JPH06273450A - 高圧電力系統の電圧検出方法 - Google Patents
高圧電力系統の電圧検出方法Info
- Publication number
- JPH06273450A JPH06273450A JP5057094A JP5709493A JPH06273450A JP H06273450 A JPH06273450 A JP H06273450A JP 5057094 A JP5057094 A JP 5057094A JP 5709493 A JP5709493 A JP 5709493A JP H06273450 A JPH06273450 A JP H06273450A
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- Japan
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- voltage
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- power system
- voltage power
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高圧電力系統の電圧検出の際に、電圧検出器
の絶縁性及び耐ノイズ性を向上させる。 【構成】 高圧電力系統の一次導体１０の電圧を、ブッ
シング内の静電容量１１と外付コンデンサ１２によって
分圧して検出し、該検出結果をアンプ等１８を介して次
段の装置２２に出力する高圧電力系統の電圧検出方法に
おいて、分圧された電圧を光センサ１３で光強度に変化
させて検出し、該検出出力を光−電気変換した後に、ア
ンプ等１８及び次段の装置２２に送出し、一次導体１０
からアンプ等１８及び次段の装置２２を電気的に絶縁し
て、一次導体１０からのノイズ等によるアンプ等１８及
び次段の装置２２への悪影響を防ぐ。
の絶縁性及び耐ノイズ性を向上させる。 【構成】 高圧電力系統の一次導体１０の電圧を、ブッ
シング内の静電容量１１と外付コンデンサ１２によって
分圧して検出し、該検出結果をアンプ等１８を介して次
段の装置２２に出力する高圧電力系統の電圧検出方法に
おいて、分圧された電圧を光センサ１３で光強度に変化
させて検出し、該検出出力を光−電気変換した後に、ア
ンプ等１８及び次段の装置２２に送出し、一次導体１０
からアンプ等１８及び次段の装置２２を電気的に絶縁し
て、一次導体１０からのノイズ等によるアンプ等１８及
び次段の装置２２への悪影響を防ぐ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、高圧電力系統のコンデ
ンサ分圧方式を用いた電圧検出器における高圧電力系統
の電圧検出方法に関する。
ンサ分圧方式を用いた電圧検出器における高圧電力系統
の電圧検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の検出方法としては、スイ
ッチング方法と入力トランス方法があり、いずれも電圧
検出器内の一次導体電圧を、ブッシング内の静電容量と
外付コンデンサによって分圧して検出し、アンプを介し
て次段の所定装置（例えば系統監視装置等）に出力して
いた。なお、この両者は、いずれも一次導体とアンプ及
び次段の装置が電気的に絶縁されていなかった。
ッチング方法と入力トランス方法があり、いずれも電圧
検出器内の一次導体電圧を、ブッシング内の静電容量と
外付コンデンサによって分圧して検出し、アンプを介し
て次段の所定装置（例えば系統監視装置等）に出力して
いた。なお、この両者は、いずれも一次導体とアンプ及
び次段の装置が電気的に絶縁されていなかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、高圧電力系
統のこれら検出方法では、ブッシング又は外付コンデン
サが絶縁破壊を起こすと、一次導体の電圧が高いために
電圧検出器の電圧検出部に高電圧が発生し、上記アンプ
に悪影響を及ぼしたり、又は上記アンプを介して次段の
所定装置に悪影響を及ぼして、絶縁性が劣化するという
問題点があった。また、これら方法では、一次導体から
のノイズが、電圧検出器内のアンプに悪影響を及ぼした
り、又は上記アンプを介して次段の所定装置に悪影響を
及ぼして耐ノイズ性が劣化するという問題点もあった。
統のこれら検出方法では、ブッシング又は外付コンデン
サが絶縁破壊を起こすと、一次導体の電圧が高いために
電圧検出器の電圧検出部に高電圧が発生し、上記アンプ
に悪影響を及ぼしたり、又は上記アンプを介して次段の
所定装置に悪影響を及ぼして、絶縁性が劣化するという
問題点があった。また、これら方法では、一次導体から
のノイズが、電圧検出器内のアンプに悪影響を及ぼした
り、又は上記アンプを介して次段の所定装置に悪影響を
及ぼして耐ノイズ性が劣化するという問題点もあった。
【０００４】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
で、高圧電力系統の電圧検出の際に、電圧検出器の絶縁
性及び耐ノイズ性を向上できる高圧電力系統の電圧検出
方法を提供することを目的とする。
で、高圧電力系統の電圧検出の際に、電圧検出器の絶縁
性及び耐ノイズ性を向上できる高圧電力系統の電圧検出
方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、高圧電力系統の一次導体電圧を、ブッ
