JP2701654B2 - Optical pickup - Google Patents

Optical pickup

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JP2701654B2
JP2701654B2 JP4094035A JP9403592A JP2701654B2 JP 2701654 B2 JP2701654 B2 JP 2701654B2 JP 4094035 A JP4094035 A JP 4094035A JP 9403592 A JP9403592 A JP 9403592A JP 2701654 B2 JP2701654 B2 JP 2701654B2
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light
reflection
reflecting surface
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semiconductor laser
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光喜 小島
昇吾 堀之内
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光によって情報
を記録または、再生する光学情報記録装置に用いる光ピ
ックアップに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup for use in an optical information recording apparatus for recording or reproducing information with a laser beam.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、光記録再生装置は民生用ではビデ
オディスクやコンパクトディスクの再生用として広く用
いられ、また業務用としては大容量データの記録再生用
として普及しつつある。
2. Description of the Related Art In recent years, optical recording / reproducing apparatuses have been widely used for reproduction of video disks and compact disks for consumer use, and have been widely used for recording and reproducing large-capacity data for business use.

【0003】以下に従来の光ピックアップについて図面
を参照しながら説明する。図5に従来の光ピックアップ
の構成を示す。図5において、1は半導体レーザ、2は
放熱板、3はガラス素子である。4は第1の反射面で、
その全面もしくは一部に反射型ホログラムが形成されて
いる。5はグレーティングレンズで、前記第1の反射面
と同一面上に形成されている。6は反射膜よりなる第2
の反射面、7は多分割光検出器、8は封印樹脂である。
半導体レーザ1の一端が放熱板2上に固定された状態
で、半導体レーザ1および多分割光検出器7をガラス素
子3と封印樹脂8で接着固定している一体構成の光ピッ
クアップである。
Hereinafter, a conventional optical pickup will be described with reference to the drawings. FIG. 5 shows a configuration of a conventional optical pickup. In FIG. 5, 1 is a semiconductor laser, 2 is a heat sink, and 3 is a glass element. 4 is a first reflecting surface,
A reflection hologram is formed on the entire surface or a part thereof. Reference numeral 5 denotes a grating lens formed on the same plane as the first reflecting surface. 6 is a second film made of a reflective film
, A multi-segment photodetector, and 8 a sealing resin.
This is an integrated optical pickup in which the semiconductor laser 1 and the multi-segmented photodetector 7 are bonded and fixed with a glass element 3 and a sealing resin 8 with one end of the semiconductor laser 1 fixed on the heat sink 2.

【0004】以上の部材を用いて構成された光ピックア
ップについて、図5を用いてその動作について説明す
る。半導体レーザ1からの射出光は第1の反射面4に入
射し、その鏡面反射光および0次回析光として反射され
た後、第2の反射面6に入射する。第2の反射面6で反
射された光束は、グレーティングレンズ5の集光作用に
よりディスク基盤9上に集光される。ディスク基盤9上
に集束された光束は記録信号をピックアップし、反射さ
れる。記録信号を含んだ反射光は再びグレーティングレ
ンズ5を通過し、第2の反射面6で反射された後、第1
の反射面4に入射する。ここで第1の反射面4上に形成
された反射型ホログラムにより、その1次回析光が多分
割光検出器7上に結像する。ここで反射型ホログラムは
干渉周期の異なる少なくとも2つの領域よりなり、焦点
誤差検出機能およびトラッキング誤差検出機能を有して
いる。以上の動作により記録信号の再生、焦点誤差の検
出およびトラッキング誤差の検出を行う。
The operation of an optical pickup constructed using the above members will be described with reference to FIG. The light emitted from the semiconductor laser 1 is incident on the first reflecting surface 4, is reflected as specular reflected light and the 0th-order diffracted light, and then is incident on the second reflecting surface 6. The light beam reflected by the second reflection surface 6 is condensed on the disk substrate 9 by the light condensing action of the grating lens 5. The light beam focused on the disk base 9 picks up a recording signal and is reflected. The reflected light including the recording signal passes through the grating lens 5 again, is reflected by the second reflection surface 6, and then is reflected by the first reflection surface.
Incident on the reflection surface 4. Here, the first-order diffracted light forms an image on the multi-split photodetector 7 by the reflection hologram formed on the first reflection surface 4. Here, the reflection hologram is composed of at least two regions having different interference periods, and has a focus error detection function and a tracking error detection function. With the above operations, the recording signal is reproduced, the focus error is detected, and the tracking error is detected.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、半導体レーザからの射出光出力および半
導体レーザの劣化状態など、レーザ光源の特性がモニタ
されていないので記録再生が困難になるという問題点を
有していた。
However, in the above-mentioned conventional configuration, the characteristics of the laser light source, such as the emission light output from the semiconductor laser and the state of deterioration of the semiconductor laser, are not monitored, so that the recording / reproducing becomes difficult. Had a point.

