JPH06317906A - 感光性重合体組成物 - Google Patents
感光性重合体組成物Info
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- JPH06317906A JPH06317906A JP10661693A JP10661693A JPH06317906A JP H06317906 A JPH06317906 A JP H06317906A JP 10661693 A JP10661693 A JP 10661693A JP 10661693 A JP10661693 A JP 10661693A JP H06317906 A JPH06317906 A JP H06317906A
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- Japan
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- compd
- dianhydride
- aromatic
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- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【構成】 溶剤の存在下に芳香族四塩基酸二無水物1モ
ルに対して、炭素数4以下の1価のアルコールおよび/
または炭素数4以下の1価のアルコール誘導体1.6〜
2.0モルを加えて加熱し、芳香族四塩基酸二無水物の
全部または一部をジエステルとした後、一般式(I) (式中、R1は芳香族環状基、R2は水素または炭素数3
以下の炭化水素基を示し、R2同士は相違してもよい)
で表されるアミン化合物0.2〜1モルとジアミン化合
物0〜0.8モルをアミン化合物とジアミン化合物の総
量が1.0モルとなる量で反応させて得られるポリイミ
ド系樹脂前駆体100重量部ならびにアクリル酸および
/またはメタクリル酸1〜400重量部を含有する。 【効果】 配線段差の平坦化性と微細な溝状パターンの
埋込性が良好で、従来の加工プロセスでパターン化可能
なポリイミド膜が得られる。
ルに対して、炭素数4以下の1価のアルコールおよび/
または炭素数4以下の1価のアルコール誘導体1.6〜
2.0モルを加えて加熱し、芳香族四塩基酸二無水物の
全部または一部をジエステルとした後、一般式(I) (式中、R1は芳香族環状基、R2は水素または炭素数3
以下の炭化水素基を示し、R2同士は相違してもよい)
で表されるアミン化合物0.2〜1モルとジアミン化合
物0〜0.8モルをアミン化合物とジアミン化合物の総
量が1.0モルとなる量で反応させて得られるポリイミ
ド系樹脂前駆体100重量部ならびにアクリル酸および
/またはメタクリル酸1〜400重量部を含有する。 【効果】 配線段差の平坦化性と微細な溝状パターンの
埋込性が良好で、従来の加工プロセスでパターン化可能
なポリイミド膜が得られる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路、高密
度実装基板等の電子部品の層間絶縁膜および表面保護膜
として有用な感光性重合体組成物に関するものである。
度実装基板等の電子部品の層間絶縁膜および表面保護膜
として有用な感光性重合体組成物に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路等における多層配線構造
の製造には、パターンの形成された配線層を有する基板
上に真空蒸着、CVD(ケミカルベーパーデポジッショ
ン)等の気相成長法によりSiO2、SiN等からなる
間層絶縁膜を形成し、スルーホールを開孔した後、上層
配線層を形成する方法が用いられている。しかし、気相
成長法によって層間絶縁膜を形成する方法では、図2の
ように下層配線層(2)の段差が層間絶縁膜(3)形成
後もそのまま残り、上層配線層(4)を形成した際、上
記段差部分で配線層が極めて薄くなり配線切れが起こり
やすいという問題があった。図2において(1)は基板
である。そこでこれを改良するために、図1に示すよう
に層間絶縁膜(5)の形成を芳香族ジアミンと芳香族四
塩基酸二無水物とから得られたポリアミック酸の溶液を
塗布、硬化して行い段差部分で配線層が薄くなるのを防
いだ方法が提案され、現在では広く使われている(特公
昭51−44871号公報)。
の製造には、パターンの形成された配線層を有する基板
上に真空蒸着、CVD(ケミカルベーパーデポジッショ
ン)等の気相成長法によりSiO2、SiN等からなる
間層絶縁膜を形成し、スルーホールを開孔した後、上層
配線層を形成する方法が用いられている。しかし、気相
成長法によって層間絶縁膜を形成する方法では、図2の
ように下層配線層(2)の段差が層間絶縁膜(3)形成
後もそのまま残り、上層配線層(4)を形成した際、上
記段差部分で配線層が極めて薄くなり配線切れが起こり
