JPH06273312A - マイグレーション試験装置 - Google Patents
マイグレーション試験装置Info
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- JPH06273312A JPH06273312A JP6386393A JP6386393A JPH06273312A JP H06273312 A JPH06273312 A JP H06273312A JP 6386393 A JP6386393 A JP 6386393A JP 6386393 A JP6386393 A JP 6386393A JP H06273312 A JPH06273312 A JP H06273312A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 無駄な手間を無くし、正確なる試験評価を可
能にしたマイグレーション試験装置を提供すること。 【構成】 マイグレーション試験装置は、第１の標準発
生器１、第２の標準空気発生器２、試験槽３、第１の連
通手段４、第２の連通手段５、制御装置６を備える。第
１の標準空気発生器１は、第１の標準空気を発生でき、
第１の運転制御ボックス１１により第１の標準空気を一
定条件に維持できる。第２の標準空気発生器２は、第２
の標準空気を発生でき、第２の運転制御ボックス２１に
より第２の標準空気を一定条件に維持できる。第１の連
通手段４は、第１の標準空気発生器１と試験槽３とを連
通し、第１の標準空気を試験槽３に導入できる。第２の
連通手段５は、第２の標準空気発生器２と試験槽３とを
連通し、第２の標準空気を試験槽３に導入できる。制御
装置６は、各連通手段４、５を開閉制御する。
能にしたマイグレーション試験装置を提供すること。 【構成】 マイグレーション試験装置は、第１の標準発
生器１、第２の標準空気発生器２、試験槽３、第１の連
通手段４、第２の連通手段５、制御装置６を備える。第
１の標準空気発生器１は、第１の標準空気を発生でき、
第１の運転制御ボックス１１により第１の標準空気を一
定条件に維持できる。第２の標準空気発生器２は、第２
の標準空気を発生でき、第２の運転制御ボックス２１に
より第２の標準空気を一定条件に維持できる。第１の連
通手段４は、第１の標準空気発生器１と試験槽３とを連
通し、第１の標準空気を試験槽３に導入できる。第２の
連通手段５は、第２の標準空気発生器２と試験槽３とを
連通し、第２の標準空気を試験槽３に導入できる。制御
装置６は、各連通手段４、５を開閉制御する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品、電子機器等
のマイグレーション試験を容易に行うことができるよう
にしたマイグレーション試験装置に関するものである。
のマイグレーション試験を容易に行うことができるよう
にしたマイグレーション試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】マイグレーション（Migration ）現象
は、一般に、金属原子の移行現象とよばれており、例え
ば電極材料に銀を使用した場合に、その金属原子が電極
間で移行することにより絶縁劣化が発生する現象として
古くから知られていた。
は、一般に、金属原子の移行現象とよばれており、例え
ば電極材料に銀を使用した場合に、その金属原子が電極
間で移行することにより絶縁劣化が発生する現象として
古くから知られていた。
【０００３】ところで、最近では、電子部品の小型化に
より例えば携帯電話機や携帯用マイコン等の電子機器が
よく使用されているが、これら電子機器は使用環境の温
度、湿度の変化に伴う結露と乾燥とが繰り返えされるこ
とが容易に想像される。このような結露と乾燥とが電子
機器内部において繰り返えされると、金属材料が腐食し
たり、あるいは回路導体間でマイグレーション不良が発
生する懸念がある。
より例えば携帯電話機や携帯用マイコン等の電子機器が
よく使用されているが、これら電子機器は使用環境の温
度、湿度の変化に伴う結露と乾燥とが繰り返えされるこ
とが容易に想像される。このような結露と乾燥とが電子
機器内部において繰り返えされると、金属材料が腐食し
たり、あるいは回路導体間でマイグレーション不良が発
生する懸念がある。
【０００４】このため、上述したような結露と乾燥とが
繰り返される雰囲気内で電子部品、電子機器の評価をす
る必要があった。
繰り返される雰囲気内で電子部品、電子機器の評価をす
る必要があった。
【０００５】従来は、高温多湿の空気を供給できる恒温
槽と、低温乾燥の空気を供給できる恒温槽とを二つ設
け、かつ試験しようとする電子部品、電子機器を人手に
よって一定時間毎に、一方の高温槽から他方の高温槽、
他方の高温槽から一方の恒温槽に入れ換えることを繰り
返すことにより、電子部品、電子機器のマイグレーショ
ン評価をしていた。
槽と、低温乾燥の空気を供給できる恒温槽とを二つ設
け、かつ試験しようとする電子部品、電子機器を人手に
よって一定時間毎に、一方の高温槽から他方の高温槽、
他方の高温槽から一方の恒温槽に入れ換えることを繰り
返すことにより、電子部品、電子機器のマイグレーショ
ン評価をしていた。
【０００６】しかしながら、このような操作は、手間が
かかる他、二つの試験雰囲気の他に通常の外気にふれる
こと、通常の外気にふれる時間が試験する人間によって
異なること、試験時間の設定が試験する人間によって微
妙にことなること等により正確に試験を行うことができ
なかった。
かかる他、二つの試験雰囲気の他に通常の外気にふれる
こと、通常の外気にふれる時間が試験する人間によって
異なること、試験時間の設定が試験する人間によって微
妙にことなること等により正確に試験を行うことができ
なかった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】つまり、上記従来の試験
評価では、試験時間に無駄が多く発生するとともに、二
つの試験雰囲気の他に通常の外気にふれること、通常の
外気にふれる時間が試験する人間によって異なること、
試験時間の設定が試験する人間によって微妙にことなる
こと等により正確に試験を行うことができないという欠
点があった。
評価では、試験時間に無駄が多く発生するとともに、二
つの試験雰囲気の他に通常の外気にふれること、通常の
外気にふれる時間が試験する人間によって異なること、
試験時間の設定が試験する人間によって微妙にことなる
こと等により正確に試験を行うことができないという欠
点があった。
【０００８】本発明は、上述した欠点を解消し、無駄な
手間を無くし、正確試験評価を可能にしたマイグレーシ
ョン試験装置を提供することを目的とする。
手間を無くし、正確試験評価を可能にしたマイグレーシ
ョン試験装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のマイグレーション試験装置は、第１の標準
空気を発生でき、第１の運転制御器により前記第１の標
準空気を一定条件に維持できる第１の標準空気発生器
と、第２の標準空気を発生でき、第２の運転制御器によ
り前記第２の標準空気を一定条件に維持できる第２の標
準空気発生器と、試験部品を設置できる試験槽と、前記
第１の標準空気発生器と試験槽とを連通し、第１の標準
空気を試験槽に導入可能とした第１の連通手段と、前記
第２の標準空気発生器と試験槽とを連通し、第２の標準
空気を試験槽に導入可能とした第２の連通手段と、前記
第１の連通手段及び前記第２の連通手段を駆動制御し、
前記第１の連通手段からの標準空気及び前記第２の連通
手段からの標準空気の交互に前記試験槽に導入させる制
御装置とを備えたことを特徴とする。
に、本発明のマイグレーション試験装置は、第１の標準
空気を発生でき、第１の運転制御器により前記第１の標
準空気を一定条件に維持できる第１の標準空気発生器
と、第２の標準空気を発生でき、第２の運転制御器によ
り前記第２の標準空気を一定条件に維持できる第２の標
準空気発生器と、試験部品を設置できる試験槽と、前記
第１の標準空気発生器と試験槽とを連通し、第１の標準
空気を試験槽に導入可能とした第１の連通手段と、前記
第２の標準空気発生器と試験槽とを連通し、第２の標準
空気を試験槽に導入可能とした第２の連通手段と、前記
第１の連通手段及び前記第２の連通手段を駆動制御し、
前記第１の連通手段からの標準空気及び前記第２の連通
手段からの標準空気の交互に前記試験槽に導入させる制
御装置とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
【作用】本発明では、上述したように構成したので、第
１の標準空気発生器からの第１の標準空気または第２の
標準空気発生器からの第２の標準空気を、前記試験槽に
所定の時間間隔で交互に導入し、試験槽内の試験部品を
一定時間毎に第１の標準空気または第２の標準空気内に
晒すことができる。これにより、例えば第１の標準空気
を高温多湿の空気とし、第２の標準空気を低温乾燥空気
とすると、電子部品は、一定時間毎に結露と乾燥を繰り
返すことになる。したがって、これら雰囲気内に電子部
品を置き、かつこの電子部品に電圧を印加することによ
りマイグレーション現象が引き起こされる。
１の標準空気発生器からの第１の標準空気または第２の
標準空気発生器からの第２の標準空気を、前記試験槽に
所定の時間間隔で交互に導入し、試験槽内の試験部品を
一定時間毎に第１の標準空気または第２の標準空気内に
晒すことができる。これにより、例えば第１の標準空気
を高温多湿の空気とし、第２の標準空気を低温乾燥空気
とすると、電子部品は、一定時間毎に結露と乾燥を繰り
返すことになる。したがって、これら雰囲気内に電子部
品を置き、かつこの電子部品に電圧を印加することによ
りマイグレーション現象が引き起こされる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明について図示の実施例を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１２】図１は、本発明に係るマイグレーション試
験装置の第１実施例の原理的構成図である。
験装置の第１実施例の原理的構成図である。
【００１３】図１において、マイグレーション試験装置
は、主に、第１の標準空気発生器１と、第２の標準空気
発生器２と、試験槽３と、第１の連通手段４と、第２の
連通手段５と、制御装置６とを具備している。
は、主に、第１の標準空気発生器１と、第２の標準空気
発生器２と、試験槽３と、第１の連通手段４と、第２の
連通手段５と、制御装置６とを具備している。
【００１４】ここで、第１の標準空気発生器１は、例え
ば温度が４０〔度Ｃ〕、湿度が９０〔パーセントRH〕の
第１の標準空気を発生できる装置であり、第１の運転制
御ボックス１１により駆動されている。この第１の運転
制御ボックス１１は、センサ１２からの検出信号を基
に、第１の標準空気発生器１で発生する第１の標準空気
の温度、湿度を前記条件に維持できるようになってい
る。
ば温度が４０〔度Ｃ〕、湿度が９０〔パーセントRH〕の
第１の標準空気を発生できる装置であり、第１の運転制
御ボックス１１により駆動されている。この第１の運転
制御ボックス１１は、センサ１２からの検出信号を基
