JPH06279108A - 高密度yig多結晶フェライトの製造方法 - Google Patents

高密度yig多結晶フェライトの製造方法

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JPH06279108A
JPH06279108A JP9380793A JP9380793A JPH06279108A JP H06279108 A JPH06279108 A JP H06279108A JP 9380793 A JP9380793 A JP 9380793A JP 9380793 A JP9380793 A JP 9380793A JP H06279108 A JPH06279108 A JP H06279108A
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JP
Japan
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atmosphere
yig
ferrite
firing
oxygen
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JP9380793A
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Yukihiro Kawada
幸広 川田
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】気孔率の低く酸素欠陥の少ない高密度YIG多
結晶フェライトを提供する。 【構成】YIGフェライト原料組成物を仮焼する仮焼工
程と、この仮焼物を用いた成型体を酸素分圧が20%以
上で炉内圧力4〜10気圧の雰囲気下1200℃以上で
焼成する焼成工程を有する高密度YIG多結晶フェライ
トの製造方法。 【効果】高密度YIG多結晶フェライトを提供できるの
で、高周波帯域におけるアイソレータやサーキュレータ
といった非可逆線路用デバイスに用いると、挿入損失を
低減することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、特にアイソレータやサ
ーキュレータなどの高周波フェライトデバイスに好適と
されるYIG系ガーネットフェライトを高密度化した高
密度YIG多結晶フェライトの製造方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来より高周波帯域におけるアイソレー
タやサーキュレータといった非可逆線路などのデバイス
用フェライトとして、YIGフェライトに代表されるガ
ーネット型フェライトが用いられているが、このような
フェライトは一般に、酸化第二鉄と酸化イットリウム及
び微量の添加剤の粉末混合物を空気中で仮焼してフェラ
イト化させ、これを粉砕し所定の形状に成型して得られ
る成型体を、常圧下酸素濃度10〜100%となる雰囲
気のもと1200℃以上の温度で焼成し、フェライト粒
子径や磁気特性を制御することにより製造されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような製造条件で作成したYIG多結晶フェライトは、
微小な気孔の存在により理論密度の最大98%を達成す
ることができるに過ぎず、そのためデバイスにおいては
挿入損失の低減を起こし難くするものであった。本発明
の目的は、気孔率(試料の任意の切断面における気孔の
占める面積を百分率で表示したもの)が低く酸素欠陥の
少ない高密度YIG多結晶フェライトを提供することに
ある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、酸化第二鉄、酸化イットリウムを含有す
るYIGフェライト原料組成物を酸素存在雰囲気におい
て仮焼する仮焼工程と、該仮焼工程で得られた仮焼物を
用いて得られた成型体を酸素分圧が酸素濃度で20%以
上となり炉内圧力が4〜10気圧となる雰囲気下におい
て1200℃以上で焼成する焼成工程を有するYIG多
結晶フェライトの製造方法を提供するものである。この
際、仮焼工程は1〜10気圧で酸素濃度40%以上の雰
囲気下で行われることが好ましく、また、仮焼工程で得
られた仮焼物を用いて得られた成型体を真空下で120
0℃未満の温度において加熱する真空加熱処理工程を設
け、該真空加熱処理した成型体を焼成工程で焼成するこ
とも好ましい。
【0005】本発明に係わる高密度YIG多結晶フェラ
イトは、次の一般式で示される化合物からなる。
【0006】
【化1】
【0007】(上記一般式中、A、Bはそれぞれ添加剤
の元素を示し、A又はBはそれぞれ複数の元素からなる
こともあり、xは0≦x≦1であり、yは0≦y≦1.
