１は、シフトレジス
タ２４を介して加算器２３が加算した所定のブロックの
加算値（積分値）の供給を受け、この加算値を予め設定
された所定の基準値と比較する。
４に進み、ステップＳ１３において積分した画素データ
からそのゾーンの画素に欠陥が存在するか否かを判定す
る。即ち、マイクロコントローラ３１は、シフトレジス
タ２４を介して加算器２３が加算した所定のブロックの
加算値（積分値）の供給を受け、この加算値を予め設定
された所定の基準値と比較する。
【００１９】上述したように、いまアイリス３を完全に
閉じた状態にしているため、ＣＣＤ４が出力する画像デ
ータのレベルは実質的に０に近いものとなる。しかしな
がら、このＣＣＤ４に欠陥があるとその出力レベルは０
にはならない。その結果、そのゾーン内に欠陥が無い場
合においては、加算値は予め設定した基準値より小さい
値となるが、欠陥がある場合においては基準値より大き
くなる。マイクロコントローラ３１はこの判定を行う。
閉じた状態にしているため、ＣＣＤ４が出力する画像デ
ータのレベルは実質的に０に近いものとなる。しかしな
がら、このＣＣＤ４に欠陥があるとその出力レベルは０
にはならない。その結果、そのゾーン内に欠陥が無い場
合においては、加算値は予め設定した基準値より小さい
値となるが、欠陥がある場合においては基準値より大き
くなる。マイクロコントローラ３１はこの判定を行う。
【００２０】そして、欠陥が存在しないと判定された場
合においては、ステップＳ１５に進み、ゾーンカウンタ
を例えば１だけインクリメントしてステップＳ１１に戻
り、それ以降の処理を繰り返す。即ち、例えば図１にお
いて番号１で示すゾーンに欠陥が存在しない場合におい
ては、番号２で示すゾーンの処理に以降する。そして、
番号２で示すゾーンに欠陥が存在しない場合において
は、番号３で示すゾーンの処理に以降する。
合においては、ステップＳ１５に進み、ゾーンカウンタ
を例えば１だけインクリメントしてステップＳ１１に戻
り、それ以降の処理を繰り返す。即ち、例えば図１にお
いて番号１で示すゾーンに欠陥が存在しない場合におい
ては、番号２で示すゾーンの処理に以降する。そして、
番号２で示すゾーンに欠陥が存在しない場合において
は、番号３で示すゾーンの処理に以降する。
【００２１】ステップＳ１４において、いま対象として
るゾーンに欠陥があると判定された場合においてはステ
ップＳ１６に進み、Ｈカウンタを所定の値にセットす
る。さらにステップＳ１７に進み、Ｖカウンタを所定の
値にセットする。そして、ステップＳ１８において、ス
テップＳ１６とＳ１７で設定したＨカウンタとＶカウン
タにより特定される画素データを抜き出す処理を実行す
る。これにより、信号処理回路８のデータバス１０に保
持されている所定のデータが、シフトレジスタ１１を介
してマイクロコントローラ３１に供給される。
るゾーンに欠陥があると判定された場合においてはステ
ップＳ１６に進み、Ｈカウンタを所定の値にセットす
る。さらにステップＳ１７に進み、Ｖカウンタを所定の
値にセットする。そして、ステップＳ１８において、ス
テップＳ１６とＳ１７で設定したＨカウンタとＶカウン
タにより特定される画素データを抜き出す処理を実行す
る。これにより、信号処理回路８のデータバス１０に保
持されている所定のデータが、シフトレジスタ１１を介
してマイクロコントローラ３１に供給される。
【００２２】マイクロコントローラ３１は、この所定の
画素のレベルを予め設定された所定の基準値と比較し、
そのレベルが基準値より大きいとき欠陥があると判定
し、小さいとき欠陥がないと判定する。欠陥がない場合
においてはステップＳ２０に進み、Ｈカウンタを１つだ
けインクリメントする。そして、更にステップＳ２１に
進み、Ｖカウンタを１だけインクリメントする。そし
て、再びステップＳ１６に進み、それ以降の処理を繰り
返す。その結果、次の画素に欠陥がある否かが判定され
ることになる。
画素のレベルを予め設定された所定の基準値と比較し、
そのレベルが基準値より大きいとき欠陥があると判定
し、小さいとき欠陥がないと判定する。欠陥がない場合
においてはステップＳ２０に進み、Ｈカウンタを１つだ
けインクリメントする。そして、更にステップＳ２１に
進み、Ｖカウンタを１だけインクリメントする。そし
て、再びステップＳ１６に進み、それ以降の処理を繰り
返す。その結果、次の画素に欠陥がある否かが判定され
ることになる。
【００２３】即ち、マイクロコントローラ３１は加算器
２３において、積分したゾーンに欠陥があると判定した
