JPH06271806A - 耐酸性保護膜形成用組成物及びそれを用いた半導体素子の製造方法 - Google Patents

耐酸性保護膜形成用組成物及びそれを用いた半導体素子の製造方法

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JPH06271806A
JPH06271806A JP8696993A JP8696993A JPH06271806A JP H06271806 A JPH06271806 A JP H06271806A JP 8696993 A JP8696993 A JP 8696993A JP 8696993 A JP8696993 A JP 8696993A JP H06271806 A JPH06271806 A JP H06271806A
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政一 小林
Hatsuyuki Tanaka
初幸 田中
Toshimasa Nakayama
寿昌 中山
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 平均環化度2.33〜2.43の環化イソプ
レン系重合体とテルペン系重合体とを含有して成る耐酸
性保護膜形成用組成物及び基板表面に設けられた回路の
上に、前記組成物を塗布して保護膜を形成させたのち、
エッチング処理して半導体素子を製造する方法である。 【効果】 基板との密着性がよく、かつエッチング液に
対する耐性に優れ、回路をエッチング液から良好に保護
することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は新規な耐酸性保護膜形成
用組成物及びそれを用いた半導体素子の製造方法に関す
るものである。さらに詳しくいえば、本発明は、基板と
の密着性が良く、かつエッチング液に対する耐性に優
れ、回路をエッチング液から良好に保護しうる樹脂膜を
与える耐酸性保護膜形成用組成物及び該組成物を用いて
基板表面に設けられた回路を保護して、エッチング処理
し、半導体素子を製造する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子の製造においては、シ
リコンウエハーなどの基板を使用し、各種の加工を繰り
返して回路を形成するが、シリコンウエハーの裏面をエ
ッチング液、例えばフッ酸と硝酸と酢酸との混合液など
により化学エッチングする場合、該基板の表面に形成さ
れた回路をエッチング液から保護することが必要であ
る。したがって、このような回路の保護手段として、従
来より耐酸性の樹脂膜を保護膜として使用する方法が用
いられている。
【0003】しかしながら、従来の保護膜においては、
基板との密着性が悪く、かつエッチング液に対する耐性
に乏しいため、回路の保護膜としては十分なものではな
く、該エッチング液により保護膜の収縮や変質が生じ、
基板を変形させたり、また処理後に除去しにくいなどの
欠点があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
従来の保護膜が有する欠点を克服し、基板との密着性が
良く、かつエッチング液に対する耐性に優れ、エッチン
グ液による収縮や変質が生じることのない樹脂膜を与
え、回路の保護膜形成用として好適に用いられる耐酸性
保護膜形成用組成物を提供することを目的としてなされ
たものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、半導体素
子の製造の際に回路面を保護するための耐酸性保護膜形
成用組成物について鋭意研究を重ねた結果、特定の環化
度の環化イソプレン系重合体とテルペン系重合体とを組
み合わせた組成物が、基板との密着性が良く、かつエッ
チング液に対する耐性に優れていること、そして該組成
物を基板表面に設けられた回路上に塗布した場合に、回
路の保護膜として十分に満足しうる保護膜が形成される
ことを見出し、この知見に基づいて本発明を完成するに
至った。
【0006】すなわち、本発明は、(A)平均環化度
2.33〜2.43の環化イソプレン系重合体と、
(B)テルペン系重合体とを含有して成る耐酸性保護膜
形成用組成物及び基板の一方の表面に回路を設けたユニ
ットをエッチング処理して半導体素子を製造するに当
り、該回路を、(A)平均環化度2.33〜2.43の
環化イソプレン系重合体と、(B)テルペン系重合体と
を含有して成る保護膜形成用組成物で被覆したのち、エ
ッチング液と接触させることを特徴とする方法を提供す
るものである。
【0007】本発明組成物においては、(A)成分とし
て環化イソプレン系重合体が用いられる。この環化イソ
プレン系重合体は、平均環化度が2.33〜2.43の
範囲にあることが必要である。この平均環化度が前記範
囲を逸脱すると、本発明の目的であるエッチング液に対
する耐性(耐酸性)及び基板との密着性に優れた保護膜
が形成されない。なお、ここでいう平均環化度とは、環
化イソプレン系重合体を合成する環化反応前後のイソプ
レンの赤外吸収スペクトルから算出したものである。
【0008】本発明組成物においては、(B)成分とし
てテルペン系重合体が用いられる。このテルペン系重合
体については特に制限はなく、例えば市販されているも
のを使用することができる。市販品の具体例としては、
YSレジンTO115、クリアロンP115(以上、ヤ
スハラケミカル社製、商品名)などを挙げることができ
る。
【0009】本発明組成物においては、前記(A)成分
の環化イソプレン系重合体と(B)成分のテルペン系重
合体は、重量比で10:90ないし60:40、好まし
くは15:85ないし55:45の範囲にあるように配
合するのが好ましい。この配合割合が前記範囲を逸脱す
ると密着性に優れた保護膜が得られにくく、好ましくな
い。
【0010】本発明に従って半導体素子を製造するに
は、前記の環化イソプレン系重合体とテルペン系重合体
とを、通常適当な有機溶剤に溶解して溶液を調製し、こ
れを基板表面に設けられた回路の上にスピンコーターな
どにより塗布し、乾燥することで、膜厚10〜30μm
程度の保護膜を形成させたのち、常法によりエッチング
処理する。該有機溶剤については、環化イソプレン系重
合体及びテルペン系重合体を溶解しうるものであればよ
く、特に制限はないが、例えばキシレンやトルエンなど
の芳香族炭化水素系有機溶剤が好ましく用いられる。
【0011】
【発明の効果】本発明の耐酸性保護膜形成用組成物は、
特定の環化度を有する環化イソプレン系重合体とテルペ
ン系重合体との混合物を使用することで、耐酸性に優
れ、かつ基板との密着性にも優れた保護膜を形成できる
とともに、化学的な安定性にも優れているため、エッチ
ング液に曝されても収縮や変質が起こらず、基板をエッ
チング処理する際にも、基板の変形を防ぐことができる
という極めて実用性の高い効果を有する。
【0012】
【実施例】次に実施例により本発明をさらに詳細に説明
する。
【0013】実施例 平均環化度2.4の環化イソプレン系重合体25gと、
テルペン系重合体であるYSレジンTO115(ヤスハ
ラケミカル社製)75gとを混合したものをキシレン1
50gに溶解することで塗布溶液を調製した。
【0014】次いで、シリコンウエハー上に、塗布溶液
をスピンコーターにより塗布し、120℃、120秒間
乾燥することで、膜厚10μmの保護膜を形成した。
【0015】そして、保護膜が形成されたシリコンウエ
ハーをフッ酸、硝酸及び酢酸との混合物からなる混酸中
に5分間浸漬させたのち、水洗し、シリコンウエハーを
観察したところ、保護膜の剥がれは全く確認されず、保
護されたシリコンウエハー表面は何の損傷も確認され
ず、保護膜として極めて良好な特性を有していることが
確認された。
【0016】比較例 実施例において、テルペン系重合体を使用しない以外は
実施例と同様の操作により得られたシリコンウエハー表
面を観察したところ、保護膜の剥がれが確認され、シリ
コンウエハー表面も損傷が確認された。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)平均環化度2.33〜2.43の
    環化イソプレン系重合体と、(B)テルペン系重合体と
    を含有して成る耐酸性保護膜形成用組成物。
  2. 【請求項2】 基板の一方の表面に回路を設けたユニッ
    トをエッチング処理して半導体素子を製造するに当り、
    該回路を、(A)平均環化度2.33〜2.43の環化
    イソプレン系重合体と、(B)テルペン系重合体とを含
    有して成る保護膜形成用組成物で被覆したのち、エッチ
    ング液と接触させることを特徴とする方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2003066694A1 (fr) * 2002-02-06 2003-08-14 Zeon Corporation Polymere modifie et materiau de revetement
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