JPH0631654A - レーザマーキング装置 - Google Patents

レーザマーキング装置

Info

Publication number
JPH0631654A
JPH0631654A JP4207123A JP20712392A JPH0631654A JP H0631654 A JPH0631654 A JP H0631654A JP 4207123 A JP4207123 A JP 4207123A JP 20712392 A JP20712392 A JP 20712392A JP H0631654 A JPH0631654 A JP H0631654A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
workpiece
laser beam
laser
mask
condenser lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4207123A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2697504B2 (ja
Inventor
Koji Ueda
浩司 上田
Shigeru Otsubo
茂 大坪
Naoki Nishide
直樹 西出
Fumihiko Miyamoto
文彦 宮本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibuya Corp
Original Assignee
Shibuya Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibuya Kogyo Co Ltd filed Critical Shibuya Kogyo Co Ltd
Priority to JP4207123A priority Critical patent/JP2697504B2/ja
Publication of JPH0631654A publication Critical patent/JPH0631654A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2697504B2 publication Critical patent/JP2697504B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【構成】 レーザマーキング装置は、レーザ発振器1と
して不安定型のエキシマレーザ発振器を用いており、ま
た被加工物4をレーザ光線Lの光軸に沿って移動させる
加工位置調整手段8を備えている。 【効果】 不安定型のエキシマレーザ発振器を用いてい
るので、マスク2を透過したレーザ光線Lの回折の度合
いを小さくすることができる。そのため、いわゆる結像
の公式によることなく、被加工物4の加工位置を決定す
ることができる。そのため、被加工物4に施す印字の大
きさを変更する際には、加工位置調整手段8によって被
加工物4の加工位置だけを調整するだけでよく、したが
って、被加工物4の加工位置だけでなくマスク2の位置
調整が必要であった従来に比較して調整作業が簡略にな
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野】本発明はレーザマーキング装置の
改良に関する。
【従来の技術】従来、レーザマーキング装置として、レ
ーザ光線を放射するレーザ発振器と、上記レーザ発振器
から放射されるレーザ光線の光路上に設けられて所要の
印字パターンを有するマスクと、上記マスクを透過した
レーザ光線の光路上に配設されて、該レーザ光線を集光
する集光レンズとを備え、上記集光レンズによって集光
したレーザ光線を被加工物に照射して該被加工物に所要
の印字パターンをマーキングするものは知られている。
このような従来の装置では、上記レーザ発振器として安
定型のレーザ発振器を用いており、上記集光レンズの焦
点位置よりも外方側となる印字パターンが結像する位置
を被加工物の加工位置として被加工物にマーキングを施
すようにしていた。
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来用いて
いた安定型のレーザ発振器においては、レーザ光線がマ
スクを透過した際に回折することは知られており、その
ため、上述した被加工物の加工位置を決定するに当たっ
ては、次に示す結像の公式に基づいて、レーザ光線が結
像する位置(被加工物の加工位置)を求めるようにして
いた。すなわち、マスクの設置位置から集光レンズまで
の距離をAとし、また集光レンズからそれによって集光
されるレーザ光線が結像する位置までの距離をBとし、
さらに集光レンズからその焦点までの距離をfとすると
次の公式が成立する。 1/A + 1/B =1/f (ただし、A>f,
B>f) しかるに、このような安定型のレーザ発振器を用いた従
来の装置において、被加工物に施す印字パターンの大き
さを変更しようとする場合には、次のような欠点があっ
た。つまり、上記集光レンズを固定した状況において被
加工物の印字パターンの大きさを変更しようとすると、
上記マスクの設置位置を変更するだけでなく、被加工物
の加工位置も変更しなければならなかった。したがっ
て、上述した従来の装置では、印字パターンの大きさを
変更する際にマスクの位置調整および被加工物の加工位
置の調整が煩雑になるという欠点があった。
【課題を解決するための手段】このような事情に鑑み、
本発明は、レーザ光線を放射するレーザ発振器と、上記
レーザ発振器から放射されるレーザ光線の光路上に設け
られて所要の印字パターンを有するマスクと、上記マス
クを透過したレーザ光線の光路上に配設されて、該レー
ザ光線を集光する集光レンズとを備え、上記集光レンズ
によって集光したレーザ光線を被加工物に照射して該被
加工物に所要の印字パターンをマーキングするレーザマ
ーキング装置において、上記レーザ発振器を不安定型の
レーザ発振器から構成するとともに、レーザ光線の光軸
に沿って上記被加工物を移動させる加工位置調整手段を
設けたものである。
【作用】このような構成によれば、レーザ発振器として
不安定型のものを用いているので、マスクを透過したレ
ーザ光線は従来の安定型のレーザ発振器の場合に比較し
て回折の度合いがきわめて小さくなる。そのため、マス
クを透過したレーザ光線は実質的に平面波に近い状態と
なり、上述した結像の公式によることなく被加工物の加
工位置を決定することができる。これにより、被加工物
に施す印字パターンの大きさを変更する際には、マスク
および集光レンズを移動させることなく、上記加工位置
調整手段によって被加工物だけをレーザ光線の光軸に沿
って移動させればよい。したがって、従来に比較すると
被加工物に施す印字パターンの大きさを変更する際の調
整作業が簡略になる。
【実施例】以下図示実施例について本発明を説明する
と、図1はレーザマーキング装置の概略を示した全体図
である。レーザマーキング装置は、レーザ光線Lを放射
するレーザ発振器1を備えており、このレーザ発振器1
から放射されたレーザ光線Lの光路上には、所要の印字
パターンを穴開けしたマスク2を配置している。また、
このマスク2の印字パターンを透過したレーザ光線Lの
光路上には、レーザ光線Lを集光する集光レンズ3を設
けてあり、さらに、この集光レンズ3によって集光され
たレーザ光線Lの光路上に被加工物4を位置させてい
る。したがって、上記レーザ発振器1からレーザ光線L
が放射されると、該レーザ光線Lはマスク2を透過した
後、上記集光レンズ3によって集光されてから上記被加
工物4に照射される。これによって被加工物4に所要の
印字パターンをマーキングすることができる。しかし
て、本実施例では、上記レーザ発振器1を、不安定型の
エキシマレーザレーザ発振器から構成したものであり、
これによってレーザ光線Lがマスク2を透過した際の回
折の度合いが小さくなっている。このような本実施例に
対して、従来では一般的にレーザ発振器1として安定型
のレーザ発振器1が用いていたため、レーザ光線Lがマ
スク2を透過した際の回折の度合いが大きくなっていた
ものである。そのため、安定型のレーザ発振器1が用い
ていた従来の装置では、上述した結像の公式に基づいて
マスク2と集光レンズ3の設置位置および被加工物4の
加工位置を決定しなければならなかった。このような従
来の装置に比べて、本実施例では不安定型のエキシマレ
ーザを用いているので、結像の公式に基づくことなく被
加工物4の加工位置を決定することができる。また、本
実施例では、上記マスク2、集光レンズ3および被加工
物4をケーシング7内に収納するとともに、該ケーシン
グ7内に設けた後述する加工位置調整手段8によって被
加工物4の加工位置を調整できるようにしている。すな
わち、図2ないし図3に示すように、レーザ発振器1か
ら放射されたレーザ光線Lの光路上には、箱形のケーシ
ング7を配置してあり、このケーシング7の内方に、レ
ーザ光線Lの光軸と直交させてマスク2を配置してい
る。上記マスク2は、例えば、A,B,C等の印字パタ
ーンの穴を備えており、所要時にマスク2そのものを交
換できるようになっている。このマスク2よりも下流側
となるレーザ光線Lの光路上には、レーザ光線Lを鉛直
下方にむけて反射させる反射鏡9を設けてあり、さら
に、この反射鏡9によって反射されたレーザ光線Lの光
路上には、該レーザ光線Lを集光する集光レンズ3を設
けている。集光レンズ3の下方側には加工位置調整手段
8を設けてあり、この加工位置調整手段8によって被加
工物4としてコンタクトレンズをを保持するとともに、
該被加工物4をレーザ光線Lの光軸に沿って昇降させ、
それによって被加工物4の加工位置を調整できるように
している。そして、ケーシング7の側面に設けた扉7a
を開閉することによって、被加工物4を上記加工位置調
整手段8に保持させる一方、加工終了後に該加工位置調
整手段8から被加工物4を取り外すようになっている。
図4ないし図6に示すように、ケーシング7内に収納し
た加工位置調整手段8は、ケーシング7の床面7bに取
り付けた調整部材10と、この調整部材10に昇降自在
に設けた断面L字形の昇降部材11とを備えている。上
記調整部材10は、最下端部に位置して床面7bに固定
される固定部10aと、この固定部10aに載置される
とともに該固定部10aに対して紙面と直交するX方向
に摺動可能な第1可動部10bと、さらに第1可動部1
0bに載置されて該第1可動部10bに対して上記X方
向と直交するY方向に摺動可能な第2可動部10cとか
ら構成している。上記固定部10aの側面には、X方向
と平行に第1マイクロメータ12を連結してあり、その
スピンドルの先端部を上記第1可動部10bの側面に連
結している。これにより、第1マイクロメータ12の回
転部を正逆に回転させることにより、上記第1可動部1
0bをX方向に移動させることができる。また第1可動
部10bにもY方向と平行に第2マイクロメータ13を
連結してあり、そのスピンドル13aの先端部を第2可
動部10cの側面に連結している。したがって、第2マ
イクロメータ13の回転部を正逆に回転させることによ
り、スピンドル13aをY方向に進退させて、第1可動
部10bに対して第2可動部10cをY方向に移動させ
ることができる。そして、上記第1可動部10bのX方
向における移動量および第2可動部10cのY方向の移
動量は上記両マイクロメータ12,13によって正確に
読み取ることができる。他方、上記昇降部材11は、上
記調整部材10における第2可動部10cに昇降自在に
設けている。本実施例では、図6に示すように、調整部
材10の端面に鉛直方向のガイド溝10dを形成する一
方、このガイド溝10dに昇降部材11側の係合凸部1
1aを昇降自在に係合させている。またガイド溝10d
における両側部の端面およびそれらに対向する係合凸部
11aの両端面には、それぞれ断面V型の溝を形成する
とともに、それら対向位置の溝の間に多数のボール14
を介在させている。このように構成することで、昇降部
材11が昇降する際の抵抗を減少させるようにしてい
る。さらに昇降部材11の上端中央には、鉛直下方に向
けて第3マイクロメータ15を連結してあり、この第3
マイクロメータ15のスピンドル15aの下端部を上記
調整部材10の上面(第2可動部10cの上面)に当接
させている。したがって、上記第3マイクロメータ15
を正逆に回転させることにより昇降部材11全体を昇降
させることができ、それによって昇降部材11に保持し
た被加工物4を昇降させて、該被加工物4の加工位置を
調整できるようになっている。また、被加工物4の昇降
量は第3マイクロメータ15によって正確に読み取るこ
とができる。昇降部材11における水平部分11bに
は、揺動プレート16を傾斜させて設けてあり、この揺
動プレート16に設けた円形の凹部16aに被加工物4
としてのコンタクトレンズを収納するようにしている。
揺動プレート16の下方両側部は、上記水平部分11b
に立設した一対のブラケット17の間に位置させてい
る。そして、この揺動プレート16の両端面に形成した
凹部16bに、両ブラケット17を貫通させたボールプ
ランジャ18の先端を当接させてあり、それら両ボール
プランジャ18によって揺動プレート16を揺動可能に
軸支している。また、揺動プレート16の上方側の一側
には、上記ブラケット17よりも大型のブラケット19
を立設している。そして、このブラケット19の長穴1
9aに調整ボルト20のねじ部を貫通させるとともに、
該ねじ部の先端を揺動プレート16の側部端面に螺刻し
ためねじ部に螺合させている。この調整ボルト20は、
その頭部がブラケット19に当接するまで締め付けるこ
とによって、該調整ボルト20を長穴19a内の所定位
置に固定できるようにしてあり、他方、調整ボルト20
を緩めて長穴19a内における調整ボルト20の固定位
置を変更することによって、揺動プレート16の傾斜角
度を調整することができる。以上の構成において、被加
工物4に印字パターンをマーキングする際には、先ず、
加工位置調整手段8の揺動プレート16を所要の傾斜角
度に固定した状態において、揺動プレート16の凹部1
6aに被加工物4としてのコンタクトレンズを嵌合して
保持させる。次に、上記各マイクロメータ12,13,
15を正逆に回転させて、揺動プレート16に保持した
被加工物4をレーザ光線Lの光軸上に位置させるととも
に、所要の高さに位置させる。これによって、被加工物
4の加工位置の位置決め作業が終了し、この状態におい
て上記レーザ発振器1からレーザ光線Lを放射すれば、
マスク2に設けた印字パターンを被加工物4にマーキン
グすることができる。そして、本実施例においては、上
述のように不安定型のエキシマレーザを放射するレーザ
発振器1を用いているので、レーザ発振器1から放射さ
れたレーザ光線Lは、マスク2を透過した後の状態にお
いて回折の度合いがきわめて小さくなっており、実質的
に平面波に近い状態となっている。したがって、上述し
た結像の公式によることなく、被加工物4の加工位置を
決定することができる。より詳細には、上記集光レンズ
3の焦点位置よりも集光レンズ3に近い高さ位置を被加
工物4の加工位置とすることができる。このような本実
施例に対して、従来では安定型のレーザ発振器を用いて
いたので、被加工物4の加工位置は上述した結像の公式
に拘束されるようになり、より具体的には、上記集光レ
ンズ3の焦点位置よりも集光レンズ3から離隔した位置
を加工位置としなければならなかった。したがって、そ
のような従来のものでは、レーザ光線の光路が長くなる
という欠点が生じるとともに、レーザ光線Lが焦点位置
で1点に集光されるので該レーザ光線Lのエネルギが低
下するという欠点が生じていたものである。これに対し
て、本実施例によれば、レーザ光線の光路が長くなるこ
とを防止できるとともに、集光レンズ3の焦点位置より
も集光レンズ3に近い位置でマーキングを行うことがで
きるのでレーザ光線Lを1点に集光させる必要がなく、
したがって、レーザ光線Lのエネルギの低下を良好に防
止することができる。そして、特に被加工物4に施す印
字パターンの大きさを変更しようとする場合には、上記
加工位置調整手段8によって被加工物4の高さを調整し
て、該被加工物4の加工位置をレーザ光線Lの光軸に沿
って移動させればよく、マスク2および集光レンズ3の
位置調整を行う必要がない。これに対して安定型のレー
ザ発振器を用いていた従来では、集光レンズ3を固定し
た状況において印字パターンの大きさを変更しようとす
ると、被加工物4だけでなくマスク2の設置位置も調整
する必要があり、それらの位置調整が煩雑なものとなっ
ていた。これに対して本実施例では、被加工物4の加工
位置を調整するだけでよいので、従来に比較して調整作
業が簡略になる。
【発明の効果】以上のように本発明によれば、従来に比
較して、被加工物に施す印字パターンの大きさを変更す
る際の調整作業が簡略になるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す概略の構成図
【図2】図1に示す構成部材の詳細な断面図
【図3】図2のIII−III線に沿う要部の断面図
【図4】図2に示す構成部材の詳細な正面図
【図5】図4の要部の平面図
【図6】図4のVI−VI線に沿う断面図
【符号の説明】
1 レーザ発振器 2 マスク 3 集光レンズ 4 被加工物 8 加工位置調整手段 L レーザ光線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮本 文彦 石川県金沢市大豆田本町甲58番地 澁谷工 業株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光線を放射するレーザ発振器と、
    上記レーザ発振器から放射されるレーザ光線の光路上に
    設けられて所要の印字パターンを有するマスクと、上記
    マスクを透過したレーザ光線の光路上に配設されて、該
    レーザ光線を集光する集光レンズとを備え、上記集光レ
    ンズによって集光したレーザ光線を被加工物に照射して
    該被加工物に所要の印字パターンをマーキングするレー
    ザマーキング装置において、 上記レーザ発振器を不安定型のレーザ発振器から構成す
    るとともに、レーザ光線の光軸に沿って上記被加工物を
    移動させる加工位置調整手段を設けたことを特徴とする
    レーザマーキング装置。
JP4207123A 1992-07-10 1992-07-10 レーザマーキング方法 Expired - Fee Related JP2697504B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4207123A JP2697504B2 (ja) 1992-07-10 1992-07-10 レーザマーキング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4207123A JP2697504B2 (ja) 1992-07-10 1992-07-10 レーザマーキング方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0631654A true JPH0631654A (ja) 1994-02-08
JP2697504B2 JP2697504B2 (ja) 1998-01-14

Family

ID=16534578

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4207123A Expired - Fee Related JP2697504B2 (ja) 1992-07-10 1992-07-10 レーザマーキング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2697504B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7044598B2 (en) 2002-11-25 2006-05-16 Menicon Co., Ltd.. Lens for eye and method for marking thereof
US7566660B2 (en) * 2005-12-28 2009-07-28 Dongbu Electronics Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
CN110216311A (zh) * 2019-06-03 2019-09-10 山东华宇工学院 一种机械加工用钻孔定位装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6360092A (ja) * 1986-09-01 1988-03-16 Mitsubishi Electric Corp レ−ザ加工機
JPH03258481A (ja) * 1990-03-09 1991-11-18 Toshiba Corp レーザマーキング装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6360092A (ja) * 1986-09-01 1988-03-16 Mitsubishi Electric Corp レ−ザ加工機
JPH03258481A (ja) * 1990-03-09 1991-11-18 Toshiba Corp レーザマーキング装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7044598B2 (en) 2002-11-25 2006-05-16 Menicon Co., Ltd.. Lens for eye and method for marking thereof
US7566660B2 (en) * 2005-12-28 2009-07-28 Dongbu Electronics Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
CN110216311A (zh) * 2019-06-03 2019-09-10 山东华宇工学院 一种机械加工用钻孔定位装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2697504B2 (ja) 1998-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0937535B1 (en) Energy beam processing method and processing apparatus therefor
JPWO2006129473A1 (ja) レーザー加工装置及びレーザー加工方法
US4972798A (en) Drawing machine
GB2083216A (en) Determining the focus position of focused beams
JP4614565B2 (ja) レーザ光線照射装置
JP2000202655A (ja) レ―ザ―マ―キング装置
JP4291844B2 (ja) レーザー墨出し器用レーザーヘッド
JPH0631654A (ja) レーザマーキング装置
JPH07199038A (ja) 凹面鏡のあおり調整装置
JP2002045985A (ja) レーザ楕円穴加工方法およびレーザ楕円穴加工装置
KR100316653B1 (ko) 광학계의 렌즈 위치 조정장치_
KR100523814B1 (ko) 미세한 입체물품을 제조하는 레이저 가공방법 및 그 장치
JP2749712B2 (ja) レーザー加工における被加工物位置合わせ方法
KR20150126810A (ko) 자동 초점 조절 기능을 가진 레이저 마킹 장치
JPH049291A (ja) レーザによる孔明け加工機
JP3143369U (ja) レーザーマーキング装置
JPH04187393A (ja) レーザ加工装置
KR20190045564A (ko) 공초점 리소그래피 장치
US20230219164A1 (en) Laser processing apparatus
KR20170126835A (ko) 자동 초점 조절 기능을 가진 레이저 마킹 장치
KR102627053B1 (ko) 레이저 가공 장치
KR20050063094A (ko) 레이저빔의 초점 자동조절장치
KR20190109345A (ko) 자동 초점 조절 기능을 가진 레이저 마킹 장치
TW202331205A (zh) 雷射加工裝置
JPH05334474A (ja) 光源モジュール及びこのモジュールを備えた光学的マーク読取装置と光センサ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19970819

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees