JPH0626421B2 - 半導体レ−ザのドル−プ補正装置 - Google Patents
半導体レ−ザのドル−プ補正装置Info
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- JPH0626421B2 JPH0626421B2 JP62042110A JP4211087A JPH0626421B2 JP H0626421 B2 JPH0626421 B2 JP H0626421B2 JP 62042110 A JP62042110 A JP 62042110A JP 4211087 A JP4211087 A JP 4211087A JP H0626421 B2 JPH0626421 B2 JP H0626421B2
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- G06K15/1209—Intensity control of the optical beam
- G06K15/1214—Intensity control of the optical beam by feedback
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
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- H04N1/40025—Circuits exciting or modulating particular heads for reproducing continuous tone value scales
- H04N1/40037—Circuits exciting or modulating particular heads for reproducing continuous tone value scales the reproducing element being a laser
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、画像信号に基づいてアナログ的に強度変調さ
れたレーザビームを感光材料上に走査させて連続調画像
を記録するレーザ記録装置において、半導体レーザのド
ループ特性を補正する装置に関するものである。
れたレーザビームを感光材料上に走査させて連続調画像
を記録するレーザ記録装置において、半導体レーザのド
ループ特性を補正する装置に関するものである。
（従来の技術） 従来より、光ビームを光偏向器により偏向して感光材料
上に走査させ、該感光材料に画像を記録する光走査記録
装置が広く実用に供されている。このような光走査記録
装置において光ビームを発生する手段の１つとして、半
導体レーザが従来から用いられている。この半導体レー
ザは、ガスレーザ等に比べれば小型、安価で消費電力も
少なく、また駆動電流を変えることによって直接変調が
可能である等、数々の長所を有している。
上に走査させ、該感光材料に画像を記録する光走査記録
装置が広く実用に供されている。このような光走査記録
装置において光ビームを発生する手段の１つとして、半
導体レーザが従来から用いられている。この半導体レー
ザは、ガスレーザ等に比べれば小型、安価で消費電力も
少なく、また駆動電流を変えることによって直接変調が
可能である等、数々の長所を有している。
しかしながら、その反面この半導体レーザは、第２図に
示すように駆動電流に対する光出力特性が、ＬＥＤ領域
（自然発光領域）とレーザ発振領域とで極端に変わるの
で、連続調画像の記録には適用困難であるという問題が
有る。すなわち上記の駆動電流対光出力特性が線形であ
るレーザ発振領域のみを利用して強度変調を行なうと、
光出力のダイナミックレンジがたかだか２桁程度しかと
れない。周知のように、この程度のダイナミックレンジ
では高品位の連続調画像を得ることは不可能である。
示すように駆動電流に対する光出力特性が、ＬＥＤ領域
（自然発光領域）とレーザ発振領域とで極端に変わるの
で、連続調画像の記録には適用困難であるという問題が
有る。すなわち上記の駆動電流対光出力特性が線形であ
るレーザ発振領域のみを利用して強度変調を行なうと、
光出力のダイナミックレンジがたかだか２桁程度しかと
れない。周知のように、この程度のダイナミックレンジ
では高品位の連続調画像を得ることは不可能である。
そこで例えば特開昭５６−１１５０７７号、同５６−１
５２３７２号等に示されるように、半導体レーザの光出
力は一定とするとともに、該半導体レーザを連続的にＯ
Ｎ−ＯＦＦさせて走査ビームをパルス光とし、このパル
スの数あるいは幅を各画素毎に制御して走査光量を変化
させることにより連続調画像を記録する試みもなされて
いる。
５２３７２号等に示されるように、半導体レーザの光出
力は一定とするとともに、該半導体レーザを連続的にＯ
Ｎ−ＯＦＦさせて走査ビームをパルス光とし、このパル
スの数あるいは幅を各画素毎に制御して走査光量を変化
させることにより連続調画像を記録する試みもなされて
いる。
ところが上記のようなパルス数変調あるいはパルス幅変
調を行なう場合には、例えば画素クロック周波数が１MH
zのとき、濃度スケールすなわち走査光量の分解能を１
０bit（約３桁）確保しようとすると、パルスの周波数
は少なくとも１GHzと極めて高く設定しなければならな
い。半導体レーザ自体はこの程度の周波数でＯＮ−ＯＦ
Ｆすることも可能であるが、パルス数制御あるいはパル
ス幅制御のためのパルスカウント回路等はこのような高
周波数に対応して作動し得ず、結局は画素クロック周波
数を上記の値よりも大幅に下げなければならない。した
がって装置の記録速度を大幅に下げざるをえない。
調を行なう場合には、例えば画素クロック周波数が１MH
zのとき、濃度スケールすなわち走査光量の分解能を１
０bit（約３桁）確保しようとすると、パルスの周波数
は少なくとも１GHzと極めて高く設定しなければならな
い。半導体レーザ自体はこの程度の周波数でＯＮ−ＯＦ
Ｆすることも可能であるが、パルス数制御あるいはパル
ス幅制御のためのパルスカウント回路等はこのような高
周波数に対応して作動し得ず、結局は画素クロック周波
数を上記の値よりも大幅に下げなければならない。した
がって装置の記録速度を大幅に下げざるをえない。
さらに上記の方法にあっては、各画素の記録期間中に出
力されるパルスの数あるいは幅に依存して半導体レーザ
チップの発熱量が変化し、そのために半導体レーザの駆
動電流対光出力特性が変化し、１パルス当りの露光量が
変動してしまうこともある。こうなると記録画像の階調
にズレが生じ、高品位の連続調画像を得ることは不可能
となる。
力されるパルスの数あるいは幅に依存して半導体レーザ
