JPH0636008B2 - Printed circuit board test method - Google Patents

Printed circuit board test method

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JPH0636008B2
JPH0636008B2 JP62040615A JP4061587A JPH0636008B2 JP H0636008 B2 JPH0636008 B2 JP H0636008B2 JP 62040615 A JP62040615 A JP 62040615A JP 4061587 A JP4061587 A JP 4061587A JP H0636008 B2 JPH0636008 B2 JP H0636008B2
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JP
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printed circuit
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data
test
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明美 皆川
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Fujitsu Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 プリント基板におけるネット毎のパターンを試験する方
法において、不均一格子のプリント基板を試験する際,
無駄な労力と,多くの時間を要すると云う問題を解決す
る為に、該プリント基板の全てのネットパターンデータ
の内から、各ネット毎の試験データに対して、例えば、
ショートする可能性のある近接パターンデータを抽出
し、該抽出されたネットについてのみ、例えば、2点試
験方法で試験するようにしたものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Outline] In a method of testing a pattern for each net on a printed circuit board, when testing a printed circuit board having a non-uniform grid,
In order to solve the problem of wasteful labor and a lot of time, test data for each net is selected from among all net pattern data of the printed circuit board, for example,
The proximity pattern data that may cause a short circuit is extracted, and only the extracted net is tested by, for example, a two-point test method.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、プリント基板の試験方法に関する。 The present invention relates to a printed circuit board test method.

一般に、プリント基板の試験は、該プリント基板に印刷
配線されているパターンが、正しく配線されているか否
かとか,パターン同志に短絡(ショート)している所が
ないかをチェックするものである。
Generally, the test of the printed circuit board is to check whether or not the pattern printed and wired on the printed circuit board is properly wired and whether or not there is a short circuit between the patterns.

所で、最近の電子部品の多様化に伴い、端子の寸法規格
も多様化して、各種の寸法の部品を搭載することが多く
なっており、グリッド格子も不均一なものが多くなって
くる動向にある。
However, with the recent diversification of electronic components, the dimensional standards of terminals have also diversified, and components with various sizes are often mounted, and the grid grid tends to be uneven. It is in.

又、最近の計算機システムの大規模化に起因する高密度
実装化に伴って、均一なグリッド格子以外のホールが生
成される動向にある。
In addition, with the recent trend toward large-scale computer systems and high-density packaging, holes other than uniform grid grids are being generated.

従って、該不均一なグリッド格子のプリント基板の試験
が手作業で行われると、多くの時間と労力を要する為、
短時間でできるプリント基板試験方法が必要とされる。
Therefore, if the test of the printed circuit board of the non-uniform grid grid is manually performed, it takes a lot of time and labor,
A printed circuit board test method that can be performed in a short time is required.

又、不均一であっても、2点のグリッド端子をあたるこ
とができるプリント基板試験機の作成は可能であるが、
該試験機で上記短絡チェックを完全に行う為には、全て
のネットの組み合わせを行わなくてはならず,膨大な時
間が必要となる為、不均一なグリッド格子を持つプリン
ト基板に対して、効果的に短絡試験ができる試験方法が
待たれるようになってきた。
In addition, it is possible to create a printed circuit board tester that can hit two grid terminals even if they are uneven.
In order to perform the above-mentioned short circuit check completely with the tester, it is necessary to combine all the nets, which requires a huge amount of time. Therefore, for a printed circuit board having a non-uniform grid grid, A test method capable of effectively performing a short circuit test has come to be awaited.

〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by conventional technology and invention]

第4図は従来のプリント基板試験方法を説明する図であ
り、(a) は均一グリッド格子を持つプリント基板の場合
を示し、(b) は不均一なグリッド格子を持つプリント基
板の場合を示している。
FIG. 4 is a diagram for explaining a conventional printed circuit board test method, (a) shows a case of a printed circuit board having a uniform grid grid, and (b) shows a case of a printed circuit board having a non-uniform grid grid. ing.

先ず、 (a)図に示すように、グリッド格子が100 milの
正方形のように均一な格子を持っているプリント基板に
おいては、例えば、‘剣山’のような均一のプロービン
グ端子で、全てのグリッド格子(例えば、図示の〜
)を同時にプロービングして試験していた。
First, as shown in Figure (a), if the grid grid has a uniform grid such as a 100 mil square grid, for example, with a uniform probing terminal such as'Kenzan ', all grids Lattice (e.g.
) Was being probed and tested at the same time.

然し、 (b)図に示すような不均一な格子のプリント基板
では、均一のプロービング端子による試験ができない
為、例えば、手作業で試験していた。
However, a printed circuit board having a non-uniform grid as shown in Fig. (B) cannot be tested with a uniform probing terminal, so that it was manually tested, for example.