5である。)
【0008】上記一般式中Aとしては、希土類、Ca、
Bi、Ce等の元素が挙げられ、BとしてはAl、I
n、V、Ge等の元素が挙げられる。xが1より大きい
と、また、yが1.5より大きいと、YIG多結晶フェ
ライトの結晶と結晶相の異なる、いわゆる二次相が析出
することがある。
【0009】上記一般式で示されるYIG多結晶フェラ
イトを製造するには、その原料としては酸化鉄と酸化イ
ットリウムを必須成分として、これに必要に応じて上記
A及び/又はB元素の酸化物を加える。その混合割合と
しては、例えば酸化第二鉄66.2モル%、酸化イット
リウム33.8モル%が挙げられ、これらに対して上記
A及び/又はB元素の酸化物を6モル%加える。これら
の各酸化物の割合は磁気特性を所望のものとするため適
宜変えられる。
【0010】上記一般式で示される高密度YIG多結晶
フェライトを製造するには、上記原料組成物を仮焼す
る。この仮焼は空気中で行っても良いが、上記原料組成
物を1〜10気圧で酸素濃度40〜100%の雰囲気下
において仮焼する仮焼工程を設けることが好ましい。こ
の場合、酸素濃度が40%より低くなると、気孔率を低
減する効果が小さくなり、より高密度のフェライトが得
られない。雰囲気圧力が1気圧より小さい場合も同様で
ある。この仮焼工程における焼成温度としては例えば1
000℃が例示され、その焼成時間としては例えば2時
間が例示される。温度が高過ぎると焼結が進行し過ぎ、
低過ぎると反応が進行しない。時間が長すぎても反応が
完結していれば問題ないが、短過ぎると未反応物が残っ
てしまう。
【0011】上記仮焼工程を経て得られた仮焼物は、粉
砕され、ポリビニルアルコール等のバインダーを添加さ
れた後、アイソレータやサーキュレータ等の具体的用途
に応じた形状に成型される。この成型体を例えば500
℃程度で加熱処理してバインダーを焼失させる、いわゆ
る脱バイ処理を行った後、後述の焼成工程に移行しても
良いが、その間に真空加熱処理工程を設けることが好ま
しい。この真空加熱処理工程は、真空下(0.01mm
Hg以下)において1200℃未満の温度に加熱するこ
とにより行う。加熱するには段階的に昇温することも好
ましい。加熱時間は温度にもよるが例えは2時間が好ま
しい。加熱温度の下限は500℃が好ましく、これ以下
では加圧成型する際に成型体中にとりこまれる空気や水
分を除去する効果が低くくなり、処理物の気孔率の低減
効果が少なく、また、加熱温度が1200℃を超える
と、格子中の酸素が引き抜かれ、結果として酸素欠陥が
増大してしまうからである。
【0012】上記真空加熱処理を施された成型体は、つ
いで焼成工程に移される。この焼成工程は、酸素分圧が
酸素濃度で10%以上、すなわち10〜100%となる
雰囲気下において1200℃以上で焼成する。雰囲気中
の酸素以外の成分としてはHe、Arや窒素等の不活性
ガスが挙げられる。酸素濃度を10〜100%とするこ
とは、最終的に気孔率を0.01%以下に低下させ、フ
ェライトの結晶粒子径、磁気特性を制御するために必要
であり、また、1200℃以上とすることは、有効な焼
結を進行させ、気孔率を効果的に低下させた緻密なフェ
ライト焼成体を得るために必要である。
【0013】上記の焼成工程において1200℃以上に
加熱する時間は3〜8時間、その雰囲気の圧力は4〜1
0気圧が例示される。時間が長過ぎても経済的でなく、
短じか過ぎたり、圧力が低過ぎると気孔率の上昇を招
く。また、圧力が高過ぎても効果は10気圧程度で頭打
ちとなり、向上しない。1200℃に至るまでは、上記
の酸素濃度及びこの圧力の雰囲気下で段階的に昇温させ
ることも好ましい。得られた焼成体は冷却されるが、上
記焼成時と同じ雰囲気下で冷却しても良いが、1000
℃まではその雰囲気下で冷却し、それ以下では大気中で
冷却することもできる。
【0014】このようにして高密度YIG多結晶フェラ
イトが得られるが、X線回折法により調べることにより
ほぼ100%ガーネット相であることが確かめられ、気
孔率も極めて小さいことが確かめられる。
【0015】
【作用】焼成工程において成型体を酸素濃度が高くしか