やすいという問題があった。図2において(1)は基板
である。そこでこれを改良するために、図1に示すよう
に層間絶縁膜(5)の形成を芳香族ジアミンと芳香族四
塩基酸二無水物とから得られたポリアミック酸の溶液を
塗布、硬化して行い段差部分で配線層が薄くなるのを防
いだ方法が提案され、現在では広く使われている(特公
昭51−44871号公報)。
【0003】一方、ポリイミドを用いる場合、膜加工
は、フォトレジストを用いたエッチングプロセスによっ
て行われているため、最近では膜加工プロセスを合理化
する目的でフォトレジストの機能を兼ね合わせた感光性
重合体組成物の開発検討が進められている。これは、ま
ず感光性重合体組成物を溶液状態で基板上に塗布、乾燥
させ膜形成後、所定のフォトマスクを介して露光し、現
像によってパターンを形成し、次に200〜400℃の
温度で加熱処理し、最終的にポリイミドとされる。具体
的な例としては、ジアミン、ジアミノシロキサン及び四
塩基酸二無水物から得られるポリアミック酸に炭素−炭
素二重結合を有するアミン化合物およびビスアジド化合
物を添加する方法などが知られている(特開昭57−1
70929号公報)。
は、フォトレジストを用いたエッチングプロセスによっ
て行われているため、最近では膜加工プロセスを合理化
する目的でフォトレジストの機能を兼ね合わせた感光性
重合体組成物の開発検討が進められている。これは、ま
ず感光性重合体組成物を溶液状態で基板上に塗布、乾燥
させ膜形成後、所定のフォトマスクを介して露光し、現
像によってパターンを形成し、次に200〜400℃の
温度で加熱処理し、最終的にポリイミドとされる。具体
的な例としては、ジアミン、ジアミノシロキサン及び四
塩基酸二無水物から得られるポリアミック酸に炭素−炭
素二重結合を有するアミン化合物およびビスアジド化合
物を添加する方法などが知られている(特開昭57−1
70929号公報)。
【0004】しかし、半導体集積回路等の電子部品にお
ける集積度の向上は目覚ましく、配線構造も益々多層化
され、配線段差の平坦化に対する必要性は一層増大して
きている。これに対して上記芳香族ジアミンと芳香族四
塩基酸二無水物から得られるポリアミック酸では、ポリ
アミック酸の溶媒に対する溶解性が非常に低く、溶液を
高濃度にすることが出来ないため、上記配線段差の平坦
化性が十分でなく、2層以上の多層配線構造の製造は困
難であった。また、非常に微細な溝状のパターンに対し
ては、ポリイミド膜の埋込性が不十分で、溝部の膜にボ
イドが発生する問題があった。これに対して、パターン
の形成された絶縁層を有する基材上に塗布するポリアミ
ック酸溶液を高濃度化する程、配線段差の平坦化率、溝
状パターンの埋込性が向上すること、また、ポリアミッ
ク酸溶液を高濃度化するためには、低分子量のエステル
オリゴマー化することが効果的であることが報告されて
いる(特開昭63−14452号公報)。
ける集積度の向上は目覚ましく、配線構造も益々多層化
され、配線段差の平坦化に対する必要性は一層増大して
きている。これに対して上記芳香族ジアミンと芳香族四
塩基酸二無水物から得られるポリアミック酸では、ポリ
アミック酸の溶媒に対する溶解性が非常に低く、溶液を
高濃度にすることが出来ないため、上記配線段差の平坦
化性が十分でなく、2層以上の多層配線構造の製造は困
難であった。また、非常に微細な溝状のパターンに対し
ては、ポリイミド膜の埋込性が不十分で、溝部の膜にボ
イドが発生する問題があった。これに対して、パターン
の形成された絶縁層を有する基材上に塗布するポリアミ
ック酸溶液を高濃度化する程、配線段差の平坦化率、溝
状パターンの埋込性が向上すること、また、ポリアミッ
ク酸溶液を高濃度化するためには、低分子量のエステル
オリゴマー化することが効果的であることが報告されて
いる(特開昭63−14452号公報)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来の
低分子量エステルオリゴマー化によって得られるポリア
ミック酸溶液に、従来の方法で感光性を付与した感光性
重合体組成物はエステル化率を高くすると感光性の付与
が不十分となり、またエステル化率を下げると配線段差
の平坦化率が低下し上記2つの性能の両立が不十分であ
った。
低分子量エステルオリゴマー化によって得られるポリア
ミック酸溶液に、従来の方法で感光性を付与した感光性
重合体組成物はエステル化率を高くすると感光性の付与
が不十分となり、またエステル化率を下げると配線段差
の平坦化率が低下し上記2つの性能の両立が不十分であ
った。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、特定の組
成のポリイミド樹脂前駆体にアクリル酸および/または
メタクリル酸を用いることで、上記の問題点を解決した
感光性重合体組成物が得られることを見出し、本発明に
到達した。
成のポリイミド樹脂前駆体にアクリル酸および/または
