JPH06289322A - 光検出ユニット - Google Patents
光検出ユニットInfo
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- JPH06289322A JPH06289322A JP7586393A JP7586393A JPH06289322A JP H06289322 A JPH06289322 A JP H06289322A JP 7586393 A JP7586393 A JP 7586393A JP 7586393 A JP7586393 A JP 7586393A JP H06289322 A JPH06289322 A JP H06289322A
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- JP
- Japan
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- light
- grating
- light receiving
- receiving element
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 分離される光束の間の角度を小さくすること
ができ、グレーティング面と受光領域との間の距離、及
び光軸に対する受光素子の角度を任意に設定することが
できる光検出ユニットを提供することを目的とする。 【構成】 入射端面に周期性を持つ透過型のグレーティ
ング面が形成され、入射した光束をグレーティング面に
より0次回折光と1次回折光とに分離し、両光束を入射
端面に対して非平行な射出端面から射出させるグレーテ
ィングプリズム12と、分離された2つの光束をそれぞ
れ受光する少なくとも2つの受光領域を備える受光素子
13とから構成されることを特徴とする
ができ、グレーティング面と受光領域との間の距離、及
び光軸に対する受光素子の角度を任意に設定することが
できる光検出ユニットを提供することを目的とする。 【構成】 入射端面に周期性を持つ透過型のグレーティ
ング面が形成され、入射した光束をグレーティング面に
より0次回折光と1次回折光とに分離し、両光束を入射
端面に対して非平行な射出端面から射出させるグレーテ
ィングプリズム12と、分離された2つの光束をそれぞ
れ受光する少なくとも2つの受光領域を備える受光素子
13とから構成されることを特徴とする
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、グレーティング面に
より光束を分離し、この分離した光束をそれぞれ別個の
受光領域で受光する光検出ユニットに関する。
より光束を分離し、この分離した光束をそれぞれ別個の
受光領域で受光する光検出ユニットに関する。
【0002】
【従来の技術】この種のグレーティングと受光素子とを
組み合せた光検出ユニットは、例えば、特開平3−15
2428号公報等に開示される。この公報には、グレー
ティングと受光素子とが一体に構成された偏光検出装置
が開示される。
組み合せた光検出ユニットは、例えば、特開平3−15
2428号公報等に開示される。この公報には、グレー
ティングと受光素子とが一体に構成された偏光検出装置
が開示される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の光検出ユニットは、平板状のグレーティング素
子を用いているため、分離された光束の間の角度が大き
く、同一平面上に受光領域を確保するためにグレーティ
ング面と受光領域との距離がかなり小さく設定されてお
り、製造や組み付け時の位置合わせが困難となる。
た従来の光検出ユニットは、平板状のグレーティング素
子を用いているため、分離された光束の間の角度が大き
く、同一平面上に受光領域を確保するためにグレーティ
ング面と受光領域との距離がかなり小さく設定されてお
り、製造や組み付け時の位置合わせが困難となる。
【0004】また、光軸に対して受光素子を一定角度傾
けて配置する必要があり、位置決めが困難であるという
問題がある。
けて配置する必要があり、位置決めが困難であるという
問題がある。
【0005】
【発明の目的】この発明は、上述した従来技術の課題に