シング内の静電容量と外付コンデンサによって分圧して
検出し、該検出結果を増幅手段であるアンプを介して所
定装置に出力する高圧電力系統の電圧検出方法におい
て、前記分圧された電圧を光検出手段である光センサで
光強度に変化させて検出し、該検出出力を光−電気変換
した後に、前記アンプ及び所定装置に送出し、前記一次
導体からアンプ及び所定装置を電気的に絶縁する。
め、本発明では、高圧電力系統の一次導体電圧を、ブッ
シング内の静電容量と外付コンデンサによって分圧して
検出し、該検出結果を増幅手段であるアンプを介して所
定装置に出力する高圧電力系統の電圧検出方法におい
て、前記分圧された電圧を光検出手段である光センサで
光強度に変化させて検出し、該検出出力を光−電気変換
した後に、前記アンプ及び所定装置に送出し、前記一次
導体からアンプ及び所定装置を電気的に絶縁する。
【０００６】
【作用】従って、一次導体とアンプ及び所定装置は、電
気的に絶縁され、光センサの検出出力である光強度は、
光−電気変換されて電気信号としてアンプ及び所定装置
に送出される。従って、本発明に係る電圧検出方法を用
いた電圧検出器の絶縁性及び耐ノイズ性を向上できる。
気的に絶縁され、光センサの検出出力である光強度は、
光−電気変換されて電気信号としてアンプ及び所定装置
に送出される。従って、本発明に係る電圧検出方法を用
いた電圧検出器の絶縁性及び耐ノイズ性を向上できる。
【０００７】
【実施例】本発明の実施例を図１の図面に基づき説明す
る。図１は、本発明に係る電圧検出方法を用いた電圧検
出器の一実施例の構成を示すブロック図である。図にお
いて、一次導体１０の電圧は、ブッシング内静電容量
（コンデンサの記号として示す。）１１と電圧検出器内
に設けられた外付コンデンサ１２によって分圧されて、
光センサ１３で検出される。
る。図１は、本発明に係る電圧検出方法を用いた電圧検
出器の一実施例の構成を示すブロック図である。図にお
いて、一次導体１０の電圧は、ブッシング内静電容量
（コンデンサの記号として示す。）１１と電圧検出器内
に設けられた外付コンデンサ１２によって分圧されて、
光センサ１３で検出される。
【０００８】光センサ１３は、上記分圧された電圧の強
弱を、光ファイバ１４を介して光発生器１５から発生す
る光の透過率の変化、つまり光強度で検出し、この検出
出力を光ファイバ１６を介して光−電気変換回路（以
下、「Ｏ／Ｅ回路」という。）１７に送出する。Ｏ／Ｅ
回路１７は、上記検出された光強度を電気信号に変換さ
れた後、アンプ等１８に出力する。
弱を、光ファイバ１４を介して光発生器１５から発生す
る光の透過率の変化、つまり光強度で検出し、この検出
出力を光ファイバ１６を介して光−電気変換回路（以
下、「Ｏ／Ｅ回路」という。）１７に送出する。Ｏ／Ｅ
回路１７は、上記検出された光強度を電気信号に変換さ
れた後、アンプ等１８に出力する。
【０００９】アンプ等１８では、上記電気信号をアンプ
で増幅して、電気−光変換回路（以下、「Ｅ／Ｏ回路」
という。）１９に出力する。なお、アンプ等１８では、
上記電気信号の電圧レベルを検出する場合には、上記ア
ンプのみで構成されるが、例えば上記電気信号の所定閾
値レベルを検出する場合には、アンプの後に比較回路を
接続させることも可能であるし、また上記電気信号の電
圧レベルの変化を検出する場合には、アンプの後に変化
率を演算する演算回路を接続させることも可能である
し、またアンプの後に微分回路を接続させれば、上記電
気信号の電圧レベルの変化時の検出が可能となる。
で増幅して、電気−光変換回路（以下、「Ｅ／Ｏ回路」
という。）１９に出力する。なお、アンプ等１８では、
上記電気信号の電圧レベルを検出する場合には、上記ア
ンプのみで構成されるが、例えば上記電気信号の所定閾
値レベルを検出する場合には、アンプの後に比較回路を
接続させることも可能であるし、また上記電気信号の電
圧レベルの変化を検出する場合には、アンプの後に変化
率を演算する演算回路を接続させることも可能である
し、またアンプの後に微分回路を接続させれば、上記電
気信号の電圧レベルの変化時の検出が可能となる。
【００１０】Ｅ／Ｏ回路１９は、上記入力した電気信号
を光強度に変換し、光ファイバ２０を介してＯ／Ｅ回路
２１に出力する。Ｏ／Ｅ回路２１は、上記入力した光強
度を再び電気信号に変換して次段の装置（例えば系統監
視装置等）２２に出力する。すなわち、一次導体１０の
電圧は、ブッシング内静電容量１１と外付コンデンサ１
２によって分圧され、光センサ１３によって光強度で検
出され、さらにＯ／Ｅ回路１７で電気信号に変換された
後、上記光センサ１３によって一次導体１０と電気的に
絶縁されたアンプ等１８に入力する。上記電気信号は、
アンプ等１８で増幅された後、必要に応じた所定レベル
の電気信号としてＥ／Ｏ回路１９に出力され、ここで光
強度に変換された後、Ｏ／Ｅ回路２１で再び電気信号に
変換されて、上記Ｅ／Ｏ回路１９及びＯ／Ｅ回路２１に
よってアンプ等１８と電気的に絶縁された次段の装置２
２に出力され、ここで例えば高圧電力系統の監視等に用
いられる。
を光強度に変換し、光ファイバ２０を介してＯ／Ｅ回路
２１に出力する。Ｏ／Ｅ回路２１は、上記入力した光強
度を再び電気信号に変換して次段の装置（例えば系統監
視装置等）２２に出力する。すなわち、一次導体１０の
電圧は、ブッシング内静電容量１１と外付コンデンサ１