メタクリル酸を用いることで、上記の問題点を解決した
感光性重合体組成物が得られることを見出し、本発明に
到達した。
【0007】本発明は、溶剤の存在下に芳香族四塩基酸
二無水物1モルに対して、炭素数4以下の1価のアルコ
ールおよび/または炭素数4以下の1価のアルコール誘
導体1.6〜2.0モルを加えて加熱し、芳香族四塩基
酸二無水物の全部または一部をジエステルとして後、一
般式(1)
二無水物1モルに対して、炭素数4以下の1価のアルコ
ールおよび/または炭素数4以下の1価のアルコール誘
導体1.6〜2.0モルを加えて加熱し、芳香族四塩基
酸二無水物の全部または一部をジエステルとして後、一
般式(1)
【化2】 (式中、R1は芳香族環状基、R2は水素または炭素数3
以下の炭化水素基を示し、R2同士は相違してもよい)
で表されるアミン化合物0.2〜1モルとジアミン化合
物0〜0.8モルをアミン化合物とジアミン化合物の総
量が1.0モルとなる量で反応させて得られるポリイミ
ド系樹脂前駆体100重量部ならびにアクリル酸および
/またはメタクリル酸1〜400重量部を含有してなる
感光性重合体組成物に関する。
以下の炭化水素基を示し、R2同士は相違してもよい)
で表されるアミン化合物0.2〜1モルとジアミン化合
物0〜0.8モルをアミン化合物とジアミン化合物の総
量が1.0モルとなる量で反応させて得られるポリイミ
ド系樹脂前駆体100重量部ならびにアクリル酸および
/またはメタクリル酸1〜400重量部を含有してなる
感光性重合体組成物に関する。
【0008】本発明の感光性重合体組成物に用いるポリ
イミド樹脂前駆体は、溶剤の存在下で芳香族四塩基酸二
無水物に対して、上記の割合で炭素数4以下の1価のア
ルコールおよび/または炭素数4以下の1価のアルコー
ル誘導体を加えて加熱し、芳香族四塩基酸二無水物の全
部または一部をジエステルとした後、上記の割合でアミ
ン化合物とジアミン化合物を反応させて得られる。ジア
ミン化合物は用いなくてもよい。
イミド樹脂前駆体は、溶剤の存在下で芳香族四塩基酸二
無水物に対して、上記の割合で炭素数4以下の1価のア
ルコールおよび/または炭素数4以下の1価のアルコー
ル誘導体を加えて加熱し、芳香族四塩基酸二無水物の全
部または一部をジエステルとした後、上記の割合でアミ
ン化合物とジアミン化合物を反応させて得られる。ジア
ミン化合物は用いなくてもよい。
【0009】本発明で芳香族四塩基酸二無水物のエステ
ル化の際に用いられる溶媒としては、N−メチル−2−
ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−
ジメチルフォルムアミド、ジメチルスルホキサイド等の
アミド系溶媒等が好ましい。
ル化の際に用いられる溶媒としては、N−メチル−2−
ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−
ジメチルフォルムアミド、ジメチルスルホキサイド等の
アミド系溶媒等が好ましい。
【0010】本発明で用いられる芳香族四塩基酸二無水
物としては、例えばピロメリット酸二無水物、3,
3′,4,4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無
水物、3,3′,4,4′−ビフェニルエーテルテトラ
カルボン酸二無水物、3,3′,4,4′−ビフェニル
テトラカルボン酸二無水物、1,2,5,6−ナフタレ
ンテトラカルボン酸二無水物、2,3,5,6−ピリジ
ンテトラカルボン酸二無水物、3,4,9,10−ペリ
レンテトラカルボン酸二無水物、4,4′−スルホニル
ジフタル酸二無水物およびこれらの置換体があり、これ
らの一種または二種以上が用いられる。
物としては、例えばピロメリット酸二無水物、3,
3′,4,4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無
水物、3,3′,4,4′−ビフェニルエーテルテトラ
カルボン酸二無水物、3,3′,4,4′−ビフェニル
テトラカルボン酸二無水物、1,2,5,6−ナフタレ
ンテトラカルボン酸二無水物、2,3,5,6−ピリジ
ンテトラカルボン酸二無水物、3,4,9,10−ペリ
レンテトラカルボン酸二無水物、4,4′−スルホニル
ジフタル酸二無水物およびこれらの置換体があり、これ
らの一種または二種以上が用いられる。
【0011】また、本発明の芳香族四塩基酸二無水物を
エステル化する1価のアルコールおよび1価のアルコー
ル誘導体としては、炭素数4以下のメタノール、エタノ
ール、プロパノール、ブタノール等の一種または二種以
上が用いられる。この際、炭素数が5以上では良好な硬
化膜が得られない。アルコールおよび/またはアルコー
ル誘導体の使用量は、芳香族四塩基酸二無水物1モルに
対して1.6〜2.0モルの範囲とされる。1.6モル
未満では、良好なパターンが得られず、2.0モルを越
えるとワニスの粘度が低下する。
エステル化する1価のアルコールおよび1価のアルコー