鑑みてなされたものであり、分離される光束の間の角度
を小さくすることができ、グレーティング面と受光領域
との間の距離、及び光軸に対する受光素子の角度を任意
に設定することができる光検出ユニットを提供すること
を目的とする。
鑑みてなされたものであり、分離される光束の間の角度
を小さくすることができ、グレーティング面と受光領域
との間の距離、及び光軸に対する受光素子の角度を任意
に設定することができる光検出ユニットを提供すること
を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる光検出
ユニットは、上記の目的を達成させるため、互いに非平
行な入射端面と射出端面とのいずれか一方に周期性を持
つ透過型のグレーティング面が形成され、入射端面から
入射した光束を0次回折光と1次回折光とに分離して射
出端面から射出させるグレーティングプリズムと、分離
された2つの光束をそれぞれ受光する少なくとも2つの
受光領域を備える受光素子とが近接配置して構成された
ことを特徴とする。
ユニットは、上記の目的を達成させるため、互いに非平
行な入射端面と射出端面とのいずれか一方に周期性を持
つ透過型のグレーティング面が形成され、入射端面から
入射した光束を0次回折光と1次回折光とに分離して射
出端面から射出させるグレーティングプリズムと、分離
された2つの光束をそれぞれ受光する少なくとも2つの
受光領域を備える受光素子とが近接配置して構成された
ことを特徴とする。
【0007】
【実施例】以下、この光検出ユニットの実施例を説明す
る。
る。
【0008】
【実施例1】図1は、実施例1にかかる光検出ユニット
が組み込まれた光磁気ディスク装置の光学系を示す。
が組み込まれた光磁気ディスク装置の光学系を示す。
【0009】半導体レーザー1から発した発散光束は、
コリメートレンズ2により平行光束とされ、2つのアナ
モフィックプリズム3,4により断面円形に整形され
る。アナモフィックプリズム4には直角プリズム5が接
合され、接合面がハーフミラー面5aとされている。ハ
ーフミラー面5aで反射された光束は、集光レンズ6に
より半導体レーザー1の自動出力調整用の受光素子7上
に集光する。
コリメートレンズ2により平行光束とされ、2つのアナ
モフィックプリズム3,4により断面円形に整形され
る。アナモフィックプリズム4には直角プリズム5が接
合され、接合面がハーフミラー面5aとされている。ハ
ーフミラー面5aで反射された光束は、集光レンズ6に
より半導体レーザー1の自動出力調整用の受光素子7上
に集光する。
【0010】ハーフミラー面5aを透過した光束は、ミ
ラー8により反射され、対物レンズ9を介して光磁気デ
ィスク20の信号記録面に収束される。対物レンズ9と
ミラー8とは、光磁気ディスク20のラジアル方向xに
スライドされる図示せぬヘッド内に設けられている。ま
た、対物レンズ9は、ヘッド内に設けられたアクチュエ
ータ上に設けられており、その光軸方向z、及びディス
クのラジアル方向xに駆動される。
ラー8により反射され、対物レンズ9を介して光磁気デ
ィスク20の信号記録面に収束される。対物レンズ9と
ミラー8とは、光磁気ディスク20のラジアル方向xに
スライドされる図示せぬヘッド内に設けられている。ま
た、対物レンズ9は、ヘッド内に設けられたアクチュエ
ータ上に設けられており、その光軸方向z、及びディス
クのラジアル方向xに駆動される。
【0011】一方、光磁気ディスク20から反射された
光束は、ハーフミラー面5aにより反射され、λ/2板
10により偏光方向が45゜回転させられ、集光レンズ
11により収束光とされてグレーティングプリズム12
に入射する。グレーティングプリズム12に入射した光
束は、入射端面に形成されたグレーティング面により0
次回折光と1次回折光とに分離され、受光素子13上に
形成された2つの受光領域に達する。受光素子13は、
ディスクからの反射光の光軸に対して垂直に設けられて
おり、従来の装置と比較するとその位置決めが容易であ
る。
光束は、ハーフミラー面5aにより反射され、λ/2板
10により偏光方向が45゜回転させられ、集光レンズ
11により収束光とされてグレーティングプリズム12
に入射する。グレーティングプリズム12に入射した光
