JPH06301940A - 磁気ヘッド位置測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】磁気ヘッド位置測定時に磁気ヘッドの取り付け
られたドラムを低速回転駆動できるようにする。 【構成】回転磁気ヘッドの取り付けられたドラムを低速
回転させる回転制御手段が設けられる。これは回転ロー
ラ部ｅとして構成され、回転ローラ部ｅはモータ３０２
とこれに取り付けられたローラ３０５を有する。回転磁
気ヘッド２の位置測定時には中ドラム１６の周面にロー
ラ３０５が転接するようになされ、中ドラム１６がモー
タ３０２によって低速駆動される。低速駆動であるた
め、測定装置としては処理速度の遅いＡ／Ｄ変換器など
を使用することができ、その分測定装置のコストダウン
を図れる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、ビデオテープレコー
ダに設けられた回転磁気ヘッドの突出量や摩耗程度など
を測定する場合などに適用して好適な磁気ヘッド位置測
定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ビデオテープレコーダに設けられた回転
磁気ヘッドはドラム周面から所定長だけ突出した状態で
取り付け固定されている。

【０００３】図１０に示す回転ドラム装置７は、中ドラ
ム回転式のものであって、下ドラム１４、中ドラム１６
および上ドラム１８を同軸に保持して形成され、下ドラ
ム１４はシャーシに固定されて保持される。

【０００４】下ドラム１４はベアリング２０を介してド
ラム軸２２を軸支し、ドラム軸２２は中ドラム１６を支
持するようになされている。

【０００５】ドラム支え１２は上ドラム１８を下ドラム
１４に固定する。これにより上ドラム１８および下ドラ
ム１４で磁気テープ２４をガイドした状態で中ドラム１
６を回転駆動し、この中ドラム１６に取り付けられた複
数個の磁気ヘッド２（図示では２Ａ〜２Ｄ）が磁気テー
プ２４に摺接する。図１０および図１１において、２６
はヘッド取り付けネジである。

【０００６】図１２は磁気ヘッド２を３６０°にわたっ
て展開して図示したもので、実際には記録再生用ヘッド
と消去ヘッドを含めてトータル１２個の磁気ヘッドが所
定の高さ関係を保持して中ドラム１６に取り付け固定さ
れる。

【０００７】この種ビデオテープレコーダにあって上述
した磁気ヘッド２は回転ドラム１４，１８の外周面から
所定量だけ突出するようにドラム組み立て時、ダイヤル
ゲージなどを用いてその突出量を測定しながら磁気ヘッ
ド２を取り付けている。

【０００８】磁気ヘッド２の突出量が規定値以上であっ
たり、以下になると磁気ヘッド２と磁気テープ２４との
理想的な接触状態を担保できなくなるため、磁気ヘッド
２が摩耗され易くなったり、磁気テープ２４への損傷が
ひどくなるなどの弊害がでる。磁気ヘッド２を長時間使
用するとこれが摩耗するので、ヘッド突出量だけでな
く、電磁変換特性も変化する。

【０００９】このため、この種ビデオテープレコーダに
おいては、出荷時は規定の突出量となるように調整し、
また定期的にヘッドの突出量を測定してヘッド摩耗量を
検出し、必要に応じて磁気ヘッドを交換するようにして
いる。そのために磁気ヘッドの位置測定装置が必要にな
る。

【００１０】磁気ヘッドの位置測定装置としては、「特
開昭62-158616号公報」などに開示されているように光
学的手法を用いて磁気ヘッドの位置を検出するものがあ
る。これは磁気ヘッドに例えばレーザ光を当てその反射
光の受光位置などを測定することによってドラム外周面
を基準とした磁気ヘッドの突出量を測定するようにした
ものである。

