JPH06283592A - Suction operation confirming equipment for semiconductor chip - Google Patents

Suction operation confirming equipment for semiconductor chip

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JPH06283592A
JPH06283592A JP6702193A JP6702193A JPH06283592A JP H06283592 A JPH06283592 A JP H06283592A JP 6702193 A JP6702193 A JP 6702193A JP 6702193 A JP6702193 A JP 6702193A JP H06283592 A JPH06283592 A JP H06283592A
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semiconductor chip
suction
light
chip
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Junji Imai
淳史 今井
Takeshi Yoshioka
剛 吉岡
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Rohm Co Ltd
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    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors

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Abstract

PURPOSE:To judge whether a semiconductor chip is normally sucked and retained by a suction collet, when the semiconductor chip is picked up by the suction collet and carried to a specified destination. CONSTITUTION:A photo detector 11 or a light emitting element 17 is arranged in the suction hole 10 of a suction collet 9. The light emitting element 17 or the photo detector 11 is arranged in the carriage route of the suction collet 9. On the basis of whether the photo detector 11 receives the light from the light emitting element 17, it is judged whether a semiconductor chip (d) is normally sucked and retained by the suction collet 9.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本願発明は、半導体チップの吸着
確認装置に関し、より詳しくは、吸着コレットを用いて
半導体チップを搬送する場合において、半導体チップが
正しく上記吸着コレットに保持されているかどうかを確
認するようにしたものに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a suction confirmation device for semiconductor chips, and more specifically, when a semiconductor chip is conveyed using a suction collet, it is checked whether the semiconductor chip is correctly held by the suction collet. Regarding what you have to confirm.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の製造においては、多数個の
素子が一括して造り込まれたウエハをダイシングして個
々の半導体チップに分離し、これを一つずつリードフレ
ーム上の所定位置にボンディングするというチップボン
ディングの手法が採用される。ウエハから個々に分離さ
れた多数個の半導体チップは、エキスパンドテープ上に
保持され、このエキスパンドテープから一つずつ半導体
チップをピックアップしてボンディング位置に搬送され
る。
2. Description of the Related Art In the manufacture of semiconductor devices, a wafer on which a large number of elements have been formed at once is diced into individual semiconductor chips, which are then bonded one by one to predetermined positions on a lead frame. The chip bonding method is adopted. A large number of semiconductor chips individually separated from the wafer are held on an expanding tape, and the semiconductor chips are picked up from the expanding tape one by one and conveyed to a bonding position.

【0003】上記のピックアップには、下面吸着面に吸
着孔を設けた吸着コレットが用いられる。この吸着コレ
ットは、適当なハンドリング機構により、上記したエキ
スパンドテープからのピックアップ位置と、リードフレ
ーム上のボンディング位置との間を往復搬送させられ
る。
For the above pickup, a suction collet having a suction hole on the lower suction surface is used. The suction collet is reciprocally transported between the pickup position from the expand tape and the bonding position on the lead frame by an appropriate handling mechanism.

【0004】ピックアップニードルの突き上げ作動等の
適当な手法によって上記エキスパンドテープから剥離さ
せられた半導体チップは、上記吸着コレットの下面吸着
面に対し、吸着孔に負圧を作用させることによって吸着
保持され、上記負圧を作用させつづけることによって上
記吸着状態が維持される。
The semiconductor chip peeled from the expand tape by an appropriate method such as pushing up of the pickup needle is sucked and held by applying a negative pressure to the suction hole against the lower suction surface of the suction collet. The adsorption state is maintained by continuing to apply the negative pressure.

【0005】吸着コレットがリードフレームの所定のボ
ンディング位置に到達すると、吸着コレットは、あらか
じめ導電ペースト等の接着剤が付着させられたリードフ
レームに対して半導体チップを押しつけるとともに、上
記吸引負圧を解除することによって、リードフレームに
対する半導体チップのボンディング作動を行う。
When the suction collet reaches a predetermined bonding position on the lead frame, the suction collet presses the semiconductor chip against the lead frame to which an adhesive such as a conductive paste is attached in advance and releases the suction negative pressure. By doing so, the bonding operation of the semiconductor chip to the lead frame is performed.

【0006】また、上記のように、エキスパンドテープ
からピックアップした半導体チップをそのままリードフ
レーム上にボンディングする場合の他、半導体チップの
正確な位置決めが必要な場合には、エキスパンドテープ
からいったん位置決めテーブル上に搬送し、位置決めを
終えた半導体チップを再びピックアップしてリードフレ
ーム上に搬送するという手法がとられることもある。こ
の場合においても、半導体チップを搬送するにあたり、
上記と同様の吸着コレットが用いられる。
As described above, when the semiconductor chip picked up from the expand tape is directly bonded on the lead frame as well as when the accurate positioning of the semiconductor chip is required, the expand tape is once placed on the positioning table. In some cases, a semiconductor chip that has been transported and positioned is picked up again and transported onto a lead frame. Even in this case, when carrying the semiconductor chip,
An adsorption collet similar to the above is used.