束は、入射端面に形成されたグレーティング面により0
次回折光と1次回折光とに分離され、受光素子13上に
形成された2つの受光領域に達する。受光素子13は、
ディスクからの反射光の光軸に対して垂直に設けられて
おり、従来の装置と比較するとその位置決めが容易であ
る。
【0012】実施例の光検出ユニットは、図2に示すよ
うに、λ/2板10、集光レンズ11を介して入射する
光束を1次回折光と0次回折光とに分離するグレーティ
ングプリズム12と、このグレーティングプリズム12
により分離された光束を受光する2つの受光領域13
a、13bを有する受光素子13とが一体に形成されて
構成される。図2中、(a)は図1中のx−y平面内の説
明図、(b)はy−z平面内の説明図、(c)はx−z平面内
の説明図である。
うに、λ/2板10、集光レンズ11を介して入射する
光束を1次回折光と0次回折光とに分離するグレーティ
ングプリズム12と、このグレーティングプリズム12
により分離された光束を受光する2つの受光領域13
a、13bを有する受光素子13とが一体に形成されて
構成される。図2中、(a)は図1中のx−y平面内の説
明図、(b)はy−z平面内の説明図、(c)はx−z平面内
の説明図である。
【0013】グレーティングプリズム12は、図3(a)
に示すように、入射端面に形成されたグレーティング面
により、ブラッグ角で入射する光束のグレーティングの
溝に平行な振動成分と垂直な振動成分とを0次回折光と
1次回折光として分離し、分離された一方の0次回折光
をそのまま射出端面から射出させ、他方の1次回折光を
内面反射させた後に射出端面から0次回折光と平行に射
出させる。
に示すように、入射端面に形成されたグレーティング面
により、ブラッグ角で入射する光束のグレーティングの
溝に平行な振動成分と垂直な振動成分とを0次回折光と
1次回折光として分離し、分離された一方の0次回折光
をそのまま射出端面から射出させ、他方の1次回折光を
内面反射させた後に射出端面から0次回折光と平行に射
出させる。
【0014】グレーティングプリズム12の具体的な数
値構成は、表1の(a)に示されるとおりである。表中、
プリズムのグレーティング面に対向する頂点の角度をθ
c、残りの頂点の角度をそれぞれθa、θb、プリズムの
屈折率をn、グレーティング面への光束の入射角度をθ
in、グレーティングパターンのピッチをp、使用波長を
λとする。なお、入射角、射出角は、いずれも面の法線
に対する角度である。
値構成は、表1の(a)に示されるとおりである。表中、
プリズムのグレーティング面に対向する頂点の角度をθ
c、残りの頂点の角度をそれぞれθa、θb、プリズムの
屈折率をn、グレーティング面への光束の入射角度をθ
in、グレーティングパターンのピッチをp、使用波長を
λとする。なお、入射角、射出角は、いずれも面の法線
に対する角度である。
【0015】
【表1】
【0016】グレーティングに対する光束の入射角度を
ブラッグ角に設定し、かつ、波長λとグレーティングピ
ッチpとの割合λ/pを1.6程度に設定すると、グレ
ーティングの溝に垂直な振動成分と平行な振動成分とが
0次回折光と1次回折光とに振分けられ、かつ、グレー
ティングによる偏光分離特性が最良となる。グレーティ
ングプリズム12は、この条件を満たすことにより、入
射光束をP成分とS成分との2つの偏光成分に分離して
射出させる。
ブラッグ角に設定し、かつ、波長λとグレーティングピ
ッチpとの割合λ/pを1.6程度に設定すると、グレ
ーティングの溝に垂直な振動成分と平行な振動成分とが
0次回折光と1次回折光とに振分けられ、かつ、グレー
ティングによる偏光分離特性が最良となる。グレーティ
ングプリズム12は、この条件を満たすことにより、入
射光束をP成分とS成分との2つの偏光成分に分離して
射出させる。
【0017】光磁気ディスク20により反射されたレー
ザー光の偏光方向は、スポットが結像される位置のディ
スクの磁化方向に対応して磁気カー効果により回転する
ため、これを45゜回転させて2つの直線偏光成分に分
離し、それぞれ別個の受光領域により検出し、その差動
をとることにより光磁気記録信号を読み出すことができ
る。
ザー光の偏光方向は、スポットが結像される位置のディ
スクの磁化方向に対応して磁気カー効果により回転する
