JPH063283A - 磁気テープの欠陥検査方法及び装置 - Google Patents
磁気テープの欠陥検査方法及び装置Info
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- JPH063283A JPH063283A JP15984592A JP15984592A JPH063283A JP H063283 A JPH063283 A JP H063283A JP 15984592 A JP15984592 A JP 15984592A JP 15984592 A JP15984592 A JP 15984592A JP H063283 A JPH063283 A JP H063283A
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- tape
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気テープの欠陥を検出し、その発生原因の
分析を容易にする。 【構成】 記録手段及び再生手段を有する磁気テープ走
行系にて、磁気テープの再生信号のドロップアウトを電
気的に検出する。ドロップアウトの検出時には、走行中
の磁気テープのドロップアウト検出部位をファイバース
コープカメラ21により拡大撮影する。また、ドロップア
ウト検出部位の近傍へマーカー23によりインク或いは切
欠き等によるマークを付与し、後にドロップアウト検出
部位の位置を肉眼により判別可能にする。
分析を容易にする。 【構成】 記録手段及び再生手段を有する磁気テープ走
行系にて、磁気テープの再生信号のドロップアウトを電
気的に検出する。ドロップアウトの検出時には、走行中
の磁気テープのドロップアウト検出部位をファイバース
コープカメラ21により拡大撮影する。また、ドロップア
ウト検出部位の近傍へマーカー23によりインク或いは切
欠き等によるマークを付与し、後にドロップアウト検出
部位の位置を肉眼により判別可能にする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気記録媒体の１つで
ある磁気テープの欠陥検査方法及び装置に関し、特にド
ロップアウトを検出しその発生原因の分析を容易にする
ことのできる方法及び装置に関する。
ある磁気テープの欠陥検査方法及び装置に関し、特にド
ロップアウトを検出しその発生原因の分析を容易にする
ことのできる方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気テープの欠陥を視覚的に検査しよう
とする場合、例えばＤＡＴの 120分テープにおいて、テ
ープの面積は、約0.23ｍ2 （幅3.83mm×長さ60ｍ）、問
題となる欠陥の大きさは、直径で５μm 以上で、面積で
は20×10-12 ｍ2 となることから、面積比は約1010とな
り、その検出は非常に困難である。 100倍の光学顕微鏡
を用いても、１回の視野が１mm×１mm＝10-6ｍ2 である
ので、欠陥を検査するには、視野の観察が23万回必要で
ある。これでは数千巻ものテープの上の５μm 程度の欠
陥を検査するのは不可能といってよい。
とする場合、例えばＤＡＴの 120分テープにおいて、テ
ープの面積は、約0.23ｍ2 （幅3.83mm×長さ60ｍ）、問
題となる欠陥の大きさは、直径で５μm 以上で、面積で
は20×10-12 ｍ2 となることから、面積比は約1010とな
り、その検出は非常に困難である。 100倍の光学顕微鏡
を用いても、１回の視野が１mm×１mm＝10-6ｍ2 である
ので、欠陥を検査するには、視野の観察が23万回必要で
ある。これでは数千巻ものテープの上の５μm 程度の欠
陥を検査するのは不可能といってよい。
【０００３】このため、磁気テープの欠陥検査に際して
は、磁気テープ（カセットテープ）を検査用のカセット
デッキに入れて、実際にテープ走行させ、電気的にドロ
ップアウトとして検出する方法が用いられている。すな
わち、記録手段及び再生手段を有する磁気テープ走行系
にて一定の信号を記録しつつ再生し、テープ表面の傷や
異物の付着などによる再生信号の欠落であるところのド
ロップアウトを検出するのである。尚、ドロップアウト
の検出レベルは、例えば−16dB，10μsec に設定し、16
dB以上ダウンしている時間が10μsec 以上でドロップ
アウトと検出する。
は、磁気テープ（カセットテープ）を検査用のカセット
デッキに入れて、実際にテープ走行させ、電気的にドロ
ップアウトとして検出する方法が用いられている。すな
わち、記録手段及び再生手段を有する磁気テープ走行系
にて一定の信号を記録しつつ再生し、テープ表面の傷や
異物の付着などによる再生信号の欠落であるところのド
ロップアウトを検出するのである。尚、ドロップアウト
の検出レベルは、例えば−16dB，10μsec に設定し、16
dB以上ダウンしている時間が10μsec 以上でドロップ
アウトと検出する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、磁気テープ
製造上、欠陥の発生を抑える必要があり、そのためには
欠陥の発生原因を分析し、具体的な防止対策を立てる必
要がある。よって、分析のために、ドロップアウト検出
部位についての顕微鏡等による観察や、組成分析のため
の試料作成が必要となる。
製造上、欠陥の発生を抑える必要があり、そのためには
