JPH06268596A - 光検出装置 - Google Patents
光検出装置Info
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- JPH06268596A JPH06268596A JP5052311A JP5231193A JPH06268596A JP H06268596 A JPH06268596 A JP H06268596A JP 5052311 A JP5052311 A JP 5052311A JP 5231193 A JP5231193 A JP 5231193A JP H06268596 A JPH06268596 A JP H06268596A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 狭スペクトルの光源を用いる光機器につい
て、不要な反射光との可干渉性を低下させることによ
り、検出精度の低下のない光検出装置を提供することを
目的とする。 【構成】 １２ｄＢ光カプラ１０１により分岐された
後、光減衰器１０５により１０ｄＢ減衰した光信号は、
第２の光コネクタ１０８が外れた場合等、その光パワー
の一部が反射される。しかし、この反射戻り光は、再度
光減衰器１０５を通過することによって更に１０ｄＢ減
衰されるため、１２ｄＢ光カプラ１０１等を介して光電
気変換部１０２に入力されるときには大きく減衰され、
第１の光コネクタ１０７の接続状態等を判別するための
反射戻り光との相互の干渉効果は小さく、干渉による光
電力の変化は生じない。そのため、光電気変換部１０２
において電気信号レベルは安定し、比較判定部１０９に
より、第１の光コネクタ１０７の接続状態等を正確に判
別することが可能となる。
て、不要な反射光との可干渉性を低下させることによ
り、検出精度の低下のない光検出装置を提供することを
目的とする。 【構成】 １２ｄＢ光カプラ１０１により分岐された
後、光減衰器１０５により１０ｄＢ減衰した光信号は、
第２の光コネクタ１０８が外れた場合等、その光パワー
の一部が反射される。しかし、この反射戻り光は、再度
光減衰器１０５を通過することによって更に１０ｄＢ減
衰されるため、１２ｄＢ光カプラ１０１等を介して光電
気変換部１０２に入力されるときには大きく減衰され、
第１の光コネクタ１０７の接続状態等を判別するための
反射戻り光との相互の干渉効果は小さく、干渉による光
電力の変化は生じない。そのため、光電気変換部１０２
において電気信号レベルは安定し、比較判定部１０９に
より、第１の光コネクタ１０７の接続状態等を正確に判
別することが可能となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光回路において光信号
レベルを検出するための装置に関する。
レベルを検出するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光検出装置の例として、コネクタ
外れ判定回路を、図３に基づいて説明する。
外れ判定回路を、図３に基づいて説明する。
【０００３】本図において、３００は半導体レーザ（Ｌ
Ｄ）を光源とする光機器、３０１は光カプラ、３０２は
光電気変換部、３０３は第１の主光伝送路、３０４は第
２の主光伝送路、３０５は第１の副光伝送路、３０６は
第２の副光伝送路、３０７は第１の光コネクタ、３０８
は第２の光コネクタ、３０９は比較判定部である。以上
のように構成された従来のコネクタ外れ判定回路につい
て、以下その動作を説明する。
Ｄ）を光源とする光機器、３０１は光カプラ、３０２は
光電気変換部、３０３は第１の主光伝送路、３０４は第
２の主光伝送路、３０５は第１の副光伝送路、３０６は
第２の副光伝送路、３０７は第１の光コネクタ、３０８
は第２の光コネクタ、３０９は比較判定部である。以上
のように構成された従来のコネクタ外れ判定回路につい
て、以下その動作を説明する。
【０００４】ＬＤを光源とする光機器３００から出力さ
れた光信号は、第１の主光伝送路３０３を伝幡し、光カ
プラ３０１を通過し、第２の主光伝送路３０４を伝播し
て、第１の光コネクタ３０７に接続された他の光機器に
入力する。また、この光信号は光カプラ３０１によって
光信号の一部が分岐され、第１の副光伝送路３０５を伝
幡する。この光信号のレベルを、第２の光コネクタ３０
８に接続した光機器で監視することにより、主光伝送路
を伝播する光信号の大小をモニタすることができる。