ため、これを45゜回転させて2つの直線偏光成分に分
離し、それぞれ別個の受光領域により検出し、その差動
をとることにより光磁気記録信号を読み出すことができ
る。
【0018】また、受光領域13a,13bは、対物レ
ンズ9が光磁気ディスク20に対して合焦しているとき
の反射光の焦点位置から光学的に前後等距離の位置に配
置されており、両受光領域上でのスポットサイズを比較
することにより、対物レンズ9の光磁気ディスク20に
対する合焦状態(フォーカシングエラー)を検出すること
ができる。
ンズ9が光磁気ディスク20に対して合焦しているとき
の反射光の焦点位置から光学的に前後等距離の位置に配
置されており、両受光領域上でのスポットサイズを比較
することにより、対物レンズ9の光磁気ディスク20に
対する合焦状態(フォーカシングエラー)を検出すること
ができる。
【0019】受光素子13の受光領域13a,13b
は、図4に拡大して示すようにそれぞれ光磁気ディスク
20のタンジェンシャル方向に相当する方向と平行な3
つの分割ラインにより分割された4つの短冊状の領域A
〜D、E〜Hに分割されている。そして、受光領域13
a,13bには、グレーティングプリズム12により分
離されたP偏光光束(0次回折光)、S偏光光束(1次回
折光)がそれぞれ入射する。
は、図4に拡大して示すようにそれぞれ光磁気ディスク
20のタンジェンシャル方向に相当する方向と平行な3
つの分割ラインにより分割された4つの短冊状の領域A
〜D、E〜Hに分割されている。そして、受光領域13
a,13bには、グレーティングプリズム12により分
離されたP偏光光束(0次回折光)、S偏光光束(1次回
折光)がそれぞれ入射する。
【0020】それぞれの受光領域からの信号は、図示せ
ぬ演算回路により演算され、ディスクに記録された光磁
気記録信号MO、物理的な凹凸により記録されたプリフ
ォーマット信号RO、フォーカスエラー信号FE、トラ
ックエラー信号TEとして図示せぬ再生回路、サーボ回
路へ出力される。
ぬ演算回路により演算され、ディスクに記録された光磁
気記録信号MO、物理的な凹凸により記録されたプリフ
ォーマット信号RO、フォーカスエラー信号FE、トラ
ックエラー信号TEとして図示せぬ再生回路、サーボ回
路へ出力される。
【0021】各信号は、各受光領域の出力を受光領域と
同一の記号により表現すると、以下の式により求められ
る。
同一の記号により表現すると、以下の式により求められ
る。
【0022】
【数1】MO=(A+B+C+D)−(E+F+G+H) RO=(A+B+C+D)+(E+F+G+H) FE= (A+D−B−C)−(E+H−F−G) TE= (B−C)+(G−F)
【0023】この実施例によれば、情報信号とエラー信
号とを共通の受光領域を用いて検出することができ、受
光素子の構成を単純化してコストを下げることができる
と共に、後述する他の実施例と比較すると集光光路が単
一であるため、その占める空間を小さくし、装置全体を
小型にすることができる。
号とを共通の受光領域を用いて検出することができ、受
光素子の構成を単純化してコストを下げることができる
と共に、後述する他の実施例と比較すると集光光路が単
一であるため、その占める空間を小さくし、装置全体を
小型にすることができる。
【0024】
【実施例2】図5は、この発明の実施例2の光検出ユニ
ットを利用した光磁気ディスク装置の光学系を示す。半
導体レーザー1から対物レンズ9に到る素子は上述した
実施例1と同様である。
ットを利用した光磁気ディスク装置の光学系を示す。半
導体レーザー1から対物レンズ9に到る素子は上述した
実施例1と同様である。
【0025】光磁気ディスク20からの反射光のうち直
角プリズム5のハーフミラー面5aで反射された成分
は、図6に示すようにグレーティング板14に入射して
0次回折光と+1次回折光、−1次回折光とに分離さ
れ、それぞれ集光レンズ11を介して受光素子15上に
集光する。
角プリズム5のハーフミラー面5aで反射された成分
は、図6に示すようにグレーティング板14に入射して
0次回折光と+1次回折光、−1次回折光とに分離さ
れ、それぞれ集光レンズ11を介して受光素子15上に
集光する。
【0026】グレーティング板14には、図6(d)に示