場合においては、シンクジェネレータ３６を介してデー
タバス１０に抜取位置指定パルスを供給し、対象とする
ゾーンの画素データを１個ずつシフトレジスタ１１を介
して読み出す動作を繰り返す。信号処理回路８において
は、Ａ／Ｄ変換器７より各画素データがシリアルに入力
される。従って、信号処理回路８は１フィールドにおい
て、１個の画素データしかマイクロコントローラ３１に
供給することができない。そこで、各ゾーン内の画素の
個数分のフィールド数の時間をかけて、そのゾーンに含
まれる画素データを読出し、その欠陥の有無を判定する
ことになる。
２３において、積分したゾーンに欠陥があると判定した
場合においては、シンクジェネレータ３６を介してデー
タバス１０に抜取位置指定パルスを供給し、対象とする
ゾーンの画素データを１個ずつシフトレジスタ１１を介
して読み出す動作を繰り返す。信号処理回路８において
は、Ａ／Ｄ変換器７より各画素データがシリアルに入力
される。従って、信号処理回路８は１フィールドにおい
て、１個の画素データしかマイクロコントローラ３１に
供給することができない。そこで、各ゾーン内の画素の
個数分のフィールド数の時間をかけて、そのゾーンに含
まれる画素データを読出し、その欠陥の有無を判定する
ことになる。
【００２４】この実施例においては、このように信号処
理回路８から読み出すことができる画素データの数は、
１フィールドについて１個のみとなる。そこで、上述し
たように１画面を複数のゾーンに区分し、各ゾーン毎に
予め欠陥があるか否かを判定することにより、欠陥があ
ると判定されたゾーンについてのみ１画素毎に、その位
置を判定するようにしているのである。このようにする
ことにより、１画面をゾーンに区分せずに各画素データ
を順次読み出して、欠陥の有無を判定するようにする場
合に比べて、迅速な処理が可能となる。
理回路８から読み出すことができる画素データの数は、
１フィールドについて１個のみとなる。そこで、上述し
たように１画面を複数のゾーンに区分し、各ゾーン毎に
予め欠陥があるか否かを判定することにより、欠陥があ
ると判定されたゾーンについてのみ１画素毎に、その位
置を判定するようにしているのである。このようにする
ことにより、１画面をゾーンに区分せずに各画素データ
を順次読み出して、欠陥の有無を判定するようにする場
合に比べて、迅速な処理が可能となる。
【００２５】ステップＳ１９において、いま読み取った
１つの画素に欠陥があると判定された場合においては、
ステップＳ２に戻る。そして、この欠陥が検出された場
合においては更にステップＳ３に進み、欠陥補正の処理
が実行される。即ち、マイクロコントローラ３１は欠陥
があると判定された画素を、内蔵するＲＡＭ３１ａに記
憶するとともに、タイミングジェネレータ３４を制御
し、欠陥があると判定された画素を指定する欠陥補正位
置指定パルスを欠陥補正回路９に供給させる。欠陥補正
回路９はこの指定パルスが入力されたとき、その指定パ
ルスにより指定される位置の画素データを１個前の画素
データで補完して出力する。
１つの画素に欠陥があると判定された場合においては、
ステップＳ２に戻る。そして、この欠陥が検出された場
合においては更にステップＳ３に進み、欠陥補正の処理
が実行される。即ち、マイクロコントローラ３１は欠陥
があると判定された画素を、内蔵するＲＡＭ３１ａに記
憶するとともに、タイミングジェネレータ３４を制御
し、欠陥があると判定された画素を指定する欠陥補正位
置指定パルスを欠陥補正回路９に供給させる。欠陥補正
回路９はこの指定パルスが入力されたとき、その指定パ
ルスにより指定される位置の画素データを１個前の画素
データで補完して出力する。
【００２６】次にステップＳ３からＳ４に進み、チェッ
ク動作が行われる。即ち、マイクロコントローラ３１は
シンクジェネレータ３６を介してデータバス１０に、い
ま欠陥が検出されたゾーンの画素データを再び選択させ
る。そして、その値を再び基準値と比較し、欠陥がある
か否かを判定する。まだ、欠陥があると判定された場合
においてはステップＳ５に進み、タイマチェックを行
う。そして、ステップＳ６に進み、電源をオンした後、
予め設定した時間がまだ経過していない場合において
は、ステップＳ２に進み、それ以降の処理を繰り返す。
即ち、電源をオンした後、予め設定した時間が経過する
まで、欠陥の補正処理が繰り返し実行される。
ク動作が行われる。即ち、マイクロコントローラ３１は
シンクジェネレータ３６を介してデータバス１０に、い
ま欠陥が検出されたゾーンの画素データを再び選択させ