【００１１】この測定装置を使用することによって観測
された磁気ヘッドの突出量の一例を図１３に示す。突出
量によってヘッド形状が判り、これからヘッド摩耗位置
および摩耗量などが判る。このようなドラム外周面に対
するヘッドの突出量を得るには中ドラム１６を所定速度
で回転させた状態で測定する必要がある。所定速度とは
ビデオテープレコーダの通常回転速度であり、その値は
ビデオテープレコーダの仕様によって異なるが、例えば
５４００ｒｐｍのように非常に高速回転下で測定が行わ
れる場合が多い。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】このように回転磁気ヘ
ッドを高速回転させてヘッドの突出量などを測定するに
は、測定装置自体高速動作するものでなければならな
い。そのため、測定値の時間方向における解像度を確保
するためには処理速度の速いＡ／Ｄ変換器などを使用す
る必要があり、測定装置自体のコストアップを招来する
原因となっている。

【００１３】そこで、この発明はこのような従来の課題
を解決したものであって、ヘッド突出量の測定時は比較
的低速で回転ドラムを駆動できるようにして、比較的低
速の信号処理手段を使用しても時間方向における充分な
解像度が得られるようにした磁気ヘッド位置測定装置を
提案するものである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、この発明においては、回転磁気ヘッドの取り付けら
れたドラムを低速回転させる回転制御手段が設けられ、
回転磁気ヘッドの位置測定時上記ドラムが低速駆動され
るようになされたことを特徴とするものである。

【００１５】

【作用】図１に示すように回転制御手段としての回転ロ
ーラ部ｅは、モータ３０２とこれに取り付けられたロー
ラ３０５で構成され、このローラ３０５を中ドラム１６
の周面に転接させ、その状態でモータ３０２を駆動する
ことによって、このモータ３０２側から中ドラム１６に
対してその回転駆動力を伝達するようにしている。

【００１６】こうすれば、モータ３０２の回転数やロー
ラ３０５の直径などを適宜選定することによって、中ド
ラム１６に対しては適切な回転数を付与できるから、測
定装置としても処理速度が比較的遅い処理手段を用いて
構成することができる。

【００１７】測定に支障を来さない範囲で低速回転する
ようにモータ３０２の回転数やローラ３０５の直径など
が選択される。

【００１８】

【実施例】続いて、この発明に係る磁気ヘッド位置測定
装置の一例を図面を参照して詳細に説明する。まず、磁
気ヘッド位置の測定原理から図６を参照して説明する。

【００１９】図６に示す磁気ヘッド位置測定装置の概略
構成図において、発光素子であるレーザダイオード１か
ら射出した光ビームＬＡ１は対物レンズ４で集光されな
がら磁気ヘッド２に照射される。磁気ヘッド２で反射さ
れた反射光は集光レンズ５で集光されると共に位置検出
素子（例えばＰＤＳなどの一次元位置検出センサ）３で
受光して磁気ヘッド２の位置が検出される。

【００２０】レーザの照射系および受光系は中ドラム１
６の回転面と平行な面内に配置され、突出量が規定値の
１／２の磁気ヘッドを基準にして、光ビームＬＡ１の入
射角と反射光ビームＬＡ２の反射角とが等しくなるよう
に配置される。

【００２１】すなわち、中ドラム１６の回転中心から磁
気ヘッド２を通って延長する延長線Ｖに対して、この延
長線Ｖと突出量が１／２の磁気ヘッド２の回転軌跡Ｗと
が形成する交点ＪWを通過し、かつ延長線Ｖと４５度の
角度をなす直線上に光軸を形成するように照射系および
受光系が配置される。