欠陥の発生原因を分析し、具体的な防止対策を立てる必
要がある。よって、分析のために、ドロップアウト検出
部位についての顕微鏡等による観察や、組成分析のため
の試料作成が必要となる。
【０００５】しかしながら、従来においては、磁気テー
プ上のドロップアウトの存在は確認できても、物理的な
位置及び形状を明確にすることは困難であるという問題
点があった。なぜなら、カセットデッキ内ではその走行
メカニズムがカセットからテープをある長さ引き出して
走行させ、カセットを取り出す時にはテープを元に戻す
ため、欠陥の位置がその戻す量だけずれるからである。
プ上のドロップアウトの存在は確認できても、物理的な
位置及び形状を明確にすることは困難であるという問題
点があった。なぜなら、カセットデッキ内ではその走行
メカニズムがカセットからテープをある長さ引き出して
走行させ、カセットを取り出す時にはテープを元に戻す
ため、欠陥の位置がその戻す量だけずれるからである。
【０００６】また、テープ自体が形状的にも電気的にも
数十ｍの長さにわたって均一であり、明確な目印になる
インデックスがテープの始端、終端にしか無く、たとえ
電気的にドロップアウトを見つけても、その位置がどこ
からということになると、テープの始端、終端を使わな
ければならず、その同定が困難である。例えばＤＡＴの
120分テープの場合、テープの長さが約60ｍあり、その
走行方向の中央部にドロップアウトがあった場合、カセ
ットテープにおいてその始端から30ｍも巻き出して同定
する必要があるが、30分も正確に巻き出すことは困難で
ある。
数十ｍの長さにわたって均一であり、明確な目印になる
インデックスがテープの始端、終端にしか無く、たとえ
電気的にドロップアウトを見つけても、その位置がどこ
からということになると、テープの始端、終端を使わな
ければならず、その同定が困難である。例えばＤＡＴの
120分テープの場合、テープの長さが約60ｍあり、その
走行方向の中央部にドロップアウトがあった場合、カセ
ットテープにおいてその始端から30ｍも巻き出して同定
する必要があるが、30分も正確に巻き出すことは困難で
ある。
【０００７】また、ドロップアウトが１つのカセットテ
ープに数個ある場合さらに困難を伴う。１つのドロップ
アウトが見つかった場合において、その組成の分析をす
るためにその部分を切り取って、電子顕微鏡等のサンプ
ルを作るが、１度切り取ってしまえば、他のドロップア
ウトを見つけるためには再度テープをつなぎ合わせてか
ら測定する必要があり、非常に手間がかかり、ドロップ
アウトの発生頻度マップ等を作成するのは困難が伴う。
ープに数個ある場合さらに困難を伴う。１つのドロップ
アウトが見つかった場合において、その組成の分析をす
るためにその部分を切り取って、電子顕微鏡等のサンプ
ルを作るが、１度切り取ってしまえば、他のドロップア
ウトを見つけるためには再度テープをつなぎ合わせてか
ら測定する必要があり、非常に手間がかかり、ドロップ
アウトの発生頻度マップ等を作成するのは困難が伴う。
【０００８】一方、磁気テープ走行系にてドロップアウ
トを測定後、信号が記録された状態の測定済みテープを
現像液として0.01〜 0.1μm のＦｅを主成分とする磁性
流体をヘプタン等の溶媒で希釈したものに浸して磁気現
像を行い、自然乾燥させた後、信号の欠落部分を目視で
探して、手作業でマーキングを行い、この部分を光学顕
微鏡、ＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）又はＴＥＭ（透過型
電子顕微鏡）で拡大観察し、外観からドロップアウトの
原因を判断することも行われている。
トを測定後、信号が記録された状態の測定済みテープを
現像液として0.01〜 0.1μm のＦｅを主成分とする磁性
流体をヘプタン等の溶媒で希釈したものに浸して磁気現
像を行い、自然乾燥させた後、信号の欠落部分を目視で
探して、手作業でマーキングを行い、この部分を光学顕
微鏡、ＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）又はＴＥＭ（透過型
電子顕微鏡）で拡大観察し、外観からドロップアウトの
原因を判断することも行われている。
【０００９】しかし、このように磁気現像を行うと、テ
ープ表面に鉄粉が付着してしまうため、欠陥についての
組成分析が困難になってしまうという問題点があった。
本発明は、このような従来の問題点に鑑み、磁気テープ
の欠陥の発生原因の分析を容易化することのできる欠陥
検査方法及び装置を提供することを目的とする。
ープ表面に鉄粉が付着してしまうため、欠陥についての
組成分析が困難になってしまうという問題点があった。
本発明は、このような従来の問題点に鑑み、磁気テープ
の欠陥の発生原因の分析を容易化することのできる欠陥
検査方法及び装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】このため、本発明は、磁
気テープの欠陥検査方法として、記録手段及び再生手段
を有する磁気テープ走行系にて、磁気テープの再生信号
のドロップアウトを電気的に検出し、ドロップアウト検
出時に、走行中の磁気テープのドロップアウト検出部位
の拡大撮影と、該検出部位近傍へのマーク付与とのう
ち、少なくとも一方を行う方法を提供する。
気テープの欠陥検査方法として、記録手段及び再生手段
を有する磁気テープ走行系にて、磁気テープの再生信号
のドロップアウトを電気的に検出し、ドロップアウト検
