JPH06299371A - Method for controlling etching solution and automatic controlling device - Google Patents

Method for controlling etching solution and automatic controlling device

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Publication number
JPH06299371A
JPH06299371A JP5108799A JP10879993A JPH06299371A JP H06299371 A JPH06299371 A JP H06299371A JP 5108799 A JP5108799 A JP 5108799A JP 10879993 A JP10879993 A JP 10879993A JP H06299371 A JPH06299371 A JP H06299371A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ammonia gas
etching solution
copper
etching
automatically
Prior art date
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Pending
Application number
JP5108799A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ryoichi Tsukahara
涼一 塚原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Mining Co Ltd filed Critical Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Priority to JP5108799A priority Critical patent/JPH06299371A/en
Publication of JPH06299371A publication Critical patent/JPH06299371A/en
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Abstract

PURPOSE:To provide a method and device for automatically controlling an etching soln. by which the service life of a copper etching soln. is prolonged and a change of etching time with the lapse of time is suppressed in the pH control of the copper etching soln. using a copper-ammine complex. CONSTITUTION:This device is composed essentially of a part 2 for automatically measuring the pH of a copper etching soln., a controlling part 15 for calculating the difference between the measured pH and the desired pH and sending a gaseous ammonia feeding signal and a part for feeding gaseous ammonia into the etching soln.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業状の利用分野】本発明は、エッチング液のpH管
理に関し、具体的には、TABやプリント基板およびF
PC等の製造工程において、銅をエッチングする目的で
用いられる銅アンミン錯体利用のエッチング液に対する
pH管理方法および管理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to pH control of etching solutions, and more specifically, to TAB, printed circuit boards and F
The present invention relates to a pH control method and a control apparatus for a copper ammine complex-based etching solution used for the purpose of etching copper in the manufacturing process of PC and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】TABやプリント基板およびFPC等の
製造工程において、電気回路を形成するために、導体部
の一部をエッチングで除去する方法がしばしば用いられ
る。
2. Description of the Related Art In the process of manufacturing TAB, printed circuit boards, FPCs, etc., a method of removing a part of a conductor portion by etching is often used to form an electric circuit.

【0003】導体部が銅の場合、銅アンミン錯体を含む
エッチング液が用いられることが多い。これは2価の銅
アンミン錯体が、アンモニアアルカリ性で、金属銅と不
均化反応を起こし、金属銅をイオン化して溶解する反応
を利用したものである。このエッチング液は、容易にア
ンモニアが空気中に揮散するため、エッチングに要する
時間(以下「エッチング時間」とする)の経時変化が大
きく、生産効率を低下させるという問題、また、エッチ
ング液調整後、2週間ほど使うとエッチングが困難にな
り使えなくなるという問題を有していた。
When the conductor portion is copper, an etching solution containing a copper ammine complex is often used. This utilizes a reaction in which a divalent copper ammine complex is alkaline with ammonia, causes a disproportionation reaction with metallic copper, and ionizes and dissolves metallic copper. This etching solution has a problem that the time required for etching (hereinafter referred to as “etching time”) changes greatly with time because ammonia volatilizes easily into the air, which lowers the production efficiency. When used for about 2 weeks, there was a problem that etching became difficult and unusable.

