JPH06290477A - Optical pickup - Google Patents

Optical pickup

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JPH06290477A
JPH06290477A JP4094035A JP9403592A JPH06290477A JP H06290477 A JPH06290477 A JP H06290477A JP 4094035 A JP4094035 A JP 4094035A JP 9403592 A JP9403592 A JP 9403592A JP H06290477 A JPH06290477 A JP H06290477A
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light
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optical pickup
reflection
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Koki Kojima
光喜 小島
Shogo Horinouchi
昇吾 堀之内
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To monitor and to control the transmitted light output of a semiconductor laser as the light source of an optical pickup used for an optical disk. CONSTITUTION:A first reflection surface 4 and a second reflection surface 6 opposed to each other and a converging grating lens 5 are integrally formed with a glass element 3. A reflection type hologram composed of at least three different regions of interference fringes is formed on the whole or a part of first reflection surface 4, a semiconductor laser 1, multi-sected photodetector 7 and a photodetector 10 are stuck to and fixed on the glass element 3 with a sealing resin 8 and an integrated optical pickup is composed. Consequently, by detecting a first order light beam of the reflection type hologram by means of the photodetector, the reflected light beam from the semiconductor laser is monitored and the output of the laser beam is controlled.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光によって情報
を記録または、再生する光学情報記録装置に用いる光ピ
ックアップに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup used in an optical information recording apparatus for recording or reproducing information with a laser beam.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、光記録再生装置は民生用ではビデ
オディスクやコンパクトディスクの再生用として広く用
いられ、また業務用としては大容量データの記録再生用
として普及しつつある。
2. Description of the Related Art In recent years, an optical recording / reproducing apparatus has been widely used for consumer use for reproducing video discs and compact discs, and for commercial use, it has become popular for recording / reproducing large-capacity data.

【0003】以下に従来の光ピックアップについて図面
を参照しながら説明する。図5に従来の光ピックアップ
の構成を示す。図5において、1は半導体レーザ、2は
放熱板、3はガラス素子である。4は第1の反射面で、
その全面もしくは一部に反射型ホログラムが形成されて
いる。5はグレーティングレンズで、前記第1の反射面
と同一面上に形成されている。6は反射膜よりなる第2
の反射面、7は多分割光検出器、8は封印樹脂である。
半導体レーザ1の一端が放熱板2上に固定された状態
で、半導体レーザ1および多分割光検出器7をガラス素
子3と封印樹脂8で接着固定している一体構成の光ピッ
クアップである。
A conventional optical pickup will be described below with reference to the drawings. FIG. 5 shows the configuration of a conventional optical pickup. In FIG. 5, 1 is a semiconductor laser, 2 is a heat sink, and 3 is a glass element. 4 is the first reflecting surface,
A reflection hologram is formed on the entire surface or a part thereof. A grating lens 5 is formed on the same surface as the first reflecting surface. 6 is a second reflective film
Is a reflective surface, 7 is a multi-segment photodetector, and 8 is a sealing resin.
This is an integrated optical pickup in which the semiconductor laser 1 and the multi-segment photodetector 7 are bonded and fixed to the glass element 3 and the sealing resin 8 in a state where one end of the semiconductor laser 1 is fixed on the heat dissipation plate 2.