【0007】ところで、吸着コレットは、吸引力によっ
て半導体チップを吸着するものであるが、ピックアップ
時の半導体チップに対する位置ずれや、搬送途中におけ
る振動等に起因して、正しく半導体チップを吸着保持す
ることができない場合が生じる。そうすると、順次的に
半導体チップがボンディングされるべきリードフレーム
上にチップがボンディングされていない部分が生じ、半
導体装置の製造におけるその後の工程において、種々の
不具合が生じる。たとえば、あるべき半導体チップが存
在しないことから、ワイヤボンディングが正しく行われ
ないばかりか、ワイヤボンディング機構に損傷を与えて
しまう可能性もある。また、半導体チップが存在せず、
また、ワイヤボンディングもされない部分が樹脂モール
ドパッケージされてしまうことになり、この部分は、当
然のことながら不良品となるとともに、材料の無駄とな
る。
By the way, the suction collet sucks a semiconductor chip by a suction force. However, the suction collet must properly suck and hold the semiconductor chip due to misalignment with respect to the semiconductor chip during pickup, vibration during transportation, and the like. There are cases where you cannot do it. Then, a portion where the chips are not bonded is generated on the lead frame to which the semiconductor chips are sequentially bonded, and various problems occur in the subsequent steps of manufacturing the semiconductor device. For example, since there is no semiconductor chip that should be present, not only wire bonding is not performed correctly, but also the wire bonding mechanism may be damaged. Also, there is no semiconductor chip,
In addition, a portion which is not wire-bonded is packaged in a resin mold, and this portion naturally becomes a defective product, and the material is wasted.

【0008】従来、このような吸着コレットによる半導
体チップの搬送上の不都合を回避するために、吸着コレ
ットに対し半導体チップが吸着保持されているかどうか
を確認するための手段が設けられている。
[0008] Conventionally, in order to avoid the inconvenience of the conveyance of the semiconductor chip by the suction collet, means for confirming whether or not the semiconductor chip is suction-held by the suction collet is provided.

【0009】かかる従来の吸着確認手段は、吸着コレッ
トaの吸着孔b内の静圧を検知するとというものであ
る。すなわち、吸着コレットaの側部に圧力センサcを
設け、吸着孔b内を空気が流れているか流れていないか
を検知するようにしている。
The conventional suction confirmation means detects the static pressure in the suction hole b of the suction collet a. That is, a pressure sensor c is provided on the side of the suction collet a to detect whether air is flowing or not in the suction hole b.

【0010】たとえば、図7に示すように、吸着コレッ
トaに半導体チップdが正しく吸着保持されている場合
には、吸着孔内の圧力は低下しているが、空気流通はな
いか、あるいはわずかである。
For example, as shown in FIG. 7, when the semiconductor chip d is correctly adsorbed and held by the adsorbing collet a, the pressure in the adsorbing hole is reduced, but there is no air flow or a slight air flow. Is.

【0011】一方、吸着コレットaに半導体チップdが
吸着保持されていない場合には、吸着孔bが開放してい
るため、この吸着孔内に空気流れが生じている。したが
って、吸着コレットaに半導体チップdが吸着保持され
ている場合といない場合において、吸着コレット内の圧
力が異なり、これにより、吸着コレットに半導体チップ
が保持されているかどうかを一応判定することができ
る。
On the other hand, when the semiconductor chip d is not adsorbed and held by the adsorbing collet a, the adsorbing hole b is open, so that an air flow is generated in the adsorbing hole. Therefore, the pressure inside the suction collet differs depending on whether the suction collet a holds the semiconductor chip d by suction or not, and it is possible to determine whether or not the suction collet holds the semiconductor chip. .

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、吸着コ
レットaに半導体チップdが吸着保持されてはいても、
図8に示すように、半導体チップdが正しい姿勢で吸着
保持されていない場合も起こりうる。図8に示す状態
は、発光ダイオードチップdが、その上面がコレットの
吸着面に対して接触するのではなく、側面が吸着されて
いる状態を示している。従来の吸着状態確認手段におい
ては、図8に示したような状態を検知することができな
かったのである。
However, even if the semiconductor chip d is suction-held by the suction collet a,
As shown in FIG. 8, the semiconductor chip d may not be attracted and held in the correct posture. The state shown in FIG. 8 shows a state in which the upper surface of the light emitting diode chip d is not in contact with the suction surface of the collet, but the side surface thereof is suctioned. The conventional suction state confirmation means cannot detect the state shown in FIG.

