JPH06268490A - 遅延時間発生装置 - Google Patents

遅延時間発生装置

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JPH06268490A
JPH06268490A JP5055887A JP5588793A JPH06268490A JP H06268490 A JPH06268490 A JP H06268490A JP 5055887 A JP5055887 A JP 5055887A JP 5588793 A JP5588793 A JP 5588793A JP H06268490 A JPH06268490 A JP H06268490A
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JP
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delay
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JP5055887A
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Akifumi Muto
明文 武藤
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は遅延時間発生装置に関し、遅延時間
の分解能を小さく、しかも、大きな遅延時間を制御する
場合であっても、少ない素子により回路を構成し小型化
を図ること、及び、高精度な遅延時間を発生することを
目的とする。 【構成】 位相検出手段11,比較出力手段12及び制
御手段13を具備し、トリガ信号ST,m個の位相差検
出用信号Sm及び相区分データRn〔n=1〜n〕に基
づいて位相差データDfm〔m=1〜m〕を検出し、ト
リガ信号STの入力時刻から任意に可変遅延した遅延パ
ルス信号Sout を出力する装置であって、制御手段13
が、少なくとも、基準信号CLKに基づいて位相差検出用
信号Sm〔m=1〜m〕を生成する信号発生部13Aと、
トリガ信号STに基づいて相区分データRn〔n=1〜
n〕を発生する相区分検出部13Bと、基準信号CLK,相
区分データRn〔n=1〜n〕及び遅延設定データDA
に基づいて出力制御信号SCを発生する可変出力制御部
13Cから成ることを含み構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 〔目 次〕 産業上の利用分野 従来の技術(図18) 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段(図1) 作用 実施例 (1)第1の実施例の説明(図2〜16) (2)第2の実施例の説明(図17) 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は、遅延時間発生装置に関
するものであり、更に詳しく言えば、トリガ信号をプロ
グラマブルに遅延したパルス信号を出力する装置の改善
に関するものである。近年、半導体集積回路(以下LS
Iという)装置の高集積化,高密度化に伴い、電子ビー
ム装置や光ビームサンプリング測定装置等のLSI試験
装置が使用され、被測定波形の測定位相を設定する際
に、被測定波形に同期したトリガ信号に基づいて可変遅
延パルス信号を出力する遅延時間発生装置が使用され
る。
【0003】これによれば、互いに遅延時間の異なるm
個の遅延線路を複数個並列に接続し、どの遅延線路を信
号を通るかを選択することにより、所定の遅延時間を得
る方式、又は、アナログ的なランプ波形回路とアナログ
コンパレータを用いた方式,あるいは、これらを組合わ
せた方式が採られている。しかし、使用素子数の増加に
より、物理的なサイズが大きくなったり、遅延時間の分
解能を小さくし、大きな遅延時間を制御しようとする要
求があった場合に、遅延時間の発生精度が悪くなる。
【0004】そこで、遅延時間の分解能を小さく、しか
も、大きな遅延時間を制御する場合であっても、少ない
素子により回路を構成しその小型化を図ること、及び、
高精度な遅延時間を発生することができる装置が望まれ
ている。
【0005】
【従来の技術】図17は、従来例に係る説明図である。図
17(a)は、遅延線路を利用した遅延時間発生器の構成
図であり、図17(b)は、その他の遅延時間発生器の構
成要素を説明する図をそれぞれ示している。例えば、電
子ビーム装置や光ビームサンプリング測定装置に使用さ
れる遅延時間発生器は、図17(a)において、N段の遅
延選択回路DL1〜DLNが従属接続されて成り、互いに遅
延時間の異なるm個(m=10の例を示す)の遅延線路
LN0〜LN9を複数個並列に接続し、どの遅延線路LN0〜
LN9に信号が通るかを選択することにより、所定の遅延
時間を得る方式である。
【0006】すなわち、第1桁目の遅延選択回路DL1は
トリガ信号ST,第1桁選択信号SS1に基づいて遅延線
路L10〜L19を選択する選択回路1と、遅延時間の異な
る10個の遅延線路L10〜L19と、遅延線路L10〜L19
の遅延出力の論理和を出力するOR回路2から成る。ま
た、第N桁目の遅延選択回路DLNは第N−1桁目の遅延
選択回路DLN−1の遅延出力を入力とし、第N桁選択信
号SSNに基づいて遅延線路LN0〜LN9を選択する選択回
路1と、10個の遅延線路LN0〜LN9と、遅延線路LN0