【0004】以上の部材を用いて構成された光ピックア
ップについて、図5を用いてその動作について説明す
る。半導体レーザ1からの射出光は第1の反射面4に入
射し、その鏡面反射光および0次回析光として反射され
た後、第2の反射面6に入射する。第2の反射面6で反
射された光束は、グレーティングレンズ5の集光作用に
よりディスク基盤9上に集光される。ディスク基盤9上
に集束された光束は記録信号をピックアップし、反射さ
れる。記録信号を含んだ反射光は再びグレーティングレ
ンズ5を通過し、第2の反射面6で反射された後、第1
の反射面4に入射する。ここで第1の反射面4上に形成
された反射型ホログラムにより、その1次回析光が多分
割光検出器7上に結像する。ここで反射型ホログラムは
干渉周期の異なる少なくとも2つの領域よりなり、焦点
誤差検出機能およびトラッキング誤差検出機能を有して
いる。以上の動作により記録信号の再生、焦点誤差の検
出およびトラッキング誤差の検出を行う。
The operation of the optical pickup constructed by using the above members will be described with reference to FIG. Light emitted from the semiconductor laser 1 is incident on the first reflecting surface 4, is reflected as specular reflected light and zero-order diffraction light, and is then incident on the second reflecting surface 6. The light flux reflected by the second reflecting surface 6 is focused on the disk substrate 9 by the focusing action of the grating lens 5. The light flux focused on the disk substrate 9 picks up a recording signal and is reflected. The reflected light including the recording signal passes through the grating lens 5 again, is reflected by the second reflecting surface 6, and then is reflected by the first reflecting surface 6.
Is incident on the reflection surface 4 of. Here, the first-order diffracted light is imaged on the multi-segment photodetector 7 by the reflection hologram formed on the first reflection surface 4. Here, the reflection hologram is composed of at least two regions having different interference cycles and has a focus error detection function and a tracking error detection function. By the above operation, reproduction of the recording signal, detection of focus error and detection of tracking error are performed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、半導体レーザからの射出光出力および半
導体レーザの劣化状態など、レーザ光源の特性がモニタ
されていないので記録再生が困難になるという問題点を
有していた。
However, in the above-mentioned conventional configuration, since the characteristics of the laser light source such as the output light from the semiconductor laser and the deterioration state of the semiconductor laser are not monitored, it is difficult to record and reproduce. Had a point.

【0006】本発明はこのような課題を解決するもの
で、半導体レーザからの射出光量をモニタすることによ
り、常に安定したレーザ光出力を確保するとともに、そ
の劣化状態を確認できる光ピックアップを提供すること
を目的とするものである。
The present invention solves such a problem, and provides an optical pickup capable of always ensuring a stable laser light output and checking its deterioration state by monitoring the amount of light emitted from a semiconductor laser. That is the purpose.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の光ピックアップは、半導体レーザと、半導体
レーザからの射出光をディスク基盤上に集光する集光光
学素子と、半導体レーザと集光光学素子間に半導体レー
ザからの射出光を反射する第1の反射面と、第1の反射
面からの光束を反射する第2の反射面が互いに相対し、
第1の反射面上の全面もしくは一部に形成された反射型
ホログラムと、第1の反射面上の反射型ホログラムから
の1次回析光を検出する光検出器を備えるようにしたも
のである。
To achieve this object, an optical pickup according to the present invention comprises a semiconductor laser, a condensing optical element for condensing light emitted from the semiconductor laser on a disk substrate, and a semiconductor laser. A first reflecting surface that reflects the light emitted from the semiconductor laser and a second reflecting surface that reflects the light beam from the first reflecting surface face each other between the condensing optical elements,
A reflection hologram formed on the entire surface or a part of the first reflection surface and a photodetector for detecting first-order diffracted light from the reflection hologram on the first reflection surface are provided. .

【0008】[0008]

【作用】この構成によれば、相対する2面の反射面の第
1の反射面上に形成された半導体レーザからの射出光を
直ちに1次回析光として回析する反射型ホログラムと、
その1次回析光を検出する光検出器により半導体レーザ
からの射出光出力をモニタすることができ、常に安定し
たレーザ光出力を確保するとともに半導体レーザの劣化
状態を確認できる光ピックアップを実現できることとな
る。
According to this structure, the reflection hologram for immediately diffracting the light emitted from the semiconductor laser formed on the first reflecting surface of the two facing reflecting surfaces as first-order diffracted light,
The output of the emitted light from the semiconductor laser can be monitored by the photodetector that detects the first-order diffracted light, and an optical pickup that can always secure a stable laser light output and can confirm the deterioration state of the semiconductor laser can be realized. Become.