【0004】この問題を解決する手段として、エッチン
グ液中のアンモニアが減ったときに、アンモニア水をエ
ッチング液に添加する方法がある。しかし、アンモニア
水の添加を繰り返し行うと、エッチング液に含まれるア
ンモニア以外の成分の濃度が低下して、その結果エッチ
ング時間が長くなってしまう。また、アンモニアの揮散
による、エッチング液中のアンモニアの減少は早いの
で、その低下状況を頻繁に調査し、アンモニアの添加も
頻繁に行わないと、エッチング時間を一定にするため
に、エッチング液中のアンモニアの量を一定に保つのは
難しい。そのうえ、これを人手で行うのは大変な労力を
有する。更に、アンモニア水の単価は、同じモル量のア
ンモニアガスの単価の約15倍と高価である。
As a means for solving this problem, there is a method of adding ammonia water to the etching solution when the ammonia in the etching solution is reduced. However, if ammonia water is repeatedly added, the concentration of components other than ammonia contained in the etching solution decreases, and as a result, the etching time becomes longer. In addition, the amount of ammonia in the etching solution decreases quickly due to the volatilization of ammonia. Therefore, if the decrease condition is frequently investigated and ammonia is not added frequently, in order to keep the etching time constant, It is difficult to keep the amount of ammonia constant. Moreover, doing this manually is labor intensive. Furthermore, the unit price of ammonia water is about 15 times as expensive as the unit price of the same molar amount of ammonia gas.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、銅エッチン
グ液の寿命を長くし、かつ、エッチング時間の経時変化
をなくすための銅エッチング液の自動管理方法およびそ
の装置を提供しようとするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is intended to provide a method and apparatus for automatically managing a copper etching solution for prolonging the life of the copper etching solution and eliminating the change with time of the etching time. is there.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の管理方法は、銅アンミン錯体を利用した銅の
エッチング液のpHを自動的に測定する工程と、前記測
定pH値と管理したいpH値との差を計算して、pH差
によりにアンモニアガス供給信号を出力する制御工程
と、前記アンモニアガス供給信号により必要なアンモニ
アガスの量を自動的に算出し、前記エッチング液にアン
モニアガスを供給する工程からなり、前記エッチング液
のpHが一定になるようにエッチング液にアンモニアガ
スを自動的に吹き込むことを特徴とする。
The control method of the present invention for solving the above-mentioned problems includes a step of automatically measuring the pH of a copper etching solution using a copper ammine complex, and the measured pH value and management. A step of calculating a difference from a desired pH value and outputting an ammonia gas supply signal according to the pH difference, and automatically calculating a necessary amount of ammonia gas according to the ammonia gas supply signal, The method is characterized by comprising a step of supplying a gas, and automatically blowing ammonia gas into the etching solution so that the pH of the etching solution becomes constant.

【0007】また、本発明の自動管理装置は、銅アンミ
ン錯体を利用した銅のエッチング液の試料を採取し、エ
ッチング液試料のpHを自動的に測定する部分(以下
「pH測定部」という)と、前記測定pH値と管理した
いpH値との差を計算して、pH差によりにアンモニア
ガス供給信号を出力する制御部分(以下「コントロール
部」という)と、前記アンモニアガス供給信号により必
要なアンモニアガスの量を自動的に算出し、前記エッチ
ング液にアンモニアガスを供給する部分(以下「ガス供
給部」という)とからなるエッチング液のpH管理装置
であって、前記エッチング液のpHが一定になるように
エッチング液にアンモニアガスを自動的に吹き込むよう
にしたことを特徴とする
Further, the automatic management apparatus of the present invention collects a sample of an etching solution of copper using a copper ammine complex and automatically measures the pH of the etching solution sample (hereinafter referred to as "pH measuring section"). And a control part (hereinafter referred to as "control part") that calculates the difference between the measured pH value and the pH value to be managed and outputs an ammonia gas supply signal according to the pH difference, and a control part required by the ammonia gas supply signal. A pH control device for an etching solution, comprising a part for automatically calculating the amount of ammonia gas and supplying the ammonia gas to the etching solution (hereinafter referred to as "gas supply part"), wherein the pH of the etching solution is constant. Ammonia gas is automatically blown into the etching solution so that

【0008】また、エッチング液試料のpH管理を自動
的に測定するpH測定部には、一回の測定ごとに測定終
了後、pH電極を洗浄、保護すると共に、測定の開始前
にpH電極を校正する部分を有する。
In addition, the pH measuring section for automatically measuring the pH control of the etching liquid sample has a pH electrode that is washed and protected after the measurement is completed after each measurement, and the pH electrode is not measured before the measurement is started. It has a part to be calibrated.