〜LN9の遅延出力の論理和を出力するOR回路2から成
る。
【0007】当該発生器の機能は継続接続されたN段の
遅延選択回路DL1〜DLNの第1桁目の遅延選択回路DL1
に、トリガ信号ST及び第1桁選択信号SS1が入力され
ると、該第1桁選択信号SS1基づいて選択回路1により
10個の遅延線路L10〜L19から該当する線路が選択さ
れ、トリガ信号STを遅延線路L10〜L19によって、所
定時間遅延した遅延出力がOR回路2から第2桁目の遅
延選択回路DL2に出力される。
【0008】これにより、順次,第2桁目の遅延選択回
路DL2以下において、第2桁選択信号SS2に基づいて遅
延線路L10〜L19が選択され、最終的に第N桁目の遅延
選択回路DLNにおいては、第N−1桁目の遅延選択回路
DLN−1の遅延出力が第N桁選択信号SSNに基づいて、
選択回路1により選択された遅延線路LN0〜LN9により
所定時間遅延した遅延出力がOR回路2から遅延出力信
号Dout が出力される。
【0009】図17(b)は、その他の遅延時間発生器の
構成要素を説明する図であり、アナログ処理により遅延
出力信号を得る方式を示しており、ランプ波形発生回路
3,D/A変換器4及びアナログコンパレータ5から成
る。当該発生器の機能は,例えば、N段のアナログ遅延
時間発生部が継続接続された初段のランプ波形発生回路
3にトリガ信号STが入力されると、該トリガ信号ST
に基づいてランプ波形が発生され、それがアナログコン
パレータ5に出力される。一方、遅延設定データDATA
がD/A変換器4によりD/A変換され、そのアナログ
遅延設定信号がアナログコンパレータ5に出力されるこ
とで、ランプ波形と該設定信号とが比較出力される。こ
れにより、N段目のアナログコンパレータ5から遅延出
力信号が出力される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで従来例の遅延
時間発生器によれば、図17(a),(b)に示すように
互いに遅延時間の異なるm個の遅延線路を複数個並列
に接続し、どの遅延線路を信号を通るかを選択すること
により、所定の遅延時間を得る第1の方式、又は、ア
ナログ的なランプ波形発生回路とアナログコンパレータ
を用いた第2の方式,あるいは、これらを組合わせた方
式が採られている。
【0011】このため、第1の方式では使用素子数の増
加により、物理的なサイズが大きくなるという欠点があ
る。また、第2の方式では遅延時間の分解能を小さく
し、大きな遅延時間を制御しようとする要求があった場
合に、遅延時間の発生精度が悪くなる。なお、ある桁以
上の遅延時間を得る場合であって、素子数を抑えるべ
く、リングオシレータとカウンタによるカウント遅延に
よる方法が考えられる。しかし、リングオシレータ部の
ジッタがカウント遅延回数に比例して最終遅延出力のジ
ッタとなるため、遅延時間の発生精度が悪くなるという
問題がある。
【0012】また、トリガ信号STと固定周波数の発生
器による基準信号との位相差をコンデンサの充電電圧と
して記憶保持し、発振器の出力の所定のカウント後に、
再度コンデンサの充電を開始して所定の値に達したとき
に、遅延出力を発生する方法がある。しかし、当該方法
ではコンデンサのリークにより、大きな遅延時間を得よ
うとすると、遅延時間の発生精度が悪くなるという問題
がある。
【0013】本発明は、かかる従来例の問題点に鑑み創
作されたものであり、遅延時間の分解能を小さく、しか
も、大きな遅延時間を制御する場合であっても、少ない
素子により回路を構成し小型化を図ること、及び、高精
度な遅延時間を発生することが可能となる遅延時間発生
装置の提供を目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】図1(a),(b)は、
本発明に係る遅延時間発生装置の原理図を示している。
本発明の遅延時間発生装置は図1(a)に示すように、
位相検出手段11,比較出力手段12及び制御手段13
を具備し、トリガ信号ST,m個の位相差検出用信号S
m及び相区分データRn〔n=1〜n〕に基づいて位相
差データDfm〔m=1〜m〕を検出し、トリガ信号S
Tの入力時刻から任意,例えば、基準信号周期の任意の
整数倍の時間だけ、可変遅延した遅延パルス信号Dout
を出力する装置であって、前記制御手段13が、少なく
とも、基準信号CLKに基づいて位相差検出用信号Sm
〔m=1〜m〕を生成する信号発生部13Aと、前記トリ
ガ信号STに基づいて相区分データRn〔n=1〜n〕
を発生する相区分検出部13Bと、前記基準信号CLK,相
区分データRn及び遅延設定データDAに基づいて出力
制御信号SCn〔n=1〜n〕を発生する可変出力制御
部13Cから成ることを特徴とする。
【0015】なお、本発明の遅延時間発生装置におい
て、前記位相検出手段11が、トリガ信号STと位相差
検出用信号Smとに基づいて位相差データDfmを出力
するm個の位相検出部Fm〔m=1〜m〕と、前記位相
差データDfmを相区分データRn〔n=1〜n〕に基
づいて出力するデータ選択部11Aから成ることを特徴と
する。
【0016】また、本発明の遅延時間発生装置におい
て、前記相区分データRnが、一周期をk相に分割した
基準信号CLKに対するトリガ信号STの入力遷移点の検
出に基づいて発生されることを特徴とする。さらに、本
発明の遅延時間発生装置において、前記比較出力手段1