【0006】本発明はこのような課題を解決するもの
で、半導体レーザからの射出光量をモニタすることによ
り、常に安定したレーザ光出力を確保するとともに、そ
の劣化状態を確認できる光ピックアップを提供すること
を目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves such a problem, and provides an optical pickup capable of constantly stabilizing a laser light output and monitoring its deterioration state by monitoring the amount of light emitted from a semiconductor laser. The purpose is to do so.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の光ピックアップは、半導体レーザと、半導体
レーザからの射出光をディスク基盤上に集光する集光光
学素子と、半導体レーザと集光光学素子間に半導体レー
ザからの射出光を反射する第1の反射面と、第1の反射
面からの光束を反射する第2の反射面が互いに相対し、
第1の反射面上の全面もしくは一部に形成された反射型
ホログラムと、第1の反射面上の反射型ホログラムから
の1次回析光を検出する光検出器を備えるようにしたも
のである。
In order to achieve this object, an optical pickup according to the present invention comprises a semiconductor laser, a condensing optical element for condensing light emitted from the semiconductor laser on a disk substrate, and a semiconductor laser. A first reflecting surface for reflecting light emitted from the semiconductor laser between the condensing optical elements, and a second reflecting surface for reflecting a light beam from the first reflecting surface;
A reflection type hologram formed on the entire surface or a part of the first reflection surface, and a photodetector for detecting a first-order diffracted light from the reflection type hologram on the first reflection surface are provided. .

【0008】[0008]

【作用】この構成によれば、相対する2面の反射面の第
1の反射面上に形成された半導体レーザからの射出光を
直ちに1次回析光として回析する反射型ホログラムと、
その1次回析光を検出する光検出器により半導体レーザ
からの射出光出力をモニタすることができ、常に安定し
たレーザ光出力を確保するとともに半導体レーザの劣化
状態を確認できる光ピックアップを実現できることとな
る。
According to this configuration, a reflection type hologram for diffracting the emitted light from the semiconductor laser formed on the first reflecting surface of the two opposing reflecting surfaces as first-order diffracted light immediately,
The output of the semiconductor laser can be monitored by the photodetector that detects the first-order scattered light, thereby realizing an optical pickup that can always maintain a stable laser light output and check the deterioration state of the semiconductor laser. Become.

【0009】[0009]

【実施例】以下に本発明の一実施例について、図面を参
照しながら説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】(実施例1)図1に本発明の実施例1の光
ピックアップの構成を示す。図1において、1は半導体
レーザ、2は放熱板、3はガラス素子である。4は第1
の反射面で、その中心部分および中心部分以外の全面も
しくは一部に反射型ホログラムが形成されている。5は
グレーティングレンズで、前記第1の反射面4と同一面
上に形成されている。6は反射膜よりなる第2の反射面
で、7は多分割光検出器、10は半導体レーザからの射
出光出力のモニタ用光検出器、8は封印樹脂である。半
導体レーザ1の一端が放熱板2上に固定された状態で、
半導体レーザ1、モニタ用光検出器10および多分割光
検出器7をガラス素子3と封印樹脂8で接着固定してい
る一体構成の光ピックアップである。
(Embodiment 1) FIG. 1 shows the configuration of an optical pickup according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 1, 1 is a semiconductor laser, 2 is a heat sink, and 3 is a glass element. 4 is the first
The reflection hologram is formed on the entire surface or a part other than the central portion and the central portion. Reference numeral 5 denotes a grating lens formed on the same plane as the first reflection surface 4. Reference numeral 6 denotes a second reflection surface made of a reflection film, reference numeral 7 denotes a multi-segment photodetector, reference numeral 10 denotes a photodetector for monitoring the output of the light emitted from the semiconductor laser, and reference numeral 8 denotes a sealing resin. With one end of the semiconductor laser 1 fixed on the heat sink 2,
This is an integrated optical pickup in which the semiconductor laser 1, the monitoring photodetector 10, and the multi-segment photodetector 7 are bonded and fixed with a glass element 3 and a sealing resin 8.