も加圧雰囲気下で焼成することにより、焼成前にすでに
存在する結晶格子の酸素欠陥への酸素の供給をするとと
もに、焼成時の高温加熱にともなう当該酸素欠陥の生成
を抑制することができる。これにより結晶成長がし易く
なり気孔率が低減される。また、原料組成物を酸素濃度
の高い雰囲気で仮焼することにより、酸素欠損による格
子欠陥を起こり難くし、これに伴い結晶が成長し易く、
処理物の気孔率が低減される。また、焼成工程に移行す
る前に成型体を真空加熱処理することにより、その成型
体に成型の際混入した空気、水分等が除去され、処理物
の気孔率の低減に寄与することができる。気孔率を低減
することにより理論密度が単純に上がるだけでなく、処
理物を構成する粒子の接触が密になり、未反応状態で存
在していた原料粉末の反応が焼成時に進行しガーネット
相単相となり、二次相の抑制につながることが確かめら
れた。
【0016】
【実施例】次に本発明の実施例を説明する。 実施例1 モル比で66.2モル%の酸化第二鉄と、33.8モル
%の酸化イットリウムの混合物に対し、大気圧下で10
00℃にて2時間仮焼後、粉砕し、適量のバインダー
(ポリビニルアルコールなど)を添加し、アイソレータ
用の成型体を作成した。この成型体を脱バイ処理し、そ
の後400℃までは1時間当たり50℃、400℃から
1000℃までは1時間当たり200℃で昇温し、そし
て1000℃から1時間当たり100℃の昇温速度で1
350℃まで昇温し、その後1350℃で8時間保持す
ることにより焼成を行なった。この際、雰囲気は酸素及
び窒素ガスを用い圧力、酸素濃度が表1に示す濃度と
し、冷却工程は1000℃以下では大気雰囲気とした。
このようにして得られたYIG多結晶フェライトの平均
粒径、気孔率を焼成工程の雰囲気条件とともに表1に示
す。X線回折法により調べた結果、100%ガーネット
相であることを確認した。また、密度を測定した結果、
YIG理論密度のほぼ100%であった。なお、平均粒
径、気孔率、密度の測定方法は次のとおりである。
【0017】(平均粒径)試料の任意の切断面に対して
研磨を施し、その研磨面を金属顕微鏡を用いて1000
倍の倍率にて目視し、視野中の各粒子の径の和とその個
数から求めた平均である。
【0018】(気孔率)試料の任意の切断面に対して研
磨を施し、その研磨面を金属顕微鏡を用いて1000倍
の倍率にて目視し、視野中の気孔径(長径)Diとその
個数Niを測定し次の式にて求めた。
【0019】
【数1】
【0020】実施例2〜4 焼成工程の雰囲気条件を表1のそれぞれの欄に記載した
ものにした以外は実施例1と同様にしてYIG多結晶フ
ェライトを得た。その平均粒径、気孔率を測定した結果
を同表に示す。いずれの実施例のものもX線回折法によ
り調べた結果、100%ガーネット相であることを確認
した。
【0021】実施例5 実施例1において、仮焼雰囲気条件、焼成条件を表1に
示す仮焼雰囲気条件、焼成条件にした以外は同様に操作
してYIG多結晶フェライトを得、その平均粒径、気孔
率を測定した結果を表1に示す。またX線回折法により
調べた結果、100%ガーネット相であることを確認し
た。
【0022】実施例6 実施例5において、成型体の脱バイ処理後以下のような
真空熱処理を施した以外は同様に操作してYIG多結晶
フェライトを得、これらの平均粒径、気孔率を測定した
結果を表1に示す。真空加熱処理は、成型体の脱バイ処
理後、0.01mmHg以下の真空で、400℃までは
1時間当たり50℃で、400℃から900℃までは1
時間当たり200℃で、そして900℃から1100℃
までは1時間当たり50℃の昇温速度にて昇温し、さら
にその後1100℃にて4時間保持するものである。X
線回折法により調べた結果、この得られたYIG多結晶
フェライトは100%ガーネット相であることを確認し
た。
【0023】実施例7 モル比で酸化第二鉄48.9モル%、酸化イットリウム
25.0モル%、酸化カルシウム18.2モル%、酸化
バナジウム4.5モル%、酸化アルミニウム3.4モル
%からなる組成の粉末混合物を大気中1000℃にて2