【００２２】基準位置ＪWの前後の位置Ｊ１およびＪ２
で反射した光ビームＬＡ２は位置検出素子３の受光面上
で光源像Ｉ１およびＩ２を形成し、その分光源像の形成
位置が変位する。このとき光源像Ｉ１およびＩ２、集光
レンズ５の主点Ｏが形成する三角形△Ｉ１Ｉ２Ｏと、位
置Ｊ１およびＪ２、集光レンズ５の主点Ｏが形成する三
角形△Ｊ１Ｊ２Ｏとは相似するので、位置検出素子３か
ら集光レンズ５の主点Ｏまでの距離をＥ１、集光レンズ
５の主点Ｏから磁気ヘッド２までの距離をＥ２とする
と、 Ｆ２＝（Ｅ１／Ｅ２）×Ｆ１・・・・（１） Ｆ１＝Ｊ１−Ｊ２ ・・・・（２） Ｆ２＝Ｉ１−Ｉ２ ・・・・（３） の関係式が成立する。

【００２３】ここで、磁気ヘッド２の突出量をδＲとお
くと、 Ｆ１＝２^1/2δＲ ・・・・（４） で表し得ることにより、（１）式に代入して、 Ｆ２＝（Ｅ１／Ｅ２）×２^1/2δＲ・・・（５） の関係式を得ることができる。

【００２４】これにより位置検出素子３の検出結果Ｓ０
に基づいて、磁気ヘッド２毎の突出量δＲが検出され、
集光レンズ５の焦点距離を所望の値に選定して距離Ｅ１
およびＥ２を選定すれば測定精度を向上できる。

【００２５】続いて、磁気ヘッド位置測定装置の具体例
を図１以下を参照して説明する。

【００２６】この磁気ヘッド位置測定装置は図２にも示
すように回転磁気ヘッド装置に対して装着自在に構成さ
れ、具体的には回転ドラム装置７のドラム支え１２に取
り付けて使用される。

【００２７】図１〜図３を参照して磁気ヘッド位置測定
装置を説明すると、この測定装置はＶ字状の支持アーム
部ａを有する。支持アーム部ａは図３に示すようにドラ
ム支え１２の上面の一部に固定ネジ３０によって取り付
け固定される。

【００２８】支持アーム部ａの先端部下面側には図１お
よび図２に示すように光学系移動機構部ｂを介して光学
ブロック部ｃが取り付けられる。光学ブロック部ｃは図
６に示したレーザの照射系と受光系を所定の角度を保持
して収納できるように構成されており、その詳細は図５
を用いて後述する。

【００２９】図１２に示すように中ドラム１６に取り付
けられる磁気ヘッド２の高さがそれぞれ相違することか
ら、中ドラム１６の同一平面内だけレーザを照射したの
では全ての磁気ヘッド２の位置を測定することはできな
い。そのため、光学ブロック部ｃは光学系移動機構部ｂ
に取り付けられ、この光学系移動機構部ｂを動作させる
ことによって光学ブロック部ｃを中ドラム１６の回転軸
上に所定の距離だけスライドできるように構成されてい
る。光学系移動機構部ｂの構成は図４を用いて後述す
る。

【００３０】光学ブロック部ｃの側部には図３にも示す
ように光学ブロック部ｃが中ドラム１６と常に所定の距
離を隔てて対峙するように位置決めブロック部ｄが設け
られる。この位置決めブロック部ｄに設けられた突き当
て部３２を下ドラム（回転しない固定ドラムである）１
４の外周面に当接させることによって、光学ブロック部
ｃと中ドラム１６との相対的な位置関係が常に設計通り
となるように規制している。

【００３１】図１に示すように支持アーム部ａの中央部
には回転駆動手段を構成する回転ローラ部ｅが設けられ
る。回転ローラ部ｅは磁気ヘッド位置測定中中ドラム１
６が所定の回転数で回転するように外部からその回転駆
動力を与えるための手段である。

【００３２】回転ローラ部ｅはモータ３０２を有し、そ
の下側から引き出されたモータ回転軸（図示はしない）
に所定径のローラ３０５が取り付けられ、モータ３０２
とローラ３０５との間はアーム取り付け部３０４となさ
れ、アーム取り付け部３０４より伸びたＬ字状の取り付
けアーム３０１の先端部が支持アーム部ａの中央部に固
定ネジ９によって回動自在に取り付け固定される。図２
において、３０３はアーム取り付け部３０４にモータ３
０２が支承されるようにするためのジョイントネジであ
る。