【0009】従って、pH測定部は、pH測定槽、試料
採取ポンプ、pH電極洗浄用純水供給配管、pH校正液
供給装置および排液処理装置から構成される。
Therefore, the pH measuring section is composed of a pH measuring tank, a sampling pump, a pure water supply pipe for cleaning the pH electrode, a pH calibration liquid supply device and a waste liquid treatment device.

【0010】コントロール部は、測定したpH値と管理
したいpH値の差を演算し、設定pH値と比較し、アン
モニアガス信号を出力する部分と、アンモニアガス供給
信号を出力する時間を演算し、その時間を指示する部分
で構成される。
The control unit calculates the difference between the measured pH value and the pH value to be managed, compares it with the set pH value, and calculates the portion for outputting the ammonia gas signal and the time for outputting the ammonia gas supply signal. It is composed of a part that indicates the time.

【0011】ガス供給部は、アンモニアガスの入ったボ
ンベ、ガス圧力調整器、流量計、バルブ、ガス配管およ
びエッチング液の逆流を防止する逆止弁から構成され
る。
The gas supply unit is composed of a cylinder containing ammonia gas, a gas pressure regulator, a flow meter, a valve, a gas pipe, and a check valve for preventing backflow of the etching solution.

【0012】[0012]

【作用】pHの測定は、設定された時間毎に自動的にp
Hを測定する。
[Function] The pH is automatically measured at the set time.
Measure H.

【0013】設定された時間に、自動管理装置は、通電
され、まずpH校正液によりpH電極の校正を行う。校
正が終了すると、pH測定試料を採取し、pHをpH電
極にて測定する。pH測定終了後、pH電極を純水にて
洗浄し、排液して、一回のpH測定の工程を終了する。
At the set time, the automatic control device is energized, and the pH electrode is first calibrated by the pH calibration liquid. When the calibration is completed, a pH measurement sample is collected and pH is measured with a pH electrode. After the pH measurement is completed, the pH electrode is washed with pure water and drained to complete one pH measurement step.

【0014】一方、コントロール部は、pH測定値の信
号を受信し、測定したpHと、エッチング液をその値に
管理したいpH(以下「目的pH」という)との差(以
下「pH差」という)が、設定された値よりも大きい
と、アンモニアガス供給信号を出力する。この信号が出
力されている間は、アンモニアガスを供給するためのバ
ルブが開いている。アンモニアガスの流量(l(リット
ル)/分)およびpHを1高くするために必要なアンモ
ニアガスの量(以下「アンモニアガス/pH」とする)
を入力しておくと、アンモニアガス供給信号を出力して
いる時間(以下「アンモニアガス供給時間」とする)
は、次の式から自動的に算出される。
On the other hand, the control unit receives the signal of the pH measurement value, and the difference between the measured pH and the pH at which the etching liquid is to be controlled to that value (hereinafter referred to as "target pH") (hereinafter referred to as "pH difference"). ) Is larger than the set value, the ammonia gas supply signal is output. While this signal is being output, the valve for supplying ammonia gas is open. Ammonia gas flow rate (l (liter) / min) and the amount of ammonia gas required to raise the pH by 1 (hereinafter referred to as "ammonia gas / pH")
When is input, the time during which the ammonia gas supply signal is output (hereinafter referred to as "ammonia gas supply time")
Is automatically calculated from the following formula.

【0015】[アンモニアカ゛ス供給時間]=[pH差]×[アンモニ
アカ゛ス/pH]÷[アンモニアカ゛ス流量]
[Ammonia gas supply time] = [pH difference] × [ammonia gas / pH] ÷ [ammonia gas flow rate]

【0016】アンモニアガス/pHは、あるアンモニア
ガス流量(l(リットル)/分)で、ある時間(分)エ
ッチング液にアンモニアガスを吹き込み、吹き込む前後
のpHの差から、次の式で算出する。
Ammonia gas / pH is calculated by the following formula from the difference in pH before and after the ammonia gas is blown into the etching solution for a certain time (minute) at a certain flow rate (l (liter) / minute) of the ammonia gas. .