【0013】仮に図8に示す姿勢の半導体チップdをボ
ンディング位置まで搬送したとしても、正しいチップボ
ンディングが行われ得ないことは明らかである。それだ
けではなく、チップボンディング工程に続くワイヤボン
ディング工程において、重大な障害を発生させる可能性
もある。
Even if the semiconductor chip d having the posture shown in FIG. 8 is conveyed to the bonding position, it is obvious that the correct chip bonding cannot be performed. Not only that, but also in the wire bonding process following the chip bonding process, there is a possibility of causing a serious failure.

【0014】ところで、発光ダイオードチップについて
は、図6に示すように、チップそのものが透光性をもっ
ており、上面にワイヤボンディング用の金パターンが形
成されている。本願発明は、発光ダイオードチップが上
記のような構成をもっていることに鑑み、これが吸着コ
レットに対して正しく吸着保持されているかどうかを確
実に確認するようにすることをその課題としている。
As for the light emitting diode chip, as shown in FIG. 6, the chip itself has a light-transmitting property, and a gold pattern for wire bonding is formed on the upper surface. In view of the above-described structure of the light emitting diode chip, the present invention has an object to surely confirm whether or not the light emitting diode chip is properly suction-held with respect to the suction collet.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本願発明では、次の技術的手段を講じている。
In order to solve the above problems, the present invention takes the following technical means.

【0016】すなわち、ピックアップ位置でピックアッ
プした半導体チップを所定の搬送先まで搬送する吸着コ
レットに半導体チップが正しく吸着保持されているかど
うかを確認する装置であって、上記吸着コレットの吸着
孔内に受光素子または発光体を設ける一方、上記吸着コ
レットの搬送経路に発光体または受光素子を設け、上記
受光素子が上記発光体からの光を受光するかしないかに
よって、上記吸着コレットに半導体チップが正しく吸着
保持されているかどうかを判定するようにしたことを特
徴としている。
That is, a device for confirming whether or not a semiconductor chip is correctly adsorbed and held by an adsorption collet that conveys a semiconductor chip picked up at a pickup position to a predetermined destination, and receives light in an adsorption hole of the adsorption collet. While the element or the light emitting element is provided, the light emitting element or the light receiving element is provided in the conveyance path of the suction collet, and the semiconductor chip is correctly sucked on the suction collet depending on whether or not the light receiving element receives the light from the light emitting element. The feature is that it is determined whether or not it is held.

【0017】[0017]

【発明の作用および効果】本願発明は要するに、吸着コ
レットの吸着孔を光が透過するか否かによって、吸着コ
レットの吸着面に半導体チップが正しく吸着保持されて
いるかどうかを判定するようにしたものである。
The function and effect of the present invention is, in short, to determine whether or not a semiconductor chip is properly suction-held on the suction surface of the suction collet depending on whether or not light is transmitted through the suction hole of the suction collet. Is.

【0018】上述したように、発光ダイオードチップ
は、チップ本体は透光性をもっており、その上面の一部
が非透光性の金パターンで覆われている。したがって、
吸着コレットに対してこの発光ダイオードチップが正し
く吸着保持されている限りにおいて、上記非透光性の金
パターンが上記吸着孔を塞ぐことになり、吸着コレット
の内側または外側に設けた発光体からの光がこの吸着孔
を透過することができない。
As described above, in the light emitting diode chip, the chip body has a light-transmitting property, and a part of the upper surface thereof is covered with the non-light-transmitting gold pattern. Therefore,
As long as this light-emitting diode chip is properly suction-held with respect to the suction collet, the non-translucent gold pattern will block the suction hole, and the light-emitting element provided inside or outside the suction collet Light cannot pass through this adsorption hole.

【0019】したがって、上記受光素子が発光体からの
光を受光しない場合には、吸着コレットに発光ダイオー
ドチップが正しく吸着保持されていると判定して差し支
えない。
Therefore, when the light receiving element does not receive the light from the light emitting body, it may be determined that the light emitting diode chip is correctly attracted and held by the attraction collet.

【0020】一方、吸着コレットに発光ダイオードチッ
プが吸着されていない場合には、吸着孔は開放している
から、上記発光体からの光は吸着孔を通って上記受光素
子に到達することができる。
On the other hand, when the light-emitting diode chip is not adsorbed on the adsorption collet, the adsorption hole is open, so that the light from the light-emitting body can reach the light-receiving element through the adsorption hole. .