ル誘導体としては、炭素数4以下のメタノール、エタノ
ール、プロパノール、ブタノール等の一種または二種以
上が用いられる。この際、炭素数が5以上では良好な硬
化膜が得られない。アルコールおよび/またはアルコー
ル誘導体の使用量は、芳香族四塩基酸二無水物1モルに
対して1.6〜2.0モルの範囲とされる。1.6モル
未満では、良好なパターンが得られず、2.0モルを越
えるとワニスの粘度が低下する。
【0012】また、本発明に用いられる一般式(1)で
表されるアミン化合物としては、例えば4,4′−ジア
ミノジフェニルエーテル−3−カルボアミド、3,4′
−ジアミノジフェニルエーテル−4−カルボアミド等が
あげられる。
表されるアミン化合物としては、例えば4,4′−ジア
ミノジフェニルエーテル−3−カルボアミド、3,4′
−ジアミノジフェニルエーテル−4−カルボアミド等が
あげられる。
【0013】また、本発明に用いられる必要に応じて用
いられるジアミン化合物としては、メタフェニレンジア
ミン、3,4−ジアミノジフェニルエーテル、3,3′
−ジアミノジフェニルスルホン、3,3′−ジアミノジ
フェニルスルフィド、パラフェニレンジアミン、4,
4′−ジアミノジフェニルエーテル、4,4′−ジアミ
ノジフェニルメタン、4,4′−ジアミノジフェニルス
ルホン、4,4′−ジアミノジフェニルスルフィド、
3,3′,5,5′−テトラメチル−4,4′−ジアミ
ノジフェニルメタン、2,2′−ビス(4−アミノフェ
ニル)プロパン、4,4′−メチレンジアニリン、4,
4′−ジアミノジフェニルエーテル−3−カルボンアミ
ド等があげられ、これらは単独でまたは二種以上を組み
合わせて用いられる。また、必要に応じて、1,3−ビ
ス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメ
チルジシロキサン等のシロキサン系ジアミン等の一種ま
たは二種以上の併用も可能である。この際、これらのシ
ロキサン系ジアミンの使用量はアミン化合物とジアミン
化合物の総モル数に対して、20モル%以内とすること
が好ましい。
いられるジアミン化合物としては、メタフェニレンジア
ミン、3,4−ジアミノジフェニルエーテル、3,3′
−ジアミノジフェニルスルホン、3,3′−ジアミノジ
フェニルスルフィド、パラフェニレンジアミン、4,
4′−ジアミノジフェニルエーテル、4,4′−ジアミ
ノジフェニルメタン、4,4′−ジアミノジフェニルス
ルホン、4,4′−ジアミノジフェニルスルフィド、
3,3′,5,5′−テトラメチル−4,4′−ジアミ
ノジフェニルメタン、2,2′−ビス(4−アミノフェ
ニル)プロパン、4,4′−メチレンジアニリン、4,
4′−ジアミノジフェニルエーテル−3−カルボンアミ
ド等があげられ、これらは単独でまたは二種以上を組み
合わせて用いられる。また、必要に応じて、1,3−ビ
ス(3−アミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメ
チルジシロキサン等のシロキサン系ジアミン等の一種ま
たは二種以上の併用も可能である。この際、これらのシ
ロキサン系ジアミンの使用量はアミン化合物とジアミン
化合物の総モル数に対して、20モル%以内とすること
が好ましい。
【0014】次に本発明におけるエステル化反応の反応
温度は、使用する溶媒によって異なるが、通常60〜1
50℃の範囲とされ、エステル化の速度および組成物の
現像加工性から好ましくは80〜150℃とされる。
温度は、使用する溶媒によって異なるが、通常60〜1
50℃の範囲とされ、エステル化の速度および組成物の
現像加工性から好ましくは80〜150℃とされる。
【0015】本発明の全部または一部がエステル化され
た芳香族四塩基酸二無水物と上記のアミン化合物とジア
ミン化合物との反応は、最終的に得られ感光性重合体組
成物を硬化した膜の耐熱性を最良とするために、芳香族
四塩基酸二無水物およびそのエステル化物の総モル数と
上記のアミン化合物とジアミン化合物の総モル数を等モ
ルとして行うことが好ましい。組成物の感光特性から上
記のアミン化合物は0.2〜1モルの範囲とされる。
た芳香族四塩基酸二無水物と上記のアミン化合物とジア
ミン化合物との反応は、最終的に得られ感光性重合体組
成物を硬化した膜の耐熱性を最良とするために、芳香族
四塩基酸二無水物およびそのエステル化物の総モル数と
上記のアミン化合物とジアミン化合物の総モル数を等モ
ルとして行うことが好ましい。組成物の感光特性から上
記のアミン化合物は0.2〜1モルの範囲とされる。
【0016】エステル化の反応温度は最終的に得られる
感光性重合体組成物の感度、解像度および現像速度か
ら、高くとも90℃までの温度で行うことが好ましい。
感光性重合体組成物の感度、解像度および現像速度か
ら、高くとも90℃までの温度で行うことが好ましい。
【0017】アクリル酸および/またはメタクリル酸の
配合割合は、前記ポリイミド系樹脂前駆体100重量部