に、第１の標準空気発生器１で発生する第１の標準空気
の温度、湿度を前記条件に維持できるようになってい
る。
【００１５】上記第２の標準空気発生器２は、例えば温
度が２０〔度Ｃ〕、湿度が６０〔パーセントRH〕の第２
の標準空気を発生できる装置であり、第２の運転制御ボ
ックス２１により駆動されている。この第２の運転制御
ボックス２１は、センサ２２からの検出信号を基に、第
２の標準空気発生器２で発生する第２の標準空気の温
度、湿度を前記条件に維持できるようになっている。
度が２０〔度Ｃ〕、湿度が６０〔パーセントRH〕の第２
の標準空気を発生できる装置であり、第２の運転制御ボ
ックス２１により駆動されている。この第２の運転制御
ボックス２１は、センサ２２からの検出信号を基に、第
２の標準空気発生器２で発生する第２の標準空気の温
度、湿度を前記条件に維持できるようになっている。
【００１６】前記試験槽３は、所定の容積を有する箱体
であって、部品を収容したり取り出したりするためのド
アーが設けてあり、試験する電子部品を収納できる。
であって、部品を収容したり取り出したりするためのド
アーが設けてあり、試験する電子部品を収納できる。
【００１７】前記第１の連通手段４は、第１の標準空気
発生器１と試験槽３とを連通し、第１の標準空気を試験
槽３内に導入可能となっている。
発生器１と試験槽３とを連通し、第１の標準空気を試験
槽３内に導入可能となっている。
【００１８】前記第２の連通手段５は、第２の標準空気
発生器２と試験槽３とを連通し、第２の標準空気を試験
槽３内に導入可能となっている。
発生器２と試験槽３とを連通し、第２の標準空気を試験
槽３内に導入可能となっている。
【００１９】また、制御装置６は、第１の連通手段４ま
たは第２の連通手段５を駆動制御し、第１の連通手段４
を通した第１の標準空気または第２の標準空気発生器２
を通した第２の標準空気を交互に前記試験槽に導入させ
ることができるようになっている。
たは第２の連通手段５を駆動制御し、第１の連通手段４
を通した第１の標準空気または第２の標準空気発生器２
を通した第２の標準空気を交互に前記試験槽に導入させ
ることができるようになっている。
【００２０】さらに詳細に説明すると、第１の連通手段
４は、第１の標準空気発生器１と試験槽３とを連通し、
かつモータダンパー４１が備えられた第１の導入管４２
と、試験槽３と第１の標準空気発生器１とを連通し、か
つモータダンパー４３が備えられた第１の排出管４４
と、第１の導入管４２と第１の排出管４４とを連通し、
かつモータダンパー４５が備えられた試験槽３をバイパ
スする第１のバイパス管４６とから構成されている。
４は、第１の標準空気発生器１と試験槽３とを連通し、
かつモータダンパー４１が備えられた第１の導入管４２
と、試験槽３と第１の標準空気発生器１とを連通し、か
つモータダンパー４３が備えられた第１の排出管４４
と、第１の導入管４２と第１の排出管４４とを連通し、
かつモータダンパー４５が備えられた試験槽３をバイパ
スする第１のバイパス管４６とから構成されている。
【００２１】また、第２の連通手段５は、第２の標準空
気発生器２と試験槽３とを連通し、かつモータダンパー
５１が備えられた第２の導入管５２と、試験槽３と第２
の標準空気発生器２とを連通し、かつモータダンパー５
３が備えられた第２の排出管５４と、第２の導入管５２
と第１の排出管５４とを連通し、かつモータダンパー５
５が備えられた試験槽３をバイパスする第２のバイパス
管５６とから構成されている。
気発生器２と試験槽３とを連通し、かつモータダンパー
５１が備えられた第２の導入管５２と、試験槽３と第２
の標準空気発生器２とを連通し、かつモータダンパー５
３が備えられた第２の排出管５４と、第２の導入管５２
と第１の排出管５４とを連通し、かつモータダンパー５
５が備えられた試験槽３をバイパスする第２のバイパス
管５６とから構成されている。
【００２２】上記制御装置６には、試験槽３内の温度、
湿度を検出できるセンサ６１が接続されるとともに、モ
ータダンパー４１、モータダンパー４３及びモータダン
パー４５と、かつモータダンパー５１、モータダンパー
５３、モータダンパー５５とがそれぞれ接続されてい
る。この制御装置６は、モータダンパー４１、モータダ
ンパー４３及びモータダンパー５５を開放するときに
は、モータダンパー５１、モータダンパー５３及びモー
タダンパー４５を閉じ、あるいは、モータダンパー４
１、モータダンパー４３及びモータダンパー５５を閉じ
るときには、モータダンパー５１、モータダンパー５３
及びモータダンパー４５を開放するように制御できるよ
うになっている。
湿度を検出できるセンサ６１が接続されるとともに、モ
ータダンパー４１、モータダンパー４３及びモータダン
パー４５と、かつモータダンパー５１、モータダンパー
５３、モータダンパー５５とがそれぞれ接続されてい
る。この制御装置６は、モータダンパー４１、モータダ
ンパー４３及びモータダンパー５５を開放するときに
は、モータダンパー５１、モータダンパー５３及びモー
タダンパー４５を閉じ、あるいは、モータダンパー４
１、モータダンパー４３及びモータダンパー５５を閉じ
るときには、モータダンパー５１、モータダンパー５３
及びモータダンパー４５を開放するように制御できるよ
うになっている。
【００２３】このように構成されたマイグレーション試
験装置の動作を図１を基に図２を参照して説明する。
験装置の動作を図１を基に図２を参照して説明する。
【００２４】図２は、図１の如く構成されたマイグレー
ション試験装置の動作を説明するためのタイミングチャ
ートであり、横軸に時間ｔを、縦軸に標準空気の試験槽
３への導入状態を、それぞれ示している。
ション試験装置の動作を説明するためのタイミングチャ
ートであり、横軸に時間ｔを、縦軸に標準空気の試験槽
３への導入状態を、それぞれ示している。
【００２５】まず、第１の標準空気発生器１及び第２の
標準空気発生器２を待機運転（準備）状態にする。ま
ず、制御装置６は、モータダンパー４５及びモータダン
パー５５を開放し、かつモータダンパー４１、モータダ
ンパー４３、モータダンパー５１及びモータダンパー５
３を閉じる制御をする。そして、第１の標準空気発生器
１は、空気温度が４０〔度Ｃ〕で、空気湿度が９０〔パ
ーセントRH〕の状態になるように運転される。第２の標
準空気発生器２は、空気温度が２０〔度Ｃ〕で、空気湿
度が６０〔パーセントRH〕の状態になるように運転され
る。これは、第１の運転制御ボックス１１がセンサ１２
からの検出信号を基に、上記条件になるように第１の標
準空気発生器１を運転する。また、第２の運転制御ボッ
クス２１がセンサ２２からの検出信号を基に、上記条件
になるように第２の標準空気発生器２を運転する。
標準空気発生器２を待機運転（準備）状態にする。ま
ず、制御装置６は、モータダンパー４５及びモータダン
パー５５を開放し、かつモータダンパー４１、モータダ
ンパー４３、モータダンパー５１及びモータダンパー５
３を閉じる制御をする。そして、第１の標準空気発生器
１は、空気温度が４０〔度Ｃ〕で、空気湿度が９０〔パ
ーセントRH〕の状態になるように運転される。第２の標
準空気発生器２は、空気温度が２０〔度Ｃ〕で、空気湿
度が６０〔パーセントRH〕の状態になるように運転され
る。これは、第１の運転制御ボックス１１がセンサ１２
からの検出信号を基に、上記条件になるように第１の標
準空気発生器１を運転する。また、第２の運転制御ボッ
クス２１がセンサ２２からの検出信号を基に、上記条件
になるように第２の標準空気発生器２を運転する。
【００２６】十分に待機運転状態に達したところで、制
御装置６は、第１のバイパス管４６のモータダンパー４
５を閉じ、かつ第１の導入管４２のモータダンパー４１
及び第１の排出管４４のモータダンパー４３を開放す
る。これにより、第１の標準空気発生器１から第１の標
準空気は、第１の導入管４２を通して試験槽３内に導入
されて、試験槽３内の空気は第１の排出管４４を介して
第１の標準空気発生器１に戻ることになる。このように
試験槽３内に第１の標準空気発生器１からの第１の標準
空気を導入した状態を時刻ｔ0 〜ｔ1 まで維持する。な
お、この際に、第１の標準空気発生器１の温度、湿度
は、試験槽３内のセンサ６１により検出された検出信号
を制御装置６を介して第１の運転制御ボックス１１に与
えることにより、上記条件に設定できる。
御装置６は、第１のバイパス管４６のモータダンパー４
５を閉じ、かつ第１の導入管４２のモータダンパー４１
及び第１の排出管４４のモータダンパー４３を開放す
る。これにより、第１の標準空気発生器１から第１の標
準空気は、第１の導入管４２を通して試験槽３内に導入
されて、試験槽３内の空気は第１の排出管４４を介して
第１の標準空気発生器１に戻ることになる。このように
試験槽３内に第１の標準空気発生器１からの第１の標準
空気を導入した状態を時刻ｔ0 〜ｔ1 まで維持する。な
お、この際に、第１の標準空気発生器１の温度、湿度
は、試験槽３内のセンサ６１により検出された検出信号
を制御装置６を介して第１の運転制御ボックス１１に与
えることにより、上記条件に設定できる。
【００２７】その後、時刻ｔ1 において、制御装置６
は、第１の導入管４２のモータダンパー４１及び第１の
排出管４４のモータダンパー４３を閉じ、第１のバイパ
ス管４６のモータダンパー４５を開放し、かつ第２の導
入管５２のモータダンパー５１、第２の排出管５４のモ
ータダンパー５３を開放し、第２のバイパス管５６のモ
ータダンパー５５を閉じる制御をする。これにより、第
２の標準空気発生器２から第２の標準空気は、第２の導
入管５２を通して試験槽３内に導入されて、試験槽３内
の空気は第２の排出管５４を介して第２の標準空気発生
器２に戻ることになる。このように試験槽３内に第２の
標準空気発生器２からの第２の標準空気を導入した状態
を時刻ｔ1 〜ｔ2 まで維持する。なお、この際に、第２
の標準空気発生器２の温度、湿度は、試験槽３内のセン
サ６１により検出された検出信号を制御装置６を介して
第２の運転制御ボックス２１に与えることにより、上記
条件に設定できる。また、このとき、第１の標準空気発
生器１で発生した空気は、第１の導入管４２、第１の排
出管４４、第１のバイパス管４６を介して循環してお
り、その際にはセンサ１２の検出信号で第１の標準空気
の条件が保たれることになる。
は、第１の導入管４２のモータダンパー４１及び第１の
排出管４４のモータダンパー４３を閉じ、第１のバイパ
ス管４６のモータダンパー４５を開放し、かつ第２の導
入管５２のモータダンパー５１、第２の排出管５４のモ
ータダンパー５３を開放し、第２のバイパス管５６のモ
ータダンパー５５を閉じる制御をする。これにより、第
２の標準空気発生器２から第２の標準空気は、第２の導
入管５２を通して試験槽３内に導入されて、試験槽３内
の空気は第２の排出管５４を介して第２の標準空気発生
器２に戻ることになる。このように試験槽３内に第２の
標準空気発生器２からの第２の標準空気を導入した状態
を時刻ｔ1 〜ｔ2 まで維持する。なお、この際に、第２
の標準空気発生器２の温度、湿度は、試験槽３内のセン
サ６１により検出された検出信号を制御装置６を介して
第２の運転制御ボックス２１に与えることにより、上記
条件に設定できる。また、このとき、第１の標準空気発
生器１で発生した空気は、第１の導入管４２、第１の排
出管４４、第１のバイパス管４６を介して循環してお
り、その際にはセンサ１２の検出信号で第１の標準空気
の条件が保たれることになる。
【００２８】その後、再び時刻ｔ2 において、制御装置
６は、第１の導入管４２のモータダンパー４１及び第１
の排出管４４のモータダンパー４３を開放し、第１のバ
イパス管４６のモータダンパー４５を閉じ、かつ第２の
導入管５２のモータダンパー５１、第２の排出管５４の
モータダンパー５３を閉じ、第２のバイパス管５６のモ
ータダンパー５５を開放する制御を実行する。これによ
り、第１の標準空気発生器１から第１の標準空気は、第
１の導入管４２を通して試験槽３内に導入されて、試験
槽３内の空気は第１の排出管４４を介して第１の標準空
気発生器１に戻ることになる。このように試験槽３内に
第１の標準空気発生器１からの第１の標準空気を導入し
た状態を時刻ｔ2 〜ｔ3 まで維持する。なお、この際
に、第１の標準空気発生器１の温度、湿度は、試験槽３
内のセンサ６１により検出された検出信号を制御装置６
を介して第１の運転制御ボックス１１に与えることによ
り、上記条件に設定できる。また、このとき、第２の標
準空気発生器２で発生した空気は、第２の導入管５２、
第２の排出管５４、第２のバイパス管５６を介して循環
しており、その際にはセンサ２２の検出信号で第２の標
準空気の条件が保たれることになる。
６は、第１の導入管４２のモータダンパー４１及び第１
の排出管４４のモータダンパー４３を開放し、第１のバ
イパス管４６のモータダンパー４５を閉じ、かつ第２の
導入管５２のモータダンパー５１、第２の排出管５４の
モータダンパー５３を閉じ、第２のバイパス管５６のモ
ータダンパー５５を開放する制御を実行する。これによ
り、第１の標準空気発生器１から第１の標準空気は、第
１の導入管４２を通して試験槽３内に導入されて、試験
槽３内の空気は第１の排出管４４を介して第１の標準空
気発生器１に戻ることになる。このように試験槽３内に
第１の標準空気発生器１からの第１の標準空気を導入し
た状態を時刻ｔ2 〜ｔ3 まで維持する。なお、この際
に、第１の標準空気発生器１の温度、湿度は、試験槽３
内のセンサ６１により検出された検出信号を制御装置６
を介して第１の運転制御ボックス１１に与えることによ
り、上記条件に設定できる。また、このとき、第２の標
準空気発生器２で発生した空気は、第２の導入管５２、
第２の排出管５４、第２のバイパス管５６を介して循環
しており、その際にはセンサ２２の検出信号で第２の標
準空気の条件が保たれることになる。
【００２９】上述したように一定時間毎に高温多湿空気
あるいは低温乾燥空気に交互に電子部品をふれるさせる
ことにより、電子部品のマイグレーション現象を試験評
価することができる。また、前記説明では、一定の時間
電子部品を当該雰囲気内に置かなければならないが、こ
れは電子部品の熱容量に関係しているので、試験しよう
とする電子部品が十分に乾燥しあるいは結露ができる時
間に設定すればよい。さらにまた、上記実施例では、一
定時間毎に交互に高温多湿空気あるいは低温乾燥空気を
試験槽３に導入するようにしたが、交互に両空気が電子
部品にふれればよいので、例えば高温多湿空気に対して
低温乾燥空気にふれる時間を短くしたり、逆に長くした
りすることは試験評価に応じて自由に設定することがで
きる。
あるいは低温乾燥空気に交互に電子部品をふれるさせる
ことにより、電子部品のマイグレーション現象を試験評
価することができる。また、前記説明では、一定の時間
電子部品を当該雰囲気内に置かなければならないが、こ
れは電子部品の熱容量に関係しているので、試験しよう
とする電子部品が十分に乾燥しあるいは結露ができる時
間に設定すればよい。さらにまた、上記実施例では、一
定時間毎に交互に高温多湿空気あるいは低温乾燥空気を
試験槽３に導入するようにしたが、交互に両空気が電子
部品にふれればよいので、例えば高温多湿空気に対して
低温乾燥空気にふれる時間を短くしたり、逆に長くした
りすることは試験評価に応じて自由に設定することがで
きる。
【００３０】図３は本発明のマイグレーション試験装置
の具体的構成例を示す正面図、図４は図３の平面図、図
５は図３の側面図である。
の具体的構成例を示す正面図、図４は図３の平面図、図
５は図３の側面図である。
【００３１】これらの図において、第１の標準空気発生
器１と第２の標準空気発生器２とは床面に設置されてお
り、第１の標準空気発生器１の後ろに第２の標準空気発
生器２が設置されている。第１の標準空気発生器１の上
には、試験槽３が設けてある。試験槽３は、側面にケー
ブル孔３１が形成されており、その正面に外扉３２が設
けてある。また、試験槽３の内部には、その下部に外孔
板吹出穴３３が設けてあり、この外孔板吹出穴３３の上
に精密内槽３４が設けてある。前記精密内槽３４には、
内扉３５が儲けてある。また、試験槽３の下部には制御
装置６の制御盤６３が設けてあり、装置全体の動作を操
作、制御できるようになっている。
器１と第２の標準空気発生器２とは床面に設置されてお
り、第１の標準空気発生器１の後ろに第２の標準空気発
生器２が設置されている。第１の標準空気発生器１の上
には、試験槽３が設けてある。試験槽３は、側面にケー
ブル孔３１が形成されており、その正面に外扉３２が設
けてある。また、試験槽３の内部には、その下部に外孔
板吹出穴３３が設けてあり、この外孔板吹出穴３３の上
に精密内槽３４が設けてある。前記精密内槽３４には、
内扉３５が儲けてある。また、試験槽３の下部には制御
装置６の制御盤６３が設けてあり、装置全体の動作を操
作、制御できるようになっている。
【００３２】上記第１の標準空気発生器１と試験槽３と
は、モータダンパー４１を有する第１の吸入ダクト４
２、モータダンパー４３を有する第１の排出ダクト４４
及びモータダンパー４５を有する第１のバイパスダクト
４６で連通されている。
は、モータダンパー４１を有する第１の吸入ダクト４
２、モータダンパー４３を有する第１の排出ダクト４４
及びモータダンパー４５を有する第１のバイパスダクト
４６で連通されている。
【００３３】上記第２の標準空気発生器２と試験槽３と
は、モータダンパー５１を有する第１の導入ダクト５
２、モータダンパー５３を有する第１の排出ダクト５４
及びモータダンパー５５を有する第１のバイパスダクト
５６で連通されている。
は、モータダンパー５１を有する第１の導入ダクト５
２、モータダンパー５３を有する第１の排出ダクト５４
及びモータダンパー５５を有する第１のバイパスダクト
５６で連通されている。
【００３４】このような構成のマイグレーション試験装
置によれば、外扉３２及び内扉３５を開放し、必要な電
子部品を精密内槽３４内に設置し、電気回路を接続して
電子部品に電力を供給することにより、電子部品のマイ
グレーション試験、評価を行うことができる。
置によれば、外扉３２及び内扉３５を開放し、必要な電
子部品を精密内槽３４内に設置し、電気回路を接続して
電子部品に電力を供給することにより、電子部品のマイ
グレーション試験、評価を行うことができる。
【００３５】図６は、第１の標準空気発生器あるいは第
２の標準空気発生器の構成を示す図である。第１の標準
空気発生器１または第２の標準空気発生器２は、基本的
に全く同一構成をしており、異なる点は温度、湿度を各
発生器毎に変更しただけであるので、一方の構成を説明
して他の構成の説明を省略する。
２の標準空気発生器の構成を示す図である。第１の標準
空気発生器１または第２の標準空気発生器２は、基本的
に全く同一構成をしており、異なる点は温度、湿度を各
発生器毎に変更しただけであるので、一方の構成を説明
して他の構成の説明を省略する。
【００３６】図６において、標準空気発生器１は、プレ
フィルタ１１１、冷凍機ユニット１１２、冷却機１１
３、ヒータユニット１１４、温度調節器１１５、加湿器
１１６、給水ユニット１１７、湿度調節器１１８、送風
機１１９、メインフィルタ１２０、ボリュームダンパ
（ＶＤ）１２１からなる。
フィルタ１１１、冷凍機ユニット１１２、冷却機１１
３、ヒータユニット１１４、温度調節器１１５、加湿器
１１６、給水ユニット１１７、湿度調節器１１８、送風
機１１９、メインフィルタ１２０、ボリュームダンパ
（ＶＤ）１２１からなる。
【００３７】排出ダクト４４を介して吸い込んだ空気
は、プレフィルタ１１１で埃やゴミ等が除去され、つい
で冷却機１１３で冷却されて湿度が除去される。冷却機
１１３の冷却用の熱エネルギーは、冷凍機ユニット１１
２で形成される。このように冷却されて湿度が除去され
た空気は、ヒータユニット１１４において加熱される。
この際に、ヒータユニット１１４は、センサ１２からの
検出温度信号を基に動作する温度調節器１１５によって
加熱量が調整される。このように加熱された空気は、加
湿器１１６で加湿される。この加湿は、給水ユニット１
１７からの給水と、センサ１２からの検出温度信号を基
に動作する湿度調節器１１８によって加湿量が調整され
る。このようにして所定の条件に加熱、加湿された空気
は、送風機１１９に吸い込まれ、一定の圧力で吐出され
る。この際に、メインフィルタ１２０を通して第１の標
準空気となり、ボリュームダンパ（ＶＤ）１２１で風量
が一定量に調整された後に、第１の導入ダクト４２に送
りだされることになる。
は、プレフィルタ１１１で埃やゴミ等が除去され、つい
で冷却機１１３で冷却されて湿度が除去される。冷却機
１１３の冷却用の熱エネルギーは、冷凍機ユニット１１
２で形成される。このように冷却されて湿度が除去され
た空気は、ヒータユニット１１４において加熱される。
この際に、ヒータユニット１１４は、センサ１２からの
検出温度信号を基に動作する温度調節器１１５によって
加熱量が調整される。このように加熱された空気は、加
湿器１１６で加湿される。この加湿は、給水ユニット１
１７からの給水と、センサ１２からの検出温度信号を基
に動作する湿度調節器１１８によって加湿量が調整され
る。このようにして所定の条件に加熱、加湿された空気
は、送風機１１９に吸い込まれ、一定の圧力で吐出され
る。この際に、メインフィルタ１２０を通して第１の標
準空気となり、ボリュームダンパ（ＶＤ）１２１で風量
が一定量に調整された後に、第１の導入ダクト４２に送
りだされることになる。
【００３８】このような構成、動作は、第２の標準空気
発生器２においても同様であるので、説明を省略する。
発生器２においても同様であるので、説明を省略する。
【００３９】図７は、本発明に係るマイグレーション試
験装置の第２実施例を示す概略構成図である。
験装置の第２実施例を示す概略構成図である。
【００４０】この実施例では、第１の標準空気発生器１
と第２の標準空気発生器２と試験槽３とを、一つの筺体
７１内に形成し、第１の標準空気発生器１と試験槽３と
の間に第１の空気発生器１に直接戻る第１のバイパス通
路７２を形成し、第２の標準空気発生器２と試験槽３と
の間に第２の空気発生器２に直接戻る第２のバイパス通
路７３を形成している。また、前記第１の標準空気発生
器１と試験槽３とは、第１の導入通路７４と第１の排出
通路７５とによって連通されていると共に、第２の標準
空気発生器２と試験槽３とは、第２の導入通路７６と第
２の排出通路７７とによって連通されている。そして、
前記第１のバイパス通路７２と第１の導入通路７４及び