【0021】さらに、吸着コレットに発光ダイオードチ
ップが吸着されてはいても、正しい姿勢で吸着されてい
ない場合、すなわち、発光ダイオードチップの側面が吸
着コレットに吸着されている場合等には、チップ本体が
透光性をもっており、上記非透光性の金パターンが吸着
孔を覆うこともないから、上記発光体からの光が透光性
をもつ発光ダイオードチップの内部を通って吸着孔を透
過することができる。
Further, even if the light-emitting diode chip is adsorbed to the adsorption collet, but is not adsorbed in the correct posture, that is, when the side surface of the light-emitting diode chip is adsorbed to the adsorption collet, the chip body. Has a light-transmitting property and the non-light-transmitting gold pattern does not cover the suction hole, so that the light from the light-emitting body passes through the suction hole through the inside of the light-emitting diode chip having a light-transmitting property. be able to.

【0022】したがって、上記受光素子が上記発光体か
らの光を受光している場合には、吸着コレットに発光ダ
イオードチップが保持されていないか、または保持され
てはいても正しい姿勢をとっていないことになる。この
ように、受光素子が光を受けている場合には、発光ダイ
オードチップが吸着コレットに正しく吸着保持されてい
ないと判定することができる。
Therefore, when the light receiving element receives the light from the light emitting body, the adsorption collet does not hold the light emitting diode chip or does not take the correct posture even if it is held. It will be. In this way, when the light receiving element receives light, it can be determined that the light emitting diode chip is not properly suction-held by the suction collet.

【0023】このように、本願発明によれば、半導体チ
ップが正しい姿勢で吸着コレットに保持されているかど
うかを簡便に確認することができ、リードフレームに対
するチップボンディング不良を著しく減少させて、半導
体装置製造における歩留りを向上させることができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to easily confirm whether or not the semiconductor chip is held by the suction collet in the correct posture, and it is possible to remarkably reduce the chip bonding failure with respect to the lead frame and to reduce the semiconductor device. The yield in manufacturing can be improved.

【0024】[0024]

【実施例の説明】以下、本願発明の好ましい実施例を、
図面を参照しつつ具体的に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The preferred embodiments of the present invention will be described below.
A specific description will be given with reference to the drawings.

【0025】図1は、半導体チップdのピックアップ・
ボンディング装置1の一例の全体構成を示す。半導体ウ
エハからダイシングによって個々に分離させられた多数
個の半導体チップdは、エキスパンドテープ2上に担持
させられ、このエキスパンドテープ2は保持枠3に張設
された状態でXYアクチュエータ4上に保持される。
FIG. 1 shows a pickup for a semiconductor chip d.
The whole structure of an example of the bonding apparatus 1 is shown. A large number of semiconductor chips d, which are individually separated from the semiconductor wafer by dicing, are carried on the expand tape 2, and the expand tape 2 is held on the XY actuator 4 while being stretched on the holding frame 3. It

【0026】上記エキスパンドテープ2の下方には、エ
キスパンドテープ2上の個々の半導体チップdをエキス
パンドテープ2から剥離させる機能をもつテープガイド
5が固定状に配置されている。エキスパンドテープ2の
上方には、上記テープガイド5の平面的な位置と対応し
て、光学系認識装置6が配置されている。上記XYアク
チュエータ4は、上記光学系認識装置6からの認識情報
にしたがい、ピックアップするべき半導体チップdが上
記テープガイド5の直上に案内されるように、上記保持
枠3に張設されたエキスパンドテープ2をXY方向に移
動させる。
Below the expanding tape 2, a tape guide 5 having a function of separating individual semiconductor chips d on the expanding tape 2 from the expanding tape 2 is fixedly arranged. An optical system recognition device 6 is arranged above the expandable tape 2 in correspondence with the planar position of the tape guide 5. The XY actuator 4 is stretched on the holding frame 3 so that the semiconductor chip d to be picked up is guided right above the tape guide 5 according to the recognition information from the optical system recognition device 6. 2 is moved in the XY directions.

【0027】上記テープガイド5は、図2に示すよう
に、円筒状部材5aの頂面に形成されたバキュームホー
ル7からピックアップニードル8が出没させられるよう
になっており、上記のようにしてピックアップするべき
半導体チップの位置調整が行われると、上記ピックアッ
プニードル8が上動してその上にある半導体チップdを
エキスパンドテープ2から引き剥がす。
As shown in FIG. 2, the tape guide 5 has a pick-up needle 8 which is retracted from a vacuum hole 7 formed in the top surface of the cylindrical member 5a, and is picked up as described above. When the position adjustment of the semiconductor chip to be performed is performed, the pickup needle 8 moves upward and the semiconductor chip d on the pickup needle 8 is peeled off from the expanding tape 2.