る。そして、その値を再び基準値と比較し、欠陥がある
か否かを判定する。まだ、欠陥があると判定された場合
においてはステップＳ５に進み、タイマチェックを行
う。そして、ステップＳ６に進み、電源をオンした後、
予め設定した時間がまだ経過していない場合において
は、ステップＳ２に進み、それ以降の処理を繰り返す。
即ち、電源をオンした後、予め設定した時間が経過する
まで、欠陥の補正処理が繰り返し実行される。
【００２７】ステップＳ４においてチェックした結果、
欠陥が補正されている判定された場合、およびステップ
Ｓ６において、予め設定した時間が経過したと判定され
た場合、次のステップＳ７に進み、アイリス３を開放さ
せ、補正処理動作を終了させる。
欠陥が補正されている判定された場合、およびステップ
Ｓ６において、予め設定した時間が経過したと判定され
た場合、次のステップＳ７に進み、アイリス３を開放さ
せ、補正処理動作を終了させる。
【００２８】尚、以上においては１画面（１フィール
ド）の画像データを複数のゾーンに分割し、各ゾーン毎
に欠陥の有無を判定するようにしたが、例えば１画面全
体の画素データを全て加算（積分）し、これを所定の基
準値と比較して、その比較結果に対応して更に細かい検
出処理を行うようにすることもできる。このようにすれ
ば、欠陥が存在しない場合においては、速やかに処理を
完了することができる。
ド）の画像データを複数のゾーンに分割し、各ゾーン毎
に欠陥の有無を判定するようにしたが、例えば１画面全
体の画素データを全て加算（積分）し、これを所定の基
準値と比較して、その比較結果に対応して更に細かい検
出処理を行うようにすることもできる。このようにすれ
ば、欠陥が存在しない場合においては、速やかに処理を
完了することができる。
【００２９】図４は本発明の第２実施例の構成を示して
いる。この実施例においては、信号処理回路８が、信号
処理部５０と欠陥検出部６０により構成されている。信
号処理部５０は、欠陥補正回路９とデータバス１０以外
に、Ａ／Ｄ変換器７より入力されたデータを所定時間遅
延して欠陥補正回路９に供給する遅延回路５１と、欠陥
検出部６０より欠陥検出信号が入力されたとき、タイミ
ングジェネレータ３４より供給されるそのときの位置デ
ータを記憶するＲＡＭ５２を備えている。また、欠陥検
出部６０はＡ／Ｄ変換器７より供給されるデータと、マ
イクロコントローラ３１よりシフトレジスタ６２を介し
て供給される基準値とを比較する比較器６１を有してい
る。
いる。この実施例においては、信号処理回路８が、信号
処理部５０と欠陥検出部６０により構成されている。信
号処理部５０は、欠陥補正回路９とデータバス１０以外
に、Ａ／Ｄ変換器７より入力されたデータを所定時間遅
延して欠陥補正回路９に供給する遅延回路５１と、欠陥
検出部６０より欠陥検出信号が入力されたとき、タイミ
ングジェネレータ３４より供給されるそのときの位置デ
ータを記憶するＲＡＭ５２を備えている。また、欠陥検
出部６０はＡ／Ｄ変換器７より供給されるデータと、マ
イクロコントローラ３１よりシフトレジスタ６２を介し
て供給される基準値とを比較する比較器６１を有してい
る。
【００３０】その他の構成は、図１の実施例における場
合と同様である。
合と同様である。
【００３１】次に図５のフローチャートを参照して、そ
の動作について説明する。この処理も電源がオンされる
と開始される。最初にステップＳ３１において、マイク
ロコントローラ３１は増幅器３２を介してモータ３３を
制御し、アイリス３を閉じさせる。次にステップＳ３２
に進み、シフトレジスタ６２を介して比較回路６１の一
方の入力に所定の基準値をセットさせる。さらにステッ
プＳ３３に進み、自動欠陥補正モードを設定させる。即
ち、通常の画像が出力されるモードにおいて欠陥補正処
理が実行されると、欠陥のない画素が欠陥があると誤判
定されるおそれがある。そこで、欠陥を検出するための
特別のモードを設定するようにする。
の動作について説明する。この処理も電源がオンされる
と開始される。最初にステップＳ３１において、マイク
ロコントローラ３１は増幅器３２を介してモータ３３を
制御し、アイリス３を閉じさせる。次にステップＳ３２
に進み、シフトレジスタ６２を介して比較回路６１の一
方の入力に所定の基準値をセットさせる。さらにステッ
プＳ３３に進み、自動欠陥補正モードを設定させる。即
ち、通常の画像が出力されるモードにおいて欠陥補正処
理が実行されると、欠陥のない画素が欠陥があると誤判
定されるおそれがある。そこで、欠陥を検出するための