すように、図中左側となる一方側から図中右側となる他
方側へ向けて徐々にピッチが小さくなる同心円の円弧か
ら成る不等ピッチのグレーティングが形成されている。
このグレーティング板を透過することにより、0次回折
光はそのまま透過すると共に、+1次回折光は発散し、
−1次回折光は収束する。
すように、図中左側となる一方側から図中右側となる他
方側へ向けて徐々にピッチが小さくなる同心円の円弧か
ら成る不等ピッチのグレーティングが形成されている。
このグレーティング板を透過することにより、0次回折
光はそのまま透過すると共に、+1次回折光は発散し、
−1次回折光は収束する。
【0027】グレーティング板14をそのまま透過した
0次回折光は、光軸に沿って集光され、グレーティング
プリズム12'に入射し、各偏光成分に分離されて受光
領域15a,15bに達する。この実施例では、実施例
1のようにλ/2板を設ける代わりに、グレーティング
プリズム12'を45°回転させた状態で受光素子15
の中央に設けている。グレーティングプリズム12'
は、実施例1で示したグレーティングプリズム12の相
似形であり、頂角、回折角等は表1の(a)に示される通
りである。
0次回折光は、光軸に沿って集光され、グレーティング
プリズム12'に入射し、各偏光成分に分離されて受光
領域15a,15bに達する。この実施例では、実施例
1のようにλ/2板を設ける代わりに、グレーティング
プリズム12'を45°回転させた状態で受光素子15
の中央に設けている。グレーティングプリズム12'
は、実施例1で示したグレーティングプリズム12の相
似形であり、頂角、回折角等は表1の(a)に示される通
りである。
【0028】一方、グレーティング板14により発散さ
れた+1次回折光は、集光レンズ11による集光点より
後方に位置する集光点の手前で受光領域15cにより受
光される。また、グレーティング板14により収束され
た−1次回折光は、集光レンズ11による集光点より手
前に位置する集光点の後方で受光領域15dにより受光
される。
れた+1次回折光は、集光レンズ11による集光点より
後方に位置する集光点の手前で受光領域15cにより受
光される。また、グレーティング板14により収束され
た−1次回折光は、集光レンズ11による集光点より手
前に位置する集光点の後方で受光領域15dにより受光
される。
【0029】図7は、受光素子15の受光領域を拡大し
て示したものである。受光領域15c,15dは、図4
に示した実施例1と同様であり、A〜Hで示される短冊
状の領域から構成されている。また、受光領域15a,
15bは、それぞれ分割されない単一の領域I,Jから
構成され、グレーティングプリズム12'によって偏光
分離されたP偏光光束とS偏光光束とをそれぞれ受光す
る。
て示したものである。受光領域15c,15dは、図4
に示した実施例1と同様であり、A〜Hで示される短冊
状の領域から構成されている。また、受光領域15a,
15bは、それぞれ分割されない単一の領域I,Jから
構成され、グレーティングプリズム12'によって偏光
分離されたP偏光光束とS偏光光束とをそれぞれ受光す
る。
【0030】光磁気記録信号MO、プリフォーマット信
号RO、フォーカスエラー信号FE、トラックエラー信
号TEは、各受光領域の出力を受光領域と同一の記号に
より表現すると、以下の式により求められる。
号RO、フォーカスエラー信号FE、トラックエラー信
号TEは、各受光領域の出力を受光領域と同一の記号に
より表現すると、以下の式により求められる。
【0031】
【数2】MO= I−J RO=(A+B+C+D)+(E+F+G+H)+(I+J) FE= (A+D−B−C)−(E+H−F−G) TE= (B−C)+(G−F)
【0032】この実施例によれば、情報信号とエラー信
号とを独立した受光領域により検出できるため、各信号
間の干渉による影響が少なく、正確な信号を得ることが
できる。また、実施例1の受光素子13と比較すると、
光磁気記録信号MOを検出するための受光領域15a,
15bの面積を小さくすることができる。受光素子の応
答速度は受光領域の面積が小さいほど高くなるため、実
施例2の構成によれば、より高い周波数の信号を検出す
ることが可能となる。
