JPH06323467A - 真空バルブ - Google Patents

真空バルブ

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JPH06323467A
JPH06323467A JP13244593A JP13244593A JPH06323467A JP H06323467 A JPH06323467 A JP H06323467A JP 13244593 A JP13244593 A JP 13244593A JP 13244593 A JP13244593 A JP 13244593A JP H06323467 A JPH06323467 A JP H06323467A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
valve
vacuum
passage
sealing material
valve body
Prior art date
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Pending
Application number
JP13244593A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Iwabuchi
渕 和 宏 岩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 真空バルブにおいて、バルブ内部の反応生成
物等によるゴミや汚れを除去すると共にシール材の長寿
命化を図る。 【構成】 筒状の弁箱7の一端部に外部の真空処理部と
の連結口8を有すると共に他の部分には真空ポンプとの
連結口9を有し、上記弁箱7の内部には真空処理部側か
ら真空ポンプ側へ向かう気体の通路を有し、この通路の
途中に該通路を開閉する弁体10及び弁座11を備えた
真空バルブ1において、上記弁箱7の一部には、開状態
における弁体10の真空処理部側に設けられたシール材
12に向けて不活性ガスを噴射するノズル19を設けた
ものである。これにより、バルブ内部のゴミや汚れを吹
き飛ばして除去すると共に、シール材12の劣化を防止
して長寿命化させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば半導体製品の製
造工程において、反応性ガスやプラズマを用いてウエハ
等のワークを加工するCVD装置やエッチング装置、ス
パッタ装置などの真空装置で真空ラインを開閉する真空
バルブに関し、特にバルブ内部の反応生成物等によるゴ
ミや汚れを除去すると共にシール材を長寿命化させるこ
とができる真空バルブに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の真空バルブは、真空装置
の真空処理部から真空ポンプに至る真空ラインの途中に
設けられ、筒状の弁箱の一端部に外部の真空処理部との
連結口を有すると共に他の部分には真空ポンプとの連結
口を有し、上記弁箱の内部には真空処理部側から真空ポ
ンプ側へ向かう気体の通路を有し、この通路の途中に該
通路を開閉する弁体及び弁座を備えて成っていた。そし
て、例えばCVD装置においては、ワークとしてのウエ
ハ上に膜を形成するために真空処理部内に反応性ガスを
流して上記ウエハを処理するが、その処理後の反応性ガ
ス等は上記真空バルブ及び真空ラインを介して真空ポン
プで吸引し、外部へ排出していた。このとき、上記反応
性ガスは、ウエハ上だけではなく真空処理部内の周囲の
部材とも反応してゴミや汚れなどの反応生成物が生じる
ものであった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の真空バルブにおいては、弁箱の内部にて真空処理部
側から真空ポンプ側へ向かう気体の通路の途中に該通路
を開閉する弁体及び弁座が設けられているだけであった
ので、上記反応性ガス及び反応生成物等が真空ポンプの
吸引により内部に流入してゴミや汚れとなって弁体及び
そのシール材に付着することがあった。従って、バルブ
内部の気体の流通が悪くなると共に、上記弁体のシール
材が劣化するものであった。このことから、上記反応性
ガス及び反応生成物等の排出効率が悪くなると共に、弁
体が閉鎖した状態での真空ラインの遮断能力が低下する
ことがあった。また、このような状態を予防するため
に、真空バルブを頻繁に清掃したり、オーバーホールし
たりしなければならず、真空装置全体の使用効率及び稼
働率が低下するものであった。
【0004】そこで、本発明は、このような問題点に対
処し、バルブ内部の反応生成物等によるゴミや汚れを除
去すると共にシール材を長寿命化させることができる真