時間仮焼した後、粉砕し、以下実施例1と同様にしてア
イソレータ用の成型体を作成した。この成型体を実施例
1と同様に脱バイ処理した後、400℃までは1時間当
たり50℃、400℃から1000℃までは1時間当た
り200℃で昇温し、そして1000℃から1時間当た
り100℃の昇温速度で1350℃まで昇温し、その後
1350℃で8時間保持することにより焼成を行なっ
た。この際、雰囲気は酸素濃度50%、窒素濃度50%
で8気圧にした。焼成の後の冷却もこの酸素濃度雰囲気
下で1000℃まで行い、これから常温までの冷却は大
気雰囲気下で行った。このようにして得られたYIG多
結晶フェライトの平均粒径は9.5μm、気孔率0.0
08%であった。また、再度X線回折法により調べた結
果においても100%ガーネットであることを確認し
た。また、密度を測定した結果、YIG理論密度のほぼ
100%であった。
【0024】比較例1 モル比で62.5モル%の酸化第二鉄と37.5モル%
の酸化イットリウムの粉末混合物を1000℃にて2時
間仮焼した後、粉砕し、適量のバインダーを添加し、ア
イソレータ用成型体を作製し、その脱バイ処理したもの
を、酸素及び窒素ガスを用い表1に示す圧力、酸素濃度
とした雰囲気下で400℃までは1時間当たり50℃、
400℃から900℃までは1時間当たり200℃、そ
して900℃から1250℃までは1時間当たり100
℃の昇温速度にて昇温し、さらにその後1250℃にて
8時間保持することにより焼成を行った。この際冷却工
程は1000℃以下では大気雰囲気とした。このように
して得られたYIG多結晶フェライトの平均粒径、気孔
率を測定した結果を表1に示す。またX線回折法により
調べた結果においては100%ガーネット相であった
が、YIG理論密度の約98%までの密度にとどまって
いることがわかった。
【0025】比較例2〜5 焼成工程の雰囲気条件を表1のそれぞれの欄に記載した
ものにした以外は比較例1と同様にしてそれぞれのYI
G多結晶フェライトを得た。その平均粒径、気孔率を測
定した結果を同表に示す。
【0026】比較例6 モル比で酸化第二鉄48.9モル%、酸化イットリウム
25.0モル%、酸化カルシウム18.2モル%、酸化
バナジウム4.5モル%、酸化アルミニウム3.4モル
%からなる組成の粉末混合物を1000℃にて2時間仮
焼した後、粉砕し、適量のバインダーを添加し、アイソ
レータ用の成型体を作製し、その脱バイ処理したもの
を、酸素及び窒素ガスを用い表1に示す圧力、酸素濃度
とした雰囲気下で1時間当たり400℃までは50℃、
400℃から900℃までは1時間当たり200℃、そ
して900℃から1時間当たり100℃の昇温速度で1
250℃まで昇温し、その後1250℃にて8時間保持
することにより焼成を行った。この際、冷却工程は10
00℃以下では大気雰囲気とした。このようにして得ら
れたYIG多結晶フェライトの平均粒径、気孔率を表1
に示す。また、X線回折法により調べた結果においては
90%がガーネット相であり、多量の二次相の存在が確
認された。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、焼成工程において酸素
濃度を高く、しかも高圧雰囲気下で焼成したので、気孔
率が低く酸素欠陥の少ない高密度YIG多結晶フェライ
トが得られ、これを高周波数帯域のアイソレータやサー
キュレータ等の非可逆線路用デバイスに用いれば挿入損
失を少なくすることができる。また、原料粉末を仮焼す
る工程において雰囲気の酸素濃度を高くすることによ
り、さらに酸素欠陥、気孔率を少なくでき、さらに仮焼
物を用いた成型体を真空加熱処理すると、さらに気孔率
の低い高密度YIG多結晶フェライトが得られ、上記の
デバイスの挿入損失をより一層少なくすることができ
る。
【表1】
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年10月22日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 高密度YIG多結晶フェライトの製
造方法