【0009】[0009]

【実施例】以下に本発明の一実施例について、図面を参
照しながら説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】(実施例1)図1に本発明の実施例1の光
ピックアップの構成を示す。図1において、1は半導体
レーザ、2は放熱板、3はガラス素子である。4は第1
の反射面で、その中心部分および中心部分以外の全面も
しくは一部に反射型ホログラムが形成されている。5は
グレーティングレンズで、前記第1の反射面4と同一面
上に形成されている。6は反射膜よりなる第2の反射面
で、7は多分割光検出器、10は半導体レーザからの射
出光出力のモニタ用光検出器、8は封印樹脂である。半
導体レーザ1の一端が放熱板2上に固定された状態で、
半導体レーザ1、モニタ用光検出器10および多分割光
検出器7をガラス素子3と封印樹脂8で接着固定してい
る一体構成の光ピックアップである。
(Embodiment 1) FIG. 1 shows the configuration of an optical pickup according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 1, 1 is a semiconductor laser, 2 is a heat sink, and 3 is a glass element. 4 is the first
The reflection type hologram is formed on the whole or a part of the central portion and the portion other than the central portion of the reflective surface. Reference numeral 5 denotes a grating lens, which is formed on the same surface as the first reflecting surface 4. Reference numeral 6 is a second reflecting surface made of a reflecting film, 7 is a multi-divided photodetector, 10 is a monitoring photodetector for the output of light emitted from a semiconductor laser, and 8 is a sealing resin. With one end of the semiconductor laser 1 fixed on the heat sink 2,
This is an integrated optical pickup in which the semiconductor laser 1, the monitor photodetector 10, and the multi-segment photodetector 7 are bonded and fixed to the glass element 3 and a sealing resin 8.

【0011】図2に第1の反射面4の構成を示す。第1
の反射面4は円形であり、その半径の1/3を半径とす
る中央部分に1次回析光をモニタ用光検出器10に導く
反射型ホログラムA11aが形成されている。反射型ホ
ログラムA11aからの1次回析光は半導体レーザ1か
らの射出光により発生するので、第1の反射面4と第2
の反射面6で多重反射を繰り返すことになる中央部分か
らの鏡面反射光成分を遮光することになる。中央部分以
外の全面もしくは一部には1次回析光を多分割光検出器
7に到達させる反射型ホログラムB11bが形成されて
いる。
FIG. 2 shows the structure of the first reflecting surface 4. First
The reflection surface 4 is circular, and a reflection hologram A11a that guides the first-order diffracted light to the monitor photodetector 10 is formed in the central portion having a radius of 1/3 of the radius. Since the first-order diffracted light from the reflective hologram A11a is generated by the light emitted from the semiconductor laser 1, the first reflected surface 4 and the second
The specularly reflected light component from the central portion, which causes the multiple reflections to be repeated on the reflection surface 6 of FIG. A reflective hologram B11b that allows the first-order diffracted light to reach the multi-split photodetector 7 is formed on the entire surface or a part of the central portion except the central portion.

【0012】図3に第2の反射面6の構成を示す。第2
の反射面6上には半導体レーザ1からの射出光の入射窓
12aと多分割検出器用の射出窓12bおよびモニタ用
光検出器の射出窓12cが設けられている。
FIG. 3 shows the structure of the second reflecting surface 6. Second
An entrance window 12a for the light emitted from the semiconductor laser 1, an exit window 12b for the multi-divided detector, and an exit window 12c for the photodetector for monitoring are provided on the reflection surface 6 of.