空バルブを提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による真空バルブは、筒状の弁箱の一端部に
外部の真空処理部との連結口を有すると共に他の部分に
は真空ポンプとの連結口を有し、上記弁箱の内部には真
空処理部側から真空ポンプ側へ向かう気体の通路を有
し、この通路の途中に該通路を開閉する弁体及び弁座を
備えた真空バルブにおいて、上記弁箱の一部には、開状
態における弁体の真空処理部側に設けられたシール材に
向けて不活性ガスを噴射するノズルを設けたものであ
る。
【0006】
【作用】このように構成された真空バルブは、弁箱の一
部に設けたノズルにより、開状態における弁体の真空処
理部側に設けられたシール材に向けて不活性ガスを噴射
するように動作する。これにより、上記ノズルから噴射
された不活性ガスでシール材に付着したゴミや汚れを吹
き飛ばし、バルブ内部の反応生成物によるゴミや汚れを
除去すると共に、シール材を長寿命化させることができ
る。
【0007】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
詳細に説明する。図1は本発明による真空バルブ1の実
施例を示す斜視図であり、図2はその内部構造を示す断
面図である。この真空バルブ1は、図3に示すように、
例えば半導体製品の製造工程において、反応性ガスやプ
ラズマを用いてウエハ等のワーク2を加工するCVD装
置やエッチング装置、スパッタ装置などの真空装置3の
真空処理部4から真空ポンプ5に至る真空ライン6の途
中に設けられている。そして、上記真空装置3でワーク
2に対して所要の加工を施す際に、上記真空バルブ1を
動作させて真空ライン6を開閉するようになっている。
【0008】上記真空バルブ1は、図1及び図2に示す
ように、例えば円筒状に形成された弁箱7の一端部に外
部の真空処理部4との連結口8を有すると共に、上記弁
箱7の中間部にて上記連結口8と直交する方向には真空
ポンプ5との連結口9を有している。そして、上記それ
ぞれの連結口8,9には、真空ライン6の真空処理部4
側の配管及び真空ポンプ5側の配管が接続されるように
なっている。上記弁箱7の内部には、図2に示すよう
に、真空処理部4側から真空ポンプ5側へ向かう気体の
通路が形成されており、この通路の途中に該通路を開閉
する弁体10及び弁座11が設けられている。
【0009】上記弁座11は、例えば平面座のタイプと
されており、真空処理部4との連結口8の境界壁面上に
形成されている。弁体10は、上記弁座11に押接又は
離間されて気体の通路を開閉するもので、例えば円板状
に形成されており、弁座11側の側面にはシール材12
としてOリングが装着されている。この弁体1の裏面側
には、弁棒13が連結されており、弁箱7内の隔壁14
を貫通して後方に伸び、その後端にはピストン15が設
けられている。そして、上記弁箱7の隔壁14より後方
部分はシリンダー16を形成しており、弁箱7の後端面
の空気孔17から圧力エアを流入することにより、上記
ピストン15及び弁棒13を介して弁体10を矢印A方
向に進めて閉じる。また、上記隔壁14とピストン15
との間には圧縮スプリング18が介装されており、上記
圧力エアの流入が無いときはその弾性力によってピスト
ン15を後退させ、これにより弁棒13を介して弁体1
0が矢印B方向に後退して開く。このような構成によ
り、上記弁体10が矢印A,B方向に移動し、前記弁座
11との作用により弁箱7内部の気体の通路を開閉する
ようになっている。なお、上記弁体10は、ノーマルオ
ープンのバルブである。
【0010】ここで、本発明においては、図2に示すよ
うに、上記弁箱7の一部にノズル19が設けられてい
る。このノズル19は、上記弁箱7の内部にて開状態に
おける弁体10の真空処理部4側に設けられたシール材
12に向けて窒素ガス等の不活性ガスを噴射するもの
で、例えば真空処理部4側の連結口8に近い方の側壁上
にて弁体10が閉状態(10′)から開状態に開いたと
きにシール材12が位置する部位に内向きに設けられて
いる。なお、図示は省略したが、上記ノズル19には不
活性ガスの供給源から伸びる配管系が接続される。そし
て、その不活性ガスの流量は、真空装置3の使用状況に
合わせて適宜調整可能とされている。また、図2におい
ては、ノズル19は一箇所だけ設けたものとしたが、適
宜の複数箇所に設けてもよい。
【0011】次に、このように構成された真空バルブ1
の動作について説明する。まず、図3に示すように、真
空装置3としての例えばCVD装置において、ワーク2
としてのウエハ上に膜を形成するために真空処理部4内
に反応性ガスを流して上記ワーク2を処理する。そし
て、その処理後の反応性ガス等は、真空バルブ1及び真
空ライン6を介して真空ポンプ5で吸引し、外部へ排出