出時に、走行中の磁気テープのドロップアウト検出部位
の拡大撮影と、該検出部位近傍へのマーク付与とのう
ち、少なくとも一方を行う方法を提供する。
【００１１】また、磁気テープの欠陥検査装置として、
記録手段と再生手段とを有する磁気テープ走行系にて、
磁気テープの再生信号のドロップアウトを電気的に検出
するドロップアウト検出手段を設けると共に、該検出手
段からの信号により、走行中の磁気テープのドロップア
ウト検出部位の拡大撮影を行う拡大撮影装置と、該検出
部位近傍へのマーク付与を行うマーカーとのうち、少な
くとも一方を設けてなる装置を提供する。
記録手段と再生手段とを有する磁気テープ走行系にて、
磁気テープの再生信号のドロップアウトを電気的に検出
するドロップアウト検出手段を設けると共に、該検出手
段からの信号により、走行中の磁気テープのドロップア
ウト検出部位の拡大撮影を行う拡大撮影装置と、該検出
部位近傍へのマーク付与を行うマーカーとのうち、少な
くとも一方を設けてなる装置を提供する。
【００１２】
【作用】上記の方法及び装置においては、磁気テープ走
行系にて、磁気テープの再生信号のドロップアウトを電
気的に検出することは従来と同様であるが、ドロップア
ウト検出時に、磁気テープのドロップアウト検出部位の
拡大撮影を行うことにより、磁気テープ走行系から磁気
テープのカセットを取り出すことなくドロップアウト検
出部位を同定して観察でき、その形状等も記録できる。
行系にて、磁気テープの再生信号のドロップアウトを電
気的に検出することは従来と同様であるが、ドロップア
ウト検出時に、磁気テープのドロップアウト検出部位の
拡大撮影を行うことにより、磁気テープ走行系から磁気
テープのカセットを取り出すことなくドロップアウト検
出部位を同定して観察でき、その形状等も記録できる。
【００１３】また、ドロップアウト検出時に、磁気テー
プのドロップアウト検出部位近傍へのマーク付与を行う
ことにより、測定後に肉眼で容易にドロップアウトの位
置を判別できるようになる。よって、効率良く試料作成
及び分析ができる。
プのドロップアウト検出部位近傍へのマーク付与を行う
ことにより、測定後に肉眼で容易にドロップアウトの位
置を判別できるようになる。よって、効率良く試料作成
及び分析ができる。
【００１４】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。図１は磁
気テープ検査装置の全体構成を示し、検査用デッキ10
と、外部ＣＰＵ30とから構成される。図２は検査用デッ
キ10内の磁気テープ走行系を８mmビデオテープの例で示
したもので、主なものを説明すれば、11はカセット、12
はテープ、13はキャプスタン、14はピンチローラ、15は
シリンダ、16はテンション制御ピンである。
気テープ検査装置の全体構成を示し、検査用デッキ10
と、外部ＣＰＵ30とから構成される。図２は検査用デッ
キ10内の磁気テープ走行系を８mmビデオテープの例で示
したもので、主なものを説明すれば、11はカセット、12
はテープ、13はキャプスタン、14はピンチローラ、15は
シリンダ、16はテンション制御ピンである。
【００１５】ここにおいて、シリンダ15の部分に図示し
ない記録手段（記録ヘッド）及び再生手段（再生ヘッ
ド）が備えられていて、テープ12に対し、順次、記録・
再生がなされ、また再生信号に基づいてドロップアウト
の検出がなされる。すなわち、図１に示すように、検査
用デッキ10内に、記録ヘッド17及び再生ヘッド18の他、
ドロップアウト検出手段としてのドロップアウト検出回
路19が設けられる。
ない記録手段（記録ヘッド）及び再生手段（再生ヘッ
ド）が備えられていて、テープ12に対し、順次、記録・
再生がなされ、また再生信号に基づいてドロップアウト
の検出がなされる。すなわち、図１に示すように、検査
用デッキ10内に、記録ヘッド17及び再生ヘッド18の他、
ドロップアウト検出手段としてのドロップアウト検出回
路19が設けられる。
【００１６】そして、検査用デッキ10内の記録・再生部
よりテープの進行方向側の所定位置に、拡大撮影装置と
してのファイバースコープカメラ21が配置され、このフ
ァイバースコープカメラ21は位置調整モータ22により上
下方向（テープの幅方向）に位置調整可能となってい
る。また、ファイバースコープカメラ21と並べて、マー
カー23が配置される。このマーカー23は、図３の(a) に
示すようにドロップアウト検出部位Ｄの後にインクジェ
ット或いはマーキングペン押付けによりマークＡを付与
するか、図３の(b)に示すようにドロップアウト検出部
位Ｄの幅方向端部にパンチにより切欠きによるマークＢ
を付与するものである。
よりテープの進行方向側の所定位置に、拡大撮影装置と
してのファイバースコープカメラ21が配置され、このフ
ァイバースコープカメラ21は位置調整モータ22により上
下方向（テープの幅方向）に位置調整可能となってい
る。また、ファイバースコープカメラ21と並べて、マー
カー23が配置される。このマーカー23は、図３の(a) に
示すようにドロップアウト検出部位Ｄの後にインクジェ
ット或いはマーキングペン押付けによりマークＡを付与
するか、図３の(b)に示すようにドロップアウト検出部
位Ｄの幅方向端部にパンチにより切欠きによるマークＢ
を付与するものである。
【００１７】次に一連の動作について説明する。検査デ
ッキ10内の磁気テープ走行系において、ヘリカルスキャ