特別のモードを設定するようにする。
【００３２】次にステップＳ３４に進み、電子シャッタ
３５の速度を所定の時間（比較的高速な時間）にセット
させ、かつリアルタイムの補正処理を実行させる。即
ち、マイクロコントローラ３１はタイミングジェネレー
タ３４を介して電子シャッタ３５を制御し、電子シャッ
タ３５に比較的高速の動作（露光時間を短かくする動
作）を実行させる。電子シャッタ３５を比較的短い露光
時間になるように制御した方が、ＣＣＤ４の出力から欠
陥を検出し易くなることが、実験の結果、確認された。
３５の速度を所定の時間（比較的高速な時間）にセット
させ、かつリアルタイムの補正処理を実行させる。即
ち、マイクロコントローラ３１はタイミングジェネレー
タ３４を介して電子シャッタ３５を制御し、電子シャッ
タ３５に比較的高速の動作（露光時間を短かくする動
作）を実行させる。電子シャッタ３５を比較的短い露光
時間になるように制御した方が、ＣＣＤ４の出力から欠
陥を検出し易くなることが、実験の結果、確認された。
【００３３】一方、ステップＳ３４においては更にリア
ルタイムで欠陥補正動作が実行される。即ち、Ａ／Ｄ変
換器７が出力するデータが比較回路６１において、シフ
トレジスタ６２を介して設定した基準値（この基準値は
ステップＳ３２において設定されている）と比較され
る。
ルタイムで欠陥補正動作が実行される。即ち、Ａ／Ｄ変
換器７が出力するデータが比較回路６１において、シフ
トレジスタ６２を介して設定した基準値（この基準値は
ステップＳ３２において設定されている）と比較され
る。
【００３４】上述したように、欠陥がある画素のデータ
は、そのレベルが基準値より大きくなっている。ＲＡＭ
５２は、比較回路６１より欠陥が存在することを示す検
出信号が入力されたとき、それに対応する位置をタイミ
ングジェネレータ３４が出力する位置データから判定
し、その位置データを記憶する。遅延回路５１は欠陥の
検出に必要な処理時間だけＡ／Ｄ変換器７より出力され
たデータを遅延した後、欠陥補正回路９に出力する。欠
陥補正回路９はＲＡＭ５２より補正を行うべきタイミン
グ信号が供給されたとき、遅延回路５１より入力された
画素データを１つ前の画素データで保管し、データバス
１０に出力する。
は、そのレベルが基準値より大きくなっている。ＲＡＭ
５２は、比較回路６１より欠陥が存在することを示す検
出信号が入力されたとき、それに対応する位置をタイミ
ングジェネレータ３４が出力する位置データから判定
し、その位置データを記憶する。遅延回路５１は欠陥の
検出に必要な処理時間だけＡ／Ｄ変換器７より出力され
たデータを遅延した後、欠陥補正回路９に出力する。欠
陥補正回路９はＲＡＭ５２より補正を行うべきタイミン
グ信号が供給されたとき、遅延回路５１より入力された
画素データを１つ前の画素データで保管し、データバス
１０に出力する。
【００３５】このように、この実施例においては、ＣＣ
Ｄ４より読み出された画素データが１画素毎に、リアル
タイムで欠陥があれば補正されるようになされているた
め、ＣＣＤ４の全画素データについての判定が１回行わ
れたとき補正処理が完了することになる。即ち、この実
施例においては１フィールドの読み出し時間で補正処理
が完了することになる。
Ｄ４より読み出された画素データが１画素毎に、リアル
タイムで欠陥があれば補正されるようになされているた
め、ＣＣＤ４の全画素データについての判定が１回行わ
れたとき補正処理が完了することになる。即ち、この実
施例においては１フィールドの読み出し時間で補正処理
が完了することになる。
【００３６】このような補正処理が完了したとき、次に
ステップＳ３５に進みアイリス３が開放され、補正処理
動作が終了される。
ステップＳ３５に進みアイリス３が開放され、補正処理
動作が終了される。
【００３７】以上のようにして補正処理が行われた後、
通常のモードに切り換えられ、通常の画像データが出力
されることになる。その結果、例えば欠陥のある画素４
ａの画素データは欠陥のない画素データに置き換えられ
て出力されるため、使用者に欠陥が認識されるようなこ
とが防止される。
通常のモードに切り換えられ、通常の画像データが出力
されることになる。その結果、例えば欠陥のある画素４
ａの画素データは欠陥のない画素データに置き換えられ
て出力されるため、使用者に欠陥が認識されるようなこ
とが防止される。
【００３８】この実施例においては、ＲＡＭ５２に補正
位置を記憶させるようにしたが、マイクロコントローラ
３１のＲＡＭ３１ａに記憶させるようにしてもよいこと