第１の排出通路７５とは、ダンパ７８、７９によって選
択的に開閉されるようになっている。一方、第２のバイ
パス通路７３と第２の導入通路７６及び第２の排出通路
７７とは、ダンパ８０、８１によって選択的に開閉され
るようになっている。
と第２の標準空気発生器２と試験槽３とを、一つの筺体
７１内に形成し、第１の標準空気発生器１と試験槽３と
の間に第１の空気発生器１に直接戻る第１のバイパス通
路７２を形成し、第２の標準空気発生器２と試験槽３と
の間に第２の空気発生器２に直接戻る第２のバイパス通
路７３を形成している。また、前記第１の標準空気発生
器１と試験槽３とは、第１の導入通路７４と第１の排出
通路７５とによって連通されていると共に、第２の標準
空気発生器２と試験槽３とは、第２の導入通路７６と第
２の排出通路７７とによって連通されている。そして、
前記第１のバイパス通路７２と第１の導入通路７４及び
第１の排出通路７５とは、ダンパ７８、７９によって選
択的に開閉されるようになっている。一方、第２のバイ
パス通路７３と第２の導入通路７６及び第２の排出通路
７７とは、ダンパ８０、８１によって選択的に開閉され
るようになっている。
【００４１】尚、試験槽の入口側と排出口側は整流板８
２が配設されている。また、第１及び第２のバイパス通
路７２、７３と試験槽３との間にはハニカム式の断熱壁
が設けられている。さらに、前記第１及び第２の標準空
気発生器１、２には、下方から上方にかけてヒータを内
設した加湿皿８２、除湿クーラ８３、冷却クーラ８４、
加熱ヒータ８５、湿球センサ８６、乾球センサ８７、送
風ファン８８が配置され、前述第１実施例で述べたよう
な雰囲気の空気を発生するようになっている。
２が配設されている。また、第１及び第２のバイパス通
路７２、７３と試験槽３との間にはハニカム式の断熱壁
が設けられている。さらに、前記第１及び第２の標準空
気発生器１、２には、下方から上方にかけてヒータを内
設した加湿皿８２、除湿クーラ８３、冷却クーラ８４、
加熱ヒータ８５、湿球センサ８６、乾球センサ８７、送
風ファン８８が配置され、前述第１実施例で述べたよう
な雰囲気の空気を発生するようになっている。
【００４２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、第
１の標準空気及び第２の標準空気を、前記試験槽に所定
の時間間隔で交互に導入し、試験槽内の試験部品を所定
時間毎に第１の標準空気及び第２の標準空気内に晒すこ
とができるので、電子部品、電子機器等を所定時間毎に
結露と乾燥とを繰り返すことが可能となり、かつこの電
子部品、電子機器等に電圧を印加することによりマイグ
レーション現象の試験評価をすることができる効果があ
る。
１の標準空気及び第２の標準空気を、前記試験槽に所定
の時間間隔で交互に導入し、試験槽内の試験部品を所定
時間毎に第１の標準空気及び第２の標準空気内に晒すこ
とができるので、電子部品、電子機器等を所定時間毎に
結露と乾燥とを繰り返すことが可能となり、かつこの電
子部品、電子機器等に電圧を印加することによりマイグ
レーション現象の試験評価をすることができる効果があ
る。
【図１】本発明に係るマイグレーション試験装置の第１
実施例の原理的構成図、
実施例の原理的構成図、
【図２】同実施例の動作を説明するための図、
【図３】同装置の具体的構成例を示す正面図、
【図４】図３の平面図、
【図５】図３の側面図、
【図６】標準空気発生器の構成例を示す図、
【図７】第２実施例を示す概略構成図、
１ 第１の標準空気発生器 ２ 第２の標準空気発生器 ３ 試験槽 ４ 第１の連通手段 ５ 第２の連通手段 ６ 制御装置 １１ 第１の運転制御ボックス １２ センサ ２１ 第２の運転制御ボックス ２２ センサ ４１、４３、４５ モータダンパー ４２ 第１の導入管 ４４ 第１の排出管 ４６ 第１のバイパス管 ５１、５３、５５ モータダンパー ５２ 第２の導入管 ５４ 第２の排出管 ５６ 第２のバイパス管 ６１ センサ
Claims (6)
- 【請求項１】 第１の標準空気を発生でき、第１の運転
制御器により前記第１の標準空気を一定条件に維持でき
る第１の標準空気発生器と、 第２の標準空気を発生でき、第２の運転制御器により前
記第２の標準空気を一定条件に維持できる第２の標準空
気発生器と、 試験部品を設置できる試験槽と、 前記第１の標準空気発生器と試験槽とを連通し、第１の
標準空気を試験槽に導入可能とした第１の連通手段と、 前記第２の標準空気発生器と試験槽とを連通し、第２の
標準空気を試験槽に導入可能とした第２の連通手段と、 前記第１の連通手段及び前記第２の連通手段を駆動制御
し、前記第１の連通手段からの標準空気及び前記第２の
連通手段からの標準空気の交互に前記試験槽に導入させ
る制御装置とを備えたことを特徴とするマイグレーショ
ン試験装置。 - 【請求項２】 前記第１の連通手段は、 第１の標準空気発生器と試験槽とを連通し、かつダンパ
が備えられた第１の導入通路と、 前記試験槽と第１の標準空気発生器とを連通し、かつダ
ンパが備えられた第１の排出通路と、 前記第１の導入通路と第１の排出通路とを連通し、かつ
ダンパが備えられた前記試験槽をバイパスする第１のバ
イパス通路とを備えたことを特徴とする請求項１記載の
マイグレーション試験装置。 - 【請求項３】 前記第２の連通手段は、 第２の標準空気発生器と試験槽とを連通し、かつダンパ
が備えられた第２の導入通路と、 前記試験槽と第２の標準空気発生器とを連通し、かつダ
ンパが備えられた第２の排出通路と、 前記第２の導入通路と第２の排出通路とを連通し、かつ
ダンパが備えられた試験槽をバイパスする第２のバイパ
ス通路とを備えたことを特徴とする請求項１記載のマイ