【0028】かかる半導体チップdのエキスパンドテー
プ2からの剥離作動と相前後するようにして、吸着コレ
ット9が半導体チップdの上面に接触させられ、そして
この吸着コレット9の吸着孔10に負圧を作用させるこ
とにより、半導体チップdを吸着コレット9に吸着保持
させる。
The adsorbing collet 9 is brought into contact with the upper surface of the semiconductor chip d so as to be in tandem with the peeling operation of the semiconductor chip d from the expanding tape 2, and a negative pressure is applied to the adsorbing hole 10 of the adsorbing collet 9. By acting, the semiconductor chip d is adsorbed and held by the adsorbing collet 9.

【0029】こうして半導体チップdをエキスパンドテ
ープ2からピックアップしかつ吸着保持する吸着コレッ
ト9は、図示しないハンドリング機構により、リードフ
レームF上に移動させられ、あらかじめ導電性接着剤を
塗布したリードフレームFの所定部位に上記半導体チッ
プdを押しつけると同時に吸引力を解除することによっ
て、リードフレームFに対する半導体チップdのボンデ
ィング作動をする。
The suction collet 9 that picks up the semiconductor chip d from the expanding tape 2 and holds it by suction is moved to the lead frame F by a not-shown handling mechanism, and is attached to the lead frame F in advance by applying a conductive adhesive. The semiconductor chip d is bonded to the lead frame F by pressing the semiconductor chip d to a predetermined portion and releasing the suction force at the same time.

【0030】チップボンディングを終えた吸着コレット
9は、上述のピックアップ位置まで戻り、上記と同様の
ピックアップ作動ないしボンディング作動を繰り返す。
After the chip bonding, the suction collet 9 returns to the above-mentioned pickup position and repeats the same pickup operation or bonding operation as above.

【0031】吸着コレット9は、図3に詳示するよう
に、吸着孔10が開口した吸着面を下端に備えるコレッ
トピース9aを備えている。本実施例においては、上記
コレットピース9aは、有底円筒状の中空管9bの下端
に接続されている。上記コレットピース9a内に形成さ
れる吸着孔10は、垂直方向に貫通するように形成され
ており、上記中空管9bの上底部には、フォトダイオー
ド等の受光素子11が取付けられている。上記フォトダ
イオードは、上記垂直状に延びる吸着孔10の軸線上に
配置されるのが望ましい。
As shown in detail in FIG. 3, the suction collet 9 is provided with a collet piece 9a having a suction surface having a suction hole 10 opened at the lower end. In the present embodiment, the collet piece 9a is connected to the lower end of a cylindrical hollow tube 9b having a bottom. The suction hole 10 formed in the collet piece 9a is formed so as to penetrate in the vertical direction, and a light receiving element 11 such as a photodiode is attached to the upper bottom portion of the hollow tube 9b. The photodiode is preferably arranged on the axis of the vertically extending suction hole 10.

【0032】上記中空管9bの側部ポート12には、バ
キュームホース13が接続されており、このバキューム
ホース13は、電磁弁14を介して真空源15に接続さ
れている。また、上記バキュームホース13の中間部に
は、ホース内の静圧を検知するための圧力センサ16が
接続されている。
A vacuum hose 13 is connected to the side port 12 of the hollow tube 9b, and the vacuum hose 13 is connected to a vacuum source 15 via a solenoid valve 14. A pressure sensor 16 for detecting static pressure in the hose is connected to an intermediate portion of the vacuum hose 13.

【0033】一方、上記の構成をもつ吸着コレット9の
移動経路の下方には、ランプ等の発光体17が配置され
る。
On the other hand, a light-emitting body 17 such as a lamp is arranged below the moving path of the suction collet 9 having the above structure.

【0034】上記フォトダイオード11の受光信号、お
よび上記圧力センサ16の検出信号は、制御装置18に
入力される。上記制御装置18からの制御出力は、上記
コレット9に対する吸引負圧の入切を行う電磁弁14に
接続されている。なお、図1を参照してすでに説明した
チップピックアップ・ボンディング装置1において、光
学系認識装置6からの認識情報に基づいてXYアクチュ
エータ4を駆動し、そして、テープガイド5のピックア
ップニードル8を駆動する等の制御、あるいは、コレッ
ト9を移動させるためのハンドリング機構の制御は、適
当な制御装置によって行われるが、かかる制御装置と図
3における制御装置18とは、共用することができる。
The light receiving signal of the photodiode 11 and the detection signal of the pressure sensor 16 are input to the control device 18. The control output from the control device 18 is connected to a solenoid valve 14 for turning on / off the suction negative pressure to the collet 9. In the chip pickup / bonding apparatus 1 already described with reference to FIG. 1, the XY actuator 4 is driven based on the recognition information from the optical system recognition apparatus 6, and then the pickup needle 8 of the tape guide 5 is driven. The control of the above, or the control of the handling mechanism for moving the collet 9 is performed by an appropriate control device, but such a control device and the control device 18 in FIG. 3 can be shared.