従って、(a) のケースでは、同時にプロービングできる
ような‘フィクスチャ’(均一試験端子盤)を、プリン
ト基板のサイズ毎に作成する必要があり、非常に多くの
コスト,時間がかかると云う問題があった。
Therefore, in the case of (a), it is necessary to create a “fixture” (uniform test terminal board) that can be probed at the same time for each size of the printed circuit board, which is very costly and time consuming. was there.

この為、例えば、2点毎にプロービングする試験機が知
られているが、前述のネットの短絡(ショート)を検査
する為には、 (b)図に示すように、全てのネットの組み
合わせを試験する必要があり、非常に時間がかかると云
う問題があった。
For this reason, for example, a tester that probing every two points is known, but in order to inspect the above-mentioned net short-circuit (short circuit), all the net combinations as shown in FIG. There was a problem that it needed to be tested and was very time consuming.

本発明は上記従来の欠点に鑑み、プリント基板試験方法
において、試験時間を短縮できる効率的な試験方法を提
供することを目的とするものである。
In view of the above-mentioned conventional drawbacks, the present invention has an object to provide an efficient test method in a printed circuit board test method that can shorten the test time.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

第1図は、本発明のプリント基板試験方法の構成を示す
処理の流れ図でる。
FIG. 1 is a flow chart of processing showing the configuration of the printed circuit board testing method of the present invention.

本発明においては、 プリント基板におけるネット毎のパターンを試験する方
法であって、 該プリント基板の全てのネットパターンデータの内か
ら、各ネット毎の試験データに対して、近接するネット
パターンデータを抽出する手段 32,33を設け、 該手段 32,33によって抽出されたネットパターンについ
てのみ、試験するように構成する。
In the present invention, a method for testing a pattern for each net on a printed circuit board, in which net pattern data adjacent to the test data for each net is extracted from all net pattern data for the printed circuit board Means 32, 33 are provided, and only the net pattern extracted by the means 32, 33 is tested.

〔作用〕[Action]

即ち、本発明によれば、プリント基板におけるネット毎
のパターンを試験する方法において、不均一格子のプリ
ント基板を試験する際,無駄な労力と,多くの時間を要
すると云う問題を解決する為に、該プリント基板の全て
のネットパターンデータの内から、各ネット毎の試験デ
ータに対して、例えば、ショートする可能性のある近接
パターンデータを抽出し、該抽出されたネットについて
のみ、例えば、2点試験方法で試験するようにしたもの
であるので、試験データからかなり離れている‘ビ
ア’,‘パターン’等で試験する必要がなく、プリント
基板をチェックするのに要する時間が短縮されると共
に、プリント基板毎にチェックする為の‘フィクスチ
ャ’を作成する必要がなくなる効果がある。
That is, according to the present invention, in a method of testing a pattern for each net on a printed circuit board, in order to solve the problem that it takes a lot of time and labor when testing a printed circuit board having a non-uniform grid. , Out of all the net pattern data on the printed circuit board, for example, proximity pattern data that may cause a short circuit is extracted from the test data for each net, and only the extracted nets, for example, 2 Since the point test method is used, there is no need to test with'vias', 'patterns', etc. that are far from the test data, and the time required to check the printed circuit board is shortened. This has the effect of eliminating the need to create a'fixture 'for checking each printed circuit board.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明の実施例を図面によって詳述する。 Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

前述の第1図が本発明のプリント基板試験方法の構成を
示す流れ図であり、第2図はプリント基板試験システム
の構成例を示した図であり、第3図は本発明のプリント
基板試験方法の具体例を示した図であり、第1図におけ
るステップ 32,33が本発明を実施するのに必要な手段で
ある。尚、全図を通して同じ符号は同じ対象物を示して
いる。
The aforementioned FIG. 1 is a flow chart showing the configuration of the printed circuit board test method of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of the printed circuit board test system, and FIG. 3 is the printed circuit board test method of the present invention. Is a diagram showing a concrete example of the above, and steps 32 and 33 in FIG. 1 are means necessary for carrying out the present invention. The same reference numerals indicate the same objects throughout the drawings.

以下、第1図〜第3図によって、本発明のプリント基板
試験方法を説明する。
The printed circuit board testing method of the present invention will be described below with reference to FIGS.