は勿論である。
位置を記憶させるようにしたが、マイクロコントローラ
３１のＲＡＭ３１ａに記憶させるようにしてもよいこと
は勿論である。
【００３９】また、以上の２つの実施例においては、電
源をオンした直後に補正処理を実行するようにしたが、
操作部３７に補正処理を開始するとき操作される専用の
スイッチを設けるなどして、このスイッチが操作された
とき補正処理を実行するようにすることも可能である。
但し、電源がオンされたとき自動的に補正処理を実行せ
しめるようにした方が特別の操作が不要となるため、操
作性が良好となる。
源をオンした直後に補正処理を実行するようにしたが、
操作部３７に補正処理を開始するとき操作される専用の
スイッチを設けるなどして、このスイッチが操作された
とき補正処理を実行するようにすることも可能である。
但し、電源がオンされたとき自動的に補正処理を実行せ
しめるようにした方が特別の操作が不要となるため、操
作性が良好となる。
【００４０】
【発明の効果】以上の如く本発明の撮像装置によれば、
撮像手段の各画素毎の欠陥を検出し、その検出結果に対
応して画素データを補正するようにしたので、工場出荷
時における補正処理が不要となる。
撮像手段の各画素毎の欠陥を検出し、その検出結果に対
応して画素データを補正するようにしたので、工場出荷
時における補正処理が不要となる。
【図１】本発明の撮像装置を応用したビデオカメラの一
実施例の構成を示すブロック図である。
実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の実施例の動作を説明するフローチャート
である。
である。
【図３】図２のステップＳ２の詳細な処理を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図４】本発明の撮像装置を応用したビデオカメラの第
２の実施例の構成を示すブロック図である。
２の実施例の構成を示すブロック図である。
【図５】図４の実施例の動作を説明するフローチャート
である。
である。
３ アイリス ４ ＣＣＤ ８ 信号処理回路 ９ 欠陥補正回路 １０ データバス １１ シフトレジスタ ２１ ゾーン検出回路 ２２ 選択回路 ２３ 加算器 ３１ マイクロコントローラ ３４ タイミングジェネレータ ３５ 電子シャッタ ３７ 操作部 ５０ 信号処理部 ６０ 欠陥検出部 ６１ 比較回路 ６２ シフトレジスタ
Claims (4)
- 【請求項１】 被写体の画像データを画素毎に出力する
撮像手段と、 前記撮像手段の出力より前記撮像手段の各画素毎の欠陥
を検出する検出手段と、 前記検出手段の検出結果に対応して、前記撮像手段より
出力された画像データを補正する補正手段とを備えるこ
とを特徴とする撮像装置。 - 【請求項２】 電源をオンするとき操作される操作手段
をさらに備え、 前記検出手段は、前記操作手段により前記電源がオンさ
れる毎に、前記撮像手段の各画素毎の欠陥を検出するこ
とを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。 - 【請求項３】 前記撮像手段に入射される光の光量を制
御する制御手段をさらに備え、 前記検出手段により、前記撮像手段の各画素毎の欠陥を
検出するとき、前記制御手段は、前記撮像手段に光を実
質的に入射させないことを特徴とする請求項１または２
に記載の撮像装置。 - 【請求項４】 前記撮像手段に光が入射する時間を制御
するシャッタ手段をさらに備え、 前記検出手段により、前記撮像手段の各画素毎の欠陥を
検出するとき、前記シャッタ手段は、前記撮像手段に光
が入射される時間を所定の時間に制限することを特徴と
する請求項１，２または３に記載の撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4213397A JPH0638113A (ja) | 1992-07-17 | 1992-07-17 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4213397A JPH0638113A (ja) | 1992-07-17 | 1992-07-17 | 撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0638113A true JPH0638113A (ja) | 1994-02-10 |
Family
ID=16638537