ニング方式により一定の信号（８mmＶＴＲ用白50％ＦＭ
信号）を記録しつつ、ドロップアウトの検出レベルを−
16dB，10μsec に設定して、再生信号のドロップアウト
を検出し、ドロップアウトの検出時にはその位置（長さ
方向，幅方向）を外部ＣＰＵ30に記憶させる。
ッキ10内の磁気テープ走行系において、ヘリカルスキャ
ニング方式により一定の信号（８mmＶＴＲ用白50％ＦＭ
信号）を記録しつつ、ドロップアウトの検出レベルを−
16dB，10μsec に設定して、再生信号のドロップアウト
を検出し、ドロップアウトの検出時にはその位置（長さ
方向，幅方向）を外部ＣＰＵ30に記憶させる。
【００１８】そして、ドロップアウトの検出直後に、外
部ＣＰＵ30からの指令でドロップアウトの幅方向位置に
合わせて位置調整モータ22が駆動されてファイバースコ
ープカメラ21の位置調整がなされ、ドロップアウトの到
達を待って、ファイバースコープカメラ21がオートフォ
ーカスによりそのドロップアウトを５〜 100倍に拡大撮
影する。これにより、ドロップアウト検出部位の拡大写
真又は拡大画像が得られ、その形状等から発生原因を分
析することができるようになる。
部ＣＰＵ30からの指令でドロップアウトの幅方向位置に
合わせて位置調整モータ22が駆動されてファイバースコ
ープカメラ21の位置調整がなされ、ドロップアウトの到
達を待って、ファイバースコープカメラ21がオートフォ
ーカスによりそのドロップアウトを５〜 100倍に拡大撮
影する。これにより、ドロップアウト検出部位の拡大写
真又は拡大画像が得られ、その形状等から発生原因を分
析することができるようになる。
【００１９】また、マーカー23が、そのドロップアウト
の後にインクによりマークを付与するか、ドロップアウ
トの幅方向端部に切欠きによるマークを付与する。従っ
て、検査用デッキ10からカセット11を取り外した後に、
肉眼で容易にドロップアウトの位置を判別でき、このマ
ークをもとに、組成分析や外観判断のための試料の作成
を容易に行うことができるようになる。
の後にインクによりマークを付与するか、ドロップアウ
トの幅方向端部に切欠きによるマークを付与する。従っ
て、検査用デッキ10からカセット11を取り外した後に、
肉眼で容易にドロップアウトの位置を判別でき、このマ
ークをもとに、組成分析や外観判断のための試料の作成
を容易に行うことができるようになる。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明方法及び装置
によれば、磁気テープ走行系でのドロップアウトの測定
と同時に、磁気テープ走行系から磁気テープのカセット
を取り出すことなく、拡大写真又は拡大画像が得られ、
ドロップアウト検出部位を同定して観察でき、その形状
等も記録できる。
によれば、磁気テープ走行系でのドロップアウトの測定
と同時に、磁気テープ走行系から磁気テープのカセット
を取り出すことなく、拡大写真又は拡大画像が得られ、
ドロップアウト検出部位を同定して観察でき、その形状
等も記録できる。
【００２１】又は、ドロップアウト検出時に、磁気テー
プのドロップアウト検出部位近傍へのマーク付与を行う
ことにより、測定後に肉眼で容易にドロップアウトの位
置を判別できるようになり、短時間に大量の分析サンプ
ルを精度良く作成することができる。更には、磁気現像
が不要となることから、組成分析を精度良く行うことが
できるという効果も得られる。
プのドロップアウト検出部位近傍へのマーク付与を行う
ことにより、測定後に肉眼で容易にドロップアウトの位
置を判別できるようになり、短時間に大量の分析サンプ
ルを精度良く作成することができる。更には、磁気現像
が不要となることから、組成分析を精度良く行うことが
できるという効果も得られる。
【図１】 本発明に係る磁気テープ検査装置の概略構成
図
図
【図２】 磁気テープ走行系の概略図
【図３】 マーキングの方法を示す図
10 検査用デッキ 11 カセット 12 テープ 15 シリンダ 17 記録ヘッド 18 再生ヘッド 19 ドロップアウト検出回路 21 ファイバースコープカメラ 22 位置調整モータ 23 マーカー 30 外部ＣＰＵ
Claims (2)
- 【請求項１】記録手段及び再生手段を有する磁気テープ
走行系にて、磁気テープの再生信号のドロップアウトを
電気的に検出し、ドロップアウト検出時に、走行中の磁
気テープのドロップアウト検出部位の拡大撮影と、該検
出部位近傍へのマーク付与とのうち、少なくとも一方を
行うことを特徴とする磁気テープの欠陥検査方法。 - 【請求項２】記録手段及び再生手段を有する磁気テープ
走行系にて、磁気テープの再生信号のドロップアウトを
電気的に検出するドロップアウト検出手段を設けると共
に、該検出手段からの信号により、走行中の磁気テープ
のドロップアウト検出部位の拡大撮影を行う拡大撮影装
置と、該検出部位近傍へのマーク付与を行うマーカーと
のうち、少なくとも一方を設けたことを特徴とする磁気
テープの欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15984592A JPH063283A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 磁気テープの欠陥検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15984592A JPH063283A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 磁気テープの欠陥検査方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH063283A true JPH063283A (ja) | 1994-01-11 |