に対して1〜400重量部とされる。この配合割合が1
重量部未満の場合、または400重量部を超える場合に
は、現像性や最終生成物であるポリイミドの膜質に悪影
響を及ぼす。
配合割合は、前記ポリイミド系樹脂前駆体100重量部
に対して1〜400重量部とされる。この配合割合が1
重量部未満の場合、または400重量部を超える場合に
は、現像性や最終生成物であるポリイミドの膜質に悪影
響を及ぼす。
【0018】本発明でさらに高感度にする目的で光架橋
剤としてビスアジド化合物を用いることも可能である。
例えば4,4′−ジアジドカルコン、
剤としてビスアジド化合物を用いることも可能である。
例えば4,4′−ジアジドカルコン、
【化3】
【化4】 等が挙げられる。ビスアジド化合物の配合割合は、前記
ポリイミド系樹脂前駆体100重量部に対して、0.1
〜100重量部、特に好ましくは0.5〜50重量部で
ある。この配合割合が0.1重量部未満の場合、または
100重量部を超える場合には、現像性、ワニスの保存
安定性等に悪影響を及ぼす。
ポリイミド系樹脂前駆体100重量部に対して、0.1
〜100重量部、特に好ましくは0.5〜50重量部で
ある。この配合割合が0.1重量部未満の場合、または
100重量部を超える場合には、現像性、ワニスの保存
安定性等に悪影響を及ぼす。
【0019】本発明になる感光性重合体組成物をさらに
高感度にする目的で光重合開始剤を用いることも可能で
ある。光重合開始剤としては、例えばミヒラーケトン、
アントロン、ベンゾイン、5−ニトロアゼナフテン、2
−メチルベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベン
ゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテ
ル、ベンゾインイソブチルエーテル、2−t−ブチルア
ントラキノン、1,2−ベンゾ−9,10−アントラキ
ノン、アントラキノン、メチルアントラキノン、4,
4′−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、アセト
フェノン、ベンゾフェノン、チオキサントン、1,5−
アセナフテン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセ
トフェノン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルト
ン、2−メチル−〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2
−モルフォリノ−1プロパノン、ジアセチル、ベンジ
ル、ベンジルジメチルケタール、ベンジルジエチルケタ
ール、ジフェニルジスルフィド、アントラセン、2,6
−ジ(4′−ジエチルアミノベンザル)−4−メチル−
4−アザシクロヘキサノン等をあげることが出来る。光
重合開始剤の添加量は、ポリイミド系樹脂前駆体に対し
て0.01〜10重量%の範囲が好ましい。
高感度にする目的で光重合開始剤を用いることも可能で
ある。光重合開始剤としては、例えばミヒラーケトン、
アントロン、ベンゾイン、5−ニトロアゼナフテン、2
−メチルベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベン
ゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテ
ル、ベンゾインイソブチルエーテル、2−t−ブチルア
ントラキノン、1,2−ベンゾ−9,10−アントラキ
ノン、アントラキノン、メチルアントラキノン、4,
4′−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、アセト
フェノン、ベンゾフェノン、チオキサントン、1,5−
アセナフテン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセ
トフェノン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルト
ン、2−メチル−〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2
−モルフォリノ−1プロパノン、ジアセチル、ベンジ
ル、ベンジルジメチルケタール、ベンジルジエチルケタ
ール、ジフェニルジスルフィド、アントラセン、2,6
−ジ(4′−ジエチルアミノベンザル)−4−メチル−
4−アザシクロヘキサノン等をあげることが出来る。光
重合開始剤の添加量は、ポリイミド系樹脂前駆体に対し
て0.01〜10重量%の範囲が好ましい。
【0020】現像時間を短縮する目的で溶解促進剤を用
いることも可能である。例えばベンゼンスルホンアミ
ド、ベンゼンスルホンアニリド等をあげることができ
る。溶解促進剤の添加量は、ポリイミド系樹脂前駆体に
対して0.05〜50重量%の範囲が好ましい。