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4213397A Pending JPH0638113A (ja) | 1992-07-17 | 1992-07-17 | 撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0638113A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030005009A (ko) * | 2001-07-06 | 2003-01-15 | 산요 덴키 가부시키가이샤 | 화상 데이터의 수정 방법 및 화상 신호 처리 장치 |
| JP2007088616A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Seiko Epson Corp | 画像読み取り装置及びその原稿ホルダ |
| US7224395B2 (en) | 2001-03-01 | 2007-05-29 | Olympus Optical Co., Ltd. | Camera having a shutter to cut reverse-incident light from the eyepiece lens |
| US7365783B2 (en) | 2001-03-16 | 2008-04-29 | Olympus Corporation | Image pickup apparatus which stores initial defect data concerning image pickup device and data on later developed defects |
| US7853097B2 (en) | 2002-12-27 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
-
1992
- 1992-07-17 JP JP4213397A patent/JPH0638113A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7224395B2 (en) | 2001-03-01 | 2007-05-29 | Olympus Optical Co., Ltd. | Camera having a shutter to cut reverse-incident light from the eyepiece lens |
| US7365783B2 (en) | 2001-03-16 | 2008-04-29 | Olympus Corporation | Image pickup apparatus which stores initial defect data concerning image pickup device and data on later developed defects |
| US7557841B2 (en) | 2001-03-16 | 2009-07-07 | Olympus Corporation | Imaging apparatus that detects pixel defect of an imaging element and imaging method |
| KR20030005009A (ko) * | 2001-07-06 | 2003-01-15 | 산요 덴키 가부시키가이샤 | 화상 데이터의 수정 방법 및 화상 신호 처리 장치 |
| US7853097B2 (en) | 2002-12-27 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| US8031968B2 (en) | 2002-12-27 | 2011-10-04 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| US8369651B2 (en) | 2002-12-27 | 2013-02-05 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| JP2007088616A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Seiko Epson Corp | 画像読み取り装置及びその原稿ホルダ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010406 |