Family
ID=15702497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15984592A Pending JPH063283A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 磁気テープの欠陥検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH063283A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6523446B1 (en) | 1997-07-18 | 2003-02-25 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Punched adhesive tape for semiconductor, method of manufacturing lead frame with the adhesive tape, lead frame with the adhesive tape, and semiconductor device comprising the lead frame |
| JP2007192634A (ja) * | 2006-01-18 | 2007-08-02 | Hitachi Maxell Ltd | テープ測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62277540A (ja) * | 1986-05-27 | 1987-12-02 | Ube Ind Ltd | ポリエチレン中のコンタミネ−シヨン自動測定検査装置 |
| JPS63117245A (ja) * | 1986-11-05 | 1988-05-21 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 光デイスクの検査方法 |
-
1992
- 1992-06-18 JP JP15984592A patent/JPH063283A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62277540A (ja) * | 1986-05-27 | 1987-12-02 | Ube Ind Ltd | ポリエチレン中のコンタミネ−シヨン自動測定検査装置 |
| JPS63117245A (ja) * | 1986-11-05 | 1988-05-21 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 光デイスクの検査方法 |
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| US6523446B1 (en) | 1997-07-18 | 2003-02-25 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Punched adhesive tape for semiconductor, method of manufacturing lead frame with the adhesive tape, lead frame with the adhesive tape, and semiconductor device comprising the lead frame |
| US7273654B2 (en) | 1997-07-18 | 2007-09-25 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Punched adhesive tape for semiconductor, method of manufacturing lead frame with the adhesive tape, lead frame with the adhesive tape, and semiconductor device comprising the lead frame |
| US7449076B2 (en) | 1997-07-18 | 2008-11-11 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Punched adhesive tape for semiconductor, method of manufacturing lead frame with the adhesive tape, lead frame with the adhesive tape, and semiconductor device comprising the lead frame |
| JP2007192634A (ja) * | 2006-01-18 | 2007-08-02 | Hitachi Maxell Ltd | テープ測定装置 |
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