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、特にアイソレータやサ
ーキュレータなどの高周波フェライトデバイスに好適と
されるYIG系ガーネットフェライトを高密度化した高
密度YIG多結晶フェライトの製造方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来より高周波帯域におけるアイソレー
タやサーキュレータといった非可逆線路などのデバイス
用フェライトとして、YIGフェライトに代表されるガ
ーネット型フェライトが用いられているが、このような
フェライトは一般に、酸化第二鉄と酸化イットリウム及
び微量の添加剤の粉末混合物を空気中で仮焼してフェラ
イト化させ、これを粉砕し所定の形状に成型して得られ
る成型体を、常圧下酸素濃度10〜100%となる雰囲
気のもと1200℃以上の温度で焼成し、フェライト粒
子径や磁気特性を制御することにより製造されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような製造条件で作成したYIG多結晶フェライトは、
微小な気孔の存在により理論密度の最大98%を達成す
ることができるに過ぎず、そのためデバイスにおいては
挿入損失の低減を起こし難くするものであった。本発明
の目的は、気孔率(試料の任意の切断面における気孔の
占める面積を百分率で表示したもの)が低く酸素欠陥の
少ない高密度YIG多結晶フェライトを提供することに
ある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、酸化第二鉄、酸化イットリウムを含有す
るYIGフェライト原料組成物を酸素存在雰囲気におい
て仮焼する仮焼工程と、該仮焼工程で得られた仮焼物を
用いて得られた成型体を酸素分圧が酸素濃度で20%以
上となり炉内圧力が4〜10気圧となる雰囲気下におい
て1200℃以上で焼成する焼成工程を有するYIG多
結晶フェライトの製造方法を提供するものである。この
際、仮焼工程は1〜10気圧で酸素濃度40%以上の雰
囲気下で行われることが好ましく、また、仮焼工程で得
られた仮焼物を用いて得られた成型体を真空下で120
0℃未満の温度において加熱する真空加熱処理工程を設
け、該真空加熱処理した成型体を焼成工程で焼成するこ
とも好ましい。
【0005】本発明に係わる高密度YIG多結晶フェラ
イトは、次の一般式で示される化合物からなる。
【0006】
【化1】
【0007】(上記一般式中、A、Bはそれぞれ添加剤
の元素を示し、A又はBはそれぞれ複数の元素からなる
こともあり、xは0≦x≦1であり、yは0≦y≦1.
5である。)
【0008】上記一般式中Aとしては、希土類、Ca、
Bi、Ce等の元素が挙げられ、BとしてはAl、I
n、V、Ge等の元素が挙げられる。xが1より大きい
と、また、yが1.5より大きいと、YIG多結晶フェ
ライトの結晶と結晶相の異なる、いわゆる二次相が析出
することがある。
【0009】上記一般式で示されるYIG多結晶フェラ
イトを製造するには、その原料としては酸化鉄と酸化イ
ットリウムを必須成分として、これに必要に応じて上記
A及び/又はB元素の酸化物を加える。その混合割合と
しては、例えば酸化第二鉄66.2モル%、酸化イット
リウム33.8モル%が挙げられ、これらに対して上記
A及び/又はB元素の酸化物を6モル%加える。これら
の各酸化物の割合は磁気特性を所望のものとするため適
宜変えられる。
【0010】上記一般式で示される高密度YIG多結晶
フェライトを製造するには、上記原料組成物を仮焼す
る。この仮焼は空気中で行っても良いが、上記原料組成
物を1〜10気圧で酸素濃度40〜100%の雰囲気下
において仮焼する仮焼工程を設けることが好ましい。こ
の場合、酸素濃度が40%より低くなると、気孔率を低
減する効果が小さくなり、より高密度のフェライトが得
られない。雰囲気圧力が1気圧より小さい場合も同様で
ある。この仮焼工程における焼成温度としては例えば1
000℃が例示され、その焼成時間としては例えば2時
間が例示される。温度が高過ぎると焼結が進行し過ぎ、