【００３３】モータ３０２に取り付けられたローラ３０
５は図１および図３に示すように中ドラム１６の周面に
転接するようにその配置関係が選定され、モータ３０２
の回転力が中ドラム１６に伝達されるようになされる。
中ドラム１６の周面は通常の場合上ドラム１８の外周面
に隠れているので、磁気ヘッド位置測定時は図１〜図３
に示すように上ドラムを外した状態で使用される。

【００３４】そのとき、中ドラム１６が所定の回転数
（低速回転で、例えば６０ｒｐｍ）で駆動されるように
するため、モータ３０２の回転数やローラ３０５の直径
などが適宜選定される。磁気ヘッド測定中、中ドラム１
６を低速回転駆動するのは、測定装置に使用される処理
手段（Ａ／Ｄ変換器など）として処理速度の遅いものを
使用できるようにして測定装置自体のコストダウンを図
るためである。

【００３５】ローラ３０５を介して中ドラム１６を駆動
するにはそれなりの圧着力でローラ３０５を転接させる
必要がある。

【００３６】上述した支持アーム部ａの先端部ａ’側に
は図１〜図３に示すように、中ドラム１６の回転軸と平
行に２本のガイド棒４０および４０を植立して光学ブロ
ック部ｃをその上下移動方向に対してガイドする。

【００３７】支持アーム部ａの先端部ａ’には図４にも
示すようにステッピングモータ４４の回転軸４８がガイ
ド棒４０および４０と平行になるように、ネジ４６でス
テッピングモータ４４が保持される。ステッピングモー
タ４４は継手５０を介して駆動軸５２が連結される。駆
動軸５２はその先端部分にＭ３細目のネジ加工が施され
たものが使用されている。

【００３８】図４に示す光学ブロック部ｃに設けられた
ベース部材５４は、ガイド棒４０および４０が貫通する
貫通穴（図示はしない）に加えて、この駆動軸５２が貫
通する貫通穴５６が形成され、駆動軸５２と噛み合うタ
ップ板５８が貫通穴５６の上端面にネジ６０でネジ留め
されている。

【００３９】この構成によって、駆動軸５２が回転する
とベース部材５４がガイド棒４０および４０でガイドさ
れて矢印ｂで示す上下方向に移動するから、ステッピン
グモータ４４を駆動することによって光学ブロック部ｃ
と位置決めブロック部ｄを所定位置に可動できる。

【００４０】タップ板５８の上部には波型スプリングワ
ッシャ６２を押圧するようにタップ板６４が駆動軸５２
にねじ込まれ、タップ板６４の回転をピン６６で制限し
ている。これによって駆動軸５２の回転に伴うがたが少
なくなり、測定精度が大幅に改善される。

【００４１】継手５０には駆動軸５２と直交するように
ストッパ用のピン６８が配置され、ピン６６が当たった
位置でベース部材５４がストップし、この位置が基準位
置となる。

【００４２】図５は光学ブロック部ｃの一例を示す。光
学ブロック部ｃは取り付け部材であるベース部材５４の
中にレーザ光源等の複数の光学部品を保持するための機
構部である。

【００４３】光学ブロック部ｃはベース部材５４の下端
の一部に取り付けられたレーザダイオードブロック７０
とレンズブロック７２によってレーザダイオード１、絞
り７４および対物レンズ４が保持され、ベース部材５４
の上端部に取り付けられたＰＳＤブロック７６によって
位置検出素子（例えばＰＤＳ）３が保持される。

【００４４】集光レンズ５で集光された反射光ビームＬ
Ａ２はミラー７８で直角に反射されて位置検出素子３に
導びかれる。

【００４５】上述した（５）式から明らかなように、集
光レンズ５から位置検出素子３までの距離Ｅ１を大きく
すれば検出精度を向上し得るが、この実施例のように光
路を直角に折り曲げて形成すれば、その分少ないスペー
スを有効利用して距離Ｅ１を大きくすることができるた
めその分測定精度を改善できる。