【0035】次に、図6に示すような発光ダイオードチ
ップdをエキスパンドテープ2からピックアップしてリ
ードフレームF上にボンディングするように装置を構成
する場合において、吸着コレット9に半導体チップdが
正しく吸着保持されているかどうかを判定するための制
御の手法について説明する。
Next, when the device is constructed so that the light emitting diode chip d as shown in FIG. 6 is picked up from the expanding tape 2 and bonded on the lead frame F, the semiconductor chip d is correctly adsorbed to the adsorption collet 9. A control method for determining whether the data is held will be described.

【0036】図6に示すように、発光ダイオードチップ
dは、サイコロ状をしたガリウム砒素からなる褐色半透
明のチップ本体の上面に、ワイヤボンディングのための
金パターンdpを設けて形成されている。
As shown in FIG. 6, a light emitting diode chip d is formed by providing a gold pattern dp for wire bonding on the upper surface of a dice-shaped gallium arsenide brown semitransparent chip body.

【0037】吸着コレット9が、これにチップdを吸着
保持しているべき位置、たとえば、ピックアップ位置か
らボンディング位置への往路にあるとき、圧力センサ1
6からの圧力信号により、コレット9にチップdが吸着
保持されているかどうかの判定をすることができる。コ
レット9にチップdが吸着されている場合には、コレッ
ト9の吸着孔10が塞がれているから、コレット9の内
部ないしバキュームホース13内の空気流れはないか、
またはきわめて小さいものである。一方、吸着コレット
9にチップdが吸着されていないと、吸着孔10が開放
されているから、外部空気が吸入されてコレットないし
バキュームホース内に空気が流れる。したがって、チッ
プdが吸着されている場合と吸着されていない場合と
で、圧力センサ16から検出される圧力の大きさが異な
り、その値が一定の閾値よりも大きいか小さいかによ
り、チップdの有無を判定することができる。
When the suction collet 9 is at the position where the chip d should be suction-held on the suction collet 9, for example, in the outward path from the pickup position to the bonding position, the pressure sensor 1
From the pressure signal from 6, it is possible to determine whether or not the tip d is adsorbed and held by the collet 9. When the chip d is adsorbed to the collet 9, since the adsorption hole 10 of the collet 9 is closed, there is no air flow inside the collet 9 or the vacuum hose 13.
Or it is extremely small. On the other hand, when the chip d is not adsorbed on the adsorption collet 9, the adsorption hole 10 is opened, so that external air is sucked and the air flows into the collet or the vacuum hose. Therefore, the magnitude of the pressure detected by the pressure sensor 16 is different depending on whether the chip d is adsorbed or not, and the value of the chip d depends on whether the value is larger or smaller than a certain threshold value. The presence or absence can be determined.

【0038】仮に吸着コレット9がチップdを吸着して
いないと判定されると、制御装置18は、吸着コレット
9の移動を停止し、ピックアップ位置でのピックアップ
作動を再度行うべく各機構を制御する。
If it is determined that the suction collet 9 is not sucking the chip d, the control device 18 stops the movement of the suction collet 9 and controls each mechanism to perform the pickup operation again at the pickup position. .

【0039】吸着コレット9にチップdが吸着されてい
ると判定されると、次に、この吸着コレット9が上記発
光体17の上方を通過する際の上記受光素子11からの
受光信号を解析する。
When it is determined that the chip d is adsorbed by the adsorption collet 9, the light receiving signal from the light receiving element 11 when the adsorption collet 9 passes above the light emitting body 17 is analyzed. .

【0040】吸着コレット9にダイオードチップdが吸
着されていたとしても、たとえば、図4に示すように、
チップdがずれている場合、あるいは、図5のようにチ
ップdの側面が吸着されている場合等があり、いずれの
場合にも、リードフレームに対する適正なボンディング
を行うことができない。
Even if the diode chip d is adsorbed to the adsorption collet 9, for example, as shown in FIG.
In some cases, the chip d is misaligned, or the side surface of the chip d is adsorbed as shown in FIG. 5, and in either case, proper bonding cannot be performed to the lead frame.