【0013】以上のように構成された光ピックアップに
ついて、図1を用いてその動作について説明する。半導
体レーザ1からの射出光は広がりながら第1の反射面4
に入射する。入射光は第1の反射面4での鏡面反射光と
反射型ホログラムからの0次回析光および1次回析光を
モニタ用光検出器10に導くように、第1の反射面4の
中央部分に形成された反射型ホログラムA11aにより
1次回析光として反射される。この反射光のうち鏡面反
射光および0次回析光は、第2の反射面6に入射する。
第2の反射面6で反射された光束は、グレーティングレ
ンズ5の集光作用によりディスク基盤9上に集光され
る。ディスク基盤9上に集束された光束は記録信号をピ
ックアップし、反射される。記録信号を含んだ反射光は
再びグレーティングレンズ5を通過し、第2の反射面6
で反射された後、第1の反射面4に入射する。ここで第
1の反射面4上に形成された反射型ホログラムB11b
からの1次回析光が多分割光検出器7上に結像する。反
射型ホログラム11bは干渉縞の異なる少なくとも2つ
の領域よりなるので、多分割光検出器7の信号から焦点
誤差検出およびトラッキング誤差検出を行うことができ
る。一方、第1の反射面4上の中央部分に形成された反
射型ホログラム11aからの1次回析光は、モニタ用光
検出器10に集光する。この光検出器10の出力を検出
することにより半導体レーザ1からの射出光出力をモニ
タすることができ、半導体レーザ1の劣化状態を確認で
きる。さらに光検出器10からの出力を半導体レーザ1
の駆動回路にフィードバックし、駆動電流を制御するこ
とで安定したレーザ光出力を得ることができる。
The operation of the optical pickup configured as described above will be described with reference to FIG. The light emitted from the semiconductor laser 1 spreads while spreading on the first reflection surface 4
Incident on. The incident light is a specular reflection light on the first reflection surface 4 and the central portion of the first reflection surface 4 so as to guide the 0th-order diffracted light and the 1st-order diffracted light from the reflection hologram to the photodetector 10 for monitoring. The reflected hologram A11a formed on the first side reflects it as first-order diffracted light. Of this reflected light, specular reflected light and zero-order diffracted light are incident on the second reflecting surface 6.
The light flux reflected by the second reflecting surface 6 is focused on the disk substrate 9 by the focusing action of the grating lens 5. The light flux focused on the disk substrate 9 picks up a recording signal and is reflected. The reflected light including the recording signal passes through the grating lens 5 again, and the second reflecting surface 6
After being reflected by, the light enters the first reflecting surface 4. Here, a reflection hologram B11b formed on the first reflection surface 4
The first-order diffracted light from is imaged on the multi-segment photodetector 7. Since the reflection hologram 11b is composed of at least two regions having different interference fringes, focus error detection and tracking error detection can be performed from the signal of the multi-segment photodetector 7. On the other hand, the first-order diffracted light from the reflection hologram 11a formed in the central portion on the first reflecting surface 4 is focused on the monitor photodetector 10. The output of the semiconductor laser 1 can be monitored by detecting the output of the photodetector 10, and the deterioration state of the semiconductor laser 1 can be confirmed. Further, the output from the photodetector 10 is the semiconductor laser 1
It is possible to obtain a stable laser light output by feeding back to the drive circuit and controlling the drive current.

【0014】(実施例2)以下に本発明の第2の実施例
を図面を参照しながら説明する。第2の実施例の光ピッ
クアップの構成は、図1に示した実施例1の光ピックア
ップと同様である。図4に本実施例に用いた光ピックア
ップの第1の反射面4の構成を示す。第1の反射面4は
円形であり、その半径の1/3を半径とする中央部分は
光束が反射しないように遮光されている。中央部分以外
の全面もしくは一部に1次回析光をモニタ用光検出器1
0に導く反射型ホログラムA11aおよび1次回析光を
多分割光検出器7に到達させる反射型ホログラムB11
bが形成されている。実施例1と同様に反射型ホログラ
ムA11aからの1次回析光がモニタ用光検出器10に
集光し、その出力を検出することにより半導体レーザ1
からの射出光出力をモニタし、制御することができる。
この制御により半導体レーザ1の劣化状態を確認できる
とともに安定したレーザ光出力を得ることができる。
(Second Embodiment) A second embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The structure of the optical pickup of the second embodiment is similar to that of the optical pickup of the first embodiment shown in FIG. FIG. 4 shows the structure of the first reflecting surface 4 of the optical pickup used in this embodiment. The first reflection surface 4 has a circular shape, and a central portion having a radius of 1/3 of the radius is shielded so that the light flux is not reflected. Photodetector for monitoring the next-time diffracted light on all or part of the surface except the central part 1
A reflection hologram A11a leading to 0 and a reflection hologram B11 for making the first-order diffracted light reach the multi-segment photodetector 7.
b is formed. Similar to the first embodiment, the first-order diffracted light from the reflection hologram A11a is focused on the monitor photodetector 10 and the output thereof is detected to detect the semiconductor laser 1
The output light output from the can be monitored and controlled.
By this control, the deterioration state of the semiconductor laser 1 can be confirmed and a stable laser light output can be obtained.

【0015】[0015]

【発明の効果】以上の実施例の説明から明らかなように
本発明によれば、相対する2つの反射面のうち第1の反
射面上に形成された半導体レーザからの射出光を1次回
析光として回析する反射型ホログラムAと、その1次回
析光を検出する光検出器を設け、光検出器の出力により
半導体レーザからの射出光出力をモニタする。この構成
により、安定したレーザ光出力を確保するとともに半導
体レーザの劣化状態をモニタできる光ピックアップを実
現することができる。
As is apparent from the above description of the embodiments, according to the present invention, the light emitted from the semiconductor laser formed on the first reflecting surface of the two opposing reflecting surfaces is analyzed for the first time. A reflection hologram A that diffracts as light and a photodetector that detects the first-order diffracted light thereof are provided, and the output of the semiconductor laser is monitored by the output of the photodetector. With this configuration, it is possible to realize an optical pickup which can secure a stable laser light output and can monitor the deterioration state of the semiconductor laser.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例1の光ピックアップの概略構成
を示す図
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an optical pickup according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例1の光ピックアップの第1の反
射面の構成を示す平面図
FIG. 2 is a plan view showing a configuration of a first reflecting surface of the optical pickup according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施例1の光ピックアップの第2の反
射面の構成を示す平面図
FIG. 3 is a plan view showing a configuration of a second reflecting surface of the optical pickup according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施例2の光ピックアップの第1の反
射面の構成を示す平面図
FIG. 4 is a plan view showing a configuration of a first reflecting surface of an optical pickup according to a second embodiment of the present invention.

【図5】従来の光ピックアップの概略構成を示す図FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a conventional optical pickup.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ 2 放熱板 3 ガラス素子 4 第1の反射面 5 グレーティングレンズ 6 第2の反射面 7 多分割光検出器 8 封印樹脂 9 ディスク基盤 10 光検出器 11a,11b 反射型ホログラム 12a 入射窓 12b,12c 射出窓 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor laser 2 Heat sink 3 Glass element 4 First reflective surface 5 Grating lens 6 Second reflective surface 7 Multi-split photodetector 8 Sealing resin 9 Disk substrate 10 Photodetector 11a, 11b Reflective hologram 12a Incident window 12b , 12c exit window

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ光を射出するレーザ発生装置と、
前記レーザ発生装置からの射出光をディスク基盤上に集
光する集光光学素子と、前記レーザ発生装置と前記集光
光学素子間に前記レーザ発生装置からの射出光を反射す
る第1の反射面と、前記第1の反射面からの光束を反射
する第2の反射面を互いに相対して設け、前記第1の反
射面上の全面もしくは一部に形成された反射型ホログラ
ムと、前記第1の反射面上の反射型ホログラムからの回
析光を検出する光検出手段を備え、前記光検出手段の出
力により前記レーザ発生装置のレーザ光出力をモニタ
し、制御する光ピックアップ。
1. A laser generator for emitting a laser beam,
A condensing optical element that condenses the light emitted from the laser generator on a disk substrate, and a first reflecting surface that reflects the light emitted from the laser generator between the laser generator and the condensing optical element. A reflective hologram formed on the entire surface or a part of the first reflective surface, the second reflective surfaces reflecting the light flux from the first reflective surface facing each other; An optical pickup which comprises a light detection means for detecting the diffracted light from the reflection hologram on the reflection surface, and monitors and controls the laser light output of the laser generator by the output of the light detection means.
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US08/514,709 US5566157A (en) 1991-09-27 1995-08-14 Optical pickup for information recording/reproducing apparatus having polygon prism, hologram, and grating lens

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Cited By (1)

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