チップの発熱量が変化し、そのために半導体レーザの駆
動電流対光出力特性が変化し、１パルス当りの露光量が
変動してしまうこともある。こうなると記録画像の階調
にズレが生じ、高品位の連続調画像を得ることは不可能
となる。
一方、例えば特開昭５６−７１３７４号に示されるよう
に、上記パルス数変調あるいはパルス幅変調と、前述し
た光強度変調とを組み合わせて高階調画像を記録する方
法も提案されている。しかしこの場合にも、上記のよう
にパルスの数あるいは幅に依存して半導体レーザチップ
の発熱量が変化し、その結果１パルス当りの露光量が変
動してしまうという問題が同様に生じる。
に、上記パルス数変調あるいはパルス幅変調と、前述し
た光強度変調とを組み合わせて高階調画像を記録する方
法も提案されている。しかしこの場合にも、上記のよう
にパルスの数あるいは幅に依存して半導体レーザチップ
の発熱量が変化し、その結果１パルス当りの露光量が変
動してしまうという問題が同様に生じる。
上記のことを鑑みると、例えば濃度スケール１０bitつ
まり１０２４階調程度の高階調画像を記録するには、前
述の第２図に示したＬＥＤ領域とレーザ発振領域とに亘
って光強度変調を行なって、光出力のダイナミックレン
ジを３桁程度確保可能とすることが望まれる。しかし上
記２つの領域に亘ると、半導体レーザの駆動電流対光出
力特性は当然線形ではなくなるので、高階調画像を容易
かつ精度良く記録できるように画像信号の一定量変化に
対して等濃度間隔で画像濃度を制御可能とするために
は、上記の特性を何らかの方法で補償して半導体レーザ
の発光レベル指令信号と光出力との関係を線形に変える
必要がある。
まり１０２４階調程度の高階調画像を記録するには、前
述の第２図に示したＬＥＤ領域とレーザ発振領域とに亘
って光強度変調を行なって、光出力のダイナミックレン
ジを３桁程度確保可能とすることが望まれる。しかし上
記２つの領域に亘ると、半導体レーザの駆動電流対光出
力特性は当然線形ではなくなるので、高階調画像を容易
かつ精度良く記録できるように画像信号の一定量変化に
対して等濃度間隔で画像濃度を制御可能とするために
は、上記の特性を何らかの方法で補償して半導体レーザ
の発光レベル指令信号と光出力との関係を線形に変える
必要がある。
上記半導体レーザの発光レベル指令信号と光出力との関
係を線形にする回路として従来より、レーザビームの光
強度を検出し、この検出された光強度に対応する帰還信
号を半導体レーザの発光レベル指令信号にフィードバッ
クさせる光出力安定化回路（以下、ＡＰＣ回路と称す
る）が知られている。第３図はこのＡＰＣ回路の一例を
示すものであり、以下、この第３図を参照してＡＰＣ回
路について説明する。半導体レーザ１の発光強度を指令
する発光レベル指令信号Ｖrefは、加算点２を通して電
圧−電流変換アンプ３に入力され、該アンプ３はこの指
令信号Ｖrefに比例した駆動電流を半導体レーザ１に供
給する。半導体レーザ１から前方に出射された光ビーム
４は、図示しない走査光学系を通して感光材料走査に利
用される。一方半導体レーザ１の後方側に出射された光
ビーム５の強度は、例えば半導体レーザのケース内に設
置された光量モニタ用のＰＩＮフォトダイオード６によ
って検出される。こうして検出される光ビーム５の強度
は、実際に画像記録に利用される上記光ビーム４の強度
と比例関係にある。該光ビーム５の強度、すなわち光ビ
ーム４の強度を示すフォトダイオード６の出力電流は、
電流−電圧変換アンプ７によって帰還信号（電圧信号）
Ｖpdに変換され、該帰還信号Ｖpdは前述の加算点２に入
力される。この加算点２からは、上記発光レベル指令信
号Ｖrefと帰還信号Ｖpdとの偏差を示す偏差信号Ｖｅが
出力され、該偏差信号Ｖｅは前記電圧−電流変換アンプ
３によって電流に変換され、半導体レーザ１を駆動す
る。
係を線形にする回路として従来より、レーザビームの光
強度を検出し、この検出された光強度に対応する帰還信
号を半導体レーザの発光レベル指令信号にフィードバッ
クさせる光出力安定化回路（以下、ＡＰＣ回路と称す
る）が知られている。第３図はこのＡＰＣ回路の一例を
示すものであり、以下、この第３図を参照してＡＰＣ回
路について説明する。半導体レーザ１の発光強度を指令
する発光レベル指令信号Ｖrefは、加算点２を通して電
圧−電流変換アンプ３に入力され、該アンプ３はこの指
令信号Ｖrefに比例した駆動電流を半導体レーザ１に供
給する。半導体レーザ１から前方に出射された光ビーム
４は、図示しない走査光学系を通して感光材料走査に利
用される。一方半導体レーザ１の後方側に出射された光
ビーム５の強度は、例えば半導体レーザのケース内に設
置された光量モニタ用のＰＩＮフォトダイオード６によ
って検出される。こうして検出される光ビーム５の強度
は、実際に画像記録に利用される上記光ビーム４の強度
と比例関係にある。該光ビーム５の強度、すなわち光ビ
ーム４の強度を示すフォトダイオード６の出力電流は、
電流−電圧変換アンプ７によって帰還信号（電圧信号）
Ｖpdに変換され、該帰還信号Ｖpdは前述の加算点２に入
力される。この加算点２からは、上記発光レベル指令信
号Ｖrefと帰還信号Ｖpdとの偏差を示す偏差信号Ｖｅが
出力され、該偏差信号Ｖｅは前記電圧−電流変換アンプ
３によって電流に変換され、半導体レーザ１を駆動す
る。
上記のＡＰＣ回路において、理想的な線形補償がなされ
れば、光ビーム５の強度は発光レベル指令信号Ｖrefに
比例する。つまり画像記録に利用される光ビーム４の強
度（半導体レーザ１の光出力）Ｐｆが発光レベル指令信
号Ｖrefに比例することになる。しかし上記のような理
想的な線形補償を実現することは非常に困難であるの
で、例えば本出願人による特願昭６１−２４８８７３号
に示されるように、半導体レーザの駆動電流対光出力特
性の非線形性を補償するように発光レベル指令信号を補
正する補正テーブルを設けることが考えられる。
れば、光ビーム５の強度は発光レベル指令信号Ｖrefに
比例する。つまり画像記録に利用される光ビーム４の強
度（半導体レーザ１の光出力）Ｐｆが発光レベル指令信
号Ｖrefに比例することになる。しかし上記のような理
想的な線形補償を実現することは非常に困難であるの
で、例えば本出願人による特願昭６１−２４８８７３号
に示されるように、半導体レーザの駆動電流対光出力特
性の非線形性を補償するように発光レベル指令信号を補
正する補正テーブルを設けることが考えられる。
（発明が解決しようとする問題点） 発光レベル指令信号Ｖrefが直流に近い非常に低周波の
信号である場合には、上記のような補正テーブルによ
り、発光レベル指令信号対光ビーム強度の関係を線形に
することができる。
信号である場合には、上記のような補正テーブルによ
り、発光レベル指令信号対光ビーム強度の関係を線形に