【0041】すでに説明したように、本実施例において
コレット9が吸着するチップdは、図6に示したよう
に、半透明のサイコロ状チップの上面に非透光性の金パ
ターンdpが形成されたものである。したがって、図5
に示すようにチップの側面が吸着されている場合には、
金パターンが吸着孔10を塞ぐことなく、したがって、
発光体17からの光はチップdないし吸着孔10を介し
てコレット内に配置した受光素子11に到達しうる。
As described above, in the chip d to which the collet 9 is attracted in this embodiment, as shown in FIG. 6, the non-translucent gold pattern dp is formed on the upper surface of the semitransparent dice chip. It is a thing. Therefore, FIG.
If the side of the chip is adsorbed as shown in,
The gold pattern does not block the adsorption holes 10, and therefore
Light from the light emitting body 17 can reach the light receiving element 11 arranged in the collet through the chip d or the suction hole 10.

【0042】また、図4に示すように、コレット9に吸
着されるチップdにずれがある場合にも、金パターンd
pが吸着孔10を部分的に塞ぐことになり、発光体17
からの光が上記受光素子11に到達しうる。
Further, as shown in FIG. 4, even when the chip d attracted to the collet 9 is misaligned, the gold pattern d
p partially blocks the adsorption hole 10, and the light emitting member 17
The light from can reach the light receiving element 11.

【0043】なお、チップdが図2のように正しくコレ
ット9に吸着されている場合には、金パターンdpが吸
着孔10を塞ぐので、発光体17からの光がコレット内
の受光素子11に到達することはない。
When the chip d is correctly attracted to the collet 9 as shown in FIG. 2, the gold pattern dp closes the attraction hole 10, so that the light from the light emitting body 17 is received by the light receiving element 11 in the collet. Never reach.

【0044】したがって、上記のようにコレット9が発
光体17の上方を通過する際にコレット内の受光素子1
1が受ける光の量により、図4あるいは図5のように、
チップdが正しくコレット9に吸着保持されていない状
態が検出される。
Therefore, when the collet 9 passes above the light emitting body 17 as described above, the light receiving element 1 in the collet 9
Depending on the amount of light that 1 receives, as shown in FIG. 4 or 5,
A state in which the tip d is not properly adsorbed and held by the collet 9 is detected.

【0045】上記のように、コレット9にチップdが保
持されてはいるが、正しく保持されていないことが判定
されると、制御装置18は、たとえば、電磁弁14を閉
とし、コレット9内の負圧を解除する。そうすると、上
記のごとく適正に吸着保持されていないチップdは、リ
ードフレーム下にボンディングされることなく、下方に
落下させられる。そして、コレット9を再びピックアッ
プ位置に戻し、再度エキスパンドテープ2からのピック
アップ作動をやりなおす。
As described above, when it is determined that the tip d is held in the collet 9 but is not held correctly, the controller 18 closes the solenoid valve 14 and the inside of the collet 9, for example. Release the negative pressure of. Then, the chip d that is not properly attracted and held as described above is dropped below without being bonded under the lead frame. Then, the collet 9 is returned to the pickup position again, and the pickup operation from the expanding tape 2 is performed again.

【0046】なお、上記においては、コレット内の圧力
を検出することにより、まずコレット9にチップdが保
持されているかどうかを判定し、保持されている場合
に、さらに発光体17からの光をコレット内受光素子1
1が受けるかどうかによって、チップが正しく保持され
ているかどうかを判定するという、二段階の操作を行っ
たが、圧力検出による判定を省略し、受光素子11から
の信号のみによって、コレットにチップが正しく保持さ
れているかどうかを判断するようにすることもできる。
In the above, by detecting the pressure inside the collet, it is first judged whether or not the chip d is held in the collet 9, and if it is held, the light from the light-emitting body 17 is further emitted. Light receiving element 1 in collet
Although a two-step operation of determining whether or not the chip is correctly held depending on whether 1 is received, the determination by pressure detection is omitted, and the chip is set on the collet only by the signal from the light receiving element 11. It is also possible to judge whether or not it is properly held.

【0047】以上のように、本願発明によれば、エキス
パンドテープ2から吸着コレット9によって発光ダイオ
ードチップdをピックアップし、これをリードフレーム
F上にボンディングする場合において、常に正しくコレ
ット9に吸着保持されたチップのみをリードフレームF
にボンディングすることができるようになる。これによ
り、チップのボンディングミスが激減させられ、製品の
歩留りが著しく向上する。
As described above, according to the present invention, when the light-emitting diode chip d is picked up from the expand tape 2 by the suction collet 9 and is bonded on the lead frame F, it is always properly sucked and held by the collet 9. Lead frame F
You will be able to bond to. As a result, chip bonding mistakes are drastically reduced and the product yield is significantly improved.