低過ぎると反応が進行しない。時間が長すぎても反応が
完結していれば問題ないが、短過ぎると未反応物が残っ
てしまう。
【0011】上記仮焼工程を経て得られた仮焼物は、粉
砕され、ポリビニルアルコール等のバインダーを添加さ
れた後、アイソレータやサーキュレータ等の具体的用途
に応じた形状に成型される。この成型体を例えば500
℃程度で加熱処理してバインダーを焼失させる、いわゆ
る脱バイ処理を行った後、後述の焼成工程に移行しても
良いが、その間に真空加熱処理工程を設けることが好ま
しい。この真空加熱処理工程は、真空下(0.01mm
Hg以下)において1200℃未満の温度に加熱するこ
とにより行う。加熱するには段階的に昇温することも好
ましい。加熱時間は温度にもよるが例えは2時間が好ま
しい。加熱温度の下限は500℃が好ましく、これ以下
では加圧成型する際に成型体中にとりこまれる空気や水
分を除去する効果が低くくなり、処理物の気孔率の低減
効果が少なく、また、加熱温度が1200℃を超える
と、格子中の酸素が引き抜かれ、結果として酸素欠陥が
増大してしまうからである。
【0012】上記真空加熱処理を施された成型体は、つ
いで焼成工程に移される。この焼成工程は、酸素分圧が
酸素濃度で10%以上、すなわち10〜100%となる
雰囲気下において1200℃以上で焼成する。雰囲気中
の酸素以外の成分としてはHe、Arや窒素等の不活性
ガスが挙げられる。酸素濃度を10〜100%とするこ
とは、最終的に気孔率を0.01%以下に低下させ、フ
ェライトの結晶粒子径、磁気特性を制御するために必要
であり、また、1200℃以上とすることは、有効な焼
結を進行させ、気孔率を効果的に低下させた緻密なフェ
ライト焼成体を得るために必要である。
【0013】上記の焼成工程において1200℃以上に
加熱する時間は3〜8時間、その雰囲気の圧力は4〜1
0気圧が例示される。時間が長過ぎても経済的でなく、
短じか過ぎたり、圧力が低過ぎると気孔率の上昇を招
く。また、圧力が高過ぎても効果は10気圧程度で頭打
ちとなり、向上しない。1200℃に至るまでは、上記
の酸素濃度及びこの圧力の雰囲気下で段階的に昇温させ
ることも好ましい。得られた焼成体は冷却されるが、上
記焼成時と同じ雰囲気下で冷却しても良いが、1000
℃まではその雰囲気下で冷却し、それ以下では大気中で
冷却することもできる。
【0014】このようにして高密度YIG多結晶フェラ
イトが得られるが、X線回折法により調べることにより
ほぼ100%ガーネット相であることが確かめられ、気
孔率も極めて小さいことが確かめられる。
【0015】
【作用】焼成工程において成型体を酸素濃度が高くしか
も加圧雰囲気下で焼成することにより、焼成前にすでに
存在する結晶格子の酸素欠陥への酸素の供給をするとと
もに、焼成時の高温加熱にともなう当該酸素欠陥の生成
を抑制することができる。これにより結晶成長がし易く
なり気孔率が低減される。また、原料組成物を酸素濃度
の高い雰囲気で仮焼することにより、酸素欠損による格
子欠陥を起こり難くし、これに伴い結晶が成長し易く、
処理物の気孔率が低減される。また、焼成工程に移行す
る前に成型体を真空加熱処理することにより、その成型
体に成型の際混入した空気、水分等が除去され、処理物
の気孔率の低減に寄与することができる。気孔率を低減
することにより理論密度が単純に上がるだけでなく、処
理物を構成する粒子の接触が密になり、未反応状態で存
在していた原料粉末の反応が焼成時に進行しガーネット
相単相となり、二次相の抑制につながることが確かめら
れた。
【0016】
【実施例】次に本発明の実施例を説明する。 実施例1 モル比で66.2モル%の酸化第二鉄と、33.8モル
%の酸化イットリウムの混合物に対し、大気圧下で10
00℃にて2時間仮焼後、粉砕し、適量のバインダー
(ポリビニルアルコールなど)を添加し、アイソレータ
用の成型体を作成した。この成型体を脱バイ処理し、そ
の後400℃までは1時間当たり50℃、400℃から
1000℃までは1時間当たり200℃で昇温し、そし
て1000℃から1時間当たり100℃の昇温速度で1