することができる。
しかしながら発光レベル指令信号Ｖrefが高周波信号で
ある場合には、さらに別の問題が生じる。以下、この点
について説明する。第４図は、第２図に示した半導体レ
ーザの駆動電流対光出力特性のケース温度依存性を示し
ている。図示されるように半導体レーザの光出力は、駆
動電流が一定ならばケース温度が高い程低下する。一般
に半導体レーザをレーザ記録装置等に適用する場合に
は、そのケース温度を一定に維持するための制御がなさ
れるが、半導体レーザに駆動電流を印加した場合に生じ
るレーザダイオードチップの過渡的温度変化までも抑制
することは到底不可能である。すなわち第５図の(1)に
示すように半導体レーザにステップ状に駆動電流が印加
された際、レーザダイオードチップの温度は第５図(2)
に示すように、上記ケース温度一定化制御により定常状
態になるまで過渡的に変化し、その結果第４図の特性に
従って半導体レーザの光出力が第５図(3)に示すように
変動する。これは半導体レーザのドループ特性として知
られている。
ある場合には、さらに別の問題が生じる。以下、この点
について説明する。第４図は、第２図に示した半導体レ
ーザの駆動電流対光出力特性のケース温度依存性を示し
ている。図示されるように半導体レーザの光出力は、駆
動電流が一定ならばケース温度が高い程低下する。一般
に半導体レーザをレーザ記録装置等に適用する場合に
は、そのケース温度を一定に維持するための制御がなさ
れるが、半導体レーザに駆動電流を印加した場合に生じ
るレーザダイオードチップの過渡的温度変化までも抑制
することは到底不可能である。すなわち第５図の(1)に
示すように半導体レーザにステップ状に駆動電流が印加
された際、レーザダイオードチップの温度は第５図(2)
に示すように、上記ケース温度一定化制御により定常状
態になるまで過渡的に変化し、その結果第４図の特性に
従って半導体レーザの光出力が第５図(3)に示すように
変動する。これは半導体レーザのドループ特性として知
られている。
第５図(3)は半導体レーザ個体の特性を示したものであ
り、第３図のＡＰＣ回路によって半導体レーザの光出力
が制御されている場合には勿論その動作が安定化される
が、それでも第５図(4)に示すように上記ドループ特性
の影響が残る。この第５図(4)に示すように半導体レー
ザの光出力が変動すると、例えば同一の画像信号に対し
て記録画像濃度が時間経過にともなって変動してしま
う、という不具合が生じる。
り、第３図のＡＰＣ回路によって半導体レーザの光出力
が制御されている場合には勿論その動作が安定化される
が、それでも第５図(4)に示すように上記ドループ特性
の影響が残る。この第５図(4)に示すように半導体レー
ザの光出力が変動すると、例えば同一の画像信号に対し
て記録画像濃度が時間経過にともなって変動してしま
う、という不具合が生じる。
ＡＰＣ回路のループゲインを非常に高く設定すれば、こ
のドループ特性の影響をほとんど取り除くことも可能で
ある。しかし、前述のように連続調画像を記録するため
に、発光レベル指令信号Ｖrefを高速でアナログ的に変
化させて半導体レーザを駆動する際には、半導体レーザ
の発光応答性を十分に高めなければならず、そのため実
際上は、ＡＰＣ回路のループゲインは余りに高くは設定
できない。
のドループ特性の影響をほとんど取り除くことも可能で
ある。しかし、前述のように連続調画像を記録するため
に、発光レベル指令信号Ｖrefを高速でアナログ的に変
化させて半導体レーザを駆動する際には、半導体レーザ
の発光応答性を十分に高めなければならず、そのため実
際上は、ＡＰＣ回路のループゲインは余りに高くは設定
できない。
本発明は上記のような事情に鑑みてなされたものであ
り、ＡＰＣ回路のループゲインが比較的低くても、ドル
ープ特性による半導体レーザの光出力変動を低減できる
ドループ補正装置を提供することを目的とするものであ
る。
り、ＡＰＣ回路のループゲインが比較的低くても、ドル
ープ特性による半導体レーザの光出力変動を低減できる
ドループ補正装置を提供することを目的とするものであ
る。
（問題点を解決するための手段） 本発明の半導体レーザのドループ補正装置は、半導体レ
ーザと、該半導体レーザから射出された光ビームを感光
材料上に走査させるビーム走査系と、画像信号に対応し
た発光レベル指令信号を生成し、該信号に基づいて前記
半導体レーザの駆動電流を制御してレーザビームの光強
度を変調するレーザ動作制御回路と、前述したＡＰＣ回
路とを備えたレーザ記録装置において、 半導体レーザの駆動電流を検出してこの検出電流に対応
した信号を上記発光レベル指令信号にフィードバックさ
せる帰還経路と、 半導体レーザのドループ特性の時定数とほぼ等しい時定
数を有し、上記帰還経路において上記検出電流が入力さ
れるように配されたハイパスフィルタとが設けられてな
るものである。
ーザと、該半導体レーザから射出された光ビームを感光
材料上に走査させるビーム走査系と、画像信号に対応し
た発光レベル指令信号を生成し、該信号に基づいて前記
半導体レーザの駆動電流を制御してレーザビームの光強
度を変調するレーザ動作制御回路と、前述したＡＰＣ回
路とを備えたレーザ記録装置において、 半導体レーザの駆動電流を検出してこの検出電流に対応
した信号を上記発光レベル指令信号にフィードバックさ
せる帰還経路と、 半導体レーザのドループ特性の時定数とほぼ等しい時定
数を有し、上記帰還経路において上記検出電流が入力さ
れるように配されたハイパスフィルタとが設けられてな
るものである。
（作用） ハイパスフィルタにステップ状に立ち上がる電圧が入力
されたとき、その出力は第５図(5)に示すように変化す
る。したがって、このハイパスフィルタの出力を発光レ
ベル指令信号にフィードバック（ネガティブ・フィード
バック）させれば、このフィードバック信号によって半
導体レーザの駆動電流が第５図(1)の破線ｈで示すよう
に下げられ、結局半導体レーザの光出力は第５図(4)の
破線ｋで示すように変化する。そこで上記ハイパスフィ
ルタの時定数を半導体レーザのドループ特性の時定数と
ほぼ同じにしておき、帰還経路のゲインを適当に決めて
おけば、ドループ特性による半導体レーザの光出力変動
を上記フィードバック信号による光出力変動によってほ
ぼ打消すことができる。
されたとき、その出力は第５図(5)に示すように変化す
る。したがって、このハイパスフィルタの出力を発光レ
ベル指令信号にフィードバック（ネガティブ・フィード
バック）させれば、このフィードバック信号によって半
導体レーザの駆動電流が第５図(1)の破線ｈで示すよう
に下げられ、結局半導体レーザの光出力は第５図(4)の
破線ｋで示すように変化する。そこで上記ハイパスフィ
ルタの時定数を半導体レーザのドループ特性の時定数と