いることも可能である。例えばベンゼンスルホンアミ
ド、ベンゼンスルホンアニリド等をあげることができ
る。溶解促進剤の添加量は、ポリイミド系樹脂前駆体に
対して0.05〜50重量%の範囲が好ましい。
【0021】本発明になる感光性重合体組成物を、表面
に段差を有するシリコン基板、セラミック基板等のパタ
ーンの形成された配線層を有する基板上に、回転塗布
機、印刷機、スプレー等を用いて塗布し、好ましくは8
0〜150℃の温度で乾燥した後、通常のホトリソグラ
フィー工程に従って露光し、感光性重合体組成物の乾燥
膜に未露光部分を現像液で溶解除去することにより、ビ
アホールが形成される。現像液としては、例えばN−メ
チル−2−ピロリドン、N−アセチル−2−ピロリド
ン、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチル
アセトアミド、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホ
スホルトリアミド、ジメチルイミダゾリジノン、N−ベ
ンジル−2−ピロリドン、N−アセチル−ε−カプロラ
クタム等の非プロトン性極性溶媒が単独でまたはポリア
ミド酸の非溶媒、例えばメタノール、エタノール、イソ
プロピルアルコール、ベンゼン、トルエン、キシレン、
メチルセロソルブ、水等との混合液として用いられる。
に段差を有するシリコン基板、セラミック基板等のパタ
ーンの形成された配線層を有する基板上に、回転塗布
機、印刷機、スプレー等を用いて塗布し、好ましくは8
0〜150℃の温度で乾燥した後、通常のホトリソグラ
フィー工程に従って露光し、感光性重合体組成物の乾燥
膜に未露光部分を現像液で溶解除去することにより、ビ
アホールが形成される。現像液としては、例えばN−メ
チル−2−ピロリドン、N−アセチル−2−ピロリド
ン、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチル
アセトアミド、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホ
スホルトリアミド、ジメチルイミダゾリジノン、N−ベ
ンジル−2−ピロリドン、N−アセチル−ε−カプロラ
クタム等の非プロトン性極性溶媒が単独でまたはポリア
ミド酸の非溶媒、例えばメタノール、エタノール、イソ
プロピルアルコール、ベンゼン、トルエン、キシレン、
メチルセロソルブ、水等との混合液として用いられる。
【0022】次いで現像により形成されたレリーフ・パ
ターンを、リンス液により洗浄し、現像溶媒を除去す
る。リンス液としては、現像液との混和性のよいポリア
ミド酸の非溶媒が用いられ、例えばメタノール、エタノ
ール、イソプロピルアルコール、ベンゼン、トルエン、
キシレン、メチルセロソルブ、水等があげられる。次
に、好ましくは150℃から450℃の温度で硬化する
ことによって脱水閉環し、ポリイミド樹脂の被膜とな
り、これによって基板表面の特定の部分で段差を被覆平
坦化することが出来る。
ターンを、リンス液により洗浄し、現像溶媒を除去す
る。リンス液としては、現像液との混和性のよいポリア
ミド酸の非溶媒が用いられ、例えばメタノール、エタノ
ール、イソプロピルアルコール、ベンゼン、トルエン、
キシレン、メチルセロソルブ、水等があげられる。次
に、好ましくは150℃から450℃の温度で硬化する
ことによって脱水閉環し、ポリイミド樹脂の被膜とな
り、これによって基板表面の特定の部分で段差を被覆平
坦化することが出来る。
【0023】上記の被膜の形成に際して、基板表面への
密着性を高める目的で、感光性重合体組成物にアミノシ
ラン、エポキシシラン等の接着助剤を必要に応じて添加
することも可能である。
密着性を高める目的で、感光性重合体組成物にアミノシ
ラン、エポキシシラン等の接着助剤を必要に応じて添加
することも可能である。
【0024】
【実施例】以下、実施例、比較例を用いて本発明を説明
する。 実施例1 撹拌機、温度計、窒素導入管、ジムロート冷却管を備え
た0.2リットルのフラスコ中にN−メチル−2−ピロ
リドン95.90gと、3.3′,4,4′−ビフェニ
ルテトラカルボン酸二無水物52.46gを仕込み、8
0℃まで加熱した後エタノール8.2gを加え、さらに
90℃で2時間反応させビフェニルテトラカルボン酸二
無水物をジエステルとした。次にこの溶液に4,4′−
ジアミノジフェニルエーテル−3−カルボアミド41.
22g及び1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,
1,3,3−テトラメチルジシロキサン2.22gを仕
込み、25℃で5時間、40℃で1時間反応させた。得
られたポリイミド樹脂前駆体組成物の樹脂分濃度は50
重量%で、25℃で150cps(センチポイズ)の粘
度を示した。この溶液100gに2,3−ジ(4−アジ
ドベンザル)−4−カルボキシルシクロヘキサノン2.