【００４６】上述したミラー７８はベース部材５４に形
成した反射光ビームＬＡ２の光路形成用の貫通穴に対し
て、この貫通穴の裏側から所定の止め板８０（図１参
照）で抑えられている。

【００４７】上述した磁気ヘッド位置検出装置において
は図７に示す突出量検出回路で位置検出素子３の出力信
号Ｓ０を処理することによって磁気ヘッドの突出量を検
出できるので、このとき併せて中ドラム１６の偏心量
（周ぶれ）も同時に検出される。

【００４８】突出量検出回路９においては、回転ドラム
パルス発生器１４０で中ドラム１６の回転周期で信号レ
ベルが立ち上がる回転ドラムパルスＰＧが生成されてク
ロックカウンタ１４２に出力される。

【００４９】回転ドラム周波数発生器１４４では中ドラ
ム１６が所定角度回転すると信号レベルが切り換わる回
転周波数信号ＦＧが生成されクロックカウンタ１４２に
出力される。

【００５０】クロックカウンタ１４２では回転ドラムパ
ルスＰＧを基準にしてカウント値をリセットして回転周
波数信号ＦＧをカウントし、これにより中ドラム１６が
１回転すると信号レベルが切り換わる回転周期信号およ
び中ドラム１６が所定角度回転すると信号レベルが切り
換わる回転角度信号がそれぞれ生成される。

【００５１】タイミングパルス発生回路１４６ではこの
回転周期信号および回転角度信号を基準にして制御回路
１４８から出力される制御信号に基づいて、所定のタイ
ミングで立ち上がるサンプリングパルスが生成され、こ
のサンプリングパルスをサンプルホールド回路（ＳＨ）
１５０に出力して位置検出素子３の出力信号Ｓ０がサン
プルホールドされる。

【００５２】これにより中ドラム１６の外周面の位置を
所定角度毎に検出して周ぶれを検出する。同様にして磁
気ヘッド２の位置検出結果を得、この位置検出結果から
中ドラム１６の外周面の位置検出結果を減算して磁気ヘ
ッドの突出量が検出される。

【００５３】すなわち図１３に示すように出力信号Ｓ０
においては、中ドラム１６の回転に同期して信号レベル
が変化する。このためこの実施例においては、回転ドラ
ムパルスＰＧおよび回転周波数信号ＦＧから生成した回
転周期信号および回転角度信号を基準にして出力信号Ｓ
０をサンプルホールドすることにより、光ビームＬＡ１
の照射位置を磁気ヘッドが横切るタイミングで出力信号
Ｓ０の信号レベルＵ１を検出し、これにより磁気ヘッド
の摺接面位置を検出する。

【００５４】さらに光ビームＬＡ１の照射位置を中ドラ
ム１８の外周面が横切る期間の間、すなわち時点ｔ１以
前または時点ｔ２以降の時点で出力信号Ｓ０の信号レベ
ルＵ２を検出し、これより Ｙ＝｜Ｕ１−Ｕ２｜ ・・・・・（６） の演算処理を実行して磁気ヘッドの突出量Ｙが検出され
る。

【００５５】このため制御回路１４８において、サンプ
ルホールド回路１５０のサンプルホールド結果がアナロ
グディジタル変換回路（Ａ／Ｄ）１５２を介して取り込
まれ、このときモータ駆動部１５４を介してステッピン
グモータ４４を駆動し、これにより測定対象となる磁気
ヘッドの高さに応じて光学ブロック部ｃの位置を調整す
る。つまり、制御回路１４８では所定の操作子の操作に
応動して動作モードが切り替えられて測定開始の操作子
が押圧操作されると、図８または図９の処理手順を実行
する。