れた光信号は、第１の主光伝送路３０３を伝幡し、光カ
プラ３０１を通過し、第２の主光伝送路３０４を伝播し
て、第１の光コネクタ３０７に接続された他の光機器に
入力する。また、この光信号は光カプラ３０１によって
光信号の一部が分岐され、第１の副光伝送路３０５を伝
幡する。この光信号のレベルを、第２の光コネクタ３０
８に接続した光機器で監視することにより、主光伝送路
を伝播する光信号の大小をモニタすることができる。
【０００５】一方、第１の光コネクタ３０７が開放さ
れ、または第１の光コネクタ３０７に接続された他の光
機器の異常により、反射戻り光が増大した場合、この反
射戻り光は第２の主光伝送路３０４を伝幡して光カプラ
３０１に入力し、光カプラ３０１によって反射戻り光の
パワーの一部が分岐され、第２の副光伝送路３０６を伝
幡し、光電気変換部３０２によって電気信号に変換され
る。この電気信号レベルは、第２の光主伝送路３０４を
伝搬する反射戻り光量によって変動する。従って、比較
判定部３０９は、この電気信号レベルが所定の閾値を越
えたことを判定することによって、反射戻り光量の増
大、即ち、第１の光コネクタ３０７の接続外れ、あるい
は第１の光コネクタ３０７に接続された他の光機器の異
常等を検出することができる。
れ、または第１の光コネクタ３０７に接続された他の光
機器の異常により、反射戻り光が増大した場合、この反
射戻り光は第２の主光伝送路３０４を伝幡して光カプラ
３０１に入力し、光カプラ３０１によって反射戻り光の
パワーの一部が分岐され、第２の副光伝送路３０６を伝
幡し、光電気変換部３０２によって電気信号に変換され
る。この電気信号レベルは、第２の光主伝送路３０４を
伝搬する反射戻り光量によって変動する。従って、比較
判定部３０９は、この電気信号レベルが所定の閾値を越
えたことを判定することによって、反射戻り光量の増
大、即ち、第１の光コネクタ３０７の接続外れ、あるい
は第１の光コネクタ３０７に接続された他の光機器の異
常等を検出することができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようなコネクタ外れ検出回路では、当該光コネクタから
の反射戻り光だけではなく、当該光コネクタ３０７以外
の、例えば、第２の光コネクタ３０８からの反射戻り光
も光カプラを通じて光電気変換部３０２に入力する。こ
の光コネクタ３０７以外の光コネクタからの反射戻り光
により検出誤りが生じる。
ようなコネクタ外れ検出回路では、当該光コネクタから
の反射戻り光だけではなく、当該光コネクタ３０７以外
の、例えば、第２の光コネクタ３０８からの反射戻り光
も光カプラを通じて光電気変換部３０２に入力する。こ
の光コネクタ３０７以外の光コネクタからの反射戻り光
により検出誤りが生じる。
【０００７】また光源として光波長スペクトルが非常に
狭いもの（例えば分布帰還型半導体レーザ：ＤＦＢ−Ｌ
Ｄ）を用いる場合、光の可干渉性が大きいため、複数の
光信号が合成されると、相互干渉による光電力の変化が
生じる。従って、光電気変換部が出力する電気信号にお
いても、複数の反射戻り光による電力の変化が発生し、
コネクタ外れの判定精度が低くなる。
狭いもの（例えば分布帰還型半導体レーザ：ＤＦＢ−Ｌ
Ｄ）を用いる場合、光の可干渉性が大きいため、複数の
光信号が合成されると、相互干渉による光電力の変化が
生じる。従って、光電気変換部が出力する電気信号にお
いても、複数の反射戻り光による電力の変化が発生し、
コネクタ外れの判定精度が低くなる。
【０００８】同様に、上記の様な構成の全ての光検出装
置では、光カプラで分岐された光が、異なる複数箇所で
反射し、光カプラで再び合波される事により、誤検出が
生じる。
置では、光カプラで分岐された光が、異なる複数箇所で
反射し、光カプラで再び合波される事により、誤検出が
生じる。
【０００９】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、ＤＦＢ−ＬＤのような光波長のスペクトルが狭い光
源を用いる光機器について、検出対象外の反射戻り光が
存在する場合においても、検出精度の低下のない光検出
装置を提供することを目的とする。
で、ＤＦＢ−ＬＤのような光波長のスペクトルが狭い光
源を用いる光機器について、検出対象外の反射戻り光が
存在する場合においても、検出精度の低下のない光検出
装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】第１の発明は、第１の入
出口より入力された光電力を第２の入出口と第３の入出
口より出力し、第２の入出口より入力された光電力を第
４の入出口より出力する光カプラと、光信号を電気信号
に変換する光電気変換部と、前記光カプラの第１の入出
口に一端を接続する第１の主光伝送路と、前記光カプラ
の第２の入出口に一端を接続する第２の主光伝送路と、
前記光カプラの第３の入出口と他の光機器との光路上に
設けられた光減衰器と、前記光カプラの第４の入出口と
前記光電気変換部を接続する副光伝送路と、前記光電気
変換部から出力される電気信号レベルと所定の閾値との
大小比較を行う比較判定部とを備えている光検出装置で
ある。
出口より入力された光電力を第２の入出口と第３の入出
口より出力し、第２の入出口より入力された光電力を第
４の入出口より出力する光カプラと、光信号を電気信号
に変換する光電気変換部と、前記光カプラの第１の入出
口に一端を接続する第１の主光伝送路と、前記光カプラ
の第２の入出口に一端を接続する第２の主光伝送路と、
前記光カプラの第３の入出口と他の光機器との光路上に
設けられた光減衰器と、前記光カプラの第４の入出口と
前記光電気変換部を接続する副光伝送路と、前記光電気
変換部から出力される電気信号レベルと所定の閾値との
大小比較を行う比較判定部とを備えている光検出装置で
ある。
【００１１】第２の発明は、第１の入出口より入力され
た光電力を第２の入出口と第３の入出口より出力し、第
２の入出口より入力された光電力を第４の入出口より出
力する光カプラと、光信号を電気信号に変換する光電気
変換部と、前記光カプラの第１の入出口に一端を接続す
る第１の主光伝送路と、前記光カプラの第２の入出口に
一端を接続する第２の主光伝送路と、前記光カプラの第
３の入出口と他の光機器との光路上に設けられ、前記光
カプラからの光のみ透過し、光カプラへ向かう光を遮断
する光アイソレータと、前記光カプラの第４の入出口と
前記光電気変換部を接続する副光伝送路と前記光電気変
換部から出力される電気信号レベルと所定の閾値との大
小比較を行う比較判定部とを備えている光検出装置であ
る。
た光電力を第２の入出口と第３の入出口より出力し、第
２の入出口より入力された光電力を第４の入出口より出
力する光カプラと、光信号を電気信号に変換する光電気
変換部と、前記光カプラの第１の入出口に一端を接続す
る第１の主光伝送路と、前記光カプラの第２の入出口に
一端を接続する第２の主光伝送路と、前記光カプラの第
３の入出口と他の光機器との光路上に設けられ、前記光
カプラからの光のみ透過し、光カプラへ向かう光を遮断
する光アイソレータと、前記光カプラの第４の入出口と
前記光電気変換部を接続する副光伝送路と前記光電気変
換部から出力される電気信号レベルと所定の閾値との大
小比較を行う比較判定部とを備えている光検出装置であ
る。
【００１２】
【作用】第１の発明においては、検出の対象外である反
射戻り光が伝播する光伝送路に光電力を減衰する光減衰
器を付加する事により、検出対象外の反射戻り光が光電
気変換部に入射する光量を減衰し、光電気変換部におけ
る信号干渉を軽減している。
射戻り光が伝播する光伝送路に光電力を減衰する光減衰
器を付加する事により、検出対象外の反射戻り光が光電
気変換部に入射する光量を減衰し、光電気変換部におけ
る信号干渉を軽減している。
【００１３】第２の発明においては、検出対象外の反射
戻り光が伝播する光伝送路に光の伝播方向を一方向に限
定する光アイソレータを付加する事により、検出対象外
の反射戻り光が光電気変換部に入射する事を防ぎ、光電
気変換部における信号干渉を除去している。
戻り光が伝播する光伝送路に光の伝播方向を一方向に限
定する光アイソレータを付加する事により、検出対象外
の反射戻り光が光電気変換部に入射する事を防ぎ、光電
気変換部における信号干渉を除去している。
【００１４】
【実施例】（第１の実施例）図１は本発明の請求項１に
対応する実施例の光検出装置の構成を示すブロック図で
ある。
対応する実施例の光検出装置の構成を示すブロック図で
ある。
【００１５】１００は分布帰還型半導体レーザ（ＤＦＢ
−ＬＤ）を光源とする光機器、１０１は４つの入出口を
有する１２ｄＢ光カプラであり、第１の入出口より入力
された光電力を第２の入出口と第３の入出口より出力
し、第２の入出口より入力された光電力を第４の入出口
より出力する。１０２は光カプラ１０１の第４の入出口
より出力された光信号を電気信号に変換する光電気変換
部である。１０３は光カプラ１０１の第１の入出口と光
機器１００とを接続する第１の主光伝送路、１０４は光
カプラ１０１の第２の入出口と一端が接続された第２の
主光伝送路、１０７は第２の主光伝送路の他端に接続さ
れる第１の光コネクタ、１０８は第２の光コネクタ、１
０５は光カプラ１０１の第３の入出口と第２の光コネク
タ１０８ととの光路上に設けられた１０ｄｂ光減衰器で
ある。１０６は光カプラ１０１の第４の入出口と光電気
変換部１０２を接続する副光伝送路、１０９は光電気変
換部１０２から出力される電気信号レベルと、所定の閾
値との大小比較を行う比較判定部である。
−ＬＤ）を光源とする光機器、１０１は４つの入出口を
有する１２ｄＢ光カプラであり、第１の入出口より入力
された光電力を第２の入出口と第３の入出口より出力
し、第２の入出口より入力された光電力を第４の入出口
より出力する。１０２は光カプラ１０１の第４の入出口
より出力された光信号を電気信号に変換する光電気変換
部である。１０３は光カプラ１０１の第１の入出口と光
機器１００とを接続する第１の主光伝送路、１０４は光
カプラ１０１の第２の入出口と一端が接続された第２の
主光伝送路、１０７は第２の主光伝送路の他端に接続さ
れる第１の光コネクタ、１０８は第２の光コネクタ、１
０５は光カプラ１０１の第３の入出口と第２の光コネク
タ１０８ととの光路上に設けられた１０ｄｂ光減衰器で
ある。１０６は光カプラ１０１の第４の入出口と光電気
変換部１０２を接続する副光伝送路、１０９は光電気変
換部１０２から出力される電気信号レベルと、所定の閾
値との大小比較を行う比較判定部である。
【００１６】以上のように構成された本実施例の光検出
装置について、以下その動作を説明する。
装置について、以下その動作を説明する。
【００１７】ＤＦＢ−ＬＤを光源とする光機器１００か
ら出力された光信号は、第１の主光伝送路１０３を伝幡
し、１２ｄＢ光カプラ１０１を通過し、第２の主光伝送
路１０４を伝幡して、第１の光コネクタ１０７に接続さ
れた他の光機器に入力する。また、この光信号は１２ｄ
Ｂ光カプラ１０１によって一部が分岐され、１２ｄＢ減
衰したパワーの光信号が、光減衰器１０５を透過して１
０ｄＢ減衰される。この光信号のレベルを、第２の光コ
ネクタ１０８に接続したモニター用の光機器で監視する
ことにより、主光伝送路１０３、１０４を伝播する光信
号の大小をモニタすることができる。
ら出力された光信号は、第１の主光伝送路１０３を伝幡
し、１２ｄＢ光カプラ１０１を通過し、第２の主光伝送
路１０４を伝幡して、第１の光コネクタ１０７に接続さ
れた他の光機器に入力する。また、この光信号は１２ｄ
Ｂ光カプラ１０１によって一部が分岐され、１２ｄＢ減
衰したパワーの光信号が、光減衰器１０５を透過して１
０ｄＢ減衰される。この光信号のレベルを、第２の光コ
ネクタ１０８に接続したモニター用の光機器で監視する
ことにより、主光伝送路１０３、１０４を伝播する光信
号の大小をモニタすることができる。
【００１８】第１の光コネクタ１０７の接続が外れた場
合、あるいは第１の光コネクタ１０７に接続された他の
光機器に異常が発生した場合、反射戻り光が増大する。
この反射戻り光は第２の主光伝送路１０４を伝播し、１
２ｄＢ光カプラ１０１により１２ｄＢ減衰した光パワー
が分岐され、副光伝送路１０６を伝幡し、光電気変換部
１０２によって電気信号に変換される。比較判定部１０
９は、この電気信号のレベルと所定の閾値との大小を判
定する。
合、あるいは第１の光コネクタ１０７に接続された他の
光機器に異常が発生した場合、反射戻り光が増大する。
この反射戻り光は第２の主光伝送路１０４を伝播し、１
２ｄＢ光カプラ１０１により１２ｄＢ減衰した光パワー
が分岐され、副光伝送路１０６を伝幡し、光電気変換部
１０２によって電気信号に変換される。比較判定部１０
９は、この電気信号のレベルと所定の閾値との大小を判
定する。
【００１９】以上の動作によって、第１の光コネクタ１
０７からの反射戻り光を検出し、そのレベルを判定する
事により、第１の光コネクタ１０７の接続外れ等の異常
を検出する。
０７からの反射戻り光を検出し、そのレベルを判定する
事により、第１の光コネクタ１０７の接続外れ等の異常
を検出する。
【００２０】ここで、１２ｄＢ光カプラ１０１により分
岐された後、光減衰器１０５により１０ｄＢ減衰した光
信号は、第２の光コネクタ１０８が外れた場合、あるい
は第２の光コネクタ１０８に接続された他の光機器の異
常時において、その光パワーの一部が反射される。しか
し、この反射戻り光は、再度光減衰器１０５を通過する
ことによって更に１０ｄＢ減衰された後、１２ｄＢ光カ
プラ１０１等を介して光電気変換部１０２に入力され
る。即ち、本実施例の場合、第２の光コネクタ１０８と
１２ｄＢ光カプラ１０１の間に１０ｄＢの光減衰器１０
５を挿入することによって、第２のコネクタ１０８や、
第２の光コネクタ１０８に接続された他の光機器の異常
により発生した反射戻り光は、大きく減衰される。従っ
て、上記２つの反射戻り光相互の干渉効果は小さく、干
渉による光電力の変化は生じない。
岐された後、光減衰器１０５により１０ｄＢ減衰した光
信号は、第２の光コネクタ１０８が外れた場合、あるい
は第２の光コネクタ１０８に接続された他の光機器の異
常時において、その光パワーの一部が反射される。しか
し、この反射戻り光は、再度光減衰器１０５を通過する
ことによって更に１０ｄＢ減衰された後、１２ｄＢ光カ
プラ１０１等を介して光電気変換部１０２に入力され
る。即ち、本実施例の場合、第２の光コネクタ１０８と
１２ｄＢ光カプラ１０１の間に１０ｄＢの光減衰器１０
５を挿入することによって、第２のコネクタ１０８や、
第２の光コネクタ１０８に接続された他の光機器の異常
により発生した反射戻り光は、大きく減衰される。従っ
て、上記２つの反射戻り光相互の干渉効果は小さく、干
渉による光電力の変化は生じない。
【００２１】以上の構成により、光電気変換部１０２に
おいて電気信号レベルは安定し、比較判定部１０９によ
り、第１の光コネクタ１０７の接続状態等を正確に判別
することが可能となる。
おいて電気信号レベルは安定し、比較判定部１０９によ
り、第１の光コネクタ１０７の接続状態等を正確に判別
することが可能となる。
【００２２】なお、前記光減衰器１０５の減衰量は、各
反射戻り光のレベルに応じて選ぶ必要がある。仮に、Ａ
（ｄＢｍ）の光とＡ−Ｂ（ｄＢｍ）の光が干渉を起こし
たとすると、この干渉の変動幅（最悪値）は次式で表さ
れる。
反射戻り光のレベルに応じて選ぶ必要がある。仮に、Ａ
（ｄＢｍ）の光とＡ−Ｂ（ｄＢｍ）の光が干渉を起こし
たとすると、この干渉の変動幅（最悪値）は次式で表さ
れる。
【００２３】
【数１】
【００２４】従って、この干渉による光電力の変動幅を
１ｄＢ以内とするためには、Ｂ＝１０ｄＢとする必要が
ある。
１ｄＢ以内とするためには、Ｂ＝１０ｄＢとする必要が
ある。
【００２５】（第２の実施例）図２は本発明の請求項２
に関する実施例の光検出装置の構成を示すブロック図で
ある。本実施例は、図１に示した実施例における光減衰
器１０５の代わりに、光アイソレータ１１０を用いるも
のである。その他の構成は図１に示した実施例と同じで
ある。
に関する実施例の光検出装置の構成を示すブロック図で
ある。本実施例は、図１に示した実施例における光減衰
器１０５の代わりに、光アイソレータ１１０を用いるも
のである。その他の構成は図１に示した実施例と同じで
ある。
【００２６】以上のように構成された本実施例の光検出
装置について、以下その動作を説明する。
装置について、以下その動作を説明する。
【００２７】ＤＦＢ−ＬＤを光源とする光機器１００か
ら出力された光信号は、第１の主光伝送路１０３を伝幡
し、１２ｄＢ光カプラ１０１を通過し、第２の主光伝送
路１０４を伝幡して、第１の光コネクタ１０７に接続さ
れた他の光機器に入力する。１２ｄＢ光カプラ１０１に
よって分岐され１２ｄＢ減衰したパワーの光信号は、光
アイソレータ１１０を通過する。この光信号のレベル
を、第２の光コネクタ１０８に接続した光機器で監視す
ることにより、主光伝送路１０３、１０４を伝播する光
信号の大小をモニタすることができる。
ら出力された光信号は、第１の主光伝送路１０３を伝幡
し、１２ｄＢ光カプラ１０１を通過し、第２の主光伝送
路１０４を伝幡して、第１の光コネクタ１０７に接続さ
れた他の光機器に入力する。１２ｄＢ光カプラ１０１に
よって分岐され１２ｄＢ減衰したパワーの光信号は、光
アイソレータ１１０を通過する。この光信号のレベル
を、第２の光コネクタ１０８に接続した光機器で監視す
ることにより、主光伝送路１０３、１０４を伝播する光
信号の大小をモニタすることができる。
【００２８】第１の光コネクタ１０７の接続が外れた場
合、あるいは第１の光コネクタ１０７に接続された他の
光機器に異常が発生した場合、反射戻り光が増大する。
この反射戻り光は第２の主光伝送路１０４を伝播し、１
２ｄＢ光カプラ１０１により１２ｄＢ減衰した光パワー
が分岐され、副光伝送路１０６を伝幡し、光電気変換部
１０２によって電気信号に変換される。比較判定部１０
９は、この電気信号のレベルと所定の閾値との大小を判
定する。
合、あるいは第１の光コネクタ１０７に接続された他の
光機器に異常が発生した場合、反射戻り光が増大する。
この反射戻り光は第２の主光伝送路１０４を伝播し、１
２ｄＢ光カプラ１０１により１２ｄＢ減衰した光パワー
が分岐され、副光伝送路１０６を伝幡し、光電気変換部
１０２によって電気信号に変換される。比較判定部１０
９は、この電気信号のレベルと所定の閾値との大小を判
定する。
【００２９】以上の動作によって、第１の光コネクタ１
０７からの反射戻り光を検出し、そのレベルを判定する
事により、第１の光コネクタ１０７の接続外れ等の異常
を検出する。
０７からの反射戻り光を検出し、そのレベルを判定する
事により、第１の光コネクタ１０７の接続外れ等の異常
を検出する。
【００３０】ここで、１２ｄＢ光カプラ１０１によって
分岐され、光アイソレータ１１０を通過した光信号は、
第２の光コネクタ１０８が外れた場合、あるいは第２の
光コネクタ１０８に接続された他の光機器の異常時にお
いて、光パワーの一部が反射される。しかし、この反射
戻り光は光アイソレータ１１０によって遮断され、１２
ｄＢ光カプラ１０１には入射しない。即ち、本実施例の
場合、光電気変換部１０２には、第２の主光伝送路１０
４からの反射光のみが入射する事になる。
分岐され、光アイソレータ１１０を通過した光信号は、
第２の光コネクタ１０８が外れた場合、あるいは第２の
光コネクタ１０８に接続された他の光機器の異常時にお
いて、光パワーの一部が反射される。しかし、この反射
戻り光は光アイソレータ１１０によって遮断され、１２
ｄＢ光カプラ１０１には入射しない。即ち、本実施例の
場合、光電気変換部１０２には、第２の主光伝送路１０
４からの反射光のみが入射する事になる。
【００３１】以上の構成により、光電気変換部１０２に
おいて電気信号レベルは安定するので比較判定部１０９
は第１の光コネクタ１０７の接続状態等を正確に判別す
ることが可能となる。
おいて電気信号レベルは安定するので比較判定部１０９
は第１の光コネクタ１０７の接続状態等を正確に判別す
ることが可能となる。
【００３２】
【発明の効果】以上のように、本発明は、ＤＦＢ−ＬＤ
のような光波長スペクトルが狭い光源を用いる光機器に
ついて、検出対象外の反射戻り光が存在する場合におい
ても、検出精度の低下のない光検出装置を提供すること
を可能とする。
のような光波長スペクトルが狭い光源を用いる光機器に
ついて、検出対象外の反射戻り光が存在する場合におい
ても、検出精度の低下のない光検出装置を提供すること
を可能とする。
【図１】本発明の第１の実施例の光検出装置の構成図
【図２】本発明の第２の実施例の光検出装置の構成図
【図３】従来の光検出装置の構成図
１００ ＤＦＢ−ＬＤを光源とする光機器 １０１ １２ｄＢ光カプラ １０２ 光電気変換部 １０３ 第１の主光伝送路 １０４ 第２の主光伝送路 １０５ １０ｄＢ光減衰器 １０６ 副光伝送路 １０７ 第１のコネクタ １０８ 第２のコネクタ １０９ 比較判定部 １１０ 光アイソレータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 000004226 日本電信電話株式会社 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 (72)発明者 布施 優 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 篠▲ざき▼ 聡 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 中田 裕章 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 山本 浩明 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 藤戸 克行 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 米田 悦吾 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 式井 滋 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電気 工業株式会社内 (72)発明者 福川原 勤 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 大前 和哉 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古 河電気工業株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 第１の入出口より入力された光電力を第
２の入出口と第３の入出口より出力し、第２の入出口よ
り入力された光電力を第４の入出口より出力する光カプ
ラと、 光信号を電気信号に変換する光電気変換部と、 前記光カプラの第１の入出口に一端を接続する第１の主
光伝送路と、 前記光カプラの第２の入出口に一端を接続する第２の主
光伝送路と、 前記光カプラの第３の入出口と他の光機器との光路上に
設けられた光減衰器と、 前記光カプラの第４の入出口と前記光電気変換部を接続
する副光伝送路と、 前記光電気変換部から出力される電気信号レベルと所定
の閾値との大小比較を行う比較判定部とを備えることを
特徴とする光検出装置。 - 【請求項２】第１の入出口より入力された光電力を第２
の入出口と第３の入出口より出力し、第２の入出口より
入力された光電力を第４の入出口より出力する光カプラ
と、 光信号を電気信号に変換する光電気変換部と、 前記光カプラの第１の入出口に一端を接続する第１の主
光伝送路と、 前記光カプラの第２の入出口に一端を接続する第２の主
光伝送路と、 前記光カプラの第３の入出口と他の光機器との光路上に
設けられ、前記光カプラからの光のみ透過し、光カプラ
へ向かう光を遮断する光アイソレータと、 前記光カプラの第４の入出口と前記光電気変換部を接続
する副光伝送路と前記光電気変換部から出力される電気
信号レベルと所定の閾値との大小比較を行う比較判定部
とを備えることを特徴とする光検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05231193A JP3227467B2 (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | 光検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05231193A JP3227467B2 (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | 光検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06268596A true JPH06268596A (ja) | 1994-09-22 |
| JP3227467B2 JP3227467B2 (ja) | 2001-11-12 |
Family
ID=12911242
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05231193A Expired - Lifetime JP3227467B2 (ja) | 1993-03-12 | 1993-03-12 | 光検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3227467B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101834660A (zh) * | 2010-04-15 | 2010-09-15 | 中兴通讯股份有限公司 | 光模块的控制装置、方法及光发射装置 |
-
1993
- 1993-03-12 JP JP05231193A patent/JP3227467B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101834660A (zh) * | 2010-04-15 | 2010-09-15 | 中兴通讯股份有限公司 | 光模块的控制装置、方法及光发射装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3227467B2 (ja) | 2001-11-12 |
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