ほぼ同じにしておき、帰還経路のゲインを適当に決めて
おけば、ドループ特性による半導体レーザの光出力変動
を上記フィードバック信号による光出力変動によってほ
ぼ打消すことができる。
（実施例） 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を詳細に説明
する。
する。
第１図は本発明の一実施例によるドループ補正装置を備
えたレーザ記録装置を示すものである。画像信号発生器
10は、連続調画像を担持する画像信号Ｓ１を発生する。
この画像信号Ｓ１は一例として１０bitの濃度スケール
の連続調画像を示すデジタル信号である。画像信号発生
器10は後述するラインクロックＳ２に基づいて１主走査
ライン分の信号を切り換え、また画素クロックＳ３に基
づいて各画素毎の画像信号Ｓ１を出力する。本例におい
て画素クロック周波数は１MHz、換言すれば１画素記録
時間は１μses（秒）に設定される。
えたレーザ記録装置を示すものである。画像信号発生器
10は、連続調画像を担持する画像信号Ｓ１を発生する。
この画像信号Ｓ１は一例として１０bitの濃度スケール
の連続調画像を示すデジタル信号である。画像信号発生
器10は後述するラインクロックＳ２に基づいて１主走査
ライン分の信号を切り換え、また画素クロックＳ３に基
づいて各画素毎の画像信号Ｓ１を出力する。本例におい
て画素クロック周波数は１MHz、換言すれば１画素記録
時間は１μses（秒）に設定される。
上述の画像信号Ｓ１はマルチプレクサ11を通し、ＲＡＭ
からなる補正テーブル40において後述する補正を受け
て、例えば１６bitの発光レベル指令信号Ｓ５に変換さ
れる。この発光レベル指令信号Ｓ５はマルチプレクサ15
を介してＤ／Ａ変換器16に入力され、ここでアナログの
電圧信号からなる発光レベル指令信号Ｖrefに変換され
る。この発光レベル指令信号Ｖrefは、ＡＰＣ回路８の
加算点２に入力される。ＡＰＣ回路８の加算点２、電圧
−電流変換アンプ３、半導体レーザ１、フォトダイオー
ド６、電流−電圧変換アンプ７は、先に説明した第３図
の回路におけるものと同等のものであり、したがって半
導体レーザ１からは発光レベル指令信号Ｖrefに対応し
た（つまり画像信号Ｓ１に対応した）強度の光ビーム４
が発せられる。この光ビーム４はコリメータレンズ17に
通されて平行ビームとされ、次に例えばポリゴンミラー
等の光偏向器18に入射してそこで反射偏向される。こう
して偏向された光ビーム４は、通常ｆθレンズからなる
集束レンズ19に通されて感光材料20上において微小なス
ポットに集束し、該感光材料20上をＸ方向に走査（主走
査）する。感光材料20は図示しない移送手段により、上
記主走査方向Ｘと略直角なＹ方向に移送され、それによ
って光ビーム４の副走査がなされる。こうして感光材料
20は光ビーム４によって２次元的に走査され、感光す
る。前述したように光ビーム４は画像信号Ｓ１に基づい
て強度変調されているので、この感光材料20上には、画
像信号Ｓ１が担持する連続調画像が写真潜像として記録
される。なお上記のように光ビーム４が感光材料20上を
走査するとき、主走査の始点を該ビーム４が通過したこ
とが光検出器21によって検出され、該光検出器21が出力
する始点検出信号Ｓ６がクロックジェネレータ36に入力
される。クロックジェネレータ36はこの始点検出信号Ｓ
６の入力タイミングに同期させて、前述のラインクロッ
クＳ２および画素クロックＳを出力する。
からなる補正テーブル40において後述する補正を受け
て、例えば１６bitの発光レベル指令信号Ｓ５に変換さ
れる。この発光レベル指令信号Ｓ５はマルチプレクサ15
を介してＤ／Ａ変換器16に入力され、ここでアナログの
電圧信号からなる発光レベル指令信号Ｖrefに変換され
る。この発光レベル指令信号Ｖrefは、ＡＰＣ回路８の
加算点２に入力される。ＡＰＣ回路８の加算点２、電圧
−電流変換アンプ３、半導体レーザ１、フォトダイオー
ド６、電流−電圧変換アンプ７は、先に説明した第３図
の回路におけるものと同等のものであり、したがって半
導体レーザ１からは発光レベル指令信号Ｖrefに対応し
た（つまり画像信号Ｓ１に対応した）強度の光ビーム４
が発せられる。この光ビーム４はコリメータレンズ17に
通されて平行ビームとされ、次に例えばポリゴンミラー
等の光偏向器18に入射してそこで反射偏向される。こう
して偏向された光ビーム４は、通常ｆθレンズからなる
集束レンズ19に通されて感光材料20上において微小なス
ポットに集束し、該感光材料20上をＸ方向に走査（主走
査）する。感光材料20は図示しない移送手段により、上
記主走査方向Ｘと略直角なＹ方向に移送され、それによ
って光ビーム４の副走査がなされる。こうして感光材料
20は光ビーム４によって２次元的に走査され、感光す
る。前述したように光ビーム４は画像信号Ｓ１に基づい
て強度変調されているので、この感光材料20上には、画
像信号Ｓ１が担持する連続調画像が写真潜像として記録
される。なお上記のように光ビーム４が感光材料20上を
走査するとき、主走査の始点を該ビーム４が通過したこ
とが光検出器21によって検出され、該光検出器21が出力
する始点検出信号Ｓ６がクロックジェネレータ36に入力
される。クロックジェネレータ36はこの始点検出信号Ｓ
６の入力タイミングに同期させて、前述のラインクロッ
クＳ２および画素クロックＳを出力する。
次に感光材料20は現像機22に通されて、そこで現像処理
を受ける。それにより感光材料20上には、上記連続調画
像が可視像として記録される。
を受ける。それにより感光材料20上には、上記連続調画
像が可視像として記録される。
ここで、前述の補正テーブル40における画像信号Ｓ１の
補正について説明する。該補正テーブル40は階調補正テ
ーブル12、逆log変換テーブル13、および半導体レーザ
１の発光レベル指令信号対光出力特性を線形に補正する
補正テーブル（以下、Ｖ−Ｐ特性補正テーブルと称す
る）14からなる。上記階調補正テーブル12は、感光材料
20およびその現像処理系の階調特性を補正する公知のも
のである。この階調補正テーブル12は、補正特性が固定
のものが用いられてもよいが、本実施例においては、感
光材料20の階調特性がロット毎に変化したり、あるいは
現像機22中の現像液特性が経時変化すること等を考慮し
て、実際の階調特性に対応して補正特性を適宜修正可能
に構成されている。すなわちテストパターン発生回路26
からは、感光材料20上における何段階か（例えば１６段
階）の画像濃度を担持するテストパターン信号Ｓ４が出
力され、該信号Ｓ４はマルチプレクサ11に入力される。
この際マルチプレクサ11は、前述のように画像信号Ｓ１
を補正テーブル40に入力させる画像記録時の状態から切