グレーション試験装置。 - 【請求項４】 前記制御装置は、 前記第１の連通手段における各通路に設けたダンパ及び
前記第２の連通手段における各通路に設けたダンパを少
なくとも運転パターンにより開閉制御できるようにした
ことを特徴とする請求項２または３記載のマイグレーシ
ョン試験装置。 - 【請求項５】 前記第１の運転制御器は、第１の標準空
気が前記試験槽をバイパスしているときには第１の導入
通路ないしその出像の温度、湿度を検出するセンサから
の検出信号、または第１の標準空気を前記試験槽に導入
中には試験槽内の温度、湿度を検出できるセンサからの
検出信号を基に、第１の標準空気の温度、湿度を一定に
維持できるように第１の標準空気発生器を運転制御でき
る構成としたことを特徴とする請求項１記載のマイグレ
ーション試験装置。 - 【請求項６】 前記第２の運転制御器は、第２の標準空
気が前記試験槽をバイパスしているときには第２の導入
通路ないしその出像の温度、湿度を検出するセンサから
の検出信号、または第２の標準空気を前記試験槽に導入
中には試験槽内の温度、湿度を検出できるセンサからの
検出信号を基に、第２の標準空気の温度、湿度を一定に
維持できるように第２の標準空気発生器を運転制御でき
る構成としたことを特徴とする請求項１記載のマイグレ
ーション試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6386393A JPH06273312A (ja) | 1993-03-23 | 1993-03-23 | マイグレーション試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6386393A JPH06273312A (ja) | 1993-03-23 | 1993-03-23 | マイグレーション試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06273312A true JPH06273312A (ja) | 1994-09-30 |
Family
ID=13241585
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6386393A Pending JPH06273312A (ja) | 1993-03-23 | 1993-03-23 | マイグレーション試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06273312A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003065943A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Fujitsu Ltd | 温度・湿度調製装置及び環境試験方法 |
| JP2007271551A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Espec Corp | 環境試験装置 |
| JP2018072140A (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-10 | エスペック株式会社 | 環境試験装置 |
| JP2020068233A (ja) * | 2018-10-22 | 2020-04-30 | ファナック株式会社 | 試験物収納ケース及び試験システム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63133038A (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-04 | Hitachi Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
-
1993
- 1993-03-23 JP JP6386393A patent/JPH06273312A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63133038A (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-04 | Hitachi Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003065943A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Fujitsu Ltd | 温度・湿度調製装置及び環境試験方法 |
| JP2007271551A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Espec Corp | 環境試験装置 |
| JP4594266B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2010-12-08 | エスペック株式会社 | 環境試験装置 |
| JP2018072140A (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-10 | エスペック株式会社 | 環境試験装置 |
| JP2020068233A (ja) * | 2018-10-22 | 2020-04-30 | ファナック株式会社 | 試験物収納ケース及び試験システム |
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