【0048】もちろん、この発明の範囲は上述した実施
例に限定されるものではない。実施例では、発光体17
をコレットの外部に、受光素子11をコレット9の内部
に設けたが、これとは逆に、発光体17をコレット内部
に設け、受光素子11をコレットの外部に設けても、同
様の作用効果を期待することができる。
Of course, the scope of the present invention is not limited to the above embodiments. In the embodiment, the luminous body 17
Is provided outside the collet and the light receiving element 11 is provided inside the collet 9, but conversely, even if the light emitting element 17 is provided inside the collet and the light receiving element 11 is provided outside the collet, the same operational effect is obtained. Can be expected.

【0049】また、上記の実施例では、エキスパンドテ
ープからピックアップした半導体チップをリードフレー
ム上に搬送する場合について述べたが、どの場所から半
導体チップをピックアップし、どの場所へ搬送するかは
問われない。半導体チップのピックアップないしリード
フレームへのボンディングにあたっては、上記のように
エキスパンドテープからピックアップしたチップを直接
リードフレーム上に搬送してこれにボンディングすると
いう場合もあるが、エキスパンドテープからピックアッ
プしたチップをいったん位置決めテーブルに搬送し、こ
こで位置ないし姿勢を調整されたチップを、別の搬送系
によってリードフレーム上に運ぶ場合もある。この場合
も、吸着コレットが用いられるのが通常であり、本願発
明を問題なく適用することができる。
In the above embodiment, the semiconductor chip picked up from the expanded tape is conveyed to the lead frame, but it does not matter from which place the semiconductor chip is picked up and to which place the semiconductor chip is conveyed. . When picking up a semiconductor chip or bonding it to a lead frame, there is a case where the chip picked up from the expand tape is directly transferred onto the lead frame and bonded to the lead frame as described above. In some cases, the chips, which are transported to the positioning table and whose position or orientation is adjusted, may be transported onto the lead frame by another transport system. Also in this case, the suction collet is usually used, and the present invention can be applied without any problem.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本願発明装置が適用される半導体チップのピッ
クアップ・ボンディング装置の一例の全体構成図であ
る。
FIG. 1 is an overall configuration diagram of an example of a semiconductor chip pickup / bonding device to which the device of the present invention is applied.

【図2】テープガイドの拡大縦断面図である。FIG. 2 is an enlarged vertical sectional view of a tape guide.

【図3】本願発明装置の要部を示す略示構成図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing a main part of the device of the present invention.

【図4】吸着コレットに半導体チップが不適正に吸着さ
れている場合の例を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing an example in which a semiconductor chip is improperly adsorbed by an adsorption collet.

【図5】吸着コレットに半導体チップが不適正に吸着さ
れている場合の例を示す断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing an example in which a semiconductor chip is improperly adsorbed to an adsorption collet.

【図6】本願発明において用いられる半導体チップの一
例である発光ダイオードチップの拡大斜視図である。
FIG. 6 is an enlarged perspective view of a light emitting diode chip which is an example of a semiconductor chip used in the present invention.

【図7】従来の吸着コレットの一例の断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view of an example of a conventional suction collet.

【図8】従来例の問題点を示す図であり、吸着コレット
に半導体チップが不適正に吸着されている状態を示す。
FIG. 8 is a diagram showing a problem of a conventional example, showing a state in which a semiconductor chip is improperly adsorbed to an adsorption collet.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

9 吸着コレット 10 (吸着コレットの)吸着孔 11 受光素子 17 発光体 9 Adsorption collet 10 Adsorption hole (of adsorption collet) 11 Light receiving element 17 Light emitter

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ピックアップ位置でピックアップした半
導体チップを所定の搬送先まで搬送する吸着コレットに
半導体チップが正しく吸着保持されているかどうかを確
認する装置であって、 上記吸着コレットの吸着孔内に受光素子または発光体を
設ける一方、上記吸着コレットの搬送経路に発光体また
は受光素子を設け、上記受光素子が上記発光体からの光
を受光するかしないかによって、上記吸着コレットに半
導体チップが正しく吸着保持されているかどうかを判定
するようにしたことを特徴とする、半導体チップの吸着
確認装置。
1. A device for confirming whether or not a semiconductor chip is correctly adsorbed and held by an adsorption collet that conveys a semiconductor chip picked up at a pickup position to a predetermined destination, and light is received in an adsorption hole of the adsorption collet. While the element or the light emitting element is provided, the light emitting element or the light receiving element is provided in the conveyance path of the suction collet, and the semiconductor chip is correctly sucked on the suction collet depending on whether or not the light receiving element receives the light from the light emitting element. An adsorption confirmation device for a semiconductor chip, characterized in that it is determined whether or not it is held.
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Cited By (4)

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KR20030054436A (en) * 2001-12-24 2003-07-02 김두철 Picker vacuum pressure sensor
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