【００５６】図８において、周ぶれ測定モードに設定さ
れて測定開始の操作子が押圧操作されると、ステップＳ
Ｐ１からステップＳＰ２に移り、ここでモータ駆動部１
５４に制御信号を出力することにより、ステッピングモ
ータ４４を駆動して光学ブロック部ｃを上側に移動させ
る。

【００５７】このときステッピングモータ４４が回転困
難になるまでステッピングモータ４４を回転駆動して光
学ブロック部ｃをピン６６の突出量（移動量）で決まる
基準位置まで移動させる。

【００５８】続いてステップＳＰ３においてステッピン
グモータ４４を駆動して光学ブロック部ｃを中ドラム１
６の外周面と対向させる。続くステップＳＰ４でタイミ
ングパルス発生回路１４６の動作を切り換え、これより
中ドラム１６が２２．５度回転する毎にサンプルホール
ド回路１５０にサンプリングパルスを出力する。

【００５９】これによりアナログディジタル変換回路１
５２を介して順次サンプルホールド結果を取り込むこと
により、中ドラム１６の外周面を等間隔に１６等分して
サンプル点を設定し、各サンプル点毎に外周面の位置を
検出する。外周面の測定が完了するとステップＳＰ５に
移り、測定結果を操作表示部１５６に表示する。

【００６０】ステップＳＰ６では再スタートの操作子が
押圧操作されたか否かを判断し、ここで肯定結果が得ら
れると、ステップＳＰ４に戻る。これによりオペレータ
においては、必要に応じて周ぶれ測定を再開することに
より、即座に調整結果を確認し得、これにより必要に応
じて測定および調整作業を繰り返して、簡易に周ぶれを
補正することができる。

【００６１】ステップＳＰ６において否定結果が得られ
ると、ステップＳＰ７に移って停止の操作子が押圧操作
されたか否か判断し、ここで否定結果が得られると、ス
テップＳＰ６に戻るのに対し、ここで肯定結果が得られ
ると、ステップＳＰ８に移って周ぶれの測定を完了す
る。

【００６２】周ぶれを調整したあとでの突出量測定モー
ドにおいては図９に示すように、測定開始の操作子が押
圧操作されると、ステップＳＰ９からステップＳＰ１０
に移り最も上側に位置する磁気ヘッドと対向する位置ま
で光学ブロック部ｃを移動させる。

【００６３】その後ステップＳＰ１１に移ってタイミン
グパルス発生回路１４６に制御信号を出力し、この磁気
ヘッドが光ビームＬＡ１の照射位置を横切るタイミング
で出力信号Ｓ０をサンプルホールドすることによって、
最も上側に位置する磁気ヘッドの摺接面の位置が検出さ
れる。

【００６４】その後、ステップＳＰ１２に移って全ての
磁気ヘッドについて測定を完了したか否かを判断し、全
ての磁気ヘッドの測定が完了していないときは次の磁気
ヘッドに対向する位置まで光学ブロック部ｃを移動させ
た後、前と同じような測定が実行され、最終の磁気ヘッ
ドに対する測定が終了するとこの測定モードを抜ける。

【００６５】このように光学的移動機構部ｂに対する制
御系を設けることによって、磁気ヘッドの測定の終了の
都度、光学ブロック部ｃが自動的に次の磁気ヘッドに対
向するようになるので、いちいち光学ブロック部ｃの位
置を調整しなくても済むため、組立作業およびメンテナ
ンス作業を格段的に簡略化できる。

【００６６】上述した回転制御手段としては図１に示し
たように回転ローラ部ｅを使用した例を述べた。このよ
うに回転磁気ヘッド装置に装着してヘッドの位置を測定
する場合には現存する回転磁気ヘッド装置をそのまま使
用することができるので非常に楽である。