２によって分圧され、光センサ１３によって光強度で検
出され、さらにＯ／Ｅ回路１７で電気信号に変換された
後、上記光センサ１３によって一次導体１０と電気的に
絶縁されたアンプ等１８に入力する。上記電気信号は、
アンプ等１８で増幅された後、必要に応じた所定レベル
の電気信号としてＥ／Ｏ回路１９に出力され、ここで光
強度に変換された後、Ｏ／Ｅ回路２１で再び電気信号に
変換されて、上記Ｅ／Ｏ回路１９及びＯ／Ｅ回路２１に
よってアンプ等１８と電気的に絶縁された次段の装置２
２に出力され、ここで例えば高圧電力系統の監視等に用
いられる。
【００１１】従って、本実施例では、一次導体の電圧を
光強度で検出して電圧検出器内のアンプ及び次段の装置
に出力することができるので、上記一次導体とアンプ及
び次段の装置を絶縁でき、これにより電圧検出器の電圧
検出部に高電圧が発生したり、一次導体からのノイズに
より、アンプ及び次段の装置に悪影響を及ぼすことがな
くなる。
光強度で検出して電圧検出器内のアンプ及び次段の装置
に出力することができるので、上記一次導体とアンプ及
び次段の装置を絶縁でき、これにより電圧検出器の電圧
検出部に高電圧が発生したり、一次導体からのノイズに
より、アンプ及び次段の装置に悪影響を及ぼすことがな
くなる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、高圧
電力系統の導体電圧を、ブッシング内の静電容量と外付
コンデンサによって分圧して検出し、該検出結果を増幅
手段を介して所定装置に出力する高圧電力系統の電圧検
出方法において、前記分圧された電圧を光センサで光強
度に変化させて検出し、該検出出力を光−電気変換した
後に、前記増幅手段及び所定装置に送出し、前記導体か
ら増幅手段及び所定装置を電気的に絶縁するので、高圧
電力系統の電圧検出の際に、電圧検出器の絶縁性及び耐
ノイズ性を向上できる。
電力系統の導体電圧を、ブッシング内の静電容量と外付
コンデンサによって分圧して検出し、該検出結果を増幅
手段を介して所定装置に出力する高圧電力系統の電圧検
出方法において、前記分圧された電圧を光センサで光強
度に変化させて検出し、該検出出力を光−電気変換した
後に、前記増幅手段及び所定装置に送出し、前記導体か
ら増幅手段及び所定装置を電気的に絶縁するので、高圧
電力系統の電圧検出の際に、電圧検出器の絶縁性及び耐
ノイズ性を向上できる。
【図１】本発明に係る電圧検出方法を用いた電圧検出器
の一実施例の構成を示すブロック図である。
の一実施例の構成を示すブロック図である。
１０ 一次導体 １１ ブッシング内の静電容量 １２ 外付コンデンサ １３ 光センサ １４，１６，２０ 光ファイバ １５ 光発生器 １７，２１ 光−電気変換回路（Ｏ／Ｅ回路） １８ アンプ等 １９ 電気−光変換回路（Ｅ／Ｏ回路） ２２ 次段の装置
Claims (1)
- 【請求項１】 高圧電力系統の導体電圧を、ブッシング
内の静電容量と外付コンデンサによって分圧して検出
し、該検出結果を増幅手段を介して所定装置に出力する
高圧電力系統の電圧検出方法において、前記分圧された
電圧を光センサで光強度に変化させて検出し、該検出出
力を光−電気変換した後に、前記増幅手段及び所定装置
に送出し、前記導体から増幅手段及び所定装置を電気的
に絶縁することを特徴とする高圧電力系統の電圧検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5057094A JPH06273450A (ja) | 1993-03-17 | 1993-03-17 | 高圧電力系統の電圧検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5057094A JPH06273450A (ja) | 1993-03-17 | 1993-03-17 | 高圧電力系統の電圧検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06273450A true JPH06273450A (ja) | 1994-09-30 |
Family
ID=13045925
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5057094A Pending JPH06273450A (ja) | 1993-03-17 | 1993-03-17 | 高圧電力系統の電圧検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06273450A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100361486B1 (ko) * | 2001-01-11 | 2002-11-23 | 엘지이노텍 주식회사 | 고압 회로 신호 검출 장치 |
-
1993
- 1993-03-17 JP JP5057094A patent/JPH06273450A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100361486B1 (ko) * | 2001-01-11 | 2002-11-23 | 엘지이노텍 주식회사 | 고압 회로 신호 검출 장치 |
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