【0011】図2に第1の反射面4の構成を示す。第1
の反射面4は円形であり、その半径の1/3を半径とす
る中央部分に1次回析光をモニタ用光検出器10に導く
反射型ホログラムA11aが形成されている。反射型ホ
ログラムA11aからの1次回析光は半導体レーザ1か
らの射出光により発生するので、第1の反射面4と第2
の反射面6で多重反射を繰り返すことになる中央部分か
らの鏡面反射光成分を遮光することになる。中央部分以
外の全面もしくは一部には1次回析光を多分割光検出器
7に到達させる反射型ホログラムB11bが形成されて
いる。
FIG. 2 shows the structure of the first reflecting surface 4. First
The reflection hologram A11a that guides the first-order light to the monitor photodetector 10 is formed at a central portion having a radius of 1/3 of the radius. Since the first-order diffracted light from the reflection hologram A11a is generated by the emitted light from the semiconductor laser 1, the first reflection surface 4 and the second
Specularly reflected light components from the central portion where multiple reflections are repeated on the reflection surface 6 are shielded. A reflection hologram B11b is formed on the entire surface or a part other than the central portion to make the first-order diffracted light reach the multi-segmented photodetector 7.

【0012】図3に第2の反射面6の構成を示す。第2
の反射面6上には半導体レーザ1からの射出光の入射窓
12aと多分割検出器用の射出窓12bおよびモニタ用
光検出器の射出窓12cが設けられている。
FIG. 3 shows the structure of the second reflecting surface 6. Second
On the reflection surface 6, there are provided an entrance window 12a for the emitted light from the semiconductor laser 1, an exit window 12b for the multi-segment detector, and an exit window 12c for the monitor photodetector.