する。このとき、図2において、真空バルブ1の後端面
の空気孔17からは圧力エアを流入させず、圧縮スプリ
ング18の弾性力によって弁体10は矢印B方向に開状
態となっている。これにより、真空ポンプ5を運転する
と、真空処理部4からの反応性ガス等は、連結口8の部
分へ矢印Cのように吸引されると共に、上記弁体10の
開により形成された気体の通路を矢印Dのようにながれ
て他の連結口9の部分へ至り、そこから矢印Eのように
真空ライン6を介して真空ポンプ5に吸引されて排出さ
れる。
【0012】このとき、同時に、上記ノズル19からは
図示省略の不活性ガスの供給源から例えば窒素ガスを矢
印Fのように、開状態にある弁体10のシール材12に
向けて噴射する。すると、この噴射された窒素ガスが上
記シール材12及びその周辺部に当たり、前記真空処理
部4から流入して該シール材12及びその周辺部に付着
した反応生成物等のゴミや汚れを吹き飛ばすこととな
る。そして、この吹き飛ばされたゴミや汚れは、そのま
ま矢印D,Eのように流れ、真空ライン6を介して真空
ポンプ5に吸引されて排出される。これにより、上記弁
体10のシール材12及びその周辺部が清掃されること
となる。
【0013】なお、上記ノズル19からの不活性ガスの
噴射は、真空ポンプ5による反応性ガス等の吸引動作に
連動させて自動的に開始させるとよい。また、上記不活
性ガスは、吸引動作中に常時噴射させてもよいし、適宜
の時間間隔で間欠的に噴射させてもよい。或いは、操作
者の操作により必要に応じて噴射させるようにしてもよ
い。
【0014】
【発明の効果】本発明は以上のように構成されたので、
弁箱の一部に設けたノズルにより、開状態における弁体
の真空処理部側に設けられたシール材に向けて不活性ガ
スを噴射することができる。これにより、上記ノズルか
ら噴射された不活性ガスでシール材に付着したゴミや汚
れを吹き飛ばし、バルブ内部の反応生成物によるゴミや
汚れを除去すると共に、シール材の劣化を防止すること
ができる。従って、バルブ内部の気体の流通を良くして
反応性ガス及び反応生成物の排出効率を向上できると共
に、シール材を長寿命化させることができる。このこと
から、真空バルブの清掃及びオーバーホールの間隔を長
くして、真空装置全体の使用効率及び稼働率を向上する
ことができる。また、真空バルブから真空ポンプに至る
配管内に不活性ガスによる気流を作ることができ、その
パージ効果により装置全体の異物を低滅することもでき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による真空バルブの実施例を示す斜視
図、
【図2】 上記真空バルブの内部構造を示す断面図、
【図3】 本発明の真空バルブを使用する真空装置のシ
ステムを示す説明図。
【符号の説明】
1…真空バルブ、 3…真空装置、 4…真空処理部、
5…真空ポンプ、6…真空ライン、 7…弁箱、
8,9…連結口、 10…弁体、 11…弁座、 12
…シール材、 19…ノズル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 筒状の弁箱の一端部に外部の真空処理部
    との連結口を有すると共に他の部分には真空ポンプとの
    連結口を有し、上記弁箱の内部には真空処理部側から真
    空ポンプ側へ向かう気体の通路を有し、この通路の途中
    に該通路を開閉する弁体及び弁座を備えた真空バルブに
    おいて、上記弁箱の一部には、開状態における弁体の真
    空処理部側に設けられたシール材に向けて不活性ガスを
    噴射するノズルを設けたことを特徴とする真空バルブ。
JP13244593A 1993-05-11 1993-05-11 真空バルブ Pending JPH06323467A (ja)

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JP13244593A Pending JPH06323467A (ja) 1993-05-11 1993-05-11 真空バルブ

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011075017A (ja) * 2009-09-30 2011-04-14 Ckd Corp 真空弁
KR20200013863A (ko) * 2018-07-31 2020-02-10 주식회사 원익아이피에스 밸브 조립체 및 기판 처리 장치
WO2020166836A1 (ko) * 2019-02-14 2020-08-20 프리시스 주식회사 진공밸브

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