2の後段に、遅延微調整データDBに基づいて遅延パル
ス信号Dout の微調整をする遅延時間調整部14や前記
制御手段13に、基準信号CLKを発生する原発振器15
が接続されることを特徴とし、上記目的を達成する。
【0017】
【作 用】本発明の遅延時間発生装置によれば、図1
(a)に示すように、制御手段13が、信号発生部13
A,相区分検出部13B及び可変出力制御部13Cから成
る。このため、原発振器15から基準信号CLKが発生さ
れると、該基準信号CLKが信号発生部13A,相区分検出
部13B及び可変出力制御部13Cに出力され、一方、トリ
ガ信号STが位相検出手段11及び相区分検出部13Bに
供給される。これにより、位相検出手段11では、トリ
ガ信号ST,m個の位相差検出用信号Sm及び相区分デ
ータRnに基づいて位相差データDfmが検出記憶さ
れ、トリガ信号STの入力時刻から基準信号周期の任意
の整数倍の時間だけ可変遅延した遅延パルス信号Dout
を比較出力手段12から出力することができる。
【0018】すなわち、制御手段13の信号発生部13A
により基準信号CLKに基づいて位相差検出用信号Smが
生成され、また、トリガ信号STと基準信号CLKとに基
づいて相区分データRnが相区分検出部13Bにより発生
される。例えば、一周期をk相に分割した基準信号CLK
に対するトリガ信号STの入力遷移点の検出に基づいて
相区分データRnが発生される。
【0019】これにより、トリガ信号STと位相差検出
用信号Smとに基づいて位相差データDfmが位相検出
手段11のm個の位相検出部Fmからデータ選択部11A
に出力される。また、相区分データRnに基づいてデー
タ選択部11Aから比較出力手段12に位相差データDf
mが選択出力される。ここで、基準信号CLK,相区分デ
ータRn及び遅延設定データDAに基づいて発生された
出力制御信号SCnが可変出力制御部13Cから比較出力
手段12に出力され、該出力制御信号SCnに基づいて
遅延パルス信号Dout を出力することができる。
【0020】なお、比較出力手段12の後段に接続され
た遅延時間調整部14により、遅延微調整データDBに
基づいて遅延パルス信号Dout が微調整されて最終遅延
出力信号Dout が出力される。このことで、可変出力制
御部13Cを構成するカウンタの桁数を大きくするだけで
広範囲な遅延時間の制御をすることが可能となる。ま
た、原発振器15の基準信号CLKの精度を高くすること
により、カウント遅延による遅延量が従来例の遅延方式
に比べて全体の遅延精度に影響を与えないため、小さな
遅延分解能でしかも広範囲の遅延時間の制御を精度良く
行うことが可能となる。
【0021】これにより、遅延時間の分解能を小さく、
しかも、大きな遅延時間を制御する場合であっても、少
ない素子により回路を構成することができ、その小型化
を図ること、及び、高精度な遅延時間の遅延出力信号D
out を出力することが可能となる。
【0022】
【実施例】次に、図を参照しながら本発明の実施例につ
いて説明をする。図2〜16は、本発明の実施例に係る遅
延時間発生装置を説明する図であり、図2は、本発明の
実施例に係る遅延時間発生器の構成図であり、図3
(a)はその入力トリガ相区分検出部の内部構成図であ
る。また、図3(b)はその多相信号発生部の機能説明
図であり、図4は、そのトリガ信号と位相差検出用信号
との対応図である。さらに、図5〜8は入力トリガ相区
分検出部の動作波形図(その1〜4)であり、図9〜16
は当該遅延時間発生器の動作タイムチャートをそれぞれ
示している。
【0023】例えば、電子ビーム装置や光ビームサンプ
リング測定装置に適用可能な遅延時間発生器は、図2に
おいて、大分解能遅延発生部20,小分解能遅延発生部
24から成る。すなわち、大分解能遅延発生部20は位
相差検出部F1〜F4,位相差データ選択部21A,D/
A変換器21B,アナログコンパレータ22A〜22D,スキ
ュー調整パルス整形部22E,多相信号発生部23A,入力
トリガ相区分検出部23B,プログラマブルカウンタ23
C,キャリー信号遅延部23D,イネーブル信号作成部23
E及び発振器25から成る。
【0024】また、大分解能遅延発生部20はトリガ信
号STと、該信号STに対して非同期なクロック信号C
LKとの位相差を検出し、該トリガ信号STの入力に基づ
いてクロック信号CLKをカウントし、それを基準にして
入力時のトリガ信号STの位相と同一位相であって、ク
ロック信号CLKの任意の整数倍の時間だけ遅れた遅延出
力信号Dout を出力するものである。
【0025】位相差検出部F1〜F4及び位相差データ
選択部21Aは位相検出手段11を構成するものである。
4個の位相差検出部F1〜F4はm個の位相検出部Fm
〔相数m=4〕の一例であり、位相差検出部F1はトリ
ガ信号STの立ち上がりとクロック信号CLKの位相とを
位相差検出用信号S1を介して検出,すなわち、その位
相差をデジタル的に検出し、その位相差データDf1を
位相差データ選択部21Aに出力するものである。具体的
には、位相差検出部F1を高速な並列A/D変換器によ
り構成し、トリガ信号STの立ち上がりに相当する位相
差検出用信号S1を電圧値に変換する。
【0026】同様に、位相差検出部F2はトリガ信号S
Tと位相差検出用信号S2に基づいて位相差データDf
2を出力するものであり、位相差検出部F3はトリガ信
号STと位相差検出用信号S3に基づいて位相差データ