【0017】 [アンモニアカ゛ス/pH]=[アンモニアカ゛ス流量]×[アンモニアカ゛スを吹
き込んだ時間]÷[吹き込む前後のpHの差]
[Ammonia gas / pH] = [Ammonia gas flow rate] × [Ammonia gas blowing time] ÷ [pH difference before and after blowing]

【0018】アンモニアガスのエッチング液への供給
は、コントロール部から出力されるアンモニアガス供給
信号である電気信号が、電磁弁に送られ、電磁弁が開
き、その結果、空気圧バルブが開くことにより、アンモ
ニアガスの入ったボンベから行われる。
The ammonia gas is supplied to the etching solution by supplying an electric signal, which is an ammonia gas supply signal output from the control section, to the solenoid valve, which opens the solenoid valve and, as a result, the pneumatic valve. It is performed from a cylinder containing ammonia gas.

【0019】以下のように、pH測定、得られたPhか
らアンモニアガスの供給の必要性を判断し、必要があれ
ばアンモニアガス供給信号の出力、該アンモニアガス供
給信号により、アンモニアガスをエッチング液に供給の
一連の工程が自動的に管理される。
As described below, the necessity of the ammonia gas supply is judged from the pH measurement and the obtained Ph, and if necessary, the output of the ammonia gas supply signal, the ammonia gas supply signal is used to etch the ammonia gas. A series of supply processes are automatically controlled.

【0020】[0020]

【実施例】本発明に係る実施例を詳述する。EXAMPLES Examples according to the present invention will be described in detail.

【0021】図1は、本発明に係る実施例のエッチング
液の自動管理装置の概略系統図である。自動管理装置
は、エッチング液のpHを自動的に測定する部分と、得
られたpHからアンモニアガスの供給の必要の有無を判
断し、必要があればアンモニアガス供給信号を出力する
部分およびアンモニアガス供給信号が出力されると、ア
ンモニアガスをエッチング液に吹き込む部分からなる。
FIG. 1 is a schematic system diagram of an automatic etching liquid management apparatus according to an embodiment of the present invention. The automatic management device automatically measures the pH of the etching solution, and determines from the obtained pH whether ammonia gas needs to be supplied, and if necessary, outputs an ammonia gas supply signal and ammonia gas. When the supply signal is output, it is composed of a portion for blowing ammonia gas into the etching solution.

【0022】pH測定部は、pH測定槽2、pH測定槽
2にエッチング液を自動的に汲み上げる試料採取ポンプ
1およびpH測定槽2の中央に取り付けられたpH電極
3から構成される。
The pH measuring unit is composed of a pH measuring tank 2, a sampling pump 1 for automatically pumping the etching solution into the pH measuring tank 2, and a pH electrode 3 attached to the center of the pH measuring tank 2.

【0023】さらに、pH電極3を校正する二種類のp
H校正液12とpH校正液14を入れたそれぞれの容
器、pH校正液供給ポンプ13、pH校正液12と14
を切り替える三方弁11から構成されるpH測定電極校
正装置が設けられている。pH校正液12および14の
pHはそれぞれ7.41および10.01である。
Further, two types of p for calibrating the pH electrode 3 are used.
Each container containing H calibration solution 12 and pH calibration solution 14, pH calibration solution supply pump 13, pH calibration solutions 12 and 14
There is provided a pH measuring electrode calibration device including a three-way valve 11 for switching between. The pH of the pH calibration solutions 12 and 14 are 7.41 and 10.01, respectively.

【0024】さらに、pH測定電極3を洗浄する純水を
供給するために配管7、電磁弁8が設けられ、一方pH
測定槽2の排液を排出するために三方コック4を介し
て、配管5および配管9、10が接続されている。
Further, a pipe 7 and a solenoid valve 8 are provided to supply pure water for cleaning the pH measuring electrode 3, while
A pipe 5 and pipes 9 and 10 are connected to each other via a three-way cock 4 for discharging the drainage of the measuring tank 2.