号とを独立した受光領域により検出できるため、各信号
間の干渉による影響が少なく、正確な信号を得ることが
できる。また、実施例1の受光素子13と比較すると、
光磁気記録信号MOを検出するための受光領域15a,
15bの面積を小さくすることができる。受光素子の応
答速度は受光領域の面積が小さいほど高くなるため、実
施例2の構成によれば、より高い周波数の信号を検出す
ることが可能となる。
【0033】
【実施例3】図8は、この発明の実施例3の光検出ユニ
ットを利用した光磁気ディスク装置の光学系を示す。実
施例3は、受光素子15の手前に設けられたグレーティ
ングプリズム16の構成のみが異なり、他の構成は実施
例2の装置と同様である。
ットを利用した光磁気ディスク装置の光学系を示す。実
施例3は、受光素子15の手前に設けられたグレーティ
ングプリズム16の構成のみが異なり、他の構成は実施
例2の装置と同様である。
【0034】グレーティングプリズム16は、図3の
(b)に示すように、光が射出する端面に偏光分離のため
のグレーティングが形成されている。そして、分離され
た光束を受光するために受光素子15は、図9に示すよ
うにグレーティングプリズム16から所定距離離れて配
置されている。
(b)に示すように、光が射出する端面に偏光分離のため
のグレーティングが形成されている。そして、分離され
た光束を受光するために受光素子15は、図9に示すよ
うにグレーティングプリズム16から所定距離離れて配
置されている。
【0035】このグレーティングプリズム16の具体的
な数値構成は、前掲の表1の(b)欄に示すとおりであ
る。受光素子15の受光領域の配置、各信号の検出方法
は、実施例2と同一である。
な数値構成は、前掲の表1の(b)欄に示すとおりであ
る。受光素子15の受光領域の配置、各信号の検出方法
は、実施例2と同一である。
【0036】
【実施例4】図10は、この発明の実施例2の光検出ユ
ニットを利用した光磁気ディスク装置の光学系を示す。
ニットを利用した光磁気ディスク装置の光学系を示す。
【0037】実施例4の光学系は、光磁気ディスク20
からの反射光をグレーティング板14により0次と±1
次の3つの回折光に分離し、集光レンズ11で集光させ
る。そして、0次回折光は、図11に示されるように光
路中に設けられた微小偏向プリズム17により光路外に
向けて垂直に反射され、グレーティングプリズム12'
が貼り付けられた光磁気信号検出用の受光素子18によ
り受光される。グレーティングプリズム12'の構成
は、実施例2と同一である。光磁気信号検出用の第1の
受光素子18は、隣接する2つの受光領域18a,18
bを備えており、これらの受光領域18a,18bは、
図12に示されるようにそれぞれ分割されない単一の領
域I,Jから構成される。
からの反射光をグレーティング板14により0次と±1
次の3つの回折光に分離し、集光レンズ11で集光させ
る。そして、0次回折光は、図11に示されるように光
路中に設けられた微小偏向プリズム17により光路外に
向けて垂直に反射され、グレーティングプリズム12'
が貼り付けられた光磁気信号検出用の受光素子18によ
り受光される。グレーティングプリズム12'の構成
は、実施例2と同一である。光磁気信号検出用の第1の
受光素子18は、隣接する2つの受光領域18a,18
bを備えており、これらの受光領域18a,18bは、
図12に示されるようにそれぞれ分割されない単一の領
域I,Jから構成される。
【0038】一方、±1次回折光は、微小偏向プリズム
17の後方に設けられたエラー信号検出用の第2の受光
素子19により受光される。エラー信号検出用受光素子
19は、2つの受光領域19a,19bを備えており、
それぞれの受光領域は、図4に示す実施例1の受光素子
と同様に4つの短冊状の受光領域A〜Hを備えている。
各信号の検出方法は、実施例2と同一である。
17の後方に設けられたエラー信号検出用の第2の受光
素子19により受光される。エラー信号検出用受光素子
19は、2つの受光領域19a,19bを備えており、
それぞれの受光領域は、図4に示す実施例1の受光素子
と同様に4つの短冊状の受光領域A〜Hを備えている。
各信号の検出方法は、実施例2と同一である。
【0039】実施例4の構成によれば、エラー信号と光