350℃まで昇温し、その後1350℃で8時間保持す
ることにより焼成を行なった。この際、雰囲気は酸素及
び窒素ガスを用い圧力、酸素濃度が表1に示す濃度と
し、冷却工程は1000℃以下では大気雰囲気とした。
このようにして得られたYIG多結晶フェライトの平均
粒径、気孔率を焼成工程の雰囲気条件とともに表1に示
す。X線回折法により調べた結果、100%ガーネット
相であることを確認した。また、密度を測定した結果、
YIG理論密度めほぼ100%であった。なお、平均粒
径、気孔率、密度の測定方法は次のとおりである。
【0017】(平均粒径)試料の任意の切断面に対して
研磨を施し、その研磨面を金属顕微鏡を用いて1000
倍の倍率にて目視し、視野中の各粒子の径の和とその個
数から求めた平均である。
【0018】(気孔率)試料の任意の切断面に対して研
磨を施し、その研磨面を金属顕微鏡を用いて1000倍
の倍率にて目視し、視野中の気孔径(長径)Diとその
個数Niを測定し次の式にて求めた。
【0019】
【数1】
【0020】
【表1】
【0021】実施例2〜4 焼成工程の雰囲気条件を表1のそれぞれの欄に記載した
ものにした以外は実施例1と同様にしてYIG多結晶フ
ェライトを得た。その平均粒径、気孔率を測定した結果
を同表に示す。いずれの実施例のものもX線回折法によ
り調べた結果、100%ガーネット相であることを確認
した。
【0022】実施例5 実施例1において、仮焼雰囲気条件、焼成条件を表1に
示す仮焼雰囲気条件、焼成条件にした以外は同様に操作
してYIG多結晶フェライトを得、その平均粒径、気孔
率を測定した結果を表1に示す。またX線回折法により
調べた結果、100%ガーネット相であることを確認し
た。
【0023】実施例6 実施例5において、成型体の脱バイ処理後以下のような
真空熱処理を施した以外は同様に操作してYIG多結晶
フェライトを得、これらの平均粒径、気孔率を測定した
結果を表1に示す。真空加熱処理は、成型体の脱バイ処
理後、0.01mmHg以下の真空で、400℃までは
1時間当たり50℃で、400℃から900℃までは1
時間当たり200℃で、そして900℃から1100℃
までは1時間当たり50℃の昇温速度にて昇温し、さら
にその後1100℃にて4時間保持するものである。X
線回折法により調べた結果、この得られたYIG多結晶
フェライトは100%ガーネット相であることを確認し
た。
【0024】実施例7 モル比で酸化第二鉄48.9モル%、酸化イットリウム
25.0モル%、酸化カルシウム18.2モル%、酸化
バナジウム4.5モル%、酸化アルミニウム3.4モル
%からなる組成の粉末混合吻を大気中1000℃にて2
時間仮焼した後、粉砕し、以下実施例1と同様にしてア
イソレータ用の成型体を作成した。この成型体を実施例
1と同様に脱バイ処理した後、400℃までは1時間当
たり50℃、400℃から1000℃までは1時間当た
り200℃で昇温し、そして1000℃から1時間当た
り100℃の昇温速度で1350℃まで昇温し、その後
1350℃で8時間保持することにより焼成を行なっ
た。この際、雰囲気は酸素濃度50%、窒素濃度50%
で8気圧にした。焼成の後の冷却もこの酸素濃度雰囲気
下で1000℃まで行い、これから常温までの冷却は大
気雰囲気下で行った。このようにして得られたYIG多
結晶フェライトの平均粒径は9.5μm、気孔率0.0
08%であった。また、再度X線回折法により調べた結
果においても100%ガーネットであることを確認し
た。また、密度を測定した結果、YIG理論密度のほぼ
100%であった。
【0025】比較例1 モル比で62.5モル%の酸化第二鉄と37.5モル%
の酸化イットリウムの粉末混合物を1000℃にて2時
間仮焼した後、粉砕し、適量のバインダーを添加し、ア
イソレータ用成型体を作製し、その脱バイ処理したもの
を、酸素及び窒素ガスを用い表1に示す圧力、酸素濃度
とした雰囲気下で400℃までは1時間当たり50℃、
400℃から900℃までは1時間当たり200℃、そ
して900℃から1250℃までは1時間当たり100
℃の昇温速度にて昇温し、さらにその後1250℃にて