【0025】pH測定部では、三方コック4をAの位置
にして、設定された時間毎に、ポンプ1を用いて、エッ
チング液を自動的にpH測定槽2に汲み上げ、pH電極
3を用いてpHを測定する。測定が終わると、三方コッ
ク4をAの位置からBの位置に変え、配管5を通して、
エッチング液を下地銅溶解浴6に戻す。続いて、pH電
極3を洗浄し、保護するために、三方コック4をAの位
置に変えた後、純水配管7の途中の電磁弁8を開いて、
pH測定槽2に純水を満たす。この純水は次の測定のた
めにpH測定槽2にエッチング液が汲み入られる前に、
三方コック4をCの位置に変え、配管9を通して、排液
配管10に捨てられる。
In the pH measuring section, the three-way cock 4 is set to the A position, the pump 1 is used to automatically pump up the etching solution into the pH measuring tank 2 at a set time, and the pH electrode 3 is used. Measure pH. After the measurement is completed, the three-way cock 4 is changed from the position A to the position B, and the pipe 5 is passed through
The etching solution is returned to the base copper dissolving bath 6. Then, in order to wash and protect the pH electrode 3, after changing the three-way cock 4 to the position A, the solenoid valve 8 in the middle of the pure water pipe 7 is opened,
The pH measuring tank 2 is filled with pure water. Before the etching solution is pumped into the pH measuring tank 2 for the next measurement, this pure water is
The three-way cock 4 is changed to the position of C, and the three-way cock 4 is passed through the pipe 9 and discarded into the drainage pipe 10.

【0026】また、下地銅溶解浴6が稼働するに先立
ち、自動管理装置が通電されると、三方コック11をD
の位置に変え、pH校正液12をポンプ13を用いてp
H測定槽2に汲み入れ、pH電極3の校正が行われる。
更に、三方コック11をEの位置に変え、pH校正液1
4をポンプ13を用いてpH測定槽2に汲み入れ、pH
電極3の校正が行われる。
When the automatic control device is energized before the base copper dissolving bath 6 is operated, the three-way cock 11 is turned on.
Position, and use the pump 13 to adjust the pH calibration solution 12 to p
The pH electrode 3 is calibrated by pumping it into the H measuring tank 2.
Furthermore, the three-way cock 11 is changed to the E position, and the pH calibration solution 1
4 is pumped into the pH measuring tank 2 using the pump 13,
The electrode 3 is calibrated.

【0027】コントロール部15は、pH測定電極3の
pH測定値を受信し、測定したpHと、エッチング液を
その値に管理したいpHとの差が、設定された値よりも
大きいと、アンモニアガス供給信号を出力する。アンモ
ニアガス供給信号は、電磁弁23に送信される。
The control unit 15 receives the pH measurement value of the pH measurement electrode 3, and if the difference between the measured pH value and the pH value at which the etching liquid is to be controlled to that value is larger than the set value, the ammonia gas is discharged. Output supply signal. The ammonia gas supply signal is transmitted to the solenoid valve 23.

【0028】ガス供給部は、アンモニアガスの入ったボ
ンベ16、ガス圧力調整器17、流量計18、空気圧開
閉バルブ19および逆止弁20とそれらを接続するガス
配管21からなる。逆止弁20はガス配管21の先端に
付いており、エッチング液中に差し込まれている。
The gas supply unit comprises a cylinder 16 containing ammonia gas, a gas pressure regulator 17, a flow meter 18, an air pressure opening / closing valve 19, a check valve 20 and a gas pipe 21 connecting them. The check valve 20 is attached to the tip of the gas pipe 21 and is inserted into the etching solution.