り換えられて、上記テストパターン信号Ｓ４を補正テー
ブル40に入力させる状態とされる。半導体レーザ１はこ
のテストパターン信号Ｓ４に基づいて前述のように駆動
され、したがって光ビーム４が強度変調される。それに
より感光材料20上には、段階的に濃度が変化する例えば
１６個のステップウェッジ（テストパターン）が写真潜
像として記録される。この感光材料20は現像機22に送ら
れ、上記ステップウェッジが現像される。現像後この感
光材料20は濃度計23にセットされ、上記ステップウェッ
ジの各々の光学濃度が測定される。こうして測定された
光学濃度は、各ステップウェッジと対応付けて濃度値入
力手段24に入力され、該濃度値入力手段24からは各ステ
ップウェッジの光学濃度を示す濃度信号Ｓ７が出力され
る。この濃度信号Ｓ７はテーブル作成手段37に入力さ
れ、該テーブル作成手段37はこの濃度信号Ｓ７と前記テ
ストパターン信号Ｓ４とに基づいて、所定の画像信号Ｓ
１の値によって所定の画像濃度が得られる階調補正テー
ブルを作成する。この階調補正テーブルは前述のように
１６段階程度の画像信号値をそれぞれ所定の画像濃度値
に対応させるものである。この階調補正テーブルを示す
データＳ８データ補間手段38に入力され、ここで補間処
理がなされて、１０２４段階（＝１０bit）の画像信号
Ｓ１に対応できる階調補正テーブルが得られる。この階
調補正テーブルを示すデータＳ９に基づいて、前述の階
調補正テーブル12が形成される。
補正について説明する。該補正テーブル40は階調補正テ
ーブル12、逆log変換テーブル13、および半導体レーザ
１の発光レベル指令信号対光出力特性を線形に補正する
補正テーブル（以下、Ｖ−Ｐ特性補正テーブルと称す
る）14からなる。上記階調補正テーブル12は、感光材料
20およびその現像処理系の階調特性を補正する公知のも
のである。この階調補正テーブル12は、補正特性が固定
のものが用いられてもよいが、本実施例においては、感
光材料20の階調特性がロット毎に変化したり、あるいは
現像機22中の現像液特性が経時変化すること等を考慮し
て、実際の階調特性に対応して補正特性を適宜修正可能
に構成されている。すなわちテストパターン発生回路26
からは、感光材料20上における何段階か（例えば１６段
階）の画像濃度を担持するテストパターン信号Ｓ４が出
力され、該信号Ｓ４はマルチプレクサ11に入力される。
この際マルチプレクサ11は、前述のように画像信号Ｓ１
を補正テーブル40に入力させる画像記録時の状態から切
り換えられて、上記テストパターン信号Ｓ４を補正テー
ブル40に入力させる状態とされる。半導体レーザ１はこ
のテストパターン信号Ｓ４に基づいて前述のように駆動
され、したがって光ビーム４が強度変調される。それに
より感光材料20上には、段階的に濃度が変化する例えば
１６個のステップウェッジ（テストパターン）が写真潜
像として記録される。この感光材料20は現像機22に送ら
れ、上記ステップウェッジが現像される。現像後この感
光材料20は濃度計23にセットされ、上記ステップウェッ
ジの各々の光学濃度が測定される。こうして測定された
光学濃度は、各ステップウェッジと対応付けて濃度値入
力手段24に入力され、該濃度値入力手段24からは各ステ
ップウェッジの光学濃度を示す濃度信号Ｓ７が出力され
る。この濃度信号Ｓ７はテーブル作成手段37に入力さ
れ、該テーブル作成手段37はこの濃度信号Ｓ７と前記テ
ストパターン信号Ｓ４とに基づいて、所定の画像信号Ｓ
１の値によって所定の画像濃度が得られる階調補正テー
ブルを作成する。この階調補正テーブルは前述のように
１６段階程度の画像信号値をそれぞれ所定の画像濃度値
に対応させるものである。この階調補正テーブルを示す
データＳ８データ補間手段38に入力され、ここで補間処
理がなされて、１０２４段階（＝１０bit）の画像信号
Ｓ１に対応できる階調補正テーブルが得られる。この階
調補正テーブルを示すデータＳ９に基づいて、前述の階
調補正テーブル12が形成される。
画像信号Ｓ１に基づく画像記録時には、マルチプレクサ
11を介して階調補正テーブル12に入力された画像信号Ｓ
１が、この階調補正テーブル12によって信号Ｓ１′に変
換され、次いで逆log変換テーブル13により発光レベル
指令信号Ｓ１″に変換される。
11を介して階調補正テーブル12に入力された画像信号Ｓ
１が、この階調補正テーブル12によって信号Ｓ１′に変
換され、次いで逆log変換テーブル13により発光レベル
指令信号Ｓ１″に変換される。
次にＶ−Ｐ特性補正テーブル14について説明する。先に
述べた通り、ＡＰＣ回路８において帰還信号Ｖpdを加算
点２にフィードバックさせても、発光レベル指令信号と
光ビーム４の強度との関係を理想的なもの（第６図の直
線ａが示す関係）とすることは困難である。Ｖ−Ｐ特性
補正テーブル14は、上記の理想的な関係を得るために設
けられている。すなわち、発光レベル指令信号Ｖrefと
半導体レーザ１の光出力との理想的な関係を第６図にａ
で示す直線とし、実際の関係を同じく第６図にｂで示す
曲線とすると、Ｖ−Ｐ特性補正テーブル14は、発光レベ
ル指令信号Ｓ１″がそのままＤ／Ａ変換された場合の電
圧値がＶinであったと仮定すると、この電圧値ＶinをＶ
なる値に変換するように形成されている。つまり発光レ
ベル指令信号Ｖrefの値がＶinであったとすると、Ｐ′
の光強度しか得られないが、上記の変換がなされていれ
ば、電圧値Ｖinに対してＰＯの光強度が得られる。すな
わち発光レベル指令信号Ｓ１″に対応する電圧値Ｖinと
光出力Ｐｆとの関係は、線形なものとなる。
述べた通り、ＡＰＣ回路８において帰還信号Ｖpdを加算
点２にフィードバックさせても、発光レベル指令信号と
光ビーム４の強度との関係を理想的なもの（第６図の直
線ａが示す関係）とすることは困難である。Ｖ−Ｐ特性
補正テーブル14は、上記の理想的な関係を得るために設
けられている。すなわち、発光レベル指令信号Ｖrefと
半導体レーザ１の光出力との理想的な関係を第６図にａ
で示す直線とし、実際の関係を同じく第６図にｂで示す
曲線とすると、Ｖ−Ｐ特性補正テーブル14は、発光レベ
ル指令信号Ｓ１″がそのままＤ／Ａ変換された場合の電
圧値がＶinであったと仮定すると、この電圧値ＶinをＶ
なる値に変換するように形成されている。つまり発光レ
ベル指令信号Ｖrefの値がＶinであったとすると、Ｐ′
の光強度しか得られないが、上記の変換がなされていれ
ば、電圧値Ｖinに対してＰＯの光強度が得られる。すな
わち発光レベル指令信号Ｓ１″に対応する電圧値Ｖinと
光出力Ｐｆとの関係は、線形なものとなる。
このようになっていれば、画像信号Ｓ１を所定量変化さ
せることにより、感光材料20における濃度を等間隔で制
御できる。また第６図の特性曲線ｂは、前述したように