00gおよびメタクリル酸7.68gを溶解した。得ら
れた感光性重合体組成物の樹脂分濃度は46重量%で、
25℃で100cps(センチポイズ)の粘度を示し
た。次に厚さ1μmで幅1〜5μmの線状突起パターン
と深さ1μmで幅0.2〜2μmの線状溝パターンを通
常のホトリソグラフィーとドライエッチングのプロセス
で形成したシリコン基板上に、上記感光性重合体組成物
をスピンナ塗布機を用いて塗布した。その後、ホットプ
レートを用いて80℃/120秒乾燥した後、コンベク
ションオーブンで200℃/1時間、350℃/1時間
硬化して厚さ2μmのポリイミド膜を得た。得られたポ
リイミド膜による初期段差の平坦化率を図3のa、bの
値から次式
する。 実施例1 撹拌機、温度計、窒素導入管、ジムロート冷却管を備え
た0.2リットルのフラスコ中にN−メチル−2−ピロ
リドン95.90gと、3.3′,4,4′−ビフェニ
ルテトラカルボン酸二無水物52.46gを仕込み、8
0℃まで加熱した後エタノール8.2gを加え、さらに
90℃で2時間反応させビフェニルテトラカルボン酸二
無水物をジエステルとした。次にこの溶液に4,4′−
ジアミノジフェニルエーテル−3−カルボアミド41.
22g及び1,3−ビス(3−アミノプロピル)−1,
1,3,3−テトラメチルジシロキサン2.22gを仕
込み、25℃で5時間、40℃で1時間反応させた。得
られたポリイミド樹脂前駆体組成物の樹脂分濃度は50
重量%で、25℃で150cps(センチポイズ)の粘
度を示した。この溶液100gに2,3−ジ(4−アジ
ドベンザル)−4−カルボキシルシクロヘキサノン2.
00gおよびメタクリル酸7.68gを溶解した。得ら
れた感光性重合体組成物の樹脂分濃度は46重量%で、
25℃で100cps(センチポイズ)の粘度を示し
た。次に厚さ1μmで幅1〜5μmの線状突起パターン
と深さ1μmで幅0.2〜2μmの線状溝パターンを通
常のホトリソグラフィーとドライエッチングのプロセス
で形成したシリコン基板上に、上記感光性重合体組成物
をスピンナ塗布機を用いて塗布した。その後、ホットプ
レートを用いて80℃/120秒乾燥した後、コンベク
ションオーブンで200℃/1時間、350℃/1時間
硬化して厚さ2μmのポリイミド膜を得た。得られたポ
リイミド膜による初期段差の平坦化率を図3のa、bの
値から次式
【数1】 により求めたところ、およそ90%であった。また、溝
パターンの部分でシリコン基板をカットし、走査型電子
顕微鏡で断面形状を観察したところ、何れの溝にもポリ
イミド樹脂が十分充填されていた。さらに現像加工性を
調べるため、シリコン基板上に本発明の感光性重合体組
成物を上記同様の膜厚でスピンナ塗布し、ホットプレー
トを用いて80℃/120秒乾燥した後、G線ステッパ
を用いて露光(露光量100mj/cm2)後、N−メ
チル−2−ピロリドン75重量%、メタノール25重量
%からなる混合溶媒で現像し、次いでエタノールでリン
スして良好なパターンが得られた。
パターンの部分でシリコン基板をカットし、走査型電子
顕微鏡で断面形状を観察したところ、何れの溝にもポリ
イミド樹脂が十分充填されていた。さらに現像加工性を
調べるため、シリコン基板上に本発明の感光性重合体組
成物を上記同様の膜厚でスピンナ塗布し、ホットプレー
トを用いて80℃/120秒乾燥した後、G線ステッパ
を用いて露光(露光量100mj/cm2)後、N−メ
チル−2−ピロリドン75重量%、メタノール25重量
%からなる混合溶媒で現像し、次いでエタノールでリン
スして良好なパターンが得られた。
【0025】比較例1 実施例1と同様の撹拌機、温度計、窒素導入管、ジムロ
ート冷却管を備えた0.2リットルのフラスコ中にN−
メチル−2−ピロリドン95.90gと、3,3′,
4,4′−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物52.
46gを仕込み、80℃まで加熱した後エタノール8.