【0029】コントロール部15から出力されるアンモ
ニアガス供給信号は電気信号である。この電気信号が、
空気圧開閉バルブ19に供給されている圧縮空気配管2
2の途中にある電磁弁23に送られると電磁弁23が開
き、その結果空気圧開閉バルブ19が開く。アンモニア
は水に対する溶解度が非常に大きく、その供給を止める
と、エッチング液がガス配管21を逆流してくる。これ
を防ぐために逆止弁20が取り付けられている。
The ammonia gas supply signal output from the control unit 15 is an electric signal. This electrical signal
Compressed air piping 2 supplied to pneumatic on-off valve 19
When it is sent to the solenoid valve 23 in the middle of 2, the solenoid valve 23 opens, and as a result, the pneumatic opening / closing valve 19 opens. Ammonia has a very high solubility in water, and when the supply of ammonia is stopped, the etching solution flows back through the gas pipe 21. A check valve 20 is attached to prevent this.

【0030】上記本発明の係る実施例の自動管理装置を
2槽TABの製造における下地溶解工程に適用した。
The automatic control apparatus of the above-described embodiment of the present invention was applied to the base melting step in the production of the two-tank TAB.

【0031】下地銅溶解工程とは、銅ポリミイド基板の
銅側の、リードを形成したい部分に銅を厚付けめっきし
た後、めっきしなかった部分の銅(下地銅)のみをエッ
チングにより溶解して、リードにより配線された電気回
路を得る工程である。下地銅溶解浴6には、銅35g/
l(リットル)、塩素100g/l(リットル)および
所望のpHになる量のアンモニアが含まれる銅エッチン
グ液が15l(リットル)入っている。この浴は1日約
6時間稼働し、1日当たり1〜10gの銅が、エッチン
グされる。
In the copper undercoating step, the copper side of the copper polymide substrate is thickly plated on the portion where the lead is to be formed, and then only the copper (underlying copper) in the unplated portion is dissolved by etching. , A step of obtaining an electric circuit wired by leads. The base copper dissolving bath 6 contains 35 g of copper /
1 (liter), 100 g / l (chlorine) of chlorine, and 15 l (liter) of a copper etching solution containing ammonia in an amount to achieve a desired pH. The bath operates for about 6 hours a day, etching 1-10 g of copper per day.

【0032】自動管理装置を稼働し、この時の1日の平
均pH(以下「平均pH」とする)、1日の最大pHと
最小のpHの差(以下「pH変動」とする)およびエッ
チング時間の変化を調査した。エッチング時間の測定
は、特願平4―328935「エッチング液の特性評価
装置およびその特性評価方法」による。
The automatic management device is operated, and at this time, the average pH of the day (hereinafter referred to as "average pH"), the difference between the maximum pH and the minimum pH of the day (hereinafter referred to as "pH fluctuation"), and etching. The change of time was investigated. The etching time is measured by Japanese Patent Application No. 4-328935 “Etching liquid property evaluation apparatus and its property evaluation method”.

【0033】すなわち、テストピースを下地銅溶解液に
浸漬したときの、テストピース両端の電気抵抗の変化を
測定して、浸漬を始めたときから、下地銅が解けて、抵
抗が5Ωに上昇するまでの時間を調べ、エッチング時間
とした。テストピースを図2に示す。これは2槽TAB
の製造における下地銅溶解工程前のサンプルをコの字形
に切り取った物で、50μmの厚さのポリミイドフィル
ム24と、0.6μmの厚さの下地銅25、そして25
μmの厚さまで銅を厚付けしたリード26からなる。
That is, when the test piece is dipped in the copper base solution, the change in the electrical resistance at both ends of the test piece is measured, and the copper base is thawed and the resistance rises to 5Ω from the start of the immersion. The etching time was set as the etching time. The test piece is shown in FIG. This is a 2 tank TAB
The sample before the step of melting the underlying copper in the production of the above is cut into a U-shape, and the polymide film 24 having a thickness of 50 μm, the underlying copper 25 having a thickness of 0.6 μm, and 25
It consists of leads 26 with copper thickened to a thickness of μm.

【0034】調査した平均pHの日毎の変化を図3に□
で示す。初めの数日の平均pHが高いが、これは目的p
Hよりも高いpHの下地銅溶解液を調製してしまったた
めである。これ等を除くと、平均pHはほぼ一定で、下
地銅溶解液のpHは非常によく管理されている。なお、
図3で相連続する日のデータ□は実線で結んである。
FIG. 3 shows the daily changes in the average pH investigated.
Indicate. The average pH of the first few days is high, but this is
This is because the base copper solution having a pH higher than H was prepared. Excluding these, the average pH is almost constant, and the pH of the underlying copper solution is very well controlled. In addition,
In Fig. 3, the data □ on consecutive days are connected by a solid line.

【0035】調査したpH変動の日毎の変化を図4に□
で示す。運転しない日が数日(5日以上)続いた後にp
H変動が大きいこと、すなわち0.5より大きくなるこ
とがある。これは停止している間は、アンモニアの補給
がなく揮散が進む一方なので、稼働を再開する日の最初
のpHが非常に低いためである。連続してあるいは1日
おいただけで稼働すると、次の日にはpH変動が0.5
より小さくなっている。なお、図4で相連続する日のデ
ータ□は実線で結んである。
FIG. 4 shows the daily changes in the investigated pH fluctuations.
Indicate. After not driving for several days (more than 5 days), p
The H variation may be large, ie, greater than 0.5. This is because the ammonia is not replenished and the volatilization proceeds while it is stopped, so that the pH at the beginning of the day when the operation is restarted is very low. If it is operated continuously or for only one day, the pH fluctuation will be 0.5 on the next day.
It is getting smaller. In addition, in FIG. 4, the data □ on consecutive days are connected by a solid line.

【0036】調査したエッチング時間の日毎の変化を図
5に□で示す。エッチング時間はほぼ一定で、下地銅溶
解液が安定に管理されていることが分かる。なお、自動
管理装置の稼働中に、2槽TAB製造において、下地銅
溶解不良は起きていない。なお、図5で相連続するデー
タ□は実線で結んである。
The daily change in the investigated etching time is shown by □ in FIG. It can be seen that the etching time is almost constant and the underlying copper solution is stably controlled. It should be noted that, during the operation of the automatic management device, in the two-tank TAB production, there was no defective copper melting. In addition, the continuous data □ in FIG. 5 is connected by a solid line.

【0037】[0037]

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。
Since the present invention is constructed as described above, it has the following effects.

【0038】(1)本発明の管理方法および管理装置に
より、銅アンミン錯体を利用した銅エッチング液の寿命
を長くし、かつ、エッチング時間の経時変化をなくすこ
とができる。
(1) With the control method and control apparatus of the present invention, it is possible to prolong the life of a copper etching solution using a copper ammine complex and to prevent the etching time from changing with time.

【0039】(2)管理が自動的に行われるため、人手
による労力が軽減されるだけでなく、アンモニアガスの
不必要な供給がなくなり、アンモニアガスの消費が適正
となる。
(2) Since the management is automatically performed, not only the labor by manpower is reduced, but also the unnecessary supply of ammonia gas is eliminated and the consumption of ammonia gas becomes appropriate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る実施例のエッチング液の自動管理
装置の概略系統図である。
FIG. 1 is a schematic system diagram of an automatic etching liquid management apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明に係る実施例のエッチング時間の測定に
用いたテストピースを示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a test piece used for measuring an etching time in an example according to the present invention.

【図3】本発明に係る実施例の2槽TAB製造における
下地銅溶解工程を稼働した場合における平均pHの日毎
の変化を示すグラフである。
FIG. 3 is a graph showing daily changes in average pH when a base copper dissolving step in a two-tank TAB production of an example according to the present invention is operated.

【図4】本発明に係る実施例の2槽TAB製造における
下地銅溶解工程を稼働した場合におけるPH変動の日毎
の変化を示すグラフである。
FIG. 4 is a graph showing a daily change in PH fluctuation when the base copper melting step in the two-tank TAB manufacturing according to the example of the present invention is operated.