半導体レーザ１をそのＬＥＤ領域とレーザ発振領域に亘
って駆動させた場合のものであり、このようにすれば３
桁程度の光出力ダイナミックレンジが確保されるから、
前述のように１０２４段階程度の高階調画像を、容易に
かつ高精度で記録できるようになる。
せることにより、感光材料20における濃度を等間隔で制
御できる。また第６図の特性曲線ｂは、前述したように
半導体レーザ１をそのＬＥＤ領域とレーザ発振領域に亘
って駆動させた場合のものであり、このようにすれば３
桁程度の光出力ダイナミックレンジが確保されるから、
前述のように１０２４段階程度の高階調画像を、容易に
かつ高精度で記録できるようになる。
以上述べたように、半導体レーザ１の駆動電流対光出力
特性が非線形であることに起因する発光レベル指令信号
対レーザ光出力特性の非線形性を、Ｖ−Ｐ特性補正テー
ブル14によって線形に補正すれば、ＡＰＣ回路８の加算
点２、電圧−電流変換アンプ３、半導体レーザ１、フォ
トダイオード６、電流−電圧変換アンプ７から加算点２
に戻る系のループゲインには、上記非線形性を補正する
のに必要なゲインを含まなくて済むようになる。すなわ
ちこのループゲインは、半導体レーザ１のケース温度一
定化制御の誤差による半導体レーザ１の駆動電流対光出
力特性からのズレを補正するため、さらにはアンプ等の
ドリフトを補正するために必要なだけ確保されていれば
よい。具体的には、例えば画素クロック周波数が１MHz
で、半導体レーザ１が光出力３mWで作動している状態に
おいて、上記ループゲインは３０dB程度確保されていれ
ば十分である。この程度のループゲインは、現在の技術
水準で容易に確保可能である。
特性が非線形であることに起因する発光レベル指令信号
対レーザ光出力特性の非線形性を、Ｖ−Ｐ特性補正テー
ブル14によって線形に補正すれば、ＡＰＣ回路８の加算
点２、電圧−電流変換アンプ３、半導体レーザ１、フォ
トダイオード６、電流−電圧変換アンプ７から加算点２
に戻る系のループゲインには、上記非線形性を補正する
のに必要なゲインを含まなくて済むようになる。すなわ
ちこのループゲインは、半導体レーザ１のケース温度一
定化制御の誤差による半導体レーザ１の駆動電流対光出
力特性からのズレを補正するため、さらにはアンプ等の
ドリフトを補正するために必要なだけ確保されていれば
よい。具体的には、例えば画素クロック周波数が１MHz
で、半導体レーザ１が光出力３mWで作動している状態に
おいて、上記ループゲインは３０dB程度確保されていれ
ば十分である。この程度のループゲインは、現在の技術
水準で容易に確保可能である。
次に上記Ｖ−Ｐ特性補正テーブル14の作成について説明
する。第１図の装置には、テーブル作成装置35が適宜接
続されるようになっている。このテーブル作成装置３５
は、テスト信号発生回路27、テーブル作成回路28および
メモリ29からなる。Ｖ−Ｐ特性補正テーブル14を作成す
る際には、上記テスト信号発生回路27からレベル可変の
デジタルテスト信号Ｓ10が出力され、マルチプレクサ15
に入力される。この際該マルチプレクサ15は、前述のよ
うに発光レベル指令信号Ｓ５をＤ／Ａ変換器16に送る画
像記録時の状態から切り換えて、テスト信号Ｓ10をＤ／
Ａ変換器16に送る状態とされる。またテーブル作成回路
28は、ＡＰＣ回路８の電流−電圧変換アンプ７が出力す
る帰還信号Ｖpdが入力されるように接続される。テスト
信号Ｓ10は、段階的にレベルが増大あるいは減小するよ
うに出力される。そしてこのときテーブル作成回路28
は、内蔵するレベル可変信号発生器から、まず最低の光
出力に対応する基準信号を発生させ、該基準信号と帰還
信号Ｖpdとを比較する。この基準信号は、第６図におけ
る電圧値Ｖinを有するものである。そしてテーブル作成
回路28は、これら両信号が一致したときのテスト信号Ｓ
10の値をラッチする。このラッチされたテスト信号Ｓ10
が示す電圧値は、第６図における電圧値Ｖに相当するも
のであるから、上記電圧値ＶinとＶとの関係が分かる。
テーブル作成回路28は上記基準信号の値を１０２４通り
に変えて、それぞれの場合の電圧値ＶinとＶとの関係を
求める。それにより、先に述べたように１０２４段階の
電圧値ＶinをＶに変換する補正テーブルが作成される。
こうして作成された補正テーブルはメモリ29に一たん記
憶された後、Ｖ−Ｐ特性補正テーブル14として設定され
る。こうしてＶ−Ｐ特性補正テーブル14を作成した後、
テーブル作成装置35はＡＰＣ回路８から切り離される。
する。第１図の装置には、テーブル作成装置35が適宜接
続されるようになっている。このテーブル作成装置３５
は、テスト信号発生回路27、テーブル作成回路28および
メモリ29からなる。Ｖ−Ｐ特性補正テーブル14を作成す
る際には、上記テスト信号発生回路27からレベル可変の
デジタルテスト信号Ｓ10が出力され、マルチプレクサ15
に入力される。この際該マルチプレクサ15は、前述のよ
うに発光レベル指令信号Ｓ５をＤ／Ａ変換器16に送る画
像記録時の状態から切り換えて、テスト信号Ｓ10をＤ／
Ａ変換器16に送る状態とされる。またテーブル作成回路
28は、ＡＰＣ回路８の電流−電圧変換アンプ７が出力す
る帰還信号Ｖpdが入力されるように接続される。テスト
信号Ｓ10は、段階的にレベルが増大あるいは減小するよ
うに出力される。そしてこのときテーブル作成回路28
は、内蔵するレベル可変信号発生器から、まず最低の光
出力に対応する基準信号を発生させ、該基準信号と帰還
信号Ｖpdとを比較する。この基準信号は、第６図におけ
る電圧値Ｖinを有するものである。そしてテーブル作成
回路28は、これら両信号が一致したときのテスト信号Ｓ
10の値をラッチする。このラッチされたテスト信号Ｓ10
が示す電圧値は、第６図における電圧値Ｖに相当するも
のであるから、上記電圧値ＶinとＶとの関係が分かる。
テーブル作成回路28は上記基準信号の値を１０２４通り
に変えて、それぞれの場合の電圧値ＶinとＶとの関係を
求める。それにより、先に述べたように１０２４段階の
電圧値ＶinをＶに変換する補正テーブルが作成される。
こうして作成された補正テーブルはメモリ29に一たん記
憶された後、Ｖ−Ｐ特性補正テーブル14として設定され
る。こうしてＶ−Ｐ特性補正テーブル14を作成した後、
テーブル作成装置35はＡＰＣ回路８から切り離される。
なお以上説明したように、すべての画像濃度に対応する
電圧値ＶinとＶとの関係を逐一求める他、先に説明した
階調補正テーブル12の作成の場合と同様に、電圧値Ｖin
とＶとの関係を主要ないくつかの場合のみについて求
め、そのデータを補間してＶ−Ｐ特性補正テーブル14を
作成するようにしてもよい。またＶ−Ｐ特性補正テーブ
ル14は、半導体レーザのＶ−Ｐ特性から計算によって作
成することも可能である。さらに、階調補正テーブル1
2、逆log変換テーブル13、および上記Ｖ−Ｐ特性補正テ
ーブル14はそれぞれの変換特性をすべて含ませて１個の
補正テーブルとして形成されてもよいし、あるいはそれ
ぞれ別個の形に構成されてもよい。
電圧値ＶinとＶとの関係を逐一求める他、先に説明した
階調補正テーブル12の作成の場合と同様に、電圧値Ｖin
とＶとの関係を主要ないくつかの場合のみについて求
め、そのデータを補間してＶ−Ｐ特性補正テーブル14を
作成するようにしてもよい。またＶ−Ｐ特性補正テーブ
ル14は、半導体レーザのＶ−Ｐ特性から計算によって作
成することも可能である。さらに、階調補正テーブル1
2、逆log変換テーブル13、および上記Ｖ−Ｐ特性補正テ
ーブル14はそれぞれの変換特性をすべて含ませて１個の
補正テーブルとして形成されてもよいし、あるいはそれ
ぞれ別個の形に構成されてもよい。
ここで、ＡＰＣ回路８のループゲインを前述のように３
０dB程度に設定しても、先に述べた通り、半導体レーザ
１のドループ特性に起因するその光出力変動を完全に抑
えることは困難である。以下、このような問題の発生を
防止する本発明のドループ補正装置について説明する。
この補正装置は第１図に示すように、電流−電圧変換ア
ンプ50を含み、半導体レーザ１に印加される駆動電流を
検出してその検出電流に対応した電圧信号Ｖｆを加算点
２にフィードバック（ネガティブ・フィードバック）さ
せる帰還経路51と、この帰還経路51において上記電流−
電圧変換アンプ50の後段に配されたハイパスフィルタ52
とからなる。電流−電圧変換アンプ50の帰還抵抗Ｒ2は
可変抵抗とされ、それによりこの電流−電圧変換アンプ
50のゲインは調節可能となっている。またハイパスフィ
ルタ52は第７図に詳しく示すように、コンデンサＣ1と
抵抗Ｒ1からなるＣＲ回路で構成されている。
０dB程度に設定しても、先に述べた通り、半導体レーザ
１のドループ特性に起因するその光出力変動を完全に抑
えることは困難である。以下、このような問題の発生を
防止する本発明のドループ補正装置について説明する。
この補正装置は第１図に示すように、電流−電圧変換ア
ンプ50を含み、半導体レーザ１に印加される駆動電流を
検出してその検出電流に対応した電圧信号Ｖｆを加算点
２にフィードバック（ネガティブ・フィードバック）さ
せる帰還経路51と、この帰還経路51において上記電流−
電圧変換アンプ50の後段に配されたハイパスフィルタ52
とからなる。電流−電圧変換アンプ50の帰還抵抗Ｒ2は
可変抵抗とされ、それによりこの電流−電圧変換アンプ
50のゲインは調節可能となっている。またハイパスフィ
ルタ52は第７図に詳しく示すように、コンデンサＣ1と
抵抗Ｒ1からなるＣＲ回路で構成されている。
上記電流−電圧変換アンプ50には半導体レーザ１に印加
される電流と同じ値、あるいはそれに比例した電流Ｉｈ
が入力され、電圧信号に変換される。この電圧信号はハ
イパスフィルタ52に入力される。先に説明した通り前記
電流Ｉｈがステップ状に立ち上がる場合、つまり半導体
レーザ１の印加電流がそのように変化する場合、ハイパ
スフィルタ52の出力電圧Ｖｆは第５図(5)に示すように
応答する。したがってこの電圧信号Ｖｆを発光レーザ指
令信号Ｖrefにフィードバックさせれば、半導体レーザ
１の印加電流が第５図(1)に破線ｈで示すように変化す
る。ここで、ハイパスフィルタ52の時定数は半導体レー
ザ１のドループ特性の時定数と等しくしておき、また可
変抵抗Ｒ2を操作して帰還経路51のループゲインを変え
ることにより帰還信号Ｖｆの値を適切に設定しておけ
ば、上記破線ｈで示す印加電流の変化による光出力変動
が、ドループ特性による光出力変動と相殺されるように
なる。つまり半導体レーザ１の光出力は、第５図(4)の
破線ｋで示すように変化し、見かけ上は、第５図(1)の
実線で示すように完全にステップ状に変化する印加電流
５を与えると半導体レーザ光出力が完全にステップ状に
応答する形となる。
される電流と同じ値、あるいはそれに比例した電流Ｉｈ
が入力され、電圧信号に変換される。この電圧信号はハ
イパスフィルタ52に入力される。先に説明した通り前記
電流Ｉｈがステップ状に立ち上がる場合、つまり半導体
レーザ１の印加電流がそのように変化する場合、ハイパ
スフィルタ52の出力電圧Ｖｆは第５図(5)に示すように
応答する。したがってこの電圧信号Ｖｆを発光レーザ指
令信号Ｖrefにフィードバックさせれば、半導体レーザ
１の印加電流が第５図(1)に破線ｈで示すように変化す
る。ここで、ハイパスフィルタ52の時定数は半導体レー
ザ１のドループ特性の時定数と等しくしておき、また可
変抵抗Ｒ2を操作して帰還経路51のループゲインを変え
ることにより帰還信号Ｖｆの値を適切に設定しておけ
ば、上記破線ｈで示す印加電流の変化による光出力変動
が、ドループ特性による光出力変動と相殺されるように
なる。つまり半導体レーザ１の光出力は、第５図(4)の
破線ｋで示すように変化し、見かけ上は、第５図(1)の
実線で示すように完全にステップ状に変化する印加電流
５を与えると半導体レーザ光出力が完全にステップ状に
応答する形となる。
なお半導体レーザ１のドループ特性はその光出力レベル
によって異なるので、電流−電圧変換アンプ50のゲイン
調節は、最もドループ特性の影響が出やすい半導体レー
ザ１のしきい値電流近傍において行なうのが望ましい。
によって異なるので、電流−電圧変換アンプ50のゲイン
調節は、最もドループ特性の影響が出やすい半導体レー
ザ１のしきい値電流近傍において行なうのが望ましい。
また電流−電圧変換アンプ50のゲインを調節可能として
おくことは必ずしも必要でなく、半導体レーザ１のドル
ープ特性に合わせて上記ゲインを固定しておいても構わ
ない。
おくことは必ずしも必要でなく、半導体レーザ１のドル
ープ特性に合わせて上記ゲインを固定しておいても構わ
ない。
（発明の効果） 以上詳細に説明した通り本発明の半導体レーザのドルー
プ補正装置によれば、半導体レーザが発する光ビームの
強度をアナログ的に変調して連続調画像を記録するレー
ザ記録装置において、半導体レーザのドループ特性によ
る光ビームの過渡的かつ微小な強度変動を防止でき、よ
って階調再現性に優れた精細な連続調画像を記録可能と
なる。
プ補正装置によれば、半導体レーザが発する光ビームの
強度をアナログ的に変調して連続調画像を記録するレー
ザ記録装置において、半導体レーザのドループ特性によ
る光ビームの過渡的かつ微小な強度変動を防止でき、よ
って階調再現性に優れた精細な連続調画像を記録可能と
なる。
第１図は本発明の一実施例によるドループ補正装置を備
えたレーザ記録装置を示す概略図、 第２図は半導体レーザの駆動電流対光出力特性を示すグ