【００６７】勿論回転磁気ヘッド装置自体にこのような
回転制御手段を内蔵させても差し支えない。例えば回転
ドラムに対する制御手段（マイクロコンピュータ）に回
転制御を行うためのソフトウエアを搭載しておくことも
できる。この場合には上述した測定作業時、ソフト的に
形成された回転制御信号に基づいて中ドラム１６を低速
駆動させればよい。

【００６８】この他に、例えば回転ドラム駆動電圧制御
手段内に回転制御手段を設け、その駆動電圧を制御する
ことによって中ドラム１６を低速駆動してもよいし、種
々の変形変更が可能である。

【００６９】磁気ヘッド位置測定時の中ドラム１６の回
転数は上述した例には限られず、要は測定可能な範囲で
の低速駆動とすればよい。あまり、低速であると測定時
間ばかりかかってしまうからである。測定対象となるビ
デオテープレコーダもこの例のものに限られない。

【００７０】

【発明の効果】上述のようにこの発明によれば、磁気ヘ
ッドの位置測定時は磁気ヘッドの取り付けられたドラム
を位置測定に適した低速で駆動できるので、位置測定装
置を構成する各種処理回路系の処理速度としては非常に
低速のものを利用することができ、その分測定装置自体
のコストを大幅に下げることができるなど実用上の大き
なメリットを有する。

【００７１】したがって、この発明は記録再生特性が厳
格な業務用ビデオテープレコーダなどに適用して極めて
好適である。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係る磁気ヘッド位置測定装置を回転
磁気ヘッド装置に装備した状態を示す斜視図である。

【図２】磁気ヘッド位置測定装置を装着する前の状態を
示す斜視図である。

【図３】図１の上面図である。

【図４】光学系移動機構の説明をする断面図である。

【図５】光学ブロック部の要部を示す断面図である。

【図６】磁気ヘッドの位置測定の原理図である。

【図７】磁気ヘッドの突出量を検出する回路の一例を示
すブロック図である。

【図８】周ぶれ測定のための一例を示すフローチャート
の図である。

【図９】ヘッド測定のための一例を示すフローチャート
の図である。

【図１０】回転ドラム装置の断面図である。

【図１１】中ドラムの平面図である。

【図１２】中ドラムの展開図である。

【図１３】ヘッド位置の測定結果を示す図である。

【符号の説明】

２，２Ａ〜２Ｄ 磁気ヘッド ３ 位置検出素子 １６ 中ドラム ａ 支持アーム部 ｂ 光学系移動機構部 ｃ 光学ブロック部 ｄ 位置決めブロック部 ｅ 回転制御手段（回転ローラ部） ３０１ 取り付けアーム ３０２ モータ ３０５ ローラ

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 回転磁気ヘッドの取り付けられたドラム
   を低速回転させる回転制御手段が設けられ、 回転磁気ヘッドの位置測定時上記ドラムが低速駆動され
   るようになされたことを特徴とする磁気ヘッド位置測定
   装置。
2. 【請求項２】 上記回転制御手段は、モータとこれに取
   り付けられたローラを有し、このローラが上記ドラムの
   周面に転接するようになされたことを特徴とする請求項
   １記載の磁気ヘッド位置測定装置。
3. 【請求項３】 上記回転制御手段は、上記磁気ヘッド位
   置測定装置側に回動自在に取り付けられたことを特徴と
   する請求項１記載の磁気ヘッド位置測定装置。
4. 【請求項４】 上記回転制御手段は、回転ドラム制御手
   段内に設けられ、ソフト的に形成された回転制御信号に
   基づいて上記ドラムが低速駆動されるようになされたこ
   とを特徴とする請求項１記載の磁気ヘッド位置測定装
   置。
5. 【請求項５】 上記回転制御手段は、回転ドラム駆動電
   圧制御手段内に設けられ、その駆動電圧を制御すること
   によって上記ドラムが低速駆動されるようになされたこ
   とを特徴とする請求項１記載の磁気ヘッド位置測定装
   置。