磁気信号とを別個の受光素子により検出できるため、光
束の漏れ込みや迷光の影響が少なく、実施例1〜3のよ
うにそれぞれの受光領域が同一パッケージ内にあるより
も微小な光電流の干渉による影響を防止することができ
る。
磁気信号とを別個の受光素子により検出できるため、光
束の漏れ込みや迷光の影響が少なく、実施例1〜3のよ
うにそれぞれの受光領域が同一パッケージ内にあるより
も微小な光電流の干渉による影響を防止することができ
る。
【0040】また、光磁気信号検出用の受光素子への光
路とエラー信号検出用の受光素子への光路とを直交させ
ることができ、光学設計、機構設計上の自由度が向上
し、装置全体の空きスペースを有効に利用することがで
きる。
路とエラー信号検出用の受光素子への光路とを直交させ
ることができ、光学設計、機構設計上の自由度が向上
し、装置全体の空きスペースを有効に利用することがで
きる。
【0041】さらに、0次回折光を±1次回折光の光路
から分離するため、グレーティング板14による回折角
度が比較的小さくともそれぞれの光束を分離することが
可能となり、グレーティング板14による回折角度を小
さく設定することにより±1次回折光のスポット像の収
差を小さくすることができ、安定したエラー信号の検出
が可能となる。
から分離するため、グレーティング板14による回折角
度が比較的小さくともそれぞれの光束を分離することが
可能となり、グレーティング板14による回折角度を小
さく設定することにより±1次回折光のスポット像の収
差を小さくすることができ、安定したエラー信号の検出
が可能となる。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、グレーティングが形成されたプリズムと受光素子と
を組み合せて利用することにより、受光素子へ入射させ
る2つの光束の角度を任意に設定することができ、受光
素子との間隔、光軸に対する受光素子の角度を任意に定
めることが可能となる。特に、受光素子を光軸に対して
垂直に設定する場合には、受光素子の位置決め、調整等
が容易となる。
ば、グレーティングが形成されたプリズムと受光素子と
を組み合せて利用することにより、受光素子へ入射させ
る2つの光束の角度を任意に設定することができ、受光
素子との間隔、光軸に対する受光素子の角度を任意に定
めることが可能となる。特に、受光素子を光軸に対して
垂直に設定する場合には、受光素子の位置決め、調整等
が容易となる。
【図1】 実施例1の光検出ユニットを利用した光磁気
ディスク装置の説明図である。
ディスク装置の説明図である。
【図2】 図1の装置の受光系の説明図であり、(a)は
図1中のx−y平面内の説明図、(b)はy−z平面内の
説明図、(c)はx−z平面内の説明図である。
図1中のx−y平面内の説明図、(b)はy−z平面内の
説明図、(c)はx−z平面内の説明図である。
【図3】 実施例に用いられるグレーティングプリズム
単体の説明図である。
単体の説明図である。
【図4】 実施例1の受光素子の受光領域を示す平面図
である。
である。
【図5】 実施例2の光検出ユニットを利用した光磁気
ディスク装置の説明図である。
ディスク装置の説明図である。
【図6】 図5の装置の受光系の説明図であり、(a)は
図5中のx−y平面内の説明図、(b)はy−z平面内の
説明図、(c)はx−z平面内の説明図である。
図5中のx−y平面内の説明図、(b)はy−z平面内の
説明図、(c)はx−z平面内の説明図である。
【図7】 実施例2の受光素子の受光領域を示す平面図
である。
である。
【図8】 実施例3の光検出ユニットを利用した光磁気
ディスク装置の説明図である。
ディスク装置の説明図である。
【図9】 図8の装置の受光系の説明図であり、(a)は
図8中のx−y平面内の説明図、(b)はy−z平面内の
説明図、(c)はx−z平面内の説明図である。
図8中のx−y平面内の説明図、(b)はy−z平面内の
説明図、(c)はx−z平面内の説明図である。
【図10】 実施例4の光検出ユニットを利用した光磁
気ディスク装置の説明図である。
気ディスク装置の説明図である。
【図11】 図10の装置の受光系の説明図であり、
(a)は図10中のx−y平面内の説明図、(b)はy−z平
面内の説明図、(c)はx−z平面内の説明図である。