【0013】以上のように構成された光ピックアップに
ついて、図1を用いてその動作について説明する。半導
体レーザ1からの射出光は広がりながら第1の反射面4
に入射する。入射光は第1の反射面4での鏡面反射光
と、第1の反射面4の中央部分に形成された反射型ホロ
グラムA11a,B11bからの0次回折光および反
型ホログラムA11aで回折され、モニタ用光検出器1
0に導かれる1次回折光として反射される。この反射光
のうち鏡面反射光および0次回折光は、第2の反射面6
に入射する。第2の反射面6で反射された光束は、グレ
ーティングレンズ5の集光作用によりディスク基盤9上
に集光される。この様に第1の反射面4に形成されてい
る反射型ホログラムA11a,B11bに入射してきた
光のうち回折されなかった光を第1の反射面4で反射さ
れた光と共にディスク基盤9に照射することにより、光
の利用効率を向上させることができるので好ましい。
ィスク基盤9上に集光された光束は記録信号をピックア
ップし、反射される。記録信号を含んだ反射光は再びグ
レーティングレンズ5を通過し、第2の反射面6で反射
された後、第1の反射面4に入射する。ここで第1の反
射面4上に形成された反射型ホログラムB11bからの
1次回折光が多分割光検出器7上に結像する。反射型ホ
ログラムB11bは干渉縞の異なる少なくとも2つの領
域よりなるので、多分割光検出器7の信号から焦点誤差
検出およびトラッキング誤差検出を行うことができる。
一方、第1の反射面4上の中央部分に形成された反射型
ホログラムA11aからの1次回折光は、モニタ用光検
出器10に集光する。この光検出器10の出力を検出す
ることにより半導体レーザ1からの射出光出力をモニタ
することができ、半導体レーザ1の劣化状態を確認でき
る。さらに光検出器10からの出力を半導体レーザ1の
駆動回路にフィードバックし、駆動電流を制御すること
で安定したレーザ出力信号を得ることができる。以上示
してきたように、本発明によれば、少なくとも2つの相
対する反射手段により入射してきた光を少なくとも2回
入射してきた方向と逆方向に反射して記録媒体に導くよ
うな光ピックアップにおいて、反射手段の全部若しくは
一部に設けられた反射型のホログラムにより入射してき
たディスク基盤に向かう光の一部を光検出器に導くこと
により、半導体レーザからディスク基盤までの距離を非
常に短くすることができる。更に反射面で反射されなが
らディスク基盤に導かれる光の光軸がほぼ一直線上にあ
ることにより光ピックアップ全体の幅も小さくすること
ができるというこの方式の光ピックアップの利点はその
まま有しながら、従来非常に困難であったこの方式の光
ピックアップにおける半導体レーザの出力調整を簡単な
構成で実現することができるとともに半導体レーザの劣
化状態のモニタも行うことができる。従って非常に小型
で、かつ、安定したレーザ光出力を有する信頼性の高い
光ピックアップを実現することができる。また反射型ホ
ログラムに入射した光のうち、反射型ホログラムで回折
された光が、モニタ用の光検出装置に向けて反射され
て、ディスク基盤に導かれなくなるだけで、反射型ホロ
グラムで回折されずに反射された光は、第1の反射面で
反射された光と共に第2の反射面及び集光光学素子を介
してディスク基盤に照射されるので、光の利用効率を向
上させることができる。
The operation of the optical pickup configured as described above will be described with reference to FIG. The light emitted from the semiconductor laser 1 spreads and spreads on the first reflection surface 4.
Incident on. Incident light, the specular reflection light from the first reflecting surface 4, the first formed in the central portion of the reflecting surface 4 a reflection hologram A11a, in 0-order diffracted light and reflection type hologram A11a from B11b Diffracted, monitor photodetector 1
The light is reflected as first-order diffracted light guided to zero. Of the reflected light, the specular reflected light and the zero-order diffracted light are reflected by the second reflecting surface 6.
Incident on. The light beam reflected by the second reflection surface 6 is condensed on the disk substrate 9 by the light condensing action of the grating lens 5. Thus, the first reflection surface 4 is formed on the first reflection surface 4.
Reflection holograms A11a and B11b
The light that has not been diffracted is reflected by the first reflecting surface 4.
By irradiating the disc substrate 9 with the
This is preferable because the use efficiency of the compound can be improved. The light beam condensed on the disk substrate 9 picks up a recording signal and is reflected. The reflected light including the recording signal passes through the grating lens 5 again, is reflected by the second reflecting surface 6, and then enters the first reflecting surface 4. Here, the first-order diffracted light from the reflection hologram B11b formed on the first reflection surface 4 forms an image on the multi-segmented photodetector 7. Since the reflection hologram B11b includes at least two regions having different interference fringes, it is possible to detect a focus error and a tracking error from the signal of the multi-segment photodetector 7.
On the other hand, the first-order diffracted light from the reflection type hologram A11a formed in the central portion on the first reflection surface 4 is focused on the monitoring photodetector 10. By detecting the output of the photodetector 10, the output of the emitted light from the semiconductor laser 1 can be monitored, and the state of deterioration of the semiconductor laser 1 can be confirmed. Furthermore, a stable laser output signal can be obtained by feeding back the output from the photodetector 10 to the drive circuit of the semiconductor laser 1 and controlling the drive current. As described above, according to the present invention, in an optical pickup in which light incident by at least two opposing reflecting means is reflected in a direction opposite to the direction of incident at least twice and guided to a recording medium, The distance from the semiconductor laser to the disk base is extremely reduced by guiding a part of the light incident on the disk base by the reflection hologram provided on all or a part of the reflection means to the photodetector. Can be. Further, since the width of the entire optical pickup can be reduced because the optical axis of the light guided to the disc substrate while being reflected by the reflection surface is substantially in a straight line, the advantage of the optical pickup of this type remains as it is. The output adjustment of the semiconductor laser in the optical pickup of this type, which was very difficult, can be realized with a simple configuration, and the deterioration state of the semiconductor laser can be monitored. Therefore, a highly reliable optical pickup having a very small size and stable laser light output can be realized. In addition, reflection type
Diffracted by reflection hologram of light incident on the program
The reflected light is reflected toward the monitor photodetector.
And it is no longer guided to the disc base,
The light reflected without being diffracted by the gram is reflected by the first reflecting surface.
Through the second reflecting surface and the condensing optical element together with the reflected light
And irradiates the disc substrate, improving light use efficiency.
Can be up.