【図5】本発明に係る実施例の2槽TAB製造における
下地銅溶解工程を稼働した場合におけるエッチング時間
の日毎の変化を示すグラフである。
FIG. 5 is a graph showing a daily change in etching time when a base copper dissolving step in a two-tank TAB production according to an example of the present invention is operated.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ポンプ 2 pH測定槽 3 pH電極 4 三方コック 5 配管 6 下地銅溶解浴 7 純水配管 8 電磁弁 9 配管 10 排液配管 11 三方コック 12 pH校正液 13 ポンプ 14 pH校正液 15 コントロール部 16 アンモニアガスの入ったボンベ 17 ガス圧力調整器 18 流量計 19 空気圧開閉バルブ 20 逆止弁 21 ガス配管 22 圧縮空気配管 23 電磁弁 24 ポリミイドフィルム 25 下地銅 26 リード 1 Pump 2 pH Measuring Tank 3 pH Electrode 4 Three-way Cock 5 Piping 6 Base Copper Dissolving Bath 7 Pure Water Piping 8 Solenoid Valve 9 Piping 10 Drainage Piping 11 Three-way Cock 12 pH Calibration Solution 13 Pump 14 pH Calibration Solution 15 Control Section 16 Ammonia Gas cylinder 17 Gas pressure regulator 18 Flow meter 19 Pneumatic opening / closing valve 20 Check valve 21 Gas pipe 22 Compressed air pipe 23 Solenoid valve 24 Polymide film 25 Base copper 26 Lead

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 銅アンミン錯体を利用した銅のエッチン
グ液のpHを自動的に測定する工程と、前記測定pH値
と管理したいpH値とのpH差を計算して、該pH差に
よりアンモニアガス供給信号を出力する制御工程と、前
記アンモニアガス供給信号により必要なアンモニアガス
の量を自動的に算出し、前記エッチング液に前記量のア
ンモニアガスを供給する工程からなり、前記エッチング
液のpHが一定になるようにエッチング液にアンモニア
ガスを自動的に吹き込むことを特徴とするエッチング液
の管理方法。
1. A step of automatically measuring the pH of a copper etching solution using a copper ammine complex, a pH difference between the measured pH value and a pH value to be controlled is calculated, and ammonia gas is calculated from the pH difference. A control step of outputting a supply signal; and a step of automatically calculating the amount of ammonia gas required by the ammonia gas supply signal and supplying the ammonia gas in the amount described above to the etching solution. A method of managing an etching solution, which comprises automatically blowing ammonia gas into the etching solution so as to be constant.
【請求項2】 銅アンミン錯体を利用した銅のエッチン
グ液の試料を採取し、エッチング液試料のpHを自動的
に測定する測定部と、前記測定pH値と管理したいpH
値とのpH差を計算して、該pH差によりにアンモニア
ガス供給信号を出力する制御部と、前記アンモニアガス
供給信号により必要なアンモニアガスの量を自動的に算
出し、前記エッチング液にアンモニアガスを供給する供
給部とからなるエッチング液のpH管理装置であって、
前記エッチング液のpHが一定になるようにエッチング
液にアンモニアガスを自動的に吹き込むようにしたこと
を特徴とするエッチング液の自動管理装置。
2. A measuring unit for collecting a sample of a copper etching solution using a copper ammine complex and automatically measuring the pH of the etching solution sample, and the measured pH value and the pH to be controlled.
A pH difference from the calculated value is calculated, and a control unit that outputs an ammonia gas supply signal based on the pH difference and an amount of necessary ammonia gas are automatically calculated based on the ammonia gas supply signal. A pH control device for an etching solution, which comprises a supply part for supplying gas,
An etching liquid automatic management device, wherein ammonia gas is automatically blown into the etching liquid so that the pH of the etching liquid becomes constant.
JP5108799A 1993-04-13 1993-04-13 Method for controlling etching solution and automatic controlling device Pending JPH06299371A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020122729A (en) * 2019-01-31 2020-08-13 株式会社ナカヨ Washing fluid exchange prediction analysis system

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