8時間保持することにより焼成を行った。この際冷却工
程は1000℃以下では大気雰囲気とした。このように
して得られたYIG多結晶フェライトの平均粒径、気孔
率を測定した結果を表1に示す。またX線回折法により
調べた結果においては100%ガーネット相であった
が、YIG理論密度の約98%までの密度にとどまって
いることがわかった。
【0026】比較例2〜5 焼成工程の雰囲気条件を表1のそれぞれの欄に記載した
ものにした以外は比較例1と同様にしてそれぞれのYI
G多結晶フェライトを得た。その平均粒径、気孔率を測
定した結果を同表に示す。
【0027】比較例6 モル比で酸化第二鉄48.9モル%、酸化イットリウム
25.0モル%、酸化カルシウム18.2モル%、酸化
バナジウム4.5モル%、酸化アルミニウム3.4モル
%からなる組成の粉末混合物を1000℃にて2時間仮
焼した後、粉砕し、適量のバインダーを添加し、アイソ
レータ用の成型体を作製し、その脱バイ処理したもの
を、酸素及び窒素ガスを用い表1に示す圧力、酸素濃度
とした雰囲気下で1時間当たり400℃までは50℃、
400℃から900℃までは1時間当たり200℃、そ
して900℃から1時間当たり100℃の昇温速度で1
250℃まで昇温し、その後1250℃にて8時間保持
することにより焼成を行った。この際、冷却工程は10
00℃以下では大気雰囲気とした。このようにして得ら
れたYIG多結晶フェライトの平均粒径、気孔率を表1
に示す。また、X線回折法により調べた結果においては
90%がガーネット相であり、多量の二次相の存在が確
認された。
【0028
【発明の効果】本発明によれば、焼成工程において酸素
濃度を高く、しかも高圧雰囲気下で焼成したので、気孔
率が低く酸素欠陥の少ない高密度YIG多結晶フェライ
トが得られ、これを高周波数帯域のアイソレータやサー
キュレータ等の非可逆線路用デバイスに用いれば挿入損
失を少なくすることができる。また、原料粉末を仮焼す
る工程において雰囲気の酸素濃度を高くすることによ
り、さらに酸素欠陥、気孔率を少なくでき、さらに仮焼
物を用いた成型体を真空加熱処理すると、さらに気孔率
の低い高密度YIG多結晶フェライトが得られ、上記の
デバイスの挿入損失をより一層少なくすることができ
る。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 酸化第二鉄、酸化イットリウムを含有す
    るYIGフェライト原料組成物を酸素存在雰囲気におい
    て仮焼する仮焼工程と、該仮焼工程で得られた仮焼物を
    用いて得られた成型体を酸素分圧が酸素濃度で20%以
    上となり炉内圧力が4〜10気圧となる雰囲気下におい
    て1200℃以上で焼成する焼成工程を有する高密度Y
    IG多結晶フェライトの製造方法。
  2. 【請求項2】 仮焼工程は1〜10気圧で酸素濃度40
    %以上の雰囲気下で行われる請求項1記載の高密度YI
    G多結晶フェライトの製造方法。 〔発明の詳細な説明〕
  3. 【請求項3】 仮焼工程で得られた仮焼物を用いて得ら
    れた成型体を真空下で1200℃未満の温度において加
    熱する真空加熱処理工程を設け、該真空加熱処理した成
    型体を焼成工程で焼成する請求項1又は2記載の高密度
    YIG多結晶フェライトの製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010018868A (ko) * 1999-08-23 2001-03-15 윤세원 페라이트 복합 산화물 제조방법
JP2010278075A (ja) * 2009-05-26 2010-12-09 Murata Mfg Co Ltd 磁性体セラミック、セラミック電子部品、及びセラミック電子部品の製造方法
JP2015226007A (ja) * 2014-05-29 2015-12-14 株式会社デンソー 熱電変換素子の製造方法

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