【0014】(実施例2)以下に本発明の第2の実施例
を図面を参照しながら説明する。第2の実施例の光ピッ
クアップの構成は、図1に示した実施例1の光ピックア
ップと同様である。図4に本実施例に用いた光ピックア
ップの第1の反射面4の構成を示す。第1の反射面4は
円形であり、その半径の1/3を半径とする中央部分は
光束が反射しないように遮光されている。中央部分以外
の全面もしくは一部に1次回析光をモニタ用光検出器1
0に導く反射型ホログラムA11aおよび1次回析光を
多分割光検出器7に到達させる反射型ホログラムB11
bが形成されている。実施例1と同様に反射型ホログラ
ムA11aからの1次回析光がモニタ用光検出器10に
集光し、その出力を検出することにより半導体レーザ1
からの射出光出力をモニタし、制御することができる。
この制御により半導体レーザ1の劣化状態を確認できる
とともに安定したレーザ光出力を得ることができる。
(Embodiment 2) Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The configuration of the optical pickup of the second embodiment is the same as that of the optical pickup of the first embodiment shown in FIG. FIG. 4 shows the configuration of the first reflection surface 4 of the optical pickup used in this embodiment. The first reflecting surface 4 has a circular shape, and a central portion having a radius of 1/3 of the radius is shielded so that a light beam is not reflected. Monitor light detector 1 for first-order scattered light on the whole surface or a part other than the central part
0, and a reflection hologram B11 that causes the first-order diffracted light to reach the multi-segmented photodetector 7.
b is formed. As in the first embodiment, the first-order diffracted light from the reflection type hologram A11a is condensed on the monitoring photodetector 10 and the output thereof is detected, whereby the semiconductor laser 1 is detected.
The output of the light emitted from the light source can be monitored and controlled.
By this control, the deterioration state of the semiconductor laser 1 can be confirmed, and a stable laser light output can be obtained.

【0015】[0015]

【発明の効果】以上の実施例の説明から明らかなように
本発明によれば、相対する2つの反射面のうち第1の反
射面上に形成された半導体レーザからの射出光を1次回
折光として回折する反射型ホログラムAと、その1次回
折光を検出する光検出器を設け、光検出器の出力により
半導体レーザからの射出光出力をモニタする。この構成
により、半導体レーザからディスク基盤までの距離を非
常に短くできる。更に反射面で反射されながらディスク
基盤に導かれる光の光軸がほぼ一直線上にあることによ
り光ピックアップ全体の幅も小さくすることができると
いうこの方式の光ピックアップの利点はそのまま有しな
がら、安定したレーザ光出力を確保するとともに半導体
レーザの劣化状態をモニタできる光ピックアップを実現
することができる。また反射型ホログラムに入射した光
のうち、反射型ホログラムで回折された光が、モニタ用
の光検出装置に向けて反射されて、ディスク基盤に導か
れなくなるだけで、反射型ホログラムで回折されずに反
射された光は、第1の反射面で反射された光と共に第2
の反射面及び集光光学素子を介してディスク基盤に照射
されるので、光の利用効率を向上させることができる。
As is apparent from the above description of the embodiment, according to the present invention, outgoing light from the semiconductor laser formed on the first one of the two opposing reflecting surfaces is converted into the first-order diffracted light. And a photodetector for detecting the first-order diffracted light is provided, and the output of the photodetector is used to monitor the output of the light emitted from the semiconductor laser. With this configuration, the distance from the semiconductor laser to the disk substrate can be extremely reduced. Further, since the optical axis of the light guided to the disc substrate while being reflected by the reflecting surface is substantially in a straight line, the width of the entire optical pickup can be reduced, and the advantage of this type of optical pickup is maintained, but the stability is maintained. It is possible to realize an optical pickup which can secure the output of the laser light and can monitor the deterioration state of the semiconductor laser. Light incident on the reflection hologram
Of the light diffracted by the reflection hologram
Is reflected toward the photodetector and is guided to the disk base
Is not diffracted by the reflection hologram,
The emitted light is combined with the light reflected by the first reflecting surface in the second
Irradiates the disc substrate through the reflective surface and the focusing optics
Therefore, the light use efficiency can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1の光ピックアップの概略構成
を示す図
FIG. 1 is a diagram illustrating a schematic configuration of an optical pickup according to a first embodiment of the present invention;