(a)は図10中のx−y平面内の説明図、(b)はy−z平
面内の説明図、(c)はx−z平面内の説明図である。
【図12】 実施例4の光磁気信号検出用受光素子の受
光領域を示す平面図である。
光領域を示す平面図である。
1…半導体レーザー 5a…ハーフミラー面 9…対物レンズ 11…集光レンズ 12,12',16…グレーティングプリズム 13,15,18,19…受光素子 14…グレーティング板 17…微小偏向プリズム 20…光磁気ディスク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 丸山 晃一 東京都板橋区前野町2丁目36番9号旭光学 工業株式会社内 (72)発明者 大野 政博 東京都板橋区前野町2丁目36番9号旭光学 工業株式会社内
Claims (6)
- 【請求項1】互いに非平行な入射端面と射出端面とのい
ずれか一方に周期性を持つ透過型のグレーティング面が
形成され、前記入射端面から入射した光束を0次回折光
と1次回折光とに分離して前記射出端面から射出させる
グレーティングプリズムと、 分離された2つの光束をそれぞれ受光する少なくとも2
つの受光領域を備える受光素子とが近接配置して構成さ
れたことを特徴とする光検出ユニット。 - 【請求項2】前記グレーティングプリズムは、前記入射
端面に前記グレーティング面が形成されていることを特
徴とする請求項1に記載の光検出ユニット。 - 【請求項3】前記グレーティングプリズムは、前記グレ
ーティング面により分離された0次回折光と1次回折光
とのいずれか一方を前記入射端面に対して非平行な反射
面で内面反射させた後、両光束を前記射出端面からほぼ
平行な状態で射出させることを特徴とする請求項2に記
載の光検出ユニット。 - 【請求項4】前記グレーティングプリズムと前記受光素
子とが一体に接合されていることを特徴とする請求項1
に記載の光検出ユニット。 - 【請求項5】前記グレーティングプリズムと前記受光素
子とが僅かな空気間隔を隔てて隣接していることを特徴
とする請求項1に記載の光検出ユニット。 - 【請求項6】前記受光素子は、該受光素子に入射する光
束に対して垂直に設けられていることを特徴とする請求
項1に記載の光検出ユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07586393A JP3401288B2 (ja) | 1993-04-01 | 1993-04-01 | 光検出ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07586393A JP3401288B2 (ja) | 1993-04-01 | 1993-04-01 | 光検出ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06289322A true JPH06289322A (ja) | 1994-10-18 |
JP3401288B2 JP3401288B2 (ja) | 2003-04-28 |
Family
ID=13588521
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07586393A Expired - Fee Related JP3401288B2 (ja) | 1993-04-01 | 1993-04-01 | 光検出ユニット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3401288B2 (ja) |
-
1993
- 1993-04-01 JP JP07586393A patent/JP3401288B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3401288B2 (ja) | 2003-04-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 6 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090221 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |