JPH06308086A - 液体クロマトグラフ質量分析装置の高感度測定装置 - Google Patents

液体クロマトグラフ質量分析装置の高感度測定装置

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JPH06308086A
JPH06308086A JP5097353A JP9735393A JPH06308086A JP H06308086 A JPH06308086 A JP H06308086A JP 5097353 A JP5097353 A JP 5097353A JP 9735393 A JP9735393 A JP 9735393A JP H06308086 A JPH06308086 A JP H06308086A
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JP
Japan
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solvent
pores
temperature
liquid chromatograph
sample
Prior art date
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Pending
Application number
JP5097353A
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English (en)
Inventor
Katsuhiro Nakagawa
勝博 中川
Shinji Nagai
伸治 永井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】LCから流出してくる溶媒の種類,混合比率,
流量およびグラジェントタイミングによって霧化部,脱
溶媒部,第1細孔,第2細孔の温度変化が影響されるこ
となく、安定した高感度のスペクトルを検出すること。 【構成】処理CPU1と該設定された条件から温度関数
を作成し、LCポンプ3およびヒータコントロールイン
ターフェイス16に転送する制御CPU2と分析条件に
基づいて送液された溶媒はオートサンプラ7から注入さ
れた試料とともにカラム8,UV9を通り、霧化部10
で霧化され、脱溶媒部11で脱溶媒され、針電極20で
イオン化後第1細孔12,第2細孔13を通り質量分析
部14より得られたイオンを検出する検出部15から成
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液体クロマトグラフ質
量分析装置における検出スペクトルの高感度測定装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来の液体クロマトグラフ質量分析装置
の霧化部および第1細孔の温度制御を行う場合、ヒータ
制御電源に熱電対の読み取り電圧をフィードバックして
設定温度に維持するように制御していた。しかし、試料
を運ぶ溶媒には揮発性溶媒,水系溶媒等多数の溶媒があ
り、溶媒および試料が霧化部を通ることにより熱交換が
起り霧化部を冷却する。さらに霧化された溶媒および試
料が第1細孔に当ることにより冷却されるが溶媒の種
類,混合比率,流量等が変化しても変化に応じて各部の
温度を自動的に設定できなかったので、感度の再現性お
よび安定性を得られにくくしていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、試料
を運ぶ溶媒の種類,混合比率,流量およびグラジェント
タイミングに同期して霧化部の温度および第1細孔の温
度を自動的に制御し安定した感度を得られる点について
配慮されておらず、溶媒の種類,混合比率,流量および
グラジェントタイミングに影響されずに安定した高感度
のスペクトルが得られにくいという問題があった。
【0004】本発明はLCから流出して来る溶媒の種
類,混合比率,流量およびグラジェントタイミングによ
って霧化部および第1細孔の温度変化が影響されること
なく、安定した高感度のスペクトルを検出する手段を提
供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に試料を運ぶ溶媒の種類,混合比率,流量およびグラジ
ェントタイミングに基づいた霧化部および第1細孔の設
定温度をあらかじめ記憶部に記憶しておく。溶媒の種
類,混合比率,流量およびグラジェントタイミングをデ
ータ処理装置上で入力する。該入力された制御条件を通
信手段によってLCポンプに転送する。該LCポンプは
制御条件を設定し分析開始信号待ちとなる。あらかじめ
記憶部に記憶された設定温度から、該制御条件に対応し
た各ヒータの制御タイムプログラムを作成し、ヒータコ
ントロールインターフェイスに転送する。霧化部および
第1細孔の温度が初期値に達したところで測定準備完了
となる。試料の注入と同時にタイムプログラムが開始
し、制御条件の変更点ごとに同期信号をヒータコントロ
ールインターフェイスに出力することにより溶媒の種
類,混合比率,流量およびグラジェントタイミングに適
した温度勾配を得られることになる。
【0006】
【作用】あらかじめ試料を運ぶ溶媒の種類,混合比率,
流量およびグラジェントタイミングに適した霧化部およ
び第1細孔の設定温度に合致する制御電圧を制御するコ
ンピュータ(以下、制御CPUと称す。)は記憶部に記
憶する。処理CPU上で溶媒の種類,混合比率,流量と
グラジェントタイミングを設定する。該設定された制御
条件を通信手段を通してLCポンプへ転送する。該溶媒
の種類,混合比率,流量およびグラジェントタイミング
に基づいた温度関数を霧化部および第1細孔の温度を制
御するヒータコントロールインターフェイスに転送す
る。該転送された初期値を該インターフェイスは各D/
A変換器に設定し、各部の温度が設定温度に到達するこ
とを待つ。初期値に到達したら、LCポンプの動作をタ
イムプログラムに従って開始させると同時にヒータコン
トロールタイムプログラムも開始する。試料の注入を行
い測定を開始し、以降はあらかじめ記憶された溶媒の種
類,混合比率,流量およびグラジェントタイミングに適
した霧化部および第1細孔の温度関数に基づいて各ヒー
タを制御するべく、ヒータコントロールインターフェイ
スは動作する。これによってLC/MSは溶媒の種類,
混合比率,流量およびグラジェントタイミングによって
霧化部および第1細孔の温度が変化し、試料の検出感度
が影響されることなく安定した高感度のスペクトルを得
ることができる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1により説明す
る。
【0008】LC/MSシステムの分析条件の設定およ
び得られた質量スペクトルの処理を行う処理CPU1と
該分析条件に基づいて各制御部分に制御条件を転送する
制御CPU2とA液4,B液5,C液6を溶媒に持つL
Cポンプ3と複数の試料を自動的に注入するLCオート
サンプラ7と試料の分離を行うカラム8と該カラムによ
り分離された試料の特定波長に対する吸収度を出力する
UV9と該分離された試料および溶媒を霧化する霧化部
10と該霧化された溶媒および試料の溶媒を除去する脱
溶媒部11と該脱溶媒部から導入された試料をイオン化
する高電圧を印加された針電極20と該イオンを大気圧
から高真空へ導入する第1細孔12および第2細孔13
と高真空中に導入されたイオンを質量分散させる質量分
析部14と該質量分散されたイオンを検出する検出部1
5と霧化部10,脱溶媒部11,第1細孔12,第2細
孔13の温度制御を行うヒータコントロールインターフ
ェイス16と該ヒータ電源17と該温度をフィードバッ
クする温度検知部18から構成されている。さらに該制
御CPU2には溶媒の種類,混合比率,流量およびグラ
ジェントタイミングに対応するLCポンプ制御条件およ
び該LCポンプ制御条件に基づいた霧化部,脱溶媒部,
第1細孔,第2細孔の温度関数を記憶する記憶部21か
ら構成されている。
【0009】次に本発明の実施例の動作を図2および図
1によって説明する。図2にLCポンプの条件設定例を
示す。該設定画面に切換時間,A液,B液,C液の混合
比率,流量を処理CPU1上で設定する。該設定条件を
制御CPU2に転送する。制御CPUはあらかじめ、溶
媒の種類,混合比率,流量およびグラジェントタイミン
グに基づいた霧化部10,脱溶媒部11,第1細孔1
2,第2細孔13に対する温度関数を作成し、記憶部2
1に記憶する。該制御CPUはLCポンプ3およびヒー
タコントロールインターフェイス16に各々の制御条件
を転送する。LCポンプは溶媒の選択と混合比率,流量
およびグラジェントのタイミングを設定する。ヒータコ
ントロールインターフェイスはLCインターフェイス部
19のヒータ電源17に温度関数の初期値を設定し、温
度検知部18より得られる値が初期値と一致するのを待
つ。準備が整った時点でLCポンプの送液を開始し、試
料をLCオートサンプラ7から導入する。導入された試
料はカラムで分離され、UV9を通りLCインターフェイ
ス部19へ導入される。このとき霧化部,脱溶媒部,第
1細孔,第2細孔の温度は溶媒A液に適した設定になっ
ている。該導入された試料は霧化部で霧化され、脱溶媒
部で脱溶媒され針電極20でイオン化され、検出器15
で検出される。該検出されたイオンは質量スペクトルと
して処理CPU1で処理される。次にグラジェントタイ
ミングに基づいて5分後に溶媒B液50%,C液50%
の混合比率で送液が開始される準備ができると制御CP
Uはヒータコントロールインターフェイスに該溶媒に適
した温度関数を転送し、準備完了となるのを待つ、準備
完了となったら送液を開始する。
【0010】本実施例によれば、溶媒の種類,混合比
率,流量およびグラジェントのタイミングに同期した霧
化部,脱溶媒部,第1細孔,第2細孔の温度関数をヒー
タコントロールインターフェイスに書き込むこと、LC
ポンプ制御タイミングと常に同期してヒータを制御する
手段を有すること、該設定温度に到達したことを制御C
PUに知らせる検知手段を有することにより、常に最適
なLCインターフェイス温度を維持することができ、安
定した高感度なスペクトルを得ることができる。
【0011】
【発明の効果】本発明によれば、溶媒の種類,混合比
率,流量およびグラジェントのタイミングに同期した霧
化部,脱溶媒部,第1細孔,第2細孔の温度関数をヒー
タコントロールインターフェイスに書き込むこと、LC
ポンプ制御タイミングと常に同期してヒータを制御する
手段を有すること、該設定温度に到達したことを制御CP
Uに知らせる検知手段を有することにより、常に最適な
LCインターフェイス温度を維持することができ、安定
した高感度なスペクトルを得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の全体構成図である。
【図2】本発明のLCポンプの条件設定例を示す図であ
る。
【符号の説明】
1…処理CPU、2…制御CPU、3…LCポンプ、4
…溶媒A液、5…溶媒B液、6…溶媒C液、7…LCオ
ートサンプラ、8…カラム、9…UV、10…霧化部、
11…脱溶媒部、12…第1細孔、13…第2細孔、1
4…質量分析部、15…検出器、16…ヒータコントロ
ールインターフェイス、17…ヒータ電源、18…温度
検知部、19…LCインターフェイス、20…針電極、
21…記憶部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】大気圧あるいはそれに近い圧力で動作する
    イオン化部を備え、差動排気を用いて、上記イオン化部
    で生成したイオンを中間圧力領域を経て、質量分析部に
    導入し得る液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/M
    S)において、 液体試料の分離を行う液体クロマトグラフ(以下LCと
    称す。)と該LCより溶媒とともに流出する試料を霧化
    する霧化部と該霧化された試料を大気圧下で気化および
    イオン化し該イオンを大気圧から高真空へ導入する第1
    細孔および第2細孔から成る中間圧力部と該真空中へ導
    入されたイオンを質量分散させる質量分析部と該質量分
    散されたイオンを検出する検出部と該検出部より得られ
    たスペクトル形状からピーク感度を調整・制御する制御
    部から成るLC/MSにおいて溶媒の種類と混合比率と
    流量,グラジェントをかける溶媒の切換タイミングに同
    期して霧化部の温度および第1細孔の温度を自動的に制
    御することにより安定した高感度を得られる手段を設け
    たことを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析装置の
    高感度測定装置。
JP5097353A 1993-04-23 1993-04-23 液体クロマトグラフ質量分析装置の高感度測定装置 Pending JPH06308086A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1416270A1 (en) * 2002-11-04 2004-05-06 General Electric Company Systems and methods for spraying and optimization of solid oxide fuel cell materials
JP2006162256A (ja) * 2004-12-02 2006-06-22 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1416270A1 (en) * 2002-11-04 2004-05-06 General Electric Company Systems and methods for spraying and optimization of solid oxide fuel cell materials
JP2006162256A (ja) * 2004-12-02 2006-06-22 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置
JP4556645B2 (ja) * 2004-12-02 2010-10-06 株式会社島津製作所 液体クロマトグラフ質量分析装置

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