【図2】本発明の実施例1の光ピックアップの第1の反
射面の構成を示す平面図
FIG. 2 is a plan view illustrating a configuration of a first reflection surface of the optical pickup according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施例1の光ピックアップの第2の反
射面の構成を示す平面図
FIG. 3 is a plan view showing a configuration of a second reflection surface of the optical pickup according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施例2の光ピックアップの第1の反
射面の構成を示す平面図
FIG. 4 is a plan view showing a configuration of a first reflection surface of an optical pickup according to a second embodiment of the present invention.

【図5】従来の光ピックアップの概略構成を示す図FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a conventional optical pickup.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ 2 放熱板 3 ガラス素子 4 第1の反射面 5 グレーティングレンズ 6 第2の反射面 7 多分割光検出器 8 封印樹脂 9 ディスク基盤 10 光検出器 11a,11b 反射型ホログラム 12a 入射窓 12b,12c 射出窓 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor laser 2 Heat sink 3 Glass element 4 First reflection surface 5 Grating lens 6 Second reflection surface 7 Multi-segmented photodetector 8 Sealing resin 9 Disk base 10 Photodetector 11a, 11b Reflection hologram 12a Incident window 12b , 12c Injection window

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】レーザ光を射出するレーザ発生装置と、前
記レーザ発生装置からの射出光をディスク基盤上に集光
する集光光学素子と、前記レーザ発生装置と前記集光光
学素子間に設けられ前記レーザ発生装置から導かれてき
た入射光束を反射する第1の反射面と、前記第1の反射
面と相対して設けられ、前記第1の反射面からの光束
射する第2の反射面と、前記第1の反射面上の全面若
しくは一部に形成された反射型ホログラムと、前記反射
型ホログラムで回折された光を検出する光検出手段とを
備え、前記第1の反射面の法線と前記第1の反射面で反
射された光の光軸とはほぼ平行であり、前記第2の反射
面の法線と前記第2の反射面で反射された光の光軸もほ
ぼ平行であり、前記反射型ホログラムで回折されずに反
射された光は、前記第1の反射面で反射された光と共に
前記第2の反射面及び前記集光光学素子を介してディス
ク基盤に照射され、前記反射型ホログラムで回折された
光を検出した前記光検出手段の出力により、前記レーザ
発生装置のレーザ光出力をモニタし、制御する光ピック
アップ。
1. A laser generator for emitting a laser beam, a converging optical element for condensing light emitted from the laser generator on a disk substrate, and a converging optical element provided between the laser generator and the converging optical element. is a first reflection surface for reflection of the incident light beam that has been guided from the laser generating device is provided relative to the first reflecting surface, the light beam from the first reflecting surface
Includes a second reflecting surface for reflection, and the first entirely or reflection hologram formed on a part of the reflecting surface, and a light detecting means for detecting the light diffracted by the reflection hologram, The reflection between the normal line of the first reflection surface and the first reflection surface
The second reflection is substantially parallel to the optical axis of the emitted light;
The normal of the surface and the optical axis of the light reflected by the second reflecting surface are also substantially
Are almost parallel and are not diffracted by the reflection hologram.
The emitted light is together with the light reflected by the first reflecting surface.
A display is provided via the second reflection surface and the condensing optical element.
Illuminated on the substrate and diffracted by the reflection hologram
An optical pickup for monitoring and controlling the laser light output of the laser generator based on the output of the light detecting means that has detected light.
JP4094035A 1991-09-27 1992-04-14 Optical pickup Expired - Lifetime JP2701654B2 (en)

Priority Applications (4)

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