Df3を出力するものである。なお、位相差検出部F4
はトリガ信号STと位相差検出用信号S4に基づいて位
相差データDf4を出力するものである。
【0027】位相差データ選択部21Aはデータ選択部11
Aの一例であり、位相差データDfmを相区分データR
n〔n=A〜D〕に基づいて出力するものである。な
お、D/A変換器21Bは位相差データDfをD/A変換
して、それを参照電圧vcとして各アナログコンパレー
タ22A〜22Dに出力するものである。また、多相信号発
生部23A,入力トリガ相区分検出部23B,プログラマブ
ルカウンタ23C,キャリー信号遅延部23D及びイネーブ
ル信号作成部23Eは制御手段13を構成するものであ
る。
【0028】多相信号発生部23Aは信号発生部13Aの一
例であり、クロック信号CLKに基づいて位相差検出用信
号S1〜S4を生成し、該信号S1〜S4を位相差検出
部F1〜F4及びアナログコンパレータ22A〜22Dにそ
れぞれ出力するものである。例えば、多相信号発生部23
Aは図3(b)に示すように、クロック信号CLKの1周
期Tを4分割した相1〜4に対して鋸歯状のランプ波形
1〜4を発生し、それを位相差検出用信号S1〜S4と
して出力する。なお、トリガ信号と位相差検出用信号と
の対応については図4において詳述する。
【0029】入力トリガ相区分検出部23Bは相区分検出
部13Bの一例であり、トリガ信号STに基づいて相区分
データRA,RB,RC,RDを発生するものである。
例えば、入力トリガ相区分検出部23Bは図3(a)に示
すように、T/4遅延回路231 ,2T/4遅延回路232
,3T/4遅延回路233 ,相検出レジスタ234 〜237か
ら成る。T/4遅延回路231 はトリガ信号STをT/4
周期遅延して遅延トリガ信号ST1を相検出レジスタ235
に出力する。
【0030】また、2T/4遅延回路232 はトリガ信号
STを2T/4周期遅延して遅延トリガ信号ST2を相検
出レジスタ236 に出力し、3T/4遅延回路233 はトリ
ガ信号STを3T/4周期遅延して遅延トリガ信号ST3
を相検出レジスタ237 に出力する。なお、相検出レジス
タ234 はクロック信号CLKに基づいてトリガ信号STを
保持し、それを相区分データRAとして出力する。同様
に、相検出レジスタ235 〜237 は各遅延トリガ信号ST1
〜ST3を保持し、それらを相区分データRB,RC,R
Dとして出力する(図3(a)には、相区分データの保
持の機能部は明示していない)。これにより、一周期T
を4相に分割したクロック信号CLKの相1〜4に対する
トリガ信号STの入力遷移点の検出に基づいて4つの位
相差検出部F1〜F4の1つを選択(有効)する相区分
データRA,RB,RC,RDを発生することができ
る。なお、入力トリガ相区分検出部の動作については、
図5〜8において詳述する。
【0031】プログラマブルカウンタ23C,キャリー信
号遅延部23D及びイネーブル信号作成部23Eは可変出力
制御部13Cを構成するものである。プログラマブルカウ
ンタ23Cは、プリセット信号SPとカウント遅延設定デ
ータDAとに基づいてクロック信号CLKを計数し、キャ
リー信号遅延部23Dにキャリー信号PCを出力するもの
である。例えば、カウンタ23Cはトリガ信号STの入力
遷移点の検出後から、クロック信号CLKの周期T×N倍
を内容とする遅延設定データDAに基づいてクロック信
号CLKのパルス数を計数する。なお、遅延設定データD
Aは外部から設定可能なプログラマブルなデータであ
る。
【0032】キャリー信号遅延部23Dは相区分データR
A,RB,RC,RD及びクロック信号CLKに基づいて
キャリー信号PCを遅延し、その遅延されたキャリー信
号CAをイネーブル信号作成部23Eに出力する。これに
より、遅延設定データDAに対する所定のカウント遅延
量を調整することができる。イネーブル信号作成部23E
は相区分データRA,RB,RC,RDに基づいて出力
制御信号SCn〔n=A,B,C,D〕の一例となるイ
ネーブル信号を各アナログコンパレータ22A〜22Dに出
力するものである。これにより、所定のカウント遅延後
のコンパレータ出力C1〜C4を制御することができ
る。例えば、カウント遅延後に、相区分データRA,R
B,RC,RDに対応する相の開始点からクロック信号
CLKの一周期Tの間、アナログコンパレータ22A〜22D
のうちの該当する相区分データに対応したコンパレータ
をイネーブルする。
【0033】アナログコンパレータ22A〜22D及びスキ
ュー調整パルス整形部22Eは比較出力手段12を構成す
るものである。アナログコンパレータ22Aは位相差検出
用信号S1と参照電圧vcとを比較し、イネーブル信号
SCn〔n=A〕に基づいてコンパレータ出力C1をス
キュー調整パルス整形部22Eに出力するものである。同
様に、アナログコンパレータ22Bは信号S2と参照電圧
vcとを比較し、信号SCn〔n=B〕に基づいて出力
C2を整形部22Eに出力し、コンパレータ22Cは信号S
3と参照電圧vcとを比較し、信号SCn〔n=C〕に
基づいて出力C3を整形部22Eに出力し、コンパレータ
22Dは信号S4と参照電圧vcとを比較し、信号SCn
〔n=D〕に基づいて出力C4を整形部22Eにそれぞれ
出力するものである。これにより、位相差情報を含んだ
参照電圧vcと同一の位相差の位相差検出用信号S1と
の比較値を二値化することができる。
【0034】スキュー調整パルス整形部22Eは各相のコ
ンパレータ出力をC1〜C4のスキュー(各相間の出力
位相の微小差)を調整してそれを小分解能遅延発生部2
4に出力する。なお、発振器25は原発振器15の一実
施例であり、固定周波数f,周期Tのクロック(基準)
信号CLKを発生するものである。例えば、発振器25に
は水晶発振子やセラミック発振子を使用し、クロック信
号CLKの周期はトリガ信号STのパルス幅よりも小さく
設定する。
【0035】小分解能遅延発生部24は遅延時間調整部
14の一例であり、スキュー調整パルス整形部22Eの後
段に接続され、遅延微調整データDBに基づいて遅延出
力信号Dout の微調整をするものである。なお、小分解
能遅延発生部24は従来例と同様に構成され、例えば、
クロック信号CLKの一周期Tに相当するカウント遅延に
係る遅延分解能以下の遅延時間範囲の遅延を発生するも
のである。
【0036】図4(a)〜(d)は、本発明の実施例に
係る遅延時間発生器のトリガ信号と位相差検出用信号と
の対応図である。図4(a)は1周期を4分割したクロ
ック信号CLKの相1の間にトリガ信号STが入力された
場合の位相検出差に用いるランプ波形, すなわち、位相
差検出用信号S4を示している。図4(a)において、
相検出レジスタ234 〜237 の値は16進法において
「F」であり、対応ランプ波形=ランプ波形4となる。
また、図4(b)はクロック信号CLKの相2の間にトリ
ガ信号STが入力された場合のランプ波形, すなわち、
位相差検出用信号S1を示している。図4(b)におい
て、相検出レジスタ234 〜237 の値は16進法において
「7」であり、対応ランプ波形=ランプ波形1となる。
【0037】さらに、図4(c)はクロック信号CLKの
相3の間にトリガ信号STが入力された場合の位相検出
差に用いるランプ波形, すなわち、位相差検出用信号S
2を示している。図4(c)において、相検出レジス
タ234 〜237 の値は16進法において「3」であり、対応
ランプ波形=ランプ波形2となる。また、図4(d)は
クロック信号CLKの相4の間にトリガ信号STが入力さ
れた場合の位相検出差に用いるランプ波形, すなわち、
位相差検出用信号S3を示している。図4(d)におい
て、相検出レジスタ234 〜237 の値は16進法において
「1」であり、対応ランプ波形=ランプ波形3となる。
【0038】図5〜8は、本発明の実施例に係る入力ト
リガ相区分検出部の動作波形図(その1〜4)であり、
図5(a)はクロック信号CLKの相1の間にトリガ信号
STが入力された場合の相検出レジスタ234 〜237 のレ
ジスタ出力RA,RB,RC,RDを示している。図5
(a)において、クロック信号CLKの相1の間にトリガ
信号STが入力されると、T/4遅延回路231 によりト
リガ信号STがT/4周期遅延されて遅延トリガ信号S
T1が相検出レジスタ235 に出力れる。
【0039】また、2T/4遅延回路232 によりトリガ
信号STが2T/4周期遅延されて遅延トリガ信号ST2
が相検出レジスタ236 に出力され、3T/4遅延回路23
3 によりトリガ信号STが3T/4周期遅延されて遅延
トリガ信号ST3が相検出レジスタ237 に出力される。こ
れにより、レジスタ出力値として16進法相当値=「F」
が位相差データ選択部21A,キャリー信号遅延部23D,
イネーブル信号作成部23Eに出力される。
【0040】同様に、図5(b)において、クロック信
号CLKの相1と相2との遷移点でトリガ信号STが入力
されると、T/4遅延回路231 ,2T/4遅延回路232
及び3T/4遅延回路233 によりトリガ信号STがそれ
ぞれ遅延され、その遅延トリガ信号ST1〜ST3が相検出
レジスタ235 〜237 に出力される。これにより、レジス
タ出力値として16進法相当値=「F又は7」が位相差デ
ータ選択部21A,キャリー信号遅延部23D,イネーブル
信号作成部23Eに出力される。
【0041】また、図6(a)において、クロック信号
CLKの相2の間にトリガ信号STが入力されると、T/
4遅延回路231 ,2T/4遅延回路232 及び3T/4遅
延回路233 によりトリガ信号STがそれぞれ遅延され、
その遅延トリガ信号ST1〜ST3が相検出レジスタ235 〜
237 に出力される。これにより、レジスタ出力値として
16進法相当値=「7」が位相差データ選択部21A,キャ
リー信号遅延部23D,イネーブル信号作成部23Eに出力
される。
【0042】同様に、図6(b)において、クロック信
号CLKの相2と相3との遷移点でトリガ信号STが入力
されると、T/4遅延回路231 ,2T/4遅延回路232
及び3T/4遅延回路233 によりトリガ信号STがそれ
ぞれ遅延され、その遅延トリガ信号ST1〜ST3が相検出
レジスタ235 〜237 に出力される。これにより、レジス
タ出力値として16進法相当値=「7又は3」が位相差デ
ータ選択部21A,キャリー信号遅延部23D,イネーブル
信号作成部23Eに出力される。
【0043】さらに、図7(a)において、クロック信
号CLKの相3の間にトリガ信号STが入力されると、T
/4遅延回路231 ,2T/4遅延回路232 及び3T/4
遅延回路233 によりトリガ信号STがそれぞれ遅延さ
れ、その遅延トリガ信号ST1〜ST3が相検出レジスタ23
5 〜237 に出力される。これにより、レジスタ出力値と
して16進法相当値=「3」が位相差データ選択部21A,
キャリー信号遅延部23D,イネーブル信号作成部23Eに
出力される。
【0044】同様に、図7(b)において、クロック信
号CLKの相3と相4との遷移点でトリガ信号STが入力
されると、T/4遅延回路231 ,2T/4遅延回路232
及び3T/4遅延回路233 によりトリガ信号STがそれ
ぞれ遅延され、その遅延トリガ信号ST1〜ST3が相検出
レジスタ235 〜237 に出力される。これにより、レジス
タ出力値として16進法相当値=「3又は1」が位相差デ
ータ選択部21A,キャリー信号遅延部23D,イネーブル
信号作成部23Eに出力される。
【0045】さらに、図8(a)において、クロック信
号CLKの相4の間にトリガ信号STが入力されると、T
/4遅延回路231 ,2T/4遅延回路232 及び3T/4
遅延回路233 によりトリガ信号STがそれぞれ遅延さ
れ、その遅延トリガ信号ST1〜ST3が相検出レジスタ23
5 〜237 に出力される。これにより、レジスタ出力値と
して16進法相当値=「1」が位相差データ選択部21A,
キャリー信号遅延部23D,イネーブル信号作成部23Eに
出力される。
【0046】同様に、図8(b)において、クロック信
号CLKの相4と相1との遷移点でトリガ信号STが入力
されると、T/4遅延回路231 ,2T/4遅延回路232
及び3T/4遅延回路233 によりトリガ信号STがそれ
ぞれ遅延され、その遅延トリガ信号ST1〜ST3が相検出
レジスタ235 〜237 に出力される。これにより、レジス
タ出力値として16進法相当値=「1又は0」が位相差デ
ータ選択部21A,キャリー信号遅延部23D,イネーブル
信号作成部23Eに出力される。
【0047】なお、表1はトリガ信号の入力位相の相区
分とレジスタ出力16進値との関係を示している。
【0048】
【表1】
【0049】これにより、トリガ信号ST,4つの位相
差検出用信号S1〜S4及び相区分データRA〜RDに
基づいて位相差データDf1〜Df4を検出し、トリガ
信号STの入力時刻からクロック信号CLKの任意の整数
倍の時間だけ、可変遅延した遅延出力信号Dout を出力
することができる。ここで、クロック信号CLKを基準に
して検出したトリガ信号STの位相と同一位相の遅延出
力信号Dout を出力することが可能となる。
【0050】このようにして、本発明の実施例に係る遅
延時間発生器によれば、図2に示すように、位相差検出
部F1〜F4,位相差データ選択部21A,D/A変換器
21B,アナログコンパレータ22A〜22D,スキュー調整
パルス整形部22E,多相信号発生部23A,入力トリガ相
区分検出部23B,プログラマブルカウンタ23C,キャリ
ー信号遅延部23D,イネーブル信号作成部23E及び発振
器25から成る大分解能遅延発生部20に小分解能遅延
発生部24が接続されて構成される。
【0051】このため、発振器25からクロック信号C
LKが発生されると、該クロック信号CLKが多相信号発生
部23A,入力トリガ相区分検出部23B,プログラマブル
カウンタ23C及びキャリー信号遅延部23Dに出力され、
一方、トリガ信号STが位相差検出部F1〜F4及び入
力トリガ相区分検出部23Bに供給されると、位相差検出
部F1〜F4では、トリガ信号ST,4つの位相差検出
用信号S1〜S4及び相区分データRA,RB,RC,
RDに基づいて位相差データDf1〜Df4が検出記憶
され、トリガ信号STの入力時刻からクロック信号CLK
の任意の整数倍の時間だけ、可変遅延した遅延出力信号
Dout を大分解能遅延発生部20から小分解能遅延発生
部24に出力することができる。
【0052】すなわち、大分解能遅延発生部20の多相
信号発生部23Aによりクロック信号CLKに基づいて位相
差検出用信号S1〜S4が生成され、また、トリガ信号
STに基づいて相区分データRA,RB,RC,RDが
入力トリガ相区分検出部23Bにより発生される。例え
ば、図9の動作タイムチャートに示すようにクロック信
号CLKの相1の間にトリガ信号STが入力された場合に
は、T/4遅延回路231によりトリガ信号STがT/4
周期遅延されて遅延トリガ信号ST1が相検出レジスタ23
5 に出力れる。
【0053】また、2T/4遅延回路232 によりトリガ
信号STが2T/4周期遅延されて遅延トリガ信号ST2
が相検出レジスタ236 に出力され、3T/4遅延回路23
3 によりトリガ信号STが3T/4周期遅延されて遅延
トリガ信号ST3が相検出レジスタ237 に出力される。こ
れにより、レジスタ出力値として16進法相当値=「F」
が位相差データ選択部21A,キャリー信号遅延部23D,
イネーブル信号作成部23Eに出力され、トリガ信号ST
と位相差検出用信号S1〜S4とに基づいて位相差デー
タDf1〜Df4が位相検出部F1〜F4から位相差デ
ータ選択部21Aに出力される。
【0054】さらに、相区分データRA,RB,RC,
RDに基づいてデータ選択部21Aからアナログコンパレ
ータ22A〜22Dに位相差データDfmが選択出力され
る。ここで、プリセット信号SPとカウント遅延設定デ
ータDAとに基づいてプログラマブルカウンタ23Cによ
りクロック信号CLKが計数され、そのキャリー信号PC
がキャリー信号遅延部23Dに出力される。例えば、クロ
ック信号CLKの周期T×N倍を内容とする遅延設定デー
タDAに基づいてカウンタ23Cによりトリガ信号STの
入力遷移点の検出後から、クロック信号CLKのパルス数
が計数される。
【0055】また、キャリー信号遅延部23Dでは相区分
データRA,RB,RC,RD及びクロック信号CLKに
基づいてキャリー信号PCが遅延され、その遅延された
キャリー信号CAがイネーブル信号作成部23Eに出力さ
れ、遅延設定データDAに対する所定のカウント遅延量
が調整される。さらに、イネーブル信号作成部23Eでは
相区分データRA,RB,RC,RDに基づいてイネー
ブル信号SCn〔n=A,B,C,D〕が各アナログコ
ンパレータ22A〜22Dに出力され、所定のカウント遅延
後のコンパレータ出力C1〜C4が制御される。
【0056】例えば、カウント遅延後に、相区分データ
RA,RB,RC,RDに対応する相1〜4の開始点か
らクロック信号CLKの一周期Tの間、各アナログコンパ
レータ22A〜22Dの該当する相に対応するコンパレータ
がイネーブルされる。これにより、コンパレータ出力信
号C1〜C4がスキュー調整パルス整形部22Eにより信
号処理され、その遅延出力信号Dout が小分解能遅延時
間発生部24に出力される。また、該発生部24では微
小分解能遅延設定データDBに基づいて遅延出力信号D
out が微調遅延されて、最終的に遅延出力信号Doutga
出力される。
【0057】なお、クロック信号CLKの相1と相2との
遷移点でトリガ信号STが入力された場合を図10の動作
タイムチャートに示し、クロック信号CLKの相2の間に
トリガ信号STが入力された場合を図11の動作タイムチ
ャートに示し、クロック信号CLKの相2と相3との遷移
点でトリガ信号STが入力された場合を図12の動作タイ
ムチャートに示し、クロック信号CLKの相3の間にトリ
ガ信号STが入力された場合を図13の動作タイムチャー
トに示し、クロック信号CLKの相3と相4との遷移点で
トリガ信号STが入力された場合を図14の動作タイムチ
ャートに示し、クロック信号CLKの相4の間にトリガ信
号STが入力された場合を図15の動作タイムチャートに
示し、クロック信号CLKの相4と相1との遷移点でトリ
ガ信号STが入力された場合を図16の動作タイムチャー
トにそれぞれ示している。
【0058】このことで、プログラマブルカウンタ23C
を構成するカウンタ桁数を大きくするだけで広範囲な遅
延時間の制御をすることが可能となる。また、発振器2
5のクロック信号CLKの精度を高くすることにより、カ
ウント遅延による遅延量が従来例の遅延方式に比べて全
体の遅延精度に影響を与えないため、小さな遅延分解能
でしかも広範囲の遅延時間の制御を精度良く行うことが
可能となる。
【0059】これにより、遅延時間の分解能を小さく、
しかも、大きな遅延時間を制御する場合であっても、少
ない素子により回路を構成することができ、その小型化
を図ること、及び、高精度な遅延時間の遅延出力信号D
out を出力することが可能となる。
【0060】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の遅延時間
発生装置によれば、制御手段が、信号発生部,相区分検
出部及び可変出力制御部から成る。このため、原発振器
から基準信号が発生されると、該基準信号が信号発生部
及び可変出力制御部に出力され、一方、トリガ信号が位
相検出手段及び相区分検出部に供給されることにより、
位相検出手段では、トリガ信号,m個の位相差検出用信
号及び相区分データに基づいて位相差データが検出記憶
され、トリガ信号の入力時刻から基準信号の周期を任意
の整数倍の時間だけ、可変遅延した遅延出力信号を比較
出力手段から出力することができる。
【0061】なお、比較出力手段の後段に接続された遅
延時間調整部により、遅延微調整データに基づいて遅延
出力信号が微調整されることで、可変出力制御部を構成
するカウンタの桁数を大きくするだけで広範囲な遅延時
間の制御をすることが可能となる。また、原発振器の基
準信号の精度を高くすることにより、カウント遅延によ
る遅延量が従来例の遅延方式に比べて全体の遅延精度に
影響を与えないため、小さな遅延分解能でしかも広範囲
の遅延時間の制御を精度良く行うことが可能となる。
【0062】これにより、遅延時間の分解能が小さく、
しかも、小型で,高精度かつ大きな遅延時間の制御可能
な遅延時間発生装置の提供に寄与するところが大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る遅延時間発生装置の原理図であ
る。
【図2】本発明の実施例に係る遅延時間発生器の構成図
である。
【図3】本発明の実施例に係る入力トリガ相区分検出部
の内部構成図及び多相信号発生部の機能説明図である。
【図4】本発明の実施例に係るトリガ信号と位相差検出
用信号との対応図である。
【図5】本発明の実施例に係る入力トリガ相区分検出部
の動作波形図(その1)である。
【図6】本発明の実施例に係る入力トリガ相区分検出部
の動作波形図(その2)である。
【図7】本発明の実施例に係る入力トリガ相区分検出部
の動作波形図(その3)である。
【図8】本発明の実施例に係る入力トリガ相区分検出部
の動作波形図(その4)である。
【図9】本発明の実施例に係る動作(相1)タイムチャ
ートである。
【図10】本発明の実施例に係る動作(相1,2)タイム
チャートである。
【図11】本発明の実施例に係る動作(相2)タイムチャ
ートである。
【図12】本発明の実施例に係る動作(相2,3)タイム
チャートである。
【図13】本発明の実施例に係る動作(相3)タイムチャ
ートである。
【図14】本発明の実施例に係る動作(相3,4)タイム
チャートである。
【図15】本発明の実施例に係る動作(相4)タイムチャ
ートである。
【図16】本発明の実施例に係る動作(相4,1)タイム
チャートである。
【図17】従来例に係る遅延時間発生器の説明図である。
【符号の説明】
11…位相検出手段、 11A…データ選択部、 12…比較出力手段、 13…制御手段、 13A…相区分検出部、 13B…信号発生部、 13C…可変出力部、 14…遅延時間調整部、 15…原発振器、 Fm〔m=1〜m〕…位相差検出部、 Sm〔m=1〜m〕…位相差検出用信号、 Dfm〔m=1〜m〕…位相差データ、 Df…選択された位相差データ、 Dn〔n=1〜n〕…相区分データ、 DA…遅延設定データ、 DB…遅延微調整データ、 SCn…各相に対応した出力制御信号、 CLK…基準信号(クロック信号)。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】位相検出手段(11),比較出力手段(1
    2)及び制御手段(13)を具備し、トリガ信号(S
    T),m個の位相差検出用信号(Sm)及び相区分デー
    タ(Dn〔n=1〜n〕)に基づいて位相差データ(D
    fm〔m=1〜m〕)を検出し、トリガ信号(ST)の
    入力時刻から任意に可変遅延した遅延パルス信号(Sou
    t )を出力する装置であって、 前記制御手段(13)が、少なくとも、基準信号(CL
    K)に基づいて位相差検出用信号(Sm〔m=1〜
    m〕)を生成する信号発生部(13A)と、前記トリガ信
    号(ST)に基づいて相区分データ(Rn〔n=1〜
    n〕)を発生する相区分検出部(13B)と、前記基準信
    号(CLK),相区分データ(Rn)及び遅延設定データ
    (DA)に基づいて出力制御信号(SCn〔n=1〜
    n〕)を発生する可変出力制御部(13C)から成ること
    を特徴とする遅延時間発生装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の遅延時間発生装置におい
    て、前記位相検出手段(11)が、トリガ信号(ST)
    と位相差検出用信号(Sm)とに基づいて位相差データ
    (Dfm)を出力するm個の位相検出部(Fm〔m=1
    〜m〕)と、前記位相差データ(Dfm)を相区分デー
    タ(Rn)に基づいて出力するデータ選択部(11A)か
    ら成ることを特徴とする遅延時間発生装置。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の遅延時間発生装置におい
    て、前記相区分データ(Rn)が、一周期をk相に分割
    した基準信号(CLK)に対するトリガ信号(ST)の入
    力遷移点の検出に基づいて発生されることを特徴とする
    遅延時間発生装置。
  4. 【請求項4】 請求項1記載の遅延時間発生装置におい
    て、前記比較出力手段(12)の後段に、遅延微調整デ
    ータ(DB)に基づいて遅延パルス信号(Sout )の微
    調整をする遅延時間調整部(14)や前記制御手段(1
    3)に、基準信号(CLK)を発生する原発振器(15)
    が接続されることを特徴とする遅延時間発生装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6373313B1 (en) 1999-05-21 2002-04-16 Nec Corporation Delay time regulation method and delay time regulation circuit
US6486716B1 (en) 1999-09-08 2002-11-26 Nec Corporation Phase compensation circuit
US7391245B2 (en) 2005-05-20 2008-06-24 Infineon Technologies Ag Delay locked loop and method for setting a delay chain

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6373313B1 (en) 1999-05-21 2002-04-16 Nec Corporation Delay time regulation method and delay time regulation circuit
US6486716B1 (en) 1999-09-08 2002-11-26 Nec Corporation Phase compensation circuit
US7391245B2 (en) 2005-05-20 2008-06-24 Infineon Technologies Ag Delay locked loop and method for setting a delay chain
KR100861340B1 (ko) * 2005-05-20 2008-10-01 인피니언 테크놀로지스 아게 지연 고정 루프 및 지연 체인을 설정하는 방법

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