先ず、第2図において、中央処理部(CPU) 1が主記憶装
置(MS)2上にローディングされている「プリント基板試
験システム」21を実行することにより、ファイルメモリ
(FM)3に構築されているデータベース(DB)から、試験対
象のプリント基板の配線パターンデータを主記憶装置(M
S)2上の特定領域(プリント基板データ領域)22にプリ
ント基板データとして展開し、その中から試験対象デー
タを、第1図のステップ 32,33によってチェックデータ
領域 23 に抽出し、該チェックデータに基づいて、2点
試験機4を起動し、本発明のプリント基板の試験を行
う。
First, in FIG. 2, the central processing unit (CPU) 1 executes the “printed circuit board test system” 21 loaded on the main memory device (MS) 2 to obtain a file memory.
From the database (DB) built in (FM) 3, the wiring pattern data of the printed circuit board to be tested is stored in the main memory (M
S) The data is expanded as a printed circuit board data in a specific area (printed circuit board data area) 22 on 2 and the data to be tested is extracted into the check data area 23 by steps 32 and 33 in FIG. Based on the above, the two-point tester 4 is activated to test the printed circuit board of the present invention.

以下、第1図によって、本発明のチェックデータ抽出方
法を説明する。
The check data extracting method of the present invention will be described below with reference to FIG.

ステップ 30 :前述のプリント基板データベース(DB)か
ら、1ネットを構成するパターン,及びビア(ホール)
データを収集する。
Step 30: From the printed circuit board database (DB) described above, patterns and vias (holes) that make up one net.
Collect data.

ここで、‘ネット’とは、常に同電位となる,互いに接
続されたパターン,及びホールデータの群を指す。
Here, the'net 'refers to a group of patterns and hole data that are always connected to each other and have the same potential.

ステップ 31 :ステップ 30 で収集したネットの接続を
チェックする為のチェックデータを作成する。
Step 31: Create check data for checking the net connection collected in step 30.

ステップ 32 :上記ネットのパターン,又はホールに隣
接する他のネットのパターン,及びホールデータを集め
る。
Step 32: Collect the pattern of the above net, or the pattern of another net adjacent to the hole, and hole data.

通常、パターン,及びホールデータは、主記憶装置(MS)
2上のプリント基板データ領域 22 {第2図参照}に、
各ネット毎に、順序付けされた領域に、例えば、端点座
標データと,線幅データ群として格納されているので、
あるネットのデータに対して近接している領域に格納さ
れているネットデータを選択し、該選択したデータにつ
いて、相互の距離を計算することにより、近接ネットを
抽出することができる。
Normally, the pattern and hole data are stored in the main memory (MS).
In the printed circuit board data area 22 (see FIG. 2) on 2,
Since, for example, end point coordinate data and a line width data group are stored in an ordered area for each net,
By selecting the net data stored in the area close to the data of a certain net and calculating the mutual distance with respect to the selected data, the close net can be extracted.

ステップ 33 :ステップ 32 で抽出したネットに対し
て、隣接ショートをチェックする為のチェックデータを
作成して、第2図のチェックデータ領域 23 に格納す
る。
Step 33: For the net extracted in Step 32, check data for checking adjacent shorts is created and stored in the check data area 23 of FIG.

ステップ 34 :当該ネットを構成している全てのパター
ン,及びホールについて、上記ステップ32,33 の処理を
したかどうかを調べ、残っているパターン,又はホール
がある場合には、ステップ32に戻るが、全て完了してい
る場合には、次のステップ 35 に移る。
Step 34: It is checked whether or not the above steps 32 and 33 have been performed for all the patterns and holes forming the net, and if there are remaining patterns or holes, the process returns to step 32. , If all are completed, move to next step 35.

ステップ 35 :当該プリント基板に存在する全てのネッ
トを処理したかどうかを見て、終了していない時には、
ステップ 30 に戻るが、終了している場合には次のステ
ップに移る。
Step 35: Check whether all the nets existing on the printed circuit board have been processed, and when not finished,
Return to step 30, but if completed, proceed to the next step.

ステップ 36 :前述のチェックデータ領域 23 に格納さ
れているチェックデータについて、重複しているチェッ
クデータの一方を削除して、無駄のないチェックデータ
を作成する。
Step 36: With respect to the check data stored in the above-mentioned check data area 23, one of the duplicate check data is deleted to create lean check data.

上記ステップ 30 〜36で生成されたチェックデータにつ
いて、前述の2点試験機 4で本発明のプリント基板試験
を行う。
The printed circuit board test of the present invention is performed on the check data generated in steps 30 to 36 by the above-described two-point tester 4.

上記、ステップ 32,33で抽出されたチェックデータの具
体例を、第3図によって説明する。
A specific example of the check data extracted in steps 32 and 33 will be described with reference to FIG.

本図において、ホール,,を結ぶ1つのネットに
対して、ホール,に属する近接ネットが上記のステ
ップ 32,33で抽出され、ホール,に属するネットは
抽出されない。
In the figure, for one net connecting holes ,, the adjacent nets belonging to the hole are extracted in the above steps 32 and 33, and the nets belonging to the hole are not extracted.