ラフ、 第３図は半導体レーザ光出力安定化回路の一例を示すブ
ロック図、 第４図は半導体レーザの駆動電流対光出力特性の温度依
存性を示すグラフ、 第５図は半導体レーザのドループ特性を説明するグラ
フ、 第６図は第１図のレーザ記録装置におけるＶ−Ｐ特性補
正テーブルの作用を説明するグラフ、 第７図は第１図のドループ補正装置を詳しく示す回路図
である。 １…半導体レーザ、２…加算点 ３…電圧−電流変換アンプ ４、５…光ビーム、６…フォトダイオード ７、50…電流−電圧変換アンプ ８…ＡＰＣ回路、10……画像信号発生器 14…Ｖ−Ｐ特性補正テーブル 16…Ｄ／Ａ変換器、17…コリメータレンズ 18…光偏向器、19…集束レンズ 20…感光材料、35…テーブル作成装置 40…補正テーブル、51…帰還経路 52…ハイパスフィルタ Ｉｈ…ハイパスフィルタへの入力電流 Ｓ１…画像信号 Ｓ１″…補正前の発光レベル指令信号 Ｖref…発光レベル指令信号 Ｖpd、Ｖｆ…帰還信号、Ｖｅ…偏差信号
えたレーザ記録装置を示す概略図、 第２図は半導体レーザの駆動電流対光出力特性を示すグ
ラフ、 第３図は半導体レーザ光出力安定化回路の一例を示すブ
ロック図、 第４図は半導体レーザの駆動電流対光出力特性の温度依
存性を示すグラフ、 第５図は半導体レーザのドループ特性を説明するグラ
フ、 第６図は第１図のレーザ記録装置におけるＶ−Ｐ特性補
正テーブルの作用を説明するグラフ、 第７図は第１図のドループ補正装置を詳しく示す回路図
である。 １…半導体レーザ、２…加算点 ３…電圧−電流変換アンプ ４、５…光ビーム、６…フォトダイオード ７、50…電流−電圧変換アンプ ８…ＡＰＣ回路、10……画像信号発生器 14…Ｖ−Ｐ特性補正テーブル 16…Ｄ／Ａ変換器、17…コリメータレンズ 18…光偏向器、19…集束レンズ 20…感光材料、35…テーブル作成装置 40…補正テーブル、51…帰還経路 52…ハイパスフィルタ Ｉｈ…ハイパスフィルタへの入力電流 Ｓ１…画像信号 Ｓ１″…補正前の発光レベル指令信号 Ｖref…発光レベル指令信号 Ｖpd、Ｖｆ…帰還信号、Ｖｅ…偏差信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｎ 1/23 １０３ Ｚ 9186−5Ｃ
Claims (2)
- 【請求項１】光ビームを発する半導体レーザと、 前記光ビームを感光材料上に走査させるビーム走査系
と、 画像信号に対応した発光レベル指令信号を生成し、該信
号に基づいて前記半導体レーザの駆動電流を制御して前
記光ビームの強度を変調するレーザ動作制御回路と、 前記光ビームの強度を検出し、この検出された光強度に
対応する帰還信号を前記発光レベル指令信号にフィード
バックさせる光出力安定化回路とを有するレーザ記録装
置において、 前記半導体レーザの駆動電流を検出してこの検出電流に
対応した信号を前記発光レベル指令信号にフィードバッ
クさせる帰還経路と、 前記半導体レーザのドループ特性の時定数とほぼ等しい
時定数を有し、前記帰還経路において前記検出電流が入
力されるように配されたハイパスフィルタとが設けられ
てなる半導体レーザのドループ補正装置。 - 【請求項２】前記帰還経路に、該帰還経路によるフィー
ドバック量を調節するゲイン調節手段が設けられている
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の半導体レ
ーザのドループ補正装置。
Priority Applications (2)
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| JP62042110A JPH0626421B2 (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | 半導体レ−ザのドル−プ補正装置 |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62042110A JPH0626421B2 (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | 半導体レ−ザのドル−プ補正装置 |
Publications (2)
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| JPS63209270A JPS63209270A (ja) | 1988-08-30 |
| JPH0626421B2 true JPH0626421B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62042110A Expired - Lifetime JPH0626421B2 (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | 半導体レ−ザのドル−プ補正装置 |
Country Status (2)
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| KR20040085221A (ko) * | 2002-02-25 | 2004-10-07 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 디스크 드라이브 내의 레이저 다이오드의 온도 제어 |
| JP2004034457A (ja) * | 2002-07-02 | 2004-02-05 | Konica Minolta Holdings Inc | 画像記録装置、管理装置、カラープルーフ作成システム、コンピュータプログラム製品、及び画像記録装置の光量補正方法 |
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| JPS5784674A (en) * | 1980-11-14 | 1982-05-27 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | Recorder |
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| JP2597969B2 (ja) * | 1984-05-09 | 1997-04-09 | 株式会社東芝 | 画像形成装置 |
| JPS60238866A (ja) * | 1984-05-12 | 1985-11-27 | Toshiba Corp | 記録装置 |
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-
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