JP3227467B2 - 光検出装置 - Google Patents

光検出装置

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JP3227467B2
JP3227467B2 JP05231193A JP5231193A JP3227467B2 JP 3227467 B2 JP3227467 B2 JP 3227467B2 JP 05231193 A JP05231193 A JP 05231193A JP 5231193 A JP5231193 A JP 5231193A JP 3227467 B2 JP3227467 B2 JP 3227467B2
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optical
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coupler
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優 布施
聡 篠▲ざき▼
裕章 中田
浩明 山本
克行 藤戸
悦吾 米田
滋 式井
勤 福川原
和哉 大前
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THE FURUKAW ELECTRIC CO., LTD.
Fujitsu Ltd
Panasonic Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Oki Electric Industry Co Ltd
Panasonic Holdings Corp
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THE FURUKAW ELECTRIC CO., LTD.
Fujitsu Ltd
Panasonic Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Oki Electric Industry Co Ltd
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光回路において光信号
レベルを検出するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光検出装置の例として、コネクタ
外れ判定回路を、図３に基づいて説明する。
【０００３】本図において、３００は半導体レーザ（Ｌ
Ｄ）を光源とする光機器、３０１は光カプラ、３０２は
光電気変換部、３０３は第１の主光伝送路、３０４は第
２の主光伝送路、３０５は第１の副光伝送路、３０６は
第２の副光伝送路、３０７は第１の光コネクタ、３０８
は第２の光コネクタ、３０９は比較判定部である。以上
のように構成された従来のコネクタ外れ判定回路につい
て、以下その動作を説明する。
【０００４】ＬＤを光源とする光機器３００から出力さ
れた光信号は、第１の主光伝送路３０３を伝幡し、光カ
プラ３０１を通過し、第２の主光伝送路３０４を伝播し
て、第１の光コネクタ３０７に接続された他の光機器に
入力する。また、この光信号は光カプラ３０１によって
光信号の一部が分岐され、第１の副光伝送路３０５を伝
幡する。この光信号のレベルを、第２の光コネクタ３０
８に接続した光機器で監視することにより、主光伝送路
を伝播する光信号の大小をモニタすることができる。
【０００５】一方、第１の光コネクタ３０７が開放さ
れ、または第１の光コネクタ３０７に接続された他の光
機器の異常により、反射戻り光が増大した場合、この反
射戻り光は第２の主光伝送路３０４を伝幡して光カプラ
３０１に入力し、光カプラ３０１によって反射戻り光の
パワーの一部が分岐され、第２の副光伝送路３０６を伝
幡し、光電気変換部３０２によって電気信号に変換され
る。この電気信号レベルは、第２の光主伝送路３０４を
伝搬する反射戻り光量によって変動する。従って、比較
判定部３０９は、この電気信号レベルが所定の閾値を越
えたことを判定することによって、反射戻り光量の増
大、即ち、第１の光コネクタ３０７の接続外れ、あるい
は第１の光コネクタ３０７に接続された他の光機器の異
常等を検出することができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようなコネクタ外れ検出回路では、当該光コネクタから
の反射戻り光だけではなく、当該光コネクタ３０７以外
の、例えば、第２の光コネクタ３０８からの反射戻り光
も光カプラを通じて光電気変換部３０２に入力する。こ
の光コネクタ３０７以外の光コネクタからの反射戻り光
により検出誤りが生じる。
【０００７】また光源として光波長スペクトルが非常に
狭いもの（例えば分布帰還型半導体レーザ：ＤＦＢ−Ｌ
Ｄ）を用いる場合、光の可干渉性が大きいため、複数の
光信号が合成されると、相互干渉による光電力の変化が
生じる。従って、光電気変換部が出力する電気信号にお
いても、複数の反射戻り光による電力の変化が発生し、
コネクタ外れの判定精度が低くなる。
【０００８】同様に、上記の様な構成の全ての光検出装
置では、光カプラで分岐された光が、異なる複数箇所で
反射し、光カプラで再び合波される事により、誤検出が
生じる。
【０００９】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、ＤＦＢ−ＬＤのような光波長のスペクトルが狭い光
源を用いる光機器について、検出対象外の反射戻り光が
存在する場合においても、検出精度の低下のない光検出
装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、第１の入出口
より入力された光電力を第２の入出口と第３の入出口よ
り出力し、第２の入出口より入力された光電力を第４の
入出口より出力する光カプラと、光信号を電気信号に変
換する光電気変換部と、前記光カプラの第１の入出口に
一端を接続する第１の主光伝送路と、前記光カプラの第
２の入出口に一端を接続する第２の主光伝送路と、前記
光カプラの第３の入出口と他の光機器との光路上に設け
られた光減衰器と、前記光カプラの第４の入出口と前記
光電気変換部を接続する副光伝送路と、前記光電気変換
部から出力される電気信号レベルと所定の閾値との大小
比較を行う比較判定部とを備えている光検出装置であ
る。
【００１１】
【００１２】
【作用】第１の発明においては、検出の対象外である反
射戻り光が伝播する光伝送路に光電力を減衰する光減衰
器を付加する事により、検出対象外の反射戻り光が光電
気変換部に入射する光量を減衰し、光電気変換部におけ
る信号干渉を軽減している。
【００１３】
【００１４】
【実施例】図１は本発明の請求項１に対応する実施例の
光検出装置の構成を示すブロック図である。
【００１５】１００は分布帰還型半導体レーザ（ＤＦＢ
−ＬＤ）を光源とする光機器、１０１は４つの入出口を
有する１２ｄＢ光カプラであり、第１の入出口より入力
された光電力を第２の入出口と第３の入出口より出力
し、第２の入出口より入力された光電力を第４の入出口
より出力する。１０２は光カプラ１０１の第４の入出口
より出力された光信号を電気信号に変換する光電気変換
部である。１０３は光カプラ１０１の第１の入出口と光
機器１００とを接続する第１の主光伝送路、１０４は光
カプラ１０１の第２の入出口と一端が接続された第２の
主光伝送路、１０７は第２の主光伝送路の他端に接続さ
れる第１の光コネクタ、１０８は第２の光コネクタ、１
０５は光カプラ１０１の第３の入出口と第２の光コネク
タ１０８ととの光路上に設けられた１０ｄｂ光減衰器で
ある。１０６は光カプラ１０１の第４の入出口と光電気
変換部１０２を接続する副光伝送路、１０９は光電気変
換部１０２から出力される電気信号レベルと、所定の閾
値との大小比較を行う比較判定部である。
【００１６】以上のように構成された本実施例の光検出
装置について、以下その動作を説明する。
【００１７】ＤＦＢ−ＬＤを光源とする光機器１００か
ら出力された光信号は、第１の主光伝送路１０３を伝幡
し、１２ｄＢ光カプラ１０１を通過し、第２の主光伝送
路１０４を伝幡して、第１の光コネクタ１０７に接続さ
れた他の光機器に入力する。また、この光信号は１２ｄ
Ｂ光カプラ１０１によって一部が分岐され、１２ｄＢ減
衰したパワーの光信号が、光減衰器１０５を透過して１
０ｄＢ減衰される。この光信号のレベルを、第２の光コ
ネクタ１０８に接続したモニター用の光機器で監視する
ことにより、主光伝送路１０３、１０４を伝播する光信
号の大小をモニタすることができる。
【００１８】第１の光コネクタ１０７の接続が外れた場
合、あるいは第１の光コネクタ１０７に接続された他の
光機器に異常が発生した場合、反射戻り光が増大する。
この反射戻り光は第２の主光伝送路１０４を伝播し、１
２ｄＢ光カプラ１０１により１２ｄＢ減衰した光パワー
が分岐され、副光伝送路１０６を伝幡し、光電気変換部
１０２によって電気信号に変換される。比較判定部１０
９は、この電気信号のレベルと所定の閾値との大小を判
定する。
【００１９】以上の動作によって、第１の光コネクタ１
０７からの反射戻り光を検出し、そのレベルを判定する
事により、第１の光コネクタ１０７の接続外れ等の異常
を検出する。
【００２０】ここで、１２ｄＢ光カプラ１０１により分
岐された後、光減衰器１０５により１０ｄＢ減衰した光
信号は、第２の光コネクタ１０８が外れた場合、あるい
は第２の光コネクタ１０８に接続された他の光機器の異
常時において、その光パワーの一部が反射される。しか
し、この反射戻り光は、再度光減衰器１０５を通過する
ことによって更に１０ｄＢ減衰された後、１２ｄＢ光カ
プラ１０１等を介して光電気変換部１０２に入力され
る。即ち、本実施例の場合、第２の光コネクタ１０８と
１２ｄＢ光カプラ１０１の間に１０ｄＢの光減衰器１０
５を挿入することによって、第２のコネクタ１０８や、
第２の光コネクタ１０８に接続された他の光機器の異常
により発生した反射戻り光は、大きく減衰される。従っ
て、上記２つの反射戻り光相互の干渉効果は小さく、干
渉による光電力の変化は生じない。
【００２１】以上の構成により、光電気変換部１０２に
おいて電気信号レベルは安定し、比較判定部１０９によ
り、第１の光コネクタ１０７の接続状態等を正確に判別
することが可能となる。
【００２２】なお、前記光減衰器１０５の減衰量は、各
反射戻り光のレベルに応じて選ぶ必要がある。仮に、Ａ
（ｄＢｍ）の光とＡ−Ｂ（ｄＢｍ）の光が干渉を起こし
たとすると、この干渉の変動幅（最悪値）は次式で表さ
れる。
【００２３】
【数１】
【００２４】従って、この干渉による光電力の変動幅を
１ｄＢ以内とするためには、Ｂ＝１０ｄＢとする必要が
ある。
【００２５】
【００２６】
【００２７】
【００２８】
【００２９】
【００３０】
【００３１】
【００３２】
【発明の効果】以上のように、本発明は、ＤＦＢ−ＬＤ
のような光波長スペクトルが狭い光源を用いる光機器に
ついて、検出対象外の反射戻り光が存在する場合におい
ても、検出精度の低下のない光検出装置を提供すること
を可能とする。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例の光検出装置の構成図
【図２】従来の光検出装置の構成図
【符号の説明】
１００ ＤＦＢ−ＬＤを光源とする光機器 １０１ １２ｄＢ光カプラ １０２ 光電気変換部 １０３ 第１の主光伝送路 １０４ 第２の主光伝送路 １０５ １０ｄＢ光減衰器 １０６ 副光伝送路 １０７ 第１のコネクタ １０８ 第２のコネクタ １０９ 比較判定部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (73)特許権者 000004226 日本電信電話株式会社 東京都千代田区大手町二丁目３番１号 (72)発明者 布施 優 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 篠▲ざき▼ 聡 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 中田 裕章 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 山本 浩明 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 藤戸 克行 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 米田 悦吾 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 式井 滋 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電 気工業株式会社内 (72)発明者 福川原 勤 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 大前 和哉 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古河電気工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−61132（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−109831（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−327622（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−204951（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−248434（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−268596（ＪＰ，Ａ) 実開 平３−28430（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04B 10/00 - 10/28 H04J 14/00 - 14/08 G01M 11/00 - 11/08 G02B 6/28

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 第１の入出口より入力された光電力を第
    ２の入出口と第３の入出口より出力し、第２の入出口よ
    り入力された光電力を第４の入出口より出力する光カプ
    ラと、 光信号を電気信号に変換する光電気変換部と、 前記光カプラの第１の入出口に一端を接続する第１の主
    光伝送路と、 前記光カプラの第２の入出口に一端を接続する第２の主
    光伝送路と、 前記光カプラの第３の入出口と他の光機器との光路上に
    設けられた光減衰器と、 前記光カプラの第４の入出口と前記光電気変換部を接続
    する副光伝送路と、 前記光電気変換部から出力される電気信号レベルと所定
    の閾値との大小比較を行う比較判定部とを備えることを
    特徴とする光検出装置。
JP05231193A 1993-03-12 1993-03-12 光検出装置 Expired - Lifetime JP3227467B2 (ja)

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