このチェックデータについて、2点試験機 4で試験する
場合、先ず、ホール,,を結ぶネットが正常に繋
がっていることを試験する為に、,間,及び,
間をプロービングしてチェックする。
When testing this check data with a two-point testing machine 4, first, to test that the net connecting the holes ,, is normally connected ,,,, and
Check the space by probing.

次に、ショートをチェックする為に選択されたネットの
内、ショートする危険のある点に近いプロービング端子
(例えば、−,−)を選び出して、該ショート
チェックを行う。
Next, a probing terminal (for example,-,-) near a point at which there is a risk of short-circuiting is selected from the nets selected for checking the short-circuiting, and the short-circuiting is checked.

従来は、第4図 (b)に示すように、全てのネットとショ
ートチェックを行っていた為、チェック回数が膨大にな
っていた。
Conventionally, as shown in Fig. 4 (b), short checks were performed on all nets, so the number of checks was enormous.

このように、本発明は、プリント基板の設計データよ
り、試験しようとしているネットに近接しているネット
のみを抽出して、2点試験のチェックデータを生成し、
例えば、前述の2点試験機で試験するようにした所に特
徴がある。
As described above, the present invention extracts only the nets that are close to the net to be tested from the design data of the printed circuit board to generate the check data for the two-point test,
For example, it is characterized in that it is tested by the above-mentioned two-point tester.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上、詳細に説明したように、本発明のプリント基板チ
ェック方法は、プリント基板におけるネット毎のパター
ンを試験する方法において、不均一格子のプリント基板
を試験する際,無駄な労力と,多くの時間を要すると云
う問題を解決する為に、該プリント基板の全てのネット
パターンデータの内から、各ネット毎の試験データに対
して、例えば、ショートする可能性のある近接パターン
データを抽出し、該抽出されたネットについてのみ、例
えば、2点試験方法で試験するようにしたものであるの
で、試験データからかなり離れている‘ビア’,‘パタ
ーン’等で試験する必要がなく、プリント基板をチェッ
クするのに要する時間が短縮されると共に、プリント基
板毎にチェックする為の‘フィクスチャ’を作成する必
要がなくなる効果がある。
As described in detail above, the printed circuit board check method of the present invention is a method of testing a pattern for each net on the printed circuit board, and when testing a printed circuit board having a non-uniform grid, a wasteful labor and a lot of time are required. In order to solve the problem of requiring, for all the test pattern data of the printed circuit board, for each test data of each net, for example, the proximity pattern data that may cause a short circuit is extracted, Since only the extracted nets are tested by, for example, the 2-point test method, it is not necessary to test with'vias', 'patterns', etc. that are far away from the test data, and the printed circuit board can be checked. This has the effect of shortening the time required for doing so and eliminating the need to create a "fixture" for checking each printed circuit board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図が本発明のプリント基板試験方法の構成を示す処
理の流れ図, 第2図はプリント基板試験システムの構成例を示した
図, 第3図は本発明のプリント基板試験方法の具体例を示し
た図, 第4図は従来のプリント基板試験方法を説明する図, である。 図面において、 1 は中央処理部(CPU),2 は主記憶装置(MS), 21はプリント基板試験システム, 22はプリント基板データ領域, 23はチェックデータ領域, 3 はファイルメモリ(FM), 4 は2点試験機, 30〜36は処理ステップ,〜はホール, をそれぞれ示す。
FIG. 1 is a flow chart of processing showing a configuration of a printed circuit board test method of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of a printed circuit board test system, and FIG. 3 is a specific example of the printed circuit board test method of the present invention. Fig. 4 and Fig. 4 are diagrams for explaining the conventional printed circuit board test method. In the drawing, 1 is a central processing unit (CPU), 2 is a main memory (MS), 21 is a printed circuit board test system, 22 is a printed circuit board data area, 23 is a check data area, 3 is a file memory (FM), 4 Indicates a 2-point tester, 30 to 36 indicate processing steps, and indicates a hall.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】プリント基板におけるネット毎のパターン
を試験する方法であって、 該プリント基板の全てのネットパターンデータの内か
ら、各ネット毎の試験データに対して、近接するネット
パターンデータを抽出する手段(32,33) を設け、 該手段(32,33) によって抽出されたネットパターンにつ
いてのみ、試験することを特徴とするプリント基板試験
方法。
1. A method for testing a pattern for each net on a printed circuit board, wherein adjacent net pattern data is extracted from all the net pattern data on the printed circuit board for the test data for each net. A printed circuit board test method, characterized in that the means (32, 33) for performing is provided, and only the net pattern extracted by the means (32, 33) is tested.
JP62040615A 1987-02-24 1987-02-24 Printed circuit board test method Expired - Lifetime JPH0636008B2 (en)

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