2gを加え、さらに90℃で2時間反応させビフェニル
テトラカルボン酸二無水物をジエステルとした。次にこ
の溶液に4,4′−ジアミノジフェニルエーテル−3−
カルボアミド41.22gおよび1,3−ビス(3−ア
ミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロ
キサン2.22gを仕込み、25℃で5時間、40℃で
1時間反応させた。得られたポリイミド樹脂前駆体組成
物の樹脂分濃度は50重量%で、25℃で150cps
の粘度を示した。この溶液100gに2,3−ジ(4−
アジドベンザル)−4−カルボキシルシクロヘキサノン
2.00gおよび3−(N,N−ジメチルアミノ)プロ
ピルメタクリレート15.28gを溶解した。得られた
感光性重合体組成物の樹脂分濃度は42重量%で、25
℃で100cpsの粘度を示した。以下、実施例1と同
様にして、段差平坦化率、溝パターンの埋込性、現像加
工性、現像後の膜状態を評価した。その結果、平坦化率
は90%で埋込性も良好であったが、実施例1と同様の
現像加工を行ったところ、露光部と未露光部の溶解時間
の差がなくパターンが形成されなかった。
ート冷却管を備えた0.2リットルのフラスコ中にN−
メチル−2−ピロリドン95.90gと、3,3′,
4,4′−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物52.
46gを仕込み、80℃まで加熱した後エタノール8.
2gを加え、さらに90℃で2時間反応させビフェニル
テトラカルボン酸二無水物をジエステルとした。次にこ
の溶液に4,4′−ジアミノジフェニルエーテル−3−
カルボアミド41.22gおよび1,3−ビス(3−ア
ミノプロピル)−1,1,3,3−テトラメチルジシロ
キサン2.22gを仕込み、25℃で5時間、40℃で
1時間反応させた。得られたポリイミド樹脂前駆体組成
物の樹脂分濃度は50重量%で、25℃で150cps
の粘度を示した。この溶液100gに2,3−ジ(4−
アジドベンザル)−4−カルボキシルシクロヘキサノン
2.00gおよび3−(N,N−ジメチルアミノ)プロ
ピルメタクリレート15.28gを溶解した。得られた
感光性重合体組成物の樹脂分濃度は42重量%で、25
℃で100cpsの粘度を示した。以下、実施例1と同
様にして、段差平坦化率、溝パターンの埋込性、現像加
工性、現像後の膜状態を評価した。その結果、平坦化率
は90%で埋込性も良好であったが、実施例1と同様の
現像加工を行ったところ、露光部と未露光部の溶解時間
の差がなくパターンが形成されなかった。
【0026】
【発明の効果】本発明の感光性重合体組成物により、配
線段差の平坦化性と微細な溝状パターンの埋め込み性が
良好で、従来公知の感光性重合体組成物の加工プロセス
でパターン化可能なポリイミド膜が容易に得られる。
線段差の平坦化性と微細な溝状パターンの埋め込み性が
良好で、従来公知の感光性重合体組成物の加工プロセス
でパターン化可能なポリイミド膜が容易に得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の組成物を用いて得た多層配線構造の断
面図の一例。
面図の一例。
【図2】気相成長法によるSiO2膜を層間絶縁膜とし
た従来法による多層配線構造の断面図の一例。
た従来法による多層配線構造の断面図の一例。
【図3】平坦化率の評価方法を示す図。
【符号の説明】 1 基板 2 下層配線層 3 層間絶縁膜 4 上層配線層 5 層間絶縁膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/027 21/312 B 7352−4M H05K 3/28 D 7511−4E 3/46 T 6921−4E
Claims (1)
- 【請求項1】 溶剤の存在下に芳香族四塩基酸二無水物
1モルに対して、炭素数4以下の1価のアルコールおよ
び/または炭素数4以下の1価のアルコール誘導体1.
6〜2.0モルを加えて加熱し、芳香族四塩基酸二無水
物の全部又は一部をジエステルとした後、一般式(I) 【化1】 (式中、R1は芳香族環状基、R2は水素または炭素数3
以下の炭化水素基を示し、R2同士は相違してもよい)
で表されるアミン化合物0.2〜1モルとジアミン化合
物0〜0.8モルをアミン化合物とジアミン化合物の総
量が1.0モルとなる量で反応させて得られるポリイミ
ド系樹脂前駆体100重量部ならびにアクリル酸および
/またはメタクリル酸1〜400重量部を含有してなる
感光性重合体組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10661693A JPH06317906A (ja) | 1993-05-07 | 1993-05-07 | 感光性重合体組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10661693A JPH06317906A (ja) | 1993-05-07 | 1993-05-07 | 感光性重合体組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06317906A true JPH06317906A (ja) | 1994-11-15 |
Family
ID=14438061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10661693A Pending JPH06317906A (ja) | 1993-05-07 | 1993-05-07 | 感光性重合体組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06317906A (ja) |
-
1993
- 1993-05-07 JP JP10661693A patent/JPH06317906A/ja active Pending
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